JPH02189982A - 波長多重弁別型半導体受光素子 - Google Patents
波長多重弁別型半導体受光素子Info
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- JPH02189982A JPH02189982A JP8910581A JP1058189A JPH02189982A JP H02189982 A JPH02189982 A JP H02189982A JP 8910581 A JP8910581 A JP 8910581A JP 1058189 A JP1058189 A JP 1058189A JP H02189982 A JPH02189982 A JP H02189982A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体受光素子に関し特に波長の異なる複数
の光を弁別して受光する事が可能な、波長多重弁別型半
導体受光素子に関するものである。
の光を弁別して受光する事が可能な、波長多重弁別型半
導体受光素子に関するものである。
従来、光通信においては単一光の変調による伝送方式に
よっていた。ところが、より高密度及び高速度の伝送方
式として複数の波長の異なる光を用いた波長多重方式が
注目されている。この場合、発光素子(半導体レーザ(
L D )あるいは発光夕゛イオード(LED>)はも
とより受光素子においても波長を弁別し各々の信号を識
別する機能が必要になってくる。
よっていた。ところが、より高密度及び高速度の伝送方
式として複数の波長の異なる光を用いた波長多重方式が
注目されている。この場合、発光素子(半導体レーザ(
L D )あるいは発光夕゛イオード(LED>)はも
とより受光素子においても波長を弁別し各々の信号を識
別する機能が必要になってくる。
現在、よく知られている光通信用半導体受光素子として
は、例えば、Si、GeあるいはInP基板に格子整合
したIno、53Ga、)、47As層を光吸収層とし
た、PIN型受光受光素子えば、エレクトロニクス・レ
ターズ(EIectron、LetL、)1984.v
ol、20゜PP653〜pρ654)、アバランシェ
増倍型受光素子(例えば、アイイーイーイー・エレクト
ロン・デバイス・レターズ(I[iEトElectro
n Device LetL、)1986、vol、7
.P11257−258>などがある。PIN型受光素
子は、低容量及び製造プロセスか容易な点から、また、
アバランシェ増倍型受光素子は内部利得効果及び高速応
答を有する点て各々注目されている。これら受光素子に
おいては、光吸収層のパン1−ギャップエネルギーより
も大きなエネルギーを有する光が受光部に入射すると、
光は光吸収71て吸収されて電子と正孔が発生し7、電
界によりキャリア(電子と正孔)が走行することによっ
て電流信号として得られる。
は、例えば、Si、GeあるいはInP基板に格子整合
したIno、53Ga、)、47As層を光吸収層とし
た、PIN型受光受光素子えば、エレクトロニクス・レ
ターズ(EIectron、LetL、)1984.v
ol、20゜PP653〜pρ654)、アバランシェ
増倍型受光素子(例えば、アイイーイーイー・エレクト
ロン・デバイス・レターズ(I[iEトElectro
n Device LetL、)1986、vol、7
.P11257−258>などがある。PIN型受光素
子は、低容量及び製造プロセスか容易な点から、また、
アバランシェ増倍型受光素子は内部利得効果及び高速応
答を有する点て各々注目されている。これら受光素子に
おいては、光吸収層のパン1−ギャップエネルギーより
も大きなエネルギーを有する光が受光部に入射すると、
光は光吸収71て吸収されて電子と正孔が発生し7、電
界によりキャリア(電子と正孔)が走行することによっ
て電流信号として得られる。
ところか、この様な構造において、波長の異なる光を弁
別して受光する機能を実現させる事は、1個の受光素子
を使う限っては構造上困難である。何故なら発生した電
流を波長単位で識別する事がこれらの構造では容易では
ないからである。
別して受光する機能を実現させる事は、1個の受光素子
を使う限っては構造上困難である。何故なら発生した電
流を波長単位で識別する事がこれらの構造では容易では
ないからである。
これに対し、ラルソン(A、1.arsson)等は、
導波路構造て、かつ、光吸収層が超格子構造である波長
多重弁別型半導体受光素子を提案し、実際に波長弁別の
機能性を確認したくアプライド フィジックス レター
ス(Appl、phys、1.etL、)1986 v
ol、49pp233〜235)。第3図にはこの波長
多重弁別型半導体受光素子の素子構造図を示す。積層構
造としてはn型GaAs基板3 ]、−J−にn型Al
GaAs層32丁〕型GaAs層/n型A I GaA
s層からなる超格子構造33、p型AlGaAs# 3
4 + p型GaAs層35から成り立っている。ここ
てプロ1〜ン注入によって領域40.4]以外を高抵抗
化し、導波路領域404]を得ている。ここで電極37
38.39を設ける事により各)(の導波路40,4
]に異なった電圧を印加でき、かつ光電流イハ号が得ら
れる様になっている。また、2波長を含む光42は端面
より入射さぜる。ここで、光導波路中て光が吸収される
と電流信号に変換されるが、吸収されるが導波するかは
導波層の吸収端エネルギーによって決定される。つまり
吸収端エネルギーよりも大きなエネルギーを存する光が
入射した場合(波長としては短波長側)には吸収され、
小さなエネルギーを有する光か入射した場合(波長とし
ては長波長側)には導波していく事になる。ところでこ
の構造においては、光吸収層てがっ光導波層である層か
超格子構造を有している事が特徴となっている。
導波路構造て、かつ、光吸収層が超格子構造である波長
多重弁別型半導体受光素子を提案し、実際に波長弁別の
機能性を確認したくアプライド フィジックス レター
ス(Appl、phys、1.etL、)1986 v
ol、49pp233〜235)。第3図にはこの波長
多重弁別型半導体受光素子の素子構造図を示す。積層構
造としてはn型GaAs基板3 ]、−J−にn型Al
GaAs層32丁〕型GaAs層/n型A I GaA
s層からなる超格子構造33、p型AlGaAs# 3
4 + p型GaAs層35から成り立っている。ここ
てプロ1〜ン注入によって領域40.4]以外を高抵抗
化し、導波路領域404]を得ている。ここで電極37
38.39を設ける事により各)(の導波路40,4
]に異なった電圧を印加でき、かつ光電流イハ号が得ら
れる様になっている。また、2波長を含む光42は端面
より入射さぜる。ここで、光導波路中て光が吸収される
と電流信号に変換されるが、吸収されるが導波するかは
導波層の吸収端エネルギーによって決定される。つまり
吸収端エネルギーよりも大きなエネルギーを存する光が
入射した場合(波長としては短波長側)には吸収され、
小さなエネルギーを有する光か入射した場合(波長とし
ては長波長側)には導波していく事になる。ところでこ
の構造においては、光吸収層てがっ光導波層である層か
超格子構造を有している事が特徴となっている。
一般に超格子構造では吸収端エネルギーは通常のバルク
材料とは異なってくる。つまり超格子構造による正孔と
電子の量子準位化によってその吸収端エネルギーは本来
のバルクの吸収端エネルギーよりも大きくなる。それを
(1)式に示す。
材料とは異なってくる。つまり超格子構造による正孔と
電子の量子準位化によってその吸収端エネルギーは本来
のバルクの吸収端エネルギーよりも大きくなる。それを
(1)式に示す。
ここで、eは超格子構造における井戸層厚、E5はバル
クとしてのハフ1〜ギヤツプエネルキー、ml、は電子
の買置、mpは正孔の質量を示している。更に上述した
超格子構造に電界か印加された場合を考えると、井p層
内での電子と正孔の空間分離か生じ、無電界時での吸収
端エネルギーよりも小さくなる現象かある( 5tar
k効果)。特に吸収端エネルギーの電界依存性は比較的
大きく、これより吸収端近傍ての波長弁別か印加電界に
よって可能となってくる。ラルソン(A、I、arss
on)等は具体的には導波領域40.4]に異なる電圧
を印加し、上述の効果により導波路領域40ては短波長
光を吸収し、長波長光は導波させ、導波路領域41で長
波長光を吸収させている。これにより、2波長の弁別か
可能な半導体受光素子を得ている。
クとしてのハフ1〜ギヤツプエネルキー、ml、は電子
の買置、mpは正孔の質量を示している。更に上述した
超格子構造に電界か印加された場合を考えると、井p層
内での電子と正孔の空間分離か生じ、無電界時での吸収
端エネルギーよりも小さくなる現象かある( 5tar
k効果)。特に吸収端エネルギーの電界依存性は比較的
大きく、これより吸収端近傍ての波長弁別か印加電界に
よって可能となってくる。ラルソン(A、I、arss
on)等は具体的には導波領域40.4]に異なる電圧
を印加し、上述の効果により導波路領域40ては短波長
光を吸収し、長波長光は導波させ、導波路領域41で長
波長光を吸収させている。これにより、2波長の弁別か
可能な半導体受光素子を得ている。
〔発明が解決し7ようとする課題〕
前述したラルソン(A、Larsson)等による波長
弁別型半導体受光素子には、以下の問題点がある。
弁別型半導体受光素子には、以下の問題点がある。
第1にプロ1〜ン注入による高抵抗領域の形成は容易て
はなく、その為導波路領域間ての電気的クロス1ヘーク
の原因となる。また、プロ1〜ン注入による欠陥導入も
予想され、信頼性か必要とされる光通信用テハイスとし
ては致命的である。
はなく、その為導波路領域間ての電気的クロス1ヘーク
の原因となる。また、プロ1〜ン注入による欠陥導入も
予想され、信頼性か必要とされる光通信用テハイスとし
ては致命的である。
第2に導波領域40と41の結合領域での光学的カップ
リンクが十分でない為に、導波光の結合損失の原因とな
る。ここて結合損失の低減の為に結合間距離を短かくす
る事が考えられるが、これは前述した電気的クロストー
クの原因となる。
リンクが十分でない為に、導波光の結合損失の原因とな
る。ここて結合損失の低減の為に結合間距離を短かくす
る事が考えられるが、これは前述した電気的クロストー
クの原因となる。
第3に同一の超格子サイズでのスターク効果(5tar
k効果)による吸収端波長の違いによる波長弁別か基本
原理の為に高々300人の波長領域を弁別しているにす
ぎない。実用土はより広範囲の波長領域を弁別する事か
望ましい。
k効果)による吸収端波長の違いによる波長弁別か基本
原理の為に高々300人の波長領域を弁別しているにす
ぎない。実用土はより広範囲の波長領域を弁別する事か
望ましい。
本発明の目的は、これらの問題点を解決して複数の異な
る波長を有する光を弁別して受光する事のできる波長多
市弁別型)(′導体受光素子を提供づる事にある。
る波長を有する光を弁別して受光する事のできる波長多
市弁別型)(′導体受光素子を提供づる事にある。
本発明の波長多重弁別型半導体受光素子は、半導体基板
上に第1.第2.第3.第4.第5の半導体層を積層し
た構造からなり、前記第2および第4の半導体層は前記
第1.第3.第5の半導体層より実効屈折率か高くハフ
1〜キヤツプエネルキーか小さい光吸収と先導波を兼ね
る超格子構造てあり、かつ前記第2と第4の半導体Jl
の間隔か、光学的なカップリンクを生じるのに十分なる
ザイスを有している事を特徴としている。
上に第1.第2.第3.第4.第5の半導体層を積層し
た構造からなり、前記第2および第4の半導体層は前記
第1.第3.第5の半導体層より実効屈折率か高くハフ
1〜キヤツプエネルキーか小さい光吸収と先導波を兼ね
る超格子構造てあり、かつ前記第2と第4の半導体Jl
の間隔か、光学的なカップリンクを生じるのに十分なる
ザイスを有している事を特徴としている。
本発明は、上述の手段をとることにより従来技術の問題
点を解決した。
点を解決した。
第2図には本発明の基本構造を図示している。
半導体基板−1−に第1.第2.第3.第4.第5半導
体層を積層し、その後ID型領域25.26を形成し、
電極27.28.29を介して各々の領域に電圧印加が
可能となっている。
体層を積層し、その後ID型領域25.26を形成し、
電極27.28.29を介して各々の領域に電圧印加が
可能となっている。
ここで第2.第4半導体j−は超格子構造から形成され
、かつ、第2半導体層と第4半導体層の井戸層厚eか異
なる事により、前述した(])式に基つき吸収端波長が
異なってくる。
、かつ、第2半導体層と第4半導体層の井戸層厚eか異
なる事により、前述した(])式に基つき吸収端波長が
異なってくる。
いま、各々の吸収端波長をλ1.λ2とする。
この様な構造において第4半導体層端面より2波長から
なる光(波長−λロ、λ12)30を入射させる。ここ
て、 λ 1. 〈 λ 1 く λ 1□ 〈 λ 2
・・・ (2〉なる関係を満たすとずれは、λ11波長
光は電圧印加により空乏化した第4半導体層中で吸収さ
れて電流信号として電極27より取り出される。またλ
12波長光は第4半導体層の吸収端波長より長いので吸
収されず導波する事になる。ここで、第3半導体層23
の厚さdが薄い場合には第4半導体層と第2半導体層間
で光学的カップリングが生しる。これは方向性結合器と
同し効果で、この場合、厚さdと、入射端面からp型領
域26端部までの長さり、を最適化する事により100
%に近いカップリングが生じる。この様な効果により波
長λI2の光は第2半導体層21に導波し吸収され電流
信号として電極28より取り出される。
なる光(波長−λロ、λ12)30を入射させる。ここ
て、 λ 1. 〈 λ 1 く λ 1□ 〈 λ 2
・・・ (2〉なる関係を満たすとずれは、λ11波長
光は電圧印加により空乏化した第4半導体層中で吸収さ
れて電流信号として電極27より取り出される。またλ
12波長光は第4半導体層の吸収端波長より長いので吸
収されず導波する事になる。ここで、第3半導体層23
の厚さdが薄い場合には第4半導体層と第2半導体層間
で光学的カップリングが生しる。これは方向性結合器と
同し効果で、この場合、厚さdと、入射端面からp型領
域26端部までの長さり、を最適化する事により100
%に近いカップリングが生じる。この様な効果により波
長λI2の光は第2半導体層21に導波し吸収され電流
信号として電極28より取り出される。
尚、厚さdと長さしは通常用いられている方向性結合器
の設計方法により定めることがてきるのでdとI−を求
める方法の詳細は省略する。
の設計方法により定めることがてきるのでdとI−を求
める方法の詳細は省略する。
以」二の原理のもとて2波長の弁別が可能となるわりで
あるが、本構造を適用する事により従来技術に比較し、
以下の利点かある。
あるが、本構造を適用する事により従来技術に比較し、
以下の利点かある。
第1にプロl−ン注入による高抵抗領域の形成等か本質
的に不要の為、素子信顆性上好ましい。
的に不要の為、素子信顆性上好ましい。
第2に方向性結合器の効果により2つの導波路間では設
計の最適化により100%に近いカップリンクか可能て
あり、ラルソン(A、Larsson)等において問題
となっている結合損失の点て有利である。
計の最適化により100%に近いカップリンクか可能て
あり、ラルソン(A、Larsson)等において問題
となっている結合損失の点て有利である。
第3にラルソン(^、1.arsson)等の提案した
構造ては、スターク(5tark)効果により高々30
0人程度の波長範囲を弁別するにずぎないが、本構造で
は(1)式に基づき超格子構造における井戸層厚!を変
える事により広範囲な波長域での波長弁別か可能となっ
ている。
構造ては、スターク(5tark)効果により高々30
0人程度の波長範囲を弁別するにずぎないが、本構造で
は(1)式に基づき超格子構造における井戸層厚!を変
える事により広範囲な波長域での波長弁別か可能となっ
ている。
以上の作用により、従来技術の問題点を解決し、特性上
有要な波長弁別半導体受光素子を得る事が可能になる。
有要な波長弁別半導体受光素子を得る事が可能になる。
以下、本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明
する。
する。
第1図に本発明の一実施例により形成された波長多重弁
別型半導体受光素子のm造園を示す。本実施例では光通
信として有用な1〜1.6μm波長帯用として、InP
基板に格子整合するInGaAsP系を適用している。
別型半導体受光素子のm造園を示す。本実施例では光通
信として有用な1〜1.6μm波長帯用として、InP
基板に格子整合するInGaAsP系を適用している。
n型InP基板]上に、n型1nPクラッド層(第1の
半導体層)2、その十に光導波・吸収層である超格子構
造の第2の半導体層(障壁層がInP層、井戸層かIn
053Ga0.47AS層)3.n型1nPクラッド層
(第3の半導体N)4.更に光導波・吸収層である超格
子構造の第4の半導体層(障壁層カqnP層、井戸層が
In(、、53ca0 、47As層)5.n型りn+
’クラッド層(第5の半導体層)6を気相成長技術等を
用いて積層する。この場合、設計上必要なパラメータは
、第1に吸収端波長にかかわる第2、第4超格子構造の
井戸層厚aである。第2は、導波層間でのカップリンク
を効率よく生じせしめる為に第3半導体層の層厚dであ
る。一般にdが薄い程完全結合長が小さくできるのて素
子のサイズの点では有利である。この実施例ては第2、
第4半導体層の厚さを各々1.5μm、第3半導体層の
厚さdを075μmとした。この場合の完全結合長は1
70μmであった。この様なJvj構造を積層した後に
、Zn拡散法によりp型領域8,9を形成し、その後に
Si3N4絶縁膜7.n側電極10.11.n側電極1
2を形成する。この場合、国内で示した拡散領域間の距
離■−は、第3半導体層厚dによって決定される完全結
合長と一致ずへきである。
半導体層)2、その十に光導波・吸収層である超格子構
造の第2の半導体層(障壁層がInP層、井戸層かIn
053Ga0.47AS層)3.n型1nPクラッド層
(第3の半導体N)4.更に光導波・吸収層である超格
子構造の第4の半導体層(障壁層カqnP層、井戸層が
In(、、53ca0 、47As層)5.n型りn+
’クラッド層(第5の半導体層)6を気相成長技術等を
用いて積層する。この場合、設計上必要なパラメータは
、第1に吸収端波長にかかわる第2、第4超格子構造の
井戸層厚aである。第2は、導波層間でのカップリンク
を効率よく生じせしめる為に第3半導体層の層厚dであ
る。一般にdが薄い程完全結合長が小さくできるのて素
子のサイズの点では有利である。この実施例ては第2、
第4半導体層の厚さを各々1.5μm、第3半導体層の
厚さdを075μmとした。この場合の完全結合長は1
70μmであった。この様なJvj構造を積層した後に
、Zn拡散法によりp型領域8,9を形成し、その後に
Si3N4絶縁膜7.n側電極10.11.n側電極1
2を形成する。この場合、国内で示した拡散領域間の距
離■−は、第3半導体層厚dによって決定される完全結
合長と一致ずへきである。
本実施例においては、例えば1.171mと1.3μm
の2波長光を弁別する事を目的とする。この場合、第2
半導体層の井戸層厚rを75人、第4半導体層での井戸
層厚250人と設定する事により、各々の吸収端波長は
(1)式より各々lj8μrn、1.11μmである事
がわかる。
の2波長光を弁別する事を目的とする。この場合、第2
半導体層の井戸層厚rを75人、第4半導体層での井戸
層厚250人と設定する事により、各々の吸収端波長は
(1)式より各々lj8μrn、1.11μmである事
がわかる。
この構造において2波長光(11μm、1.371m)
13を第4半導体層の端面より入射させる事により作用
に述べた通り1.1μ■1光は第4!1′導体層で吸収
されn側電極10を介して電流信号として取り出される
。一方、1.3μnl光は吸収される事なく導波してい
き、カップリングにより第2半導体層に導波 吸収され
、p側電極]1を介して電流信号として取り出される。
13を第4半導体層の端面より入射させる事により作用
に述べた通り1.1μ■1光は第4!1′導体層で吸収
されn側電極10を介して電流信号として取り出される
。一方、1.3μnl光は吸収される事なく導波してい
き、カップリングにより第2半導体層に導波 吸収され
、p側電極]1を介して電流信号として取り出される。
以上の動作に基つき、2波長光か弁別される。
本実施例は光通信にとって有用な1〜・1,6μm波長
帯の材料としてInGaAsP系を適用しているが、こ
れは他の材料系例えば1μm波長以下にとって有用なA
lGaAs系ても十分適用できる構造である事はいうま
でもない。
帯の材料としてInGaAsP系を適用しているが、こ
れは他の材料系例えば1μm波長以下にとって有用なA
lGaAs系ても十分適用できる構造である事はいうま
でもない。
以上説明した様に本発明により得られた波長多重弁別型
半導体受光素子は、光導波 吸収層である超格子構造が
井戸層厚によって吸収端波長がシフ1へする事を利用し
、更に方向性結き器による効率の良いカップリンク作用
を併せる事によって、各々の光導波層中て異なった波長
の光を吸収し、光電流信号として取り出す事が可能にな
る。これにより、波長多重光通信において、容易に波長
を弁別して受光する事か可能になる。
半導体受光素子は、光導波 吸収層である超格子構造が
井戸層厚によって吸収端波長がシフ1へする事を利用し
、更に方向性結き器による効率の良いカップリンク作用
を併せる事によって、各々の光導波層中て異なった波長
の光を吸収し、光電流信号として取り出す事が可能にな
る。これにより、波長多重光通信において、容易に波長
を弁別して受光する事か可能になる。
第1図は本発明の一実施例である2波長の光を弁別する
ことのできる波長多重弁別型半導体受光素子を示す斜視
図、第2図には本発明の基本原理を示す図、第3図はラ
ルソン(A、Larsson)等によって実施された従
来技術による波長多重弁別型半導体受光素子を示ず図で
ある。 1・・・rl型1nP基板、2・・・n型TnPクラッ
ド層、3 ・= n型1nP/n型InO,53Ga、
47八S超格子構造、4・・・n型1nPクラッド層、
5・・・n型1nP/n型1no、5qGa0.47八
S超格子構造、6・・・n型InPクラッド層、7・・
・Si3N4絶縁膜、8・・・p型領域1.9・・・p
型領域、10・・・n側電極1.11・・・n側電極、
12・n側電極、13・・2波長からなる入射光、20
・・第1半導体層、21・・・第2半導体層(超格子構
造)、22・・第3半導体層、23・・第4半導体層(
超格子構造)、24・・・第5半導体層、25・・・1
)型領域、26・・・p型領域、27・・・電極、28
・・・電極、2つ・・・電極、31・・・n型GaAs
基板、32・・・n型AlGaAsクラッド層、3 B
−n型GaAs/n型AlGa人s超格子構造群、34
・・・n型AlGaAsクラッド層、35・・・p型G
aAs層、36・・・プロトン注入領域、37・・・電
極、38・・電極、39・・・電極、40・・・導波領
域、41・・・導波領域、42・・・2波長からなる入
射光。 代理人 弁理士 内 原 晋
ことのできる波長多重弁別型半導体受光素子を示す斜視
図、第2図には本発明の基本原理を示す図、第3図はラ
ルソン(A、Larsson)等によって実施された従
来技術による波長多重弁別型半導体受光素子を示ず図で
ある。 1・・・rl型1nP基板、2・・・n型TnPクラッ
ド層、3 ・= n型1nP/n型InO,53Ga、
47八S超格子構造、4・・・n型1nPクラッド層、
5・・・n型1nP/n型1no、5qGa0.47八
S超格子構造、6・・・n型InPクラッド層、7・・
・Si3N4絶縁膜、8・・・p型領域1.9・・・p
型領域、10・・・n側電極1.11・・・n側電極、
12・n側電極、13・・2波長からなる入射光、20
・・第1半導体層、21・・・第2半導体層(超格子構
造)、22・・第3半導体層、23・・第4半導体層(
超格子構造)、24・・・第5半導体層、25・・・1
)型領域、26・・・p型領域、27・・・電極、28
・・・電極、2つ・・・電極、31・・・n型GaAs
基板、32・・・n型AlGaAsクラッド層、3 B
−n型GaAs/n型AlGa人s超格子構造群、34
・・・n型AlGaAsクラッド層、35・・・p型G
aAs層、36・・・プロトン注入領域、37・・・電
極、38・・電極、39・・・電極、40・・・導波領
域、41・・・導波領域、42・・・2波長からなる入
射光。 代理人 弁理士 内 原 晋
Claims (1)
- 半導体基板上に第1、第2、第3、第4、第5の半導体
層を順次積層した構造からなり、前記第2および第4の
半導体層は前記第1・第3・第5の半導体層よりも実効
屈折率が高くバンドギャップエネルギーが小さい光吸収
と光導波を兼ねる超格子構造であり、前記第3の半導体
層は前記第2と第4の半導体層が光学的にカップリング
を生じるのに十分なるサイズを有している事を特徴とす
る波長多重弁別型半導体受光素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1010581A JP2536116B2 (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 波長多重弁別型半導体受光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1010581A JP2536116B2 (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 波長多重弁別型半導体受光素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02189982A true JPH02189982A (ja) | 1990-07-25 |
| JP2536116B2 JP2536116B2 (ja) | 1996-09-18 |
Family
ID=11754212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1010581A Expired - Lifetime JP2536116B2 (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 波長多重弁別型半導体受光素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2536116B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04241473A (ja) * | 1991-01-16 | 1992-08-28 | Nec Corp | アバランシェフォトダイオード |
| WO1997042665A1 (en) * | 1996-05-07 | 1997-11-13 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor hetero-interface photodetector |
| US6147391A (en) * | 1996-05-07 | 2000-11-14 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor hetero-interface photodetector |
-
1989
- 1989-01-18 JP JP1010581A patent/JP2536116B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04241473A (ja) * | 1991-01-16 | 1992-08-28 | Nec Corp | アバランシェフォトダイオード |
| WO1997042665A1 (en) * | 1996-05-07 | 1997-11-13 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor hetero-interface photodetector |
| US6074892A (en) * | 1996-05-07 | 2000-06-13 | Ciena Corporation | Semiconductor hetero-interface photodetector |
| US6130441A (en) * | 1996-05-07 | 2000-10-10 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor hetero-interface photodetector |
| US6147391A (en) * | 1996-05-07 | 2000-11-14 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor hetero-interface photodetector |
| US6465803B1 (en) | 1996-05-07 | 2002-10-15 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor hetero-interface photodetector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2536116B2 (ja) | 1996-09-18 |
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