JPH02192029A - 光ヘッド - Google Patents
光ヘッドInfo
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- JPH02192029A JPH02192029A JP1278589A JP1278589A JPH02192029A JP H02192029 A JPH02192029 A JP H02192029A JP 1278589 A JP1278589 A JP 1278589A JP 1278589 A JP1278589 A JP 1278589A JP H02192029 A JPH02192029 A JP H02192029A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
この発明は、光学的にディスク上の情報を読取る光デイ
スク記録再生装置における光ヘッドに関し、さらに詳し
くはディスク上の記録面に対する光スポットの焦点ずれ
を検出するフォーカスセンサや、ディスク上の情報トラ
ックに対する光スポットのトラックずれを検出するトラ
ッキングセンサの特性向上に関するものである。
スク記録再生装置における光ヘッドに関し、さらに詳し
くはディスク上の記録面に対する光スポットの焦点ずれ
を検出するフォーカスセンサや、ディスク上の情報トラ
ックに対する光スポットのトラックずれを検出するトラ
ッキングセンサの特性向上に関するものである。
［従来の技術］
第７図は従来の光磁気ディスク用光ヘッドの光路を示す
図である。図において、（１）はレーザ光、（２）は半
導体レーザ、（３）はコリメータレンズ、（４）はハー
フプリズム、（５）は反射ミラー（６）は対物レンズ、
（７）はλ／２板、（８）は偏光ビームスプリッタ、（
９）は集光レンズ、（ｌＯ）はトラッキング検出用光検
知器、（１１）は集光レンズ、（１２）はウェッジプリ
ズム、（１３）は拡大レンズ、（１４）はフォーカシン
グ検出用光検知器である。
図である。図において、（１）はレーザ光、（２）は半
導体レーザ、（３）はコリメータレンズ、（４）はハー
フプリズム、（５）は反射ミラー（６）は対物レンズ、
（７）はλ／２板、（８）は偏光ビームスプリッタ、（
９）は集光レンズ、（ｌＯ）はトラッキング検出用光検
知器、（１１）は集光レンズ、（１２）はウェッジプリ
ズム、（１３）は拡大レンズ、（１４）はフォーカシン
グ検出用光検知器である。
第８図は、第７図の反射ミラー（５）および対物レンズ
（６）の部分の側面図を示しており、（１５）はディス
クである。
（６）の部分の側面図を示しており、（１５）はディス
クである。
第９図は、第７図のトラッキング検出用光検知器（１０
）の詳細を示しており、（２１）はトラッキング検知用
の光検知器プレート、（２２）は２つの受光素子（２２
ａ） 、 （２２ｂ）からなる光検知器部で、（３０）
は光検知器部（２２）上に受光された光スポット、（３
２）は各受光素子（２ｚａ） 、 （２２ｂ）の出力の
差分をとる差動アンプである。
）の詳細を示しており、（２１）はトラッキング検知用
の光検知器プレート、（２２）は２つの受光素子（２２
ａ） 、 （２２ｂ）からなる光検知器部で、（３０）
は光検知器部（２２）上に受光された光スポット、（３
２）は各受光素子（２ｚａ） 、 （２２ｂ）の出力の
差分をとる差動アンプである。
第１０図は、第７図のフォーカシング検出用光検知器（
１４）の詳細を示しており、（２３）はフォーカシング
検知用の光検知器プレート、（２４）は４つの受光素子
（２４ａ） 、 （２４ｂ） 、 （２４ｃ） 、 （
２４ｄ）からなる光検知器部で、（３１ａ） 、 （
３１ｂ）は光検知器部（２４）上に受光された光スポッ
ト、（３３）は受光素子（２４ａ） 、 （２４ｄ）
と受光素子（２４ｂ） 、 （２４ｃ）との出力の差分
をとる差動アンプである。
１４）の詳細を示しており、（２３）はフォーカシング
検知用の光検知器プレート、（２４）は４つの受光素子
（２４ａ） 、 （２４ｂ） 、 （２４ｃ） 、 （
２４ｄ）からなる光検知器部で、（３１ａ） 、 （
３１ｂ）は光検知器部（２４）上に受光された光スポッ
ト、（３３）は受光素子（２４ａ） 、 （２４ｄ）
と受光素子（２４ｂ） 、 （２４ｃ）との出力の差分
をとる差動アンプである。
次に動作について説明する。
半導体レーザ（２）から出射したレーザ光（１）は、コ
リメータレンズ（３）により平行光となり、ハーフプリ
ズム（４）、反射ミラー（５）で反射し、対物レンズ（
６）に入射する。対物レンズ（６）で集光された光スポ
ットはディスク（１５）に照射され、その反射光は入射
光と逆行し、反射ミラー（５）、ハーフプリズム（４）
、λ／２板（７）を通過し、偏光ビームスプリッタ（８
）により透過光と反射光とに分けられる。
リメータレンズ（３）により平行光となり、ハーフプリ
ズム（４）、反射ミラー（５）で反射し、対物レンズ（
６）に入射する。対物レンズ（６）で集光された光スポ
ットはディスク（１５）に照射され、その反射光は入射
光と逆行し、反射ミラー（５）、ハーフプリズム（４）
、λ／２板（７）を通過し、偏光ビームスプリッタ（８
）により透過光と反射光とに分けられる。
透過したレーザ光は集光レンズ（９）によりトラッキン
グ検出用光検知器（１０）に受光される。また、反射し
たレーザ光は集光レンズ（１１）により集光され、ウェ
ッジプリズム（１２）により２つのビームに分けられて
、それぞれフォーカシング検出用光検知器（１４）に受
光される。
グ検出用光検知器（１０）に受光される。また、反射し
たレーザ光は集光レンズ（１１）により集光され、ウェ
ッジプリズム（１２）により２つのビームに分けられて
、それぞれフォーカシング検出用光検知器（１４）に受
光される。
トラッキング検出用光検知器（１０）は、ディスク（１
５）上のトラック中心に光スポットが位置するときに、
第９図に示した２つの受光素子（２２ａ） 、 （２２
ｂ）の出力が均等となる位置関係に初期調整されている
。また、フォーカシング検出用光検知器（１４）は、デ
ィスク（１５）上に焦点ずれなく集光するときに、第１
０図に示した４つの受光素子のうち（２４ａ） 、
（２４ｂ）および（２４ｃ） 、 （２４ｄ）の出力
が均等となる位置関係に初期調整されている。
５）上のトラック中心に光スポットが位置するときに、
第９図に示した２つの受光素子（２２ａ） 、 （２２
ｂ）の出力が均等となる位置関係に初期調整されている
。また、フォーカシング検出用光検知器（１４）は、デ
ィスク（１５）上に焦点ずれなく集光するときに、第１
０図に示した４つの受光素子のうち（２４ａ） 、
（２４ｂ）および（２４ｃ） 、 （２４ｄ）の出力
が均等となる位置関係に初期調整されている。
このため、トラックずれを生じたときは、光スポット（
３０）の出カバターンが変化し、差動アンプ（３２）で
受光素子（２２ａ） 、 （２２ｂ）の差動出力をと
ると、第１１図に示したようなトラッキング検出特性が
得られる。第１１図において、横軸は光スポットのトラ
ック中心からのずれ量を表わし、縦軸は差動アンプ（３
２）の出力を表わしている。
３０）の出カバターンが変化し、差動アンプ（３２）で
受光素子（２２ａ） 、 （２２ｂ）の差動出力をと
ると、第１１図に示したようなトラッキング検出特性が
得られる。第１１図において、横軸は光スポットのトラ
ック中心からのずれ量を表わし、縦軸は差動アンプ（３
２）の出力を表わしている。
また、焦点ずれを生じたときは、光スポット（３１ａ）
、 （３１ｂ）の位置および大きさが変化するので
、差動アンプ（３３）によって受光素子の差動出力（（
２４ａ） ＋ （２４ｄ） ）−（（２４ｂ） ＋
（２４ｃ））をとると、第１２図に示したようなフォー
カシング検出特性が得られる。第１２図において、横軸
はフォーカスずれ量を表わし、縦軸は差動アンプ（３３
）の出力を表わしている。
、 （３１ｂ）の位置および大きさが変化するので
、差動アンプ（３３）によって受光素子の差動出力（（
２４ａ） ＋ （２４ｄ） ）−（（２４ｂ） ＋
（２４ｃ））をとると、第１２図に示したようなフォー
カシング検出特性が得られる。第１２図において、横軸
はフォーカスずれ量を表わし、縦軸は差動アンプ（３３
）の出力を表わしている。
上述した２種類の検出信号のうち、前者のトラッキング
検出信号に応じて対物レンズ（６）を第７図の矢印ａ方
向に駆動制御し、トラッキング制御を行なう。また、後
者のフォーカシング検出信号に応じて対物レンズ（６）
を第８図の矢印す方向に駆動制御し、フォーカシング制
御を行なう。
検出信号に応じて対物レンズ（６）を第７図の矢印ａ方
向に駆動制御し、トラッキング制御を行なう。また、後
者のフォーカシング検出信号に応じて対物レンズ（６）
を第８図の矢印す方向に駆動制御し、フォーカシング制
御を行なう。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、上記のような従来の光ヘッドにあっては
、ディスク（１５）を交換したときの傾き変化や、光検
知器（１０）、 （１４）の経年的な位置ずれを生じた
場合に、第１３図に示すように、トラック中心に光スポ
ットが位置しているときであっても、２つの受光素子（
２２ａ） 、 （２）’ｂ）に均等に出力が得られな
い位置に光スポット（３０）が生じることがある。この
ように光スポットにずれが生じると、第１４図に示すよ
うに、トラッキング制御するべき目標位置Ｐがトラック
中心すなわち再生出力信号の最も大きい点ＰＯと一致せ
ずにオフセットずれδを生じ、再生特性が劣化するとい
う問題点があった。一方、フォーカシング系についても
上記と同じ原因によって、フォーカシング制御するべき
目標位置にオフセットずれを生じ、再生特性が劣化する
という同様の問題点があった。
、ディスク（１５）を交換したときの傾き変化や、光検
知器（１０）、 （１４）の経年的な位置ずれを生じた
場合に、第１３図に示すように、トラック中心に光スポ
ットが位置しているときであっても、２つの受光素子（
２２ａ） 、 （２）’ｂ）に均等に出力が得られな
い位置に光スポット（３０）が生じることがある。この
ように光スポットにずれが生じると、第１４図に示すよ
うに、トラッキング制御するべき目標位置Ｐがトラック
中心すなわち再生出力信号の最も大きい点ＰＯと一致せ
ずにオフセットずれδを生じ、再生特性が劣化するとい
う問題点があった。一方、フォーカシング系についても
上記と同じ原因によって、フォーカシング制御するべき
目標位置にオフセットずれを生じ、再生特性が劣化する
という同様の問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ディスクの傾きや、光検知器の経年的な位置
ずれに起因するオフセットずれを補正することにより再
生特性を向上させた光ヘッドを提供することを目的とし
ている。
たもので、ディスクの傾きや、光検知器の経年的な位置
ずれに起因するオフセットずれを補正することにより再
生特性を向上させた光ヘッドを提供することを目的とし
ている。
［課題を解決するための手段］
この発明では、まずフォーカシング系については、焦点
制御動作を行なう直前にアクチュエータにより集光手段
を光軸方向に一定周波数で変位させながらディスク面を
サーチしてセンサオフセットを検知するオフセット検知
回路と、この検知回路で検知されたオフセット量に応じ
て受光素子の位置を変位させる補正手段とを設けている
。
制御動作を行なう直前にアクチュエータにより集光手段
を光軸方向に一定周波数で変位させながらディスク面を
サーチしてセンサオフセットを検知するオフセット検知
回路と、この検知回路で検知されたオフセット量に応じ
て受光素子の位置を変位させる補正手段とを設けている
。
また、トラッキング系についても、トラッキング制御動
作を行なう直前にアクチュエータにより集光手段をトラ
ックと直交する方向に一定周波数で変位させながらトラ
ックをサーチしてセンサオフセットを検知するオフセッ
ト検知回路と、この検知回路で検知されたオフセット量
に応じて受光素子の位置を変位させる補正手段とを設け
ている。
作を行なう直前にアクチュエータにより集光手段をトラ
ックと直交する方向に一定周波数で変位させながらトラ
ックをサーチしてセンサオフセットを検知するオフセッ
ト検知回路と、この検知回路で検知されたオフセット量
に応じて受光素子の位置を変位させる補正手段とを設け
ている。
さらにまた、補正手段としては積層型の圧電素子で構成
している。
している。
［作用］
この発明の光ヘッドにおいては、動作開始時にセンサオ
フセットが検知され、このオフセット量に応じて受光素
子の位置が適正に調整されるので、ディスクの傾きや経
年的な位置ずれによる影響を補正できる。
フセットが検知され、このオフセット量に応じて受光素
子の位置が適正に調整されるので、ディスクの傾きや経
年的な位置ずれによる影響を補正できる。
また、積層型の圧電素子を使用することにより、振動等
による悪影響も除去できる。
による悪影響も除去できる。
［発明の実施例］
以下、この発明の実施例を図面にしたがって説明する。
まず、受光される光スポットと受光素子の相対位置ずれ
の検出方法について述べる。第１図および第２図は対物
レンズ（６）の焦点ずれとフォーカス検出信号、再生出
力信号の関係を示すもので、第１図（ｂ）の合焦点位置
にある場合に再生出力信号は最大であり、この位置でフ
ォーカス検出信号はゼロとなるように調整される。焦点
ずれを生じると、再生出力信号は低下する。
の検出方法について述べる。第１図および第２図は対物
レンズ（６）の焦点ずれとフォーカス検出信号、再生出
力信号の関係を示すもので、第１図（ｂ）の合焦点位置
にある場合に再生出力信号は最大であり、この位置でフ
ォーカス検出信号はゼロとなるように調整される。焦点
ずれを生じると、再生出力信号は低下する。
このような関係から、フォーカス検出信号と再主出力信
号のずれを検出するため、対物レンズ（６）の初期引込
み時の動作を利用する。対物レンズ（６）は電源が投入
され動作を開始する時点では、ディスク（１５）に対す
る位置がわからないので、第３図に示すような引込み動
作を行なう。すなわち、対物レンズ（６）を駆動するア
クチュエータ（図示せず）に三角波入力を加え、対物レ
ンズ（６）を上下に動作させることにより、ディスク（
１５）の位置を検知する。
号のずれを検出するため、対物レンズ（６）の初期引込
み時の動作を利用する。対物レンズ（６）は電源が投入
され動作を開始する時点では、ディスク（１５）に対す
る位置がわからないので、第３図に示すような引込み動
作を行なう。すなわち、対物レンズ（６）を駆動するア
クチュエータ（図示せず）に三角波入力を加え、対物レ
ンズ（６）を上下に動作させることにより、ディスク（
１５）の位置を検知する。
この動作のときに第４図に示すように、三角波＋ＡＣ成
分（たとえば３０ ｆｌｚ）で対物レンズ（６）を駆動
すると同時に、再生出力信号およびフォーカス検出信号
をモニタする。すなわち、対物レンズ（６）の移動によ
る出力信号のレベル変化と位相から、フォーカス検出信
号のゼロ点と再生出力信号の最大点のずれ量と方向とが
検知できる。
分（たとえば３０ ｆｌｚ）で対物レンズ（６）を駆動
すると同時に、再生出力信号およびフォーカス検出信号
をモニタする。すなわち、対物レンズ（６）の移動によ
る出力信号のレベル変化と位相から、フォーカス検出信
号のゼロ点と再生出力信号の最大点のずれ量と方向とが
検知できる。
これをもう少し詳細に説明すると、光スポットをＡＣ的
に微少変位させながらディスク面を通過させると、第４
図の再生出力信号最大点では上記微少変位の２倍の周波
数、またこの最大点からどちらかにずれた場合は上記微
少変位周波数と同周波数であるが、第４図中（Ａ）領域
と（Ｂｌ領域とでは、位相が１８０°異なり、そのずれ
量に応じて振幅の異なる出力が得られる。この出力と上
記光スポットを駆動するＡＣ出力を位相検波することに
より、再生出力信号の最大点を検知することができる。
に微少変位させながらディスク面を通過させると、第４
図の再生出力信号最大点では上記微少変位の２倍の周波
数、またこの最大点からどちらかにずれた場合は上記微
少変位周波数と同周波数であるが、第４図中（Ａ）領域
と（Ｂｌ領域とでは、位相が１８０°異なり、そのずれ
量に応じて振幅の異なる出力が得られる。この出力と上
記光スポットを駆動するＡＣ出力を位相検波することに
より、再生出力信号の最大点を検知することができる。
この再生出力信号の最大点とフォーカス検出信号のゼロ
点とのずれを検知することにより、センサオフセットが
検知できる。
点とのずれを検知することにより、センサオフセットが
検知できる。
次に、光スポットと光検知器の相対位置補正手段につい
て述べる。第５図はこの補正機構の一例を示しており、
光検知器プレート（２３）の中央部に形成された凹所（
２３ａ）の−側に光検知器部（２４）が積層型の圧電素
子（４０）を介して保持されている。
て述べる。第５図はこの補正機構の一例を示しており、
光検知器プレート（２３）の中央部に形成された凹所（
２３ａ）の−側に光検知器部（２４）が積層型の圧電素
子（４０）を介して保持されている。
圧電素子（４０）は電圧の印加によって積層方向に伸縮
するから、上述したセンサオフセット量に応じた電圧値
で圧電素子（４０）を駆動し、光検知器部（２４）の位
置を第５図の左右方向に変位させて受光素子（２４ａ）
〜（２４ｄ）の位置関係を適正化することにより、オフ
セットの補正ができる。
するから、上述したセンサオフセット量に応じた電圧値
で圧電素子（４０）を駆動し、光検知器部（２４）の位
置を第５図の左右方向に変位させて受光素子（２４ａ）
〜（２４ｄ）の位置関係を適正化することにより、オフ
セットの補正ができる。
第６図は補正機構の他の実施例を示している。
この実施例では、光検知器プレート（２３）の一部に切
欠き部（２３ｂ ）を設け、圧電素子（４０）の伸縮に
よってこの切欠き部（２３ｂ）が塑性変形するように構
成されている。この場合は、光検知器部（２４）の両端
が光検知器プレート（２３）の凹所（２３ａ ）の内壁
に支持されるので、対振性等の点で有利である。
欠き部（２３ｂ ）を設け、圧電素子（４０）の伸縮に
よってこの切欠き部（２３ｂ）が塑性変形するように構
成されている。この場合は、光検知器部（２４）の両端
が光検知器プレート（２３）の凹所（２３ａ ）の内壁
に支持されるので、対振性等の点で有利である。
以上は第１０図のフォーカシング系における補正につい
て説明したが、第９図のトラッキング系についても、同
様に積層型の圧電素子を用いて光検知器部（２２）を光
検知器プレート（２１）に保持させ、サーボ引込み時に
対物レンズ（６）をトラッキング方向に一定周波数で駆
動しながらオフセットを検出し、このオフセット量に応
じて上記圧電素子を変位させることにより、補正を行な
うことができる。
て説明したが、第９図のトラッキング系についても、同
様に積層型の圧電素子を用いて光検知器部（２２）を光
検知器プレート（２１）に保持させ、サーボ引込み時に
対物レンズ（６）をトラッキング方向に一定周波数で駆
動しながらオフセットを検出し、このオフセット量に応
じて上記圧電素子を変位させることにより、補正を行な
うことができる。
このようにして、上述した実施例によれば、動作開始時
にセンサオフセットを検知して補正するので、従来のサ
ーボ回路に簡単な回路を付加するだけで実現可能である
。また、補正手段としてすジッドな積層型の圧電素子を
使用しているので、振動等による悪影響がない。
にセンサオフセットを検知して補正するので、従来のサ
ーボ回路に簡単な回路を付加するだけで実現可能である
。また、補正手段としてすジッドな積層型の圧電素子を
使用しているので、振動等による悪影響がない。
なお、補正は、ディスク交換時もしくは電源投入時に必
ず一度は行なうことができ、ディスクの影響や経年的な
変化には十分対応できる。さらに、光ヘッドを製作する
とぎに必須であった光検知器と受光された光スポットの
位置関係の微妙な調整の精度を、補正する量に応じて緩
和することができる。
ず一度は行なうことができ、ディスクの影響や経年的な
変化には十分対応できる。さらに、光ヘッドを製作する
とぎに必須であった光検知器と受光された光スポットの
位置関係の微妙な調整の精度を、補正する量に応じて緩
和することができる。
［発明の効果コ
以上のように、この発明によれば、オフセット量に応じ
て光検知器の位置を調整するようにしたので、ディスク
の傾きや経年的な位置ずれにより生じるセンサオフセッ
トを補正することができ、信頼性を大幅に改善した光ヘ
ッドを提供できる効果がある。
て光検知器の位置を調整するようにしたので、ディスク
の傾きや経年的な位置ずれにより生じるセンサオフセッ
トを補正することができ、信頼性を大幅に改善した光ヘ
ッドを提供できる効果がある。
また、補正手段として積層型の圧電素子を使用すること
により、振動等による悪影響もなくすことができる。
により、振動等による悪影響もなくすことができる。
第１図は対物レンズとディスクの位置関係を示す図、第
２図は上記位置関係に対応したセンサ出力特性および再
生出力特性を示す図、第３図は対物レンズの初期引込み
動作を説明するための図、第４図はこの発明による初期
引込み動作を説明するための図、第５図はこの発明の光
ヘッドにおける補正機構の一例を示す図、第６図は補正
機構の他の実施例を示す図、第７図は従来の光磁気ディ
スク用光ヘッドの光路を示す図、第８図は、第７図の反
射ミラーおよび対物レンズの部分の側面図、第９図は従
来のトラッキング用光検知器を示す図、第１０図は従来
のフォーカシング用光検知器を示す図、第１１図はトラ
ッキング検出特性を示す図、第１２図はフォーカシング
検出特性を示す図、第１３図は受光された光スポットと
光検知器の相対位置関係を示す図、第１４図は上記相対
位置ずれに対応したトラッキング検出用光検知器の出力
および再生出力信号の特性を示す図である。 （１）・・・レーザ光、（２）・・・半導体レーザ、（
３）・・・コリメータレンズ、（４）・・・ハーフプリ
ズム、（５）・・・反射ミラー （６）・・・対物レン
ズ、（７）・・・λ／２板、（８）・・・偏光ビームス
プリッタ、（９）・・・集光レンズ、（１０）・・・ト
ラッキング検出用光検知器、（１１）・・・集光レンズ
、（１２）・・・ウェッジプリズム、（１３）・・・拡
大レンズ、（１４）・・・フォーカシング検出用光検知
器、（１５）・・・ディスク、（２２）・・・光検知器
部、（２４）・・・光検知器部、（３２）、 （３３
）・・・差動アンプ、（４ｏ）・・・圧電素子。 なお、図中、同一符号は同一 または相当部分を示す。
２図は上記位置関係に対応したセンサ出力特性および再
生出力特性を示す図、第３図は対物レンズの初期引込み
動作を説明するための図、第４図はこの発明による初期
引込み動作を説明するための図、第５図はこの発明の光
ヘッドにおける補正機構の一例を示す図、第６図は補正
機構の他の実施例を示す図、第７図は従来の光磁気ディ
スク用光ヘッドの光路を示す図、第８図は、第７図の反
射ミラーおよび対物レンズの部分の側面図、第９図は従
来のトラッキング用光検知器を示す図、第１０図は従来
のフォーカシング用光検知器を示す図、第１１図はトラ
ッキング検出特性を示す図、第１２図はフォーカシング
検出特性を示す図、第１３図は受光された光スポットと
光検知器の相対位置関係を示す図、第１４図は上記相対
位置ずれに対応したトラッキング検出用光検知器の出力
および再生出力信号の特性を示す図である。 （１）・・・レーザ光、（２）・・・半導体レーザ、（
３）・・・コリメータレンズ、（４）・・・ハーフプリ
ズム、（５）・・・反射ミラー （６）・・・対物レン
ズ、（７）・・・λ／２板、（８）・・・偏光ビームス
プリッタ、（９）・・・集光レンズ、（１０）・・・ト
ラッキング検出用光検知器、（１１）・・・集光レンズ
、（１２）・・・ウェッジプリズム、（１３）・・・拡
大レンズ、（１４）・・・フォーカシング検出用光検知
器、（１５）・・・ディスク、（２２）・・・光検知器
部、（２４）・・・光検知器部、（３２）、 （３３
）・・・差動アンプ、（４ｏ）・・・圧電素子。 なお、図中、同一符号は同一 または相当部分を示す。
Claims (4)
- （１）光源と、この光源から出射した光ビームをディス
ク上に導く光学部材と、上記ディスク上に光スポットを
形成する集光手段と、上記ディスクからの反射光を受光
して焦点ずれ、トラックずれおよび再生信号を得る受光
素子と、上記焦点ずれ、トラックずれに応じて上記集光
手段を所定方向に駆動するアクチュエータとを備えた光
ヘッドにおいて、焦点制御動作を行なう直前に上記アク
チュエータにより上記集光手段を光軸方向に一定周波数
で変位させながらディスク面をサーチしてセンサオフセ
ットを検知するオフセット検知回路と、この検知回路で
検知されたオフセット量に応じて上記受光素子の位置を
変位させる補正手段とを設けたことを特徴とする光ヘッ
ド。 - （２）光源と、この光源から出射した光ビームをディス
ク上に導く光学部材と、上記ディスク上に光スポットを
形成する集光手段と、上記ディスクからの反射光を受光
して焦点ずれ、トラックずれおよび再生信号を得る受光
素子と、上記焦点ずれ、トラックずれに応じて上記集光
手段を所定方向に駆動するアクチュエータとを備えた光
ヘッドにおいて、トラッキング制御動作を行なう直前に
上記アクチュエータにより上記集光手段をトラックと直
交する方向に一定周波数で変位させながらトラックをサ
ーチしてセンサオフセットを検知するオフセット検知回
路と、この検知回路で検知されたオフセット量に応じて
上記受光素子の位置を変位させる補正手段とを設けたこ
とを特徴とする光ヘッド。 - （３）光源と、この光源から出射した光ビームをディス
ク上に導く光学部材と、上記ディスク上に光スポットを
形成する集光手段と、上記ディスクからの反射光を受光
して焦点ずれ、トラックずれおよび再生信号を得る受光
素子と、上記焦点ずれ、トラックずれに応じて上記集光
手段を光軸方向およびトラックと直交する方向に駆動す
るアクチユエータとを備えた光ヘッドにおいて、焦点制
御動作を行なう直前に上記アクチュエータにより上記集
光手段を光軸方向に一定周波数で変位させながらディス
ク面をサーチしてセンサオフセットを検知する第１のオ
フセット検知回路と、この第１の検知回路で検知された
オフセット量に応じて上記受光素子の位置を変位させる
第１の補正手段と、トラッキング制御動作を行なう直前
に上記アクチュエータにより上記集光手段をトラックと
直交する方向に一定周波数で変位させながらトラックを
サーチしてセンサオフセットを検知する第２のオフセッ
ト検知回路と、この第２の検知回路で検知されたオフセ
ット量に応じて上記受光素子の位置を変位させる第２の
補正手段とを設けたことを特徴とする光ヘッド。 - （４）補正手段を積層型の圧電素子で構成した特許請求
の範囲第１項、第２項または第３項記載の光ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1278589A JPH02192029A (ja) | 1989-01-19 | 1989-01-19 | 光ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1278589A JPH02192029A (ja) | 1989-01-19 | 1989-01-19 | 光ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02192029A true JPH02192029A (ja) | 1990-07-27 |
Family
ID=11815051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1278589A Pending JPH02192029A (ja) | 1989-01-19 | 1989-01-19 | 光ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02192029A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5566152A (en) * | 1992-10-21 | 1996-10-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Tracking control system with correction capabilities for correcting disagreement between optical axes |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60170034A (ja) * | 1984-02-14 | 1985-09-03 | Sanyo Electric Co Ltd | 光学ピツクアツプ装置 |
| JPS6378386A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-08 | Pioneer Electronic Corp | 微調サ−ボ装置におけるオフセツト補償回路 |
-
1989
- 1989-01-19 JP JP1278589A patent/JPH02192029A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60170034A (ja) * | 1984-02-14 | 1985-09-03 | Sanyo Electric Co Ltd | 光学ピツクアツプ装置 |
| JPS6378386A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-08 | Pioneer Electronic Corp | 微調サ−ボ装置におけるオフセツト補償回路 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5566152A (en) * | 1992-10-21 | 1996-10-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Tracking control system with correction capabilities for correcting disagreement between optical axes |
| US5652743A (en) * | 1992-10-21 | 1997-07-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Tracking control system with offset correction |
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