JPH02194160A - 硬質被膜材料及びその製造方法 - Google Patents
硬質被膜材料及びその製造方法Info
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- JPH02194160A JPH02194160A JP996089A JP996089A JPH02194160A JP H02194160 A JPH02194160 A JP H02194160A JP 996089 A JP996089 A JP 996089A JP 996089 A JP996089 A JP 996089A JP H02194160 A JPH02194160 A JP H02194160A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、セラミックス基板表面若しくは金属基板表面
に被覆する高硬質被膜材料に関する。特に、特定組成の
Ti−Ta−N系の三元遷移金属窒化物固溶体被膜材料
及びその製法に関する。
に被覆する高硬質被膜材料に関する。特に、特定組成の
Ti−Ta−N系の三元遷移金属窒化物固溶体被膜材料
及びその製法に関する。
[従来の技術]
従来、切削工具や金型等の表面に種々の高硬質被膜をコ
ーティングした耐摩耗部材が知られ、これらの硬質被膜
材料と1例として、TiC,TiNを挙げることができ
る。
ーティングした耐摩耗部材が知られ、これらの硬質被膜
材料と1例として、TiC,TiNを挙げることができ
る。
TiCの被膜材料は、ビッカース硬度約3200Hvと
、一般に高い融点と高い硬度を示す非酸化物系材料の中
でも、最も高い硬度を示す材料である。一方、TiNの
被膜材料のビッカース硬度は、TiCに劣るものの、靭
性、熱伝導率はTiCよりすぐれているために、例えば
コーティング工具として使用した場合は、硬質被膜のチ
ッピングが発生しにくい利点がある。
、一般に高い融点と高い硬度を示す非酸化物系材料の中
でも、最も高い硬度を示す材料である。一方、TiNの
被膜材料のビッカース硬度は、TiCに劣るものの、靭
性、熱伝導率はTiCよりすぐれているために、例えば
コーティング工具として使用した場合は、硬質被膜のチ
ッピングが発生しにくい利点がある。
[発明が解決しようとする問題点]
然し乍ら、近年、耐摩耗性に対する要求は、産業の種別
を問わず多くの産業分野で益々強まってい、従来では考
えられなかった耐摩耗性を既存の部品や材料に付与でき
れば、設備、装置の寿命の長期化、エネルギー効率の向
上などが期待され、その経済的効果は、図り知れないも
のがある。
を問わず多くの産業分野で益々強まってい、従来では考
えられなかった耐摩耗性を既存の部品や材料に付与でき
れば、設備、装置の寿命の長期化、エネルギー効率の向
上などが期待され、その経済的効果は、図り知れないも
のがある。
従って、本発明は、従来の公知の被膜材料の特性、特に
、硬度を更に改善することを目的とする。即ち、本発明
者らは、Ti−Tλ−N系遷移金属窒化物固溶体被膜材
料について、その物性を詳細に研究し、これら3元系の
特定組成領域において、靭性を損なわずに、且つ、飛躍
的に硬度が高めた被膜材料を見出し、その知見に基づい
て本発明を完成するに至ったものである。
、硬度を更に改善することを目的とする。即ち、本発明
者らは、Ti−Tλ−N系遷移金属窒化物固溶体被膜材
料について、その物性を詳細に研究し、これら3元系の
特定組成領域において、靭性を損なわずに、且つ、飛躍
的に硬度が高めた被膜材料を見出し、その知見に基づい
て本発明を完成するに至ったものである。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、上記の技術的な課題の解決のために、Ti−
Ta−N系の3元系遷移金属窒化物固溶体からなる被膜
材料において、上記3元系遷移金属窒化物固溶体で、且
つ一般式T s + −t T a * N1−、(但
し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である)で示
される硬質被膜材料が、硬度向上できることを見出した
ものである。更に、その−軟式、T i l−4a m
N I−yにおけるXの値が、0.3〜0.6であるも
のが好適である。そして、その固溶体材料中には、酸素
が1原子パーセント以下とする不可避不純物を固溶して
いるものが好適である。そして、その製法としては、−
軟式Ti。
Ta−N系の3元系遷移金属窒化物固溶体からなる被膜
材料において、上記3元系遷移金属窒化物固溶体で、且
つ一般式T s + −t T a * N1−、(但
し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である)で示
される硬質被膜材料が、硬度向上できることを見出した
ものである。更に、その−軟式、T i l−4a m
N I−yにおけるXの値が、0.3〜0.6であるも
のが好適である。そして、その固溶体材料中には、酸素
が1原子パーセント以下とする不可避不純物を固溶して
いるものが好適である。そして、その製法としては、−
軟式Ti。
、TatN+−t(但し、0.2<x<0.7、yは0
.6以下である)で示される硬質被膜材料の製造方法に
おいて、チタン源としての金属チタン並びにタンタル源
としての金属タンタルを所望Ti/ T a比率の被膜
が得られるような面積比で対陰極として設置するか或い
は、所望のT i / T a比率の被膜が得られるよ
うな割合のチタン源並びにタンタル源としてのTi−T
a合金を対陰極として設置し、キャリアガスに搬送され
る窒化反応ガスとしての窒素ガス及び/又はアンモニア
ガスの流量及び/又は濃度を、所定範囲に制御し、基板
温度を200〜700℃に保持し、プラズマ電力を20
0〜2000Wに、全ガス圧を0.1〜100Paに保
持して、スパッタリング法により被膜形成を行なうこと
により得られる。また、対陰極としてTiN−TaN系
混合焼成体を使用し、所望組成のT 1 +−T a
mN +−y(但し、0.2<x〈0.7、yは0.6
以下である)被膜材料となるように、TiN−TaN系
混合焼成体の組成比を制御するとともに、窒素源が不足
する場合は、窒素反応ガスとして窒素ガス及び/又はア
ンモニアガスの流量及び/又は濃度を更に制御して、基
板温度を200〜700℃に保持して、プラズマ電力を
200〜2000Wに保持し、全ガス圧を0.1〜10
0Paとして、スパッタリング法により硬質被膜材料形
成を行なうことができる。更に、キャリアガスに搬送さ
れるチタン源としてのハロゲン化チタンガスの流量及び
/又は濃度を制御し、キャリアガスに搬送されるタンタ
ル源としてのハロゲン化タンタルガスの流量及び濃度を
制御し、その搬送ガス中の窒化反応ガスとしての窒素ガ
ス及び/又はアンモニアガスの流量及び/又は濃度を制
御して、所望の組成のT i l−*T’ a 、N、
−2(但し、0.2<x<0.7、yは066以下であ
る)被膜材料が得られるようにすると共に、基板温度を
150〜700℃に保持し、プラズマパワーを150〜
2000Wに保持し、全ガス圧を1〜500 Paに保
持し、プラズマCVD法により分解窒化反応を生起せし
めることにより、高硬質の被膜材料が得られる。
.6以下である)で示される硬質被膜材料の製造方法に
おいて、チタン源としての金属チタン並びにタンタル源
としての金属タンタルを所望Ti/ T a比率の被膜
が得られるような面積比で対陰極として設置するか或い
は、所望のT i / T a比率の被膜が得られるよ
うな割合のチタン源並びにタンタル源としてのTi−T
a合金を対陰極として設置し、キャリアガスに搬送され
る窒化反応ガスとしての窒素ガス及び/又はアンモニア
ガスの流量及び/又は濃度を、所定範囲に制御し、基板
温度を200〜700℃に保持し、プラズマ電力を20
0〜2000Wに、全ガス圧を0.1〜100Paに保
持して、スパッタリング法により被膜形成を行なうこと
により得られる。また、対陰極としてTiN−TaN系
混合焼成体を使用し、所望組成のT 1 +−T a
mN +−y(但し、0.2<x〈0.7、yは0.6
以下である)被膜材料となるように、TiN−TaN系
混合焼成体の組成比を制御するとともに、窒素源が不足
する場合は、窒素反応ガスとして窒素ガス及び/又はア
ンモニアガスの流量及び/又は濃度を更に制御して、基
板温度を200〜700℃に保持して、プラズマ電力を
200〜2000Wに保持し、全ガス圧を0.1〜10
0Paとして、スパッタリング法により硬質被膜材料形
成を行なうことができる。更に、キャリアガスに搬送さ
れるチタン源としてのハロゲン化チタンガスの流量及び
/又は濃度を制御し、キャリアガスに搬送されるタンタ
ル源としてのハロゲン化タンタルガスの流量及び濃度を
制御し、その搬送ガス中の窒化反応ガスとしての窒素ガ
ス及び/又はアンモニアガスの流量及び/又は濃度を制
御して、所望の組成のT i l−*T’ a 、N、
−2(但し、0.2<x<0.7、yは066以下であ
る)被膜材料が得られるようにすると共に、基板温度を
150〜700℃に保持し、プラズマパワーを150〜
2000Wに保持し、全ガス圧を1〜500 Paに保
持し、プラズマCVD法により分解窒化反応を生起せし
めることにより、高硬質の被膜材料が得られる。
本発明者らは、Ti−Ta−N系硬質被膜材料について
、その得られる硬度の向上を目的に、鋭意研究したとこ
ろ、組成比で、T 1 + −@ T & t N 1
−1(但し、0.2<x<0.7、yは0.6以下であ
る)のTi−Ta−N系遷移金属窒化物固溶体が、特に
ビッカース硬度が向上することを見出した0本発明は、
この知見に基づいて、行なわれた。更に、より好ましく
は、上記Xの値が、0゜3〜0.6で硬質被膜材料であ
る。
、その得られる硬度の向上を目的に、鋭意研究したとこ
ろ、組成比で、T 1 + −@ T & t N 1
−1(但し、0.2<x<0.7、yは0.6以下であ
る)のTi−Ta−N系遷移金属窒化物固溶体が、特に
ビッカース硬度が向上することを見出した0本発明は、
この知見に基づいて、行なわれた。更に、より好ましく
は、上記Xの値が、0゜3〜0.6で硬質被膜材料であ
る。
尚、上記Xの値が、0.7以上の組成範囲においては、
析出被膜材料中に、金属Tf及び/又は金属Taの一部
析出が認められ、ビッカース硬度の急激な低下が認めら
れた。
析出被膜材料中に、金属Tf及び/又は金属Taの一部
析出が認められ、ビッカース硬度の急激な低下が認めら
れた。
即ち、組成のT s +−tT a wN t−yのT
i−Ta−N系遷移金属窒化物固溶体の組成比において
、Xの値を、0.1〜0.9に、yの値で0〜0.9の
範囲で変化させ、得られる被膜材料のビッカース硬度を
測定したところ、Xの値が、0.2〜0.7の範囲で特
に硬度の向上が著しいことが認められた。
i−Ta−N系遷移金属窒化物固溶体の組成比において
、Xの値を、0.1〜0.9に、yの値で0〜0.9の
範囲で変化させ、得られる被膜材料のビッカース硬度を
測定したところ、Xの値が、0.2〜0.7の範囲で特
に硬度の向上が著しいことが認められた。
また、本発明による硬’RM移金属窒化物Ti −Ta
−N系の被膜材料には、原料の純度及び反応装置内の残
留酸素によって、不可避的に1v素が固溶することがあ
り、通常、その固溶量は、1原子パーセント以下である
ことが、厳密な定量分析の結果判明した。
−N系の被膜材料には、原料の純度及び反応装置内の残
留酸素によって、不可避的に1v素が固溶することがあ
り、通常、その固溶量は、1原子パーセント以下である
ことが、厳密な定量分析の結果判明した。
即ち、組成の71 +−wTl mN +−y(但し、
0.2<x<0.7、yは0.6以下である)被膜材料
となるように、Ti−Ta−N系3元系遷移金属窒化物
固溶体であり、且つ、酸素が1原子パーセント以下、不
可避不純物として固溶している硬質被膜材料である。そ
して、組成のT s l−t T a t N1−、(
但し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である)の
Ti−Ta−N系硬質被膜材料では、高い硬度を示すこ
とが判明した。この酸素の固溶は、反応装置内に残留す
る酸素及び/又はキャリアガスなどの中に残留する酸素
に起因するものと考えられる。
0.2<x<0.7、yは0.6以下である)被膜材料
となるように、Ti−Ta−N系3元系遷移金属窒化物
固溶体であり、且つ、酸素が1原子パーセント以下、不
可避不純物として固溶している硬質被膜材料である。そ
して、組成のT s l−t T a t N1−、(
但し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である)の
Ti−Ta−N系硬質被膜材料では、高い硬度を示すこ
とが判明した。この酸素の固溶は、反応装置内に残留す
る酸素及び/又はキャリアガスなどの中に残留する酸素
に起因するものと考えられる。
このような硬質遷移金属窒化物固溶体被膜材料は、スパ
ッタリング処理法又はプラズマCVD(化学的蒸着)法
によって製造することができ、他の類似のPVD法、例
えば、イオンブレーティング法によっても製造すること
ができる。
ッタリング処理法又はプラズマCVD(化学的蒸着)法
によって製造することができ、他の類似のPVD法、例
えば、イオンブレーティング法によっても製造すること
ができる。
本発明によるスパッタリング処理による1つの製造方法
は、チタン源として金属チタンを、タンタル源として金
属タンタルを利用し、所望のTi/ T a比率の被膜
材料が得られるように、面積比を調製して、対陰極(タ
ーゲット)として設置することにより、或いは、所望の
T i / T a比率になるような割合で、チタン源
並びにタンタル源として、Ti−T*金合金対陰極とし
て用いることにより、窒化反応ガスとして、窒素ガス及
び/又はアンモニアガスの分圧とスパッタリングのため
にアルゴンガスなどの不活性ガスの分圧を、調整し、所
望のN/(Ti+Ta)比率の硬質被膜材料が得られる
ように、条件を制御する。その基板温度は、200〜7
00℃に保持し、プラズマパワーは、200〜200
GWで用い、全ガス圧を0.1〜100Paにして、ス
パッタリング法により、基板表面上に被膜形成する製造
方法である。
は、チタン源として金属チタンを、タンタル源として金
属タンタルを利用し、所望のTi/ T a比率の被膜
材料が得られるように、面積比を調製して、対陰極(タ
ーゲット)として設置することにより、或いは、所望の
T i / T a比率になるような割合で、チタン源
並びにタンタル源として、Ti−T*金合金対陰極とし
て用いることにより、窒化反応ガスとして、窒素ガス及
び/又はアンモニアガスの分圧とスパッタリングのため
にアルゴンガスなどの不活性ガスの分圧を、調整し、所
望のN/(Ti+Ta)比率の硬質被膜材料が得られる
ように、条件を制御する。その基板温度は、200〜7
00℃に保持し、プラズマパワーは、200〜200
GWで用い、全ガス圧を0.1〜100Paにして、ス
パッタリング法により、基板表面上に被膜形成する製造
方法である。
尚、本発明による製造方法において、窒化反応ガス又は
不活性ガスの分圧を制御することは、窒化反応ガス又は
不活性ガスの流量及び/又は濃度を調整することによっ
て行なわれる。
不活性ガスの分圧を制御することは、窒化反応ガス又は
不活性ガスの流量及び/又は濃度を調整することによっ
て行なわれる。
また、他のスパッタリング法による製造においては、対
陰極としてTfN−TaN系混合焼結体を使用し、所望
組成のT 11−tT a tN l−J但し、0.2
<x<0.7、yは0.6以下である)被膜材料となる
ように、TiN−TaN系混合焼成体の組成比を調整し
、且つ、窒素源が不足するならば、窒化反応ガスとして
、窒素ガス及び/又はアンモニアガスの流量及び/又は
濃度を調整して、スパッタリング処理を行なう、スパッ
タリング条件としては、基板温度を200〜700℃に
保持し、プラズマパワーを200〜2000Wにし、全
ガス圧を0.1〜100Paとして、スパッタリング処
理することにより、本発明の硬質被膜材料が得られる。
陰極としてTfN−TaN系混合焼結体を使用し、所望
組成のT 11−tT a tN l−J但し、0.2
<x<0.7、yは0.6以下である)被膜材料となる
ように、TiN−TaN系混合焼成体の組成比を調整し
、且つ、窒素源が不足するならば、窒化反応ガスとして
、窒素ガス及び/又はアンモニアガスの流量及び/又は
濃度を調整して、スパッタリング処理を行なう、スパッ
タリング条件としては、基板温度を200〜700℃に
保持し、プラズマパワーを200〜2000Wにし、全
ガス圧を0.1〜100Paとして、スパッタリング処
理することにより、本発明の硬質被膜材料が得られる。
尚、本製造方法において、窒化反応ガス又は不活性ガス
の分圧を調整することは、窒化反応ガス又は不活性ガス
の流量及び/又は濃度をili整することを意味Vるも
のである。
の分圧を調整することは、窒化反応ガス又は不活性ガス
の流量及び/又は濃度をili整することを意味Vるも
のである。
また、これらの2種類のスパッタリングによる製造方法
により製造される硬質被膜材料には、不可避不純物とし
て、酸素が1原子パーセント以下に固溶跡れたものであ
り得る。
により製造される硬質被膜材料には、不可避不純物とし
て、酸素が1原子パーセント以下に固溶跡れたものであ
り得る。
以下、この2種類のスパッタリング処理法による製造方
法を詳述する。
法を詳述する。
製造された窒化物固溶体被膜材料の化学組成は、基板温
度、全圧力、窒化反応ガス及びスパッタリングガスの分
圧、対陰極(ターゲット)の組成に依存する。それらの
中でも特に窒化反応ガス及びスパッタリングガスの分圧
、対陰極(ターゲット)の組成によって主に決定される
。
度、全圧力、窒化反応ガス及びスパッタリングガスの分
圧、対陰極(ターゲット)の組成に依存する。それらの
中でも特に窒化反応ガス及びスパッタリングガスの分圧
、対陰極(ターゲット)の組成によって主に決定される
。
本製造方法では、特に、対陰極(ターゲット)の純度が
、被膜形成材料の純度とその物性に直接影曽を及ばずも
のであり、対陰極(ターゲット)の純度はできるだけ高
純度のものが好ましく、通常99.9パ一セント以上の
ものを使用する。
、被膜形成材料の純度とその物性に直接影曽を及ばずも
のであり、対陰極(ターゲット)の純度はできるだけ高
純度のものが好ましく、通常99.9パ一セント以上の
ものを使用する。
また、チャンバー内に導入する窒化反応ガスとして窒素
ガス及び/又はアンモニアガスを用い、スパッタリング
のために不活性ガスとして利用するアルゴンガス等の純
度も同様に、99.99パ一セント以上の高純度ガスを
使用することが好ましい。
ガス及び/又はアンモニアガスを用い、スパッタリング
のために不活性ガスとして利用するアルゴンガス等の純
度も同様に、99.99パ一セント以上の高純度ガスを
使用することが好ましい。
導入ガスの全圧力は、特に限定されないが、通常、0.
IPaから50Paが好適である。0゜IPa未満では
、被膜形成速度が遅すぎ、50Paを超えると、形成さ
れる遷移金属窒化物固溶体被膜材料の組織は、多孔質の
状態を呈する。また、プラズマパワーは、200〜20
00Wの範囲が好適である。200W未満の時は、非晶
質であるので、高い強度が得られず、不都合であり、2
000Wを超えると、硬質遷移金属窒化物固溶体被膜材
料の逆スパッターが増加することにより、被膜形成速度
が飽和するので、2000Wを超えるプラズマパワーは
必要としない。
IPaから50Paが好適である。0゜IPa未満では
、被膜形成速度が遅すぎ、50Paを超えると、形成さ
れる遷移金属窒化物固溶体被膜材料の組織は、多孔質の
状態を呈する。また、プラズマパワーは、200〜20
00Wの範囲が好適である。200W未満の時は、非晶
質であるので、高い強度が得られず、不都合であり、2
000Wを超えると、硬質遷移金属窒化物固溶体被膜材
料の逆スパッターが増加することにより、被膜形成速度
が飽和するので、2000Wを超えるプラズマパワーは
必要としない。
更に、硬質遷移金属窒化物固溶物被膜材料を析出させる
基板は、200〜700°Cに加熱しておくことが必要
である。この理由は、200°C未満では析出被膜が非
晶質であるので、高い強度が得られず、また、700℃
を超えると、形成被膜の結晶組織が粗大化したり、また
、ヒータやチャンバー内壁の過熱により発生する不純物
が形成被膜材料に混入することにより、硬度の低下が認
められるからである。
基板は、200〜700°Cに加熱しておくことが必要
である。この理由は、200°C未満では析出被膜が非
晶質であるので、高い強度が得られず、また、700℃
を超えると、形成被膜の結晶組織が粗大化したり、また
、ヒータやチャンバー内壁の過熱により発生する不純物
が形成被膜材料に混入することにより、硬度の低下が認
められるからである。
本発明による硬質被膜材料の製造方法としては、他に、
プラズマCVD法が用いられる。即ら、キャリアガスに
搬送されるチタン源としてハロゲン化チタンガスを用い
、その流量及び/又は濃度を調整し、キャリアガスに搬
送されるタンタル源としてハロゲン化タンタルガスを用
い、そのtNt及び/又は濃度を調整する。そして、キ
ャリアガスに搬送される窒化反応ガスとして窒素ガス及
び/又はアンモニアガスを用い、その流量及び/又は濃
度を調整し、所望の組成のTi−Ta−N系の被膜材料
を得る。基板温度を400〜700℃に保持し、プラズ
マパワーを150〜2000Wに保持し、全ガス圧を1
〜500Paに、好ましくは、50〜200Paにして
、プラズマCVD処理を行い、分解窒化反応を生起せし
める。
プラズマCVD法が用いられる。即ら、キャリアガスに
搬送されるチタン源としてハロゲン化チタンガスを用い
、その流量及び/又は濃度を調整し、キャリアガスに搬
送されるタンタル源としてハロゲン化タンタルガスを用
い、そのtNt及び/又は濃度を調整する。そして、キ
ャリアガスに搬送される窒化反応ガスとして窒素ガス及
び/又はアンモニアガスを用い、その流量及び/又は濃
度を調整し、所望の組成のTi−Ta−N系の被膜材料
を得る。基板温度を400〜700℃に保持し、プラズ
マパワーを150〜2000Wに保持し、全ガス圧を1
〜500Paに、好ましくは、50〜200Paにして
、プラズマCVD処理を行い、分解窒化反応を生起せし
める。
尚、本製造方法において、各種ガスの流量及び/又は濃
度を調整することは、各種ガスの分圧を制御することに
よって行なわれる。
度を調整することは、各種ガスの分圧を制御することに
よって行なわれる。
ここで、ハロゲン化チタンとしては、塩化チタン、フッ
化チタン、臭化チタンの内少なくともいずれか1種又は
混合体を用いることができる。また、ハロゲン化タンタ
ルとしては、塩化タンタル、フッ化タンタル、臭化タン
タルのうちの少なくともいずれか1種又はその混合体を
使用することができる。ハロゲン化チタン並びにハロゲ
ン化タンタルの純度は、各々99.5パ一セント以上の
ものを使用する。
化チタン、臭化チタンの内少なくともいずれか1種又は
混合体を用いることができる。また、ハロゲン化タンタ
ルとしては、塩化タンタル、フッ化タンタル、臭化タン
タルのうちの少なくともいずれか1種又はその混合体を
使用することができる。ハロゲン化チタン並びにハロゲ
ン化タンタルの純度は、各々99.5パ一セント以上の
ものを使用する。
尚、この方法により製造される硬質被膜材料には、不可
避不純物としてFill[素が1原子パーセント以下固
溶されている。
避不純物としてFill[素が1原子パーセント以下固
溶されている。
以下、プラズマCVD法の具体的処理方法については、
以下の如くである。
以下の如くである。
例えば、チタン源としては、塩化チタンを、タンタル源
としては、塩化タンタル(TaCI!a)を使用する場
合は、塩化チタンは、常温で既に十分な蒸気圧があるの
で、キャリアガスと共に反応装置のチャンバー内に導入
し、一方、塩化タンタルは、常温で固体であり、このま
までは反応装置内に導入できないため、50〜120℃
の温度範囲で塩化タンタル及び反応装置のチャンバーに
導入する。窒化反応ガスとしては、窒素及び/又はアン
モニアガス(純度は各々99.9パーセント以−ヒ)を
使用し、キャリアガスとしては、アルゴンガス又はアル
ゴン−水素混合ガス(純度は各々99.9パ一セント以
上)などを使用する。全カス圧は、1〜500Pa、好
ましくは、50〜200Paとする。IPa未満ではプ
ラズマが発生しにくくなり、500Paを超えると被膜
材料の組織が粗大化し、良好な被膜が得られない。
としては、塩化タンタル(TaCI!a)を使用する場
合は、塩化チタンは、常温で既に十分な蒸気圧があるの
で、キャリアガスと共に反応装置のチャンバー内に導入
し、一方、塩化タンタルは、常温で固体であり、このま
までは反応装置内に導入できないため、50〜120℃
の温度範囲で塩化タンタル及び反応装置のチャンバーに
導入する。窒化反応ガスとしては、窒素及び/又はアン
モニアガス(純度は各々99.9パーセント以−ヒ)を
使用し、キャリアガスとしては、アルゴンガス又はアル
ゴン−水素混合ガス(純度は各々99.9パ一セント以
上)などを使用する。全カス圧は、1〜500Pa、好
ましくは、50〜200Paとする。IPa未満ではプ
ラズマが発生しにくくなり、500Paを超えると被膜
材料の組織が粗大化し、良好な被膜が得られない。
製造諮れる硬質遷移金属窒化物固溶体の化学組成は、基
板温度、全ガス圧、ガス流量及び/又は濃度等に依存し
ているが、その中でも特にチタン源ガスの流量及び/又
は濃度によって決定される。即ち、反応装置内のチャン
バー内に導入されるハロゲン化グータンガス、ハロゲン
化タンタルガス、窒素及び/又は濃度を調整することに
より、析出被膜材料の化学組成が、所望の通りに、得ら
れる。一方、硬質遷移金属窒化物固溶体被膜材料を形成
させる基板は、セラミックス材料、金属材料等のものが
用いられ、400〜700℃の範囲に加熱されることが
必要である。即ち、加熱温度が400℃以下では、形成
される被膜は非晶質であり、硬度の向上が認められない
、加熱温度が700℃以上では、形成される被膜材料そ
組織が、粗大化したり、L−夕やチャンバー内壁が過熱
されるために、その中に含有きれる不純物がガス化して
、被膜材料中に混入することにより、硬度の低下が見ら
れる。従って、微細な結晶質状組織が、形成きれる40
0〜700℃の範囲温度に基板を加熱rることか好適で
ある。
板温度、全ガス圧、ガス流量及び/又は濃度等に依存し
ているが、その中でも特にチタン源ガスの流量及び/又
は濃度によって決定される。即ち、反応装置内のチャン
バー内に導入されるハロゲン化グータンガス、ハロゲン
化タンタルガス、窒素及び/又は濃度を調整することに
より、析出被膜材料の化学組成が、所望の通りに、得ら
れる。一方、硬質遷移金属窒化物固溶体被膜材料を形成
させる基板は、セラミックス材料、金属材料等のものが
用いられ、400〜700℃の範囲に加熱されることが
必要である。即ち、加熱温度が400℃以下では、形成
される被膜は非晶質であり、硬度の向上が認められない
、加熱温度が700℃以上では、形成される被膜材料そ
組織が、粗大化したり、L−夕やチャンバー内壁が過熱
されるために、その中に含有きれる不純物がガス化して
、被膜材料中に混入することにより、硬度の低下が見ら
れる。従って、微細な結晶質状組織が、形成きれる40
0〜700℃の範囲温度に基板を加熱rることか好適で
ある。
更に、原料の混合ガス(即ち、ハロゲン化チタンガスと
ハロゲン化タンタルガス)と反応ガス(即ち、窒素ガス
及び/又はアンモニアガス)との間で分解窒化反応を生
起させるプラズマパワーは、150〜2000Wの範囲
が好適である。即ち、150W未満では、形成きれる被
膜材料の組織が多孔質であり、パワーが高くなるにつれ
て、緻密化するが、200 GWを超えると被膜材料の
逆スパツタリングが激しくなり、被膜形成速度が飽和す
るので、これ以上のパワーは必要としない。
ハロゲン化タンタルガス)と反応ガス(即ち、窒素ガス
及び/又はアンモニアガス)との間で分解窒化反応を生
起させるプラズマパワーは、150〜2000Wの範囲
が好適である。即ち、150W未満では、形成きれる被
膜材料の組織が多孔質であり、パワーが高くなるにつれ
て、緻密化するが、200 GWを超えると被膜材料の
逆スパツタリングが激しくなり、被膜形成速度が飽和す
るので、これ以上のパワーは必要としない。
本発明により得られる硬質被膜材料は、更に、例えば、
切削工具又は金型のような製品の被膜として有用であり
、有効に用いることができる。
切削工具又は金型のような製品の被膜として有用であり
、有効に用いることができる。
次に、本発明による硬質被膜材料の製造方法を具体的に
実施例により説明するが、本発明はそれらによって限定
されるものではない。
実施例により説明するが、本発明はそれらによって限定
されるものではない。
[実施例1]
[スパッタリング法]
耐陰極材(ターゲット)として、TiとTaの原子比が
、2.5ニア、5.5.5:5及び7゜5:2.5の3
種類の合金(純度99.9パーセント)を使用し、各陰
極に対して窒化反応ガスとしての窒素ガス(純度99.
999パーセント)の分圧を各ho、4Pm、0.3P
a%0.25Pa、0.2Pa、0.15Pa、0 、
IPaと6例に変化させて、実験した。スパッタリング
用ガスとして、アルゴンガス(j11度99.999パ
ーセント)を利用して、5US316ステンレス鋼板を
基板として、その上に被膜形成した。この基板は、被膜
形成に先だって、トリクロロエチレンで1時間超音波洗
浄して、脱脂した後、水素プラズマで30分間表面をク
リーニングして、以下の被膜形成処理条件による反応ス
パッタリング処理に供した。その被膜形成処理の条件は
、次の通りであった。
、2.5ニア、5.5.5:5及び7゜5:2.5の3
種類の合金(純度99.9パーセント)を使用し、各陰
極に対して窒化反応ガスとしての窒素ガス(純度99.
999パーセント)の分圧を各ho、4Pm、0.3P
a%0.25Pa、0.2Pa、0.15Pa、0 、
IPaと6例に変化させて、実験した。スパッタリング
用ガスとして、アルゴンガス(j11度99.999パ
ーセント)を利用して、5US316ステンレス鋼板を
基板として、その上に被膜形成した。この基板は、被膜
形成に先だって、トリクロロエチレンで1時間超音波洗
浄して、脱脂した後、水素プラズマで30分間表面をク
リーニングして、以下の被膜形成処理条件による反応ス
パッタリング処理に供した。その被膜形成処理の条件は
、次の通りであった。
プラズマ周波数:13.56MHz
プラズマバ7−:1kw
基板温度:450℃
処理時間:120分間
全圧カニIPa
このようにして得られた本発明による硬質被膜材料Ti
−Ta−N系の窒化物の化学組成を、螢光X線分析法に
より測定した。また、この析出被膜材料の硬度を、マイ
クロビッカース硬度計で測定した。その結果、化学組成
と硬度(Hv)の関係は、第1図に示す通りであった。
−Ta−N系の窒化物の化学組成を、螢光X線分析法に
より測定した。また、この析出被膜材料の硬度を、マイ
クロビッカース硬度計で測定した。その結果、化学組成
と硬度(Hv)の関係は、第1図に示す通りであった。
但し、図において、各測定した印・は、Nがモル比0.
6以上の組成のものであり、印Oは、Nがモル比0.6
以下のものであり、その付近に記した数字は、ビッカー
ス硬度(Hv)を示すものである。
6以上の組成のものであり、印Oは、Nがモル比0.6
以下のものであり、その付近に記した数字は、ビッカー
ス硬度(Hv)を示すものである。
[実施例2]
[RFプラズマCVD法]
チタン源として、塩化チタン(純度99.99パーセン
ト)を、タンタル源として塩化タンタル(純度99.9
9パーセント)を使用した。塩化チタン並びに塩化タン
タルのキャリアガスとしてアルゴンガス(純度99.9
99パーセント)を、反応ガスとして窒素ガス(99,
999パーセント)を使用して、アルミナ基板上にRF
プラズマCvD法により被膜形成した。この基板は被膜
形成に先だって、トリクロロエチレンで1時間超音波洗
浄して、脱脂した後、水素プラズマで30分間表面をク
リーニングして、被膜形成処理した。この被膜形成条件
は、次の通りである。
ト)を、タンタル源として塩化タンタル(純度99.9
9パーセント)を使用した。塩化チタン並びに塩化タン
タルのキャリアガスとしてアルゴンガス(純度99.9
99パーセント)を、反応ガスとして窒素ガス(99,
999パーセント)を使用して、アルミナ基板上にRF
プラズマCvD法により被膜形成した。この基板は被膜
形成に先だって、トリクロロエチレンで1時間超音波洗
浄して、脱脂した後、水素プラズマで30分間表面をク
リーニングして、被膜形成処理した。この被膜形成条件
は、次の通りである。
プラズマ周波数:13.56MHz
プラズマパワー:1.5kw
基板温度=600℃
処理時間:120分間
全圧カニ100Pa
水素ガス流1:260cc/分
窒素ガス流量は全アルゴン流量とともに、以下の6例に
変化させて、プラズマ処理した。
変化させて、プラズマ処理した。
11兵g没) 706050403020全アルゴン
(cc/分) 30 40 50 60 70 80
各々全アルゴン流量に対して、塩化チタンのキャリアガ
スであるアルゴンと、塩化タンタルのキャリアガスであ
るアルゴンとの流量比を、3ニア、5:5.7:3の3
つの場合に変化許せた。
(cc/分) 30 40 50 60 70 80
各々全アルゴン流量に対して、塩化チタンのキャリアガ
スであるアルゴンと、塩化タンタルのキャリアガスであ
るアルゴンとの流量比を、3ニア、5:5.7:3の3
つの場合に変化許せた。
このようにして得られた窒化物の化学組成を、螢光X線
分析法により測定した。また、この析出被膜の硬度は、
マイクロビッカース硬度計で測定した。その結果、化学
組成と硬度(Hv)の関係は、第2図に示すものであっ
た。但し、図において、各測定した印・は、Nがモル比
0.6以上の組成のものであり、印○は、Nがモル比0
.6以下のものであり、その付近に記した数字は、ビッ
カース硬度(Hv)を示すものである。
分析法により測定した。また、この析出被膜の硬度は、
マイクロビッカース硬度計で測定した。その結果、化学
組成と硬度(Hv)の関係は、第2図に示すものであっ
た。但し、図において、各測定した印・は、Nがモル比
0.6以上の組成のものであり、印○は、Nがモル比0
.6以下のものであり、その付近に記した数字は、ビッ
カース硬度(Hv)を示すものである。
[実施例3]
[反 性スパッタリング ]
対陰極(ターゲット)として、組成比がTiN−TaN
焼結体(TiとTaの原子比が2.5ニア、5.5:5
.7.5:2.5の3種類のもので、その純度は、99
.9パーセント)を調製し、各々対陰極に対して窒化反
応ガスとしての窒素ガス(純度99.999パーセント
)の分圧をそれぞれ0.3Pa、0.2Pa、0.IP
a。
焼結体(TiとTaの原子比が2.5ニア、5.5:5
.7.5:2.5の3種類のもので、その純度は、99
.9パーセント)を調製し、各々対陰極に対して窒化反
応ガスとしての窒素ガス(純度99.999パーセント
)の分圧をそれぞれ0.3Pa、0.2Pa、0.IP
a。
0.05Pa、0.OPaの6例に変化させて、実験し
た。これらの被膜形成条件は、実施例1と同じとした。
た。これらの被膜形成条件は、実施例1と同じとした。
このようにして得られた被膜材料中には、Nl#が0.
1〜1.0原子パーセント固溶していることが、厳密な
螢光X線定量分析による測定の結果判明した。
1〜1.0原子パーセント固溶していることが、厳密な
螢光X線定量分析による測定の結果判明した。
また、このようにして得た析出被膜のビッカース硬度(
Hv)は、実施例1のものと同じ程度であることが確認
された。
Hv)は、実施例1のものと同じ程度であることが確認
された。
[発明の効果]
本発明による硬質被膜材料並びにその製法により、次の
ような顕著な技術的効果が得られた。
ような顕著な技術的効果が得られた。
第1に、従来公知の高硬質被膜材料の硬度を改善し、高
めることが可能になる。
めることが可能になる。
第2に、最近の耐摩耗性に対する厳しい要求に応えるこ
とができ、設備、装置の長寿命化をもたらすことができ
る。
とができ、設備、装置の長寿命化をもたらすことができ
る。
第3(、更に、そのために、エネルギー効率の向上など
、その得られる経済的効果が極めて大きい。
、その得られる経済的効果が極めて大きい。
第1図は、スパッタリング反応法で被膜形成して得られ
た被膜材料の組成比と硬度()Iv)の関係を示すグラ
フである。 第2図は、RFプラズマCVD法で被膜形成して得られ
た被膜材料の組成比と硬度(Hv)の関係を示すグラフ
である。
た被膜材料の組成比と硬度()Iv)の関係を示すグラ
フである。 第2図は、RFプラズマCVD法で被膜形成して得られ
た被膜材料の組成比と硬度(Hv)の関係を示すグラフ
である。
Claims (6)
- (1)Ti−Ta−N系の3元系遷移金属窒化物固溶体
からなる被膜材料において、 上記3元系遷移金属窒化物固溶体で、且つ一般式Ti_
1_−_xTa_xN_1_−_y(但し、0.2<x
<0.7、yは0.6以下である)で示されることを特
徴とする硬質被膜材料。 - (2)一般式、Ti_1_−_xTa_xN_1_−_
yにおけるxの値が、0.3〜0.6であることを特徴
とする請求項1記載の硬質被膜材料。 - (3)酸素が1原子パーセント以下とする不可避不純物
を固溶していることを特徴とする請求項1又は2記載の
硬質被膜材料。 - (4)一般式Ti_1_−_xTa_xN_1_−_y
(但し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である)
で示される硬質被膜材料の製造方法において、 チタン源としての金属チタン並びにタンタル源としての
金属タンタルを所望Ti/Ta比率の被膜が得られるよ
うな面積比で対陰極として設置するか或いは、所望のT
i/Ta比率の被膜が得られるような割合のチタン源並
びにタンタル源としてのTi−Ta合金を対陰極として
設置し、キャリアガスに搬送される窒化反応ガスとして
の窒素ガス及び/又はアンモニアガスの流量及び/又は
濃度を、所定範囲に制御し、基板温度を200〜700
℃に保持し、プラズマ電力を200〜2000Wに、全
ガス圧を0.1〜100Paに保持して、スパッタリン
グ処理により被膜形成を行なうことを特徴とする請求項
1記載の硬質被膜材料の製造方法。 - (5)一般式、Ti_1_−_xTa_xN_1_−_
y(但し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である
)で示される硬質被膜材料の製法において、 対陰極としてTiN−TaN系混合焼成体を使用し、所
望組成のTi_1_−_xTa_xN_1_−_y(但
し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である)被膜
材料となるように、TiN−TaN系混合焼成体の組成
比を調整するとともに、窒素源が不足する場合は、窒素
反応ガスとして窒素ガス及び/又はアンモニアガスの流
量及び/又は濃度を更に制御して、基板温度を200〜
700℃に保持して、プラズマ電力を200〜2000
Wに保持し、全ガス圧を0.1〜100Paとして、ス
パッタリング法により被膜形成を行なうことを特徴とす
る請求項1の硬質被膜材料の製造方法。 - (6)一般式、Ti_1_−_xTa_xN_1_−_
y(但し、0.2<x<0.7、yは0.6以下である
)で示される硬質被膜材料の製法において、 キャリアガスに搬送されるチタン源としてのハロゲン化
チタンガスの流量及び/又は濃度を調整し、キャリアガ
スに搬送されるタンタル源としてのハロゲン化タンタル
ガスの流量及び濃度を調整し、その搬送ガス中の窒化反
応ガスとしての窒素ガス及び/又はアンモニアガスの流
量及び/又は濃度を調整して、所望の組成のTi_1_
−_xTa_xN_1_−_y(但し、0.2<x<0
.7、yは0.6以下である)被膜材料が得られるよう
にすると共に、基板温度を150〜700℃に保持し、
プラズマパワーを150〜2000Wに保持し、全ガス
圧を1〜500Paに保持し、プラズマCVD(化学的
蒸着法)処理により分解窒化反応を生起せしめることを
特徴とする請求項1記載の硬質被膜材料の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1009960A JP2795864B2 (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 | 硬質被膜材料及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1009960A JP2795864B2 (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 | 硬質被膜材料及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02194160A true JPH02194160A (ja) | 1990-07-31 |
| JP2795864B2 JP2795864B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=11734509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1009960A Expired - Lifetime JP2795864B2 (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 | 硬質被膜材料及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2795864B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6362863A (ja) * | 1986-09-02 | 1988-03-19 | Seikosha Co Ltd | 金色を呈する物品 |
-
1989
- 1989-01-20 JP JP1009960A patent/JP2795864B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6362863A (ja) * | 1986-09-02 | 1988-03-19 | Seikosha Co Ltd | 金色を呈する物品 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2795864B2 (ja) | 1998-09-10 |
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