JPH0219419B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0219419B2 JPH0219419B2 JP9341985A JP9341985A JPH0219419B2 JP H0219419 B2 JPH0219419 B2 JP H0219419B2 JP 9341985 A JP9341985 A JP 9341985A JP 9341985 A JP9341985 A JP 9341985A JP H0219419 B2 JPH0219419 B2 JP H0219419B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating
- value
- baking
- state
- strip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Description
本発明は、ストリツプのコーテイング状態検出
方法に係り、特に、金属ストリツプのコーテイン
グ膜焼付け状態を検出する際に用いるのに好適
な、走行状態で、コーテイングが塗布され、連続
的に乾燥、焼付けされるストリツプのコーテイン
グ状態検出方法の改良に関するものである。
方法に係り、特に、金属ストリツプのコーテイン
グ膜焼付け状態を検出する際に用いるのに好適
な、走行状態で、コーテイングが塗布され、連続
的に乾燥、焼付けされるストリツプのコーテイン
グ状態検出方法の改良に関するものである。
一般に、ストリツプ、例えば鋼板のコーテイン
グ設備は、第６図に示す如く構成されており、走
行状態のストリツプ１０に、例えば表面コーテイ
ング用のロールコータ１２Ａと裏面コーテイング
用のロールコータ１２Ｂが含まれるコーテイング
塗布装置１２を用いてコーテイングを塗布し、次
いで、焼付炉１４で連続的に乾燥、焼付けするこ
とによつて、ストリツプ１０の表裏面に所定のコ
ーテイングを施すようにしている。 このようなコーテイング設備の焼付け制御に際
して、従来は、前記焼付炉１４の出側にストリツ
プ１０の温度を測定する板温計１６を設け、該板
温計１６で検出される焼付炉出側温度が一定とな
るように板温制御回路１８を用いて焼付炉１４を
制御するようにしていた。 しかしながら、このような焼付炉１４出側のス
トリツプ温度制御による焼付け制御だけでは、コ
ート組成の変動、ライン速度の変度等により、焼
付け状態のばらつきが発生してしまう。 このような焼付け状態のばらつきを防止するに
は、焼付け状態を検出することが不可欠であり、
例えば、特開昭50−96638には、焼付け直後に鋼
板表面の特定波長における輻射率（１つのみ）を
求め、該輻射率により塗料の品質調整を行つて、
コース組成の変動やコート膜厚を把握し、制御す
る連続塗装装置の制御方法が開示されている。
グ設備は、第６図に示す如く構成されており、走
行状態のストリツプ１０に、例えば表面コーテイ
ング用のロールコータ１２Ａと裏面コーテイング
用のロールコータ１２Ｂが含まれるコーテイング
塗布装置１２を用いてコーテイングを塗布し、次
いで、焼付炉１４で連続的に乾燥、焼付けするこ
とによつて、ストリツプ１０の表裏面に所定のコ
ーテイングを施すようにしている。 このようなコーテイング設備の焼付け制御に際
して、従来は、前記焼付炉１４の出側にストリツ
プ１０の温度を測定する板温計１６を設け、該板
温計１６で検出される焼付炉出側温度が一定とな
るように板温制御回路１８を用いて焼付炉１４を
制御するようにしていた。 しかしながら、このような焼付炉１４出側のス
トリツプ温度制御による焼付け制御だけでは、コ
ート組成の変動、ライン速度の変度等により、焼
付け状態のばらつきが発生してしまう。 このような焼付け状態のばらつきを防止するに
は、焼付け状態を検出することが不可欠であり、
例えば、特開昭50−96638には、焼付け直後に鋼
板表面の特定波長における輻射率（１つのみ）を
求め、該輻射率により塗料の品質調整を行つて、
コース組成の変動やコート膜厚を把握し、制御す
る連続塗装装置の制御方法が開示されている。
しかしながら、発明者が、この特開昭50−
96638で開示された方法により、焼付け状態が検
出可能であるか否か種々調査を行つたところ、特
定波長の輻射率１つだけでは、正確な焼付け状態
の検出が困難であることが判明した。即ち、焼付
け不足から焼付け良好、更には焼すぎと変化した
場合、焼付け状態と輻射率は必ずしも一対一の対
応関係を示さず、焼付け直後のストリツプ１０に
おける特定波長の輻射率が一定であつても、焼付
け不良、焼付け良好の両方の場合が混在すること
がわかつた。従つて、特開昭50−96638で開示さ
れた方法では、焼付け状態をオンラインで正確に
把握することができない。
96638で開示された方法により、焼付け状態が検
出可能であるか否か種々調査を行つたところ、特
定波長の輻射率１つだけでは、正確な焼付け状態
の検出が困難であることが判明した。即ち、焼付
け不足から焼付け良好、更には焼すぎと変化した
場合、焼付け状態と輻射率は必ずしも一対一の対
応関係を示さず、焼付け直後のストリツプ１０に
おける特定波長の輻射率が一定であつても、焼付
け不良、焼付け良好の両方の場合が混在すること
がわかつた。従つて、特開昭50−96638で開示さ
れた方法では、焼付け状態をオンラインで正確に
把握することができない。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくな
されたもので、コーテイング膜の焼付け状態をオ
ンラインで正確に検出することができ、従つて、
コーテイングの品質調整を適確に行つて、良好な
コーテイング状態を得ることができるストリツプ
のコーテイング状態検出方法を提供することを目
的とする。
されたもので、コーテイング膜の焼付け状態をオ
ンラインで正確に検出することができ、従つて、
コーテイングの品質調整を適確に行つて、良好な
コーテイング状態を得ることができるストリツプ
のコーテイング状態検出方法を提供することを目
的とする。
本発明は、走行状態で、コーテイングが塗布さ
れ、連続的に乾燥、焼付けされるストリツプのコ
ーテイング状態検出方法において、第１図にその
要旨を示す如く、コーテイング焼付後に、少なく
とも２つ以上の波長又は波長域におけるストリツ
プ表面の反射率を測定し、該２つ以上の反射率か
ら、焼付け時に変化する色調を示す複数のパラメ
ータを求め、該複数のパラメータの組合せを基準
範囲と比較し、コーテイング膜の焼付け状態を検
出するようにして、前記目的を達成したものであ
る。 又、本発明の実施態様は、前記パラメータを、
a*値とb*値としたものである。 又、本発明の他の実施態様は、前記基準範囲を
膜厚に応じて変更して、コーテイング膜厚の影響
を相殺するようにしたものである。
れ、連続的に乾燥、焼付けされるストリツプのコ
ーテイング状態検出方法において、第１図にその
要旨を示す如く、コーテイング焼付後に、少なく
とも２つ以上の波長又は波長域におけるストリツ
プ表面の反射率を測定し、該２つ以上の反射率か
ら、焼付け時に変化する色調を示す複数のパラメ
ータを求め、該複数のパラメータの組合せを基準
範囲と比較し、コーテイング膜の焼付け状態を検
出するようにして、前記目的を達成したものであ
る。 又、本発明の実施態様は、前記パラメータを、
a*値とb*値としたものである。 又、本発明の他の実施態様は、前記基準範囲を
膜厚に応じて変更して、コーテイング膜厚の影響
を相殺するようにしたものである。
以下、本発明の作用を説明する。
既に述べた如く、発明者の調査により、焼付け
状態が変化するとき、反射率の変化状態が、波長
又は波長域によつて異なることが判明した。この
ため、発明者は、コーテイング焼付け後に、少な
くとも２つ以上の波長又は波長域におけるストリ
ツプ表面の反射率を測定し、焼付け状態の変化と
の関係を調査した。その結果、２つ以上の反射率
から、焼付け時に変化する色調を示す複数のパラ
メータを求め、該複数のパラメータの組合せを基
準範囲と比較することにより、コーテイング膜の
焼付け状態を検出できることがわかつた。 第２図は、半有機系Cr含有コーテイングを無
方向性電磁鋼板に塗布し、焼付け状態を変えて焼
付けしたときに、焼付け状態の変化により、国際
照明委員会推薦の表色系の一つであるa*値及び
b*値（２種類の波長域の反射率に相当）がどの
ように変化するかを示したものである。第２図に
おいて、×印が焼付け不足の状態、〇印が焼付け
良好な状態、▲印が焼付けしすぎの状態を示して
いる。 なお、前記a*値及びb*値は、それぞれ次式で
定義されている。 a*＝500｛（Ｘ／98.05）1/3 −（Ｙ／100）1/3｝ ……(1) b*＝200｛（Ｙ／100）1/3 −（Ｚ／118.10）1/3｝ ……(2) この(1)，(2)式中のＸは、波長380〜780nmにお
ける反射率に、第３図に示すような、XYZ表色
系の等色関数λを乗じて、波長で積分し、それ
を平均化したものである。又、Ｙ，Ｚについても
同様に、等色関数λ，λを使用して算出した
ものである。 ここで、a*値とb*値を採用しているのは、焼
付け時に６価Crイオンが３価Crイオンに変わる
際に示す色調をより正確に示す指標として有効で
あるからである。 第２図において、矢印Ａ方向は、６価Crイオ
ンが残りぎみの傾向を示し、又矢印Ｂ方向は、６
価Crイオンから３価Crイオンに変わる率が高い
傾向を示している。 図から明らかな如く、a*値、b*値の両者を用
いれば、焼付け良好状態を明確に検出することが
できることがわかる。なお、a*値、b*値以外の
他のパラメータを用いることも可能である。 又、基準範囲を膜厚に応じて変更し、コーテイ
ング膜厚のa*値、b*値への影響を相殺すること
によつて、更に検出精度を高めることができる。
状態が変化するとき、反射率の変化状態が、波長
又は波長域によつて異なることが判明した。この
ため、発明者は、コーテイング焼付け後に、少な
くとも２つ以上の波長又は波長域におけるストリ
ツプ表面の反射率を測定し、焼付け状態の変化と
の関係を調査した。その結果、２つ以上の反射率
から、焼付け時に変化する色調を示す複数のパラ
メータを求め、該複数のパラメータの組合せを基
準範囲と比較することにより、コーテイング膜の
焼付け状態を検出できることがわかつた。 第２図は、半有機系Cr含有コーテイングを無
方向性電磁鋼板に塗布し、焼付け状態を変えて焼
付けしたときに、焼付け状態の変化により、国際
照明委員会推薦の表色系の一つであるa*値及び
b*値（２種類の波長域の反射率に相当）がどの
ように変化するかを示したものである。第２図に
おいて、×印が焼付け不足の状態、〇印が焼付け
良好な状態、▲印が焼付けしすぎの状態を示して
いる。 なお、前記a*値及びb*値は、それぞれ次式で
定義されている。 a*＝500｛（Ｘ／98.05）1/3 −（Ｙ／100）1/3｝ ……(1) b*＝200｛（Ｙ／100）1/3 −（Ｚ／118.10）1/3｝ ……(2) この(1)，(2)式中のＸは、波長380〜780nmにお
ける反射率に、第３図に示すような、XYZ表色
系の等色関数λを乗じて、波長で積分し、それ
を平均化したものである。又、Ｙ，Ｚについても
同様に、等色関数λ，λを使用して算出した
ものである。 ここで、a*値とb*値を採用しているのは、焼
付け時に６価Crイオンが３価Crイオンに変わる
際に示す色調をより正確に示す指標として有効で
あるからである。 第２図において、矢印Ａ方向は、６価Crイオ
ンが残りぎみの傾向を示し、又矢印Ｂ方向は、６
価Crイオンから３価Crイオンに変わる率が高い
傾向を示している。 図から明らかな如く、a*値、b*値の両者を用
いれば、焼付け良好状態を明確に検出することが
できることがわかる。なお、a*値、b*値以外の
他のパラメータを用いることも可能である。 又、基準範囲を膜厚に応じて変更し、コーテイ
ング膜厚のa*値、b*値への影響を相殺すること
によつて、更に検出精度を高めることができる。
以下図面を参照して、本発明に係るストリツプ
のコーテイング状態検出方法が採用された、コー
テイング焼付け制御の実施例を詳細に説明する。 本実施例においては、第４図に示す如く、前記
従来例と同様の、半有機系Cr含有コーテイング
を塗布するコーテイング塗布装置１２、焼付炉１
４、板温計１６及び板温制御回路１８を備えた電
磁鋼板のコーテイング設備において、更に、前記
焼付炉１４出側でコーテイング焼付け後の２つ以
上の反射率を測定する反射率測定器２４と、該反
射率測定器２４による反射率測定結果を波長毎に
処理して、a*値及びb*値を算出する演算器２６
と、コーテイング焼付け後の膜厚を検出する膜厚
計３０と、該膜厚計３０で測定された膜厚に応じ
て変更可能とされた基準範囲と前記演算器２６の
出力を比較し、a*値とb*値が基準範囲内である
か否かを比較して、基準範囲を外れた場合に、焼
付け状態に応じて前記板温制御回路１８へ板温設
定値変更指令を出力する比較器３２とを備えたも
のである。 他の点については前記従来例と同様であるので
説明は省略する。 以下、実施例の作用を説明する。 まず定常時は、板温制御回路１８における板温
設定値が一定とされ、板温計１６によるストリツ
プ１０の温度測定結果により、焼付炉１４がフイ
ードバツク制御されている。即ち、従来と同様の
板温制御が主ループとなつている。 一方、反射率測定器２４による反射率測定結果
は、演算器２６で波長毎に処理され、a*値とb*
値が算出される。そして、比較器３２で基準範囲
内であるか否か判定される。なお、該基準範囲
は、膜厚計３０の測定結果により、膜厚による
a*値、b*値への影響量を相殺するため、変更可
能とされている。 即ち、半有機系Cr含有コーテイングの焼付良
好範囲は、例えば、膜厚が増加すれば第５図に示
す様に、主にa*が変化するため、最適焼付域を
設定するための基準範囲を膜厚により変更して管
理を行つている。 前記比較器３２で基準範囲を外れたと判定され
た場合は、その時の焼付け状態に応じて、板温制
御回路１８に板温設定値変更指令が出力される。 即ち、例えば、焼付け不足と判断された場合に
は、板温制御回路１８の板温設定値を上げ、焼付
けを進行させる様にする。そして変更された板温
設定値での焼付け状態を、再度判定する。焼付良
好となるまでこれを行うわけであるが、本実施例
の場合、板温設定値の変更を、ある基準値内での
み可能としており、これを外れた場合には異常警
報を出力することにしている。これは、例えば、
コーテイング塗布液の組成の変動が基準を外れる
等のトラブルが発生した時に、標準組成のコーテ
イングの最適焼付域から大きく外れてしまい、無
制限に板温設定値が変化することを防ぐためであ
る。 本実施例においては、焼付炉１４の出側に膜厚
計３０を設け、該膜厚計３０で検出されたコーテ
イング膜厚を比較器３２に入力して、a*値及び
b*値の基準範囲を変更できるようにしているの
で、膜厚によるa*値、b*値への影響量が相殺さ
れ、精度の高いコーテイング状態検出を行うこと
ができる。 又、本実施例においては、検出されたコーテイ
ング膜焼付け状態に応じて、既設の板温制御回路
１８の板温設定値を変更するようにしているの
で、従来の設備に対する本発明の適用が容易であ
る。なお、コーテイング膜焼付け状態に応じて、
品質調整のために制御する対象は、これに限定さ
れない。 なお前記実施例においては、本発明が、電磁鋼
板のコーテイング状態検出に適用されていたが、
本発明の適用範囲はこれに限定されない。
のコーテイング状態検出方法が採用された、コー
テイング焼付け制御の実施例を詳細に説明する。 本実施例においては、第４図に示す如く、前記
従来例と同様の、半有機系Cr含有コーテイング
を塗布するコーテイング塗布装置１２、焼付炉１
４、板温計１６及び板温制御回路１８を備えた電
磁鋼板のコーテイング設備において、更に、前記
焼付炉１４出側でコーテイング焼付け後の２つ以
上の反射率を測定する反射率測定器２４と、該反
射率測定器２４による反射率測定結果を波長毎に
処理して、a*値及びb*値を算出する演算器２６
と、コーテイング焼付け後の膜厚を検出する膜厚
計３０と、該膜厚計３０で測定された膜厚に応じ
て変更可能とされた基準範囲と前記演算器２６の
出力を比較し、a*値とb*値が基準範囲内である
か否かを比較して、基準範囲を外れた場合に、焼
付け状態に応じて前記板温制御回路１８へ板温設
定値変更指令を出力する比較器３２とを備えたも
のである。 他の点については前記従来例と同様であるので
説明は省略する。 以下、実施例の作用を説明する。 まず定常時は、板温制御回路１８における板温
設定値が一定とされ、板温計１６によるストリツ
プ１０の温度測定結果により、焼付炉１４がフイ
ードバツク制御されている。即ち、従来と同様の
板温制御が主ループとなつている。 一方、反射率測定器２４による反射率測定結果
は、演算器２６で波長毎に処理され、a*値とb*
値が算出される。そして、比較器３２で基準範囲
内であるか否か判定される。なお、該基準範囲
は、膜厚計３０の測定結果により、膜厚による
a*値、b*値への影響量を相殺するため、変更可
能とされている。 即ち、半有機系Cr含有コーテイングの焼付良
好範囲は、例えば、膜厚が増加すれば第５図に示
す様に、主にa*が変化するため、最適焼付域を
設定するための基準範囲を膜厚により変更して管
理を行つている。 前記比較器３２で基準範囲を外れたと判定され
た場合は、その時の焼付け状態に応じて、板温制
御回路１８に板温設定値変更指令が出力される。 即ち、例えば、焼付け不足と判断された場合に
は、板温制御回路１８の板温設定値を上げ、焼付
けを進行させる様にする。そして変更された板温
設定値での焼付け状態を、再度判定する。焼付良
好となるまでこれを行うわけであるが、本実施例
の場合、板温設定値の変更を、ある基準値内での
み可能としており、これを外れた場合には異常警
報を出力することにしている。これは、例えば、
コーテイング塗布液の組成の変動が基準を外れる
等のトラブルが発生した時に、標準組成のコーテ
イングの最適焼付域から大きく外れてしまい、無
制限に板温設定値が変化することを防ぐためであ
る。 本実施例においては、焼付炉１４の出側に膜厚
計３０を設け、該膜厚計３０で検出されたコーテ
イング膜厚を比較器３２に入力して、a*値及び
b*値の基準範囲を変更できるようにしているの
で、膜厚によるa*値、b*値への影響量が相殺さ
れ、精度の高いコーテイング状態検出を行うこと
ができる。 又、本実施例においては、検出されたコーテイ
ング膜焼付け状態に応じて、既設の板温制御回路
１８の板温設定値を変更するようにしているの
で、従来の設備に対する本発明の適用が容易であ
る。なお、コーテイング膜焼付け状態に応じて、
品質調整のために制御する対象は、これに限定さ
れない。 なお前記実施例においては、本発明が、電磁鋼
板のコーテイング状態検出に適用されていたが、
本発明の適用範囲はこれに限定されない。
以上説明した通り、本発明によれば、コーテイ
ング膜の焼付け状態を、オンラインで精度良く検
出することが可能となる。従つて、コーテイング
状態の検出結果に応じて品質調整を行うことによ
り、コーテイング焼付け状態の安定化が図れる等
の優れた効果を有する。
ング膜の焼付け状態を、オンラインで精度良く検
出することが可能となる。従つて、コーテイング
状態の検出結果に応じて品質調整を行うことによ
り、コーテイング焼付け状態の安定化が図れる等
の優れた効果を有する。
第１図は、本発明に係るストリツプのコーテイ
ング状態検出方法の要旨を示す流れ図、第２図
は、本発明の原理を説明するための、焼付け状態
を変えたコーテイング膜におけるa*値及びb*値
の例を示す線図、第３図は、前記a*値及びb*値
の算出に用いられるXYZ表色系の等色関数を示
す線図、第４図は、本発明が採用された電磁鋼板
のコーテイング設備の実施例を示す、一部ブロツ
ク線図を含む側面図、第５図は、前記実施例にお
ける基準範囲の変更理由を説明するための、a*
値及びb*値の膜厚による変化を示す線図、第６
図は、従来の鋼板のコーテイング設備の例を示
す、一部ブロツク線図を含む側面図である。 １０……ストリツプ、１２……コーテイング塗
布装置、１４……焼付炉、１６……板温計、１８
……板温制御回路、２４……反射率測定器、２６
……演算器、３０……膜厚計、３２……比較器。
ング状態検出方法の要旨を示す流れ図、第２図
は、本発明の原理を説明するための、焼付け状態
を変えたコーテイング膜におけるa*値及びb*値
の例を示す線図、第３図は、前記a*値及びb*値
の算出に用いられるXYZ表色系の等色関数を示
す線図、第４図は、本発明が採用された電磁鋼板
のコーテイング設備の実施例を示す、一部ブロツ
ク線図を含む側面図、第５図は、前記実施例にお
ける基準範囲の変更理由を説明するための、a*
値及びb*値の膜厚による変化を示す線図、第６
図は、従来の鋼板のコーテイング設備の例を示
す、一部ブロツク線図を含む側面図である。 １０……ストリツプ、１２……コーテイング塗
布装置、１４……焼付炉、１６……板温計、１８
……板温制御回路、２４……反射率測定器、２６
……演算器、３０……膜厚計、３２……比較器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 走行状態で、コーテイングが塗布され、連続
的に乾燥、焼付けされるストリツプのコーテイン
グ状態検出方法において、 コーテイング焼付後に、少なくとも２つ以上の
波長又は波長域におけるストリツプ表面の反射率
を測定し、 該２つ以上の反射率から、焼付け時に変化する
色調を示す複数のパラメータを求め、 該複数のパラメータの組合せを基準範囲と比較
して、コーテイング膜の焼付け状態を検出するこ
とを特徴とするストリツプのコーテイング状態検
出方法。 ２ 前記パラメータを、a*値とb*値とした特許
請求の範囲第１項記載のストリツプのコーテイン
グ状態検出方法。 ３ 前記基準範囲を膜厚に応じて変更して、コー
テイング膜厚の影響を相殺することを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載のストリツプのコーテ
イング状態検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9341985A JPS61251750A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | ストリツプのコ−テイング状態検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9341985A JPS61251750A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | ストリツプのコ−テイング状態検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61251750A JPS61251750A (ja) | 1986-11-08 |
| JPH0219419B2 true JPH0219419B2 (ja) | 1990-05-01 |
Family
ID=14081779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9341985A Granted JPS61251750A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | ストリツプのコ−テイング状態検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61251750A (ja) |
-
1985
- 1985-04-30 JP JP9341985A patent/JPS61251750A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61251750A (ja) | 1986-11-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ITTO930654A1 (it) | Metodo e apparecchiatura per la sorveglianza e il controllo dello spessore di una pellicola sottile | |
| JPH0285730A (ja) | 表面状態が変化する物体に対する放射測温法及び放射測温装置 | |
| GB2046900A (en) | Method of controlling the thickness of a moving web | |
| JPH01252761A (ja) | 溶融亜鉛めっき用合金化炉の板温制御装置 | |
| JPH0219419B2 (ja) | ||
| JPH04224955A (ja) | 印刷物の色調自動制御装置 | |
| JPS61247948A (ja) | ストリツプのコ−テイング状態検出方法 | |
| GB2073670A (en) | Inking control system for a printing machine | |
| WO2013025410A1 (en) | Continuous temperature monitoring in a paint curing oven | |
| JPS637870A (ja) | 塗装鋼板の塗膜制御装置 | |
| US6869482B2 (en) | Apparatus for manufacturing a dry sheet from a slurry | |
| US3845287A (en) | Method and apparatus for controlling a material treater | |
| JPS5810604A (ja) | 板厚測定装置 | |
| JPS6324119A (ja) | 塗装膜厚測定方法 | |
| JPH01176478A (ja) | ストリップの塗布膜厚制御方法 | |
| JP3473366B2 (ja) | 塗装鋼板の製造装置及び製造方法 | |
| JPH03253580A (ja) | 連続金属薄板面へのレジスト膜塗布方法と装置 | |
| JPH10249262A (ja) | 薄膜塗膜厚の測定方法、制御方法、測定装置および制御装置 | |
| JPH08304036A (ja) | 塗膜の塗布ムラ検査方法及びその装置 | |
| JPH11347630A (ja) | テンションレベラーでの金属板の伸び率実績値の算出方法と伸び率制御方法 | |
| JPS6354977A (ja) | 塗工装置の水分率制御方法 | |
| JP3407583B2 (ja) | 塗装鋼板の製造装置及び製造方法 | |
| JP2930210B2 (ja) | 連続塗装鋼板製造装置における塗膜品質の制御方法 | |
| JPH10239156A (ja) | 塗装鋼板の色彩測定装置 | |
| JPH05185022A (ja) | 金属板への樹脂の直接塗布方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |