JPH02198372A - プリント板のアセンブリ接続チェック方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［概要］ 信号の人・出力段の接地ラインとｍｓライン間に２つの
ダイオードを縦続接続したクランプ回路を備えたＥＣＬ
形ＬＳＩが複数個配置されたプリント板のアセンブリ接
続チェック方法に関し、使用時の電源を入れないで前段
のＬＳＩとプリント板の接続だけでなく後段のＬＳＩと
プリント板の接続チェックを可能とするプリント板のア
センブリ接続チェック方法を提供することを目的とし、 第１の段階において、後段ＬＳＩの入力側クランプ回路
のダイオードのアノード側に逆バイアスを印加し、前段
ＬＳＩの出力側クランプ回路のダイオードのアノード側
を接地し、ＬＳＩ間の信号路に配置された終端抵抗の他
方の側を接地し、−方の側にダイオードへの順方向の電
源を印加して電流値を検出することにより前段ＬＳＩの
出力ピンから終端抵抗までの接続をチェックし、第２の
段階において、前段ＬＳＩの出力側クランプ回路のダイ
オードに逆バイアスを印加し、後段ＬＳＩの入力側クラ
ンプ回路のダイオードのアノード側を接地し、前記終端
抵抗の他方の側を接地し、方の側にダイオードへの順方
向の１を源を印加して電流を検出することにより終端抵
抗と後段ＬＳＩの入力ピンまでの接続をチェックするよ
う構成する。

［産業上の利用分野］ 本発明は信号の入・出力段の接地ラインと電源ライン間
に２つのダイオードを縦続接続したクランプ回路を備え
たＥＣＬ形ＬＳＩが複数個配置されたプリント板のアセ
ンブリ接続チェック方法に関する。

電子計算機を製造する場合に、各部を構成するＬＳＩを
複数個プリント板に配置接続した後、各ＬＳＩの入出力
ピンがプリント配線と接続されていることをチェックす
る作業は製造上の必須のことであり、１個所でも接続が
不備であればその装置を使用できない、このようなプリ
ント板のアセンブリ接続チェックを効率よく、しかも欠
陥を確実に検出できる方法の実現が望まれている。

ＬＳＩは、論理回路の形式、機能などに応じて種々のも
のがある。その中でＥＣＬ形ゲートにより構成されたＬ
ＳＩは、信号を外部に出力する端子（ピン）と外部から
入力する端子（ピン）に、静電気対策用としてクランプ
ダイオードを備えている。このようなＬＳＩ回路をプリ
ント板上にアセンブルした時に接続が正しく行われてい
ることを簡単にチェックできることが望まれている。

［従来の技術］ 第４図は従来例の説明図である。

第４図において、３０．３１はＥＣＬゲートにより構成
されたＬＳＩである。ＬＳＩ３０の出力側のゲート回路
はトランジスタＴＲＩ〜ＴＲ４で構成され、トランジス
タＴＲＩのエミッタ出力は、静電気に対して回路を保護
する一対のダイオードＤＩ、Ｄ２で構成するクランプ回
路を介してピン−、ｐｏに出力される。ピンＰＯからプ
リント板上の＼ −ドＤ３．Ｄ４で構成するクランプ回路を通って入力側
のＥＣＬゲート回路に入力する。

この回路において！３０１は、回路が通常動作時に接地
（ＧＮＤニゲランド）され、ピンＰＯに接続する［３０
２は出力される信号が１１１であるか、′０″であるか
に応じて変化する。また、ＬＳＩの下側のｖＡ３０３は
括弧内に−３・６ｖラインと表示されているように、使
用状態（回路動作時）において−３，６ｖが印加される
。またトランジスタＴＲ２のベースには抵抗の下側に−
２゜Ｏｖラインと表示されているとおり、使用状態にお
いて−２，ＯＶが印加される。また、プリント板上に設
けた終端抵抗ｒの下側は−２，０■ラインであり、ＬＳ
Ｉ３１のダイオードＤ４のアノード側も同様に−２，Ｏ
ｖに接続されている。

このようなＬＳＩ３０．３１をプリント板上に配置して
接続を行った時に、ＬＳＩとプリント板の配線が電気的
に確実に接読されているかどうかのチェックが行われる
。

このようなＬＳＩに対して使用時の電源を供給しない状
態で行う従来のアセンブリ接続チェック方法を説明する
。

初メニ、ＬＳＩ３０（Ｄ＆Ｊ１３０１とｖＡ３０３と終
端抵抗とダイオードＤ４の−２，０■ラインを接地する
（接地レベルとする）、次いで、終端抵抗ｒの上部の測
定点に負レベルの電源Ｅを印加すると同時に抵抗「に流
れる電流値を電流計（または電圧計）で測定する。この
場合、ピンＰＯから抵抗ｒの上側の測定点までの接続に
異常がなければ、測定点を流れる電流値が所定の値とな
る。

すなわち、ライン３０１の接地電位がトランジスタＴＲ
Ｉのコレクタに印加され、そのエミッタにｔ源Ｅが印加
されることになり、その電源ＥがトランジスタＴＲＩが
オンとなる程度のレベル（−０，８Ｖ付近）になるとト
ランジスタＴＲ１がオン状態となって、コレクターエミ
ッタ間の抵抗（約７Ω）を介して測定点の電源Ｅに至る
電流が流れる。

これと並行して、測定点に印加する負電位がダイオード
Ｄ２の順方向電流が立ち上がる程度のレベル（約−０，
８Ｖ程度）になると、ダイオードＤ２が高抵抗である時
と順方向電流が流れた時とで大きな変化が生じる（抵抗
約７Ω）、又ダイオードＤ４も同様に順方向１！Ｘ流が
立ち上がる程度のレベルで電流が流れる（抵抗約７Ω）
、これらの、トランジスタＴＲＩとダイオードＤ２とダ
イオードＤ４を電流が流れると、測定点への電源Ｅのレ
ベル変化に対する電流計の詣示値として出力されこのよ
うな電流の変化が生じることは、少なくともＬＳＩ３０
のとンＰＯと終端抵抗「の測定点までの接続（第４図の
太線で表示）とＬＳＩ３１のピンＰｉと終端抵抗の測定
点までの接続（第４図の線）が正常に行われていること
を表し、そのような変化が表れない場合は、接続が不良
であることが分かる。

［発明が解決しようとするｉＪ題］ 上記した従来の方法によれば、ＬＳ　Ｉ　３０のピンＰ
Ｏとプリント板上の終端抵抗間の接続部分とＬＳＩ３１
のピンＰ１とプリント板上の終端抵抗間の接続部分のど
ちらか片方が接続が不良であっても電流の変化が生じて
しまい、両方の接続が不良であるものしか検出できなか
った。

本発明は使用時の電源を入れないで前段のＬＳＩと終端
抵抗、後段のＬＳＩと終端抵抗の接続チェックを可能と
するプリント板のアセンブリ接続チェック方法を提供す
ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 第１図は本発明の原理構成図である。

第１図（７）１０．１１はＬＳＩ、１２〜１４はバイア
ス切替手段、１５は電流測定手段、１６はチェック用電
源、１７はプリント板上の終端抵抗ｒを表す。

本発明は、第１の段階でバイアス切替手段によるバイア
スを前段と後段のＬＳＩに印加して前段のＬＳＩとプリ
ント配線間の接続チェックを行い、第２の段階でバイア
ス切替手段により第１段階と異なるバイアスを印加する
ことによりプリント配線と次段のＬＳＩ間の接続チェッ
クを行うものである。

［作用］ 本発明によるプリント板のアセンブリ接続チェック方法
は、第１段階としてバイアス切替手段１２〜１４を■の
位置に切替える。これにより、前段のＬＳ　Ｉ　Ｉ　Ｏ
のクランプ用ダイオードＤ２のアノード側は接地され、
同時に線１０１も接地される。また、後段のＬＳＩＩＩ
のクランプ用ダイオードＤ４のアノードに負電圧が印加
される。一方、終端抵抗ｒのプリント配線側の端子Ａに
は電２ｉｔ測定手段１５と任意の負電圧を発生する電源
１６が直列接続される。

最初電源１６の電圧が低いと、電流測定手段１５には何
も電流が流れないが、ピンＰＯと終端抵抗１間の接続が
正常に行われている場合は電源１６が一定の電圧レベル
を越えると、まず、ＥＣＬゲートのトランジスタのコレ
クターエミッタ間を通って電流が流れてｖＡ１０２（ダ
イオードＤｉＤ２の接続線）を通って電源１６に達する
電流が流れる。

次いで、接地、ダイオードＤ２．線１０２の経路で電流
が流れ出して電流測定手段１５を通って電Ｒ１６に至る
Ｍ、流が流れる。このような電流の変化が検出されると
、ＬＳＩｌ０と終端抵抗ｒの端子Ａ間の接続を確認する
ことができる。

次に、第２段階としてバイアス切替手段１２〜１４を■
の位置に切替える。これにより、前段Ｌ５ｉｌｏの線ｌ
ｏｔとクランプ用ダイオードＤ２のアノードに一定の負
電圧が印加され、後段ＬＳＩ１ｌのクランプ用ダイオー
ドＤ４のアノードが接地される。

この状態で、第１段階と同様に終端抵抗ｒの端子Ａのプ
リント配線側の端子Ａには電流測定手段１５と任意の負
電圧を発生する電源１６を接続すると、電源１６の電位
が低いと電流は流れないが、終端抵抗ｒと後段ＬＳＩの
ピンＰｉ間の接続が正常であると、電源１６の電圧レベ
ルがダイオードＤ２の順方向降下電圧を越えると、後段
ＬＳＩのダイオードＤ４のアノードの接地電位からダイ
オードＤ４．線１１２．端子Ａを通って電流測定手段１
５．電源１６に電流が流れる。

上記の第１段階と第２段階におけるチェックにおいて、
電流測定手段に変化が表れない場合は、ＬＳＩとプリン
ト板の接続に異常があり、不完全な接続であることがわ
かる。

［実施例コ 第２図と第３図は本発明の実施例を示し、第２図は第１
段階のチェック状態を示す図、第３図は第２段階のチェ
ック状態を示す図である。

第２図および第３図において、２０．２１はそれぞれ前
段ＬＳＩ、後段ＬＳＩで、その回路構成は従来例の説明
図（第４図）と同様であり、内部の回路構成の説明は省
略する。また、■は電流計、Ｅはチェック用電源である
。

各線には通常使用時に加えられる電圧値が括弧内に表示
され、チェック時に印加されるバイアス電圧が括弧が付
されない数値で表示されている。

第２図について説明すると、この状態において前段ＬＳ
ＩのピンＰＯと終端抵抗ｒの接続チェックが行われる。

すなわち、線２０１，２０３．および終端抵抗「の下側
端子Ｂにはそれぞれ接地電位が印加され、ＬＳＩ２１の
ダイオードＤ２のアノードには一〇、４■が印加される
。この時、終端抵抗ｒの端子Ａに電流計と電源Ｅの直列
回路を接続する。

このような状態において、電源Ｅの電圧を上昇（負方向
へ）させると、ＬＳＩ２０とプリント板の接続が正常な
ら、ＬＳＩ２０のトランジスタＴＲ１がオンとなってそ
のエミッタ、ピンＰＯ９端子Ａを通って電流計１に達す
る電流１１が流れる。

一方、ＬＳＩ２０のダイオードＤ２は、電源Ｅの電圧が
順方向降下電圧（−０，８Ｖ付近）を越えると電流１２
が流れて、電流計に表示され、正常に接続されているこ
とが６ｉ！認できる。このとき、ＬＳＩ２１のダイオー
ドＤ４は一２■ラインに０．４Ｖが印加されているため
実際Ｄ４は順方向の０．４Ｖ程度の電圧であるので高抵
抗を維持して電流は殆ど流れない。

次に第３図について説明すると、この状態では終端抵抗
ｒと後段ＬＳＩ２１のピンＰ１の接続チェックが行われ
る。すなわち、図示のように線２０１　２０３に−０，
４■が印加され、ＬＳ［２０のＥＣＬゲートのトランジ
スタＴＲ２のベース。

終端抵抗ｒの下側端子ＢおよびＬＳＩ２１のダイオード
Ｄ２のアノードにはそれぞれ接地電位が印加される。こ
の時、終端抵抗ｒの端子へに電流計と電源Ｅの直列回路
を接続するのは第２図と同様である。

この状態で、電源Ｅの電圧を上昇（負方向）させると、
プリント板とＬＳＩ２１の接続が正常なら、ＬＳＩ２１
のダイオードＤ４は、電源Ｅの電圧が順方向降下電圧（
−０，８Ｖ付近）を越えると電流ｉ３が流れて、電流針
に表示され、正常に接続されていることが確認できる。

このとき、ＬＳＩ２０のダイオードＤ２には一〇、２■
ラインに−０，４■が印加されているため実ＣＤ４は順
方向の０．４Ｖ程度であるので高抵抗を維持して電流は
殆ど流れない。

［発明の効果］ 本発明によれば従来方法では試験できなかったプリント
板と後段のＬＳＩとの接続チェックを節易な方法により
実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１Ｉ２Ｉは本発明の原理構成図、第２図は第１段階の
チェック状態を示す図、第３図は第２段階のチェック状
態を示す図、第４図は従来例の説明図である。 第１図中、 １０．１１：ＬＳｌ １２〜１４：バイアス切替手段 １５：電流測定手段 １６：チェック用電源 １７＝プリント板上の終：！ｆａ砥抗抵抗許出願人　　
　富士通株式会社 復代理人弁理士　　穂坂　和雄

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　信号の入・出力段の接地ラインと電源ライン間に２つ
   のダイオードを縦続接続したクランプ回路を備えたＥＣ
   Ｌ形ＬＳＩが複数個配置されたプリント板のアセンブリ
   接続チェック方法において、第１の段階において、後段
   ＬＳＩの入力側クランプ回路のダイオード（Ｄ４）のア
   ノード側に逆バイアスを印加し、前段ＬＳＩの出力側ク
   ランプ回路のダイオード（Ｄ２）のアノード側を接地し
   、ＬＳＩ間の信号路に配置された終端抵抗（１７）の他
   方の側を接地し、一方の側にダイオードへの順方向の電
   源（１６）を印加して電流値を検出することにより前段
   ＬＳＩの出力ピン（Ｐ０）から終端抵抗までの接続をチ
   ェックし、 第２の段階において、前段ＬＳＩの出力側クランプ回路
   のダイオード（Ｄ２）に逆バイアスを印加し、後段ＬＳ
   Ｉの入力側クランプ回路のダイオード（Ｄ４）のアノー
   ド側を接地し、前記終端抵抗（１７）の他方の側を接地
   し、一方の側にダイオードへの順方向の電源（１６）を
   印加して電流値を検出することにより終端抵抗と後段Ｌ
   ＳＩの入力ピン（Ｐ１）までの接続をチェックすること
   を特徴とするプリント板のアセンブリ接続チェック方法
   。