JPH02201130A - 光ファイバ式分布形温度センサ - Google Patents
光ファイバ式分布形温度センサInfo
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- JPH02201130A JPH02201130A JP1019992A JP1999289A JPH02201130A JP H02201130 A JPH02201130 A JP H02201130A JP 1019992 A JP1019992 A JP 1019992A JP 1999289 A JP1999289 A JP 1999289A JP H02201130 A JPH02201130 A JP H02201130A
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- optical fiber
- reflected light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、温度センサ、特に光ファイバ式分布形温度セ
ンサに関するものである。
ンサに関するものである。
[従来の技術]
光ファイバ式分布形温度センサは、光ファイバ中の散乱
光強度が温度によって変化することを利用し、コノ変化
を公知の0TDR(Opt ica 1tille D
omain Reflectoletry)の手法で検
知することにより、光ファイバの長子方向に沿った温度
分布を計測するものである。方式としてはラマン散乱光
を利用しf、ものとレーリー散乱光を利用したものが知
られており、前者の信号は後者に比べ、微弱(約1/1
00〜1/1000)であるが、温度変化に対する信号
変化量が大きく、有望な方式と考えられている。
光強度が温度によって変化することを利用し、コノ変化
を公知の0TDR(Opt ica 1tille D
omain Reflectoletry)の手法で検
知することにより、光ファイバの長子方向に沿った温度
分布を計測するものである。方式としてはラマン散乱光
を利用しf、ものとレーリー散乱光を利用したものが知
られており、前者の信号は後者に比べ、微弱(約1/1
00〜1/1000)であるが、温度変化に対する信号
変化量が大きく、有望な方式と考えられている。
ラマン散乱光を利用した光ファイバ式分布形温J、Eセ
ンサ(以下、単にラマン式温度センサと呼ぶ)としては
、光ファイバの一端から波長λ0、パルス幅゛I″W、
パルス周期Tpの光〈第5図の(a)#照)を入射させ
、光ファイバ内で発生ずるラマン散乱光の二成分である
波長λaのアンチストークス光、及び波長λSのストー
クス光等の反射光(第5図の(1))参照)を、サンプ
リング時間間隔Tsで計測し、パルス光入射時刻を1=
0として、それぞれの反射光の光強度を時間の関数1
a(t)。
ンサ(以下、単にラマン式温度センサと呼ぶ)としては
、光ファイバの一端から波長λ0、パルス幅゛I″W、
パルス周期Tpの光〈第5図の(a)#照)を入射させ
、光ファイバ内で発生ずるラマン散乱光の二成分である
波長λaのアンチストークス光、及び波長λSのストー
クス光等の反射光(第5図の(1))参照)を、サンプ
リング時間間隔Tsで計測し、パルス光入射時刻を1=
0として、それぞれの反射光の光強度を時間の関数1
a(t)。
I 5(t)として溜1定し、これらの比I a(t)
/ l 5(t)が純粋に温度の関数であること、及び
光パルス入射後、光パルス入射@(f&方散乱光J1測
部)に戻ってくるまでの時間が2xL/Coであること
(CO;光ファイバ中の光2!りを利用して、光ファイ
バに沿った線状の温度分布測定を行う装置が提案されて
いる。
/ l 5(t)が純粋に温度の関数であること、及び
光パルス入射後、光パルス入射@(f&方散乱光J1測
部)に戻ってくるまでの時間が2xL/Coであること
(CO;光ファイバ中の光2!りを利用して、光ファイ
バに沿った線状の温度分布測定を行う装置が提案されて
いる。
このラマン式温度センサは、例えば電カケープルに沿わ
せてセンサ用光ファイバを敷設することにより、電カケ
ープルの長手方向の温度分布を知ることができ、送電容
量の制御等に利用したり、ケーブルの劣化等により生じ
る部分的に温度の高い箇所の検知等が行なえる。また、
ビルやトンネル等の火災検知用として使用すれば、火災
発生位置の標定を行うこともできる。
せてセンサ用光ファイバを敷設することにより、電カケ
ープルの長手方向の温度分布を知ることができ、送電容
量の制御等に利用したり、ケーブルの劣化等により生じ
る部分的に温度の高い箇所の検知等が行なえる。また、
ビルやトンネル等の火災検知用として使用すれば、火災
発生位置の標定を行うこともできる。
第4図は、上記提案されているラマン式温度センサの具
体的構成例であり、計測装置10とセンサIn光ファイ
バ20から構成されている。
体的構成例であり、計測装置10とセンサIn光ファイ
バ20から構成されている。
計測装置10内のパルス光源2から出射された光は、光
ファイバ21、光分岐器31を介してセンサ用光ファイ
バ20に導かれ、該光ファイバ内で後方散乱光(反射光
)を励起する。励起された反射光の一部は計測装置10
側に戻り、分岐器31、光ファイバ22を介して、光分
岐器32に導かれる。
ファイバ21、光分岐器31を介してセンサ用光ファイ
バ20に導かれ、該光ファイバ内で後方散乱光(反射光
)を励起する。励起された反射光の一部は計測装置10
側に戻り、分岐器31、光ファイバ22を介して、光分
岐器32に導かれる。
光分岐器32で1分された反射光のうち、光ファイバ2
3aに導かれたらのは、アンチストークス光用の光学フ
ィルタ4a、受光器5a及び平均化処理回路6at″構
成されるアンチストークス光用旧OR計測回路30aに
入り、この光強度がらアンチストークス光強度の時間関
数I a(t)が求められる0他方、光分岐器32で1
分された後方散乱光のうち、光ファイバ23sに導かれ
たものは、スト−クス光用の光学フィルタ4s、受光器
5s及び平均化処理回路65″C″構成されるストーク
ス光用OT D R計測回路30sに入り、この光強度
からストークス光強度の時間関数13(t)が求められ
る。
3aに導かれたらのは、アンチストークス光用の光学フ
ィルタ4a、受光器5a及び平均化処理回路6at″構
成されるアンチストークス光用旧OR計測回路30aに
入り、この光強度がらアンチストークス光強度の時間関
数I a(t)が求められる0他方、光分岐器32で1
分された後方散乱光のうち、光ファイバ23sに導かれ
たものは、スト−クス光用の光学フィルタ4s、受光器
5s及び平均化処理回路65″C″構成されるストーク
ス光用OT D R計測回路30sに入り、この光強度
からストークス光強度の時間関数13(t)が求められ
る。
パルス光源2と平均化処理回路6a、6sの同期会ぜは
、トリガ回路1の同期信号によって行い、反射光のサン
プリングは平均化処理回路6a。
、トリガ回路1の同期信号によって行い、反射光のサン
プリングは平均化処理回路6a。
6s内で、第5図に示す一定の時間間隔Tsで行われる
。
。
得られたM tm Z数I a(t)及びI 5(t)
を温度分布演算回路7に入力し、I a(t)/ I
5(t)の演算を行うことにより、センサ用光ファイバ
に沿った線状温度分布測定を行っている。
を温度分布演算回路7に入力し、I a(t)/ I
5(t)の演算を行うことにより、センサ用光ファイバ
に沿った線状温度分布測定を行っている。
[発明が解決しようとする課II!JI]ラマン式温度
センサあるいはシー9−式温度すンサは上述した方法で
線状の温度分布が測定できる有望な方式であるが、セン
サとして用いる光ファイバが光伝送損失を有するため、
長距離J1測にある限界を与えていた。即ち、第5図(
b)に示すように、反射光強度はセンサの遠端部になる
ほど減衰し、センサがある長さより長くなると、遠端部
の反射光強度は受光器の感度より微弱となり、計測不能
となる。これを改善するため、受光器の感度を上げると
、近端部の強い反射光に対しては受光器が飽和し、近端
部の計測が不能となる。
センサあるいはシー9−式温度すンサは上述した方法で
線状の温度分布が測定できる有望な方式であるが、セン
サとして用いる光ファイバが光伝送損失を有するため、
長距離J1測にある限界を与えていた。即ち、第5図(
b)に示すように、反射光強度はセンサの遠端部になる
ほど減衰し、センサがある長さより長くなると、遠端部
の反射光強度は受光器の感度より微弱となり、計測不能
となる。これを改善するため、受光器の感度を上げると
、近端部の強い反射光に対しては受光器が飽和し、近端
部の計測が不能となる。
また反射光はサンプリング時間で計測され、この時間間
隔′1゛sが短いほど温度計測距離間隔が短くなり、計
測距離精度が向上することとなるが、サンプリング時間
間隔Tsを短くするほど、平均化処理回路を高速にする
必要があり、高価なものとなる。従って、サンプリング
時間を短くして、計測距11を精度を向上させる方式は
、経済性から限界があった。
隔′1゛sが短いほど温度計測距離間隔が短くなり、計
測距離精度が向上することとなるが、サンプリング時間
間隔Tsを短くするほど、平均化処理回路を高速にする
必要があり、高価なものとなる。従って、サンプリング
時間を短くして、計測距11を精度を向上させる方式は
、経済性から限界があった。
本発明の目的は、前記した従来技術の欠点を改善し、長
距離計測を可能とし、かつ、計訓距M精度を向上させた
光ファイバ式分布形温度センサを提供することにある。
距離計測を可能とし、かつ、計訓距M精度を向上させた
光ファイバ式分布形温度センサを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明の光ファイバ式分布形温度センサは、計測系内の
光源からセンサ用光ファイバに光パルスを入射させ、該
ファイバで発生ずる後方散乱光で形成される反射光を該
計測系に導き、これら反射光の中から、ラマン散乱光或
いはレーリー散乱光の中心波長に相当する波長領域の光
を分離して受光器に導き、これらの光強度をサンプリン
グして光ファイバ温度分布を求めると共に、光パルスの
入射時刻と反射光が測定系へ到達する時刻の差がら反射
光の発生値!を求める光ファイバ式分布形温度センサに
おいて、前記計測系内で反射光を受光器に導く経路の途
中に設けた光スイッチと、該光スイッチを制御して、セ
ンサ用光ファイバの温度計測距拷【範囲を複数の区間に
分割し、各計a町区間に対応した反射光のみを受光器に
入射するように設定する分斧IrtII御手段と、前記
各計測区間の反射光強度に対応して受光器の感度を11
する手段とを備えて構成したものである。
光源からセンサ用光ファイバに光パルスを入射させ、該
ファイバで発生ずる後方散乱光で形成される反射光を該
計測系に導き、これら反射光の中から、ラマン散乱光或
いはレーリー散乱光の中心波長に相当する波長領域の光
を分離して受光器に導き、これらの光強度をサンプリン
グして光ファイバ温度分布を求めると共に、光パルスの
入射時刻と反射光が測定系へ到達する時刻の差がら反射
光の発生値!を求める光ファイバ式分布形温度センサに
おいて、前記計測系内で反射光を受光器に導く経路の途
中に設けた光スイッチと、該光スイッチを制御して、セ
ンサ用光ファイバの温度計測距拷【範囲を複数の区間に
分割し、各計a町区間に対応した反射光のみを受光器に
入射するように設定する分斧IrtII御手段と、前記
各計測区間の反射光強度に対応して受光器の感度を11
する手段とを備えて構成したものである。
更に好ましい形態としては、一の遅延時1m IJ’前
記反射光を計測するサンブリング時間IFfl隔より短
く且つそれらの相がサンブリング時t’::J [11
mとなる遅延時間集合を設定し、各遅延時1?flに対
応した時間だけ順次サンプリング開始時刻を延長させて
、総合的に温度計測点の間隔を短くする計測点制御手段
とを備えて構成する。
記反射光を計測するサンブリング時間IFfl隔より短
く且つそれらの相がサンブリング時t’::J [11
mとなる遅延時間集合を設定し、各遅延時1?flに対
応した時間だけ順次サンプリング開始時刻を延長させて
、総合的に温度計測点の間隔を短くする計測点制御手段
とを備えて構成する。
光分岐器と光フィルタとによって、反射光の巾からラマ
ン散乱光或いはレーリー散乱光の中心波長に相当する波
長領域の光を分離して受光器に導く構成とした場合には
、光スイッチは、この波長分離手段により計測系内の反
射光を受光器に導くまでの経F6途中の任意の場所、即
ち、光分岐器の前、光分岐器と各光フィルタとの間、各
光フィルタと受光器との間のいずれかに設けることがで
きる。
ン散乱光或いはレーリー散乱光の中心波長に相当する波
長領域の光を分離して受光器に導く構成とした場合には
、光スイッチは、この波長分離手段により計測系内の反
射光を受光器に導くまでの経F6途中の任意の場所、即
ち、光分岐器の前、光分岐器と各光フィルタとの間、各
光フィルタと受光器との間のいずれかに設けることがで
きる。
受光器の感度調整手段は、受光器それ自体を、受けた反
射光の強度が小さくなるにつれ自動的に各計測区間ごと
に感度が大きく制御されるように構成したり、予め各計
測区間ごとの感度調整を行って設定しておきその調整指
令を受光器に与えたり、或いは、反射光の強度をモニタ
して自動的に受光器の感度を調整しても良い。
射光の強度が小さくなるにつれ自動的に各計測区間ごと
に感度が大きく制御されるように構成したり、予め各計
測区間ごとの感度調整を行って設定しておきその調整指
令を受光器に与えたり、或いは、反射光の強度をモニタ
して自動的に受光器の感度を調整しても良い。
上記分割制御手段と計測点制御手段とは、コントローラ
によるタイミング調整機能とすることができる。
によるタイミング調整機能とすることができる。
[作用]
分割制御手段は、光スイッチを制御して、・センサの温
度計測距離範囲を複数の区間に分割し、各計測区間に対
応した反射光のみを、受光器に入射するように設定する
。この設定された各計測区間ごとの反射光の強度に対応
して、受光器の感度が調整、される、この制御下で各計
測区間ごとの温度分布を順次計測して行く。反射光強度
はセンサの遠端部になるほど減衰するが、各計測区間ご
とに受光器の感度が調整されるため、遠端部の反射光強
度が受光器の感度より微弱となることはなく、また、近
端部の強い反射光に対しても受光器が飽和しないため、
計測が不能となることはない、従って長距離計測が可能
となる。
度計測距離範囲を複数の区間に分割し、各計測区間に対
応した反射光のみを、受光器に入射するように設定する
。この設定された各計測区間ごとの反射光の強度に対応
して、受光器の感度が調整、される、この制御下で各計
測区間ごとの温度分布を順次計測して行く。反射光強度
はセンサの遠端部になるほど減衰するが、各計測区間ご
とに受光器の感度が調整されるため、遠端部の反射光強
度が受光器の感度より微弱となることはなく、また、近
端部の強い反射光に対しても受光器が飽和しないため、
計測が不能となることはない、従って長距離計測が可能
となる。
一方、第2の形態にあっては、計測点制御手段が、反射
光を計♂1するサンプリング開始時刻をサンプリング時
間間隔よりも短い遅延時間だけ遅延させて、温度11測
を繰り返し行わせる。このため、総合的に温度計測点の
間隔が短くなって温度計測距離分解能が上り、光ファイ
バ式分布型温度センサの精度が大幅に向上する。
光を計♂1するサンプリング開始時刻をサンプリング時
間間隔よりも短い遅延時間だけ遅延させて、温度11測
を繰り返し行わせる。このため、総合的に温度計測点の
間隔が短くなって温度計測距離分解能が上り、光ファイ
バ式分布型温度センサの精度が大幅に向上する。
[実施例]
以下、本発明による光ファイバ式分布形温度センサの実
施例を第1図により説明する9本実施例による光ファイ
バ式分布形温度センサの基本概念及び構成は、第4図、
第5図に示したものとほぼ同じであり、異なる点は以下
の通りである。
施例を第1図により説明する9本実施例による光ファイ
バ式分布形温度センサの基本概念及び構成は、第4図、
第5図に示したものとほぼ同じであり、異なる点は以下
の通りである。
即ち、光分岐器31.32間に光スイッチ8を挿入した
ことと、[・リカ回路1の代わりにコントロ−ラ11を
挿入したことである。光スイッチ8は、センサの温度J
1測距^を範囲を複数の区間に分割し、各計測区間に対
応した反射光のみを、アンチストークス光用0TDII
計測回路30aとストークス光用01 D I?計測回
路30 sに入射するために用いられ、このタイミング
調整はコントローラ11によりライン12を介して行う
、コントローラ11の機能としては、この他、パルス光
8.21\のトリ力信号の作成、後述する遅延時間信号
の作成、及び0TDR計測回路30a、30s+温度分
布演算回v87等への同期18号の作成が主なものとな
っている。
ことと、[・リカ回路1の代わりにコントロ−ラ11を
挿入したことである。光スイッチ8は、センサの温度J
1測距^を範囲を複数の区間に分割し、各計測区間に対
応した反射光のみを、アンチストークス光用0TDII
計測回路30aとストークス光用01 D I?計測回
路30 sに入射するために用いられ、このタイミング
調整はコントローラ11によりライン12を介して行う
、コントローラ11の機能としては、この他、パルス光
8.21\のトリ力信号の作成、後述する遅延時間信号
の作成、及び0TDR計測回路30a、30s+温度分
布演算回v87等への同期18号の作成が主なものとな
っている。
次に、本発明による光フィアバ式分布形温度セシサの動
作について第2図を併用して説明する。
作について第2図を併用して説明する。
計測装置10内のパルス光源2から出射された光は、光
ファイバ21、光分岐器31を介し、センサ用光ファイ
バ20に導かれ、該光ファイバ内で後方散乱光を励起し
、この一部は反射光となって計測装置10側に戻り、光
岐器31、光ファイバ22、光スイッチ8を介して光分
岐′832に導かれ、ここで正分される。正分された光
の一方は、光ファイバ23aを介して、アンチストーク
ス光用の波長分離手段たる光学フィルタ4a、受光器5
a及び平均化処理回路6aで構成されるアンチストーク
ス光用0■旧(計測回路30aへ入る。 1t!1方の
光は、光ファイバ23sを介して2ストークス光用の波
長分離手段たる光学フィルタ4s、受光H5s及び平均
化処理回路65″C″構成されるスト−クス光用0TD
R計測回路30sに入る。
ファイバ21、光分岐器31を介し、センサ用光ファイ
バ20に導かれ、該光ファイバ内で後方散乱光を励起し
、この一部は反射光となって計測装置10側に戻り、光
岐器31、光ファイバ22、光スイッチ8を介して光分
岐′832に導かれ、ここで正分される。正分された光
の一方は、光ファイバ23aを介して、アンチストーク
ス光用の波長分離手段たる光学フィルタ4a、受光器5
a及び平均化処理回路6aで構成されるアンチストーク
ス光用0■旧(計測回路30aへ入る。 1t!1方の
光は、光ファイバ23sを介して2ストークス光用の波
長分離手段たる光学フィルタ4s、受光H5s及び平均
化処理回路65″C″構成されるスト−クス光用0TD
R計測回路30sに入る。
両0■旧(計測回路30a、30s内において、光分岐
器32からの光は、光フィルタ4a、4sでそれぞれの
波長領域の光に変換された後、受光器5a、5sに入り
、それぞれの光強度情報に応じた電気的なアナログ信号
に変換される。受光器5a、5sから出力される光強度
の電気信号は平均化処理回路6a、6sに入力され、該
平均化処理回路6a、6s内でそれぞれ一定の時間間隔
T’ sでサンプリングされ、アンデストークス光強度
の時間関数1 a(t)と、ストークス光強度の時間関
数r 5(t)とか求められ、同時にSN比が改善され
る。得られた時間関数1 a(t)及びI 5(t)の
情報は、温度分布演算回路7に入力されて、I a(t
)/I 5(t)の演算が行われ、センサ用光ファイバ
20に沿った線状温度分布が求められる。尚、パルス光
源2と、上記平均化処理回路6a、6s、0TDRa1
潤回路30a、30s及び温度分布演算回路7間の同期
合せは、コントローラ11から発生される同期信号によ
って行われる。
器32からの光は、光フィルタ4a、4sでそれぞれの
波長領域の光に変換された後、受光器5a、5sに入り
、それぞれの光強度情報に応じた電気的なアナログ信号
に変換される。受光器5a、5sから出力される光強度
の電気信号は平均化処理回路6a、6sに入力され、該
平均化処理回路6a、6s内でそれぞれ一定の時間間隔
T’ sでサンプリングされ、アンデストークス光強度
の時間関数1 a(t)と、ストークス光強度の時間関
数r 5(t)とか求められ、同時にSN比が改善され
る。得られた時間関数1 a(t)及びI 5(t)の
情報は、温度分布演算回路7に入力されて、I a(t
)/I 5(t)の演算が行われ、センサ用光ファイバ
20に沿った線状温度分布が求められる。尚、パルス光
源2と、上記平均化処理回路6a、6s、0TDRa1
潤回路30a、30s及び温度分布演算回路7間の同期
合せは、コントローラ11から発生される同期信号によ
って行われる。
上記光スイッチ8は、コントローラ11からの開閉制御
信号により、パルス光が出射されてから所定の時刻の到
来毎に一定時間幅T SWDだけON状態(光シャッタ
開)となる、これにより、センサの温度計測距離範囲は
複数の区間に分割され、各計測区間に対応した反射光の
みが受光85a。
信号により、パルス光が出射されてから所定の時刻の到
来毎に一定時間幅T SWDだけON状態(光シャッタ
開)となる、これにより、センサの温度計測距離範囲は
複数の区間に分割され、各計測区間に対応した反射光の
みが受光85a。
5sに入射することとなる。長距離計測を可能とするた
め、これら受光35a、5sのゲイン即ち感度は、受け
た反射光の強度が小さくなるにつれ自動的に大きく制御
される。
め、これら受光35a、5sのゲイン即ち感度は、受け
た反射光の強度が小さくなるにつれ自動的に大きく制御
される。
ところで、上記計測距離範囲分割の目的でコントローラ
11がjlN閉制御信号により司どる時間幅は、第2図
(C)に示すように、パルス光が出射されてから光スイ
ッチ8をON状態とするまでの制御時間幅Tswl と
、このON状態を維持する一定の時間幅T SWpとの
2つになる。平均化処理回#P16a、6sのサンプリ
ングを、この光スイッチ8が開いている一定時間幅T’
+vp内で行わせる目的で、第2図(d)に示す如く、
サンプリングの停止時間幅(Tmi)及び実行時間幅(
T[p)を設定する。即ち、サンプリング停止時間(T
lli)は最初のサンプリング点が常に上記一定時間幅
T 5ivp内で生起するように長さ調整され、サンプ
リング実行時間(’r lρ)は11&のサンプリング
点が時間幅T swp内で生起するような長さに定めら
れる(第2図(d))。
11がjlN閉制御信号により司どる時間幅は、第2図
(C)に示すように、パルス光が出射されてから光スイ
ッチ8をON状態とするまでの制御時間幅Tswl と
、このON状態を維持する一定の時間幅T SWpとの
2つになる。平均化処理回#P16a、6sのサンプリ
ングを、この光スイッチ8が開いている一定時間幅T’
+vp内で行わせる目的で、第2図(d)に示す如く、
サンプリングの停止時間幅(Tmi)及び実行時間幅(
T[p)を設定する。即ち、サンプリング停止時間(T
lli)は最初のサンプリング点が常に上記一定時間幅
T 5ivp内で生起するように長さ調整され、サンプ
リング実行時間(’r lρ)は11&のサンプリング
点が時間幅T swp内で生起するような長さに定めら
れる(第2図(d))。
このようにコントローラ11により、光スイッチ8の開
閉制御とサンプリング時刻との相互の同期を取りつつ、
停止時間’T’ rg iを順次長くし温度分布の計測
を繰返して行く、即ち、先ず、サングリング停止時1j
n′rtgi=0として温度分布を計測し、次に、停止
時間Tni= N x Tip (N = 1.2.−
) 、!:して順次温度分布を計測して行き、最終的
に第2図(e)に示すように全体の温度分布を計測する
。
閉制御とサンプリング時刻との相互の同期を取りつつ、
停止時間’T’ rg iを順次長くし温度分布の計測
を繰返して行く、即ち、先ず、サングリング停止時1j
n′rtgi=0として温度分布を計測し、次に、停止
時間Tni= N x Tip (N = 1.2.−
) 、!:して順次温度分布を計測して行き、最終的
に第2図(e)に示すように全体の温度分布を計測する
。
このとき、反射光強度はセンサの遠端部になるほど減衰
するが、各計測区間ごとに且つ反射光の強度が弱まるに
つれ、受光器5a、5sの感度が適正な値に上げられる
なめ、遠端部の反射光強度が受光器の感度より微弱とな
ることはなく、また、近端部の強い反射光に対しても受
光器が飽和しないため、計測が不能となることはない、
この各計測区間ごとの受光器5a、5sの感度調整は、
予め行っても良く、また反射光の強度をモニタして自動
調整しても良い。
するが、各計測区間ごとに且つ反射光の強度が弱まるに
つれ、受光器5a、5sの感度が適正な値に上げられる
なめ、遠端部の反射光強度が受光器の感度より微弱とな
ることはなく、また、近端部の強い反射光に対しても受
光器が飽和しないため、計測が不能となることはない、
この各計測区間ごとの受光器5a、5sの感度調整は、
予め行っても良く、また反射光の強度をモニタして自動
調整しても良い。
尚、受光器5a、5sの感度調整手段としては、(1)
受光器中の光・電気変換素子の後段に使用する電気信号
の増幅器の増幅率を調整する方法、(2)光・電気変換
素子として、例えばアバランシェ・フォト・ダイオード
(APD)を使用する場合には、そのバイアス電圧や温
度を変えることにより、APDのゲインを変える方法、
及び(3)光・電気変換素子に電気信号光が入射する前
に、光減衰器を挿入し、この減衰率を変えることにより
」1ノ整する方法等が考えられる。
受光器中の光・電気変換素子の後段に使用する電気信号
の増幅器の増幅率を調整する方法、(2)光・電気変換
素子として、例えばアバランシェ・フォト・ダイオード
(APD)を使用する場合には、そのバイアス電圧や温
度を変えることにより、APDのゲインを変える方法、
及び(3)光・電気変換素子に電気信号光が入射する前
に、光減衰器を挿入し、この減衰率を変えることにより
」1ノ整する方法等が考えられる。
上記(3)の方法の場合、光減衰器は、受光器に用いら
れる光・電気変換素子の直前に挿入しても良いし、或い
は光分岐器31と受光器5a、5bの間であればどこに
挿入してら良い。
れる光・電気変換素子の直前に挿入しても良いし、或い
は光分岐器31と受光器5a、5bの間であればどこに
挿入してら良い。
」1記サンプリング実行時間Tnoは、受光感度やセン
サ用光ファイバの光の損失等で定まり、これが長い程セ
ンサのgrill距Mを長くでき、長距離化の開発研究
が進められているが、上記実施例ではこれを一挙にN倍
に拡大できたものである6次に、温度計測距離分解能の
向上法について、第3図を併用して説明する。
サ用光ファイバの光の損失等で定まり、これが長い程セ
ンサのgrill距Mを長くでき、長距離化の開発研究
が進められているが、上記実施例ではこれを一挙にN倍
に拡大できたものである6次に、温度計測距離分解能の
向上法について、第3図を併用して説明する。
これは、1遅延時間が反射光を計測するサンプリング時
間間隔ゴSより短く、且つ、それらの和がサンプリング
時間間隔′I’ sとなるような遅延時間集合として設
定し、各遅延時間に対応した時間だけ順次サンプリング
開始時刻を延長させて、温度計測を繰り返し行い、総合
的に温度計測点の間隔を短くするものである。このよう
に温度計測距離分解能を向上させることにより、光ファ
イバ式分布型温度センサの精度が大幅に向上することに
なる。
間間隔ゴSより短く、且つ、それらの和がサンプリング
時間間隔′I’ sとなるような遅延時間集合として設
定し、各遅延時間に対応した時間だけ順次サンプリング
開始時刻を延長させて、温度計測を繰り返し行い、総合
的に温度計測点の間隔を短くするものである。このよう
に温度計測距離分解能を向上させることにより、光ファ
イバ式分布型温度センサの精度が大幅に向上することに
なる。
今、最小遅延時間間隔Δtと、サンプリング停止時間T
liとの関係を ’l’ni=mxΔt (m=o、1,2.−、H)
M=Ts/Δt とし、これをコントローラ11により作成して平均化処
理回II!16a、6sに与える。これによって第3図
(a)(b)(c)のように、Tni= O、T’ni
=Δt、Ti1=2Δt・・・と、順次、L式に従って
温度計測を行うと、第3図(d)にM=5の場合につい
て示すように、最終的に遅延時間間隔Δtの細かなサン
プリング結果が得られる。
liとの関係を ’l’ni=mxΔt (m=o、1,2.−、H)
M=Ts/Δt とし、これをコントローラ11により作成して平均化処
理回II!16a、6sに与える。これによって第3図
(a)(b)(c)のように、Tni= O、T’ni
=Δt、Ti1=2Δt・・・と、順次、L式に従って
温度計測を行うと、第3図(d)にM=5の場合につい
て示すように、最終的に遅延時間間隔Δtの細かなサン
プリング結果が得られる。
このときのサンプリング時間間隔すなわち遅延時rrI
J間隔Δtは、等価的に、サンプリング時間間隔をTs
としていた時のM分の1となり、温度計測点の間隔をM
分の1に短くできたことになる。
J間隔Δtは、等価的に、サンプリング時間間隔をTs
としていた時のM分の1となり、温度計測点の間隔をM
分の1に短くできたことになる。
このため、温度計a1距離分解能は大幅に向上する。
尚、ここでは遅延時間間隔Δtを、サンプリング時間間
隔TsのM分の1としているが、その大きさがTsより
短く、かつ、それらの和がTsとなれば、いかなる集合
でも差し支えない。
隔TsのM分の1としているが、その大きさがTsより
短く、かつ、それらの和がTsとなれば、いかなる集合
でも差し支えない。
上記第2図、第3図で説明した機能を組み合わせれば、
長距離計測が可能で、その計測距離精度も非常に高い光
ファイバ式分布形温度センサを実現できる。また、遅延
時間を適宜変えることにより、センサの温度分布を細か
く見たり、粗く見ることもできる。
長距離計測が可能で、その計測距離精度も非常に高い光
ファイバ式分布形温度センサを実現できる。また、遅延
時間を適宜変えることにより、センサの温度分布を細か
く見たり、粗く見ることもできる。
上記実施例では、後方散乱として、ラマン敗乱光を主体
に説明したが、レーり散乱光を用いても、或いはこれら
の組み合わせを用いても、本発明の原理はそのまま適用
できる。
に説明したが、レーり散乱光を用いても、或いはこれら
の組み合わせを用いても、本発明の原理はそのまま適用
できる。
[発明の効果1
本発明によれば以下の顕著な効果を奏することができる
。
。
(1)センサの温度計測範囲を複数の区間に分割し、各
計測区1721に対応した計測技術を採用することによ
り、光源、光学素子、受光器、平均化処理装置等の機器
性能が従来と同一レベルでも、光ファイバ式分布形温度
センサの長距離計測が可能となる。
計測区1721に対応した計測技術を採用することによ
り、光源、光学素子、受光器、平均化処理装置等の機器
性能が従来と同一レベルでも、光ファイバ式分布形温度
センサの長距離計測が可能となる。
(2)サンプリング時間を適宜、遅延させることにより
、計測距離精度を従来より大幅に向上させた光ファイバ
式分布形温度センサが得られる。
、計測距離精度を従来より大幅に向上させた光ファイバ
式分布形温度センサが得られる。
(3) ]二配性能を経済性を損なうことなく達成でき
る。
る。
第1図は本発明の一実施例による光ファイバ式分布形温
度センサの構成図、第2図(a)(b)fc)(d)(
e)はその温度計測距離範囲を複数の区間に分割する計
測概念の説明図、第3図(a)(b)iced)は本発
明による光ファイバ式分布形温度センサの計測概念の説
明図、第4図は先に提案されている光ファイバ式分布形
温度センサの構成図、第5図(aHb)はその計測概念
の説明図である。 図中、■はトリガ回路、2はパルス光源、4s。 4aは光学フィルタ、5s、5aは受光器、6S6aは
平均化処理回路、7は温度分布演算回路、8は光スイッ
チ、10は計測装置、11はコントローラ、20はセン
サ用光ファイバ、21.22゜23a、23sは光ファ
イバ、31.32は光分岐器、30sはストークス光用
OT引で計測回路、30aはアンチストークス光用OT
H計測回路を示す。
度センサの構成図、第2図(a)(b)fc)(d)(
e)はその温度計測距離範囲を複数の区間に分割する計
測概念の説明図、第3図(a)(b)iced)は本発
明による光ファイバ式分布形温度センサの計測概念の説
明図、第4図は先に提案されている光ファイバ式分布形
温度センサの構成図、第5図(aHb)はその計測概念
の説明図である。 図中、■はトリガ回路、2はパルス光源、4s。 4aは光学フィルタ、5s、5aは受光器、6S6aは
平均化処理回路、7は温度分布演算回路、8は光スイッ
チ、10は計測装置、11はコントローラ、20はセン
サ用光ファイバ、21.22゜23a、23sは光ファ
イバ、31.32は光分岐器、30sはストークス光用
OT引で計測回路、30aはアンチストークス光用OT
H計測回路を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、計測系内の光源からセンサ用光ファイバに光パルス
を入射させ、該ファイバで発生する後方散乱光で形成さ
れる反射光を該計測系に導き、これら反射光の中から、
ラマン散乱光或いはレーリー散乱光の中心波長に相当す
る波長領域の光を分離して受光器に導き、これらの光強
度をサンプリングして光ファイバ温度分布を求めると共
に、光パルスの入射時刻と反射光が測定系へ到達する時
刻の差から反射光の発生位置を求める光ファイバ式分布
形温度センサにおいて、前記計測系内で反射光を受光器
に導く経路の途中に設けた光スイッチと、該光スイッチ
を制御して、センサ用光ファイバの温度計測距離範囲を
複数の区間に分割し、各計測区間に対応した反射光のみ
を受光器に入射するように設定する分割制御手段と、前
記各計測区間の反射光強度に対応して受光器の感度を調
整する手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ式分
布形温度センサ。 2、一の遅延時間が前記反射光を計測するサンプリング
時間間隔より短く且つそれらの和がサンプリング時間間
隔となる遅延時間集合を設定し、各遅延時間に対応した
時間だけ順次サンプリング開始時刻を延長させて、総合
的に温度計測点の間隔を短くする計測点制御手段を更に
備えたことを特徴とする請求項1記載の光ファイバ式分
布形温度センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1019992A JP2603714B2 (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ファイバ式分布形温度センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1019992A JP2603714B2 (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ファイバ式分布形温度センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02201130A true JPH02201130A (ja) | 1990-08-09 |
| JP2603714B2 JP2603714B2 (ja) | 1997-04-23 |
Family
ID=12014663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1019992A Expired - Fee Related JP2603714B2 (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ファイバ式分布形温度センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2603714B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103575424A (zh) * | 2013-11-27 | 2014-02-12 | 威海北洋电气集团股份有限公司 | 温度波动度可控的分布式光纤传感器及测温系统和方法 |
| CN106323345A (zh) * | 2016-08-18 | 2017-01-11 | 南京发艾博光电科技有限公司 | 一种超长距离分布式光纤传感模拟测试系统及方法 |
| JP2020020581A (ja) * | 2018-07-30 | 2020-02-06 | 北陸電力株式会社 | 温度測定装置および温度測定方法 |
-
1989
- 1989-01-30 JP JP1019992A patent/JP2603714B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103575424A (zh) * | 2013-11-27 | 2014-02-12 | 威海北洋电气集团股份有限公司 | 温度波动度可控的分布式光纤传感器及测温系统和方法 |
| CN106323345A (zh) * | 2016-08-18 | 2017-01-11 | 南京发艾博光电科技有限公司 | 一种超长距离分布式光纤传感模拟测试系统及方法 |
| JP2020020581A (ja) * | 2018-07-30 | 2020-02-06 | 北陸電力株式会社 | 温度測定装置および温度測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2603714B2 (ja) | 1997-04-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |