JPH02201231A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH02201231A JPH02201231A JP2215589A JP2215589A JPH02201231A JP H02201231 A JPH02201231 A JP H02201231A JP 2215589 A JP2215589 A JP 2215589A JP 2215589 A JP2215589 A JP 2215589A JP H02201231 A JPH02201231 A JP H02201231A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- spectrophotometer
- rotation
- rom
- diffraction grating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野、）
本発明は分光光度計に関し、特に波長走査或は波長設定
のための分散素子をモータにより回転させる構造の分光
光度計に関する。
のための分散素子をモータにより回転させる構造の分光
光度計に関する。
（従来の技術）
回折格子を用いた分光光度計の波長走査機構として従来
からサインバー機構が用いられて来たが、この機構は送
りねじによって移動せしめられるナツトによって回折格
子軸より突出されたサインバーを押動するようになって
おり、送りねじの回転量が波長とリニヤな関係があると
云う利点があるが、送りねじを用いているため波長の速
送りが困難である。近時コンピュータ技術の普及により
、パルスモータの回転量を任意の関数値に変換する動作
が簡単迅速に行われるようになって来たのに伴い、分光
光度計においても、サインバー機構の送りねじ回転量と
波長とがリニヤな関係にあると云う利点は薄れ、高速波
長送りが困難と云う点が問題視されるようになり、構造
的にも簡単で安価になると云うこともあって、分光素子
を減速機構を介して直接回転させるようにした分光光度
計が用いられるようになって来た。
からサインバー機構が用いられて来たが、この機構は送
りねじによって移動せしめられるナツトによって回折格
子軸より突出されたサインバーを押動するようになって
おり、送りねじの回転量が波長とリニヤな関係があると
云う利点があるが、送りねじを用いているため波長の速
送りが困難である。近時コンピュータ技術の普及により
、パルスモータの回転量を任意の関数値に変換する動作
が簡単迅速に行われるようになって来たのに伴い、分光
光度計においても、サインバー機構の送りねじ回転量と
波長とがリニヤな関係にあると云う利点は薄れ、高速波
長送りが困難と云う点が問題視されるようになり、構造
的にも簡単で安価になると云うこともあって、分光素子
を減速機構を介して直接回転させるようにした分光光度
計が用いられるようになって来た。
分光素子を減速機構を介して直接回転させる型の分光光
度計では分散素子として回折格子を用いた場合でもモー
タの回転量と波長との関係はリニヤでな（なり、分散素
子として回折格子を用いた場合、回折格子の基準位置か
らの回転角θと波長λとの関係は回折格子の格子定数を
ｄ１回折次数をｎとして ｄ λ＝ −ＣＯＳφ１１１ｎθ−（１） べ で表わされる。こ＼で角度φは第４図に示すように回折
格子Ｇへの入射光と回折光とのなす角の半分で、分光器
の入射スリットが回折格子中心に対して張る角の１／２
である。回折格子の回転角と波長との関係が（１）式の
ようになっているので、分散素子を減速機構を介して直
接回転させる型の分光光度計では分散素子駆動用モータ
の回転量Ｘに対して、 λ＝Ｋｓ＋ｎｐｘ 但し θ＝ ｐ ｘ ・・’■
なる関係表を記入したＲＯＭを用いて駆動用モータの回
転量を波長値に変換するようにしている。
度計では分散素子として回折格子を用いた場合でもモー
タの回転量と波長との関係はリニヤでな（なり、分散素
子として回折格子を用いた場合、回折格子の基準位置か
らの回転角θと波長λとの関係は回折格子の格子定数を
ｄ１回折次数をｎとして ｄ λ＝ −ＣＯＳφ１１１ｎθ−（１） べ で表わされる。こ＼で角度φは第４図に示すように回折
格子Ｇへの入射光と回折光とのなす角の半分で、分光器
の入射スリットが回折格子中心に対して張る角の１／２
である。回折格子の回転角と波長との関係が（１）式の
ようになっているので、分散素子を減速機構を介して直
接回転させる型の分光光度計では分散素子駆動用モータ
の回転量Ｘに対して、 λ＝Ｋｓ＋ｎｐｘ 但し θ＝ ｐ ｘ ・・’■
なる関係表を記入したＲＯＭを用いて駆動用モータの回
転量を波長値に変換するようにしている。
上記（２）式でｐは減速機構により定まる定数であるが
Ｋは（１）式に示されるように回折格子の格子定数と、
分光器の入出射スリット等の光学要素の位置に関する量
を含んでおり、これらには分光器の工作上および組立上
の誤差が含まれていて、同じ設計で造られた分光光度計
でも各装置毎にわづかずつ異っている。しかし分光光度
計の製作に当って個々の装置毎に、Ｋを実測して作成さ
れた（２）式の表を記録したＲＯＭを搭載すると云うこ
とは実際上困難であり、幾つかのＫの値について０式の
表を作成して記入したＲＯＭを予め用意しておいて、各
分光光度計に搭載し、工場において出荷の際各分光光度
計毎に較正テストを行い、予めＲＯＭに記録しである幾
つかの表の中から最適の表を選び、分光光度計の使用時
にはその表によって駆動モータの回転量を波長値に変換
するようにしている。
Ｋは（１）式に示されるように回折格子の格子定数と、
分光器の入出射スリット等の光学要素の位置に関する量
を含んでおり、これらには分光器の工作上および組立上
の誤差が含まれていて、同じ設計で造られた分光光度計
でも各装置毎にわづかずつ異っている。しかし分光光度
計の製作に当って個々の装置毎に、Ｋを実測して作成さ
れた（２）式の表を記録したＲＯＭを搭載すると云うこ
とは実際上困難であり、幾つかのＫの値について０式の
表を作成して記入したＲＯＭを予め用意しておいて、各
分光光度計に搭載し、工場において出荷の際各分光光度
計毎に較正テストを行い、予めＲＯＭに記録しである幾
つかの表の中から最適の表を選び、分光光度計の使用時
にはその表によって駆動モータの回転量を波長値に変換
するようにしている。
（発明が解決しようとする課題）
分散素子を減速機構を介してモータにより直接回動させ
る型の分光光度計では上述したように、モータの回転量
を変換表を用いて波長値に変換しており、その際分光器
の工作上の精度により変換表は個々の分光光度計毎に異
なったものとしなければならないが、実際上予め用意し
たいくつかの表の中から較正テストにより最適の表を選
定して以後の測定に用いるようにしている。このため予
め用意してお（表は少しずつ異るなるべ（多数の表を用
意しておくのが望ましいが、ＲＯＭの容量から予め用意
できる表の数は限られたものとなり、このため成る分光
光度計では最適の表がなく、一つの表ともう一つの表か
ら得られる二つの値の中間値が最も良い云うことになり
、また成る分光光度計ではモータの回転量と波長値との
関係が予め用意した表の何れとも適合しないと云うよう
な場合が生じる。しかし従来はこのような場合に簡単に
対処する方法がなかった。
る型の分光光度計では上述したように、モータの回転量
を変換表を用いて波長値に変換しており、その際分光器
の工作上の精度により変換表は個々の分光光度計毎に異
なったものとしなければならないが、実際上予め用意し
たいくつかの表の中から較正テストにより最適の表を選
定して以後の測定に用いるようにしている。このため予
め用意してお（表は少しずつ異るなるべ（多数の表を用
意しておくのが望ましいが、ＲＯＭの容量から予め用意
できる表の数は限られたものとなり、このため成る分光
光度計では最適の表がなく、一つの表ともう一つの表か
ら得られる二つの値の中間値が最も良い云うことになり
、また成る分光光度計ではモータの回転量と波長値との
関係が予め用意した表の何れとも適合しないと云うよう
な場合が生じる。しかし従来はこのような場合に簡単に
対処する方法がなかった。
従って本発明は予め多数の変換表を用意することなしに
、上述したような問題に対処し得る分光光度計を提供し
ようとするものである。
、上述したような問題に対処し得る分光光度計を提供し
ようとするものである。
（課題を解決するための手段）
分散素子を駆動するモータの回転量を波長値に変換する
一つの表をＲＯＭに記入しておき、較正テストにおいて
駆動モータの回転量から正しい波長値を得るために上記
ＲＯＭ内の表から引出される値に掛けるべき補正係数を
決定し、この補正係数を分光光度計制御装置のメモリに
記憶させておき、実使用時には上！ｉ！、 ＲＯＭ内の
表に上記メモリに記憶させた係数による補正を行って、
その分光光度計に適合した変換表を作成し、ＲＡＭ内に
格納して、以後その表を用いて波長決定を行うようにし
た。
一つの表をＲＯＭに記入しておき、較正テストにおいて
駆動モータの回転量から正しい波長値を得るために上記
ＲＯＭ内の表から引出される値に掛けるべき補正係数を
決定し、この補正係数を分光光度計制御装置のメモリに
記憶させておき、実使用時には上！ｉ！、 ＲＯＭ内の
表に上記メモリに記憶させた係数による補正を行って、
その分光光度計に適合した変換表を作成し、ＲＡＭ内に
格納して、以後その表を用いて波長決定を行うようにし
た。
（作用）
分散素子の回転角θと波長λとの関係は一般に駆動モー
タの回転量をＸとして、 λ＝Ｋｆ（θ）＝Ｋｆ （ｐｘ）−（３）の形で表わす
ことができる。θは回折格子の場合ｓｉｎθとなる。こ
＼で分光器の工作上の誤差は係数Ｋに集約されているの
で、モータ回転量Ｘと波長λとの変換表として（３）式
で適宜にの値を有する表を予めＲＯＭに用意しておき、
較正テストで既知波長の光の波長を上記表に基づいて求
めればＲＯＭ内の変換表から求められる波長に掛けるべ
き補正係数αが決定される。このαをメモリに記憶させ
ておけば実測時、ＲＯＭ内の表から引出される各Ｘ値に
対応する波長値にαを掛けて、ＲＡＭ内に記入すること
によりその分光光度計において正しい変換表をＲＡＭ内
に発生させることができる。従って以後はこのＲＡＭの
表を用いて駆動モータの回転量を波長値に変換すれば正
しい波長値が求められる。
タの回転量をＸとして、 λ＝Ｋｆ（θ）＝Ｋｆ （ｐｘ）−（３）の形で表わす
ことができる。θは回折格子の場合ｓｉｎθとなる。こ
＼で分光器の工作上の誤差は係数Ｋに集約されているの
で、モータ回転量Ｘと波長λとの変換表として（３）式
で適宜にの値を有する表を予めＲＯＭに用意しておき、
較正テストで既知波長の光の波長を上記表に基づいて求
めればＲＯＭ内の変換表から求められる波長に掛けるべ
き補正係数αが決定される。このαをメモリに記憶させ
ておけば実測時、ＲＯＭ内の表から引出される各Ｘ値に
対応する波長値にαを掛けて、ＲＡＭ内に記入すること
によりその分光光度計において正しい変換表をＲＡＭ内
に発生させることができる。従って以後はこのＲＡＭの
表を用いて駆動モータの回転量を波長値に変換すれば正
しい波長値が求められる。
（実施例）
第１図に本発明の一実施例分光光度計において用いられ
ている分光器を示し、第２図に上記分光光度計の全体構
成を示す。第１図において、Ｇは平面回折格子で、Ａは
同回折格子の回転軸であり、この回転軸は減速機構Ｂの
出力軸になっている。Ｐはパルスモータでその回転が減
速機構Ｂを介してその出力軸Ａに減速して伝達される。
ている分光器を示し、第２図に上記分光光度計の全体構
成を示す。第１図において、Ｇは平面回折格子で、Ａは
同回折格子の回転軸であり、この回転軸は減速機構Ｂの
出力軸になっている。Ｐはパルスモータでその回転が減
速機構Ｂを介してその出力軸Ａに減速して伝達される。
Ｓｌは分光器の入射スリット、Ｓ２は出射スリットで、
ＭｌはＳｌから入射した光を平行光束にして回折格子Ｇ
にに入射させるコリメータ鏡、Ｍ２は回折格子Ｇで回折
された平行光束を出口スリットＳ２上に集光させるカメ
ラ鏡で、図示の自重の２等分角が前記（１）式における
角φになる。回折格子の中心法線が自重の２等分線と一
致する回折格子の方向が回折格子Ｇの基準位置で、回折
格子の回転角θはこの基準位置から測る。
ＭｌはＳｌから入射した光を平行光束にして回折格子Ｇ
にに入射させるコリメータ鏡、Ｍ２は回折格子Ｇで回折
された平行光束を出口スリットＳ２上に集光させるカメ
ラ鏡で、図示の自重の２等分角が前記（１）式における
角φになる。回折格子の中心法線が自重の２等分線と一
致する回折格子の方向が回折格子Ｇの基準位置で、回折
格子の回転角θはこの基準位置から測る。
第２図において、ＭＣが第１図に示した分光器であり、
Ｌｌ、Ｌ２は分光光度計内蔵の内部光源で、Ｌｌは短波
長域測定用の重水素ランプ、Ｌ２は長波長域測定用のタ
ングステンランプであり、これら両光源は切換え鏡ｍ１
の、出入によって何れかの光が分光器ＭＣに入射せしめ
られるようになっている。Ｃは試料室で分光器ＭＣの出
射光束が通過するようになっており、分光器出射光束の
光路内に試料をセットできるようになっている。
Ｌｌ、Ｌ２は分光光度計内蔵の内部光源で、Ｌｌは短波
長域測定用の重水素ランプ、Ｌ２は長波長域測定用のタ
ングステンランプであり、これら両光源は切換え鏡ｍ１
の、出入によって何れかの光が分光器ＭＣに入射せしめ
られるようになっている。Ｃは試料室で分光器ＭＣの出
射光束が通過するようになっており、分光器出射光束の
光路内に試料をセットできるようになっている。
Ｄは試料室Ｃを通過した分光器出射光を受光する光検出
器で、同検出器の出力信号は増幅部Ａｐで増幅され、イ
ンターフェースＩｆを介して制御値ｆｔＫに取込まれる
。制御装置には中央処理装置ＣＰＵ、動作プログラム、
変換表等を書込んだＲＯＭ、不揮発性メモリＥＥＦＲＯ
Ｍ、ＲＡＭ等より成り、装置全体の制御、Ｉｆを介して
取込んだ測光データに対するデータ処理を行う。ＣＲＴ
は分析結果等を表示する表示部、Ｆはオペレータが制御
装置に種々のデータを入力したり、動作に関する指示を
与えるための操作部である。
器で、同検出器の出力信号は増幅部Ａｐで増幅され、イ
ンターフェースＩｆを介して制御値ｆｔＫに取込まれる
。制御装置には中央処理装置ＣＰＵ、動作プログラム、
変換表等を書込んだＲＯＭ、不揮発性メモリＥＥＦＲＯ
Ｍ、ＲＡＭ等より成り、装置全体の制御、Ｉｆを介して
取込んだ測光データに対するデータ処理を行う。ＣＲＴ
は分析結果等を表示する表示部、Ｆはオペレータが制御
装置に種々のデータを入力したり、動作に関する指示を
与えるための操作部である。
上記したＲＯＭには上述分光光度計の設計上のモータＰ
の回転量Ｘとの前記０式で示される変換表が記入しであ
る。上述分光光度計の構成テストは次のように行われる
。この構成テストには分光光度計内部光源Ｌ１を利用す
る。。Ｌｌは重水素ランプで、その放射光は第３図に示
すような波長特性を有し、６５６．ｌｎｍの所に鋭いピ
ークがあり、このピークを用いて較正を行う。まず回折
格子Ｇを波長Ｏの方向に回して行くと、波長Ｏの位置で
０次回折光が検出されるので、波長Ｏの付近で光検出器
りの出力のピークサーチを行い、ピーク中心が検出され
たときの回折格子Ｇの方向を基準位置とし、その位置か
らのパルスモータＰの回転量を前記０式のＸとする。Ｘ
はパルスモータＰに供給した駆動パルスの計数値で、回
折格子Ｇが基準位置にあるときから駆動パルスの計数を
開始する。この駆動パルスの供給およびパルス計数はＣ
ＰＵが行う。回折格子Ｇを上述基準位置から長波長側へ
駆動しつ＼、パルスモータＰの回転量を計数して行くと
、光源Ｌ１の６５６．ｌｎｍの輝線が光検出器りに入射
する。そこでこの６５６゜ｌｎｍの光のビークサーチを
行い、ピーク中心が検出されると、そのときのパルスモ
ータＰの回転量Ｘが６５６．ｌｎｍの波長に対応する。
の回転量Ｘとの前記０式で示される変換表が記入しであ
る。上述分光光度計の構成テストは次のように行われる
。この構成テストには分光光度計内部光源Ｌ１を利用す
る。。Ｌｌは重水素ランプで、その放射光は第３図に示
すような波長特性を有し、６５６．ｌｎｍの所に鋭いピ
ークがあり、このピークを用いて較正を行う。まず回折
格子Ｇを波長Ｏの方向に回して行くと、波長Ｏの位置で
０次回折光が検出されるので、波長Ｏの付近で光検出器
りの出力のピークサーチを行い、ピーク中心が検出され
たときの回折格子Ｇの方向を基準位置とし、その位置か
らのパルスモータＰの回転量を前記０式のＸとする。Ｘ
はパルスモータＰに供給した駆動パルスの計数値で、回
折格子Ｇが基準位置にあるときから駆動パルスの計数を
開始する。この駆動パルスの供給およびパルス計数はＣ
ＰＵが行う。回折格子Ｇを上述基準位置から長波長側へ
駆動しつ＼、パルスモータＰの回転量を計数して行くと
、光源Ｌ１の６５６．ｌｎｍの輝線が光検出器りに入射
する。そこでこの６５６゜ｌｎｍの光のビークサーチを
行い、ピーク中心が検出されると、そのときのパルスモ
ータＰの回転量Ｘが６５６．ｌｎｍの波長に対応する。
他方このＸの値からＲＯＭ内に格納しである変換表によ
って波長値を求めると、これは一般に６５６゜ｌｎｍと
は異った値λ゛となっている。従ってこの変換表から求
まる波長λ°に補正係数α＝６５６．１／λ゛を掛算す
れば、この分光光度計における正しい波長値が得られる
。この補正係数αを不揮発性メモリＥＥＰＲＯＭに記入
して較正テストを終わる。
って波長値を求めると、これは一般に６５６゜ｌｎｍと
は異った値λ゛となっている。従ってこの変換表から求
まる波長λ°に補正係数α＝６５６．１／λ゛を掛算す
れば、この分光光度計における正しい波長値が得られる
。この補正係数αを不揮発性メモリＥＥＰＲＯＭに記入
して較正テストを終わる。
次に上述分光光度計の実際の使用時の動作を説明する。
上記ＲＯＭ内の変換表から各Ｘの値に対する変換値を読
出し、これに不揮発性メモリＥＥＰＲＯＭに記憶させで
ある補正係数αを掛けてＸの値と対応づけてＲＡＭに書
込むと、ＲＡＭ内にこの分光光度計におけるパルスモー
タＰの駆動量Ｘと波長λとの変換表が形成される。実際
測定時にはこの変換表を使ってパルスモータＰの回転量
から波長を求める。
出し、これに不揮発性メモリＥＥＰＲＯＭに記憶させで
ある補正係数αを掛けてＸの値と対応づけてＲＡＭに書
込むと、ＲＡＭ内にこの分光光度計におけるパルスモー
タＰの駆動量Ｘと波長λとの変換表が形成される。実際
測定時にはこの変換表を使ってパルスモータＰの回転量
から波長を求める。
上述実施例では較正テストに分光光度計の内部光源の輝
線を利用しているが、このようにすると分光光度計のユ
ーザ側においても適時較正テストを行うことができる。
線を利用しているが、このようにすると分光光度計のユ
ーザ側においても適時較正テストを行うことができる。
しかし較正テストそのものは外部光源を用いて行っても
よいことは云うまでもない。また上゛述実施例は較正テ
ストには唯一の輝線光を用いているが、幾つかの波長の
輝線を用いて較正テストを行い、波長域毎に補正係数を
決めるようにしてもよい。更に上述実施例ではＲＯＭに
は設計上の変換表を書込んで、実使用時にそれに補正係
数を掛けるようにしているが、ＲＯＭ内の表には単にｐ
ｘに対するｔａｒｎの変換表を用い、前記０式のＫの値
を較正テストで実測的に決めて不揮発性メモリＥＥＰＲ
ＯＭに記憶させるようにしても全（同じである。なお回
折格子の基準位置の検出は上述実施例では０次回折光の
ピーク中心を検出することによって行っているが、回折
格子の回転軸にビンを立て＼おき、このビンを特定の位
置で充電的或は機械的手段によって検出し、ビンが検出
されたとき回折格子が基準位置になるようにしておいて
もよいものである。
よいことは云うまでもない。また上゛述実施例は較正テ
ストには唯一の輝線光を用いているが、幾つかの波長の
輝線を用いて較正テストを行い、波長域毎に補正係数を
決めるようにしてもよい。更に上述実施例ではＲＯＭに
は設計上の変換表を書込んで、実使用時にそれに補正係
数を掛けるようにしているが、ＲＯＭ内の表には単にｐ
ｘに対するｔａｒｎの変換表を用い、前記０式のＫの値
を較正テストで実測的に決めて不揮発性メモリＥＥＰＲ
ＯＭに記憶させるようにしても全（同じである。なお回
折格子の基準位置の検出は上述実施例では０次回折光の
ピーク中心を検出することによって行っているが、回折
格子の回転軸にビンを立て＼おき、このビンを特定の位
置で充電的或は機械的手段によって検出し、ビンが検出
されたとき回折格子が基準位置になるようにしておいて
もよいものである。
（発明の効果）
本発明によれば各分光光度計の工作上の誤差の存在にか
＼わらず、何れの分光光度計でも夫々に適合した分散素
子回転量と波長との変換表を用４いることができ、しか
もそのため格別大容量のＲＯＭを必要としないで、高精
度の分光光度計が得られる。
＼わらず、何れの分光光度計でも夫々に適合した分散素
子回転量と波長との変換表を用４いることができ、しか
もそのため格別大容量のＲＯＭを必要としないで、高精
度の分光光度計が得られる。
第１図は本発明の一実施例分光光度計に用いられる分光
器の斜視図、第２図は同実施例分光光度計の全体構成を
示すブロック図、第３図は較正テストに用いられる重水
素ランプの分光エネルギー特性グラフ、第４図は回折格
子の光の人出射角と波長との関係を説明する図である。 Ｇ・・・回折格子、Ａ・・・回折格子の回転軸、Ｂ・・
・減速機構、Ｐ・・・パルスモータ、Ｍｌ・・・コリメ
ータ鏡、Ｍ２・・・カメラ鏡、Ｓｌ・・・入口スリット
、Ｓ２・・・出口スリット、Ｌｌ、Ｌ２・・・光源、Ｍ
Ｃ・・・分光器、Ｃ・・・試料室、Ｄ・・・光検出器、
Ｋ・・・制御装置、ＥＥＦＲＯＭ・・・不揮発性メモリ
。 代理人 弁理士 縣 浩 介
器の斜視図、第２図は同実施例分光光度計の全体構成を
示すブロック図、第３図は較正テストに用いられる重水
素ランプの分光エネルギー特性グラフ、第４図は回折格
子の光の人出射角と波長との関係を説明する図である。 Ｇ・・・回折格子、Ａ・・・回折格子の回転軸、Ｂ・・
・減速機構、Ｐ・・・パルスモータ、Ｍｌ・・・コリメ
ータ鏡、Ｍ２・・・カメラ鏡、Ｓｌ・・・入口スリット
、Ｓ２・・・出口スリット、Ｌｌ、Ｌ２・・・光源、Ｍ
Ｃ・・・分光器、Ｃ・・・試料室、Ｄ・・・光検出器、
Ｋ・・・制御装置、ＥＥＦＲＯＭ・・・不揮発性メモリ
。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 分散素子を駆動するモータの回転量を波長値に変換する
一つの表をＲＯＭに記入しておき、較正テストにおいて
駆動モータの回転量から正しい波長値を得るために上記
ＲＯＭ内の表から引出される値に掛けるべき補正係数を
決定し、この補正係数を分光光度計制御装置のメモリに
記憶させておき、実使用時には上記ＲＯＭ内の表に上記
メモリに記憶させた上記係数による補正を施して、その
分光光度計に適合した変換表を作成し、ＲＡＭ内に格納
して、その表を用いて波長決定を行うようにしたことを
特徴とする分光光度計。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2215589A JPH02201231A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 分光光度計 |
| US07/469,006 US5268737A (en) | 1989-01-28 | 1990-01-23 | Method and apparatus for calibrating a spectrophotometer |
| CN90100456.1A CN1019604B (zh) | 1989-01-28 | 1990-01-24 | 分光光度计 |
| DE90101485T DE69002955T2 (de) | 1989-01-28 | 1990-01-25 | Verfahren zum Betrieb eines Spektrophotometers. |
| EP90101485A EP0381053B1 (en) | 1989-01-28 | 1990-01-25 | Method of operating a spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2215589A JPH02201231A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02201231A true JPH02201231A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=12074951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2215589A Pending JPH02201231A (ja) | 1989-01-28 | 1989-01-31 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02201231A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0469725U (ja) * | 1990-10-23 | 1992-06-19 | ||
| JP2010127709A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Yokogawa Electric Corp | 波長校正装置 |
| JP2018009857A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社島津製作所 | 波長校正方法及びその波長校正方法を用いた分光光度計 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5563725A (en) * | 1978-11-08 | 1980-05-14 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
| JPS62153719A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Japan Spectroscopic Co | 分光装置における波長選択駆動方法 |
-
1989
- 1989-01-31 JP JP2215589A patent/JPH02201231A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5563725A (en) * | 1978-11-08 | 1980-05-14 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
| JPS62153719A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Japan Spectroscopic Co | 分光装置における波長選択駆動方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0469725U (ja) * | 1990-10-23 | 1992-06-19 | ||
| JP2010127709A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Yokogawa Electric Corp | 波長校正装置 |
| JP2018009857A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社島津製作所 | 波長校正方法及びその波長校正方法を用いた分光光度計 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5268737A (en) | Method and apparatus for calibrating a spectrophotometer | |
| US5040889A (en) | Spectrometer with combined visible and ultraviolet sample illumination | |
| US7796252B2 (en) | Scanning monochromator with direct drive grating | |
| US4664522A (en) | Optical waveguide spectrum analyzer and method | |
| US4487504A (en) | Reflectance measuring instrument with integrating sphere | |
| JPH0580615B2 (ja) | ||
| US9551612B2 (en) | Tandem dispersive range monochromator | |
| US20010019410A1 (en) | Wavelength calibration method of monochromator in wavelength measuring apparatus, wavelength measuring method and wavelength measuring apparatus | |
| US4352561A (en) | Calibrating apparatus in a monochromator | |
| EP0296259A1 (en) | Spectrometer with combined visible and ultraviolet sample illumination | |
| JPH02201231A (ja) | 分光光度計 | |
| JP2002031572A (ja) | 分光器及びこれを備えた光スペクトラムアナライザ | |
| US7072037B2 (en) | Double monochromatic spectroscopic device | |
| KR102194321B1 (ko) | 연속 측정 가능한 분광 타원계 | |
| JPH02201124A (ja) | 分光光度計 | |
| JPS62289737A (ja) | 分光器 | |
| JP2002090220A (ja) | マルチチャンネル分光器 | |
| JPH087097B2 (ja) | 分光光度計 | |
| JPS62288536A (ja) | 分光光度計 | |
| JPH04105025A (ja) | 蛍光測定装置 | |
| Zwinkels et al. | Development of a new reference spectrophotometer | |
| US3459480A (en) | Modified flickering beam spectrophotometer producing digitized output | |
| JPH04326025A (ja) | 分光光度計 | |
| JPH0434088B2 (ja) | ||
| JPS63206624A (ja) | 波長走査型分光器 |