JPH04326025A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH04326025A JPH04326025A JP12468091A JP12468091A JPH04326025A JP H04326025 A JPH04326025 A JP H04326025A JP 12468091 A JP12468091 A JP 12468091A JP 12468091 A JP12468091 A JP 12468091A JP H04326025 A JPH04326025 A JP H04326025A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diffraction grating
- wavelength
- memory
- laser light
- detection signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、波長走査を行う分光光
度計に関する。
度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の回折格子駆動方式は、サインバー
によるものが主である。これは送りナットの駆動量が波
長に比例すると云う機構で、分光器を或る波長に設定す
る場合、その波長にするための波長０からの移動量をも
とめ、その移動量の分だけ送りナット送りねじを回転さ
せるものである。しかし、この方式では、機械的な遊び
等により、移動させたつもりの波長分だけ回折格子が回
転していない場合がある。また、回折格子の回転位置を
絶対的に検出していないので、繰り返し波長走査を行っ
た場合、遊びにより所望位置に設定されていない場合が
起きるため、再現性に問題があり、近赤外分光分析での
重回帰分析のように、絶対波長よりも繰り返し波長再現
性が性能に大きく影響を与える測定等においては、サイ
ンバー方式によるこの欠点は、致命的な問題点となる。
によるものが主である。これは送りナットの駆動量が波
長に比例すると云う機構で、分光器を或る波長に設定す
る場合、その波長にするための波長０からの移動量をも
とめ、その移動量の分だけ送りナット送りねじを回転さ
せるものである。しかし、この方式では、機械的な遊び
等により、移動させたつもりの波長分だけ回折格子が回
転していない場合がある。また、回折格子の回転位置を
絶対的に検出していないので、繰り返し波長走査を行っ
た場合、遊びにより所望位置に設定されていない場合が
起きるため、再現性に問題があり、近赤外分光分析での
重回帰分析のように、絶対波長よりも繰り返し波長再現
性が性能に大きく影響を与える測定等においては、サイ
ンバー方式によるこの欠点は、致命的な問題点となる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、回折格子の
回転位置と波長とを対応づける上述したような機械的方
法の問題点を解消することを目的とする。
回転位置と波長とを対応づける上述したような機械的方
法の問題点を解消することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】分光光度計において、回
折格子の角位置を直接検出する非機械的角位置検出手段
と、測定光の光強度を検出する光強度検出手段と、上記
光強度検出手段からの検出信号と上記位置検出手段から
の位置信号とを同期並列して記憶する手段を設けるよう
にした。
折格子の角位置を直接検出する非機械的角位置検出手段
と、測定光の光強度を検出する光強度検出手段と、上記
光強度検出手段からの検出信号と上記位置検出手段から
の位置信号とを同期並列して記憶する手段を設けるよう
にした。
【０００５】
【作用】本発明は、回折格子の角位置を間に機械的な機
構を介在させないで直接検出するもので、この方法によ
れば、位置検出信号が駆動機構における遊びの影響を受
けることなく入手できるので、回折格子の回転位置を高
精度で読み取ることが可能になり、繰り返し波長制御の
再現性が非常に高くなる。また、波長走査して、回折格
子の回転位置の検出信号と、測定光の検出信号を同期し
て読み込むことにより、繰返し高速スキャンでも信号強
度と波長とを対応させた組データ即ちスペクトルデータ
を相互に波長のずれなしに再現性良く得ることが可能に
なり、高速・高精度の分光分析が可能になる。
構を介在させないで直接検出するもので、この方法によ
れば、位置検出信号が駆動機構における遊びの影響を受
けることなく入手できるので、回折格子の回転位置を高
精度で読み取ることが可能になり、繰り返し波長制御の
再現性が非常に高くなる。また、波長走査して、回折格
子の回転位置の検出信号と、測定光の検出信号を同期し
て読み込むことにより、繰返し高速スキャンでも信号強
度と波長とを対応させた組データ即ちスペクトルデータ
を相互に波長のずれなしに再現性良く得ることが可能に
なり、高速・高精度の分光分析が可能になる。
【０００６】
【実施例】図１に本発明の一実施例を示す。１は光源か
らの光を分光する回折格子、２は円盤状の回折格子保持
台、３は回折格子保持台２に固定された半導体レーザー
、４は半導体レーザー３から発せられたレーザー光の投
光位置を検出するフォトダイオードアレイ、Ｓは試料、
５は光検出器で、試料を透過した分光光を検出する。６
はサンプルホールド回路で、検出信号をＣＰＵ９からの
同期信号により検出器５よりサンプリングし、ＡＤ変換
回路８に出力する。７は位置検出回路で、ＣＰＵ９から
のクロック信号によりフォトダイオードアレイ４におけ
るレーザー光の入射位置を検出する。即ち、ＣＰＵ９は
クロックパルスを発信してカウンタ７１で計数し、この
計数出力をアドレス指定信号として、フォトダイオード
アレイ４の各単位素子の出力を順次読出すことでフォト
ダイオードアレイ４を繰返し走査している。この走査周
期は回折格子１の波長駆動速度に比し短く設定してある
。ＣＰＵ９はフォトダイオードアレイ４から設定レベル
以上の出力が読出されたとき、カウンタ７１の計数出力
をラッチ回路７２にラッチすると共に、その検出器５の
出力をサンプルホールドし、ラッチされたカウンタ計数
値をメモリ１０のアドレス指定データとして、測光デー
タをメモリ１０に格納する。従って、得られるレーザー
光位置信号は、同時に得られる測定光検出信号の回折格
子１の回転位置を表している。ＡＤ変換回路８はアナロ
グ信号をデジタル信号の測光データに変換する。ＣＰＵ
９は回折格子保持台２の回転駆動制御を行い、測定光検
出信号に対応した位置検出データをメモリ１０のアドレ
ス指定データとして測光データとしてメモリ１０に読み
込ませる。メモリ１０に記憶させた測光データを順次読
出し、アドレスデータを予め作成した波長変換表により
波長に変換し、スペクトル波形として表示する。
らの光を分光する回折格子、２は円盤状の回折格子保持
台、３は回折格子保持台２に固定された半導体レーザー
、４は半導体レーザー３から発せられたレーザー光の投
光位置を検出するフォトダイオードアレイ、Ｓは試料、
５は光検出器で、試料を透過した分光光を検出する。６
はサンプルホールド回路で、検出信号をＣＰＵ９からの
同期信号により検出器５よりサンプリングし、ＡＤ変換
回路８に出力する。７は位置検出回路で、ＣＰＵ９から
のクロック信号によりフォトダイオードアレイ４におけ
るレーザー光の入射位置を検出する。即ち、ＣＰＵ９は
クロックパルスを発信してカウンタ７１で計数し、この
計数出力をアドレス指定信号として、フォトダイオード
アレイ４の各単位素子の出力を順次読出すことでフォト
ダイオードアレイ４を繰返し走査している。この走査周
期は回折格子１の波長駆動速度に比し短く設定してある
。ＣＰＵ９はフォトダイオードアレイ４から設定レベル
以上の出力が読出されたとき、カウンタ７１の計数出力
をラッチ回路７２にラッチすると共に、その検出器５の
出力をサンプルホールドし、ラッチされたカウンタ計数
値をメモリ１０のアドレス指定データとして、測光デー
タをメモリ１０に格納する。従って、得られるレーザー
光位置信号は、同時に得られる測定光検出信号の回折格
子１の回転位置を表している。ＡＤ変換回路８はアナロ
グ信号をデジタル信号の測光データに変換する。ＣＰＵ
９は回折格子保持台２の回転駆動制御を行い、測定光検
出信号に対応した位置検出データをメモリ１０のアドレ
ス指定データとして測光データとしてメモリ１０に読み
込ませる。メモリ１０に記憶させた測光データを順次読
出し、アドレスデータを予め作成した波長変換表により
波長に変換し、スペクトル波形として表示する。
【０００７】上記実施例では、回折格子の回転位置を、
回折格子保持台に取り付けた半導体レーザーから出射さ
れるレーザー光の投光位置を、フォトダイオードアレイ
で検出することにより行っているが、円盤状の回折格子
保持台の円周面に磁気情報を書き込み、その磁気情報を
ホール素子等で検出することで、回折格子の回転位置を
検出しても同様の効果が得られる。
回折格子保持台に取り付けた半導体レーザーから出射さ
れるレーザー光の投光位置を、フォトダイオードアレイ
で検出することにより行っているが、円盤状の回折格子
保持台の円周面に磁気情報を書き込み、その磁気情報を
ホール素子等で検出することで、回折格子の回転位置を
検出しても同様の効果が得られる。
【０００８】
【発明の効果】本発明によれば、機械的遊びとか摩耗の
影響を全く受けず、回折格子の回転位置を高精度で検出
することが可能になり、繰り返し波長再現性が高くなる
と共に、波長走査して、回折格子位置検出信号を測定光
検出信号と同期して読み込むことにより、機械的な問題
がないから分光分析を高精度・高速度で行えるようにな
った。
影響を全く受けず、回折格子の回転位置を高精度で検出
することが可能になり、繰り返し波長再現性が高くなる
と共に、波長走査して、回折格子位置検出信号を測定光
検出信号と同期して読み込むことにより、機械的な問題
がないから分光分析を高精度・高速度で行えるようにな
った。
【図１】本発明の一実施例のブロック図
Ｓ 試料
１ 回折格子
２ 回折格子保持台
３ 半導体レーザー
４ フォトダイオードアレイ
５ 検出器
６ サンプルホールド回路
７ 位置検出回路
８ ＡＤ変換回路
９ ＣＰＵ
１０ メモリ
７１ カウンタ
７２ ラッチ回路
Claims (1)
- 【請求項１】回折格子の角位置を直接検出する非機械的
角位置検出手段と、測定光の光強度を検出する光強度検
出手段と、上記光強度検出手段からの検出信号と上記位
置検出手段からの位置信号とを同期並列して記憶する手
段を設けたことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12468091A JPH04326025A (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12468091A JPH04326025A (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04326025A true JPH04326025A (ja) | 1992-11-16 |
Family
ID=14891417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12468091A Pending JPH04326025A (ja) | 1991-04-25 | 1991-04-25 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04326025A (ja) |
-
1991
- 1991-04-25 JP JP12468091A patent/JPH04326025A/ja active Pending
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