JPH02201233A - 分布型光ファイバ温度センサ及び温度測定方法 - Google Patents

分布型光ファイバ温度センサ及び温度測定方法

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JPH02201233A
JPH02201233A JP1019820A JP1982089A JPH02201233A JP H02201233 A JPH02201233 A JP H02201233A JP 1019820 A JP1019820 A JP 1019820A JP 1982089 A JP1982089 A JP 1982089A JP H02201233 A JPH02201233 A JP H02201233A
Authority
JP
Japan
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temperature
fiber
measured
optical fiber
light
Prior art date
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Pending
Application number
JP1019820A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihiro Imai
今井 俊宏
Yuzuru Tanabe
譲 田辺
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AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野] 本発明は、分布型光ファイバ温度センサ及び温度測定方
法に係り、特に被測定ファイバのラマン散乱光のうち反
ストークス光の強度から絶対的温度分布を測定する分布
型光ファイバ温度センサ及び温度測定方法に関するもの
である。 [従来の技術] 光ファイバに高ビークパワーのパルスレーザ光を入射し
た時に生じるラマン散乱光を0TDR法により検出し、
光ファイバに沿った任意の位置の温度を連続的に測定す
る分布型光ファイバ温度センサは知られている。また、
ラマン散乱光を用いる分布型光ファイバ温度センサは、
大別すると次の2方式に分けられる。 (1)反ストークス光のみを検出し、その強度から温度
分布を測定する方法。 (2)反ストークス光とストークス光の強度比を検出し
、温度分布を測定する方法。 本発明は上記(1)の測定方法の以下に示すような問題
点を解消しようとするものである。 [発明の解決しようとする課題] 従来の分布型光ファイバ温度センサの基本的構成を第3
図に示す、光源の半導体レーザ12からのパルスレーザ
光は音響光学素子等の光方向性結合器13を通過し、被
測定ファイバ14に導かれる。被測定ファイバ14から
は、入射光量に応じたラマン散乱光が発生する0発生す
るラマン散乱光中のストークス光1反ストークス光のう
ち、反ストークス光のみをCCD等の検出器15にて検
出後、信号処理装置16において、tooo。 同程度の平均化処理を行なう、処理された信号はコンピ
ューター17によりデータとして表示される。この例で
は、検出器15.信号処理装置16、コンピューター1
7を合わせて測定装置としている。パルス発振器11は
、半導体レーザ12の駆動及び信号処理装置16のトリ
ガ信号の発振を行う。この系において問題となるのは検
出光として反ストークス光のみを用いるので、被測定フ
ァイバ14の温度変化を、相対的にしか知ることができ
ないことであった。即ち、周辺の温度が変化すると測定
値が変化してしまい、絶対的な温度測定ができないとい
う問題を有していた。
【課題を解決するための手段】
本発明は、前述の問題点を解決すべ(なされたものであ
り、被測定ファイバへパルスレーザ光を入射する光源と
、被測定ファイバからのラマン散乱光を測定装置へ光路
変換する光方向性結合器と、該ラマン散乱光の距離に関
する強度分布から被測定ファイバの温度分布を測定する
測定装置とからなる分布型光ファイバ温度センサにおい
て1、該被測定ファイバの一部を一定温度に保持する恒
温装置を設けたことを特徴とする分布型光ファイバ温度
センサ及びその一部に温度を一定に保持する恒温装置を
設けた被測定ファイバへ光源より発振したパルスレーザ
光を入射し、該被測定ファイバからのラマン散乱光を光
方向性結合器により測定装置へ導光し、該恒温装置が設
けられた部分を基準温度部とし、該基準温度部の反スト
ークス光強度と他の部分の反ストークス強度を比較する
ことにより被測定ファイバの絶対的温度分布を測定する
ことを特徴とする温度測定方法を提供するものである。 【作用] 本発明において、被測定ファイバ中に設けられたベルチ
ェ素子等の恒温装置は、恒温装置の設けられた被測定フ
ァイバの部分を既知の一定温度に保ち、それ以外の範囲
における温度変化に対して、基準温度部となる。よって
、基準温度に対する温度変化量に関する反ストークス光
強度の変化量を任意の点でコンピューターに記憶してお
けば、被測定ファイバの任意の点の絶対温度を計測する
ことができる。 [実施例] 本発明の実施例を第1図と第2図に示す。 光源の半導体レーザ2からのパルスレーザ光は音響光学
素子等の光方向性結合器3を通過し、被測定ファイバ4
に導かれる。被測定ファイバ4からは、入射光量に応じ
たラマン散乱光が発生する0発生するラマン散乱光中の
ストークス光1反ストークス光のうち、反ストークス光
のみをCCD等の検出器5にて検出後、信号処理装置6
において、10000回程度の平均化処理を行なう、処
理された信号はコンピューター7によりデータとして表
示される。この例では、検出器5、信号処理装置6、コ
ンピューター7を合わせて測定装置としている。パルス
発振器1は、半導体レーザ2の駆動及び信号処理装置6
のトリガ信号の発振を行なう、基準温度部lOとなる部
分は、素線もしくは心線で直径30mm程度のベルチェ
素子8を内蔵したドラムに巻かれる0巻かれる被測定フ
ァイバ4の長さは、システムにおける分解能により異な
るが、分解能程度以上、即ち分解能が±10 m程度の
場合20 ra程度以上巻きつければ十分である。実際
には短いほどよいのでこの例では20 mとされればよ
い。又、この部分の温度が常に一定になるように、コン
ピューター7により温度コントローラー9を通じて制御
される。 測定データの処理例を第2図に示す。通常、被測定ファ
イバからのラマン散乱光強度の距離に関する信号波形は
、eの指数関数で表わされる減衰曲線となる。しかし、
本発明においては、基準温度に対する温度変化量に関す
る反ストークス光強度の変化量を任意の点でコンビエー
タ−に記憶しておき、絶対的な温度変化のみを取り出し
表示するよう処理している。従って、第2図に示すよう
温度変化のない部分は、距離に関して減衰曲線とならず
平坦な直線状となり、温度変化のあった部分のみを表示
できる。 また、基準温度部を作り出す恒温装置は、室温よりも高
温に保ってもよいし、低温に保ってもよく、ペルチェ素
子の他に電熱線を内蔵した恒温槽等が使用でき、基準温
度としては約20℃〜30℃の室温レベルが好ましい。 [発明の効果] 本発明は、反ストークス光強度を基準温度部と比較して
被測定ファイバの絶対的温度分布を測定できるという優
れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図と第2図は本発明の実施例を示し、第1図は分布
型光ファイバ温度センサのブロック図であり、第2図は
コンピューターによって処理されたデータの表示例を示
すグラフであり、第3図は従来の分布型光ファイバ温度
センサのブロック図である。 4・・・被測定ファイバ  7・・・コンピューター8
・・・ペルチェ素子 第1図 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定ファイバへパルスレーザ光を入射する光源
    と、被測定ファイバからのラマン散乱光を測定装置へ光
    路変換する光方向性結合器と、該ラマン散乱光の距離に
    関する強度分布から被測定ファイバの温度分布を測定す
    る測定装置とからなる分布型光ファイバ温度センサにお
    いて、該被測定ファイバの一部を一定温度に保持する恒
    温装置を設けたことを特徴とする分布型光ファイバ温度
    センサ。
  2. (2)その一部に温度を一定に保持する恒温装置を設け
    た被測定ファイバへ光源より発振したパルスレーザ光を
    入射し、該被測定ファイバからのラマン散乱光を光方向
    性結合器により測定装置へ導光し、該恒温装置が設けら
    れた部分を基準温度部とし、該基準温度部の反ストーク
    ス光強度と他の部分の反ストークス光強度を比較するこ
    とにより被測定ファイバの絶対的温度分布を測定するこ
    とを特徴とする温度測定方法。
JP1019820A 1989-01-31 1989-01-31 分布型光ファイバ温度センサ及び温度測定方法 Pending JPH02201233A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05157635A (ja) * 1991-12-03 1993-06-25 Tokyo Electric Power Co Inc:The 光ファイバ式温度分布測定装置
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