JPH04318432A - 光ファイバセンサによる分布温度測定方法 - Google Patents
光ファイバセンサによる分布温度測定方法Info
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- JPH04318432A JPH04318432A JP3085202A JP8520291A JPH04318432A JP H04318432 A JPH04318432 A JP H04318432A JP 3085202 A JP3085202 A JP 3085202A JP 8520291 A JP8520291 A JP 8520291A JP H04318432 A JPH04318432 A JP H04318432A
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、測温部に光ファイバ
センサを用いて分布温度を測定する方法に関する。
センサを用いて分布温度を測定する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば海洋において、海表面から海底に
至る温度変化のように距離と共に徐々に変化する温度(
以下分布温度という)を測定する場合、従来の熱電対を
用いる方法では膨大な数の熱電対を必要とし、距離が長
くなると不利である。そこで、分布温度を光ファイバセ
ンサを用いて測定する方法が最近盛んに行なわれつつあ
る。この測定方法の概略は、次のような方法である。 例えばレーザダイオードを駆動して基準波長の光パルス
信号を送り出して光ファイバセンサの入射端に入射し、
光ファイバの長さ方向の各部分で光散乱して入射端に戻
ってくる後方散乱光を光方向性結合器により取り出し、
その中から異なる2つの波長フィルタを介してラマン散
乱光のストークス光と反ストークス光を取り出して受光
素子でそれぞれ電気信号に変換し、受光信号の時間が表
わす光ファイバの長さ方向位置ごとの分布温度を上記信
号の受光パワーから所定の演算式に基づいて算出して測
定するというものである。この場合、使用されている光
ファイバセンサは単一の光ファイバである。
至る温度変化のように距離と共に徐々に変化する温度(
以下分布温度という)を測定する場合、従来の熱電対を
用いる方法では膨大な数の熱電対を必要とし、距離が長
くなると不利である。そこで、分布温度を光ファイバセ
ンサを用いて測定する方法が最近盛んに行なわれつつあ
る。この測定方法の概略は、次のような方法である。 例えばレーザダイオードを駆動して基準波長の光パルス
信号を送り出して光ファイバセンサの入射端に入射し、
光ファイバの長さ方向の各部分で光散乱して入射端に戻
ってくる後方散乱光を光方向性結合器により取り出し、
その中から異なる2つの波長フィルタを介してラマン散
乱光のストークス光と反ストークス光を取り出して受光
素子でそれぞれ電気信号に変換し、受光信号の時間が表
わす光ファイバの長さ方向位置ごとの分布温度を上記信
号の受光パワーから所定の演算式に基づいて算出して測
定するというものである。この場合、使用されている光
ファイバセンサは単一の光ファイバである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した光
ファイバセンサを用いた分布温度の測定方法は、低コス
トで広範囲の分布計測ができる点で従来の熱電対方式の
ものに比べて優れている。しかしながら、現在のところ
一般的には光ファイバセンサによる測定方法は、従来の
熱電対方式のものに比べて測定精度が劣っている。おお
よそのところ測定距離は数Km、距離分解能は数m、測
定精度は±1℃である。
ファイバセンサを用いた分布温度の測定方法は、低コス
トで広範囲の分布計測ができる点で従来の熱電対方式の
ものに比べて優れている。しかしながら、現在のところ
一般的には光ファイバセンサによる測定方法は、従来の
熱電対方式のものに比べて測定精度が劣っている。おお
よそのところ測定距離は数Km、距離分解能は数m、測
定精度は±1℃である。
【0004】上記従来の光ファイバセンサによる測定方
法では、光ファイバは単一光ファイバであるため任意の
長さ位置における測定データはただ一種類であり、信頼
性に欠ける。このため、測定精度を得るべく受光信号を
電気信号に変換したものを同一点に対して所定のサンプ
リング時間内に何度も繰り返して加算平均してS/N比
を上げる。この信号をさらに長い時間内で平均化処理を
して所定の演算式により温度分布を求めている。
法では、光ファイバは単一光ファイバであるため任意の
長さ位置における測定データはただ一種類であり、信頼
性に欠ける。このため、測定精度を得るべく受光信号を
電気信号に変換したものを同一点に対して所定のサンプ
リング時間内に何度も繰り返して加算平均してS/N比
を上げる。この信号をさらに長い時間内で平均化処理を
して所定の演算式により温度分布を求めている。
【0005】しかし、このデータ処理方法では単に加算
平均しているだけであるため、ある程度以上加算処理し
てもそれ以上は測定精度が得られず限界がある。上記の
問題に加えてさらに、光ファイバセンサの測温データは
、光ファイバの持つ伝送損失の波長依存性、即ちストー
クス光と反ストークス光の波長の差(80mm程度)に
よる伝送損失の違いがある。このため、仮りに均一な温
度分布域を測定しても大きく傾いた温度分布を示すこと
がある。この伝搬損失差は、さらに周囲温度にも依存し
て変化する。また、レーザ光源の温度変化によっても同
様な分布を示す場合がある。
平均しているだけであるため、ある程度以上加算処理し
てもそれ以上は測定精度が得られず限界がある。上記の
問題に加えてさらに、光ファイバセンサの測温データは
、光ファイバの持つ伝送損失の波長依存性、即ちストー
クス光と反ストークス光の波長の差(80mm程度)に
よる伝送損失の違いがある。このため、仮りに均一な温
度分布域を測定しても大きく傾いた温度分布を示すこと
がある。この伝搬損失差は、さらに周囲温度にも依存し
て変化する。また、レーザ光源の温度変化によっても同
様な分布を示す場合がある。
【0006】このため、従来は光ファイバセンサの両端
に近い温度を別々の基準測定手段で測定しておき、この
基準データを用いて上記測定データを後の解析時に修正
する必要があった。従って、補正のための基準測温手段
として少なくとも2つ以上の複数組の温度計を必要とし
、異なる2点以上の点で測定するため手間がかかる等の
不利があった。また、例えば測温データの一部が極端な
値を示していた場合などにそれがセンサの異常によるも
のが真の温度かの区別が困難であり、後の測温データの
解析時に判断し難くいという問題もあった。
に近い温度を別々の基準測定手段で測定しておき、この
基準データを用いて上記測定データを後の解析時に修正
する必要があった。従って、補正のための基準測温手段
として少なくとも2つ以上の複数組の温度計を必要とし
、異なる2点以上の点で測定するため手間がかかる等の
不利があった。また、例えば測温データの一部が極端な
値を示していた場合などにそれがセンサの異常によるも
のが真の温度かの区別が困難であり、後の測温データの
解析時に判断し難くいという問題もあった。
【0007】この発明は、以上のような従来の光ファイ
バセンサを用いた分布温度の測定方法に伴なう種々の問
題点に鑑みてなされたものであり、同一点に対して2以
上の光信号が得られる光ファイバセンサを用いて測定し
た光信号から測温データを得る際に種々の要因により測
定時に生ずる測温データの誤差を、その要因による影響
を補正する処理を同時に加えて最小限に抑え、より測定
精度の高い測温データを与えることができる分布温度の
測定方法を提供することを課題とする。
バセンサを用いた分布温度の測定方法に伴なう種々の問
題点に鑑みてなされたものであり、同一点に対して2以
上の光信号が得られる光ファイバセンサを用いて測定し
た光信号から測温データを得る際に種々の要因により測
定時に生ずる測温データの誤差を、その要因による影響
を補正する処理を同時に加えて最小限に抑え、より測定
精度の高い測温データを与えることができる分布温度の
測定方法を提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
この発明は、その長さ端で折返した少なくとも2芯の光
ファイバから成る光ファイバ分布温度センサを用いてセ
ンサの任意の位置の温度を表わす少なくとも2箇所の光
信号を得、これらを電気信号に変換して分布温度を測定
し、その際測定データの対称性を利用してセンサの同一
点に対して他の基準測温手段で測定した基準温度データ
に基づいて測定データに補正を加えるようにした光ファ
イバセンサによる分布温度測定方法としたのである。
この発明は、その長さ端で折返した少なくとも2芯の光
ファイバから成る光ファイバ分布温度センサを用いてセ
ンサの任意の位置の温度を表わす少なくとも2箇所の光
信号を得、これらを電気信号に変換して分布温度を測定
し、その際測定データの対称性を利用してセンサの同一
点に対して他の基準測温手段で測定した基準温度データ
に基づいて測定データに補正を加えるようにした光ファ
イバセンサによる分布温度測定方法としたのである。
【0009】上記測定方法においては、光源から基準波
長の光パルス信号を送り出して前記光ファイバセンサの
入射端に入射し、前記少なくとも2箇所の光信号のそれ
ぞれを得るために光ファイバの長さ方向の各部分で光散
乱して入射端に戻ってくるそれぞれの後方散乱光を光方
向性結合器により取り出し、そのストークス光と反スト
ークス光を受光素子でそれぞれ受光して電気信号に変換
し、受光信号の時間が表わす光ファイバの長さ方向位置
ごとの分布温度を上記信号の受光パワーから所定の演算
式に基づいて算出して分布温度を測定するようにすれば
よい。
長の光パルス信号を送り出して前記光ファイバセンサの
入射端に入射し、前記少なくとも2箇所の光信号のそれ
ぞれを得るために光ファイバの長さ方向の各部分で光散
乱して入射端に戻ってくるそれぞれの後方散乱光を光方
向性結合器により取り出し、そのストークス光と反スト
ークス光を受光素子でそれぞれ受光して電気信号に変換
し、受光信号の時間が表わす光ファイバの長さ方向位置
ごとの分布温度を上記信号の受光パワーから所定の演算
式に基づいて算出して分布温度を測定するようにすれば
よい。
【0010】
【作用】この発明による上記分布温度測定方法の測定原
理は、次のように行なわれる。図7に示すように、光フ
ァイバセンサの入射端に光源から基準波長λoの光パル
ス信号を入射すると、光の通過する各部分ではガラス媒
質により弾性散乱であるレイリー散乱と非弾性散乱であ
るラマン散乱光が発生する。ラマン散乱は光ファイバの
ガラスの分子振動と通過光パルスとの非弾性衝突による
もので、基準波長の入射光に対してその分子振動数に対
応する波長分だけシフトして長波長側にストークス光(
+Δλ)が、短波長側に反ストークス光(−Δλ)が発
生する。
理は、次のように行なわれる。図7に示すように、光フ
ァイバセンサの入射端に光源から基準波長λoの光パル
ス信号を入射すると、光の通過する各部分ではガラス媒
質により弾性散乱であるレイリー散乱と非弾性散乱であ
るラマン散乱光が発生する。ラマン散乱は光ファイバの
ガラスの分子振動と通過光パルスとの非弾性衝突による
もので、基準波長の入射光に対してその分子振動数に対
応する波長分だけシフトして長波長側にストークス光(
+Δλ)が、短波長側に反ストークス光(−Δλ)が発
生する。
【0011】上記散乱光のうち光ファイバの入射端に戻
ってくる光を後方散乱光と呼ぶが、特にラマン散乱光の
強度は温度の影響を受けて変化するため、これを利用し
て温度測定を行なう。
ってくる光を後方散乱光と呼ぶが、特にラマン散乱光の
強度は温度の影響を受けて変化するため、これを利用し
て温度測定を行なう。
【0012】光ファイバ中の光の速度は分っているので
パスル入射から光検出までの時間は検出された散乱光が
発生した場所と入射端との距離Rを表わす。光ファイバ
の構成材料と入射光の波長が決まれば、ラマン散乱のス
トークス光(λS =λO +Δλ)と反ストークス光
(λa =λO −Δλ)との受光パワーの比を取り、
次式によって温度を求めることができる。 R=(c/2n)・Δt
(1)Ia/Is
=(λS /λa )4 exp(−(hcν)/kT
)(2)ただし、c:真空中の光速度、 n:光ファイバの屈折率、 Δt:パルス入射から光検出までの時間、Ia:反スト
ークス光強度、 Is:ストークス光強度、 λa:反ストークス光波長、 λs:ストークス光波長、 h:プランク定数、 k:ボルツマン定数、 ν:ラマンシフト量、 上述した後方散乱光は検出器内の光方向性結合器により
分離されて取り出され、ラマン散乱のストークス光と反
ストークス光とは異なる波長のフィルタを介して別個に
取り出されるが、その光信号さ極微弱であるため、雑音
除去のための充分な加算平均を行ないS/N比を上げて
測定する。
パスル入射から光検出までの時間は検出された散乱光が
発生した場所と入射端との距離Rを表わす。光ファイバ
の構成材料と入射光の波長が決まれば、ラマン散乱のス
トークス光(λS =λO +Δλ)と反ストークス光
(λa =λO −Δλ)との受光パワーの比を取り、
次式によって温度を求めることができる。 R=(c/2n)・Δt
(1)Ia/Is
=(λS /λa )4 exp(−(hcν)/kT
)(2)ただし、c:真空中の光速度、 n:光ファイバの屈折率、 Δt:パルス入射から光検出までの時間、Ia:反スト
ークス光強度、 Is:ストークス光強度、 λa:反ストークス光波長、 λs:ストークス光波長、 h:プランク定数、 k:ボルツマン定数、 ν:ラマンシフト量、 上述した後方散乱光は検出器内の光方向性結合器により
分離されて取り出され、ラマン散乱のストークス光と反
ストークス光とは異なる波長のフィルタを介して別個に
取り出されるが、その光信号さ極微弱であるため、雑音
除去のための充分な加算平均を行ないS/N比を上げて
測定する。
【0013】上記(1)、(2)式から演算によって距
離Rに対する温度を求めると、図8のように光ファイバ
の長手方向の温度分布が得られる。このようにして得ら
れる分布温度のデータは、この発明による測定方法では
、光ファイバセンサ内で光ファイバを折返しているため
、同一地点の温度を光ファイバの2ヶ所で測定して得ら
れるから、折返端を中心にして左右対称なデータとなる
。従って、まずその対称性を利用して折返端の位置が正
確に求められる。
離Rに対する温度を求めると、図8のように光ファイバ
の長手方向の温度分布が得られる。このようにして得ら
れる分布温度のデータは、この発明による測定方法では
、光ファイバセンサ内で光ファイバを折返しているため
、同一地点の温度を光ファイバの2ヶ所で測定して得ら
れるから、折返端を中心にして左右対称なデータとなる
。従って、まずその対称性を利用して折返端の位置が正
確に求められる。
【0014】光ファイバセンサの長さ位置を正確に求め
た後、それぞれの位置に対応する分布温度データを算出
する際に、別途測定された基準温度データに基づいて予
め補正が加えられる。その場合、データの対称性を利用
して左右のデータが折返端で対称となるように補正を加
える。上記補正は、光ファイバの持つ伝送損失の波長依
存性に基づいて伝送損失の差や、測定時における周囲温
度による影響、あるいは光源の温度変化による影響に対
して、適当な補正係数を(2)式に掛ける、あるいは補
正定数を加えることによって行なわれる。
た後、それぞれの位置に対応する分布温度データを算出
する際に、別途測定された基準温度データに基づいて予
め補正が加えられる。その場合、データの対称性を利用
して左右のデータが折返端で対称となるように補正を加
える。上記補正は、光ファイバの持つ伝送損失の波長依
存性に基づいて伝送損失の差や、測定時における周囲温
度による影響、あるいは光源の温度変化による影響に対
して、適当な補正係数を(2)式に掛ける、あるいは補
正定数を加えることによって行なわれる。
【0015】
【実施例】以下この発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1にこの実施例で用いられる光ファイバ
センサ1の概略構成を示す。このセンサ1は、光ファイ
バ1aをステンレス管2内に封入したもの2本と亜鉛メ
ッキ鉄線3の5本を寄り合せた光ファイバケーブルから
成る。光ファイバ1aは2乗の屈折率分布を持つ50μ
mのコアと125μmのクラッドから成るマルチモード
GI(Graded−Index)ファイバで、その外
側はナイロン被覆され外径は0.6mmである。ステン
レス管は外径1.7mm(内径1.4mm)で、光ファ
イバ1aとステンレス管2との隙間は防水混和物が満た
されている。亜鉛メッキ鉄線3は外径1.6mmで撚り
合せた光ファイバケーブルの全体外径は5mmのものを
使用している。そして光ファイバ1aは図示のようにセ
ンサの折返端4で折返され、2芯の光ファイバ1aでセ
ンサ1を構成している。
て説明する。図1にこの実施例で用いられる光ファイバ
センサ1の概略構成を示す。このセンサ1は、光ファイ
バ1aをステンレス管2内に封入したもの2本と亜鉛メ
ッキ鉄線3の5本を寄り合せた光ファイバケーブルから
成る。光ファイバ1aは2乗の屈折率分布を持つ50μ
mのコアと125μmのクラッドから成るマルチモード
GI(Graded−Index)ファイバで、その外
側はナイロン被覆され外径は0.6mmである。ステン
レス管は外径1.7mm(内径1.4mm)で、光ファ
イバ1aとステンレス管2との隙間は防水混和物が満た
されている。亜鉛メッキ鉄線3は外径1.6mmで撚り
合せた光ファイバケーブルの全体外径は5mmのものを
使用している。そして光ファイバ1aは図示のようにセ
ンサの折返端4で折返され、2芯の光ファイバ1aでセ
ンサ1を構成している。
【0016】上記光ファイバセンサ1は図2に示すよう
に分布温度測定部10に対してコネクタ11を介して接
続されている。この分布温度測定部10は、制御回路1
2からの制御によりLD駆動部13を駆動して半導体レ
ーザ光源13aからのレーザパルス信号のうち波長λo
の光信号をフィルタ13bを介して光ファイバセンサ1
の光ファイバ1aに送り込む。光ファイバ中の各部分で
生じた後方散乱光は光方向性結合器14で分離して取り
出され、もう1つの光方向性結合器14’と2つのフィ
ルタ15(λa)、15’(λs)を介して2つのフォ
トダイオード16、16’で受光され、受光回路17で
電気信号に変換される。
に分布温度測定部10に対してコネクタ11を介して接
続されている。この分布温度測定部10は、制御回路1
2からの制御によりLD駆動部13を駆動して半導体レ
ーザ光源13aからのレーザパルス信号のうち波長λo
の光信号をフィルタ13bを介して光ファイバセンサ1
の光ファイバ1aに送り込む。光ファイバ中の各部分で
生じた後方散乱光は光方向性結合器14で分離して取り
出され、もう1つの光方向性結合器14’と2つのフィ
ルタ15(λa)、15’(λs)を介して2つのフォ
トダイオード16、16’で受光され、受光回路17で
電気信号に変換される。
【0017】この測定信号は加算メモリ18へ送られ記
憶される。この場合、後方散乱光は極微弱であるため、
上記受光回路17で所定のサンプリング時間内でA/D
変換した後これを繰り返して高速度で加算平均し、その
結果を上記加算メモリ18に記憶すると共にインタフェ
ース19を介して送り出す。上記測定信号は次の演算処
理部20(制御用パーソナルコンピュータ)で温度デー
タに変換される。この演算処理部20は、上記測定信号
をインタフェース21を介してマイクロコンピュータ2
2へ送り込んで演算処理するように構成されている。
憶される。この場合、後方散乱光は極微弱であるため、
上記受光回路17で所定のサンプリング時間内でA/D
変換した後これを繰り返して高速度で加算平均し、その
結果を上記加算メモリ18に記憶すると共にインタフェ
ース19を介して送り出す。上記測定信号は次の演算処
理部20(制御用パーソナルコンピュータ)で温度デー
タに変換される。この演算処理部20は、上記測定信号
をインタフェース21を介してマイクロコンピュータ2
2へ送り込んで演算処理するように構成されている。
【0018】マイクロコンピュータ22では、中央演算
処理部(以下CPUという)23の指令により平均化処
理部24でデータの平均化処理を行なう。この場合の平
均化処理は、分布温度測定部10でのサンプリング時間
より長い、例えば1分間隔でセンサの同一点に対して得
られる測定データを平均化して行なわれる。次に、上記
測定データに対して補正処理部25で補正を加える。こ
の補正処理部25では、例えば光ファイバセンサの入射
端及び折返端付近の位置の温度を他の基準温度計(熱電
対など)で測定した値をキーボード30から直接又は補
正指数の形で間接的にCPU23へ送り、その基準温度
値又は補正指数により次の温度データ演算部26におい
て前述した所定の演算式から温度データを算出する際に
予め補正係数を与えるようにする。補正係数が与えられ
ると温度データ演算部26において所要の温度データが
得られる。温度データは表示器27に表示され、プリン
タ28で印字されると共にファイル29に記憶される。
処理部(以下CPUという)23の指令により平均化処
理部24でデータの平均化処理を行なう。この場合の平
均化処理は、分布温度測定部10でのサンプリング時間
より長い、例えば1分間隔でセンサの同一点に対して得
られる測定データを平均化して行なわれる。次に、上記
測定データに対して補正処理部25で補正を加える。こ
の補正処理部25では、例えば光ファイバセンサの入射
端及び折返端付近の位置の温度を他の基準温度計(熱電
対など)で測定した値をキーボード30から直接又は補
正指数の形で間接的にCPU23へ送り、その基準温度
値又は補正指数により次の温度データ演算部26におい
て前述した所定の演算式から温度データを算出する際に
予め補正係数を与えるようにする。補正係数が与えられ
ると温度データ演算部26において所要の温度データが
得られる。温度データは表示器27に表示され、プリン
タ28で印字されると共にファイル29に記憶される。
【0019】上記補正方法について図3、4を用いてさ
らに詳しく説明する。まず、一般的に光ファイバの折返
しのないセンサを用いて温度測定をし、その際上記のよ
うな補正を加えないままで信号を温度データに変換する
と、この温度データには種々の要因に基づく誤差が含ま
れる。この誤差を含む温度データを補正する場合、補正
手順には図3の(a)ドリフト、(b)傾き、(c)倍
率の3つの要素が含まれる。但し、図3のグラフは実験
室における恒温槽で測定した場合のデータであり、図中
実線は光ファイバセンサによる測定温度、点線は真の温
度である。中央部付近を特に冷却して矩形状のグラフと
なるようにしている。このグラフから分るように、測定
温度データを正しい真の温度に一致させるには、少なく
とも3点の真の温度情報が必要であり、しかも実際の測
定データは図示のような矩形状のグラフではなく、ラン
ダムで複雑な温度分布のグラフとなるため、精度を上げ
るためには多数点の実側値を必要とする。
らに詳しく説明する。まず、一般的に光ファイバの折返
しのないセンサを用いて温度測定をし、その際上記のよ
うな補正を加えないままで信号を温度データに変換する
と、この温度データには種々の要因に基づく誤差が含ま
れる。この誤差を含む温度データを補正する場合、補正
手順には図3の(a)ドリフト、(b)傾き、(c)倍
率の3つの要素が含まれる。但し、図3のグラフは実験
室における恒温槽で測定した場合のデータであり、図中
実線は光ファイバセンサによる測定温度、点線は真の温
度である。中央部付近を特に冷却して矩形状のグラフと
なるようにしている。このグラフから分るように、測定
温度データを正しい真の温度に一致させるには、少なく
とも3点の真の温度情報が必要であり、しかも実際の測
定データは図示のような矩形状のグラフではなく、ラン
ダムで複雑な温度分布のグラフとなるため、精度を上げ
るためには多数点の実側値を必要とする。
【0020】しかし、この実施例では前述の光ファイバ
を折返した2芯の光ファイバから成るセンサを用いてい
るから、得られるデータの対称性を利用すると共に真の
温度測定情報としてセンサ入射端及び折返点付近で測定
した最小限の真の温度データを用いて次のようにして補
正する。例として図4にこの実施例の光ファイバセンサ
1を用いて海水の温度分布の測定データ(実線)及び真
の温度分布(点線)を仮定したグラフの概略を示す。距
離は海水の深さを表わす。センサ入射端位置での真の温
度点をP1 、P2 、センサによる測定点をP1 ’
、P2 ’とする。真の温度点P1 、P2 の温度が
T℃であれば、(a)に示すようにP1 ’、P2 ’
の温度が先にTになるように調整する。この調整は、図
3で説明した温度ドリフト調整、傾きの調整について行
なう。従って、ドリフト調整は一定の値を加減算し、傾
き調整は距離に応じて変化する値を加減算することによ
って行なわれる。
を折返した2芯の光ファイバから成るセンサを用いてい
るから、得られるデータの対称性を利用すると共に真の
温度測定情報としてセンサ入射端及び折返点付近で測定
した最小限の真の温度データを用いて次のようにして補
正する。例として図4にこの実施例の光ファイバセンサ
1を用いて海水の温度分布の測定データ(実線)及び真
の温度分布(点線)を仮定したグラフの概略を示す。距
離は海水の深さを表わす。センサ入射端位置での真の温
度点をP1 、P2 、センサによる測定点をP1 ’
、P2 ’とする。真の温度点P1 、P2 の温度が
T℃であれば、(a)に示すようにP1 ’、P2 ’
の温度が先にTになるように調整する。この調整は、図
3で説明した温度ドリフト調整、傾きの調整について行
なう。従って、ドリフト調整は一定の値を加減算し、傾
き調整は距離に応じて変化する値を加減算することによ
って行なわれる。
【0021】次に(b)に示すように、(a)の調整を
してもなお折返端付近を中心にデータに差がある場合、
折返端を中心として一定の倍率を係数として与えてデー
タ調整する。このとき、倍率を決めるため折返端付近の
真の温度点P3 のデータを他の手段で測定して与える
。 こうして図形処理的な上記補正処理を加えることによっ
て図5のような温度データが得られる。なお、かかる補
正を加えてデータの補正を行なった場合、図6に示すよ
うなデータ異常、例えば(a)光ファイバの接続点の融
着ロス等によるもの、あるいは(b)温度異常によるも
のかの判別も直ちに判断できる((b)では左右対称に
温度異常点が現われている)。
してもなお折返端付近を中心にデータに差がある場合、
折返端を中心として一定の倍率を係数として与えてデー
タ調整する。このとき、倍率を決めるため折返端付近の
真の温度点P3 のデータを他の手段で測定して与える
。 こうして図形処理的な上記補正処理を加えることによっ
て図5のような温度データが得られる。なお、かかる補
正を加えてデータの補正を行なった場合、図6に示すよ
うなデータ異常、例えば(a)光ファイバの接続点の融
着ロス等によるもの、あるいは(b)温度異常によるも
のかの判別も直ちに判断できる((b)では左右対称に
温度異常点が現われている)。
【0022】
【効果】以上詳細に説明したように、この発明の分布温
度測定方法は光ファイバセンサにより同一点に対して2
以上の測定信号を測定しかつデータの対称性を利用して
その測定時の測定誤差に影響を与える要因それぞれを考
慮した補正を測定信号に加えて出来るだけ誤差が生じる
のを取り除いて測定するようにしたから、測定された温
度データは信頼性が高く、測定精度の極めて高い測定が
できるという効果がある。
度測定方法は光ファイバセンサにより同一点に対して2
以上の測定信号を測定しかつデータの対称性を利用して
その測定時の測定誤差に影響を与える要因それぞれを考
慮した補正を測定信号に加えて出来るだけ誤差が生じる
のを取り除いて測定するようにしたから、測定された温
度データは信頼性が高く、測定精度の極めて高い測定が
できるという効果がある。
【図1】実施例の光ファイバセンサの概略構成図
【図2
】実施例の分布温度測定装置の全体概略ブロック図
】実施例の分布温度測定装置の全体概略ブロック図
【図3】補正手順に含まれる補正の3要素の説明図
【図
4】実際の補正手順の説明図
4】実際の補正手順の説明図
【図5】測定された温度データの一例
【図6】温度異常等の説明図
【図7】測定原理を説明する図
【図8】測定原理を説明する図
1 光ファイバセンサ
10 分布温度測定部
20 演算処理部
25 補正処理部
26 温度データ演算部
Claims (2)
- 【請求項1】 その長さ端で折返した少なくとも2芯
の光ファイバから成る光ファイバ分布温度センサを用い
てセンサの任意の位置の温度を表わす少なくとも2箇所
の光信号を得、これらを電気信号に変換して分布温度を
測定し、その際測定データの対称性を利用してセンサの
同一点に対して他の基準測温手段で測定した基準温度デ
ータに基づいて測定データに補正を加えるようにしたこ
とを特徴とする光ファイバセンサによる分布温度測定方
法。 - 【請求項2】 光源から基準波長の光パルス信号を送
り出して前記光ファイバセンサの入射端に入射し、前記
少なくとも2箇所の光信号のそれぞれを得るために光フ
ァイバの長さ方向の各部分で光散乱して入射端に戻って
くるそれぞれの後方散乱光を光方向性結合器により取り
出し、そのストークス光と反ストークス光を受光素子で
それぞれ受光して電気信号に変換し、受光信号の時間が
表わす光ファイバの長さ方向位置ごとの分布温度を上記
信号の受光パワーから所定の演算式に基づいて算出して
分布温度を測定することを特徴とする請求項1に記載の
光ファイバセンサによる分布温度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3085202A JPH04318432A (ja) | 1991-04-17 | 1991-04-17 | 光ファイバセンサによる分布温度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3085202A JPH04318432A (ja) | 1991-04-17 | 1991-04-17 | 光ファイバセンサによる分布温度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04318432A true JPH04318432A (ja) | 1992-11-10 |
Family
ID=13852031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3085202A Pending JPH04318432A (ja) | 1991-04-17 | 1991-04-17 | 光ファイバセンサによる分布温度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04318432A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012052952A (ja) * | 2010-09-02 | 2012-03-15 | Yokogawa Electric Corp | 光ファイバ温度分布測定装置 |
| WO2012078287A1 (en) * | 2010-12-08 | 2012-06-14 | Baker Hughes Incorporated | System and method for distributed environmental parameter measurement |
| JP2013092388A (ja) * | 2011-10-24 | 2013-05-16 | Yokogawa Electric Corp | ファイバ温度分布測定装置 |
| WO2018211634A1 (ja) * | 2017-05-17 | 2018-11-22 | 富士通株式会社 | 温度測定装置、温度測定方法および温度測定プログラム |
-
1991
- 1991-04-17 JP JP3085202A patent/JPH04318432A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012052952A (ja) * | 2010-09-02 | 2012-03-15 | Yokogawa Electric Corp | 光ファイバ温度分布測定装置 |
| WO2012078287A1 (en) * | 2010-12-08 | 2012-06-14 | Baker Hughes Incorporated | System and method for distributed environmental parameter measurement |
| US8740455B2 (en) | 2010-12-08 | 2014-06-03 | Baker Hughes Incorporated | System and method for distributed environmental parameter measurement |
| JP2013092388A (ja) * | 2011-10-24 | 2013-05-16 | Yokogawa Electric Corp | ファイバ温度分布測定装置 |
| US9046425B2 (en) | 2011-10-24 | 2015-06-02 | Yokogawa Electric Corporation | Opticalfiber temperature distribution measurement apparatus |
| WO2018211634A1 (ja) * | 2017-05-17 | 2018-11-22 | 富士通株式会社 | 温度測定装置、温度測定方法および温度測定プログラム |
| JPWO2018211634A1 (ja) * | 2017-05-17 | 2019-12-19 | 富士通株式会社 | 温度測定装置、温度測定方法および温度測定プログラム |
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