JPH02204814A - リセツト信号発生装置 - Google Patents
リセツト信号発生装置Info
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- JPH02204814A JPH02204814A JP1025082A JP2508289A JPH02204814A JP H02204814 A JPH02204814 A JP H02204814A JP 1025082 A JP1025082 A JP 1025082A JP 2508289 A JP2508289 A JP 2508289A JP H02204814 A JPH02204814 A JP H02204814A
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Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体などから成る、たとえばワンチップマ
イクロコンピュータなどの処理装置へ与えられるリセッ
ト信号を発生するリセット信号発生装置に関する。
イクロコンピュータなどの処理装置へ与えられるリセッ
ト信号を発生するリセット信号発生装置に関する。
従来の技術
一般に、ワンチップマイクロコンピュータなどの半導体
から成る処理回路が駆動するためには、予め定められる
範囲のレベルを有する駆動電圧付勢が必要である。前記
レベルは、各処理回路を構成する半導体組成などによっ
て決定する値であり、前記レベル範囲の下限値(以下、
[最低動作電圧Jという、)Vnを下回る駆動電圧が付
勢されると、各処理回路はいわゆる暴走を引き起こし、
不処理状態、どなる。
から成る処理回路が駆動するためには、予め定められる
範囲のレベルを有する駆動電圧付勢が必要である。前記
レベルは、各処理回路を構成する半導体組成などによっ
て決定する値であり、前記レベル範囲の下限値(以下、
[最低動作電圧Jという、)Vnを下回る駆動電圧が付
勢されると、各処理回路はいわゆる暴走を引き起こし、
不処理状態、どなる。
一般に、自動車内には内燃機関などの制御のために、多
くの処理回路が設置されており、バッテリから生成され
る駆動電圧Vccが付勢され、前記処理回路は駆動する
。しかし、バッテリは消費時間や温度変化によって電圧
低下を生じるため、またはいわゆるクランキングと称さ
れ、バッテリが起動用モータなどの大きな負荷に電力付
勢する際には、駆動電圧V c cを低下させる傾向が
ある。
くの処理回路が設置されており、バッテリから生成され
る駆動電圧Vccが付勢され、前記処理回路は駆動する
。しかし、バッテリは消費時間や温度変化によって電圧
低下を生じるため、またはいわゆるクランキングと称さ
れ、バッテリが起動用モータなどの大きな負荷に電力付
勢する際には、駆動電圧V c cを低下させる傾向が
ある。
そのため、前述のように、
V c c (V n −−−(1)
の関係を満足すると、制御動作が行われず、しまいには
車両の暴走をも引き起こしてしまう可能性がある。
の関係を満足すると、制御動作が行われず、しまいには
車両の暴走をも引き起こしてしまう可能性がある。
前記状態を防止するために、駆動電圧V c cが最低
動作電圧Vnへ接近すると、リセット信号を各処理回路
へ与え、初期化動作を行わせるリセット信号発生回路が
前記駆動電圧Vccを生成する電源回路内に設けられる
。第11図は、従来のリセット信号発生装置1の簡略化
した電気的構成を示すブロック図である。
動作電圧Vnへ接近すると、リセット信号を各処理回路
へ与え、初期化動作を行わせるリセット信号発生回路が
前記駆動電圧Vccを生成する電源回路内に設けられる
。第11図は、従来のリセット信号発生装置1の簡略化
した電気的構成を示すブロック図である。
バッテリ2の起電圧(たとえば12v)から、電源回路
3の定電圧化する直流/直流電圧変喚器(以下、rDC
/DC変換器」と言う、)4を経て駆動電圧Vcc(た
とえば5V)が生成され、ラインsZ1を介して複数の
各処理回路5.6へ供給される。駆動電圧Vccはまた
演算増幅器から構成されるレベル弁別回路7の正入力端
子へ入力され、他方の負入力端子にはたとえば定電圧ダ
イオードなどから成る基準電圧発生回路8の基準電圧E
l(たとえば3.7V)が入力される。前記駆動電圧V
c cと基準電圧E1とが比較され、E 1 > V
c c ・・・(2)の条件を満
足すると、リセット信号Re5etが各処理回路5.6
へ与えられ、初期化動作が行われる。
3の定電圧化する直流/直流電圧変喚器(以下、rDC
/DC変換器」と言う、)4を経て駆動電圧Vcc(た
とえば5V)が生成され、ラインsZ1を介して複数の
各処理回路5.6へ供給される。駆動電圧Vccはまた
演算増幅器から構成されるレベル弁別回路7の正入力端
子へ入力され、他方の負入力端子にはたとえば定電圧ダ
イオードなどから成る基準電圧発生回路8の基準電圧E
l(たとえば3.7V)が入力される。前記駆動電圧V
c cと基準電圧E1とが比較され、E 1 > V
c c ・・・(2)の条件を満
足すると、リセット信号Re5etが各処理回路5.6
へ与えられ、初期化動作が行われる。
すなわち、基準電圧E1がリセットレベルであり、前記
基準電圧E1を最低動作電圧V nよりわずかに高く設
定しておくことによって、たとえ駆動電圧V c cが
低下しても、前記暴走を引き起こす前に確実にリセット
することができる。
基準電圧E1を最低動作電圧V nよりわずかに高く設
定しておくことによって、たとえ駆動電圧V c cが
低下しても、前記暴走を引き起こす前に確実にリセット
することができる。
第12図は、最低動作電圧Vnの温度特性を示すグラフ
である。最低動作電圧Vnは、通常、温度Tに依存して
おり、第12121の実線r1に示されるように温度T
の上昇とともに最低動作電圧Vnもまた上昇する特性を
有する。一方、基準電圧発生回路8はほとんど温度Tに
依存せず、したがって基準電圧E1は第12図の実!!
12で示されるように一定の値である。リセットレベル
である前記基準電圧E1は処理回路5.6の動作可能な
最大温度Taでの最低動作電圧V riよりもやや高く
選ばれる。したがって、処理回路5,6の動作可能な全
温度範囲において、 Ele・Vn ・・・(3)の関
係が成立し、クランキングなどによって駆動電圧V c
cが変動しても処理回路が暴走する前に確実にリセッ
トし、初期化することができる。
である。最低動作電圧Vnは、通常、温度Tに依存して
おり、第12121の実線r1に示されるように温度T
の上昇とともに最低動作電圧Vnもまた上昇する特性を
有する。一方、基準電圧発生回路8はほとんど温度Tに
依存せず、したがって基準電圧E1は第12図の実!!
12で示されるように一定の値である。リセットレベル
である前記基準電圧E1は処理回路5.6の動作可能な
最大温度Taでの最低動作電圧V riよりもやや高く
選ばれる。したがって、処理回路5,6の動作可能な全
温度範囲において、 Ele・Vn ・・・(3)の関
係が成立し、クランキングなどによって駆動電圧V c
cが変動しても処理回路が暴走する前に確実にリセッ
トし、初期化することができる。
発明が解決しようとする課題
第12図に示されるように、温度Tが下降するほど処理
回路の最低動作電圧Vnが低下するが、基準電圧E1は
ほとんど変動しない、すなわち、基準電圧E1と最低動
作電圧V rIどのレベル差ΔVtは低温時はど大きく
なる。したがって、低温時においてはより低い駆動電圧
Vccであっても、処理回路5,6は動作可能であるに
もかかわらず、リセットレベルE1の高レベルのために
、処理回路5,6がリセットされてしまうという不所望
が生じる。上記問題点はリセットレベルである基準電圧
E1と最低動作電圧V rIとが同様な温度特性を有し
ていないことが原因である。
回路の最低動作電圧Vnが低下するが、基準電圧E1は
ほとんど変動しない、すなわち、基準電圧E1と最低動
作電圧V rIどのレベル差ΔVtは低温時はど大きく
なる。したがって、低温時においてはより低い駆動電圧
Vccであっても、処理回路5,6は動作可能であるに
もかかわらず、リセットレベルE1の高レベルのために
、処理回路5,6がリセットされてしまうという不所望
が生じる。上記問題点はリセットレベルである基準電圧
E1と最低動作電圧V rIとが同様な温度特性を有し
ていないことが原因である。
本発明の目的は、上述の問題点を解決するためのもので
あり、処理回路付近の温度に伴って基準電圧を変動させ
、前記処理回路を電力付勢する電圧が処理回路の動作可
能な最低電圧付近まで低下したときにのみリセットを行
って、処理回路の動作可能な駆動電圧範囲を広く取るよ
うにすることができるリセット信号発生装置を提供する
ことにある。
あり、処理回路付近の温度に伴って基準電圧を変動させ
、前記処理回路を電力付勢する電圧が処理回路の動作可
能な最低電圧付近まで低下したときにのみリセットを行
って、処理回路の動作可能な駆動電圧範囲を広く取るよ
うにすることができるリセット信号発生装置を提供する
ことにある。
課題を解決するための手段
本発明は、直流電源と、
前記直流電源によって付勢される半導体から成り、リセ
ット信号に応答して初期化動作を行う処理回路と、 前記処理回路付近の温度を検出する温度検出手段と、 前記温度検出手段の出力に応答して、前記処理回路の正
常な動作が可能な最低電圧よりもわずかに高い基準電圧
を発生する基準電圧発生手段と、前記直流電源の出力電
圧と前記基準電圧発生手段の基準電圧とを比較して、前
記直流電源の出力電圧が前記基準電圧未満になったとき
、リセット信号を発生して前記処理回路へ与える比較手
段とを含むことを特徴とするリセット信号発生装置であ
る。
ット信号に応答して初期化動作を行う処理回路と、 前記処理回路付近の温度を検出する温度検出手段と、 前記温度検出手段の出力に応答して、前記処理回路の正
常な動作が可能な最低電圧よりもわずかに高い基準電圧
を発生する基準電圧発生手段と、前記直流電源の出力電
圧と前記基準電圧発生手段の基準電圧とを比較して、前
記直流電源の出力電圧が前記基準電圧未満になったとき
、リセット信号を発生して前記処理回路へ与える比較手
段とを含むことを特徴とするリセット信号発生装置であ
る。
また本発明は、前記基準電圧発生手段が、データ信号に
応答して、そのデータ信号に対応する基準電圧を発生す
る基準電圧出力回路と、温度検出手段からの出力に応答
して、前記基準電圧出力回路から出力される基準電圧が
、前記動作が可能な最低電圧よりもわずかに高い電圧と
して出力するためのデータ信号をストアして導出するメ
モリとを含むことを特徴とする前記リセット信号発生装
置である。
応答して、そのデータ信号に対応する基準電圧を発生す
る基準電圧出力回路と、温度検出手段からの出力に応答
して、前記基準電圧出力回路から出力される基準電圧が
、前記動作が可能な最低電圧よりもわずかに高い電圧と
して出力するためのデータ信号をストアして導出するメ
モリとを含むことを特徴とする前記リセット信号発生装
置である。
さらに本発明は、直流電源と、
前記直流電源によって付勢される半導体から成り、リセ
ット信号に応答して初期化動作を行う複数の処理回路と
、 前記処理回路付近の温度を検出する温度検出手段と、 前記温度検出手段の出力に応答して、前記各処理回路の
正常な動作が可能な各最低電圧のうちの最大値よりもわ
ずかに高い基準電圧を発生する基準電圧発生手段と、 前記直流電源の出力電圧と前記基準電圧発生手段の基準
電圧とを比較して、前記直流電源の出力電圧が前記基準
電圧未満になったとき、リセット信号を発生して前記各
処理回路へそれぞれ与える比較手段とを含むことを特徴
とするリセット信号発生装置である。
ット信号に応答して初期化動作を行う複数の処理回路と
、 前記処理回路付近の温度を検出する温度検出手段と、 前記温度検出手段の出力に応答して、前記各処理回路の
正常な動作が可能な各最低電圧のうちの最大値よりもわ
ずかに高い基準電圧を発生する基準電圧発生手段と、 前記直流電源の出力電圧と前記基準電圧発生手段の基準
電圧とを比較して、前記直流電源の出力電圧が前記基準
電圧未満になったとき、リセット信号を発生して前記各
処理回路へそれぞれ与える比較手段とを含むことを特徴
とするリセット信号発生装置である。
さらにまた本発明は、前記複数の処理回路が相互に信号
の授受を行って協働して動作を行うことを特徴とする前
記リセット信号発生装置である。
の授受を行って協働して動作を行うことを特徴とする前
記リセット信号発生装置である。
作 用
本発明によるリセット信号発生装置によれば、半導体か
ら成る処理回路は直流電源によって付勢されて駆動し、
後述する比較手段からのリセット信号に応答して初期化
動作を行う、前記処理回路付近には温度を検出する温度
検出手段が設けられ、前記温度検出手段の出力に応答し
て基準電圧発生手段が前記処理回路の正常な動作が可能
な最低電圧よりもわずかに高い基準電圧を発生する。前
記処理回路に付勢されている直流電源の出力電圧と前記
基準電圧発生手段の基準電圧とは比較回路において比較
され、前記直流電源の出力電圧が前記基準電圧未満にな
った際に前記リセット信号が発生し、前記処理回路へ与
えられる。
ら成る処理回路は直流電源によって付勢されて駆動し、
後述する比較手段からのリセット信号に応答して初期化
動作を行う、前記処理回路付近には温度を検出する温度
検出手段が設けられ、前記温度検出手段の出力に応答し
て基準電圧発生手段が前記処理回路の正常な動作が可能
な最低電圧よりもわずかに高い基準電圧を発生する。前
記処理回路に付勢されている直流電源の出力電圧と前記
基準電圧発生手段の基準電圧とは比較回路において比較
され、前記直流電源の出力電圧が前記基準電圧未満にな
った際に前記リセット信号が発生し、前記処理回路へ与
えられる。
前記基準電圧発生手段は、温度検出手段からの出力に応
答し、前記処理回路の動作が可能な最低電圧よりもわず
かに高い電圧を出力するためのデータ信号をストアして
導出するメモリと、前記デ−タ信号に応答してそのデー
タ信号に対応する基準電圧を発生する基準電圧出力回路
とを含んで構成することができる。
答し、前記処理回路の動作が可能な最低電圧よりもわず
かに高い電圧を出力するためのデータ信号をストアして
導出するメモリと、前記デ−タ信号に応答してそのデー
タ信号に対応する基準電圧を発生する基準電圧出力回路
とを含んで構成することができる。
また本発明によれば、複数の処理回路を有し、各処理回
路の前記最低電圧が異なる場合には、前記各最低電圧の
うち最大値よりもわずかに高い基準電圧を前記基準電圧
発生手段は発生する。したがって、前記直流電源の出力
電圧が前記最大値よりもわずかに高い基準電圧未満にな
ったとき、比較手段はリセット信号を発生し、前記各処
理回路へそれぞれ与える。
路の前記最低電圧が異なる場合には、前記各最低電圧の
うち最大値よりもわずかに高い基準電圧を前記基準電圧
発生手段は発生する。したがって、前記直流電源の出力
電圧が前記最大値よりもわずかに高い基準電圧未満にな
ったとき、比較手段はリセット信号を発生し、前記各処
理回路へそれぞれ与える。
前記複数の処理回路は、前記直流電源によって付勢され
るとともに、相互に信号の授受を行って協働して動作を
行うように構成してもよい。
るとともに、相互に信号の授受を行って協働して動作を
行うように構成してもよい。
実施例
第1図は、本発明の一実施例であるリセット信号発生装
置10の簡略化した電気的構成を示すブロック図である
1本実施例では、たとえば車載用を想定している。リセ
ット信号発生装置10はバッテリ11と、前記バッテリ
11に接続され、駆動電圧Vccおよびリセット信号R
e5etを生成する電源回路12と、半導体から成るワ
ンチップマイクロコンピュータなどの処理回路13と、
さらに前記処理回路13付近の温度を検出する温度検出
部14とを含んで構成する。バッテリ11の起電圧(た
とえば12■)から電源回路12の定電圧化するDC/
DC変換器15によつζ、処理回路13を駆動する駆動
電圧Vcc(たとえば5V)が生成され、ラインs13
を介して処理回路13および電源回路12内の後述する
各回路へ供給される。なお、バッテリ11とDC/DC
変換器15とによって前記直流電源が構成されているも
とのとする。またバッテリ11は温度検出部14へ接続
されており、前記温度検出部14によって処理回路13
付近の温度と相関関係にある電圧信号が出力される。
置10の簡略化した電気的構成を示すブロック図である
1本実施例では、たとえば車載用を想定している。リセ
ット信号発生装置10はバッテリ11と、前記バッテリ
11に接続され、駆動電圧Vccおよびリセット信号R
e5etを生成する電源回路12と、半導体から成るワ
ンチップマイクロコンピュータなどの処理回路13と、
さらに前記処理回路13付近の温度を検出する温度検出
部14とを含んで構成する。バッテリ11の起電圧(た
とえば12■)から電源回路12の定電圧化するDC/
DC変換器15によつζ、処理回路13を駆動する駆動
電圧Vcc(たとえば5V)が生成され、ラインs13
を介して処理回路13および電源回路12内の後述する
各回路へ供給される。なお、バッテリ11とDC/DC
変換器15とによって前記直流電源が構成されているも
とのとする。またバッテリ11は温度検出部14へ接続
されており、前記温度検出部14によって処理回路13
付近の温度と相関関係にある電圧信号が出力される。
第1図において、温度検出部14は直列に接続される抵
抗Rとサーミスタ29とによって構成される。第2図は
、サーミスタ29の抵抗値Rdsの温度特性を示すグラ
フである。サーミスタ29は温度Tに依存しており、抵
抗値Rdsは第3図の実線13に示されるように変化す
る。したがって、サーミスタ29はその両端にかかる電
圧が温度Tによって変化する温度−電圧変換器として作
用する。前記温度検出部14は、処理回路13付近へ配
置されるので、処理回路13周辺温度に応じて抵抗Rと
サーミスタ29との接続点から検出電圧Vdsが出力さ
れる。前記検出電圧Vdsは電源回路12内の制御部1
6へ与えられる。
抗Rとサーミスタ29とによって構成される。第2図は
、サーミスタ29の抵抗値Rdsの温度特性を示すグラ
フである。サーミスタ29は温度Tに依存しており、抵
抗値Rdsは第3図の実線13に示されるように変化す
る。したがって、サーミスタ29はその両端にかかる電
圧が温度Tによって変化する温度−電圧変換器として作
用する。前記温度検出部14は、処理回路13付近へ配
置されるので、処理回路13周辺温度に応じて抵抗Rと
サーミスタ29との接続点から検出電圧Vdsが出力さ
れる。前記検出電圧Vdsは電源回路12内の制御部1
6へ与えられる。
制御部16は、検出された検出電圧V d sをデジタ
ル信号へ変換するアナログ/デジタル(以下、r A/
D Jという)変換器17と、前記デジタル信号をアド
レス信号とし、各アドレスに対応して予め設定されるデ
ータを記憶するリードオンリメモリ(Read 0nl
y Memory、以下rROMJという。
ル信号へ変換するアナログ/デジタル(以下、r A/
D Jという)変換器17と、前記デジタル信号をアド
レス信号とし、各アドレスに対応して予め設定されるデ
ータを記憶するリードオンリメモリ(Read 0nl
y Memory、以下rROMJという。
)18と、前記ROM 18から読出されるデータであ
るデジタル信号をアナログ信号へ変換するデジタル/ア
ナログ(以下、r D/A Jという)変換器19と、
さらに前記変換器17.19およびROM 18を制御
する制御回路20とを含んで構成している。制御部16
へ入力された検出電圧■dsは、A/D変換器17によ
ってデジタル信号に変換され、アドレス信号としてRO
M 18へ与えられる。ROM 18は前記アドレス信
号に基づいて、第1表に示されるように記憶されるスト
ア内容からデータ信号(基準電圧E)を読出し、D/A
変換器19へ送出する。
るデジタル信号をアナログ信号へ変換するデジタル/ア
ナログ(以下、r D/A Jという)変換器19と、
さらに前記変換器17.19およびROM 18を制御
する制御回路20とを含んで構成している。制御部16
へ入力された検出電圧■dsは、A/D変換器17によ
ってデジタル信号に変換され、アドレス信号としてRO
M 18へ与えられる。ROM 18は前記アドレス信
号に基づいて、第1表に示されるように記憶されるスト
ア内容からデータ信号(基準電圧E)を読出し、D/A
変換器19へ送出する。
第 1 表
第3図は、サーミスタ29の抵抗値Rdsと基準電圧E
との関係を示すグラフであり、ROM 18内のストア
内容に対応している。すなわち、横軸はアドレス信号で
ある前記検出電圧Vdsに対応しており、縦軸はデータ
信号である基準電圧Eに対応している。したがって本実
施例のストア内容には、第4図の実線14と対応して、
大きいアドレス程、小さい基準電圧Eを示すデータが記
憶される。上述のストア内容によって、大きい検出電圧
Vds程小さい基準電圧Eを示すデータ信号が、また小
さい検出電圧Vds程大きい基準電圧Eを示すデータ信
号が読出される。
との関係を示すグラフであり、ROM 18内のストア
内容に対応している。すなわち、横軸はアドレス信号で
ある前記検出電圧Vdsに対応しており、縦軸はデータ
信号である基準電圧Eに対応している。したがって本実
施例のストア内容には、第4図の実線14と対応して、
大きいアドレス程、小さい基準電圧Eを示すデータが記
憶される。上述のストア内容によって、大きい検出電圧
Vds程小さい基準電圧Eを示すデータ信号が、また小
さい検出電圧Vds程大きい基準電圧Eを示すデータ信
号が読出される。
ROM18から読出されたデータ信号はD/A変換器1
9においてアナログ信号に変換される。
9においてアナログ信号に変換される。
前記D/A変換器19がデータ信号に基づく基準電圧出
力回路として作動し、変換された電圧が基準電圧Eとし
て、演算増幅器などから成るレベル弁別回路21の負入
力端子へ入力される。また正入力端子には前記駆動電圧
Vccが入力される。
力回路として作動し、変換された電圧が基準電圧Eとし
て、演算増幅器などから成るレベル弁別回路21の負入
力端子へ入力される。また正入力端子には前記駆動電圧
Vccが入力される。
レベル弁別回路21仁よって前記基準電圧Eと駆動電圧
Vccとの比較の結果、 E ’) V c c
・・・ く
4 )の関係を満足する際に、リセット信号Re5e
tが発生し、ラインs14を介して処理回路13へ与え
られ、前記処理回路13が初期化される。
Vccとの比較の結果、 E ’) V c c
・・・ く
4 )の関係を満足する際に、リセット信号Re5e
tが発生し、ラインs14を介して処理回路13へ与え
られ、前記処理回路13が初期化される。
第4図は、基準電圧Eと最低動作電圧Vnとの温度特性
を示すグラフである。上述のように、処理回路13付近
の温度変化を温度検出部14で検出し、前記変化に対応
して基準電圧Eを設定している。すなわちROM18の
ストア内容をサーミスタ2つの抵抗値Rdsの温度特性
を考慮して予め設定しておけば、処理回路13の動作可
能な全温度範囲において、第4図に示されるように最低
動作電圧V riよりわずかに高いレベル(ΔVt)に
前記基準電圧Eを設定することができる。したがって、
駆動電圧V c cの低下によって処理回路13が暴走
する前に、確実にリセットして初期化できることに加え
て、さらにたとえば低温時において、バッテリ電圧が低
下し、駆動電圧Vccが低下しても、十分に駆動電圧V
ccが最低動作電圧V n 9接近するまでリセットさ
れることなく、処理回路13を動作させることができる
。すなわち、処理回路13が十分動作可能であるバッテ
リ電圧であるにもかかわらず、処理回路13を初期化し
てしまうようなことはなく、有効に動作させることがで
き、リセット信号発生装置としての性能が非常に高い。
を示すグラフである。上述のように、処理回路13付近
の温度変化を温度検出部14で検出し、前記変化に対応
して基準電圧Eを設定している。すなわちROM18の
ストア内容をサーミスタ2つの抵抗値Rdsの温度特性
を考慮して予め設定しておけば、処理回路13の動作可
能な全温度範囲において、第4図に示されるように最低
動作電圧V riよりわずかに高いレベル(ΔVt)に
前記基準電圧Eを設定することができる。したがって、
駆動電圧V c cの低下によって処理回路13が暴走
する前に、確実にリセットして初期化できることに加え
て、さらにたとえば低温時において、バッテリ電圧が低
下し、駆動電圧Vccが低下しても、十分に駆動電圧V
ccが最低動作電圧V n 9接近するまでリセットさ
れることなく、処理回路13を動作させることができる
。すなわち、処理回路13が十分動作可能であるバッテ
リ電圧であるにもかかわらず、処理回路13を初期化し
てしまうようなことはなく、有効に動作させることがで
き、リセット信号発生装置としての性能が非常に高い。
また、ROM18のストア内容において、たとえばアド
レス上位を、ライン5ffi5を介して入力される指定
信号によって指定するように構成すれば、前記基準電圧
Eの温度特性を複数種類に設定することもできる。
レス上位を、ライン5ffi5を介して入力される指定
信号によって指定するように構成すれば、前記基準電圧
Eの温度特性を複数種類に設定することもできる。
第5図は、他の実施例であるリセット信号発生装置10
aの簡略化した電気的構成を示すブロック図である。第
1図と同一もしくは相当部分には同一の参照符を付して
示す、リセット信号発生装置10との相異点は、温度検
出部である。リセット信号発生装置10aの温度検出部
14aは、電源口W@ 12 a内に構成されている。
aの簡略化した電気的構成を示すブロック図である。第
1図と同一もしくは相当部分には同一の参照符を付して
示す、リセット信号発生装置10との相異点は、温度検
出部である。リセット信号発生装置10aの温度検出部
14aは、電源口W@ 12 a内に構成されている。
この場合、前記電源回路12aは処理回路13に近接設
定されていることが望ましい。
定されていることが望ましい。
温度検出部14aは、バッテリ11から直列に接続され
た定電流回路25とダイオードDとによって構成される
。ダイオードDの順方向降下電圧は温度に依存(約−2
m V / ”C)する、したがって、前記ダイオード
Dの両端にかかる電位差を温度検出部14aの検出電圧
Vdとして制御部16へ与えることによって、前記リセ
ット信号発生装置10と同様に、基準電圧Eを温度Tに
応じて設定することができる。
た定電流回路25とダイオードDとによって構成される
。ダイオードDの順方向降下電圧は温度に依存(約−2
m V / ”C)する、したがって、前記ダイオード
Dの両端にかかる電位差を温度検出部14aの検出電圧
Vdとして制御部16へ与えることによって、前記リセ
ット信号発生装置10と同様に、基準電圧Eを温度Tに
応じて設定することができる。
また、前記ダイオードDはアノードとカソードとの極性
を反転して接続した定電圧ダイオードとし、前記定電圧
ダイオードのツェナー電圧の温度特性を利用してもよい
。
を反転して接続した定電圧ダイオードとし、前記定電圧
ダイオードのツェナー電圧の温度特性を利用してもよい
。
第6図は、さらに他の実施例であるリセット信号発生装
置10bの簡略化した電気的構成を示すブロック図であ
る。第5図と同一もしくは相当部分には同一の参照符を
付して示す。リセット信号発生装置LOaとの相異点は
、温度検出部である。
置10bの簡略化した電気的構成を示すブロック図であ
る。第5図と同一もしくは相当部分には同一の参照符を
付して示す。リセット信号発生装置LOaとの相異点は
、温度検出部である。
リセット信号発生装置10bの温度検出部14bでは、
定電流回路25と直列にn p n型のトランジスタQ
が、いわゆるダイオード接続されている。
定電流回路25と直列にn p n型のトランジスタQ
が、いわゆるダイオード接続されている。
すなわちトランジスタQのコレクタとベースが接続され
て定電流回路25へ接続され、エミッタは接地されてい
る。前記トランジスタQのベース・エミッタ降下電圧は
温度Tに依存するので、前記トランジスタQのベース電
位を温度検出部14bの検出電圧V qとして制御部1
6へ与えることによって、上述の実施例と同様に基準電
圧Eを温度Tに応じて設定することができる。
て定電流回路25へ接続され、エミッタは接地されてい
る。前記トランジスタQのベース・エミッタ降下電圧は
温度Tに依存するので、前記トランジスタQのベース電
位を温度検出部14bの検出電圧V qとして制御部1
6へ与えることによって、上述の実施例と同様に基準電
圧Eを温度Tに応じて設定することができる。
第7図は5半導体で形成された抵抗の抵抗値R8の温度
特性を示すグラフである。たとえばシリコンにリンやホ
ウ素などの不純物を拡散して形成した半導体の抵抗値R
sは、温度Tに対して第7図の実線16に示されるよう
な特性を有する。したがって、第1図に示されたサーミ
スタ2つの代わりに前記半導体で形成された抵抗を接続
することによっても、上述の実施例と同様に基準電圧E
を温度に応じて設定することができる。
特性を示すグラフである。たとえばシリコンにリンやホ
ウ素などの不純物を拡散して形成した半導体の抵抗値R
sは、温度Tに対して第7図の実線16に示されるよう
な特性を有する。したがって、第1図に示されたサーミ
スタ2つの代わりに前記半導体で形成された抵抗を接続
することによっても、上述の実施例と同様に基準電圧E
を温度に応じて設定することができる。
第8図はさらにまた他の実施例であるリセット信号発生
装置10cの簡略化した電気的構成を示すブロック図で
ある。第1図と同一および相当部分には同一の参照符を
付して示す、第8図では、複数(本実施例では2つ)の
処理回路13a、13bが設定されており、各処理回路
13a、13bは相互に信号の授受を行い、協働して作
動する。
装置10cの簡略化した電気的構成を示すブロック図で
ある。第1図と同一および相当部分には同一の参照符を
付して示す、第8図では、複数(本実施例では2つ)の
処理回路13a、13bが設定されており、各処理回路
13a、13bは相互に信号の授受を行い、協働して作
動する。
したがって、一方の処理回路13aが停止もしくは暴走
すると、他方の処理回路もまた正常には動作しない。
すると、他方の処理回路もまた正常には動作しない。
第9図は各処理回路13a、13bの各最低動作電圧V
rr a 、 V n bの温度特性を示すグラフで
ある。たとえば、各処理回路13a、13bがC−M
OS (Complementary−MeLal
OxideSemiconductor )および
N −M OS (N ehannelHOS)など、
それぞれ異なる特性を有する半導体から構成されている
と、各最低動作電圧Vna、Vnbはそれぞれ異なり、
第9図に示すような温度特性を有する。なお第9図にお
いて、実線!7で示される一方の最低動作電圧V rx
aは、処理回路13aの特性であり、温度Tの上昇と
ともに上昇し、また、破線18で示される他方の最低動
作電圧V rlbは処理回路13bの特性であり、温度
Tの上昇に対して減少する。
rr a 、 V n bの温度特性を示すグラフで
ある。たとえば、各処理回路13a、13bがC−M
OS (Complementary−MeLal
OxideSemiconductor )および
N −M OS (N ehannelHOS)など、
それぞれ異なる特性を有する半導体から構成されている
と、各最低動作電圧Vna、Vnbはそれぞれ異なり、
第9図に示すような温度特性を有する。なお第9図にお
いて、実線!7で示される一方の最低動作電圧V rx
aは、処理回路13aの特性であり、温度Tの上昇と
ともに上昇し、また、破線18で示される他方の最低動
作電圧V rlbは処理回路13bの特性であり、温度
Tの上昇に対して減少する。
前述のように各処理回路13a、13bは協働している
ので、いずれの処理回路をも暴走させないために、前記
リセットレベルである基準電圧Eは、全ての温度Tにお
いて、いずれの最低動作電圧Vna、Vnbよりも高く
設定されなければならない、したがって、各温度におい
て各最低動作電圧V rr a 、 V n bのうち
の最大値よりやや高く〈レベル差ΔVt)基準電圧Eを
設定する。すなわち基準電圧Eは、第9図において実線
19で示されるように、大略的に7字状の温度特性を有
して出力される。
ので、いずれの処理回路をも暴走させないために、前記
リセットレベルである基準電圧Eは、全ての温度Tにお
いて、いずれの最低動作電圧Vna、Vnbよりも高く
設定されなければならない、したがって、各温度におい
て各最低動作電圧V rr a 、 V n bのうち
の最大値よりやや高く〈レベル差ΔVt)基準電圧Eを
設定する。すなわち基準電圧Eは、第9図において実線
19で示されるように、大略的に7字状の温度特性を有
して出力される。
第8図では、温度検出部14は第1図のリセット信号発
生装置10と同様にサーミスタ29を用いた構成として
いる。この温度検出部14は、やはり処理回路13a、
13bに近接して設置される。第8図では、バッテリ1
1の電圧がDC/DC変換器15aを経て生成された駆
動電圧Vccが温度検出部14およびA/D変換器17
/\と供給される。前記温度検出部14とA/D変換器
17とl\の供給電圧を同一に設定することによって、
DC/DC変換器15aからの駆動電圧V c cの変
動に依存してA/D変換器17のデジタル出力が変化し
てしまうことがない、したがって前記A/D変換器17
は、確実に温度検出部14の検出電圧Vdsの温度に依
存する特性と対応したデジタル値を出力する。
生装置10と同様にサーミスタ29を用いた構成として
いる。この温度検出部14は、やはり処理回路13a、
13bに近接して設置される。第8図では、バッテリ1
1の電圧がDC/DC変換器15aを経て生成された駆
動電圧Vccが温度検出部14およびA/D変換器17
/\と供給される。前記温度検出部14とA/D変換器
17とl\の供給電圧を同一に設定することによって、
DC/DC変換器15aからの駆動電圧V c cの変
動に依存してA/D変換器17のデジタル出力が変化し
てしまうことがない、したがって前記A/D変換器17
は、確実に温度検出部14の検出電圧Vdsの温度に依
存する特性と対応したデジタル値を出力する。
第10図はA/D変換器17周辺の簡略化した電気的構
成を示すブロック図である。第10図において、A/D
変換器17はより詳細に示されている。第10図を参照
してA/D変換器17の構成を説明する。
成を示すブロック図である。第10図において、A/D
変換器17はより詳細に示されている。第10図を参照
してA/D変換器17の構成を説明する。
複数の分圧抵抗R1〜Riには、DC/DC変換器15
aからの駆動電圧Vccが与えられ、前記駆動電圧Vc
cが分圧される。スイッチング回路26は前記抵抗R1
〜Riによって分圧された電圧を順次的に切換えて比較
回路27の一方の入力端子へ与える。前記比較回路の他
方入力端子には温度検出部14の検出電圧Vdsが与え
られる。
aからの駆動電圧Vccが与えられ、前記駆動電圧Vc
cが分圧される。スイッチング回路26は前記抵抗R1
〜Riによって分圧された電圧を順次的に切換えて比較
回路27の一方の入力端子へ与える。前記比較回路の他
方入力端子には温度検出部14の検出電圧Vdsが与え
られる。
比較回路27は前記分圧電圧が前記検出電圧VdS以上
の際にはハイレベルを、一方、検出電圧■ds以下の際
にはローレベルをラインs16を介して導出する。また
スイッチング回路26は、分圧抵抗の切換を行うスイッ
チング状態を表わすデジタル信号をラインsZ7を介し
て導出する。前記ラインs16.sZ 7の出力はRO
M30のストア領域のアドレス指定を行うアドレス信号
として用いられる。
の際にはハイレベルを、一方、検出電圧■ds以下の際
にはローレベルをラインs16を介して導出する。また
スイッチング回路26は、分圧抵抗の切換を行うスイッ
チング状態を表わすデジタル信号をラインsZ7を介し
て導出する。前記ラインs16.sZ 7の出力はRO
M30のストア領域のアドレス指定を行うアドレス信号
として用いられる。
ROM18内のストア内容としては、各アドレス領域毎
に、データ信号として各処理回路13a。
に、データ信号として各処理回路13a。
13bの各最低動作電圧Vna、Vnbを考慮した基準
電圧値がそれぞれストアされており、各アドレス信号に
対応していずれか高い電圧値を示すデータ信号をD/A
変換器19へ導出する。また、ストア内容としては、各
処理回路13a、13bの最低動作電圧V n a 、
V r+ bを考慮して決定される最大値の基準電圧
値を予めストアさせ、アドレス信号に対応してデータ信
号として送出してもよい。
電圧値がそれぞれストアされており、各アドレス信号に
対応していずれか高い電圧値を示すデータ信号をD/A
変換器19へ導出する。また、ストア内容としては、各
処理回路13a、13bの最低動作電圧V n a 、
V r+ bを考慮して決定される最大値の基準電圧
値を予めストアさせ、アドレス信号に対応してデータ信
号として送出してもよい。
また第8図では、他の実施例と異なり、D/A変換器に
は駆動電圧V c cを定電圧化するDC/DC変換器
15tl介して供給している。したがって、駆動電圧V
ccの変動にかかわらず、ROM18のデジタル出力に
対応したアナログ基準電圧Eを前記D/A変換器17は
出力する。基準電圧EおよびDC/DC変換器15bの
出力電圧■Oの関係は、 E=a・VO・・・(5) (a > 1 ) (aはROM18の出力に対応した値であり、第90の
実線19の特性に相当する。)さらに、第8図では、レ
ベル弁別回路21の正入力端子への入力として、駆動電
圧V c cを抵抗RQI、 RO2で分圧した比較電
圧Vrを入力している。前記比較電圧はVccである必
要はなく、ROM18のストア内容と対応させて設定し
てもよい。
は駆動電圧V c cを定電圧化するDC/DC変換器
15tl介して供給している。したがって、駆動電圧V
ccの変動にかかわらず、ROM18のデジタル出力に
対応したアナログ基準電圧Eを前記D/A変換器17は
出力する。基準電圧EおよびDC/DC変換器15bの
出力電圧■Oの関係は、 E=a・VO・・・(5) (a > 1 ) (aはROM18の出力に対応した値であり、第90の
実線19の特性に相当する。)さらに、第8図では、レ
ベル弁別回路21の正入力端子への入力として、駆動電
圧V c cを抵抗RQI、 RO2で分圧した比較電
圧Vrを入力している。前記比較電圧はVccである必
要はなく、ROM18のストア内容と対応させて設定し
てもよい。
上述の構成によって、全温度範囲において、各最低動作
電圧Vna、Vnbの最大値よりもわずかに高く基準電
圧を設定することができる。したがって、複数の協働す
る処理回路であっても、いずれの処理回路が暴走をする
前に確実にリセットすることができ、さらに動作が可能
な駆動電圧の範囲を有効に処理回路の駆動のために利用
することができる。
電圧Vna、Vnbの最大値よりもわずかに高く基準電
圧を設定することができる。したがって、複数の協働す
る処理回路であっても、いずれの処理回路が暴走をする
前に確実にリセットすることができ、さらに動作が可能
な駆動電圧の範囲を有効に処理回路の駆動のために利用
することができる。
上述した各実施例においては、検出温度の上昇に対して
検出電圧が下降する性質を有する(負特性)の構成要件
を例に挙げて記載している。他の実施例として、温度に
対して正特性を有する構成要件であっても、ROMのス
トア内容を前記特性と対応付けて設定することによって
同様の効果を有することができる。
検出電圧が下降する性質を有する(負特性)の構成要件
を例に挙げて記載している。他の実施例として、温度に
対して正特性を有する構成要件であっても、ROMのス
トア内容を前記特性と対応付けて設定することによって
同様の効果を有することができる。
また上述の実施例においては車載用のリセット信号発生
装置に記載している。しかしこのことは制限されること
ではなく、他の温度変化を伴う環境下での処理回路への
リセット信号発生装置としても有利に実施することがで
きる。
装置に記載している。しかしこのことは制限されること
ではなく、他の温度変化を伴う環境下での処理回路への
リセット信号発生装置としても有利に実施することがで
きる。
上述のように本実m例によれば処理回路付近の温度を検
出し、前記温度に応じてリセットレベルである基準電圧
を変更するので、処理回路が暴走する前に確実にリセッ
トすることができ、かつ最低動作電圧の直前まで有効に
処理回路を正常動作させることができ、す、セット信号
発生装置としての性能が格段に高い。
出し、前記温度に応じてリセットレベルである基準電圧
を変更するので、処理回路が暴走する前に確実にリセッ
トすることができ、かつ最低動作電圧の直前まで有効に
処理回路を正常動作させることができ、す、セット信号
発生装置としての性能が格段に高い。
発明の効果
本発明に従えば処理回路付近の温度に応じて設定される
、前記処理回路の正常な動作が可能な最低電圧よりもわ
ずかに高い基準電圧未満まで直流電圧が低下しない限り
、処理回路I\のリセット信号が発生せず、前記処理回
路の正常な動作が可能であるので、有効に処理回路を正
常動作させることができる。
、前記処理回路の正常な動作が可能な最低電圧よりもわ
ずかに高い基準電圧未満まで直流電圧が低下しない限り
、処理回路I\のリセット信号が発生せず、前記処理回
路の正常な動作が可能であるので、有効に処理回路を正
常動作させることができる。
第1図は本発明の一実施例であるリセット信号発生装置
10の簡略化した電気的構成を示すブロック図、第2図
はサーミスタ29の抵抗値Rdsの温度特性を示すグラ
フ、第3図はサーミスタ29の抵抗値Rdsと基準電圧
Eとの関係を示すグラフ、第4図はリセット信号発生装
置における基準電圧Eと最低動作電圧Vnとの温度特性
を示すグラフ、第5図は他の実施例であるリセット信号
発生装置10aの簡略化した電気的構成を示すブロック
図、第6図はさらに他の実施例であるリセット信号発生
装置10bの簡略化した電気的構成を示すブロック図、
第7図は半導体で形成された抵抗の抵抗値Rsの温度特
性を示すグラフ、第8図はさらにまた他の実施例である
りゼット信号発生装置10cの簡略化した電気的構成を
示すブロック図、第9図は各処理回路13a、13bの
各最低動作電圧V n a 、 V n bの温度特性
を示すグラフ、第10図はA/D変換器17周辺の簡略
化した電気的構成を示すブロック図、第11図は従来の
リセット信号発生装置1の簡略化した電気的構成を示す
ブロック図、第12図はリセット信号発生装置1におけ
る基準電圧E1と最低動作電圧V rIとの温度特性を
示すグラフである。 10.10a、10b、10cm・リセット信号発生装
置、11・・・バッテリ、13.13a、13b・・処
理回路、14.14a、14b・・・温度検出部、15
.15a、15b−DC/DC変換器、16・・・制御
部、17・・・A/D変換器、18・・・リードオンリ
メモリ(ROM)、19・−・D/A変換器、20・・
・制御回路、21・・・レベル弁別回路、29・・・サ
ーミスタ、D・・・ダイオード、E・・・基準電圧、R
・・・抵抗、Reset・・・リセット信号、Q・・・
トランジスタ、V c c−駆動電圧、V d 、 V
d s 、 V q =−検出電圧、V rI、 V
rr a 、 V rr b−最低動作電圧代理人
弁理士 画数 圭一部 第 図 一1二斥 T 第10図 第 図 ス 第 図 ″jjL屋T
10の簡略化した電気的構成を示すブロック図、第2図
はサーミスタ29の抵抗値Rdsの温度特性を示すグラ
フ、第3図はサーミスタ29の抵抗値Rdsと基準電圧
Eとの関係を示すグラフ、第4図はリセット信号発生装
置における基準電圧Eと最低動作電圧Vnとの温度特性
を示すグラフ、第5図は他の実施例であるリセット信号
発生装置10aの簡略化した電気的構成を示すブロック
図、第6図はさらに他の実施例であるリセット信号発生
装置10bの簡略化した電気的構成を示すブロック図、
第7図は半導体で形成された抵抗の抵抗値Rsの温度特
性を示すグラフ、第8図はさらにまた他の実施例である
りゼット信号発生装置10cの簡略化した電気的構成を
示すブロック図、第9図は各処理回路13a、13bの
各最低動作電圧V n a 、 V n bの温度特性
を示すグラフ、第10図はA/D変換器17周辺の簡略
化した電気的構成を示すブロック図、第11図は従来の
リセット信号発生装置1の簡略化した電気的構成を示す
ブロック図、第12図はリセット信号発生装置1におけ
る基準電圧E1と最低動作電圧V rIとの温度特性を
示すグラフである。 10.10a、10b、10cm・リセット信号発生装
置、11・・・バッテリ、13.13a、13b・・処
理回路、14.14a、14b・・・温度検出部、15
.15a、15b−DC/DC変換器、16・・・制御
部、17・・・A/D変換器、18・・・リードオンリ
メモリ(ROM)、19・−・D/A変換器、20・・
・制御回路、21・・・レベル弁別回路、29・・・サ
ーミスタ、D・・・ダイオード、E・・・基準電圧、R
・・・抵抗、Reset・・・リセット信号、Q・・・
トランジスタ、V c c−駆動電圧、V d 、 V
d s 、 V q =−検出電圧、V rI、 V
rr a 、 V rr b−最低動作電圧代理人
弁理士 画数 圭一部 第 図 一1二斥 T 第10図 第 図 ス 第 図 ″jjL屋T
Claims (4)
- (1)直流電源と、 前記直流電源によつて付勢される半導体から成り、リセ
ット信号に応答して初期化動作を行う処理回路と、 前記処理回路付近の温度を検出する温度検出手段と、 前記温度検出手段の出力に応答して、前記処理回路の正
常な動作が可能な最低電圧よりもわずかに高い基準電圧
を発生する基準電圧発生手段と、前記直流電源の出力電
圧と前記基準電圧発生手段の基準電圧とを比較して、前
記直流電源の出力電圧が前記基準電圧未満になつたとき
、リセット信号を発生して前記処理回路へ与える比較手
段とを含むことを特徴とするリセット信号発生装置。 - (2)前記基準電圧発生手段は、 データ信号に応答して、そのデータ信号に対応する基準
電圧を発生する基準電圧出力回路と、温度検出手段から
の出力に応答して、前記基準電圧出力回路から出力され
る基準電圧が、前記動作が可能な最低電圧よりもわずか
に高い電圧として出力するためのデータ信号をストアし
て導出するメモリとを含むことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のリセット信号発生装置。 - (3)直流電源と、 前記直流電源によつて付勢される半導体から成り、リセ
ット信号に応答して初期化動作を行う複数の処理回路と
、 前記処理回路付近の温度を検出する温度検出手段と、 前記温度検出手段の出力に応答して、前記各処理回路の
正常な動作が可能な各最低電圧のうちの最大値よりもわ
ずかに高い基準電圧を発生する基準電圧発生手段と、 前記直流電源の出力電圧と前記基準電圧発生手段の基準
電圧とを比較して、前記直流電源の出力電圧が前記基準
電圧未満になつたとき、リセット信号を発生して前記各
処理回路へそれぞれ与える比較手段とを含むことを特徴
とするリセット信号発生装置。 - (4)前記複数の処理回路は、相互に信号の授受を行つ
て協働して動作を行うことを特徴とする特許請求の範囲
第3項記載のリセット信号発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025082A JPH02204814A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | リセツト信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025082A JPH02204814A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | リセツト信号発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02204814A true JPH02204814A (ja) | 1990-08-14 |
Family
ID=12156006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1025082A Pending JPH02204814A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | リセツト信号発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02204814A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010166183A (ja) * | 2009-01-13 | 2010-07-29 | Seiko Instruments Inc | 検出回路及びセンサ装置 |
-
1989
- 1989-02-02 JP JP1025082A patent/JPH02204814A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010166183A (ja) * | 2009-01-13 | 2010-07-29 | Seiko Instruments Inc | 検出回路及びセンサ装置 |
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