JPH02204842A - 故障シミュレーション方法 - Google Patents

故障シミュレーション方法

Info

Publication number
JPH02204842A
JPH02204842A JP1024203A JP2420389A JPH02204842A JP H02204842 A JPH02204842 A JP H02204842A JP 1024203 A JP1024203 A JP 1024203A JP 2420389 A JP2420389 A JP 2420389A JP H02204842 A JPH02204842 A JP H02204842A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fault
event
representative
state
output value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1024203A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshinori Hosokawa
細川 利典
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP1024203A priority Critical patent/JPH02204842A/ja
Publication of JPH02204842A publication Critical patent/JPH02204842A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は故障シミュレーション方法に関し、特に同時故
障シミュレーション方法を用いた故障シミュレーション
方法に関するものである。
従来の技術 従来の同時故障シミュレーションのアルゴリズムについ
ては、例えばPRENTICE−HALL、Engle
voodに記載がある。第3図は、従来の同時故障シミ
ュレーション方法の処理を示す流れ図である。ステップ
301でシミュレーションされる回路の全信号線の値を
未知数Xに設定し、初期化する。ステップ302で代表
故障を、素子の正常状態をコピーして前記素子の出力信
号線を縮退値に設定することによって挿入する。ステッ
プ303でタイムホイール上にまだ処理されていないイ
ベントが存在するか判断゛し、存在する場合には次のス
テップ304に進み、存在しない場合にはこの同時故障
シミュレーションを終了する。ステップ304で現在時
刻からタイムホイールにスケジュールされているまだ処
理されていないイベントが存在する1番近い時刻へ現在
時刻を進める。ステップ305で単位時刻のシミュレー
タ8ンを実行する。ステップ30Bで被シミユレーシヨ
ン回路の外部出力に各代表故障の影響が伝搬するかを判
断し、伝搬する場合には次のステップ307に進み、伝
搬しない場合にはステップ303に戻る。
307でシミュレーションされる回路の外部出力に伝搬
した代表故障を取り除く。
以上のような従来の同時故障シミュレーション方法では
、ステップ302の処理中に、代表故障を定義したすべ
ての素子に故障状態リストを持たせる処理を行なう。ま
たステップ305の処理中に、イベントの発生のために
素子の故障状態リスト中の故障状態が正常状態と同じに
なることによって、前記故障状態リストから前記故障状
態を削除するコンバージェンスという処理がある。また
ステップ305の処理中に、素子の正常状態と全く同じ
であったため前記素子の故障状態リストに存在しなかっ
た故障状態がイベントの発生のために前記素子の正常状
態と異なることによって、前記素子の故障状態リスト中
に前記故障状態を加えるダイバージェンスという処理が
ある。以上の手順で同時故障シミニレ−シロンが実行さ
れる。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のような方法では、コンバージェン
スやダイバージェンスの処理は故障状態リストから故障
状態を削除したり故障状態リストに故障状態を加えたり
するので、処理が煩雑であり、前記処理が頻繁に起こる
と非常に時間がかかるという問題点やまたすべての素子
毎に故障状態リストを持たせるので大容量のメモリが必
要となる問題点があった。
本発明はかかる点に鑑み、すべての素子毎に故障状態リ
ストを持たせ、イベントの発生によって故障状態リスト
から故障状態を削除したり、故障状態リストに故障状態
を加えたりして、代表故障を伝搬するという従来の同時
故障シミニレ−シロン方法の欠点の原因となる処理を行
なわない高速な故障シミュレーション方法を提供するこ
とを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は上述の課題を解決すべく、論理回路の代表故障
が前記論理回路の外部出力まで伝搬する経路を選び出し
、前記代表故障の各々について前記代表故障が伝搬する
経路に存在する素子の番号、前記素子のタイプ、前記素
子の正常状態、前記素子の故障状態、前記素子の次の段
の素子に前記代表故障が伝搬するかということを示すフ
ラグを有する経路表を作成する第1の工程と、イベント
の発生する素子が存在する前記代表故障の経路表を見つ
けだす第2の工程と、前記経路表中に存在する前記論理
回路の外部出力端子に接続している素子に対する前記フ
ラグが無効であるかを判断する第3の工程と、前記第3
の工程で前記経路表中に存在する前記論理回路の外部出
力に接続している素子に対する前記フラグが無効である
と判断した時、イベントの発生した前記素子の正常状態
出力値または故障状態出力値を更新し、イベントの発生
した前記素子のファンアウト先の素子の正常状態入力値
と故障状態入力値を更新した後、評価した前記素子の正
常状態出力値と故障状態出力値が等しいかを判断する第
4の工程と、第4の工程でイベントの発生した前記素子
のファンアウト先の素子の正常状態出力値と故障状態出
力値が等しいと判断した時、イベントの発生した前記素
子のファンアウト先の素子に対する前記フラグを無効に
してイベントの発生した前記素子のファンアウト先の素
子に前記代表故障を伝搬させない第5の工程と、第4の
工程でイベントの発生した前記素子のファンアウト先の
素子の正常出力値と故障状態出力値が異なると判断した
時、イベントの発生した前記素子のファンアウト先の素
子に対する前記フラグを有効にしてイベントの発生した
前記素子のファンアウト先の素子に前記代表故障を伝搬
させる第6の工程を備えたものである。
作用 本発明は上述の構成により、代表故障を挿入し、シミュ
レーションする前に、代表故障が被シミュレーシロン回
路の外部出力に伝搬する経路を求めて、代表故障毎に前
記代表故障が伝搬する経路に存在する素子の番号、前記
素子のタイプ、前記素子の正常状態、前記素子の故障状
態、前記素子の次の段の素子に前記代表故障が伝搬する
かということを示すフラグを有する経路表を作成する。
シミュレーションを実行する前に前記経路表を作成して
おいて、従来のシミュレーションと同様に単位時刻にお
ける素子の正常状態と故障状態の出力信号値の更新、評
価を行ない次の段の素子に代表故障が伝搬するかを判断
するフラグを立てるか倒すという処理のみで前記代表故
障の伝搬処理を行なう。前記フラグを立てるか倒すのみ
で故障伝搬処理を行ない、前述のコンバージェンスやダ
イバージェンスという従来の処理を行なわないため、そ
の分に消費していた時間を大幅に短縮することができる
実施例 第1図は本発明の一実施例による同時故障シミュレーシ
ョン方法を示す流れ図である。101はシミュレーショ
ンを実行するための対象となる回路中の全信号線の値を
未知数Xに設定し、初期化するステップである。102
は代表故障がステップ101で初期化された回路の外部
出力まで伝搬する経路を表わす経路表を作成していない
代表故障が存在するかを判断し、存在する場合には次の
ステップ!03へ進み、存在しない場合にはステップ1
04へ進むステップである。103はステップ102で
代表故障が被シミュレーシ1ン回路の外部出力まで伝搬
する経路を求め、前記代表故障が伝搬する経路に存在す
る素子の番号、前記素子のタイプ、前記素子の正常状態
、前記素子の故障状態、前記素子の次の段の素子に前記
代表故障が伝搬するかということを示すフラグを有する
経路表を作成するステップである。104はタイムホイ
ール上にまだ処理されていないイベントが存在するか判
断し、存在する場合には次のステップ105に進み、存
在しない場合にはこの同時故障シミュレーションの実行
を終了するステップである。105はステップ104で
タイムホイール上にまだ処理されていないイベントが存
在すると判断したときに、現在時刻からタイムホイール
上にスケジュールされているまだ処理されていないイベ
ントが存在する1番近い時刻へ現在時刻を進めるステッ
プである。10Bは単位時刻の同時故障シミュレーショ
ンを実行するステップである。
第2図は第1図に示す流れ図のステップIO6の単位時
刻の同時故障シミュレーション方法をより詳しく示す流
れ図である。201は現在時刻に登録されティるイベン
トで処理されていないものが存在スるかを判断し、存在
する場合には次のステップ2゜2に進み、存在しない場
合にはこの単位時刻の同時故障シミュレーションの実行
を終了させるステップである。202はステップ2旧に
おいて現在時刻にまだ処理されていないイベントが存在
する場合に、タイムホイール上の現在時刻のイベント・
リストから未処理のイベントを取り出すステップである
203はステップ103で作成された代表故障毎の経路
表を検索し、ステップ202で取り出したイベントの発
生する素子が存在し、かつ被シミエレーシPン回路の外
部出力に接続している素子に対する前記フラグが無効で
あるか判断し、ステップ202で取り出したイベントの
発生する素子が存在し、かつ被シミユレーシヨン回路の
外部出力に接続している素子に対する前記フラグが無効
である場合には次のステップ204に進み、そうでない
場合にはステップ201へ戻るステップである。204
はステップ203で、ステップ202で取り出したイベ
ントの発生する素子が存在し、かつ被シミユレーシヨン
回路の外部出力に接続している素子に対する前記フラグ
が無効であると判断した場合に前記条件に該当する経路
表を1つ取り出すステップである。205はステップ2
02で取り出したイベントが素子の正常状態に対するも
のであるのか、故障状態に対するものであるのかを判断
し、正常状態に対するものであれば次のステップ20B
に進み、故障状態に対するものであればステップ212
に進むステップである。20Bはステップ205で、ス
テップ202で取り出したイベントが前記素子の正常状
態に対するものであると判断した場合に前記経路表の前
記イベントの発生する前記素子に対する正常状態出力値
を更新するステップである。207はステップ202で
取り出したイベントの発生する前記素子のファンアウト
先の素子の正常状態入力値と故障状態出力値を更新する
ステップである。208はステップ207で入力値を更
新したイベントの発生する前記素子の正常状態と故障状
態を評価するステップである。209はステップ208
で評価したイベントの発生する前記素子のファンアウト
先の素子の正常状態出力値と故障状態出力値が同じであ
るかを判断し、正常状態出力値と故障状態出力値が同じ
であれば次のステップ210へ進み、異なっていればス
テップ213へ進むステップである。210はステップ
209で、ステップ208で評価したイベントの発生す
る前記素子のファンアウト先の素子の正常状態出力値と
故障状態出力値が同じであると判断した場合に、ステッ
プ208で評価したイベントの発生する前記素子のファ
ンアウト先の素子に対するフラグが無効にして、イベン
トの発生した前記素子のファンアウト先の素子に前記代
表故障を伝搬させないステップである。211はステッ
プ208で評価したイベントの発生した前記素子のファ
ンアウト先素子の正常出力値または故障状態出力値が元
の値と異なっていれば、新しいイベントとしてタイムホ
イールにスケジュールするステップである。212はス
テップ205で、202で取り出したイベントが素子の
故障状態に対するものであると判断した場合に、前記経
路表の前記イベントの発生する前記素子に対する故障状
態出力値を更新するステップである。213はステップ
203で、ステップ208で評価したイベン°トの発生
した前記素子のファンアウト先の素子の正常状態出力値
と故障状態出力値が異なると判断した場合に、ステップ
20Bで評価したイベントの発生した前記素子のファン
アウト先の素子に対するフラグを育効にして、イベント
の発生した前記素子のファンアウト先の素子に前記代表
故障を伝搬させるステップである。
第4図(a)、(b)はそれぞれ本発明に係る同時故障
シミュレーシ訝ンの動作を説明するための回路の初期状
態を示す回路図および代表故障の影響を示す図である。
第4図(b)は第4図(a)に示す回路の一部分を示し
、故障α、β、γは回路の他の部分の信号線における縮
退故障であるとする。0で回まれた値は各故障の影響を
受けた値である。故障αに対する素子Pの故障状態をP
(α)、正常状態をP(0)で表わす。ただし第4図(
a)に示す信号線a。
b、c、dを出力信号線に持つ素子の故障、例えば故障
αに対する故障状態についてはa(α)、b(α)、C
(αLd(α)、正常状態についてはa(0)、b(Q
)、c(0)+d(0)と表わすことにする。第5図(
a)、(b)、(c)は第4図に示す回路の初期状態の
故障α、β、γに対する各々め故障伝搬経路を表わす経
路表である。第6図(a) 、(b) 、(c)は第4
図に示す回路の同時シミュレーシσン実行後の状態の故
障α、β、γに対する各々の経路表を表わす図である。
以下本実施例の同時故障シミニレ−シーン方法でシミエ
レーシPンを実行する場合の動作を第4図、第5図、第
6図を用いて説明する。
今、時刻tでa(0)が1からOに変化するイベント、
C(β)が1から0に変化するイベント、C(γ)が0
から1に変化するイベント、d(β)が0から1に変化
するイベントが起こるとする。まずステップ202の処
理でa(0)が1からOに変化するイベントを取り出す
。ステップ203.204でa(0)は信号線aを出力
に持つ素子の正常状態を表わすので、信号線aを出力に
持つ素子を経路表中に含むものは第6図より故障αのみ
であり、また故障αの経路表の外部出力へつながってい
る素子に対する故障伝搬フラグがOであるので故障αの
経路表を選択する。
ただし第5.6図において任意の素子に対する故障伝搬
フラグが無効である場合をOで、有効である場合を1で
表現している。ステップ205でa(0)が1からOに
変化するイベントは信号線aを出力に持つ素子の正常状
態に対するものであると判断し、ステップ206で故障
αの前記経路表中の信号線aを出力に持つ素子の正常状
態出力値をOに更新し、その結果としてステップ207
で信号線aを出力に持つ素子のファンアウト先である素
子glの正常状態入力値をOに更新し、ステップ208
で素子gtの正常状態を評価する。その結果素子g1の
出力値は0から1に変化する。ステップ203で素子g
lの正常状態出力値と故障状態出力値を比較すると、第
6図(a)に示すように等しくなるのでステップ21G
で前記経路表の素子g!に対する故障伝搬フラグをOに
する。ここで時刻を以前で故障αは素子glに伝搬して
いたが、時刻tで伝搬しなくなうたことがわかる。なお
素子gl (0)は評価前と異なるのでステップ211
でgl(0)がOから1に変化するイベントをタイムホ
イール上にある時刻にスケジュールする。
次にステップ202でO(β)が1からOに変化するイ
ベントを取り出す。ステップ203.204でC(β)
は故障βに対する信号線Cを出力に持つ素子の故障状態
であるので故障βの経路表中に存在し、また第5図(b
)で故障βの経路表中の外部出力へつながっている素子
に対する故障伝搬フラグがOであるので故障βの経路表
を選択する。ステップ205でC(β)が1からOに変
化するイベントは信号線Cを出力に持つ素子の故障状態
に対するものであると判断し、ステップ212で故障β
の前記経路表中の信号線Cを出力に持つ素子の故障状態
出力値をOに更新し、その結果としてステップ207で
信号線Cを出力に持つ素子のファンアウト先である素子
g2の故障状態入力値をOに更新し、ステップ208で
素子g2の故障状態を評価する。その結果素子g2の出
力値は工のまま変化しない。ステップ209で素子g2
の正常状態出力値と故障状態出力値を比較すると等しい
値となるのでステップ210で前記経路表の素子g2に
対する故障伝搬フラグを0にする。
次にステップ202でd(β)がOから1に変化するイ
ベントを取り出す。ステップ203.204でd(β)
は故障βに対する信号線dを出力に持つ素子の故障状態
であるので故障βの経路表中に存在しまた第5図(b)
で故障βの経路表の外部出力へつながっている素子に対
する故障伝搬フラグがOであるので故障βの経路表を選
択する。ステップ205でd(β)が0から1に変化す
るイベントは信号線dを出力に持つ、素子の故障状態に
対するものであると判断し、ステップ212で故障βの
前記経路表中の信号線dを出力に持つ素子の故障状態出
力値を1に更新し、その結果としてステップ2G7で信
号線dを出力に持つ素子のファンアウト先である素子g
2の故障状態入力値を1に更新し、ステップ208で素
子g2の故障状態を評価する。その結果素子g2の出力
値は1からOに変化する。ステップ209で素子g2の
正常状態出力値と故障状態出力値を比較すると第6図(
b)に示すように、異なった値になるのでステップ21
3で前記経路表の素子g2に対する故障伝搬フラグを1
にする。ここで時刻を以前で故障βは素子g2に伝搬し
ていなかったのが、時刻tで伝搬するのがわかる。なお
素子g2(β)は評価前と異なるのでステップ211で
g2(β)が1から0に変化するイベントをタイムホイ
ール上のある時刻にスケジュールする。
最後にステップ202でC(γ)がOから1に変化する
イベントを取り出す。ステップ203.204でC(γ
)は故障γに対する信号線Cを出力に持つ素子の故障状
態であるので故障γの経路表中に存在しまた第5図(C
)で故障γの経路表の外部出力へつながっている素子に
対する故障伝搬フラグがOであるので故障γの経路表を
選択する。ステップ205でC(γ)がOから1に変化
するイベントは信号線Cを出力に持つ素子の故障状態に
対するものであると判断し、ステップ212で故障γの
前記経路表中の信号線Cを出力に持つ素子の故障状態出
力値を1に更新し、その結果としてステップ207で信
号線Cを出力に持つ素子のファンアウト先である素子g
2の故障状態入力値を1に更新し、ステップ208で素
子g2の故障状態を評価する。その結果素子g2の出力
値はOから1に変化する。ステップ203で素子g2の
正常状態出力値と故障状態出力値を比較すると第6図(
C)に示すように等しい値になるのでステップ210で
前記経路表の素子g2に対する故障伝搬フラグを0にす
る。ここで時刻を以前で故障γは素子g2に伝搬してい
たが、時刻tで伝搬しなくなったことがわかる。なお素
子g2(γ)は評価前と異なるのでステップ211でg
2(γ)が1からOに変化するイベントをタイムホイー
ル上のある時刻にスケジュールする。
このように単位時刻の同時故障シミュレーションの実行
を繰り返し素子g4まで同時故障シミュレーションを実
行した結果を第6図に示す。以下同様に外部出力につな
がっている素子まで同時故障シミュレーシヨンを実行し
、外部出力につながっている素子に対する故障伝搬フラ
グが有効であるならば故障は検出され、無効であるなら
ば故障は検出されない。
以上のように、本実施例によれば各代表故障について経
路表を作成することにより、代表故障の伝搬をフラグを
書き換えることのみで行なえ、従来の同時故障シミュレ
ーションより高速かつ小量のメモリでシミュレーション
を実行できる。
発明の効果 以上述べてきたように、本発明に係る故障シミュレーシ
ョン方法は、代表故障毎に前記代表故障が外部出力まで
伝搬する経路を求め、前記代表故障の各々について前記
代表故障が伝搬する経路に存在する素子の番号、前記素
子のタイプ、前記素子の正常状態、前記素子の故障状態
、前記素子の次の段の素子に前記代表故障が伝搬するか
ということを示すフラグを有する経路表を作成して単位
時刻のシミュレーションを実行するため、従来のような
イベントによって故障状態リストの故障状態を削除した
り加えたりして前記代表故障を伝搬するという煩雑な処
理を行なわず、また故障状態リストを作成しないで、高
速にかつ小量のメモリで同時故障シミュレーシヨンを実
行しえる効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による同時故障シミニレ−シ
ロン方法を示す流れ図、第2図は第1図に示す流れ図の
単位時刻の同時故障シミュレーション方法をより詳しく
示す流れ図、第3図は従来の同時故障シミュレーション
方法を示す流れ図、第4図(a)、(b)はそれぞれ本
発明に係る同時故障シミュレーションの動作を説明する
ための回路の初期状態を示す回路図および代表故障の影
響を示す図、第5図(a)、(b)、(c)は第4図に
示す回路の初期状態の故障α、β、γに対する各々の経
路表を表わす図、第6図(a)、(b) 、(Q)は第
4図に示す回路の同時シミニレーシーソ実行後の状態の
故障α、β、γに対する各々の経路表を表わす図である
。 103・・・・各代表故障毎に前記代表故障が外部出力
まで伝搬する経路を求め、経路表を作成するステップ、
203・・・・イベントの発生する素子が経路表に存在
し、かつ経路表中の外部出力に接続している素子に対す
るフラグが無効であるかを判断するステップ、209・
・・・イベントの発生した素子のファンアウト先の素子
の正常状態出力値と故障状態出力値が等しいかを判断す
るステップ、21O・・・・イベントの発生した素子の
ファンアウト先の素子に対するフラグを無効にするステ
ップ、213・・・・イベントの発生した素子のファン
アウト先の素子に対するフラグを有効にするステップ。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名璽 図 第 図 嬉 図 区 手続補正書働式) 平成元年6月IA日 臂1年特許願第24203号 補正をする者 事件との関係      特   許   出   願
  大佐 所  大阪府門真市大字門真1006番地名
 称 (582)松下電器産業株式会社代表者    
谷  井  昭  雄

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 論理回路の代表故障が前記論理回路の外部出力まで伝搬
    する経路を選び出し、前記代表故障の各々について前記
    代表故障が伝搬する経路に存在する素子の番号、前記素
    子タイプ、前記素子の正常状態、前記素子の故障状態、
    前記素子の次の段の素子に前記代表故障が伝搬するかと
    いうことを示すフラグを有する経路表を作成する第1の
    工程と、イベントの発生する素子が存在する前記代表故
    障の経路表を見つけだす第2の工程と、前記経路表中に
    存在する前記論理回路の外部出力端子に接続している素
    子に対する前記フラグが無効であるかを判断する第3の
    工程と、前記第3の工程で前記経路表中に存在する前記
    論理回路の外部出力に接続している素子に対する前記フ
    ラグが無効であると判断した時、イベントの発生した前
    記素子の正常状態出力値または故障状態出力値を更新し
    、イベントの発生した前記素子のファンアウト先の素子
    の正常状態入力値と故障状態入力値を更新した後、評価
    した前記素子の正常状態出力値と故障状態出力値が等し
    いかを判断する第4の工程と、第4の工程でイベントの
    発生した前記素子のファンアウト先の素子の正常状態出
    力値と故障状態出力値が等しいと判断した時、イベント
    の発生した前記素子のファンアウト先の素子に対する前
    記フラグを無効にしてイベントの発生した前記素子のフ
    ァンアウト先の素子に前記代表故障を伝搬させない第5
    の工程と、第4の工程でイベントの発生した前記素子の
    ファンアウト先の素子の正常出力値と故障状態出力値が
    異なると判断した時、イベントの発生した前記素子のフ
    ァンアウト先の素子に対する前記フラグを有効にしてイ
    ベントの発生した前記素子のファンアウト先の素子に前
    記代表故障を伝搬させる第6の工程からなる故障シミュ
    レーション方法。
JP1024203A 1989-02-02 1989-02-02 故障シミュレーション方法 Pending JPH02204842A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1024203A JPH02204842A (ja) 1989-02-02 1989-02-02 故障シミュレーション方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1024203A JPH02204842A (ja) 1989-02-02 1989-02-02 故障シミュレーション方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02204842A true JPH02204842A (ja) 1990-08-14

Family

ID=12131758

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1024203A Pending JPH02204842A (ja) 1989-02-02 1989-02-02 故障シミュレーション方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02204842A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103810069A (zh) * 2012-11-13 2014-05-21 中国航空工业集团公司第六三一研究所 Arinc659总线容错电路的验证平台及其验证方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103810069A (zh) * 2012-11-13 2014-05-21 中国航空工业集团公司第六三一研究所 Arinc659总线容错电路的验证平台及其验证方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5513339A (en) Concurrent fault simulation of circuits with both logic elements and functional circuits
JPH04211871A (ja) 論理設計の検証支援システム
JPH02204842A (ja) 故障シミュレーション方法
JPS6141017B2 (ja)
JP2785901B2 (ja) 検査系列生成方法および検査系列生成装置
JP2569881B2 (ja) コンカレント故障シミュレーション方式
JP2996293B2 (ja) 故障シミュレーション方法
JPS6325377B2 (ja)
JPH0581368A (ja) スキヤンパスにおける双方向端子のモード検証方法
JP2972558B2 (ja) 論理回路の故障シミュレーション方法
JP2785708B2 (ja) 論理シミュレーション方法
Silva et al. Concurrent path sensitization in timing analysis
JPH021571A (ja) 故障シミュレーション装置
JPH08101258A (ja) テストパターン生成方法及びその装置
JPH063420A (ja) 組み合わせ論理回路のテストパタン生成方法
JP2001188807A (ja) 時間故障シミュレーション方法
JPH0785120A (ja) 論理回路シミュレーション方法
JP2658857B2 (ja) 等価故障抽出方法及び装置
JPH05142306A (ja) テストパタン生成方式
JP2000353185A (ja) 論理回路の故障シミュレーション方法及び装置
JPS62114040A (ja) イベントシミユレ−タ
LATINO SIMPLIFIED MULTIPLE STUCK-AT-FAULT TEST GENERATION TECHNIQUES.
Ishibashi et al. Accelerated concurrent fault simulation by analyzing detected faults
JPH029370B2 (ja)
JPH07287723A (ja) 指定パス活性化検出方法