JPH02205885A - 電子学習装置 - Google Patents
電子学習装置Info
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- JPH02205885A JPH02205885A JP33108388A JP33108388A JPH02205885A JP H02205885 A JPH02205885 A JP H02205885A JP 33108388 A JP33108388 A JP 33108388A JP 33108388 A JP33108388 A JP 33108388A JP H02205885 A JPH02205885 A JP H02205885A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
［産業上の利用分野］
本発明は、電子学習装置に関し、詳しくは、英単語、漢
字、歴史年表、数学公式、理科公式等の暗記に好適な電
子学習装置に関する。 〔従来の技術］ 従来、単語等を暗記するため文具として単語カードがあ
るが、単語カードをめくることは煩雑であり、前回正答
か誤答かがわからないので、前回正答であったものまで
、もう１度解くことになり学習効率が悪かった。現在、
英語辞書カードも市販されているが、何万語も内蔵した
カードは試験には役にたたない。 更に、問題とこの問題に対する正答を含む複数の答えを
記載した問題カードに対して回答を行い結果に応じて音
声により正誤を判定するもの（特開昭６Ｏ−２２２８８
５）、難易度に応じて区別されたカードが提案されてい
る（特開昭６ｌ−１１７２９）。しかし、１度正答を出
したものまで再度問題を解くことになるので、学習効率
が悪かった。 更に穴埋め問題に対し誤った問題のみを繰り返し学習す
る必要があり、解答時間の長くかかった問題■のみを繰
り返して練習する必要がある。 ［発明が解決しようとする課題］ そこで本発明の目的は、安価でかつ学習効率を飛躍的に
向上するのに好適な電子学習装置を提供することにある
。 ［課題を解決するための手段］ 従って前記目的を解決する本発明の要旨は、問題データ
と解答データとを含む所定の学習データを格納する学習
メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データ、それに続いて解答データを可
視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解
答データと問題データとを順次に可視出力する可視出力
部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置である。 又、少なくとも１つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、少なくとも正答キーと誤答キー
とを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
解答データと問題データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 １つの問題データについて少なくとも１つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、１つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置を要
旨とする。 更に、問題データと解答データとを含む所定の学習デー
タを格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解答
データと問題データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置を要旨とする。 ［作用コ 本装置の作用は、問題データと解答データとを格納する
学習メモリから、まず問題データを読みだし可視出力し
、使用者がこれを見て答えを考える。ついで解答データ
を読みだして可視出力し、使用者が正答キーと誤答キー
の選択を行い、使用者の答えが解答と合っていると使用
者が正答キーを押し、答えが解答と合っていないと使用
者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対し使用者の
解答が正答であったか誤答であったかを識別できるよう
に（例えば識別信号をつけたり、別々の記・憶領域に格
納したり）し、こうして問題と解答を繰り返し、学習デ
ータの内、誤答であるもののみを識別する。 こうして誤答と識別された問題を自動的に順次に読みだ
し、正答、誤答キーの選択をおこない、正答キーに応答
して、その可視出力した誤答学習データを正答と識別し
、こうした制御を繰り返し、誤答となった学習データが
減少して行く。従って、誤答である問題のみを正答にな
るまで学習できるので、解答時間が短縮し学習効率が飛
躍的に向上する。 又、少なくとも１つの空欄勇断を含むいわゆる穴埋め問
題データと、空欄勇断に対応する解答データとを格納す
る学習メモリから、まず問題データを読みだし可視出力
し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで解答デー
タを読みだして可視出力し、使用者が正答キーと誤答キ
ーの選択を行い、使用者の答えが空欄の解答と合ってい
ると正答キーを押し空欄が解答で埋まり、答えが空欄の
解答と合っていないと誤答キーを押し空欄はそのままで
あり、１つの問題の空欄について少なくとも１つ誤答が
あると誤答、全部正解であると正答と識別できる。 次ぎに１つの問題文中の少なくとも１つの空欄が誤答で
あった問題のみを読みだし、正答、誤答キーの選択をお
こない、空欄勇断が全部正答で空欄がなくなると、その
可視出力した学習データを正答とみなして空欄勇断の残
っている学習データから識別し、その空欄の残っている
学習データが減少するように、このような処理を繰り返
し全問正答に近づいて行く。 従って、使用者は誤った問題のみを何らの労力も要せず
容易に学習でき、学習時間を大幅に短縮することができ
る。 更に、本装置の作用は、問題データと解答データとを格
納する学習メモリから、まず問題データを読みだし可視
出力し、使用者がこれを見て答えを考え、使用者は可視
出力した解答を見て正答キーと誤答キーの選択を行う。 ついで問題の表示から正答キーと誤答キーの応答までの
解答時間を計測し、解答時間に長時間を要した問題だけ
を識別する。このような問題だけを読みだし可視出力し
、再度、解答時間に長時間を要したものかどうか判断し
、短時間で解答に達すると、その可視出力した学習デー
タを解答に長時間を要した学習データから識別し、その
ような長時間を要した学習データが所定数に減少するま
でこのような処理を繰り返す。従って、問題が早く解け
るようになり学習効果を大幅に向上できる。 ［実施例コ 以上説明した本発明の構成作用を一層明らかにするため
に、以下本発明の装置の好適な実施例について説明する
。第１図Ａは本発明の第１実施例で、手帳型電子学習機
１を示し、正答キー２と誤答キー４と終了キー８と音声
キー１０と表示キー１２と切キー１４と大キー１６と選
択キー１８と正答率キー２０とアルファニューメリック
キー２１とを備えるキーボード入力部２２と、この入力
部２２に応答して、後述のＩＣカード２４． ２６から
交互に問題と解答を読みだし、問題と、これに続いて解
答とを表示する表示部２日とを有している。 第１図Ｂ、 Ｃは、英単語ＩＣカード２４と歴史年表
ＩＣカード２６で、学習段階に応じて、所定の問題デー
タと解答データとを含む学習データを所定数格納してお
り、ＩＣカード２４．２６は電子学習１１！１の受は入
れｇＰＪ２３に挿入できる。 第２図は電子学習機１の内部構造で、この装置１は、キ
ーボード入力部２２、表示部２８、音声出力部２９、周
知のＣＰＵ３０、ＲＯＭ３２、ＲＡＭ３４、バックアッ
プＲＡＭ３５を中心にこれらとバス３６により接続する
カウンタ３８、電源部４０、タイマ４２、コネクタ４４
、インタフェース４６．プリンタインターフェース４８
から構成する。プリンタインタフェース４日はプリンタ
に接続可能であり、ＲＯＭ３２は学習制御プログラムを
記憶している。 この電子学習機１はＩＣカード２４と接続し、このＩＣ
カード２４は、周知のＣＰＵ５０、ＲＯＭ５２、ＲＡＭ
５４を中心にこれらとバス５６により接続するインタフ
ェース５Ｂから構成する。 ＲＯＭ５２は制御プログラムと英単語の問題データと解
答データとを所定数記憶している。 第３図は、ＲＯＭ３２とＲＯＭ５２に格納している学習
制御プログラムを示すメインルーチンのフローチャート
である。まずステップｌ（以下Ｓ１と略す）においては
、フラグ、カウンタ等の期間化を行い、Ｓ２は音声キー
１０がオンしているかどうかを判断し、ＹＥＳならＳ３
で音声出力部２９をオンし、ＮＯならＳ４でフラグＦを
１に設定し、次の８５は学習処理を行うサブルーチンで
ある。 第４図は、サブルーチンＳ５の処理を示すフローチャー
トであり、以下場合を分けて説明する。 ■第１回目の場合（フラグＧ＝０の場合）。 まずＳ１２はメニュー−の表示と選択を行い、第５図Ａ
は、大キー１６の押し下げにより現れるメニュー画面を
示し、選択キー１８でカーソル６０を移動しメニューを
選択できる。この画面では「１」が選択され、後述のよ
うに英単語の和訳の問題が出題される。つぎに第５図Ｂ
のメニュー画面が現れ、中学の学年別に応じた英単語の
問題をカーソル６０の移動で選択し、この画面では「２
」が選択され、中学２年程度の英単語を格納したＲＯＭ
５２のワードメモリ７０の読みだしが可能となる。 第６図は、中学２年の学習レベルに対応するＲＯＭ５２
のワードメモリ７０の内容を示し、ワードメモリ７０は
Ｐ１〜Ｐ ３０００番地、Ｑ１〜０３０００番地まであ
り、各番地に対応してＥ１〜Ｅ３０００． Ｊｌ〜Ｊ
３０００までの６０００個のデータを順次格納してい
る。Ｅ１〜Ｅ ３０００は問題である英単語を示すデー
タで、Ｊ１〜Ｊ ３０００はその解答である和文を示す
。 例えばＰ１番地には英単語データＥｌ（例： ｂｅａｕ
ｔｉｆｕｌ）、Ｑ１番地には、その訳語データＪｌ（例
：美しい）１ｉ：格納している。ＲＯＭ５２の図示せぬ
他のワードメモリには中学１年と中学３年と高校入試用
の英単語データを所定数格納している。 第４図に戻り、Ｓ１４は、ＲＯＭ５２の最後の０３００
０番地に入っている識別用のデータを読み出したかどう
かを判断することにより、ＲＯＭ５２の内容を１通り読
み終えたかどうかを判断し、ここでは最初の処理である
のでＮＯと判断する。次の８１８はワードメモリ７０か
ら英単語データＥ１を読みだし、読みだした英単語デー
タＥｌを表示部２８の問題欄に“ｂｅａｕｔｉｆｕｌ”
と表示し、音声フラグＦが０ならば、表示する文字を音
声出力する。そして使用者がこれを見て答えを考え、正
答をみるため表示キー１２を押すと、Ｓ２０でＹＥＳと
判断し、次の９２２でＱ１番地に格納されている訳語デ
ータＪｌを読みだして表示部２日の解答欄に“形容詞；
美しい′と表示するが、更に発音、類義語、反対語、文
例も同時に表示できるよう構成することができる。 使用者の答えが訳語データＪ１と合っていないと使用者
は誤答キー°４を押し、Ｓ３４でＮ０１Ｓ２４でＹＥＳ
と判断し、最初の処理であるので８２６でＮＯと判断し
、第４図の９２８では、誤答回数Ｊを１増加する。Ｓ２
９では表示部２日に表示しているデータのＰｌ、０１１
番左第７図のＲＡＭ３５のエラーリストメモリ８０のＭ
１番地に格納し、又、３１Ｂの英単語の表示から表示キ
ー１２の押し下げまでの使用者の解答時間Ｔ１をタイマ
４２から読み出し、エラーリストメモリ８０のＭ１番地
に格納する。次の９３０では終了キー８が押されていな
いのでＮＯと判断し、Ｓ３２で全解答回数Ｉを１増加し
て３１Ｂに戻り、９１Ｂでは次の単語データＥ２をワー
ドメモリ７０のＰ２番地から読みだし、その英単語デー
タＥ２を表示部２日に表示する。 そして使用者がこれを見て答えを考え正答を見るため、
表示キー１２を押すと、Ｓ２２で０２番地の訳語データ
Ｊ２を読みだして、表示部２８に表示し、音声フラグＦ
が０ならば音声出力する。使用者の答えが訳語データＪ
２と同じ場合は、正答キー２を押し、Ｓ３４でＹＥＳと
判断し、５２６でフラグＧが１かどうか判断し最初の処
理なのでＮＯと判断し、Ｓ３０．３３２を経て同様な処
理を繰り返す。このようにして誤答と判断した英単語デ
ータ及び訳文データに対応する番地と解答時間が蓄積さ
れて行きＲＯＭ５２のワードメモリ７０のデータを全部
読みだし全部解答できた状態では、第７図に示すエラー
リストメモリ８０のデータが６００個になっており、使
用者は３０００題の内、６００題を誤答したことになる
。Ｍ２Ｏ３からＭ３Ｏ００までは空き領域であるが、も
し全問誤答の場合、誤答となった英単語と訳文データの
番地と解答時間が、Ｍ１〜Ｍ３０００番地を満たすこと
になる。 途中で打ち切る場合は、Ｓ３０でＹＥＳとなり、Ｓ４０
では終了処理を行い、メツセージ「途中で終わりました
」を表示部２８に表示する。フラグＧ＝０と終了時の番
地をＲＡＭ３５の図示せぬ終了メモリに格納しておくの
で、次回はその途中から始められるので便利である。１
回目を完全に終了してから終わる場合はフラグＧ＝１と
設定されており、フラグＧ＝１とエラーリストメモリ８
０の最初の番地とを終了メモリに格納する。 ■１回目を終えた後、２回目の最初から又は２回目の途
中から始める場合（フラグＧ＝１の場合の処理） Ｓ１２の処理を終えて、９１４．１６を経て、Ｓ１８で
ＲＡＭ３５の終了メモリに格納された番地に相当する英
単語データをＲＯＭ５２のワードメモリ７０から読みだ
す。Ｓ２０で表示キー１２を押し、訳語データが表示さ
れ使用者の回答が正答の場合はＳ３４，３３６を経て９
３Ｂでエラーリストメモリ８０から今回正答となったデ
ータに対応する番地を消去する。誤答の場合はＳ２４゜
Ｓ２６，９３０．Ｓ３２を経て９１Ｂに戻り以下、同様
な処理を繰り返し、正答である毎にデータをエラーリス
トメモリ８０から減らして行き、データがゼロになった
ときに使用者は全ての問題を正答できたことになる。終
了キーをおすと３４０で終了処理を行い、表示部２８に
メツセージ「全てが正答となりました」と表示し、°途
中で終わる場合はフラグＧ＝Ｏと最後の番地を終了メモ
リに格納する。 ■プリント処理 Ｓ４０が終了すると、学習処理ルーチンは終了し、第３
図のメインルーチンにもどり、Ｓ６で図示せぬプリント
キーが押し下げされると８７で印字処理を行い、本メイ
ンルーチンを終了する。 尚、第１実施例では、英単語の問題であったが、ＯＸ式
、多枝選択式に適用でき、又、歴史年表、理科数学公式
、漢字等に適用できることも勿論である。 第８図、第９Ａ、 Ｂ、 Ｃ図は第２実施例であり
、第１実施例と異なるところは、ＲＡＭ３５にエラーリ
ストメモリ１００に加えてコレクトリストメモリ９０を
追加したものである。第８図は第４図と異なる個所を示
しており他のステップはほぼ共通であり、第８図で第１
回目に使用者の解答が正答であるときしこも正答データ
を９５２でコレクトリストメモリ９０に識別可能に格納
できるようにしている。つまり正答であるデータと誤答
であるデータを分けてＲＡＭ３５のコレクトリストメモ
リ９０に５５２で、エラーリストメモリ１００に８２８
でデータを格納できる。即ち、第１回目の処理が終了し
たとき、第９図Ａのワードメモリ７５から読みだしたデ
ータを、第９図Ｂのコレクトリストメモリ９０と同図Ｃ
のエラーリストメモリ１００に分けて格納する様子を示
す。 そして９３４で正答キー２を押し下げる毎に、表示中の
正答であると判断したデータを９５０でエラーリストメ
モリ１００からコレクトリストメモリ９０に転送し、エ
ラーリストメモリ１００のデータを減少させて行く。 尚、コレクトリストメモリ９０、エラーリストメモリ１
００を第１回目、第２回目等の繰り返し回数に応じてそ
れぞれ記憶しておくことも可能であり、何回目で正答に
達したかがわかる。 第１０図は本発明の第３実施例であり、いわゆる穴埋め
問題に対する応用例である。第１０図はワードメモリ１
７０を示し、Ｐ１〜Ｐ３００には問題データが、Ｑｌｌ
〜Ｑ ３００３には解答データが入り、Ｐｌには次のよ
うな間頚データに１が入っている。 郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［コ
ｔｏ ｔｈｅ ［］０ｆｆｉｃｅ？ 第１１図はＫ １のデータ構造を示し、データに１１は
’Ｃａｎ ｙｏｕ″であり、α１．β１．ｒｌは最初
の空欄に対応し、α１．β１．γ１はそれぞれ最初の位
置、空欄にはいる文字数、最後の位置を示し、解答デー
タＬｌｌの“ｔｅｌ！”に対応する。 データＫ］２は、 “ｍｅ ｔｈｅ”であり、データ
α２．β２．γ２は２＠目の空欄に対応し、解答データ
Ｌ１２の“ｗａｙ”に対応する。データに１３は１ｔｏ
ｔｈｅ”であり、データα３．β３．γ３は３番目
の空欄に対応し、解答データＬ１３の”Ｐｏ５ｔ １１
が対応し、データに１４は“０ｆｆｉｃｅ？”である。 Ｑ１１番地には解答データＬｉｔとして“ｔｅｌビ′が
、０１２番地には解答データＬ１２として“ｗａｙ“が
、Ｑ１３番地には解答データＬ１３として“Ｐｏ５ｔ”
が入っている。ここでカウンタＣの内容は１つの問題デ
ータ中の空欄ケ所の数を示す。 第１２図は、エラーリストメモリ１８０の内容を示し、
空欄勇断を正答すると、そこに解答データが入り、空欄
勇断が言呉答の時は空欄はそのままであり、正答すれば
するほどエラーリストメモリ１８０の内のデータ数とカ
ウンタＣは減少して行く。 次ぎに第３実施例の内容を、第１３図のサブフローチャ
ートに基づいて説明する。第１実施例の第４図のサブフ
ローチャートを図示のように１部変更したもので、３１
６〜Ｓ３０に代わり９３００〜５４００が加わっている
が、８１Ｂ、２０゜２２．２４はそのままであり、英単
語に代わり英語の文章が読みだされ表示部２８に表示さ
れる。 まず５３００でこれから表示する学習データについての
カウンタＣの値をカウンタＢに設定し、ここではカウン
タＢは１つの問題文中の空欄勇断の数が解答のある毎に
減ってゆく様子を示すもので、残りの未解答の空欄勇断
の数を示す。第１実施例と同様に３１８〜Ｓ２２で問題
と解答の表示が行われた後、Ｓ３４で正答キー２が押さ
れると、５３１０でカウンタＣとカウンタＢとを１減少
し、５３２０で解答データをＲＡＭ３４０所定領域に転
送し、正答であればもう１度問題を解く必要はないから
５３３０で表示部２８の問題文中の空欄［］を消去し、
そこに解答データを衷示する。一方、誤答キー４が押さ
れると、Ｓ２４でＹＥＳとなり、５３４０で空欄はその
ままとし誤答回数Ｊを１増加し、カウンタＢを１減少す
る。 ５３３０又は５３４０の後は、５３５０でＢ＝０となる
までループ処理（８２０〜５３４０）を行う。 ５３５０でＹＥＳとなると、８３６０でＧ＝１かどうか
判断し、Ｎｏならば８３８０でエラーリストメモリ１８
０に問題データと解答データを格納し、５３２０でＲＡ
Ｍ３４に格納した解答データ（正答となったもの）を問
題データに転送し、その解答データは解答番地から消去
する。ＹＥＳならばＲＡＭ３４の解答データをエラーリ
ストメモリ１８０に転送し、既に問題データは格納され
ているから、問題データの格納は行わない。 例えば、第１間の３つの空欄の内、１．２番目の空欄が
誤答で３番目の空欄を正答したとすると０１１．１２＠
地のデータはそのままで、０１３番地のデータＬ１３を
問題データに１のデータα３．β３．γ３へ転送して空
欄を埋め、問題データは次のように修正され’Ｐｏ５ｔ
”が現れる。 郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［コ
ｔｏ ｔｈｅ Ｐｏ５ｔ
Ｏｆｆｉｃｅ？ 尚、解答データの内、Ｌｉ２は消去される。 続＜３３９０でＹＥＳ、即ち空欄に対し全部正答キー２
が押されると９４００でエラーリストメモリ１８０かそ
のデータを消去する。例えば、第１２図のＰ３番地のデ
ータは空領域となっており、これは第３間の３つの空欄
をすべて正答したためである。Ｓ３０でＮＯの場合は、
１つの問題を終えたと判断し、Ｓ３２へ飛び、■を１増
加して、次の問題文に移る。ＹＥＳならＳ４０へ飛ぶ。 こうして処理がつぎつぎに行われた結果の例が第１２図
に示される。 第１４図は、第４実施例を示し、第１実施例の第４図の
サブフローチャートの９１８〜Ｓ３０を１部変更したも
ので、５５００〜５５２０が新たに加わっている。即ち
、第１実施例では、誤答のもののみを正答になるまで繰
り返しているが、これに加えて第４実施例では、更に解
答に時間を要したものを選択して、正答かつ解答時間が
短くなるまで問題を繰り返し実行する。 ５５００でタイマ４２が起動して、Ｓ２０でＹＥＳなら
、５５１０でタイマ４２をストップして解答時間データ
Ｔｉを算出し、Ｓ２２．Ｓ３４のあと５５２０で解答時
間Ｔ１と所定時間Ｔｏを比較し、ＹＥＳならＳ２４．９
２６を経て９２Ｂで第７図のエラーリストメモリ８０に
単語データ、訳文データとともに、解答時間データＴｉ
を格納し、Ｓ２９を行い、９３Ｂを行い、Ｓ３０へ飛び
、５５２０でＮＯなら９３６，３３Ｂを行う。尚、正答
、誤答に拘らず、解答時間が長かったものを選択して、
繰り返して問題を解けるように設計変更できることは勿
論である。 第１５図は、第５実施例であり、ＩＣカード２４．２６
の学習データの範囲を使用者が自由に設定できるもので
あり、図示せぬ所定のキーが押されると本ルーチンが起
動し、学習データの区分、例えは中学の各学年の学期、
教科書の各セクション、歴史年表の年代等の一覧を表示
１２Ｂに衷示し、５７００でＩＣカード２４．２６の表
面に設けた図示せぬ選択キーあるいはアルファニューメ
リ・ンクキー２１で所望のレッスンを設定する。例えは
歴史年表で１５００年から１６５０年までを学習したい
ときは、１５００と１６５０の数字キーを押せばよく、
英語の教科書のセクションでは選択キーを押してカーソ
ルで選ぶことができる。 次の８８００では設定されたレッスンに対応する学習デ
ータの格納領域に関する設定データをＲＡＭ３５に記・
憶し、この設定した学習データの格納領域以外からの学
習データの読み込みを禁止し、５９００でＩＣカード２
４又は２６の表面に設けた図示せぬレッスン変更キーが
押されると、５１０００でその押し下げに応じて前記設
定データを変更し処理を終了する。こうして学習を始め
る前、学習途中、学習後に学習データの区分を自由に設
定変更することができるので、学習の自由度を大いに向
上させることができる。 尚、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々な変形が可
能であり、例えば、英単語の問題の代わりに漢字、歴史
年表、数学公式、理科公式等の暗記用の学習データとし
てもよく、学習データを試験によくでる頻度順にＲＯＭ
に格納しておいてもよく、回路をディスクリートな構成
にしてもよく、ＩＣカードの方にバッファ・ンブＲＡＭ
を設は電池でバックアップしてもよく、全問正答まで行
くとゲームが楽しめるように構成してもよく、学習処理
の終了時に残りの問題数を表示し目標達成までどのくら
いかを示すように構成してもよく、問題データの表示後
、設定時間経過後に自動的に解答データを表示部に表示
してもよい。又、正答キー２、誤答キー４、終了キー８
、音声キー１０、表示キー１２、選択キー１日又は正解
率キー２０をアルファニューメリックキー２１が兼用し
てもよく、現在普及しつつある電子辞典としても活用で
きる。更に、バックアップＲＡＭの内容を書換え可能と
し、使用者が問題と解答を自由に作成、追加、変更でき
るようにすることが可能である。 ［発明の効果コ 本発明の効果は、誤答学習データを学習メモリから選択
的に順次に読みだし可視出力部に可視出力し、正答キー
に応答して、その誤答学習データを正答と識別し、誤答
学習データが少なくとも所定数になるまで制御している
ので、使用者は解答を誤った問題のみを何らの労力も要
せず繰り返し学習でき、学習時間を大幅に短縮すること
ができ、又、学習段階に応じて問題を選択できる。 次ぎに１つの問題文中の少なくとも１つの空欄が誤答で
あった問題を識別し、その空欄の残っている学習データ
を正解になるまで繰り返し学習ができるので、いわゆる
穴埋め問題に対する学習効果が大幅に上昇する。 更に、解答に長時間を要した学習データを学習メモリか
ら選択的に順次に読みだし可視出力部に可視出力し、キ
ーに応答して、早く解けた場合はその学習データを識別
可能とし、解答に長時間を要した学習データを少なくと
も所定数になるまで制御しているので、解答時間が制限
される試験に対しての学習効果が大幅に向上する。
字、歴史年表、数学公式、理科公式等の暗記に好適な電
子学習装置に関する。 〔従来の技術］ 従来、単語等を暗記するため文具として単語カードがあ
るが、単語カードをめくることは煩雑であり、前回正答
か誤答かがわからないので、前回正答であったものまで
、もう１度解くことになり学習効率が悪かった。現在、
英語辞書カードも市販されているが、何万語も内蔵した
カードは試験には役にたたない。 更に、問題とこの問題に対する正答を含む複数の答えを
記載した問題カードに対して回答を行い結果に応じて音
声により正誤を判定するもの（特開昭６Ｏ−２２２８８
５）、難易度に応じて区別されたカードが提案されてい
る（特開昭６ｌ−１１７２９）。しかし、１度正答を出
したものまで再度問題を解くことになるので、学習効率
が悪かった。 更に穴埋め問題に対し誤った問題のみを繰り返し学習す
る必要があり、解答時間の長くかかった問題■のみを繰
り返して練習する必要がある。 ［発明が解決しようとする課題］ そこで本発明の目的は、安価でかつ学習効率を飛躍的に
向上するのに好適な電子学習装置を提供することにある
。 ［課題を解決するための手段］ 従って前記目的を解決する本発明の要旨は、問題データ
と解答データとを含む所定の学習データを格納する学習
メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データ、それに続いて解答データを可
視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解
答データと問題データとを順次に可視出力する可視出力
部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置である。 又、少なくとも１つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、少なくとも正答キーと誤答キー
とを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
解答データと問題データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 １つの問題データについて少なくとも１つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、１つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置を要
旨とする。 更に、問題データと解答データとを含む所定の学習デー
タを格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解答
データと問題データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置を要旨とする。 ［作用コ 本装置の作用は、問題データと解答データとを格納する
学習メモリから、まず問題データを読みだし可視出力し
、使用者がこれを見て答えを考える。ついで解答データ
を読みだして可視出力し、使用者が正答キーと誤答キー
の選択を行い、使用者の答えが解答と合っていると使用
者が正答キーを押し、答えが解答と合っていないと使用
者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対し使用者の
解答が正答であったか誤答であったかを識別できるよう
に（例えば識別信号をつけたり、別々の記・憶領域に格
納したり）し、こうして問題と解答を繰り返し、学習デ
ータの内、誤答であるもののみを識別する。 こうして誤答と識別された問題を自動的に順次に読みだ
し、正答、誤答キーの選択をおこない、正答キーに応答
して、その可視出力した誤答学習データを正答と識別し
、こうした制御を繰り返し、誤答となった学習データが
減少して行く。従って、誤答である問題のみを正答にな
るまで学習できるので、解答時間が短縮し学習効率が飛
躍的に向上する。 又、少なくとも１つの空欄勇断を含むいわゆる穴埋め問
題データと、空欄勇断に対応する解答データとを格納す
る学習メモリから、まず問題データを読みだし可視出力
し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで解答デー
タを読みだして可視出力し、使用者が正答キーと誤答キ
ーの選択を行い、使用者の答えが空欄の解答と合ってい
ると正答キーを押し空欄が解答で埋まり、答えが空欄の
解答と合っていないと誤答キーを押し空欄はそのままで
あり、１つの問題の空欄について少なくとも１つ誤答が
あると誤答、全部正解であると正答と識別できる。 次ぎに１つの問題文中の少なくとも１つの空欄が誤答で
あった問題のみを読みだし、正答、誤答キーの選択をお
こない、空欄勇断が全部正答で空欄がなくなると、その
可視出力した学習データを正答とみなして空欄勇断の残
っている学習データから識別し、その空欄の残っている
学習データが減少するように、このような処理を繰り返
し全問正答に近づいて行く。 従って、使用者は誤った問題のみを何らの労力も要せず
容易に学習でき、学習時間を大幅に短縮することができ
る。 更に、本装置の作用は、問題データと解答データとを格
納する学習メモリから、まず問題データを読みだし可視
出力し、使用者がこれを見て答えを考え、使用者は可視
出力した解答を見て正答キーと誤答キーの選択を行う。 ついで問題の表示から正答キーと誤答キーの応答までの
解答時間を計測し、解答時間に長時間を要した問題だけ
を識別する。このような問題だけを読みだし可視出力し
、再度、解答時間に長時間を要したものかどうか判断し
、短時間で解答に達すると、その可視出力した学習デー
タを解答に長時間を要した学習データから識別し、その
ような長時間を要した学習データが所定数に減少するま
でこのような処理を繰り返す。従って、問題が早く解け
るようになり学習効果を大幅に向上できる。 ［実施例コ 以上説明した本発明の構成作用を一層明らかにするため
に、以下本発明の装置の好適な実施例について説明する
。第１図Ａは本発明の第１実施例で、手帳型電子学習機
１を示し、正答キー２と誤答キー４と終了キー８と音声
キー１０と表示キー１２と切キー１４と大キー１６と選
択キー１８と正答率キー２０とアルファニューメリック
キー２１とを備えるキーボード入力部２２と、この入力
部２２に応答して、後述のＩＣカード２４． ２６から
交互に問題と解答を読みだし、問題と、これに続いて解
答とを表示する表示部２日とを有している。 第１図Ｂ、 Ｃは、英単語ＩＣカード２４と歴史年表
ＩＣカード２６で、学習段階に応じて、所定の問題デー
タと解答データとを含む学習データを所定数格納してお
り、ＩＣカード２４．２６は電子学習１１！１の受は入
れｇＰＪ２３に挿入できる。 第２図は電子学習機１の内部構造で、この装置１は、キ
ーボード入力部２２、表示部２８、音声出力部２９、周
知のＣＰＵ３０、ＲＯＭ３２、ＲＡＭ３４、バックアッ
プＲＡＭ３５を中心にこれらとバス３６により接続する
カウンタ３８、電源部４０、タイマ４２、コネクタ４４
、インタフェース４６．プリンタインターフェース４８
から構成する。プリンタインタフェース４日はプリンタ
に接続可能であり、ＲＯＭ３２は学習制御プログラムを
記憶している。 この電子学習機１はＩＣカード２４と接続し、このＩＣ
カード２４は、周知のＣＰＵ５０、ＲＯＭ５２、ＲＡＭ
５４を中心にこれらとバス５６により接続するインタフ
ェース５Ｂから構成する。 ＲＯＭ５２は制御プログラムと英単語の問題データと解
答データとを所定数記憶している。 第３図は、ＲＯＭ３２とＲＯＭ５２に格納している学習
制御プログラムを示すメインルーチンのフローチャート
である。まずステップｌ（以下Ｓ１と略す）においては
、フラグ、カウンタ等の期間化を行い、Ｓ２は音声キー
１０がオンしているかどうかを判断し、ＹＥＳならＳ３
で音声出力部２９をオンし、ＮＯならＳ４でフラグＦを
１に設定し、次の８５は学習処理を行うサブルーチンで
ある。 第４図は、サブルーチンＳ５の処理を示すフローチャー
トであり、以下場合を分けて説明する。 ■第１回目の場合（フラグＧ＝０の場合）。 まずＳ１２はメニュー−の表示と選択を行い、第５図Ａ
は、大キー１６の押し下げにより現れるメニュー画面を
示し、選択キー１８でカーソル６０を移動しメニューを
選択できる。この画面では「１」が選択され、後述のよ
うに英単語の和訳の問題が出題される。つぎに第５図Ｂ
のメニュー画面が現れ、中学の学年別に応じた英単語の
問題をカーソル６０の移動で選択し、この画面では「２
」が選択され、中学２年程度の英単語を格納したＲＯＭ
５２のワードメモリ７０の読みだしが可能となる。 第６図は、中学２年の学習レベルに対応するＲＯＭ５２
のワードメモリ７０の内容を示し、ワードメモリ７０は
Ｐ１〜Ｐ ３０００番地、Ｑ１〜０３０００番地まであ
り、各番地に対応してＥ１〜Ｅ３０００． Ｊｌ〜Ｊ
３０００までの６０００個のデータを順次格納してい
る。Ｅ１〜Ｅ ３０００は問題である英単語を示すデー
タで、Ｊ１〜Ｊ ３０００はその解答である和文を示す
。 例えばＰ１番地には英単語データＥｌ（例： ｂｅａｕ
ｔｉｆｕｌ）、Ｑ１番地には、その訳語データＪｌ（例
：美しい）１ｉ：格納している。ＲＯＭ５２の図示せぬ
他のワードメモリには中学１年と中学３年と高校入試用
の英単語データを所定数格納している。 第４図に戻り、Ｓ１４は、ＲＯＭ５２の最後の０３００
０番地に入っている識別用のデータを読み出したかどう
かを判断することにより、ＲＯＭ５２の内容を１通り読
み終えたかどうかを判断し、ここでは最初の処理である
のでＮＯと判断する。次の８１８はワードメモリ７０か
ら英単語データＥ１を読みだし、読みだした英単語デー
タＥｌを表示部２８の問題欄に“ｂｅａｕｔｉｆｕｌ”
と表示し、音声フラグＦが０ならば、表示する文字を音
声出力する。そして使用者がこれを見て答えを考え、正
答をみるため表示キー１２を押すと、Ｓ２０でＹＥＳと
判断し、次の９２２でＱ１番地に格納されている訳語デ
ータＪｌを読みだして表示部２日の解答欄に“形容詞；
美しい′と表示するが、更に発音、類義語、反対語、文
例も同時に表示できるよう構成することができる。 使用者の答えが訳語データＪ１と合っていないと使用者
は誤答キー°４を押し、Ｓ３４でＮ０１Ｓ２４でＹＥＳ
と判断し、最初の処理であるので８２６でＮＯと判断し
、第４図の９２８では、誤答回数Ｊを１増加する。Ｓ２
９では表示部２日に表示しているデータのＰｌ、０１１
番左第７図のＲＡＭ３５のエラーリストメモリ８０のＭ
１番地に格納し、又、３１Ｂの英単語の表示から表示キ
ー１２の押し下げまでの使用者の解答時間Ｔ１をタイマ
４２から読み出し、エラーリストメモリ８０のＭ１番地
に格納する。次の９３０では終了キー８が押されていな
いのでＮＯと判断し、Ｓ３２で全解答回数Ｉを１増加し
て３１Ｂに戻り、９１Ｂでは次の単語データＥ２をワー
ドメモリ７０のＰ２番地から読みだし、その英単語デー
タＥ２を表示部２日に表示する。 そして使用者がこれを見て答えを考え正答を見るため、
表示キー１２を押すと、Ｓ２２で０２番地の訳語データ
Ｊ２を読みだして、表示部２８に表示し、音声フラグＦ
が０ならば音声出力する。使用者の答えが訳語データＪ
２と同じ場合は、正答キー２を押し、Ｓ３４でＹＥＳと
判断し、５２６でフラグＧが１かどうか判断し最初の処
理なのでＮＯと判断し、Ｓ３０．３３２を経て同様な処
理を繰り返す。このようにして誤答と判断した英単語デ
ータ及び訳文データに対応する番地と解答時間が蓄積さ
れて行きＲＯＭ５２のワードメモリ７０のデータを全部
読みだし全部解答できた状態では、第７図に示すエラー
リストメモリ８０のデータが６００個になっており、使
用者は３０００題の内、６００題を誤答したことになる
。Ｍ２Ｏ３からＭ３Ｏ００までは空き領域であるが、も
し全問誤答の場合、誤答となった英単語と訳文データの
番地と解答時間が、Ｍ１〜Ｍ３０００番地を満たすこと
になる。 途中で打ち切る場合は、Ｓ３０でＹＥＳとなり、Ｓ４０
では終了処理を行い、メツセージ「途中で終わりました
」を表示部２８に表示する。フラグＧ＝０と終了時の番
地をＲＡＭ３５の図示せぬ終了メモリに格納しておくの
で、次回はその途中から始められるので便利である。１
回目を完全に終了してから終わる場合はフラグＧ＝１と
設定されており、フラグＧ＝１とエラーリストメモリ８
０の最初の番地とを終了メモリに格納する。 ■１回目を終えた後、２回目の最初から又は２回目の途
中から始める場合（フラグＧ＝１の場合の処理） Ｓ１２の処理を終えて、９１４．１６を経て、Ｓ１８で
ＲＡＭ３５の終了メモリに格納された番地に相当する英
単語データをＲＯＭ５２のワードメモリ７０から読みだ
す。Ｓ２０で表示キー１２を押し、訳語データが表示さ
れ使用者の回答が正答の場合はＳ３４，３３６を経て９
３Ｂでエラーリストメモリ８０から今回正答となったデ
ータに対応する番地を消去する。誤答の場合はＳ２４゜
Ｓ２６，９３０．Ｓ３２を経て９１Ｂに戻り以下、同様
な処理を繰り返し、正答である毎にデータをエラーリス
トメモリ８０から減らして行き、データがゼロになった
ときに使用者は全ての問題を正答できたことになる。終
了キーをおすと３４０で終了処理を行い、表示部２８に
メツセージ「全てが正答となりました」と表示し、°途
中で終わる場合はフラグＧ＝Ｏと最後の番地を終了メモ
リに格納する。 ■プリント処理 Ｓ４０が終了すると、学習処理ルーチンは終了し、第３
図のメインルーチンにもどり、Ｓ６で図示せぬプリント
キーが押し下げされると８７で印字処理を行い、本メイ
ンルーチンを終了する。 尚、第１実施例では、英単語の問題であったが、ＯＸ式
、多枝選択式に適用でき、又、歴史年表、理科数学公式
、漢字等に適用できることも勿論である。 第８図、第９Ａ、 Ｂ、 Ｃ図は第２実施例であり
、第１実施例と異なるところは、ＲＡＭ３５にエラーリ
ストメモリ１００に加えてコレクトリストメモリ９０を
追加したものである。第８図は第４図と異なる個所を示
しており他のステップはほぼ共通であり、第８図で第１
回目に使用者の解答が正答であるときしこも正答データ
を９５２でコレクトリストメモリ９０に識別可能に格納
できるようにしている。つまり正答であるデータと誤答
であるデータを分けてＲＡＭ３５のコレクトリストメモ
リ９０に５５２で、エラーリストメモリ１００に８２８
でデータを格納できる。即ち、第１回目の処理が終了し
たとき、第９図Ａのワードメモリ７５から読みだしたデ
ータを、第９図Ｂのコレクトリストメモリ９０と同図Ｃ
のエラーリストメモリ１００に分けて格納する様子を示
す。 そして９３４で正答キー２を押し下げる毎に、表示中の
正答であると判断したデータを９５０でエラーリストメ
モリ１００からコレクトリストメモリ９０に転送し、エ
ラーリストメモリ１００のデータを減少させて行く。 尚、コレクトリストメモリ９０、エラーリストメモリ１
００を第１回目、第２回目等の繰り返し回数に応じてそ
れぞれ記憶しておくことも可能であり、何回目で正答に
達したかがわかる。 第１０図は本発明の第３実施例であり、いわゆる穴埋め
問題に対する応用例である。第１０図はワードメモリ１
７０を示し、Ｐ１〜Ｐ３００には問題データが、Ｑｌｌ
〜Ｑ ３００３には解答データが入り、Ｐｌには次のよ
うな間頚データに１が入っている。 郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［コ
ｔｏ ｔｈｅ ［］０ｆｆｉｃｅ？ 第１１図はＫ １のデータ構造を示し、データに１１は
’Ｃａｎ ｙｏｕ″であり、α１．β１．ｒｌは最初
の空欄に対応し、α１．β１．γ１はそれぞれ最初の位
置、空欄にはいる文字数、最後の位置を示し、解答デー
タＬｌｌの“ｔｅｌ！”に対応する。 データＫ］２は、 “ｍｅ ｔｈｅ”であり、データ
α２．β２．γ２は２＠目の空欄に対応し、解答データ
Ｌ１２の“ｗａｙ”に対応する。データに１３は１ｔｏ
ｔｈｅ”であり、データα３．β３．γ３は３番目
の空欄に対応し、解答データＬ１３の”Ｐｏ５ｔ １１
が対応し、データに１４は“０ｆｆｉｃｅ？”である。 Ｑ１１番地には解答データＬｉｔとして“ｔｅｌビ′が
、０１２番地には解答データＬ１２として“ｗａｙ“が
、Ｑ１３番地には解答データＬ１３として“Ｐｏ５ｔ”
が入っている。ここでカウンタＣの内容は１つの問題デ
ータ中の空欄ケ所の数を示す。 第１２図は、エラーリストメモリ１８０の内容を示し、
空欄勇断を正答すると、そこに解答データが入り、空欄
勇断が言呉答の時は空欄はそのままであり、正答すれば
するほどエラーリストメモリ１８０の内のデータ数とカ
ウンタＣは減少して行く。 次ぎに第３実施例の内容を、第１３図のサブフローチャ
ートに基づいて説明する。第１実施例の第４図のサブフ
ローチャートを図示のように１部変更したもので、３１
６〜Ｓ３０に代わり９３００〜５４００が加わっている
が、８１Ｂ、２０゜２２．２４はそのままであり、英単
語に代わり英語の文章が読みだされ表示部２８に表示さ
れる。 まず５３００でこれから表示する学習データについての
カウンタＣの値をカウンタＢに設定し、ここではカウン
タＢは１つの問題文中の空欄勇断の数が解答のある毎に
減ってゆく様子を示すもので、残りの未解答の空欄勇断
の数を示す。第１実施例と同様に３１８〜Ｓ２２で問題
と解答の表示が行われた後、Ｓ３４で正答キー２が押さ
れると、５３１０でカウンタＣとカウンタＢとを１減少
し、５３２０で解答データをＲＡＭ３４０所定領域に転
送し、正答であればもう１度問題を解く必要はないから
５３３０で表示部２８の問題文中の空欄［］を消去し、
そこに解答データを衷示する。一方、誤答キー４が押さ
れると、Ｓ２４でＹＥＳとなり、５３４０で空欄はその
ままとし誤答回数Ｊを１増加し、カウンタＢを１減少す
る。 ５３３０又は５３４０の後は、５３５０でＢ＝０となる
までループ処理（８２０〜５３４０）を行う。 ５３５０でＹＥＳとなると、８３６０でＧ＝１かどうか
判断し、Ｎｏならば８３８０でエラーリストメモリ１８
０に問題データと解答データを格納し、５３２０でＲＡ
Ｍ３４に格納した解答データ（正答となったもの）を問
題データに転送し、その解答データは解答番地から消去
する。ＹＥＳならばＲＡＭ３４の解答データをエラーリ
ストメモリ１８０に転送し、既に問題データは格納され
ているから、問題データの格納は行わない。 例えば、第１間の３つの空欄の内、１．２番目の空欄が
誤答で３番目の空欄を正答したとすると０１１．１２＠
地のデータはそのままで、０１３番地のデータＬ１３を
問題データに１のデータα３．β３．γ３へ転送して空
欄を埋め、問題データは次のように修正され’Ｐｏ５ｔ
”が現れる。 郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［コ
ｔｏ ｔｈｅ Ｐｏ５ｔ
Ｏｆｆｉｃｅ？ 尚、解答データの内、Ｌｉ２は消去される。 続＜３３９０でＹＥＳ、即ち空欄に対し全部正答キー２
が押されると９４００でエラーリストメモリ１８０かそ
のデータを消去する。例えば、第１２図のＰ３番地のデ
ータは空領域となっており、これは第３間の３つの空欄
をすべて正答したためである。Ｓ３０でＮＯの場合は、
１つの問題を終えたと判断し、Ｓ３２へ飛び、■を１増
加して、次の問題文に移る。ＹＥＳならＳ４０へ飛ぶ。 こうして処理がつぎつぎに行われた結果の例が第１２図
に示される。 第１４図は、第４実施例を示し、第１実施例の第４図の
サブフローチャートの９１８〜Ｓ３０を１部変更したも
ので、５５００〜５５２０が新たに加わっている。即ち
、第１実施例では、誤答のもののみを正答になるまで繰
り返しているが、これに加えて第４実施例では、更に解
答に時間を要したものを選択して、正答かつ解答時間が
短くなるまで問題を繰り返し実行する。 ５５００でタイマ４２が起動して、Ｓ２０でＹＥＳなら
、５５１０でタイマ４２をストップして解答時間データ
Ｔｉを算出し、Ｓ２２．Ｓ３４のあと５５２０で解答時
間Ｔ１と所定時間Ｔｏを比較し、ＹＥＳならＳ２４．９
２６を経て９２Ｂで第７図のエラーリストメモリ８０に
単語データ、訳文データとともに、解答時間データＴｉ
を格納し、Ｓ２９を行い、９３Ｂを行い、Ｓ３０へ飛び
、５５２０でＮＯなら９３６，３３Ｂを行う。尚、正答
、誤答に拘らず、解答時間が長かったものを選択して、
繰り返して問題を解けるように設計変更できることは勿
論である。 第１５図は、第５実施例であり、ＩＣカード２４．２６
の学習データの範囲を使用者が自由に設定できるもので
あり、図示せぬ所定のキーが押されると本ルーチンが起
動し、学習データの区分、例えは中学の各学年の学期、
教科書の各セクション、歴史年表の年代等の一覧を表示
１２Ｂに衷示し、５７００でＩＣカード２４．２６の表
面に設けた図示せぬ選択キーあるいはアルファニューメ
リ・ンクキー２１で所望のレッスンを設定する。例えは
歴史年表で１５００年から１６５０年までを学習したい
ときは、１５００と１６５０の数字キーを押せばよく、
英語の教科書のセクションでは選択キーを押してカーソ
ルで選ぶことができる。 次の８８００では設定されたレッスンに対応する学習デ
ータの格納領域に関する設定データをＲＡＭ３５に記・
憶し、この設定した学習データの格納領域以外からの学
習データの読み込みを禁止し、５９００でＩＣカード２
４又は２６の表面に設けた図示せぬレッスン変更キーが
押されると、５１０００でその押し下げに応じて前記設
定データを変更し処理を終了する。こうして学習を始め
る前、学習途中、学習後に学習データの区分を自由に設
定変更することができるので、学習の自由度を大いに向
上させることができる。 尚、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々な変形が可
能であり、例えば、英単語の問題の代わりに漢字、歴史
年表、数学公式、理科公式等の暗記用の学習データとし
てもよく、学習データを試験によくでる頻度順にＲＯＭ
に格納しておいてもよく、回路をディスクリートな構成
にしてもよく、ＩＣカードの方にバッファ・ンブＲＡＭ
を設は電池でバックアップしてもよく、全問正答まで行
くとゲームが楽しめるように構成してもよく、学習処理
の終了時に残りの問題数を表示し目標達成までどのくら
いかを示すように構成してもよく、問題データの表示後
、設定時間経過後に自動的に解答データを表示部に表示
してもよい。又、正答キー２、誤答キー４、終了キー８
、音声キー１０、表示キー１２、選択キー１日又は正解
率キー２０をアルファニューメリックキー２１が兼用し
てもよく、現在普及しつつある電子辞典としても活用で
きる。更に、バックアップＲＡＭの内容を書換え可能と
し、使用者が問題と解答を自由に作成、追加、変更でき
るようにすることが可能である。 ［発明の効果コ 本発明の効果は、誤答学習データを学習メモリから選択
的に順次に読みだし可視出力部に可視出力し、正答キー
に応答して、その誤答学習データを正答と識別し、誤答
学習データが少なくとも所定数になるまで制御している
ので、使用者は解答を誤った問題のみを何らの労力も要
せず繰り返し学習でき、学習時間を大幅に短縮すること
ができ、又、学習段階に応じて問題を選択できる。 次ぎに１つの問題文中の少なくとも１つの空欄が誤答で
あった問題を識別し、その空欄の残っている学習データ
を正解になるまで繰り返し学習ができるので、いわゆる
穴埋め問題に対する学習効果が大幅に上昇する。 更に、解答に長時間を要した学習データを学習メモリか
ら選択的に順次に読みだし可視出力部に可視出力し、キ
ーに応答して、早く解けた場合はその学習データを識別
可能とし、解答に長時間を要した学習データを少なくと
も所定数になるまで制御しているので、解答時間が制限
される試験に対しての学習効果が大幅に向上する。
第１図Ａ、 Ｂ、 Ｃは本発明の一実施例としての
電子学習機とＩＣカードの正面図、第２図はＩＣカード
の内部構造図、第３図は第１実施例のメインフローチャ
ート、第４図は同実施例のサブフローチャート、第５図
Ａ、 Ｂは同実施例のメニュー画面の説明図、第６図
はで同実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第７
図は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図
、第８図は第２実施例のサブフローチャート、第９図Ａ
、 Ｂ。 Ｃは同実施例のワードメモリとコレクトリストメモリと
エラーリストメモリの内容を示す説明図、第１０図は第
３実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第１１図
は同実施例のデータに１の内容を示す説明図、第１２図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第１３図は同実施例のサブフローチャート、第１４図は
第４実施例のサブフローチャート、第１５図は第５実施
例のサブフローチャートを各々示す。 １・・・電子学習装置 ２・・・正答キー ４・・・誤答キー ２２・・・キーボード入力部 ２日・・・表示部 ３０・・・ＣＰＵ ３２．５２・・・ＲＯＭ ７０．７５．１７０・・・ワードメモリ８０．１００．
１８０・・・エラーリストメモリ９０・・・コレクトリ
ストメモリ 代理人 弁理士 定立 勉（ばか２名）第 図 第５図 （Ａ） ＣＢ） 第６図 ワードメモリ 第８図 第７図 エラーリストメモリ 第１４図 手 続 補 正 書 第１５図 平成２年３月２０日 ２゜ ３゜ 昭和６３年特許願第３３１０８３号 発明の名称 電子学習装置 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 オランダ国 １０７１ ディージエイム
セウムブレイン １１ 名 称 レーム プロパティズ ピーブイ代表者
ティングシエング リン ４、代理人 〒４６０ 住 所 名古屋市中区錦二丁目９番２７号アム
ステルダム 補正命令の日付 自発 ６、 補正により珊加する請求項の数 ２７、
補正の対象 明細書の［特許請求の範囲Ｊ、ｒＦ！！明の詳細な説明
］第７図。 ８、 補正の内容 の欄及び図面の 全文訂正明細書 １、発明の名称 電子学習装置 ２、特許請求の範囲 ２ 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリか″ら学習デー
タを読みだし、問題データ、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
固層データと醒芥データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置。 ３ 少なくとも１つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、少なくとも正答キーと誤答キー
とを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
即題データと解答データとを順次に可視出力する可視出
力部と。 １つの問題データについて少なくとも１つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、１つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置。 ４ 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の耐層
データと解答データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答ギー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置。 データ それに いて 答データを可 出 し前記正答
キーまたは誤答キーに応答して次の間３、発明の詳細な
説明 ［産業上の利用分野］ 本発明（上電子学習装看に関し、詳しく（ヨ 英単語、
漢字、歴史年表、数学公人理科公式等の暗記に好適な電
子学習装置に関する。 ［従来技術及び発明が解決しようとする課題］従来、単
語等を暗記するため文具として単語カードがあるが、単
語カードをめくることは煩雑であり、前回正答か誤答か
がわからないので、前回正答であったものまで、もう１
度解くことになり学習効率が悪かった。現在、英語辞書
カードも市販されているが、何万語も内蔵したカードは
試験には役にたたない。 更１：、問題とこの問題に対する正答を含む複数の答え
を記載した問題カードに対して回答を行い結果に応じて
音声により正誤を判定するもの（特開昭６Ｏ−２２２８
８５）、難易度に応じて区別されたカードが提案されて
いる（特開昭６ｌ−１１７２９）。しかし、１度正答を
出したものまで再度問題を解くことになるので、学習効
率が悪かった。 更に穴埋め問題１こ対し誤った問題のみを繰り返し学習
する必要があり、解答時間の長くかかった問題をのみを
繰り返して練習する必要がある。 そこで本発明の目的は、安価でかつ学習効率を飛躍的に
向上するのに好適な電子学習装置を提供することにある
。 ［課題を解決するための手段］ 前記目的を解決する第１発明の電子学習装置（友問題デ
ータと解答データとを含む所定の学習データを格納する
学習メモリと、該学習メモリの学習データに基づいて、
問題を出題し、ついで解答を表示する出題手段と、出題
手段による出題の解答結果の自己評価結果を入力するた
めの自己評価入力手段と、該自己評価入力手段に応じて
、出題の自己評価結果を集計する学習記憶手段と、該学
習記憶手段の集計内容に基づいて、前記出題手段による
出題の出題パターンを設定する出題パターン設定手段と
を備えることを要旨とする。 第２発明の電子学習装置（表問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入
力部に応答して、前記学習メモリから学習データを読み
だし、問題データ、それに続いて解答データを可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題デー
タと解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、
誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、この誤答学習データを読みだし前記可視出
力部に順次に可視出力し、前記正答キーに応答して、そ
の誤答学習データを正答と識別し、前記誤答学習データ
を減少させる誤答データ制御手段とを備えることを要旨
とする。 第３発明の電子学習装置は、少なくとも１つの部分を削
除した問題データと、その削除部分に対応する解答デー
タとを含む学習データを格納する学習メモリと、少なく
とも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入力
部に応答して、前記学習メモリから学習データを読みだ
し、問題データと、それに続いて解答データを可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題デー
タと解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、
１つの問題データについて少なくとも１つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に
可視出力し、１つの問題データについて全ての削除部分
に対して正答キーが応答すると、その誤答学習データを
正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答デ
ータ制御手段とを備えることを要旨とする。 第４発明の電子学習装置（よ問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入
力部に応答して、学習メモリから学習データを読みだし
、問題データと、それに続いて解答データを可視出力し
、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題データ
と解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、前
記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キー
の応答までの時間を計測する計測手段と、この解答時間
を所定時間と比較し、解答時間が所定時間以上であると
、前記正答キー又は誤答キーに応答して、その学習デー
タの解答時間が長いと識別する識別手段と、この長時間
学習データを読みだし前記可視出力部に順次に可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、その解答時
間が前記所定時間以下となると、その学習データの解答
時間が短かいと識別し、前記長時間学習データを減少さ
せる解答時間データ制御手段とを備えることを要旨とす
る。 第５発明の電子学習装置１山問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、前記学
習メモリから学習データを読み出し、問題データ、それ
に続いて解答データを可視出力し、前記正答キーまたは
誤答キーに応答して次の問題データと解答データとを順
次可視出力する可視出力部と、前記誤答キーに応答して
、直前に出題された学習データを誤答と識別する識別手
段と、前記誤答と識別された学習データを再土題の対象
とする再出題設定手段とを備えることを要旨とする。 ［作用］ 第１発明の電子学習装置は、学習メモリが格納する学習
データに基づいて、出題手段が問題を出題する。この出
題後、出題手段は、例えば所定時間の経過後、若しくは
所定キーの押しに応答して、次に解答を表示する。ここ
で、使用者が問題に対する解答を考え、ついで解答を見
て、その結果の自己評価結果が、自己評価入力手段より
入力されると、この入力結果が学習記憶手段に出題に対
する自己評価結果として集計さ札記憶される。この記憶
された集計内容は、出題パターン設定手段によって、出
題手段による出題の出題パターンの設定に用いられる。 したがって、自己評価結果が、次からの出題パターンに
反映される。これにより、例えば、自己評価の結果、評
価結果の良くない出題の出題頻度を多くしたり、評価結
果の良くない出題を繰り返し出題することができる。 第２発明の電子学習装置１友問題データと解答データと
を格納する学習メモリから、まず問題データを読みだし
可視出力し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで
解答データを読みだして可視出力し、使用者が正答キー
と誤答キーの選択を行い、使用者の答えが解答と合って
いると使用者が正答キーを押し、答えが解答と合ってい
ないと使用者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対
し使用者の解答が正答であったか誤答であったかを識別
できるように（例えば識別信号をつけたり、別々の記憶
領域に格納したり）し、こうして問題と解答を繰り返し
、学習データの内、誤答であるもののみを識別する。 こうして誤答と識別された問題を自動的に順次に読みだ
し、正答、誤答キーの選択をおこない、正答キーに応答
して、その可視出力した誤答学習データを正答と識別し
、こうした制御を繰り返し、誤答となった学習データが
減少して行く。従って、誤答である問題のみを正答にな
るまで学習できるので、解答時間が短縮し学習効率が飛
躍的に向上する。 第３発明の電子学習装置（友少なくとも１つの空欄勇断
を含むいわゆる穴埋め問題データと、空欄勇断に対応す
る解答データとを格納する学習メモリから、まず問題デ
ータを読みだし可視出力し、使用者がこれを見て答えを
考える。ついで解答データを読みだして可視出力し、使
用者が正答キーと誤答キーの選択を行い、使用者の答え
が空欄の解答と合っていると正答キーを押し空欄が解答
で埋まり、答えが空欄の解答と合っていないと誤答キー
包押し空欄はそのままであり、１つの間顕の空欄につい
て少なくとも１つ誤答があると誤答、全部正解であると
正答と識別できる。 次ぎに１つの問題文中の少なくとも１つの空欄が誤答で
あった問題のみを読みだし、正答、誤答キーの選択をお
こない、空欄勇断が全部正答で空欄がなくなると、その
可視出力した学習データを正答とみなして空欄勇断の残
っている学習データから識別し、その空欄の残っている
学習データが減少するように、このような処理を繰り返
し全問正答に近づいて行く。 従って、使用者は誤った問題のみを伺らの労力も要せず
容易に学習でき、学習時間を大幅に短縮することができ
る。 第４発明の学習装置（友問題データと解答データとを格
納する学習メモリから、まず問題データを読みだし可視
出力し、使用者がこれを見て答えを考え、使用者は可視
出力した解答を見て正答キーと誤答キーの選択を行う。 ついで問題の表示から正答キーと誤答キーの応答までの
解答時間を計測し、解答時間に長時間を要した問題だけ
を識別する。このような問題だけを読みだし可視出力し
、再度、解答時間に長時間乞要したものかどうか判断し
、短時間で解答に達すると、その可視呂′力した学習デ
ータを解答に長時間を要した学習データから識別し、そ
のような長時間を要した学習データが所定数に減少する
までこのような処理を繰り返す。従って、問題が早く解
けるようになり学習効果を大幅に向上できる。 第５発明の電子学習装置は、問題データと解答データと
を格納する学習メモリから、まず問題データを読みだし
可視出力し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで
解答データを読みだして可視出力し、使用者が正答キー
と誤答キーの選択を行い、使用者の答えが解答と合って
いると使用者が正答キーを押し、答えが解答と合ってい
ないと使用者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対
し使用者の解答が誤答であったかを識別する。 こうして誤答と識別された問題を再出題設定手段が再出
題の対象とする。したがって、誤答である問題が繰り返
し再出題さ狛、効率的な学習が行われる。 ［実施例］ 以上説明した本発明の構成作用を一層明らかにするため
に、以下本発明の装置の好適な実施例について説明する
。第１図Ａは本発明の第１実施例で、手帳型電子学習機
］を示し、正答キー２と誤答キー４と終了キー８と音声
キー］Ｏと表示キー１２と切キー］４と入キー１６と選
択キー１８と正答率キー２０とアルファニューメリック
キー２１とを備えるキーボード入力部２２と、この入力
部２２に応答して、後述のＩＣカード２４．２６から交
互に問題と解答を読みだし、問題と、これに続いて解答
とを表示する表示部２８とを有している。正答キー２ど
誤答キー４と（よ 自己評価入力手段に相当する。 第１図Ｂ、 Ｃ１：ｌｊ、、英単語ＩＣカード２４と
歴史年表ＩＣカード２６で、学習段階に応じて、所定の
問題データと解答データとを含む学習データを所定数格
納しており、ＩＣカード２４．２６は電子学習機１の受
は入れ部２３に挿入できる。 第２図は電子学習機１の内部構造で、この装置１は、キ
ーボード入力部２２、表示部２８、音声出力部２９、周
知（７）ＣＰＬ１３０、ＲＯＭ３２Ｊ ＲＡＭ３４、
バックアップＲＡＭ３５を中心にこれらとバス３６によ
り接続するカウンタ３８、電源部４０、タイマ４２、コ
ネクタ４４、インタフェース４６．プリンタインターフ
ェース４８から構成する。プリンタインタフェース４８
はプリンタに接続可能であり、ＲＯＭ３２は学習制御プ
ログラムを記憶している。 この電子学習機１はＩＣカード２４と接続し、このＩＣ
カード２４は、周知のＣＰＵ５０．ＲＯＭ５２、ＲＡＭ
５４を中心にこれらとバス５６により接続するインタフ
ェース５８から構成する。 ＲＯＭ５２は制御プログラムと英単語の問題データと解
答データとを所定数記憶している。 第３図Ｆ ＲＯＭ３２とＲＯＭ５２１：格納シテいる
学習制御プログラムを示すメインルーチンのフローチャ
ートである。まずステップ］ （以下Ｓ１と略す）にお
いては、フラグ、カウンタ等の初期化を行い、Ｓ２は音
声キー１０がオンしているかどうかを判断し、ＹＥＳな
らＳ３で音声出力部２９をオンし、ＮｏならＳ４でフラ
グＦを１に設定し、次の８５は学習処理を行うサブルー
チンである。 第４図は、サブルーチンＳ５の処理を示すフローチャー
トであり、以下場合を分けて説明する。 ■第１回目の場合（フラグＧ＝０の場合）。 まずＳ１２はメニューの表示と選択を行い、第５図Ａは
、入キー１６の押し下げにより現れるメニュー画面を示
し、選択キー１８でカーソル６０を移動しメニューを選
択できる。この画面では「］」が選択さ′ｈ、後述のよ
うに英単語の和訳の問題が出題される。つぎに第５図Ｂ
のメニュー画面が現ね、中学の学年別に応じた英単語の
問題をカーソル６０の移動で選択し、この画面では「２
」が選択さ札中学２年程度の英単語を格納したＲＯＭ５
２のワードメモリ７０の読みたしが可能となる。 第６図は、中学２年の学習レベルに対応するＲＯＭ５２
のワードメモリ７ｏの内容を示し、ワードメモリ７０ハ
Ｐ １〜Ｐ３０００番地、０１〜０３０００番地まであ
り、各番地に対応してＥ１〜Ｅ３０００．’ Ｊ １〜
Ｊ ３０００までの６０００個のデータを順次格納して
いる。Ｅ１〜Ｅ ３０００は問題である英単語を示すデ
ータで、Ｊ１〜Ｊ ３０００はその解答である和文を示
す。 例えばＰ１番地には英単語データＥｌ（例： ｂｅａｕ
ｔｉｆｕｌ）、０１番地に（よ その訳語データＪ１（
例：美しい）を格納している。ＲＯＭ５２の図示せぬ他
のワードメモリには中学１年と中学３年と高校入試用の
英単語データを所定数格納している。 第４図に戻り、５１４（山 ＲＯＭ５２の最後の０３０
００番地に入っている識別用のデータ色読み出したかど
うかを判断することにより、ＲＯＭ５２の内容を１通り
読み終えたかどうかを判断し、ここでは最初の処理であ
るのでＮｏと判断する。次の３１８はワードメモリ７０
から英単語データＥ１を読みだし、読みだした英単語デ
ータＥ１を表示部２８の問題欄に“ｂｅａｕｔ ｉ ｆ
ｕビと表示し、音声フラグＦが０ならば、表示する文字
を音声出力する。そして使用者がこれを見て答えを考え
、正答をみるため表示キー１２を押すと、Ｓ２０でＹＥ
Ｓと判断し、次の３２２で０１１番左格納されている訳
語データＪ１を読みだして表示部２８の解答欄に“形容
詞；美しい”と表示するが、更に発音、類義語、反対語
、文例も同時に表示できるよう構成することができる。 使用者の答えが訳語データＪ１と合っていないと使用者
は誤答キー４を押し、Ｓ３４でＮｏ、Ｓ２４でＹＥＳと
判断し、最初の処理であるので８２６でＮｏと判断し、
第４図の３２８で（友誤答回数Ｊを１増加する。Ｓ２９
では表示部２８に表示しているデータのＰｌ、０１１番
左第７図のＲＡＭ３５のエラーリストメモリ８０のＭ１
１番上格納し、又、Ｓ１８の英単語の表示から表示キー
１２の押し下げまでの使用者の解答時間Ｔ１をタイマ４
２から読み出し、エラーリストメモリ８０のＭ１１番上
格納する。次の３３０では終了キー８が押されていない
のでＮｏと判断し、Ｓ３２で全解答回数１を１増加して
３１８に戻り、５１８では次の単語データＥ２をワード
メモリ７０のＰ２番地がら読みだし、その英単語データ
Ｅ２を表示部２８（二表示する。 そして使用者がこれを見て答えを考え正答を見るため、
表示キー１２を押すと、Ｓ２２で０２番地の訳語データ
Ｊ２を読みだして、表示部２８に表示し、音声フラグＦ
が０ならば音声出力する。使用者の答えが訳語データＪ
２と同じ場合は、正答キー２を押し、Ｓ３４でＹＥＳと
判断し、Ｓ２６でフラグＧが１かどうか判断し最初の処
理なのでＮＯと判断し、Ｓ３０．Ｓ３２を経て同様な処
理を繰り返す。このようにして誤答と判断した英単語デ
ータ及び訳文データに対応する番地と解答時間が蓄積さ
れて行きＲＯＭ５２のワードメモリ７０のデータを全部
読みだし全部解答できた状態では、第７図に示すエラー
リストメモリ８０のデータが６００個になっており、使
用者は３０００題の内、６００題を誤答したことになる
。Ｍ６旧からＭ３０００までは空き領域であるが、もし
全問誤答の場合、誤答となった英単語と訳文データの番
地と解答時間が、Ｍ１〜Ｍ３０００番地を満たすことに
なる。 途中で打ち切る場合は、Ｓ３０でＹＥＳとなり、Ｓ４０
では終了処理を行い、メツセージ「途中で終わりました
」を表示部２８に表示する。フラグＧ＝Ｏと終了時の番
地をＲＡＭ３５の図示せぬ終了メモリに格納しておくの
で、次回はその途中から始められるので便利である。１
回目を完全に終了してから終わる場合はフラグＧ＝１と
設定されており、フラグＧ＝１とエラーリストメモリ８
０の最初の番地とを終了メモリに格納する。これにより
、次回からの出題（良前回まで誤答であった出題が再出
題の対象とさ札 これが出題パターンとして設定される
。 ■１１回目終えた後、２回目の最初から又は２回目の途
中から始める場合（フラグＧ＝１の場合の処理） Ｓ１２の処理を終えて、Ｓ１４，１６を経て、Ｓ１８で
ＲＡＭ３５の終了メモリに格納された番地に相当する英
単語データをＲＯＭ５２のワードメモリ７０から読みだ
す。Ｓ２０で表示キー］２を押し、訳語データが表示さ
れ使用者の回答が正答の場合はＳ３４．Ｓ３６を経てＳ
３８でエラーリストメモリ８０から今回正答となったデ
ータに対応する番地を消去する。誤答の場合はＳ２４゜
Ｓ２６．Ｓ３０．Ｓ３２を経て８１８に戻り以下、同様
な処理を繰り返し、正答である毎にデータをエラーリス
トメモリ８０から減らして行き、データがゼロになった
ときに使用者は全ての問題を正答できたことになる。終
了キーをおすと８４０で終了処理を行い、表示部２８に
メツセージ「全てが正答となりました」と表示し、途中
で終わる場合はフラグＧ＝Ｏと最後の番地を終了メモリ
に格納する。これらにより、前回誤答であった出題が再
出題の対象とさね、繰り返し出題されるという出題パタ
ーンが設定さお、これに基づいて問題が出題される。 ■プリント処理 Ｓ４０が終了すると、学習処理ルーチンは終了し、第３
図のメインルーチンにもどり、Ｓ６で図示せぬプリント
キーが押し下げされると８７で印字処理を行い、本メイ
ンルーチンを終了する。 尚、第１実施例では、英単語の問題であったが、ＯＸ式
、多枝選択式に適用でき、又、歴史年表、理科数学公民
漢字等に適用できることも勿論である。 第８図、第９Ａ、 Ｂ、 Ｃ図は第２実施例であり
、第１実施例と異なるところは、ＲＡＭ３５にエラーリ
ストメモリ１００に加えてコレクトリストメモリ９０を
追加したものである。第８図は第４図と異なる個所を示
しており他のステップはほぼ共通であり、第８図で第１
回目に使用者の解答が正答であるときにも正答データを
８５２でコレクトリストメモリ９０に識別可能に格納で
きるようにしている。つまり正答であるデータと誤答で
あるデータを分けてＲＡＭ３５のコレクトリストメモノ
９０にＳ５２で、エラーリストメモリ１００１：Ｓ２８
でデータを格納できる。即ち、第１回目の処理が終了し
たとき、第９図Ａのワードメモリ７５から読みだしたデ
ータを、第９図Ｂのコレクトリストメモリ９０と同図Ｃ
のエラーリストメモリ１００に分けて格納する様子を示
す。 そしてＳ３４で正答キー２を押し下げる毎に、表示中の
正答であると判断したデータをＳ５０でエラーリストメ
モリ１００からコレクトリストメモリ９０に転送し、エ
ラーリストメモリ１００のデータを減少させて行く。 尚、コレクトリストメモリ９０、エラーリストメモリ１
００を第１回目、第２回目等の繰り返し回数に応じてそ
れぞれ記憶しておくことも可能であり、何回目で正答に
達したかがわかる。 第１０図は本発明の第３実施例であり、いわゆる穴埋め
問題に対する応用例である。第１０図はワードメモリ１
７０を示し、Ｐ１〜Ｐ３００には問題データが、０１１
〜０３００３には解答データが入り、Ｐｌには次のよう
な問題データに１が入っている。 郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［］ｔｏ
ｔｈｅ［］ ０ｆｆｉｃｅ？ 第１１図はに１のデータ構造を示し、データに１１はＣ
ａｎ ｙｏｕ”であり、α１．β１．γ１は最初の空
欄に対応し、αｌ、β１．γ１はそれぞれ最初の位置、
空欄にはいる文字数、最後の位置を示し、解答データＬ
ｌｌの“ｔｅｌ ビに対応する。 データに１２は、 ｍｅ ｔｈｅ”であり、デー
タα２．β２．γ２は２番目の空欄に対応し、解答デー
タＬ１２の“ｗａｙ”に対応する。データに１３は“ｔ
ｏ ｔｈｅ”であり、データα３．β３．γ３は３番
目の空欄に対応し、解答データＬ１３の“Ｐｏ５ｔ１１
が対応し、データに１４は“０ｆｆｉｃｅ’ｉ’”であ
る。Ｑ１１番地には解答データＬｌｌとして“ｔｅｌｆ
”が、０１２番地（二は解答データＬ１２としてｗａｙ
”が、０１３番地には解答データＬ１３として“Ｐｏ５
ｔ”が入っている。ここでカウンタＣの内容は１つの問
題データ中の空欄ケ所の数を示す。 第１２図は、エラーリストメモリ１８０の内容を示し、
空欄勇断を正答すると、そこに解答データが入り、空欄
勇断が誤答の時は空欄はそのままであり、正答すればす
るほどエラーリストメモリ］８０の内のデータ数とカウ
ンタＣは減少して行次ぎに第３実施例の内容を、第１３
図のサブフローチャートに基づいて説明する。第１実施
例の第４図のサブフローチャートを図示のように１部変
更したもので、Ｓ１６〜Ｓ３０に代わり３３００〜５４
００が加わっているが、Ｓ１８，２０゜２２．２４はそ
のままであり、英単語に代わり英語の文章が読みだされ
表示部２８に表示される。 まず５３００でこれから表示する学習データについての
カウンタＣの値をカウンタＢに設定し、ここではカウン
タＢは１つの問題文中の空欄勇断の数が解答のある毎に
減ってゆく様子を示すもので、残りの未解答の空欄勇断
の数を示す。第１実施例と同様にＳ１８〜Ｓ２２で問題
と解答の表示が行われた後、Ｓ３４で正答キー２が押さ
れると、５３１０でカウンタＣとカウンタＢとを１減少
し、５３２０で解答データをＲＡＭ３４の所定領域に転
送し、正答であればもう１度問題を解く必要はないから
５３３０で表示部２８の問題文中の空欄［コを消去し、
そこに解答データを表示する。一方、誤答キー４が押さ
れると、Ｓ２４でＹＥＳとなり、５３４０で空欄はその
ままとし誤答回数Ｊを１増加し、カウンタＢを１減少す
る。 ５３３０又は５３４０の後は、５３５０で８＝０となる
までループ処理（８２０〜Ｓ ３４０）を行う。 ５３５０でＹＥＳとなると、８３６０でＧ＝１かどうか
判断し、ＮＯならば８３８０でエラーリストメモリ１８
０に問題データと解答データを格納し、５３２０でＲＡ
Ｍ３４に格納した解答データ（正答となったもの）を問
題データに転送し、その解答データは解答番地から消去
する。ＹＥＳならばＲＡＭ３４の解答データをエラーリ
ストメモリ１８０に転送し、既に問題データは格納され
ているから、問題データの格納は行わない。 例え［１第１間の３つの空欄の内、１，２番目の空欄が
誤答で３番目の空欄を正答したとするとＱｌｌ、１２番
地のデータはそのままで、０１３番地のデータＬ１３を
問題データに１のデータα３．β３．γ３へ転送して空
欄を埋め、問題データは次のように修正され“Ｐｏ５ｔ
”が現れる。 郵便局゛へはどういったらいいです
か。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［］
ｔｏ ｔｈｅ Ｐｏ５ｔＯｆｆｉｃｅ？ 尚、解答データの内、Ｌｉ２は消去される。 続＜３３９０でＹＥＳ、即ち空欄に対し全部正答キー２
が押されると８４００でエラーリストメモリ］８０から
そのデータを消去する。例え（ｆ、。 第１２図のＰ３番地のデータは空領域となっており、こ
れは第３間の３つの空欄をすべて正答したためである。 Ｓ３０でＮＯの場合は、１つの問題を終えたと判断し、
Ｓ３２へ飛び、 Ｉを１増加して、次の問題文に移る。 ＹＥＳならＳ４０へ飛、汎 こうして処理がつぎつぎに
行われた結果の例が第１２図に示される。 第１４図は、第４実施例を示し、第１実施例の第４図の
サブフローチャートのＳ１８〜Ｓ３０を１部変更したも
ので、５ｓｏｏ〜５５２０が新たに加わっている。即ち
、第１実施例で（表誤答のもののみを正答になるまで繰
り返しているが、これに加えて第４実施例では、更に解
答に時間を要したものを選択して、正答かつ解答時間が
短くなるまで問題を繰り返し実行する。 ５５００でタイマ４２が起動シテ、Ｓ２０でＹＥＳなら
、５５１０でタイマ４２をストップして解答時間データ
Ｔ１を算出し、Ｓ２２．Ｓ３４のあと５５２０で解答時
間Ｔｉと所定時間Ｔｏを比較し、ＹＥＳならＳ２４．Ｓ
２６を経ｒｓ ２８テ第７図のエラーリストメモリ８０
に単語データ、訳文データとともに、解答時間データＴ
ｉを格納し、Ｓ２９を行い、８３８を行い、Ｓ３０へ飛
び、５５２０でＮｏならＳ３６，８３８を行う。尚、正
答、誤答に拘らず、解答時間が長かったものを選択して
、繰り返して問題を解けるように設計変更できることは
勿論である。 第１５図（よ第５実施例であり、ＩＣカード２４．２６
の学習データの範囲を使用者が自由に設定できるもので
あり、図示せぬ所定のキーが押されると本ルーチンが起
動し、学習データの区分、例えば中学の各学年の学期、
教科書の各セクション、歴史年表の年代等の一覧を表示
部２８に表示し、５７００でＩＣカード２４．２６の表
面に設けた図示せぬ選択キーあるいはアルファニューメ
リックキー２１で所望のレッスンを設定する。例えば歴
史年表で１５００年から１６５０年までを学習したいと
き［；ｊ１５００と１６５０の数字キーを押せばよく、
英語の教科書のセクションでは選択キーを押してカーソ
ルで選ぶことができる。 次の８８００では設定されたレッスンに対応する学習デ
ータの格納領域に関する設定データをＲＡＭ３５に記憶
し、この設定した学習データの格納領域以外からの学習
データの読み込みを禁止し、５９００でＩｃカード２４
又は２６の表面に設けた図示せぬレッスン変更キーが押
されると、５１０００でその押し下げに応じて前記設定
データを変更し処理を終了する。こうして学習を始める
前、学習途中、学習後に学習データの区分を自由に設定
変更することができるので、学習の自由度を大いに向上
させることができる。 尚、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々な変形が可
能であり、例え［瓜英単語の問題の代わりに漢字、歴史
年表、数学公人理科公式等の暗記用の学習データとして
もよく、学習データを試験によくでる頻度順にＲＯＭに
格納しておいてもよく、回路をディスクリートな構成に
してもよく、ＩＣカードの方にバックアップＲＡＭを設
は電池でバックアップしてもよく、全問正答まで行くと
ゲームが楽しめるように構成してもよく、学習処理の終
了時に残りの問題数を表示し目標達成までどのくらいか
を示すように構成してもよく、問題データの表示後、設
定時間経過後に自動的に解答データを表示部に表示して
もよい。又、正答キー２、誤答キー４、終了キー８、音
声キー］Ｏ１表示キー１２、選択キー１８又は正解率キ
ー２０をアルファニューメリックキー２１が兼用しても
よく、現在普及しつつある電子辞典としても活用できる
。更に、バックアップＲＡＭの内容を書換え可能とし、
使用者が問題と解答を自由に作成、迫力ｌ 変更できる
ようにすることが可能である。 ［発明の効果］ 第１発明の電子学習装置］戴問題に対する解答の結果を
自己評価し、この自己評価の結果をデータとして取り込
むよう構成されている。したがって、使用者（表解答の
綴をそのままキーボードにタイピングしたり、複数の解
答の中から択一したりすることなく、自己評価結果だけ
を入力するだけでよい。この結果、出題に対する解答を
考えついたその時点で、速やかにデータを入力でき、出
題の処理速度が高なるというきわめて優れた効果を奏す
る。また、自己評価の結果が出題パターンに反映される
。これにより、自己評価結果を考慮した出題パターンを
設定して、学習効果を最も高くすることができる。 第２発明の電子学習装置１表誤答学習データを学習メモ
リから選択的に順次に読みだし可視比力部に可視出力し
、・正答キーに応答して、その誤答学習データを正答と
識別し、誤答学習データが少なくとも所定数になるまで
制御しているので、使用者は解答を誤った問題のみを何
らの労力も要せず繰り返し学習でき、学習時間を大幅に
短縮することができ、又、学習段階に応じて問題を選択
できる。 第３発明の電子学習装置は、１つの問題文中の少なくと
も１つの空欄が誤答であった問題Ｅ識別し、その空欄の
残っている学習データを正解になるまで繰り返し学習が
できるので、いわゆる穴埋め問題に対する学習効果が大
幅に上昇する。 第４発明の電子学習装置（飄解答に長時間を要した学習
データを学習メモリから選択的１こ順次１こ読みだし可
視出力部１こ可視出力し、キーに応答して、早く解けた
場合はその学習データを識別可能とし、解答に長時間を
要した学習データを少なくとも所定数になるまで制御し
ているので、解答時間が制限される試験に対しての学習
効果が大幅に向上する。 第５発明の電子学習装置（飄誤答と識別された学習デー
タを再出題の対象とし、再出題とされた問題を繰り返し
出題する。したがって、使用者は解答を誤った問題のみ
を何らの労力も要せず繰り返し学習でき、学習時間を大
幅１こ短縮するこ゛とができる。
電子学習機とＩＣカードの正面図、第２図はＩＣカード
の内部構造図、第３図は第１実施例のメインフローチャ
ート、第４図は同実施例のサブフローチャート、第５図
Ａ、 Ｂは同実施例のメニュー画面の説明図、第６図
はで同実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第７
図は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図
、第８図は第２実施例のサブフローチャート、第９図Ａ
、 Ｂ。 Ｃは同実施例のワードメモリとコレクトリストメモリと
エラーリストメモリの内容を示す説明図、第１０図は第
３実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第１１図
は同実施例のデータに１の内容を示す説明図、第１２図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第１３図は同実施例のサブフローチャート、第１４図は
第４実施例のサブフローチャート、第１５図は第５実施
例のサブフローチャートを各々示す。 １・・・電子学習装置 ２・・・正答キー ４・・・誤答キー ２２・・・キーボード入力部 ２日・・・表示部 ３０・・・ＣＰＵ ３２．５２・・・ＲＯＭ ７０．７５．１７０・・・ワードメモリ８０．１００．
１８０・・・エラーリストメモリ９０・・・コレクトリ
ストメモリ 代理人 弁理士 定立 勉（ばか２名）第 図 第５図 （Ａ） ＣＢ） 第６図 ワードメモリ 第８図 第７図 エラーリストメモリ 第１４図 手 続 補 正 書 第１５図 平成２年３月２０日 ２゜ ３゜ 昭和６３年特許願第３３１０８３号 発明の名称 電子学習装置 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 オランダ国 １０７１ ディージエイム
セウムブレイン １１ 名 称 レーム プロパティズ ピーブイ代表者
ティングシエング リン ４、代理人 〒４６０ 住 所 名古屋市中区錦二丁目９番２７号アム
ステルダム 補正命令の日付 自発 ６、 補正により珊加する請求項の数 ２７、
補正の対象 明細書の［特許請求の範囲Ｊ、ｒＦ！！明の詳細な説明
］第７図。 ８、 補正の内容 の欄及び図面の 全文訂正明細書 １、発明の名称 電子学習装置 ２、特許請求の範囲 ２ 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリか″ら学習デー
タを読みだし、問題データ、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
固層データと醒芥データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置。 ３ 少なくとも１つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、少なくとも正答キーと誤答キー
とを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
即題データと解答データとを順次に可視出力する可視出
力部と。 １つの問題データについて少なくとも１つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、１つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置。 ４ 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の耐層
データと解答データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答ギー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置。 データ それに いて 答データを可 出 し前記正答
キーまたは誤答キーに応答して次の間３、発明の詳細な
説明 ［産業上の利用分野］ 本発明（上電子学習装看に関し、詳しく（ヨ 英単語、
漢字、歴史年表、数学公人理科公式等の暗記に好適な電
子学習装置に関する。 ［従来技術及び発明が解決しようとする課題］従来、単
語等を暗記するため文具として単語カードがあるが、単
語カードをめくることは煩雑であり、前回正答か誤答か
がわからないので、前回正答であったものまで、もう１
度解くことになり学習効率が悪かった。現在、英語辞書
カードも市販されているが、何万語も内蔵したカードは
試験には役にたたない。 更１：、問題とこの問題に対する正答を含む複数の答え
を記載した問題カードに対して回答を行い結果に応じて
音声により正誤を判定するもの（特開昭６Ｏ−２２２８
８５）、難易度に応じて区別されたカードが提案されて
いる（特開昭６ｌ−１１７２９）。しかし、１度正答を
出したものまで再度問題を解くことになるので、学習効
率が悪かった。 更に穴埋め問題１こ対し誤った問題のみを繰り返し学習
する必要があり、解答時間の長くかかった問題をのみを
繰り返して練習する必要がある。 そこで本発明の目的は、安価でかつ学習効率を飛躍的に
向上するのに好適な電子学習装置を提供することにある
。 ［課題を解決するための手段］ 前記目的を解決する第１発明の電子学習装置（友問題デ
ータと解答データとを含む所定の学習データを格納する
学習メモリと、該学習メモリの学習データに基づいて、
問題を出題し、ついで解答を表示する出題手段と、出題
手段による出題の解答結果の自己評価結果を入力するた
めの自己評価入力手段と、該自己評価入力手段に応じて
、出題の自己評価結果を集計する学習記憶手段と、該学
習記憶手段の集計内容に基づいて、前記出題手段による
出題の出題パターンを設定する出題パターン設定手段と
を備えることを要旨とする。 第２発明の電子学習装置（表問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入
力部に応答して、前記学習メモリから学習データを読み
だし、問題データ、それに続いて解答データを可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題デー
タと解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、
誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、この誤答学習データを読みだし前記可視出
力部に順次に可視出力し、前記正答キーに応答して、そ
の誤答学習データを正答と識別し、前記誤答学習データ
を減少させる誤答データ制御手段とを備えることを要旨
とする。 第３発明の電子学習装置は、少なくとも１つの部分を削
除した問題データと、その削除部分に対応する解答デー
タとを含む学習データを格納する学習メモリと、少なく
とも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入力
部に応答して、前記学習メモリから学習データを読みだ
し、問題データと、それに続いて解答データを可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題デー
タと解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、
１つの問題データについて少なくとも１つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に
可視出力し、１つの問題データについて全ての削除部分
に対して正答キーが応答すると、その誤答学習データを
正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答デ
ータ制御手段とを備えることを要旨とする。 第４発明の電子学習装置（よ問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入
力部に応答して、学習メモリから学習データを読みだし
、問題データと、それに続いて解答データを可視出力し
、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題データ
と解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、前
記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キー
の応答までの時間を計測する計測手段と、この解答時間
を所定時間と比較し、解答時間が所定時間以上であると
、前記正答キー又は誤答キーに応答して、その学習デー
タの解答時間が長いと識別する識別手段と、この長時間
学習データを読みだし前記可視出力部に順次に可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、その解答時
間が前記所定時間以下となると、その学習データの解答
時間が短かいと識別し、前記長時間学習データを減少さ
せる解答時間データ制御手段とを備えることを要旨とす
る。 第５発明の電子学習装置１山問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、前記学
習メモリから学習データを読み出し、問題データ、それ
に続いて解答データを可視出力し、前記正答キーまたは
誤答キーに応答して次の問題データと解答データとを順
次可視出力する可視出力部と、前記誤答キーに応答して
、直前に出題された学習データを誤答と識別する識別手
段と、前記誤答と識別された学習データを再土題の対象
とする再出題設定手段とを備えることを要旨とする。 ［作用］ 第１発明の電子学習装置は、学習メモリが格納する学習
データに基づいて、出題手段が問題を出題する。この出
題後、出題手段は、例えば所定時間の経過後、若しくは
所定キーの押しに応答して、次に解答を表示する。ここ
で、使用者が問題に対する解答を考え、ついで解答を見
て、その結果の自己評価結果が、自己評価入力手段より
入力されると、この入力結果が学習記憶手段に出題に対
する自己評価結果として集計さ札記憶される。この記憶
された集計内容は、出題パターン設定手段によって、出
題手段による出題の出題パターンの設定に用いられる。 したがって、自己評価結果が、次からの出題パターンに
反映される。これにより、例えば、自己評価の結果、評
価結果の良くない出題の出題頻度を多くしたり、評価結
果の良くない出題を繰り返し出題することができる。 第２発明の電子学習装置１友問題データと解答データと
を格納する学習メモリから、まず問題データを読みだし
可視出力し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで
解答データを読みだして可視出力し、使用者が正答キー
と誤答キーの選択を行い、使用者の答えが解答と合って
いると使用者が正答キーを押し、答えが解答と合ってい
ないと使用者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対
し使用者の解答が正答であったか誤答であったかを識別
できるように（例えば識別信号をつけたり、別々の記憶
領域に格納したり）し、こうして問題と解答を繰り返し
、学習データの内、誤答であるもののみを識別する。 こうして誤答と識別された問題を自動的に順次に読みだ
し、正答、誤答キーの選択をおこない、正答キーに応答
して、その可視出力した誤答学習データを正答と識別し
、こうした制御を繰り返し、誤答となった学習データが
減少して行く。従って、誤答である問題のみを正答にな
るまで学習できるので、解答時間が短縮し学習効率が飛
躍的に向上する。 第３発明の電子学習装置（友少なくとも１つの空欄勇断
を含むいわゆる穴埋め問題データと、空欄勇断に対応す
る解答データとを格納する学習メモリから、まず問題デ
ータを読みだし可視出力し、使用者がこれを見て答えを
考える。ついで解答データを読みだして可視出力し、使
用者が正答キーと誤答キーの選択を行い、使用者の答え
が空欄の解答と合っていると正答キーを押し空欄が解答
で埋まり、答えが空欄の解答と合っていないと誤答キー
包押し空欄はそのままであり、１つの間顕の空欄につい
て少なくとも１つ誤答があると誤答、全部正解であると
正答と識別できる。 次ぎに１つの問題文中の少なくとも１つの空欄が誤答で
あった問題のみを読みだし、正答、誤答キーの選択をお
こない、空欄勇断が全部正答で空欄がなくなると、その
可視出力した学習データを正答とみなして空欄勇断の残
っている学習データから識別し、その空欄の残っている
学習データが減少するように、このような処理を繰り返
し全問正答に近づいて行く。 従って、使用者は誤った問題のみを伺らの労力も要せず
容易に学習でき、学習時間を大幅に短縮することができ
る。 第４発明の学習装置（友問題データと解答データとを格
納する学習メモリから、まず問題データを読みだし可視
出力し、使用者がこれを見て答えを考え、使用者は可視
出力した解答を見て正答キーと誤答キーの選択を行う。 ついで問題の表示から正答キーと誤答キーの応答までの
解答時間を計測し、解答時間に長時間を要した問題だけ
を識別する。このような問題だけを読みだし可視出力し
、再度、解答時間に長時間乞要したものかどうか判断し
、短時間で解答に達すると、その可視呂′力した学習デ
ータを解答に長時間を要した学習データから識別し、そ
のような長時間を要した学習データが所定数に減少する
までこのような処理を繰り返す。従って、問題が早く解
けるようになり学習効果を大幅に向上できる。 第５発明の電子学習装置は、問題データと解答データと
を格納する学習メモリから、まず問題データを読みだし
可視出力し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで
解答データを読みだして可視出力し、使用者が正答キー
と誤答キーの選択を行い、使用者の答えが解答と合って
いると使用者が正答キーを押し、答えが解答と合ってい
ないと使用者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対
し使用者の解答が誤答であったかを識別する。 こうして誤答と識別された問題を再出題設定手段が再出
題の対象とする。したがって、誤答である問題が繰り返
し再出題さ狛、効率的な学習が行われる。 ［実施例］ 以上説明した本発明の構成作用を一層明らかにするため
に、以下本発明の装置の好適な実施例について説明する
。第１図Ａは本発明の第１実施例で、手帳型電子学習機
］を示し、正答キー２と誤答キー４と終了キー８と音声
キー］Ｏと表示キー１２と切キー］４と入キー１６と選
択キー１８と正答率キー２０とアルファニューメリック
キー２１とを備えるキーボード入力部２２と、この入力
部２２に応答して、後述のＩＣカード２４．２６から交
互に問題と解答を読みだし、問題と、これに続いて解答
とを表示する表示部２８とを有している。正答キー２ど
誤答キー４と（よ 自己評価入力手段に相当する。 第１図Ｂ、 Ｃ１：ｌｊ、、英単語ＩＣカード２４と
歴史年表ＩＣカード２６で、学習段階に応じて、所定の
問題データと解答データとを含む学習データを所定数格
納しており、ＩＣカード２４．２６は電子学習機１の受
は入れ部２３に挿入できる。 第２図は電子学習機１の内部構造で、この装置１は、キ
ーボード入力部２２、表示部２８、音声出力部２９、周
知（７）ＣＰＬ１３０、ＲＯＭ３２Ｊ ＲＡＭ３４、
バックアップＲＡＭ３５を中心にこれらとバス３６によ
り接続するカウンタ３８、電源部４０、タイマ４２、コ
ネクタ４４、インタフェース４６．プリンタインターフ
ェース４８から構成する。プリンタインタフェース４８
はプリンタに接続可能であり、ＲＯＭ３２は学習制御プ
ログラムを記憶している。 この電子学習機１はＩＣカード２４と接続し、このＩＣ
カード２４は、周知のＣＰＵ５０．ＲＯＭ５２、ＲＡＭ
５４を中心にこれらとバス５６により接続するインタフ
ェース５８から構成する。 ＲＯＭ５２は制御プログラムと英単語の問題データと解
答データとを所定数記憶している。 第３図Ｆ ＲＯＭ３２とＲＯＭ５２１：格納シテいる
学習制御プログラムを示すメインルーチンのフローチャ
ートである。まずステップ］ （以下Ｓ１と略す）にお
いては、フラグ、カウンタ等の初期化を行い、Ｓ２は音
声キー１０がオンしているかどうかを判断し、ＹＥＳな
らＳ３で音声出力部２９をオンし、ＮｏならＳ４でフラ
グＦを１に設定し、次の８５は学習処理を行うサブルー
チンである。 第４図は、サブルーチンＳ５の処理を示すフローチャー
トであり、以下場合を分けて説明する。 ■第１回目の場合（フラグＧ＝０の場合）。 まずＳ１２はメニューの表示と選択を行い、第５図Ａは
、入キー１６の押し下げにより現れるメニュー画面を示
し、選択キー１８でカーソル６０を移動しメニューを選
択できる。この画面では「］」が選択さ′ｈ、後述のよ
うに英単語の和訳の問題が出題される。つぎに第５図Ｂ
のメニュー画面が現ね、中学の学年別に応じた英単語の
問題をカーソル６０の移動で選択し、この画面では「２
」が選択さ札中学２年程度の英単語を格納したＲＯＭ５
２のワードメモリ７０の読みたしが可能となる。 第６図は、中学２年の学習レベルに対応するＲＯＭ５２
のワードメモリ７ｏの内容を示し、ワードメモリ７０ハ
Ｐ １〜Ｐ３０００番地、０１〜０３０００番地まであ
り、各番地に対応してＥ１〜Ｅ３０００．’ Ｊ １〜
Ｊ ３０００までの６０００個のデータを順次格納して
いる。Ｅ１〜Ｅ ３０００は問題である英単語を示すデ
ータで、Ｊ１〜Ｊ ３０００はその解答である和文を示
す。 例えばＰ１番地には英単語データＥｌ（例： ｂｅａｕ
ｔｉｆｕｌ）、０１番地に（よ その訳語データＪ１（
例：美しい）を格納している。ＲＯＭ５２の図示せぬ他
のワードメモリには中学１年と中学３年と高校入試用の
英単語データを所定数格納している。 第４図に戻り、５１４（山 ＲＯＭ５２の最後の０３０
００番地に入っている識別用のデータ色読み出したかど
うかを判断することにより、ＲＯＭ５２の内容を１通り
読み終えたかどうかを判断し、ここでは最初の処理であ
るのでＮｏと判断する。次の３１８はワードメモリ７０
から英単語データＥ１を読みだし、読みだした英単語デ
ータＥ１を表示部２８の問題欄に“ｂｅａｕｔ ｉ ｆ
ｕビと表示し、音声フラグＦが０ならば、表示する文字
を音声出力する。そして使用者がこれを見て答えを考え
、正答をみるため表示キー１２を押すと、Ｓ２０でＹＥ
Ｓと判断し、次の３２２で０１１番左格納されている訳
語データＪ１を読みだして表示部２８の解答欄に“形容
詞；美しい”と表示するが、更に発音、類義語、反対語
、文例も同時に表示できるよう構成することができる。 使用者の答えが訳語データＪ１と合っていないと使用者
は誤答キー４を押し、Ｓ３４でＮｏ、Ｓ２４でＹＥＳと
判断し、最初の処理であるので８２６でＮｏと判断し、
第４図の３２８で（友誤答回数Ｊを１増加する。Ｓ２９
では表示部２８に表示しているデータのＰｌ、０１１番
左第７図のＲＡＭ３５のエラーリストメモリ８０のＭ１
１番上格納し、又、Ｓ１８の英単語の表示から表示キー
１２の押し下げまでの使用者の解答時間Ｔ１をタイマ４
２から読み出し、エラーリストメモリ８０のＭ１１番上
格納する。次の３３０では終了キー８が押されていない
のでＮｏと判断し、Ｓ３２で全解答回数１を１増加して
３１８に戻り、５１８では次の単語データＥ２をワード
メモリ７０のＰ２番地がら読みだし、その英単語データ
Ｅ２を表示部２８（二表示する。 そして使用者がこれを見て答えを考え正答を見るため、
表示キー１２を押すと、Ｓ２２で０２番地の訳語データ
Ｊ２を読みだして、表示部２８に表示し、音声フラグＦ
が０ならば音声出力する。使用者の答えが訳語データＪ
２と同じ場合は、正答キー２を押し、Ｓ３４でＹＥＳと
判断し、Ｓ２６でフラグＧが１かどうか判断し最初の処
理なのでＮＯと判断し、Ｓ３０．Ｓ３２を経て同様な処
理を繰り返す。このようにして誤答と判断した英単語デ
ータ及び訳文データに対応する番地と解答時間が蓄積さ
れて行きＲＯＭ５２のワードメモリ７０のデータを全部
読みだし全部解答できた状態では、第７図に示すエラー
リストメモリ８０のデータが６００個になっており、使
用者は３０００題の内、６００題を誤答したことになる
。Ｍ６旧からＭ３０００までは空き領域であるが、もし
全問誤答の場合、誤答となった英単語と訳文データの番
地と解答時間が、Ｍ１〜Ｍ３０００番地を満たすことに
なる。 途中で打ち切る場合は、Ｓ３０でＹＥＳとなり、Ｓ４０
では終了処理を行い、メツセージ「途中で終わりました
」を表示部２８に表示する。フラグＧ＝Ｏと終了時の番
地をＲＡＭ３５の図示せぬ終了メモリに格納しておくの
で、次回はその途中から始められるので便利である。１
回目を完全に終了してから終わる場合はフラグＧ＝１と
設定されており、フラグＧ＝１とエラーリストメモリ８
０の最初の番地とを終了メモリに格納する。これにより
、次回からの出題（良前回まで誤答であった出題が再出
題の対象とさ札 これが出題パターンとして設定される
。 ■１１回目終えた後、２回目の最初から又は２回目の途
中から始める場合（フラグＧ＝１の場合の処理） Ｓ１２の処理を終えて、Ｓ１４，１６を経て、Ｓ１８で
ＲＡＭ３５の終了メモリに格納された番地に相当する英
単語データをＲＯＭ５２のワードメモリ７０から読みだ
す。Ｓ２０で表示キー］２を押し、訳語データが表示さ
れ使用者の回答が正答の場合はＳ３４．Ｓ３６を経てＳ
３８でエラーリストメモリ８０から今回正答となったデ
ータに対応する番地を消去する。誤答の場合はＳ２４゜
Ｓ２６．Ｓ３０．Ｓ３２を経て８１８に戻り以下、同様
な処理を繰り返し、正答である毎にデータをエラーリス
トメモリ８０から減らして行き、データがゼロになった
ときに使用者は全ての問題を正答できたことになる。終
了キーをおすと８４０で終了処理を行い、表示部２８に
メツセージ「全てが正答となりました」と表示し、途中
で終わる場合はフラグＧ＝Ｏと最後の番地を終了メモリ
に格納する。これらにより、前回誤答であった出題が再
出題の対象とさね、繰り返し出題されるという出題パタ
ーンが設定さお、これに基づいて問題が出題される。 ■プリント処理 Ｓ４０が終了すると、学習処理ルーチンは終了し、第３
図のメインルーチンにもどり、Ｓ６で図示せぬプリント
キーが押し下げされると８７で印字処理を行い、本メイ
ンルーチンを終了する。 尚、第１実施例では、英単語の問題であったが、ＯＸ式
、多枝選択式に適用でき、又、歴史年表、理科数学公民
漢字等に適用できることも勿論である。 第８図、第９Ａ、 Ｂ、 Ｃ図は第２実施例であり
、第１実施例と異なるところは、ＲＡＭ３５にエラーリ
ストメモリ１００に加えてコレクトリストメモリ９０を
追加したものである。第８図は第４図と異なる個所を示
しており他のステップはほぼ共通であり、第８図で第１
回目に使用者の解答が正答であるときにも正答データを
８５２でコレクトリストメモリ９０に識別可能に格納で
きるようにしている。つまり正答であるデータと誤答で
あるデータを分けてＲＡＭ３５のコレクトリストメモノ
９０にＳ５２で、エラーリストメモリ１００１：Ｓ２８
でデータを格納できる。即ち、第１回目の処理が終了し
たとき、第９図Ａのワードメモリ７５から読みだしたデ
ータを、第９図Ｂのコレクトリストメモリ９０と同図Ｃ
のエラーリストメモリ１００に分けて格納する様子を示
す。 そしてＳ３４で正答キー２を押し下げる毎に、表示中の
正答であると判断したデータをＳ５０でエラーリストメ
モリ１００からコレクトリストメモリ９０に転送し、エ
ラーリストメモリ１００のデータを減少させて行く。 尚、コレクトリストメモリ９０、エラーリストメモリ１
００を第１回目、第２回目等の繰り返し回数に応じてそ
れぞれ記憶しておくことも可能であり、何回目で正答に
達したかがわかる。 第１０図は本発明の第３実施例であり、いわゆる穴埋め
問題に対する応用例である。第１０図はワードメモリ１
７０を示し、Ｐ１〜Ｐ３００には問題データが、０１１
〜０３００３には解答データが入り、Ｐｌには次のよう
な問題データに１が入っている。 郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［］ｔｏ
ｔｈｅ［］ ０ｆｆｉｃｅ？ 第１１図はに１のデータ構造を示し、データに１１はＣ
ａｎ ｙｏｕ”であり、α１．β１．γ１は最初の空
欄に対応し、αｌ、β１．γ１はそれぞれ最初の位置、
空欄にはいる文字数、最後の位置を示し、解答データＬ
ｌｌの“ｔｅｌ ビに対応する。 データに１２は、 ｍｅ ｔｈｅ”であり、デー
タα２．β２．γ２は２番目の空欄に対応し、解答デー
タＬ１２の“ｗａｙ”に対応する。データに１３は“ｔ
ｏ ｔｈｅ”であり、データα３．β３．γ３は３番
目の空欄に対応し、解答データＬ１３の“Ｐｏ５ｔ１１
が対応し、データに１４は“０ｆｆｉｃｅ’ｉ’”であ
る。Ｑ１１番地には解答データＬｌｌとして“ｔｅｌｆ
”が、０１２番地（二は解答データＬ１２としてｗａｙ
”が、０１３番地には解答データＬ１３として“Ｐｏ５
ｔ”が入っている。ここでカウンタＣの内容は１つの問
題データ中の空欄ケ所の数を示す。 第１２図は、エラーリストメモリ１８０の内容を示し、
空欄勇断を正答すると、そこに解答データが入り、空欄
勇断が誤答の時は空欄はそのままであり、正答すればす
るほどエラーリストメモリ］８０の内のデータ数とカウ
ンタＣは減少して行次ぎに第３実施例の内容を、第１３
図のサブフローチャートに基づいて説明する。第１実施
例の第４図のサブフローチャートを図示のように１部変
更したもので、Ｓ１６〜Ｓ３０に代わり３３００〜５４
００が加わっているが、Ｓ１８，２０゜２２．２４はそ
のままであり、英単語に代わり英語の文章が読みだされ
表示部２８に表示される。 まず５３００でこれから表示する学習データについての
カウンタＣの値をカウンタＢに設定し、ここではカウン
タＢは１つの問題文中の空欄勇断の数が解答のある毎に
減ってゆく様子を示すもので、残りの未解答の空欄勇断
の数を示す。第１実施例と同様にＳ１８〜Ｓ２２で問題
と解答の表示が行われた後、Ｓ３４で正答キー２が押さ
れると、５３１０でカウンタＣとカウンタＢとを１減少
し、５３２０で解答データをＲＡＭ３４の所定領域に転
送し、正答であればもう１度問題を解く必要はないから
５３３０で表示部２８の問題文中の空欄［コを消去し、
そこに解答データを表示する。一方、誤答キー４が押さ
れると、Ｓ２４でＹＥＳとなり、５３４０で空欄はその
ままとし誤答回数Ｊを１増加し、カウンタＢを１減少す
る。 ５３３０又は５３４０の後は、５３５０で８＝０となる
までループ処理（８２０〜Ｓ ３４０）を行う。 ５３５０でＹＥＳとなると、８３６０でＧ＝１かどうか
判断し、ＮＯならば８３８０でエラーリストメモリ１８
０に問題データと解答データを格納し、５３２０でＲＡ
Ｍ３４に格納した解答データ（正答となったもの）を問
題データに転送し、その解答データは解答番地から消去
する。ＹＥＳならばＲＡＭ３４の解答データをエラーリ
ストメモリ１８０に転送し、既に問題データは格納され
ているから、問題データの格納は行わない。 例え［１第１間の３つの空欄の内、１，２番目の空欄が
誤答で３番目の空欄を正答したとするとＱｌｌ、１２番
地のデータはそのままで、０１３番地のデータＬ１３を
問題データに１のデータα３．β３．γ３へ転送して空
欄を埋め、問題データは次のように修正され“Ｐｏ５ｔ
”が現れる。 郵便局゛へはどういったらいいです
か。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［］ ｍｅ ｔｈｅ［］
ｔｏ ｔｈｅ Ｐｏ５ｔＯｆｆｉｃｅ？ 尚、解答データの内、Ｌｉ２は消去される。 続＜３３９０でＹＥＳ、即ち空欄に対し全部正答キー２
が押されると８４００でエラーリストメモリ］８０から
そのデータを消去する。例え（ｆ、。 第１２図のＰ３番地のデータは空領域となっており、こ
れは第３間の３つの空欄をすべて正答したためである。 Ｓ３０でＮＯの場合は、１つの問題を終えたと判断し、
Ｓ３２へ飛び、 Ｉを１増加して、次の問題文に移る。 ＹＥＳならＳ４０へ飛、汎 こうして処理がつぎつぎに
行われた結果の例が第１２図に示される。 第１４図は、第４実施例を示し、第１実施例の第４図の
サブフローチャートのＳ１８〜Ｓ３０を１部変更したも
ので、５ｓｏｏ〜５５２０が新たに加わっている。即ち
、第１実施例で（表誤答のもののみを正答になるまで繰
り返しているが、これに加えて第４実施例では、更に解
答に時間を要したものを選択して、正答かつ解答時間が
短くなるまで問題を繰り返し実行する。 ５５００でタイマ４２が起動シテ、Ｓ２０でＹＥＳなら
、５５１０でタイマ４２をストップして解答時間データ
Ｔ１を算出し、Ｓ２２．Ｓ３４のあと５５２０で解答時
間Ｔｉと所定時間Ｔｏを比較し、ＹＥＳならＳ２４．Ｓ
２６を経ｒｓ ２８テ第７図のエラーリストメモリ８０
に単語データ、訳文データとともに、解答時間データＴ
ｉを格納し、Ｓ２９を行い、８３８を行い、Ｓ３０へ飛
び、５５２０でＮｏならＳ３６，８３８を行う。尚、正
答、誤答に拘らず、解答時間が長かったものを選択して
、繰り返して問題を解けるように設計変更できることは
勿論である。 第１５図（よ第５実施例であり、ＩＣカード２４．２６
の学習データの範囲を使用者が自由に設定できるもので
あり、図示せぬ所定のキーが押されると本ルーチンが起
動し、学習データの区分、例えば中学の各学年の学期、
教科書の各セクション、歴史年表の年代等の一覧を表示
部２８に表示し、５７００でＩＣカード２４．２６の表
面に設けた図示せぬ選択キーあるいはアルファニューメ
リックキー２１で所望のレッスンを設定する。例えば歴
史年表で１５００年から１６５０年までを学習したいと
き［；ｊ１５００と１６５０の数字キーを押せばよく、
英語の教科書のセクションでは選択キーを押してカーソ
ルで選ぶことができる。 次の８８００では設定されたレッスンに対応する学習デ
ータの格納領域に関する設定データをＲＡＭ３５に記憶
し、この設定した学習データの格納領域以外からの学習
データの読み込みを禁止し、５９００でＩｃカード２４
又は２６の表面に設けた図示せぬレッスン変更キーが押
されると、５１０００でその押し下げに応じて前記設定
データを変更し処理を終了する。こうして学習を始める
前、学習途中、学習後に学習データの区分を自由に設定
変更することができるので、学習の自由度を大いに向上
させることができる。 尚、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々な変形が可
能であり、例え［瓜英単語の問題の代わりに漢字、歴史
年表、数学公人理科公式等の暗記用の学習データとして
もよく、学習データを試験によくでる頻度順にＲＯＭに
格納しておいてもよく、回路をディスクリートな構成に
してもよく、ＩＣカードの方にバックアップＲＡＭを設
は電池でバックアップしてもよく、全問正答まで行くと
ゲームが楽しめるように構成してもよく、学習処理の終
了時に残りの問題数を表示し目標達成までどのくらいか
を示すように構成してもよく、問題データの表示後、設
定時間経過後に自動的に解答データを表示部に表示して
もよい。又、正答キー２、誤答キー４、終了キー８、音
声キー］Ｏ１表示キー１２、選択キー１８又は正解率キ
ー２０をアルファニューメリックキー２１が兼用しても
よく、現在普及しつつある電子辞典としても活用できる
。更に、バックアップＲＡＭの内容を書換え可能とし、
使用者が問題と解答を自由に作成、迫力ｌ 変更できる
ようにすることが可能である。 ［発明の効果］ 第１発明の電子学習装置］戴問題に対する解答の結果を
自己評価し、この自己評価の結果をデータとして取り込
むよう構成されている。したがって、使用者（表解答の
綴をそのままキーボードにタイピングしたり、複数の解
答の中から択一したりすることなく、自己評価結果だけ
を入力するだけでよい。この結果、出題に対する解答を
考えついたその時点で、速やかにデータを入力でき、出
題の処理速度が高なるというきわめて優れた効果を奏す
る。また、自己評価の結果が出題パターンに反映される
。これにより、自己評価結果を考慮した出題パターンを
設定して、学習効果を最も高くすることができる。 第２発明の電子学習装置１表誤答学習データを学習メモ
リから選択的に順次に読みだし可視比力部に可視出力し
、・正答キーに応答して、その誤答学習データを正答と
識別し、誤答学習データが少なくとも所定数になるまで
制御しているので、使用者は解答を誤った問題のみを何
らの労力も要せず繰り返し学習でき、学習時間を大幅に
短縮することができ、又、学習段階に応じて問題を選択
できる。 第３発明の電子学習装置は、１つの問題文中の少なくと
も１つの空欄が誤答であった問題Ｅ識別し、その空欄の
残っている学習データを正解になるまで繰り返し学習が
できるので、いわゆる穴埋め問題に対する学習効果が大
幅に上昇する。 第４発明の電子学習装置（飄解答に長時間を要した学習
データを学習メモリから選択的１こ順次１こ読みだし可
視出力部１こ可視出力し、キーに応答して、早く解けた
場合はその学習データを識別可能とし、解答に長時間を
要した学習データを少なくとも所定数になるまで制御し
ているので、解答時間が制限される試験に対しての学習
効果が大幅に向上する。 第５発明の電子学習装置（飄誤答と識別された学習デー
タを再出題の対象とし、再出題とされた問題を繰り返し
出題する。したがって、使用者は解答を誤った問題のみ
を何らの労力も要せず繰り返し学習でき、学習時間を大
幅１こ短縮するこ゛とができる。
第１図Ａ、 Ｂ、 Ｃは本発明の一実施例としての
電子学習機とＩＣカードの正面図、第２図はＩＣカード
の内部構造図、第３図は第１実施例のメインフローチャ
ート、第４図は同実施例のサブフローチャート第５図Ａ
、 Ｂは同実施例のメニュー画面の説明図、第６図は
で同実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第７図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第８図は第２実施例のサブフローチャート、第９図Ａ、
Ｂ。 Ｃは同実施例のワードメモリとコレクトリストメモリと
エラーリストメモリの内容を示す説明図、第１０図は第
３実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第１１図
は同実施例のデータに１の内容を示す説明図、第１２図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第１３図は同実施例のサブフローチャート、第１４図は
第４実施例のサブフローチャート、第１５図は第５実施
例のサブフローチャートを各々示す。 ］・・・電子学習装置 ２・・・正答キー ４・・・誤答キー ２２・・・キーボード入力部 ２８・・・表示部 ３０・・・ＣＰＵ ３２．５２・・・ＲＯＭ ７０．７５． １７０・・・ワードメモリ８０．１００
，１８０・・・エラーリス９０・・・コレクトリストメ
モリ トメモリ
電子学習機とＩＣカードの正面図、第２図はＩＣカード
の内部構造図、第３図は第１実施例のメインフローチャ
ート、第４図は同実施例のサブフローチャート第５図Ａ
、 Ｂは同実施例のメニュー画面の説明図、第６図は
で同実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第７図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第８図は第２実施例のサブフローチャート、第９図Ａ、
Ｂ。 Ｃは同実施例のワードメモリとコレクトリストメモリと
エラーリストメモリの内容を示す説明図、第１０図は第
３実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第１１図
は同実施例のデータに１の内容を示す説明図、第１２図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第１３図は同実施例のサブフローチャート、第１４図は
第４実施例のサブフローチャート、第１５図は第５実施
例のサブフローチャートを各々示す。 ］・・・電子学習装置 ２・・・正答キー ４・・・誤答キー ２２・・・キーボード入力部 ２８・・・表示部 ３０・・・ＣＰＵ ３２．５２・・・ＲＯＭ ７０．７５． １７０・・・ワードメモリ８０．１００
，１８０・・・エラーリス９０・・・コレクトリストメ
モリ トメモリ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データ、それに続いて解答データを可
視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解
答データと問題データとを順次に可視出力する可視出力
部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置。 ２ 少なくとも１つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
解答データと問題データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 １つの問題データについて少なくとも１つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、１つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置。 ３ 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解答
データと問題データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33108388A JPH02205885A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子学習装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33108388A JPH02205885A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子学習装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6109801A Division JP2883534B2 (ja) | 1994-05-24 | 1994-05-24 | 電子学習装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02205885A true JPH02205885A (ja) | 1990-08-15 |
Family
ID=18239661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33108388A Pending JPH02205885A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子学習装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02205885A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07152311A (ja) * | 1993-09-09 | 1995-06-16 | Roehm Properties Bv | 電子学習装置 |
| JP2002041012A (ja) * | 2000-07-19 | 2002-02-08 | Nyuuton:Kk | 電子学習機及び電子学習機における文章問題の解答方法 |
| JP2012501006A (ja) * | 2008-08-25 | 2012-01-12 | ビグル トーイズ ホールディング ビー．ブイ． | プロセッサと、複数のボディ部と、を有し、複数の視覚物（ｖｉｓｕａｌｉｚａｔｉｏｎ）の組み合わせを異なるボディ部の複数の外側表面を用いて少なくとも一面に形成することができるように、各ボディ部が複数の外側表面に視覚物（ｖｉｓｕａｌｉｚａｔｉｏｎ）を有するベースステーション |
| JP2018060298A (ja) * | 2016-10-03 | 2018-04-12 | ナレルシステム株式会社 | テキストをもとに出力するコンピュータプログラム、装置及び方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58100170A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-14 | 松下電器産業株式会社 | 学習機 |
| JPS6080892A (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-08 | 富士通株式会社 | 学習用装置 |
| JPS60104989A (ja) * | 1983-11-12 | 1985-06-10 | 株式会社セツク | 学習装置 |
| JPS61252575A (ja) * | 1985-05-02 | 1986-11-10 | 株式会社 クリエイテイブテクノロジ−センタ− | 教育用学習機 |
| JPS62229276A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-08 | 竹村 守順 | 算数学習機 |
-
1988
- 1988-12-28 JP JP33108388A patent/JPH02205885A/ja active Pending
Patent Citations (5)
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| JP2002041012A (ja) * | 2000-07-19 | 2002-02-08 | Nyuuton:Kk | 電子学習機及び電子学習機における文章問題の解答方法 |
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| JP2018060298A (ja) * | 2016-10-03 | 2018-04-12 | ナレルシステム株式会社 | テキストをもとに出力するコンピュータプログラム、装置及び方法 |
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