JPH02206138A - フリップチップ実装方法 - Google Patents
フリップチップ実装方法Info
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- JPH02206138A JPH02206138A JP1026974A JP2697489A JPH02206138A JP H02206138 A JPH02206138 A JP H02206138A JP 1026974 A JP1026974 A JP 1026974A JP 2697489 A JP2697489 A JP 2697489A JP H02206138 A JPH02206138 A JP H02206138A
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- bump
- chip
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- solder bump
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/303—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors with surface mounted components
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/012—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps
- H10W72/01251—Changing the shapes of bumps
- H10W72/01257—Changing the shapes of bumps by reflowing
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
- H10W72/281—Auxiliary members
- H10W72/285—Alignment aids, e.g. alignment marks
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、ICチップ等にハンダバンプを形成しておき
、このチップをフェイスダウンで基板上の導体パターン
にハンダ付けする、いわゆるフリップチップ実装方法に
関する。
、このチップをフェイスダウンで基板上の導体パターン
にハンダ付けする、いわゆるフリップチップ実装方法に
関する。
〈従来の技術〉
フリップチップ実装方法においては、ハンダバンプの熱
応力等による破壊や導体パターンからのはく離等を防止
するために、従来、例えば第2図に示すように、リフロ
ー工程においてハンダバンプが溶融状態のときに(第2
図〔a〕)、ICチップを吸着装置等によって上方へと
持ち上げ(第2図〔b〕)、この状態で冷却することに
よって、ハンダバンプをつづみ状に成形することがなさ
れている。
応力等による破壊や導体パターンからのはく離等を防止
するために、従来、例えば第2図に示すように、リフロ
ー工程においてハンダバンプが溶融状態のときに(第2
図〔a〕)、ICチップを吸着装置等によって上方へと
持ち上げ(第2図〔b〕)、この状態で冷却することに
よって、ハンダバンプをつづみ状に成形することがなさ
れている。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、上述の方法によれば、ハンダバンプのリフロ
ーを行うごとに、ICチップを吸着装置等によって持ち
上げなければならず、多数枚のICチップを実装するに
は、非常に多くの時間が必要となる。従って量産には不
向きである。しかも、ICチップを持ち上げるための吸
着装置等に高精度のメカニズムが必要で、その装置のコ
ストが高くつき、ひいては製品のコストアップにつなが
る。
ーを行うごとに、ICチップを吸着装置等によって持ち
上げなければならず、多数枚のICチップを実装するに
は、非常に多くの時間が必要となる。従って量産には不
向きである。しかも、ICチップを持ち上げるための吸
着装置等に高精度のメカニズムが必要で、その装置のコ
ストが高くつき、ひいては製品のコストアップにつなが
る。
く課題を解決するための手段〉
本発明は、上記の問題点を解決すべくなされたもので、
その実装方法を実施例に対応する第1図を参照しつつ説
明すると、本発明は、ICチップ等の電気部品1のハン
ダバンプ形成面もしくは基板2の導体パターン形成面の
いずれか一方の面のハンダバンプ3・・・3とは干渉し
ない個所に、融点がハンダバンプ3よりも高いペースト
ハンダ4を、ハンダバンプ3のバンプ高さよりも低く、
かつ、1個のハンダバンプ3の体積よりも多い量塗布し
ておき、実装時には、ハンダバンプ3・・・3のリフロ
ーに続いてペーストハンダ4を融点以上に加熱して融解
させた後、ハンダバンプ3・・・3を硬化させることを
特徴としている。
その実装方法を実施例に対応する第1図を参照しつつ説
明すると、本発明は、ICチップ等の電気部品1のハン
ダバンプ形成面もしくは基板2の導体パターン形成面の
いずれか一方の面のハンダバンプ3・・・3とは干渉し
ない個所に、融点がハンダバンプ3よりも高いペースト
ハンダ4を、ハンダバンプ3のバンプ高さよりも低く、
かつ、1個のハンダバンプ3の体積よりも多い量塗布し
ておき、実装時には、ハンダバンプ3・・・3のリフロ
ーに続いてペーストハンダ4を融点以上に加熱して融解
させた後、ハンダバンプ3・・・3を硬化させることを
特徴としている。
〈作用〉
ハンダバンプ3・・・3が基板2の導体パターン2a・
・・2aに濡れている状態で、ペーストハンダ4を融点
以上に加熱して融解させると、そのペーストハンダ4が
表面張力により球形になろうとし、ICチップ1を上方
へ押し上げる。これにより、溶融状態のハ)・ダパンブ
3・・・3は引き延ばされてつづみ状に成形される。
・・2aに濡れている状態で、ペーストハンダ4を融点
以上に加熱して融解させると、そのペーストハンダ4が
表面張力により球形になろうとし、ICチップ1を上方
へ押し上げる。これにより、溶融状態のハ)・ダパンブ
3・・・3は引き延ばされてつづみ状に成形される。
〈実施例〉
第1図は本発明のフリップチップ実装方法の手順を説明
する図である。
する図である。
まず、第1図(a)に示すように、ICチップ1に公知
の方法によりハンダバンプ3・・・3を形成しておく。
の方法によりハンダバンプ3・・・3を形成しておく。
一方、基板2の導体パターン2a・・・2a側の面には
、ICチップ1の四隅に相応する個所それぞれに、スク
リーン印刷法等によりペーストハンダ4をハンダバンプ
3・・・3と干渉しないように塗布しておく。このペー
ストハンダ4の下層には、あらかじめペーストハンダ4
と濡れ性の良い金属パッド2bを形成しておくが、この
金属パッド2bの面積は、塗布したペーストハンダ4の
面積よりも狭くしておき、後の工程においてペーストハ
ンダ4を融解した際に、所望の高さが得られるようにす
る。また、ペーストハンダ4の塗布時の高さは、ハンダ
バンプ3・・・3のバンプ高さよりも、低く、かつ、そ
の塗布量は1個のハンダバンプ3の体積よりも多くして
おく。さらに、ペーストハンダ4は、その融点がハンダ
バンプ3・・・3の融点、例えば183°Cよりも高い
250°C〜300°C程度のものを用いる。なお、I
Cチップ1および基板2の表面は、それぞれガラス膜等
のパッシベーション膜5および6によって被覆されてい
る。
、ICチップ1の四隅に相応する個所それぞれに、スク
リーン印刷法等によりペーストハンダ4をハンダバンプ
3・・・3と干渉しないように塗布しておく。このペー
ストハンダ4の下層には、あらかじめペーストハンダ4
と濡れ性の良い金属パッド2bを形成しておくが、この
金属パッド2bの面積は、塗布したペーストハンダ4の
面積よりも狭くしておき、後の工程においてペーストハ
ンダ4を融解した際に、所望の高さが得られるようにす
る。また、ペーストハンダ4の塗布時の高さは、ハンダ
バンプ3・・・3のバンプ高さよりも、低く、かつ、そ
の塗布量は1個のハンダバンプ3の体積よりも多くして
おく。さらに、ペーストハンダ4は、その融点がハンダ
バンプ3・・・3の融点、例えば183°Cよりも高い
250°C〜300°C程度のものを用いる。なお、I
Cチップ1および基板2の表面は、それぞれガラス膜等
のパッシベーション膜5および6によって被覆されてい
る。
次に、ICチップ1をフェイスダウンにより基板2上に
位置合わせし、ハンダバンプ3・・・3を基板2表面上
の導体パターン2a・・・2aに接触させた状態で、2
00°C程度に加熱してハンダバンプ3・・・3のリフ
ローを行い、ハンダバンプ3・・・3を導体パターン2
a・・・2aに濡れさせる(第1図〔b〕)。
位置合わせし、ハンダバンプ3・・・3を基板2表面上
の導体パターン2a・・・2aに接触させた状態で、2
00°C程度に加熱してハンダバンプ3・・・3のリフ
ローを行い、ハンダバンプ3・・・3を導体パターン2
a・・・2aに濡れさせる(第1図〔b〕)。
この時、ペーストハンダ4は融解されず塗布時の形状の
ままである。
ままである。
次いで、ペーストハンダ4の融点以上の加熱を行いペー
ストハンダ4を融解する。この融解によりペーストハン
ダ4は表面張力によって下層の金属パッド2bのみに濡
れようとして球形になり、その高さはハンダバンプ3・
・・3よりも高くなる。
ストハンダ4を融解する。この融解によりペーストハン
ダ4は表面張力によって下層の金属パッド2bのみに濡
れようとして球形になり、その高さはハンダバンプ3・
・・3よりも高くなる。
このペーストハンダ4が球形になろうとする力によって
ICチップ1は上方へと押圧され、これにより、溶融状
態のハンダバンプ3・・・3が引き延ばされて、第3図
〔C)に示すように、つづみ形状となる。そして、この
状態でハンダバンプ3・・・3を硬化させることによっ
て、基板2の導体パターン2a・・・2aに導通するつ
づみ形のハンダバンプ3・・・3を得る。
ICチップ1は上方へと押圧され、これにより、溶融状
態のハンダバンプ3・・・3が引き延ばされて、第3図
〔C)に示すように、つづみ形状となる。そして、この
状態でハンダバンプ3・・・3を硬化させることによっ
て、基板2の導体パターン2a・・・2aに導通するつ
づみ形のハンダバンプ3・・・3を得る。
なお、ペーストハンダ4は、その融解時にICチップ1
を水平に保持しつつ押し上げることができれば、ハンダ
バンプ3・・・3と干渉しない任意の個所に塗布しても
よい。また、ペーストハンダ4はICチップ1側に塗布
しておいてもよい。
を水平に保持しつつ押し上げることができれば、ハンダ
バンプ3・・・3と干渉しない任意の個所に塗布しても
よい。また、ペーストハンダ4はICチップ1側に塗布
しておいてもよい。
〈発明の効果〉
本発明によれば、ICチップもしくは基板のいずれか一
方に融点がハンダバンプよりも高いペーストハンダを塗
布しておき、実装時にはハングバンプのりフローに続い
てそのペーストハj・・ダを融点以上に加熱して融解し
2、その融解したペーストハンダによりICチップを上
方−・持ち上げるようにしたので、従来必要であ、った
T cチップの吸着装置等を用いることなく、簡単な手
順によりハンダバンプをつづみ形に成形することができ
、製品コストの低減化をはかることができる。さらに、
5ハンダバンプをつづみ状に成形するのに二段階の加熱
処理を行うのみでよく、−度に多数枚のICチップを処
理することが可能で、量産にも適している。
方に融点がハンダバンプよりも高いペーストハンダを塗
布しておき、実装時にはハングバンプのりフローに続い
てそのペーストハj・・ダを融点以上に加熱して融解し
2、その融解したペーストハンダによりICチップを上
方−・持ち上げるようにしたので、従来必要であ、った
T cチップの吸着装置等を用いることなく、簡単な手
順によりハンダバンプをつづみ形に成形することができ
、製品コストの低減化をはかることができる。さらに、
5ハンダバンプをつづみ状に成形するのに二段階の加熱
処理を行うのみでよく、−度に多数枚のICチップを処
理することが可能で、量産にも適している。
第1図は本発明のフリップチップ実装方法の手順を説明
する図である。 第2図はハンダバンプをつづみ状C1=成形する手順の
従来例を説明するための図である。 3・・・3・・・ハンダバンブ 4−・・ペーストハンダ ト・・ICチップ 2・・・基板 2a・・・2a・・・導体パターン
する図である。 第2図はハンダバンプをつづみ状C1=成形する手順の
従来例を説明するための図である。 3・・・3・・・ハンダバンブ 4−・・ペーストハンダ ト・・ICチップ 2・・・基板 2a・・・2a・・・導体パターン
Claims (1)
- ICチップ等の電気部品にあらかじめハンダバンプを形
成しておき、この電気部品をフェイスダウンで基板上の
導体パターンに位置あわせした後、ハンダバンプをリフ
ローすることにより、上記電気部品を基板に実装する方
法において、上記電気部品のハンダバンプ形成面もしく
は上記基板の導体パターン形成面のいずれか一方の面の
ハンダバンプとは干渉しない個所に、融点がハンダバン
プよりも高いペーストハンダを、ハンダバンプの高さよ
りも低く、かつ、1個のハンダバンプの体積よりも多い
量塗布しておき、実装時には、ハンダバンプのリフロー
に続いて上記ペーストハンダを融点以上に加熱して融解
させた後、ハンダバンプを硬化させることを特徴とする
、フリップチップ実装方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1026974A JPH02206138A (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | フリップチップ実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1026974A JPH02206138A (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | フリップチップ実装方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02206138A true JPH02206138A (ja) | 1990-08-15 |
Family
ID=12208133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1026974A Pending JPH02206138A (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | フリップチップ実装方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02206138A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6666368B2 (en) | 2000-11-10 | 2003-12-23 | Unitive Electronics, Inc. | Methods and systems for positioning substrates using spring force of phase-changeable bumps therebetween |
| US20120021183A1 (en) * | 2010-07-22 | 2012-01-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Forming Low Stress Joints Using Thermal Compress Bonding |
| US8104666B1 (en) * | 2010-09-01 | 2012-01-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Thermal compressive bonding with separate die-attach and reflow processes |
| US8177862B2 (en) | 2010-10-08 | 2012-05-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd | Thermal compressive bond head |
| US8381965B2 (en) | 2010-07-22 | 2013-02-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Thermal compress bonding |
| US9475145B2 (en) | 2012-02-27 | 2016-10-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Solder bump joint in a device including lamellar structures |
| US9842817B2 (en) | 2012-02-27 | 2017-12-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Solder bump stretching method and device for performing the same |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5873127A (ja) * | 1981-10-28 | 1983-05-02 | Hitachi Ltd | Icチツプのはんだ溶融接続方法 |
-
1989
- 1989-02-06 JP JP1026974A patent/JPH02206138A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5873127A (ja) * | 1981-10-28 | 1983-05-02 | Hitachi Ltd | Icチツプのはんだ溶融接続方法 |
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| US20120021183A1 (en) * | 2010-07-22 | 2012-01-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Forming Low Stress Joints Using Thermal Compress Bonding |
| US8104666B1 (en) * | 2010-09-01 | 2012-01-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Thermal compressive bonding with separate die-attach and reflow processes |
| US8317077B2 (en) | 2010-09-01 | 2012-11-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Thermal compressive bonding with separate die-attach and reflow processes |
| US8177862B2 (en) | 2010-10-08 | 2012-05-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd | Thermal compressive bond head |
| US9475145B2 (en) | 2012-02-27 | 2016-10-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Solder bump joint in a device including lamellar structures |
| US9842817B2 (en) | 2012-02-27 | 2017-12-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Solder bump stretching method and device for performing the same |
| US9978709B2 (en) | 2012-02-27 | 2018-05-22 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Solder bump stretching method for forming a solder bump joint in a device |
| US10163835B2 (en) | 2012-02-27 | 2018-12-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Solder bump stretching method |
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