JPH02206188A - デジタル光通信装置に使用される光送信装置のイネーブル応答時間を制御する装置および方法 - Google Patents
デジタル光通信装置に使用される光送信装置のイネーブル応答時間を制御する装置および方法Info
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- JPH02206188A JPH02206188A JP1027331A JP2733189A JPH02206188A JP H02206188 A JPH02206188 A JP H02206188A JP 1027331 A JP1027331 A JP 1027331A JP 2733189 A JP2733189 A JP 2733189A JP H02206188 A JPH02206188 A JP H02206188A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/50—Transmitters
- H04B10/501—Structural aspects
- H04B10/503—Laser transmitters
- H04B10/504—Laser transmitters using direct modulation
-
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/50—Transmitters
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、デジタル光通信装置等におけるレーザダイオ
ードの駆動装置に関するものである。
ードの駆動装置に関するものである。
従来の技術
レーザダイオードを光源とするデジタル光通信装置等に
おけるレーザダイオードの駆動に関しては、レーザダイ
オードのしきい特性などのために、デ タ入力信号に対
応したパルス電流にバイアス電流を加えてレーザダイオ
ードの駆動電流としなければならない。レーザダイオー
ドの駆動に関しては、レーザダイオードの特性、特に、
しきい値電流が温度変化などによって大きく変動するた
めに、駆動電流、特に、バイアス電流を常に適当な大き
さに設定しておく必要がある。このような制御は、しば
しば自動出力制御(APC>と呼ばれている。
おけるレーザダイオードの駆動に関しては、レーザダイ
オードのしきい特性などのために、デ タ入力信号に対
応したパルス電流にバイアス電流を加えてレーザダイオ
ードの駆動電流としなければならない。レーザダイオー
ドの駆動に関しては、レーザダイオードの特性、特に、
しきい値電流が温度変化などによって大きく変動するた
めに、駆動電流、特に、バイアス電流を常に適当な大き
さに設定しておく必要がある。このような制御は、しば
しば自動出力制御(APC>と呼ばれている。
光LANや光電体内伝送等に用いられる光送信装置にお
いては、しばしば間欠信号(バースト信号)に対するす
みやかな応答が要求される。レーザダイオードを用いた
光送信装置では、バイアス電流の断続が必要となる場合
があり、そのた必のイネーブル信号がしばしば必要とな
る。その場合、間欠信号は、間欠データ入力信号上間欠
イネーブル信号とによって構成される。例えば、光スタ
ーカプラ等の受動形光回路部品により多数の光送受信装
置を接続し多重通信を行う場合、複数の非送信状態にあ
る光送信装置からの出力光は、その光源の数が多いこと
により、送信状態にある1つの光送信装置からの出力光
の品質に重大な影響を及ぼし、通信特性を劣化させるこ
とがある。従って、非送信状態にある時には、出力光強
度がほぼ完全に零であることが要求される。また、通信
の効率を向上させるためには、非送信状態から送信状態
への遷移や、送信状態から非送信状態への遷移に要する
時間が極力短いことが必要である。以下、非送信状態に
あり、出力光がほぼ完全に無い状態をディスエーブル状
態と呼び、送信状態、あるいはすみやかにデータを送信
可能となっている状態をイネーブル状態と呼ぶ。レーザ
ダイオードを用いた光送信装置では、ディスエーブル状
態は、レーザダイオードにパルス電流とバイアス電流が
共に供給されていない状態であり、イネーブル状態は、
適当なバイアス電流が供給されており、パルス電流を供
給することによりデータをすみやかに送信可能となって
いる状態である。前述したような場合以外にも、例えば
、リング型のローカルエリアネットワークの立ち上げ時
などにも、短時間のうちに立ち上げや接続の変更を行う
ために、間欠信号に対するすみやかな応答が要求される
ことがある。すなわち、ディスエーブル状態から、イネ
ーブル信号によってバイアス電流の供給が開始され、バ
イアス電流が安定してイネーブル状態となるまでの時間
や、またイネーブル状態からイネーブル信号の消失によ
ってバイアス電流が遮断され、ディスエーブル状態とな
るまでの時間が、極力短いことがしばしば要求される。
いては、しばしば間欠信号(バースト信号)に対するす
みやかな応答が要求される。レーザダイオードを用いた
光送信装置では、バイアス電流の断続が必要となる場合
があり、そのた必のイネーブル信号がしばしば必要とな
る。その場合、間欠信号は、間欠データ入力信号上間欠
イネーブル信号とによって構成される。例えば、光スタ
ーカプラ等の受動形光回路部品により多数の光送受信装
置を接続し多重通信を行う場合、複数の非送信状態にあ
る光送信装置からの出力光は、その光源の数が多いこと
により、送信状態にある1つの光送信装置からの出力光
の品質に重大な影響を及ぼし、通信特性を劣化させるこ
とがある。従って、非送信状態にある時には、出力光強
度がほぼ完全に零であることが要求される。また、通信
の効率を向上させるためには、非送信状態から送信状態
への遷移や、送信状態から非送信状態への遷移に要する
時間が極力短いことが必要である。以下、非送信状態に
あり、出力光がほぼ完全に無い状態をディスエーブル状
態と呼び、送信状態、あるいはすみやかにデータを送信
可能となっている状態をイネーブル状態と呼ぶ。レーザ
ダイオードを用いた光送信装置では、ディスエーブル状
態は、レーザダイオードにパルス電流とバイアス電流が
共に供給されていない状態であり、イネーブル状態は、
適当なバイアス電流が供給されており、パルス電流を供
給することによりデータをすみやかに送信可能となって
いる状態である。前述したような場合以外にも、例えば
、リング型のローカルエリアネットワークの立ち上げ時
などにも、短時間のうちに立ち上げや接続の変更を行う
ために、間欠信号に対するすみやかな応答が要求される
ことがある。すなわち、ディスエーブル状態から、イネ
ーブル信号によってバイアス電流の供給が開始され、バ
イアス電流が安定してイネーブル状態となるまでの時間
や、またイネーブル状態からイネーブル信号の消失によ
ってバイアス電流が遮断され、ディスエーブル状態とな
るまでの時間が、極力短いことがしばしば要求される。
レーザダイオードを用いた光送信装置の間欠信号に対す
る応答の例を、添付図面の第5図を参照して説明する。
る応答の例を、添付図面の第5図を参照して説明する。
第5図(A)、(B)および(C)においては、横軸は
共通の時間である。第5図<A)は、光送信装置に与え
られるデータ入力信号を示しており、この図示のデータ
入力信号は、(101010101010101)のデ
ータの場合である。第5図(B)は、光送信装置に与え
られるイネーブル信号を示している。そして、第5図(
C)は、それらのデータ人力信号およびイネーブル信号
を与えられた光送信装置の出力光強度の例を誇張して示
している。
共通の時間である。第5図<A)は、光送信装置に与え
られるデータ入力信号を示しており、この図示のデータ
入力信号は、(101010101010101)のデ
ータの場合である。第5図(B)は、光送信装置に与え
られるイネーブル信号を示している。そして、第5図(
C)は、それらのデータ人力信号およびイネーブル信号
を与えられた光送信装置の出力光強度の例を誇張して示
している。
一般に、第5図(C)において参照符号201にて示す
ように、ディスエーブル状態の光送信装置が、イネーブ
ル信号を受けてイネーブル状態になるまでに有限の時間
を必要とする。この時間201を、以下、イネーブル応
答時間と呼ぶ。ディスエーブル状態の光送信装置にイネ
ーブル信号が与えられ、イネーブル応答時間201が経
過した後に、データ人力信号が与えられる。自動出力制
御(APC)の方法や調整にもよるが、光送信装置によ
っては、第5図(C’)において参照符号202にて示
すように、データ入力信号が与えられてから有限の時間
が経過しないと出力光強度が一定値に安定しないものが
ある。この時間202を、以下、バースト応答時間と呼
ぶ。データ入力信号が終了した後にイネーブル信号が消
失すると、第5図(c)において参照符号203にて示
すように、有限の時間を経過した後に、光送信装置は、
ディスエーブル状態となる。この時間203を、以下、
ディスエーブル応答時間と呼ぶ。
ように、ディスエーブル状態の光送信装置が、イネーブ
ル信号を受けてイネーブル状態になるまでに有限の時間
を必要とする。この時間201を、以下、イネーブル応
答時間と呼ぶ。ディスエーブル状態の光送信装置にイネ
ーブル信号が与えられ、イネーブル応答時間201が経
過した後に、データ人力信号が与えられる。自動出力制
御(APC)の方法や調整にもよるが、光送信装置によ
っては、第5図(C’)において参照符号202にて示
すように、データ入力信号が与えられてから有限の時間
が経過しないと出力光強度が一定値に安定しないものが
ある。この時間202を、以下、バースト応答時間と呼
ぶ。データ入力信号が終了した後にイネーブル信号が消
失すると、第5図(c)において参照符号203にて示
すように、有限の時間を経過した後に、光送信装置は、
ディスエーブル状態となる。この時間203を、以下、
ディスエーブル応答時間と呼ぶ。
レーザダイオードを光源とするデジタル光送信装置の自
動出力制御(APC)では、従来、レーザダイオードの
光出力の一部(以下、モニタ光という)を受光するた給
のフォトダイード(以下、モニタフォトダイードという
)によって検出される出力光強度の平均値によってバイ
アス電流を制御する方法が主なものであった。しかし、
その方法では、第5図(C)のバースト応答時間202
がしばしば発生するばかりではなく、良好な消光比を、
レーザダイオードの温度の変化や経年変化に関わらず維
持することも容易ではない。そこで、検出される出力光
強度の谷レベルが無信号時の出力先強度に実質的に一致
するようにバイアス電流を制御する方法が考えられてい
る。その方法を、以下、谷レベル制御型の自動出力制御
と呼ぶ。適切に設計された谷レベル制御型の自動出力制
御においては、バースト応答時間202は零である。
動出力制御(APC)では、従来、レーザダイオードの
光出力の一部(以下、モニタ光という)を受光するた給
のフォトダイード(以下、モニタフォトダイードという
)によって検出される出力光強度の平均値によってバイ
アス電流を制御する方法が主なものであった。しかし、
その方法では、第5図(C)のバースト応答時間202
がしばしば発生するばかりではなく、良好な消光比を、
レーザダイオードの温度の変化や経年変化に関わらず維
持することも容易ではない。そこで、検出される出力光
強度の谷レベルが無信号時の出力先強度に実質的に一致
するようにバイアス電流を制御する方法が考えられてい
る。その方法を、以下、谷レベル制御型の自動出力制御
と呼ぶ。適切に設計された谷レベル制御型の自動出力制
御においては、バースト応答時間202は零である。
すなわち、バースト応答時間は存在しない。しかしなが
ら、イネーブル応答時間201は依然存在する。また、
イネーブル信号を受けた後、イネーブル応答時間201
が経過するまでの間にデータ信号が与えられると、過小
バイアスとなるため、バースト応答時間が存在するよう
な挙動を示す。
ら、イネーブル応答時間201は依然存在する。また、
イネーブル信号を受けた後、イネーブル応答時間201
が経過するまでの間にデータ信号が与えられると、過小
バイアスとなるため、バースト応答時間が存在するよう
な挙動を示す。
ディスエーブル応答時間は、イネーブル応答時間に比較
して短いことが多く、問題となることは少ない。
して短いことが多く、問題となることは少ない。
次に、谷レベル制御型の自動出力制御の方法を適用した
レーザダイオードを光源とするデジタル光通信装置の光
送信部の従来例を、添付図面の第6図を参照して説明す
る。
レーザダイオードを光源とするデジタル光通信装置の光
送信部の従来例を、添付図面の第6図を参照して説明す
る。
第6図の回路において、モニタフォトダイード103で
検出されたレーザダイオード112の出力光強度は、プ
リアンプ104で増幅され、谷レベル検出回路105に
入る。谷レベル検出回路105で検出された谷レベルは
、差動増幅器108で、参照電圧発生回路107によっ
て発生された谷レベル設定電圧と比較され、その出力が
積分回路109を経由してバイアス電流供給回路110
を駆動する。バイアス電流供給回路110によって供給
されたバイアス電流は、データ入力端子102に与えら
れるデータ人力信号によって駆動されるパルス電流供給
回路111によって供給されるパルス電流と合流して、
レーザダイオード112を駆動する。そして、レーザダ
イオード112の出力光のうちモニタ光がモニタフォト
ダイード103に入る。このようにして、バイアス電流
の閉ループ制御系が構成されている。このような構成の
閉ループ制御系により、出力光強度の谷レベルが、前述
したような谷レベル設定電圧によって決まる一定値にな
るように、バイアス電流が自動的に調整される。
検出されたレーザダイオード112の出力光強度は、プ
リアンプ104で増幅され、谷レベル検出回路105に
入る。谷レベル検出回路105で検出された谷レベルは
、差動増幅器108で、参照電圧発生回路107によっ
て発生された谷レベル設定電圧と比較され、その出力が
積分回路109を経由してバイアス電流供給回路110
を駆動する。バイアス電流供給回路110によって供給
されたバイアス電流は、データ入力端子102に与えら
れるデータ人力信号によって駆動されるパルス電流供給
回路111によって供給されるパルス電流と合流して、
レーザダイオード112を駆動する。そして、レーザダ
イオード112の出力光のうちモニタ光がモニタフォト
ダイード103に入る。このようにして、バイアス電流
の閉ループ制御系が構成されている。このような構成の
閉ループ制御系により、出力光強度の谷レベルが、前述
したような谷レベル設定電圧によって決まる一定値にな
るように、バイアス電流が自動的に調整される。
一方、イネーブル信号は、イネーブル入力端子101に
与えられ、イネーブル制御回路106が参照電圧発生回
路107を制御する。すなわち、イネーブル時には、谷
レベル設定電圧を、適切な大きさの出力光強度の谷レベ
ルが得られる値とし、ディスエーブル時には、谷レベル
設定電圧を、出力光強度の谷レベルがほぼ零になるよう
な値に設定する。
与えられ、イネーブル制御回路106が参照電圧発生回
路107を制御する。すなわち、イネーブル時には、谷
レベル設定電圧を、適切な大きさの出力光強度の谷レベ
ルが得られる値とし、ディスエーブル時には、谷レベル
設定電圧を、出力光強度の谷レベルがほぼ零になるよう
な値に設定する。
発明が解決しようとする課題
次に、第6図に関して前述したような従来の谷レベル制
御型の自動出力制御回路の問題点について、第6図から
第10図を参照して説明する。
御型の自動出力制御回路の問題点について、第6図から
第10図を参照して説明する。
先ず、第6図における谷レベル検出回路105は、簡単
には、第7図に示すような回路で実現することができる
。また、第6図における積分回路109は、簡単には、
第8図に示すような回路で実現することができる。
には、第7図に示すような回路で実現することができる
。また、第6図における積分回路109は、簡単には、
第8図に示すような回路で実現することができる。
第6図の装置におけるバイアス電流の閉ループ制御系を
、基本回路図で示すと第9図の如く表せる。この第9図
の基本回路において、0くG1.0くG2.0〈G3と
し、Vs =G、 ・V5、V2=G2’(Vr
V+)である。A3は、その前段のデータ信号の合流部
分と合わせてバイアス電流供給回路、パルス電流供給回
路、レーザダイオード1、モニタフォトダイードおよび
それらの結合効率を含むものである。従って、A3は、
非線形な要素であり、 Vs=g3(VJ あるいは、 として取り扱うべきものであるが、単純化した議論のた
めには、 Vs=G3j VJ ”・・・(1)とし
て扱う。
、基本回路図で示すと第9図の如く表せる。この第9図
の基本回路において、0くG1.0くG2.0〈G3と
し、Vs =G、 ・V5、V2=G2’(Vr
V+)である。A3は、その前段のデータ信号の合流部
分と合わせてバイアス電流供給回路、パルス電流供給回
路、レーザダイオード1、モニタフォトダイードおよび
それらの結合効率を含むものである。従って、A3は、
非線形な要素であり、 Vs=g3(VJ あるいは、 として取り扱うべきものであるが、単純化した議論のた
めには、 Vs=G3j VJ ”・・・(1)とし
て扱う。
v5を、実際の回路にふけるモニタフォトダイオードの
出力電流に対応させ、A1をインピーダンス変換アンプ
と考えると分かり易いが、本質的な差異はないため、こ
こではv5を電圧として扱う。
出力電流に対応させ、A1をインピーダンス変換アンプ
と考えると分かり易いが、本質的な差異はないため、こ
こではv5を電圧として扱う。
ここで、データ信号が存在するときの安定性について検
討するに、第10図(A)に示すように、発光時間τ1
、消光時間τ2、周期T=τ1+τ2のデータ信号が供
給されたとする。単純化のために、Vh>vlとする。
討するに、第10図(A)に示すように、発光時間τ1
、消光時間τ2、周期T=τ1+τ2のデータ信号が供
給されたとする。単純化のために、Vh>vlとする。
また、回路を線型として取り扱う。すなわち、前記式(
1)に基づくとする。第10図(B)は、実線で示した
出力光強度と、点線で示した検出された谷レベルとの関
係を示す。第10図(B)より、 Vh 但し、GX=G、・G2・G3である。そして、図から
れかるように、 vII r。
1)に基づくとする。第10図(B)は、実線で示した
出力光強度と、点線で示した検出された谷レベルとの関
係を示す。第10図(B)より、 Vh 但し、GX=G、・G2・G3である。そして、図から
れかるように、 vII r。
であれば、第10図(8)に示したような挙動となり安
定であるといえる。従って、 が安定であるための条件であるといえる。
定であるといえる。従って、 が安定であるための条件であるといえる。
τ1=τ2=T/2の時には、
GX−T≦C4・R1
となる。
実際の設計においては、前記(2)式のG、は、レーザ
ダイオードの動作電流がしきい値を越えた状態の大きい
値を用いれば、バイアス電流の設定値によらず、回路の
安定な動作を得ることができる。
ダイオードの動作電流がしきい値を越えた状態の大きい
値を用いれば、バイアス電流の設定値によらず、回路の
安定な動作を得ることができる。
次に、イネーブル時の制御性について検討するに、v、
、>v、の時のvlの上昇速度γ、は、Vh”vlとす
れば、 ■。
、>v、の時のvlの上昇速度γ、は、Vh”vlとす
れば、 ■。
である。この式(3)のγ6を谷レベル保持回路のだれ
速度あるいはドループ(droop)速度と呼ぶことに
する。差動増幅器A2の出力の正方向の飽和型圧をV、
として、A2が飽和した時のv6の上昇速度γ8は、 である。この(4)式のγ8を閉ループ制御系の応答速
度と呼ぶことにする。ただし、 GY=G、・GIであり、rdSrmともに、イネーブ
ル信号投入直後の値である。
速度あるいはドループ(droop)速度と呼ぶことに
する。差動増幅器A2の出力の正方向の飽和型圧をV、
として、A2が飽和した時のv6の上昇速度γ8は、 である。この(4)式のγ8を閉ループ制御系の応答速
度と呼ぶことにする。ただし、 GY=G、・GIであり、rdSrmともに、イネーブ
ル信号投入直後の値である。
T、≧γ。 ・・・・・・(5)ならば、回路
は、イネーブル信号に対し、制御性良く応答する。従っ
て、 Ch−Rh CI’ R+ 故に、 V。
は、イネーブル信号に対し、制御性良く応答する。従っ
て、 Ch−Rh CI’ R+ 故に、 V。
に必要な条件である。
次に、データ入力信号が与えられた直後の制御性につい
て検討する必要がある。以上と同様の検討により、オー
バーシュートなどのない場合は、前記(2)式を満たせ
ば、データ入力信号が与えられた直後も良い制御性を得
られることがわかる。
て検討する必要がある。以上と同様の検討により、オー
バーシュートなどのない場合は、前記(2)式を満たせ
ば、データ入力信号が与えられた直後も良い制御性を得
られることがわかる。
このような必要条件を念頭において、再び第6図の装置
について検討するに、前記(3)式のγ、で示された検
出された谷レベルのだれ速度は、第10図のτ1、すな
わち、実際には、レーザダイオードの出力光強度が強い
状態をとり続けなければならない最大の時間、すなわち
、データが「1」をとり続ける最大の時間の間、検出さ
れた谷レベルを保持できるように小さくないと、正確な
自動出力制御はできない。データが「1」をとり続ける
最大の時間は、データ速度(ビットレート)とデータの
コーディング方法とによって決まる。
について検討するに、前記(3)式のγ、で示された検
出された谷レベルのだれ速度は、第10図のτ1、すな
わち、実際には、レーザダイオードの出力光強度が強い
状態をとり続けなければならない最大の時間、すなわち
、データが「1」をとり続ける最大の時間の間、検出さ
れた谷レベルを保持できるように小さくないと、正確な
自動出力制御はできない。データが「1」をとり続ける
最大の時間は、データ速度(ビットレート)とデータの
コーディング方法とによって決まる。
また、前記(2)式に示したように、積分回路の積分時
間C1・R1のループ利得G8に対する比の最小値もτ
、とτ2によって決まってしまう。
間C1・R1のループ利得G8に対する比の最小値もτ
、とτ2によって決まってしまう。
第6図の回路のイネーブル応答時間は、谷レベルの設定
値を一定とすると、前記(4)式で示したr、にほぼ逆
比例する。前述したように、γ6、すなわち、谷レベル
検出回路105の検出された谷レベルのだれ速度は、デ
ータがrl+をとり続ける最大の時間、すなわち、デー
タ速度とデータのコーディング方法上によって決まる一
定の時間により制約されるし、また、前記(5)式で示
したように、Td≧γ1としなければならない。前述し
たように、イネーブル応答時間は、およそT、の逆数に
比例するから、従って、結局、第6図の回路のイネーブ
ル応答時間は、前述のデータ速度とデータのコーディ・
ング方法とによって決まる一定の時間よりもかなり長く
なってしまう。
値を一定とすると、前記(4)式で示したr、にほぼ逆
比例する。前述したように、γ6、すなわち、谷レベル
検出回路105の検出された谷レベルのだれ速度は、デ
ータがrl+をとり続ける最大の時間、すなわち、デー
タ速度とデータのコーディング方法上によって決まる一
定の時間により制約されるし、また、前記(5)式で示
したように、Td≧γ1としなければならない。前述し
たように、イネーブル応答時間は、およそT、の逆数に
比例するから、従って、結局、第6図の回路のイネーブ
ル応答時間は、前述のデータ速度とデータのコーディ・
ング方法とによって決まる一定の時間よりもかなり長く
なってしまう。
以上のように、従来の谷レベル制御型の自動出力制御回
路においては、イネーブル応答時間は、データ速度とデ
ータのコーディング方法とによって制約を受けるので、
それを十分に短くすることは困難であった。
路においては、イネーブル応答時間は、データ速度とデ
ータのコーディング方法とによって制約を受けるので、
それを十分に短くすることは困難であった。
本発明の目的は、前述したような従来の技術の問題点を
解消し、従来の谷レベル制御型の自動出力制御回路にお
いては困難であった、イネーブル応答時間を短くしたレ
ーザダイオード駆動装置を提供することである。
解消し、従来の谷レベル制御型の自動出力制御回路にお
いては困難であった、イネーブル応答時間を短くしたレ
ーザダイオード駆動装置を提供することである。
課題を解決するための手段
本発明によれば、データ入力信号に対応したパルス電流
にバイアス電流を加えた駆動電流にてレーザダイオード
を駆動するレーデダイオード駆動装置であって、前記レ
ーザダイオードの出力光強度を検出し、谷レベル検出回
路を含むバイアス電流の閉ループ制御系を用いて、前記
検出される出力光強度の谷レベルが無信号時の前記レー
ザダイオードの出力光強度に実質的に一致するように、
前記バイアス電流を制御するレーザダイオード駆動装置
において、イネーブル信号の立ち上がり時に、前記谷レ
ベル検出回路のだれ速度と、前記バイアス電流の閉ルー
プ制御系の応答速度とを共に大きくするた緬の手段を備
えることにより、イネーブル応答時間を短くすることが
できる。
にバイアス電流を加えた駆動電流にてレーザダイオード
を駆動するレーデダイオード駆動装置であって、前記レ
ーザダイオードの出力光強度を検出し、谷レベル検出回
路を含むバイアス電流の閉ループ制御系を用いて、前記
検出される出力光強度の谷レベルが無信号時の前記レー
ザダイオードの出力光強度に実質的に一致するように、
前記バイアス電流を制御するレーザダイオード駆動装置
において、イネーブル信号の立ち上がり時に、前記谷レ
ベル検出回路のだれ速度と、前記バイアス電流の閉ルー
プ制御系の応答速度とを共に大きくするた緬の手段を備
えることにより、イネーブル応答時間を短くすることが
できる。
実施例
次に、添付図面の特に、第1図から第4図に基づいて、
本発明の実施例について本発明をより詳細に説明する。
本発明の実施例について本発明をより詳細に説明する。
第1図は、本発明のレーザダイオード駆動装置を、レー
ザダイオードを光源とするデジタル光通信装置の光送信
部に適用した実施例を示す概略回路図である。第1図の
回路において、モニタフォトダイード3で検出されたレ
ーザダイオード12の出力光強度は、プリアンプ4で増
幅され、検出された谷レベルのだれ速度が可変の谷レベ
ル検出回路5に入る。谷レベル検出回路5で検出された
谷レベルは、差動増幅器8で、参照電圧発生回路7によ
って発生された谷レベル設定電圧と比較され、その出力
が、積分時間の可変な積分回路9を経由して、バイアス
電流供給回路10を駆動する。
ザダイオードを光源とするデジタル光通信装置の光送信
部に適用した実施例を示す概略回路図である。第1図の
回路において、モニタフォトダイード3で検出されたレ
ーザダイオード12の出力光強度は、プリアンプ4で増
幅され、検出された谷レベルのだれ速度が可変の谷レベ
ル検出回路5に入る。谷レベル検出回路5で検出された
谷レベルは、差動増幅器8で、参照電圧発生回路7によ
って発生された谷レベル設定電圧と比較され、その出力
が、積分時間の可変な積分回路9を経由して、バイアス
電流供給回路10を駆動する。
バイアス電流供給回路10によって供給されたバイアス
電流は、データ入力端子2に与えられるデータ人力信号
によって駆動されるパルス電流供給回路11によって供
給されるパルス電流と合流して、レーザダイオード12
を駆動する。レーザダイオード12の出力光のうち、モ
ニタ光がモニタフォトダイード3に入ることにより、回
路は、閉ループとなる。すなわち、モニタフォトダイー
ド3、プリアンプ4、谷レベル検出回路5、差動増幅器
8、積分回路9、バイアス電流供給回路1゜およびレー
ザダイオード12が、バイアス電流の閉ループ制御系を
構成する。その制御系により、出力光強度の谷レベルが
、参照電圧発生回路7によって発生される谷レベル設定
電圧によって決まる一定値になるように、バイアス電流
が自動的に調整される。
電流は、データ入力端子2に与えられるデータ人力信号
によって駆動されるパルス電流供給回路11によって供
給されるパルス電流と合流して、レーザダイオード12
を駆動する。レーザダイオード12の出力光のうち、モ
ニタ光がモニタフォトダイード3に入ることにより、回
路は、閉ループとなる。すなわち、モニタフォトダイー
ド3、プリアンプ4、谷レベル検出回路5、差動増幅器
8、積分回路9、バイアス電流供給回路1゜およびレー
ザダイオード12が、バイアス電流の閉ループ制御系を
構成する。その制御系により、出力光強度の谷レベルが
、参照電圧発生回路7によって発生される谷レベル設定
電圧によって決まる一定値になるように、バイアス電流
が自動的に調整される。
イネーブル信号は、イネーブル入力端子1に与えられ、
イネーブル制御回路6が、谷レベル検出回路5の検出さ
れた谷レベルのだれ速度、参照電圧発生回路7の発生電
圧および積分回路9の積分時間を制御する。それらの制
御のタイミングを以下に、第2図を用いて説明する。第
2図において横軸は、共通の時間をとっている。第2図
(A)はデータ入力信号の一部を示している。第2図(
B)は、イネーブル信号の一部を示しており、「0」が
ディスエーブル、「1」がイネーブルを表す。
イネーブル制御回路6が、谷レベル検出回路5の検出さ
れた谷レベルのだれ速度、参照電圧発生回路7の発生電
圧および積分回路9の積分時間を制御する。それらの制
御のタイミングを以下に、第2図を用いて説明する。第
2図において横軸は、共通の時間をとっている。第2図
(A)はデータ入力信号の一部を示している。第2図(
B)は、イネーブル信号の一部を示しており、「0」が
ディスエーブル、「1」がイネーブルを表す。
第2図(C)は、第1図に示しているイネーブル制御回
路6からライン13を通して参照電圧発生回路7へ与え
られる制御信号の一部を示している。
路6からライン13を通して参照電圧発生回路7へ与え
られる制御信号の一部を示している。
この第2図(C)において、「0」が出力光強度の谷レ
ベルがほぼ零になるような発生電圧を、「1」が出力光
強度の谷レベルが送信に適した適切な大きさになるよう
な発生電圧を、それぞれ意味している。第2図(D)は
、第1図に示しているイネーブル制御回路6からライン
14を通して谷レベル検出回路5に与えられる制御信号
を示している。
ベルがほぼ零になるような発生電圧を、「1」が出力光
強度の谷レベルが送信に適した適切な大きさになるよう
な発生電圧を、それぞれ意味している。第2図(D)は
、第1図に示しているイネーブル制御回路6からライン
14を通して谷レベル検出回路5に与えられる制御信号
を示している。
この第2図(D)において、「0」が検出された谷レベ
ルのだれ速度を通常の値とすることを意味し、「1」が
検出された谷レベルのだれ速度を通常の値より大きくす
ることを意味する。第2図(E)は、バイアス電流の閉
ループ制御系の応答速度の制御信号の一例を示している
。すなわち、第2図(E)は、第1図に示しているイネ
ーブル制御回路6からライン15を通して積分回路9へ
与えられる制御信号を示している。この第2図(E)に
おいて、「0」が積分時間を通常の値とすることを意味
し、「1」が積分時間を通常の値より短くすることを意
味している。
ルのだれ速度を通常の値とすることを意味し、「1」が
検出された谷レベルのだれ速度を通常の値より大きくす
ることを意味する。第2図(E)は、バイアス電流の閉
ループ制御系の応答速度の制御信号の一例を示している
。すなわち、第2図(E)は、第1図に示しているイネ
ーブル制御回路6からライン15を通して積分回路9へ
与えられる制御信号を示している。この第2図(E)に
おいて、「0」が積分時間を通常の値とすることを意味
し、「1」が積分時間を通常の値より短くすることを意
味している。
前記(4)式よりわかるように、積分時間Ci・R1を
短くすることにより、閉ループ制御系の応答速度γ6を
大きくすることかで°きる。
短くすることにより、閉ループ制御系の応答速度γ6を
大きくすることかで°きる。
第2図(A)に示したように、データ信号は、イネーブ
ル状態になってから、すなわち、第2図(D)に示した
検出された谷レベルのだれ速度が大きくされている期間
および第2図(B)に示した積分時間が短縮されている
期間が終了してから、供給されなければならない。必要
ならば、ゲート等を追加することにより、それは簡単に
実現できる。但し、レーザダイオードの出力光強度が強
い状態を取り続けなければならない最大の時間が短い、
高い周波数の矩形波よりなる同期用信号を送る場合があ
るが、このような場合には、そのような期間中にデータ
信号が与えられても問題がない場合がある。
ル状態になってから、すなわち、第2図(D)に示した
検出された谷レベルのだれ速度が大きくされている期間
および第2図(B)に示した積分時間が短縮されている
期間が終了してから、供給されなければならない。必要
ならば、ゲート等を追加することにより、それは簡単に
実現できる。但し、レーザダイオードの出力光強度が強
い状態を取り続けなければならない最大の時間が短い、
高い周波数の矩形波よりなる同期用信号を送る場合があ
るが、このような場合には、そのような期間中にデータ
信号が与えられても問題がない場合がある。
以上のような回路構成と制御のタイミングにより、デー
タ伝送中の自動出力制御の精度と安定性を損なうことな
しに、イネーブル応答時間を短縮することができる。
タ伝送中の自動出力制御の精度と安定性を損なうことな
しに、イネーブル応答時間を短縮することができる。
本実施例では、イネーブルの切換え機能を、基本的には
、参照電圧発生回路7を制御することによって実現して
いるが、同様な機能を、例えば、差動増幅器8の出力を
断続あるいは短絡する等の方法によっても実現できる。
、参照電圧発生回路7を制御することによって実現して
いるが、同様な機能を、例えば、差動増幅器8の出力を
断続あるいは短絡する等の方法によっても実現できる。
試作した回路では、データ入力は、ECLレベルとし、
イネーブル入力は、TTLレベルとしたので、第1図の
差動増幅器8は、レベルシフト回路も兼ねている。すな
わち、差動増幅器8の入力は、接地電極との間にとり、
出力は、負電源との間にとっている。
イネーブル入力は、TTLレベルとしたので、第1図の
差動増幅器8は、レベルシフト回路も兼ねている。すな
わち、差動増幅器8の入力は、接地電極との間にとり、
出力は、負電源との間にとっている。
このような試作回路で用いた検出された谷レベルのだれ
速度の可変な谷レベル検出回路の概略を第3図に示して
いる。第1図におけるプリアンプ4に反転増幅器を用い
たため、第3図の谷レベル検出回路では、山レベル(最
大値)保持回路となっている。第3図において、参照符
号21は、入力端子であり、この入力端子21は、第1
図の回路においては、プリアンプ4の出力に接続される
。
速度の可変な谷レベル検出回路の概略を第3図に示して
いる。第1図におけるプリアンプ4に反転増幅器を用い
たため、第3図の谷レベル検出回路では、山レベル(最
大値)保持回路となっている。第3図において、参照符
号21は、入力端子であり、この入力端子21は、第1
図の回路においては、プリアンプ4の出力に接続される
。
参照符号22は、制御端子であり、この制御端子22は
、第1図の回路においては、イネーブル制御回路6から
のライン14に接続される。参照符号23は、出力端子
であり、第1図の回路においては、差動増幅器8の一方
の入力に接続される。
、第1図の回路においては、イネーブル制御回路6から
のライン14に接続される。参照符号23は、出力端子
であり、第1図の回路においては、差動増幅器8の一方
の入力に接続される。
この第3図の回路によれば、トランジスタQlをオンオ
フすることにより、だれ速度を変化させることができる
。すなわち、通常は、トランジスタQ1は、オフであり
、その時のだれ速度は、コンデンサC1と、抵抗R1、
R2およびR3で決まる。すなわち、だれ速度γ6を与
える前記(3)式において、ChはC1に、Rhは、 各々対応する。また、だれ速度を大きくするためには、
トランジスタQ1をオンにして、抵抗R2をショートす
ればよい。トランジスタQ1をオンオフすることにより
、谷レベル検出回路の出力が多少変動するが、その変動
は、第1図の参照電圧発生回路7の発生電圧を、トラン
ジスタQ1のオンオフと同時に、前述の変動分だけ変化
させることにより補償することができる。本試作回路に
おいては、そのために、図には示していないが、第1図
のライン14を介して谷レベル検出回路へ与えられる制
御信号を、参照電圧発生回路7にも与えている。
フすることにより、だれ速度を変化させることができる
。すなわち、通常は、トランジスタQ1は、オフであり
、その時のだれ速度は、コンデンサC1と、抵抗R1、
R2およびR3で決まる。すなわち、だれ速度γ6を与
える前記(3)式において、ChはC1に、Rhは、 各々対応する。また、だれ速度を大きくするためには、
トランジスタQ1をオンにして、抵抗R2をショートす
ればよい。トランジスタQ1をオンオフすることにより
、谷レベル検出回路の出力が多少変動するが、その変動
は、第1図の参照電圧発生回路7の発生電圧を、トラン
ジスタQ1のオンオフと同時に、前述の変動分だけ変化
させることにより補償することができる。本試作回路に
おいては、そのために、図には示していないが、第1図
のライン14を介して谷レベル検出回路へ与えられる制
御信号を、参照電圧発生回路7にも与えている。
本試作回路で用いた積分時間の可変な積分回路9の概略
を第4図に示している。この第4図において、参照符号
31は、制御端子であり、この制御端子31は、第1図
の回路においては、ライン15に接続される。参照符号
32は、入力端子であり、この入力端子32は、第1図
の回路においては、差動増幅器8の出力に接続される。
を第4図に示している。この第4図において、参照符号
31は、制御端子であり、この制御端子31は、第1図
の回路においては、ライン15に接続される。参照符号
32は、入力端子であり、この入力端子32は、第1図
の回路においては、差動増幅器8の出力に接続される。
参照符号33は、出力端子であり、この出力端子33は
、第1図の回路においては、バイアス電流供給回路10
の入力に接続される。この第4図の回路において、トラ
ンジスタQ3をオンオフすることにより、積分時間を変
化させている。すなわち、通常は、トランジスタQ3は
、オフであり、そのためトランジスタQ2は、そのベー
ス−エミッタ間のダイオードとして働く。その時の積分
時間は、コンデンサC2と、抵抗R4と、トランジスタ
Q2のベース−エミッタ間ダイオードの抵抗、抵抗R5
と、抵抗R6とで決まる。積分時間を短くするためには
、トランジスタQ3をオンにする。そうすると、トラン
ジスタQ2は、エミッタフォロアとして働き、その結果
、コンデンサC2に対する、トランジスタQ2の電流供
給能力が増加して、積分時間が短くなる。その時の積分
時間は、トランジスタQ2の電流増幅率が十分に大きく
、且つトランジスタQ2が飽和しない場合には、コンデ
ンサC2と、抵抗R6とで決まる。前記(4)式により
わかるように、積分時間C1・R1を変化させることに
より、閉ループ制御系の応答速度Taを変化させること
ができる。トランジスタQ2のオンオフにより、積分時
間のみならず、その回路の損失も変化するが、それは前
記(4)式のV、あるいはG、を変化させることに相当
する。
、第1図の回路においては、バイアス電流供給回路10
の入力に接続される。この第4図の回路において、トラ
ンジスタQ3をオンオフすることにより、積分時間を変
化させている。すなわち、通常は、トランジスタQ3は
、オフであり、そのためトランジスタQ2は、そのベー
ス−エミッタ間のダイオードとして働く。その時の積分
時間は、コンデンサC2と、抵抗R4と、トランジスタ
Q2のベース−エミッタ間ダイオードの抵抗、抵抗R5
と、抵抗R6とで決まる。積分時間を短くするためには
、トランジスタQ3をオンにする。そうすると、トラン
ジスタQ2は、エミッタフォロアとして働き、その結果
、コンデンサC2に対する、トランジスタQ2の電流供
給能力が増加して、積分時間が短くなる。その時の積分
時間は、トランジスタQ2の電流増幅率が十分に大きく
、且つトランジスタQ2が飽和しない場合には、コンデ
ンサC2と、抵抗R6とで決まる。前記(4)式により
わかるように、積分時間C1・R1を変化させることに
より、閉ループ制御系の応答速度Taを変化させること
ができる。トランジスタQ2のオンオフにより、積分時
間のみならず、その回路の損失も変化するが、それは前
記(4)式のV、あるいはG、を変化させることに相当
する。
データ速度125Mビット/秒用の本試作回路において
は、前述のだれ速度を大きくする機能および積分時間を
短縮する機能を働かせない場合には、イネーブル応答時
間は、約70μ秒であったが、それらを働かせた場合、
すなわち、本発明を適用した場合には、イネーブル応答
時間は、約25μ秒、すなわち、約1/3に短縮された
。
は、前述のだれ速度を大きくする機能および積分時間を
短縮する機能を働かせない場合には、イネーブル応答時
間は、約70μ秒であったが、それらを働かせた場合、
すなわち、本発明を適用した場合には、イネーブル応答
時間は、約25μ秒、すなわち、約1/3に短縮された
。
発明の効果
前述したように、本発明によれば、レーザダイオード駆
動装置におけるイネーブル応答時間を、従来の方法では
困難であった短時間にまで、容易に短縮することができ
るので、例えば、光LANや筐体内光伝送等において、
通信の効率を向上せしめたり、また、ネットワークの立
ち上げや接続の変更に要する時間を短縮せしめることが
可能となる。
動装置におけるイネーブル応答時間を、従来の方法では
困難であった短時間にまで、容易に短縮することができ
るので、例えば、光LANや筐体内光伝送等において、
通信の効率を向上せしめたり、また、ネットワークの立
ち上げや接続の変更に要する時間を短縮せしめることが
可能となる。
第1図は、本発明のレーザダイオード駆動装置を、レー
ザダイオードを光源とするデジタル光通信装置の光送信
部に適用した実施例を示す概略回路図、第2図は、第1
図の回路における各制御信号とイネーブル信号およびデ
ータ信号の各タイミングを示す図、第3図は、第1図の
回路における検出された谷レベルのだれ速度が可変の谷
レベル検出回路の一例を示す概略回路図、第4図は、第
1図の回路における積分時間が可変の積分回路の一例を
示す概略回路図、第5図は、−船釣なレーザダイオード
を用いた光送信装置の、間欠信号に対応する応答を誇張
して示す図、第6図は、谷レベル制御型の方法を適用し
た、従来の自動出力制御回路の一例を示す概略回路図、
第7図は、第6図の自動出力制御回路の谷レベル検出回
路の一例を示す概略回路図、第8図は、第6図の自動出
力制御回路の積分回路の一例を示す概略回路図、第9図
は、第6図の回路におけるバイアス電流の閉ループ制御
系を示す基本回路図、第10図は、第9図におけるデー
タ信号について説明するための図である。 1・・・・イネーブル入力端子、 2・・・・データ入力端子、 3・・・・モニタフォトダイード、 4・・・・プリアンプ、 5・・・・谷レベル検出回路、 6・・・・イネーブル制御回路、 7・・・・参照電圧発生回路、 8・・・・差動増幅器、 9・・・・積分回路、 10・・・・バイアス電流供給回路、 11・・・・パルス電流供給回路、 12・・・・レーザダイオード、 13・・・・参照電圧発生回路への制御信号ライン、1
4・・・・谷レベル検出回路への制御信号ライン、15
・・・・積分回路への制御信号ライン。 第8図 発光 (A) (B)
ザダイオードを光源とするデジタル光通信装置の光送信
部に適用した実施例を示す概略回路図、第2図は、第1
図の回路における各制御信号とイネーブル信号およびデ
ータ信号の各タイミングを示す図、第3図は、第1図の
回路における検出された谷レベルのだれ速度が可変の谷
レベル検出回路の一例を示す概略回路図、第4図は、第
1図の回路における積分時間が可変の積分回路の一例を
示す概略回路図、第5図は、−船釣なレーザダイオード
を用いた光送信装置の、間欠信号に対応する応答を誇張
して示す図、第6図は、谷レベル制御型の方法を適用し
た、従来の自動出力制御回路の一例を示す概略回路図、
第7図は、第6図の自動出力制御回路の谷レベル検出回
路の一例を示す概略回路図、第8図は、第6図の自動出
力制御回路の積分回路の一例を示す概略回路図、第9図
は、第6図の回路におけるバイアス電流の閉ループ制御
系を示す基本回路図、第10図は、第9図におけるデー
タ信号について説明するための図である。 1・・・・イネーブル入力端子、 2・・・・データ入力端子、 3・・・・モニタフォトダイード、 4・・・・プリアンプ、 5・・・・谷レベル検出回路、 6・・・・イネーブル制御回路、 7・・・・参照電圧発生回路、 8・・・・差動増幅器、 9・・・・積分回路、 10・・・・バイアス電流供給回路、 11・・・・パルス電流供給回路、 12・・・・レーザダイオード、 13・・・・参照電圧発生回路への制御信号ライン、1
4・・・・谷レベル検出回路への制御信号ライン、15
・・・・積分回路への制御信号ライン。 第8図 発光 (A) (B)
Claims (1)
- データ入力信号に対応したパルス電流にバイアス電流を
加えた駆動電流にてレーザダイオードを駆動するレーザ
ダイオード駆動装置であって、前記レーザダイオードの
出力光強度を検出し、谷レベル検出回路を含むバイアス
電流の閉ループ制御系を用いて、前記検出される出力光
強度の谷レベルが無信号時の前記レーザダイオードの出
力光強度に実質的に一致するように、前記バイアス電流
を制御するレーザダイオード駆動装置において、イネー
ブル信号の立ち上がり時に、前記谷レベル検出回路のだ
れ速度と、前記バイアス電流の閉ループ制御系の応答速
度とを共に大きくするための手段を備えたことを特徴と
するレーザダイオード駆動装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1027331A JP2747311B2 (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | デジタル光通信装置に使用される光送信装置のイネーブル応答時間を制御する装置および方法 |
| US07/373,084 US5065456A (en) | 1989-02-06 | 1989-06-28 | Method and apparatus for enhancing the enable response of a laser diode used in an optical communication system |
| DE69022265T DE69022265T2 (de) | 1989-02-06 | 1990-02-06 | Verfahren und Vorrichtung zur Verbesserung der Freigabereaktion einer Laserdiode in einem optischen Übertragungssystem. |
| AT90301205T ATE127976T1 (de) | 1989-02-06 | 1990-02-06 | Verfahren und vorrichtung zur verbesserung der freigabereaktion einer laserdiode in einem optischen übertragungssystem. |
| EP90301205A EP0387990B1 (en) | 1989-02-06 | 1990-02-06 | Method and apparatus for enhancing the enable response of a laser diode used in an optical communication system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1027331A JP2747311B2 (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | デジタル光通信装置に使用される光送信装置のイネーブル応答時間を制御する装置および方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02206188A true JPH02206188A (ja) | 1990-08-15 |
| JP2747311B2 JP2747311B2 (ja) | 1998-05-06 |
Family
ID=12218087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1027331A Expired - Lifetime JP2747311B2 (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | デジタル光通信装置に使用される光送信装置のイネーブル応答時間を制御する装置および方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5065456A (ja) |
| JP (1) | JP2747311B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3110805B2 (ja) * | 1991-07-01 | 2000-11-20 | 富士通株式会社 | 光中継システム |
| US5502298A (en) * | 1992-12-21 | 1996-03-26 | Ericsson Raynet | Apparatus and method for controlling an extinction ratio of a laser diode over temperature |
| US5453608A (en) * | 1994-05-10 | 1995-09-26 | The Regents Of The University Of California | Triggerable electro-optic amplitude modulator bias stabilizer for integrated optical devices |
| JP2697639B2 (ja) * | 1994-11-04 | 1998-01-14 | 日本電気株式会社 | 光変調装置 |
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