JPH0220703Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0220703Y2 JPH0220703Y2 JP17564985U JP17564985U JPH0220703Y2 JP H0220703 Y2 JPH0220703 Y2 JP H0220703Y2 JP 17564985 U JP17564985 U JP 17564985U JP 17564985 U JP17564985 U JP 17564985U JP H0220703 Y2 JPH0220703 Y2 JP H0220703Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- voltage value
- emitting element
- sensor switch
- receiving element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 8
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000012742 biochemical analysis Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000008717 functional decline Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、センサスイツチの機能チエツク装
置に係り、特に発光素子に対する電圧値を変化さ
せて発光素子及び受光素子に付着したゴミ等によ
る同スイツチのオン・オフの誤動作をチエツクす
るセンサスイツチの機能チエツク装置に関する。
置に係り、特に発光素子に対する電圧値を変化さ
せて発光素子及び受光素子に付着したゴミ等によ
る同スイツチのオン・オフの誤動作をチエツクす
るセンサスイツチの機能チエツク装置に関する。
従来、複雑な動作、処理を行う生化学自動分析
装置等の精密装置には、比色測定や各装置の作動
を制御するため、多数の光センサスイツチが用い
られている。
装置等の精密装置には、比色測定や各装置の作動
を制御するため、多数の光センサスイツチが用い
られている。
しかし、このような精密装置にあつては、その
設置環境により光センサスイツチを構成する発光
素子あるいは受光素子自体の機能劣化、あるいは
発光部、受光部表面にゴミ等が付着し、光受光量
が変化し、誤検出を行なう恐れがある。特に生化
学的分析等の自動分析装置にあつては、極めて高
精度の動作処理が要求され、従つてこれに用いら
れる光センサスイツチによる各装置のON・OFF
制御は常に安定かつ高精度のものでなければなら
ない。
設置環境により光センサスイツチを構成する発光
素子あるいは受光素子自体の機能劣化、あるいは
発光部、受光部表面にゴミ等が付着し、光受光量
が変化し、誤検出を行なう恐れがある。特に生化
学的分析等の自動分析装置にあつては、極めて高
精度の動作処理が要求され、従つてこれに用いら
れる光センサスイツチによる各装置のON・OFF
制御は常に安定かつ高精度のものでなければなら
ない。
このような光センサスイツチの誤作動をチエツ
クする手段としては、従来よりテスター等の器具
を用いて個々のセンサスイツチ毎に光電変換電圧
量を人為的に検出し、発光素子、受光素子自体の
機能劣化あるいは、ゴミ等の付着による機能低下
を、逐一見い出しているのが現状である。
クする手段としては、従来よりテスター等の器具
を用いて個々のセンサスイツチ毎に光電変換電圧
量を人為的に検出し、発光素子、受光素子自体の
機能劣化あるいは、ゴミ等の付着による機能低下
を、逐一見い出しているのが現状である。
しかしながら、従来のように個々のセンサスイ
ツチ毎にテスターを用いて人為的に逐一光電変換
電圧量を検出するチエツク手段では、装置が複雑
化、大型化している場合などでは、チエツクする
光センサスイツチの数が膨大となり、センサスイ
ツチのチエツクに多くの時間が消費され、またそ
の手間も多大なものになるばかりか、誤検出や検
出漏れ等が生じ、センサスイツチの上記チエツク
を確実に管理できず、またチエツクする間は装置
を長時間停止しておかなければならず、装置の稼
動効率が悪化するという問題をも有していた。
ツチ毎にテスターを用いて人為的に逐一光電変換
電圧量を検出するチエツク手段では、装置が複雑
化、大型化している場合などでは、チエツクする
光センサスイツチの数が膨大となり、センサスイ
ツチのチエツクに多くの時間が消費され、またそ
の手間も多大なものになるばかりか、誤検出や検
出漏れ等が生じ、センサスイツチの上記チエツク
を確実に管理できず、またチエツクする間は装置
を長時間停止しておかなければならず、装置の稼
動効率が悪化するという問題をも有していた。
この考案は、上記に鑑みてなされたものであ
り、装備されている多数の光センサスイツチのう
ちの機能低下した光センサスイツチを迅速且つ確
実に発見し、これを表示するため、光センサスイ
ツチの発光素子に印加する電流の電圧値を通常の
作動電圧における受光素子の感度レベル(出力レ
ベル)の臨界値まで下げ、この結果得られた電圧
値に基づき、光センサスイツチの機能低下をチエ
ツクするセンサスイツチの機能チエツク装置を提
供するものである。
り、装備されている多数の光センサスイツチのう
ちの機能低下した光センサスイツチを迅速且つ確
実に発見し、これを表示するため、光センサスイ
ツチの発光素子に印加する電流の電圧値を通常の
作動電圧における受光素子の感度レベル(出力レ
ベル)の臨界値まで下げ、この結果得られた電圧
値に基づき、光センサスイツチの機能低下をチエ
ツクするセンサスイツチの機能チエツク装置を提
供するものである。
上記目的を達成するため、この考案にあつて
は、電流の供給により発光現象を生ずる発光素子
と、前記発光素子からの光エネルギーを検知して
電気信号に変換する受光素子とから成る光センサ
スイツチの機能チエツク装置を、前記発光素子に
印加する電流の電圧値を通常の作業電圧における
受光素子の感度レベル(出力レベル)の臨界値ま
で変換する電圧値可変手段と、前記電圧可変手段
により設定された臨界電圧値状態に切換える切換
手段と、前記切換手段により設定された臨界電圧
値に基づく前記発光素子の光エネルギーを受光す
る前記受光素子の受光光量を検出する検出手段
と、前記検出手段により検出された検出値の結果
に基づき、当該光センサスイツチの機能低下を表
示する表示手段とから構成したものである。
は、電流の供給により発光現象を生ずる発光素子
と、前記発光素子からの光エネルギーを検知して
電気信号に変換する受光素子とから成る光センサ
スイツチの機能チエツク装置を、前記発光素子に
印加する電流の電圧値を通常の作業電圧における
受光素子の感度レベル(出力レベル)の臨界値ま
で変換する電圧値可変手段と、前記電圧可変手段
により設定された臨界電圧値状態に切換える切換
手段と、前記切換手段により設定された臨界電圧
値に基づく前記発光素子の光エネルギーを受光す
る前記受光素子の受光光量を検出する検出手段
と、前記検出手段により検出された検出値の結果
に基づき、当該光センサスイツチの機能低下を表
示する表示手段とから構成したものである。
以下、この考案によるセンサスイツチの機能チ
エツク装置の一実施例を添付図面に基づいて詳細
に説明する。
エツク装置の一実施例を添付図面に基づいて詳細
に説明する。
この実施例に係る、センサスイツチの機能チエ
ツク装置は、センサスイツチに供給する電流の電
圧値を変化させる可変電圧安定器1と、可変電圧
安定器1を介して電力をセンサスイツチに供給す
るか、電源(図示せず)から直接送電されてきた
電力をセンサスイツチに供給するかを選択するス
イツチ部2(スイツチ部2の端子aは直接電源に
接続され、端子bは可変電圧安定器1を介して電
源に接続されている)とから構成されており、切
換スイツチはCPUの信号により、又は手動で切
換えられるよう構成されている。スイツチ部2の
端子cは各種作動装置に備えられているセンサス
イツチを構成する発光素子(例えば、発光ダイオ
ード)3a,3b,3n−1,3nに接続されて
いる。また、各々の発光素子3a,3b,3n−
1,3nに対応して、発光素子3からの光エネル
ギーを検知して電気信号に変換する受光素子(例
えばホトトランジスタ)4a,4b,4n−1,
4nが設けられている。
ツク装置は、センサスイツチに供給する電流の電
圧値を変化させる可変電圧安定器1と、可変電圧
安定器1を介して電力をセンサスイツチに供給す
るか、電源(図示せず)から直接送電されてきた
電力をセンサスイツチに供給するかを選択するス
イツチ部2(スイツチ部2の端子aは直接電源に
接続され、端子bは可変電圧安定器1を介して電
源に接続されている)とから構成されており、切
換スイツチはCPUの信号により、又は手動で切
換えられるよう構成されている。スイツチ部2の
端子cは各種作動装置に備えられているセンサス
イツチを構成する発光素子(例えば、発光ダイオ
ード)3a,3b,3n−1,3nに接続されて
いる。また、各々の発光素子3a,3b,3n−
1,3nに対応して、発光素子3からの光エネル
ギーを検知して電気信号に変換する受光素子(例
えばホトトランジスタ)4a,4b,4n−1,
4nが設けられている。
通常、各種の作動装置は、発行素子3からの出
力光量に対し受光光量がメモリーされており、受
光素子4で受光された光量によりモータ等を
ON・OFF制御するわけであるが、今、受光素子
4の感度レベル(出力レベル)が臨界値ギリギリ
に設定されている場合、例えば発光素子3の出力
が5Vで受光素子4の受光量が5Vに設定されてお
り、かつその感度レベル臨界値4Vとすると、各
種作動装置は、5Vの電圧を入力したときのみモ
ータ等をON・OFF制御するわけであるが、発光
又は受光素子3又は4にゴミ等が付着している場
合には受光量が減少することから上記ON・OFF
制御に誤作動が生じ易くなる。そこで、今センサ
スイツチに供給される電圧を前記受光素子の感度
レベル臨界値の4Vに切換えると、受光素子4で
受光される光量変換電圧が4Vのときは、受光素
子の機能は正常に判断され、一方受光電圧が4V
以下となつたときには、ゴミ等が付着し、機能低
下を来たしていると判断して当該センサースイツ
チのエラー表示をCRT(図示せず)に表示する。
尚、第1図中Rは抵抗である。
力光量に対し受光光量がメモリーされており、受
光素子4で受光された光量によりモータ等を
ON・OFF制御するわけであるが、今、受光素子
4の感度レベル(出力レベル)が臨界値ギリギリ
に設定されている場合、例えば発光素子3の出力
が5Vで受光素子4の受光量が5Vに設定されてお
り、かつその感度レベル臨界値4Vとすると、各
種作動装置は、5Vの電圧を入力したときのみモ
ータ等をON・OFF制御するわけであるが、発光
又は受光素子3又は4にゴミ等が付着している場
合には受光量が減少することから上記ON・OFF
制御に誤作動が生じ易くなる。そこで、今センサ
スイツチに供給される電圧を前記受光素子の感度
レベル臨界値の4Vに切換えると、受光素子4で
受光される光量変換電圧が4Vのときは、受光素
子の機能は正常に判断され、一方受光電圧が4V
以下となつたときには、ゴミ等が付着し、機能低
下を来たしていると判断して当該センサースイツ
チのエラー表示をCRT(図示せず)に表示する。
尚、第1図中Rは抵抗である。
このように構成されたセンサースイツチの機能
チエツク装置は各種装置に配設可能であるが、特
に本装置を生化学分析等を連続的に行なう自動分
析装置に適用した場合は、その効果は大である。
何故ならば、本装置を自動分析装置に適用した場
合には、極めて多数のセンサスイツチの機能チエ
ツクを自動的に行なうことができると共に、自動
分析装置においては、一定数の分析終了毎にスイ
ツチ部2の切換えを行うことで、自動分析装置の
作業状態を事前にかつ容易にチエツクすることが
でき、常に安定した作業状態を確保することがで
きる他、オート作動中にセンサスイツチに異常が
生じた場合には自動分析装置を直ちに停止させ、
当該異常が生じたセンサスイツチをCRT等に表
示することで異状箇所を指摘するように構成でき
るので、メンテナンスが非常に容易となり、自動
分析装置の稼動効率も向上する等の効果が得られ
るからである。
チエツク装置は各種装置に配設可能であるが、特
に本装置を生化学分析等を連続的に行なう自動分
析装置に適用した場合は、その効果は大である。
何故ならば、本装置を自動分析装置に適用した場
合には、極めて多数のセンサスイツチの機能チエ
ツクを自動的に行なうことができると共に、自動
分析装置においては、一定数の分析終了毎にスイ
ツチ部2の切換えを行うことで、自動分析装置の
作業状態を事前にかつ容易にチエツクすることが
でき、常に安定した作業状態を確保することがで
きる他、オート作動中にセンサスイツチに異常が
生じた場合には自動分析装置を直ちに停止させ、
当該異常が生じたセンサスイツチをCRT等に表
示することで異状箇所を指摘するように構成でき
るので、メンテナンスが非常に容易となり、自動
分析装置の稼動効率も向上する等の効果が得られ
るからである。
尚、この考案にあつては、センサスイツチによ
り各種装置のON・OFF制御する手段としては、
受光素子からの電圧信号をデジタル信号に変換し
て行うものや、次段の判断回路で作動電圧値を判
断するものであつてもよいこと勿論である。
り各種装置のON・OFF制御する手段としては、
受光素子からの電圧信号をデジタル信号に変換し
て行うものや、次段の判断回路で作動電圧値を判
断するものであつてもよいこと勿論である。
以上説明した通り、この考案に係るセンサスイ
ツチの機能チエツク装置にあつては、センサスイ
ツチの発光素子に印加する電流の電圧値を受光素
子の感度レベル臨界点まで下げることで、前記セ
ンサスイツチに付着したゴミによる機能低下やス
イツチ自体の劣化による機能低下を自動的に検知
できるので、この種の装置の作動に対する信頼性
が向上し、しかも異常部位もCRTに表示される
のでメンテナンスが容易となるとともに、これを
適用した装置の稼動効率が向上する他、構成簡易
なので低価格で提供できる。
ツチの機能チエツク装置にあつては、センサスイ
ツチの発光素子に印加する電流の電圧値を受光素
子の感度レベル臨界点まで下げることで、前記セ
ンサスイツチに付着したゴミによる機能低下やス
イツチ自体の劣化による機能低下を自動的に検知
できるので、この種の装置の作動に対する信頼性
が向上し、しかも異常部位もCRTに表示される
のでメンテナンスが容易となるとともに、これを
適用した装置の稼動効率が向上する他、構成簡易
なので低価格で提供できる。
第1図はこの考案によるセンサスイツチの機能
チエツク装置の構造を示す説明図である。 符号の説明、 1…可変電圧安定器、2…スイ
ツチ部、3…発光素子、4…受光素子。
チエツク装置の構造を示す説明図である。 符号の説明、 1…可変電圧安定器、2…スイ
ツチ部、3…発光素子、4…受光素子。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 電流の供給により発光現象を生ずる発光素子
と、前記発光素子からの光エネルギーを検知して
電気信号に変換する受光素子とから成る光センサ
スイツチの機能チエツク装置であつて、 該装置は前記発光素子に印加する電圧値を通常
の作動電圧における受光素子の感度レベル(出力
レベル)の臨界値まで変換する電圧値可変手段
と、 前記電圧値可変手段により設定された臨界電圧
値状態に切換える切換手段と、 前記切換手段により設定された臨界電圧値に基
づく前記発光素子の光エネルギーを受光する前記
受光素子の受光光量を検出する手段と、 前記検出手段により検出された検出値の結果に
基づき、当該光センサスイツチの機能低下を表示
する表示手段と、を有していることを特徴とする
センサスイツチの機能チエツク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17564985U JPH0220703Y2 (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17564985U JPH0220703Y2 (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6284766U JPS6284766U (ja) | 1987-05-29 |
| JPH0220703Y2 true JPH0220703Y2 (ja) | 1990-06-05 |
Family
ID=31115169
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17564985U Expired JPH0220703Y2 (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0220703Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5041525B2 (ja) * | 2007-07-09 | 2012-10-03 | 中国電力株式会社 | デジタル入力モジュールのチェック方法 |
-
1985
- 1985-11-15 JP JP17564985U patent/JPH0220703Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6284766U (ja) | 1987-05-29 |
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