JPH0338710Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0338710Y2 JPH0338710Y2 JP1984074851U JP7485184U JPH0338710Y2 JP H0338710 Y2 JPH0338710 Y2 JP H0338710Y2 JP 1984074851 U JP1984074851 U JP 1984074851U JP 7485184 U JP7485184 U JP 7485184U JP H0338710 Y2 JPH0338710 Y2 JP H0338710Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal line
- comparator
- comparison output
- driver
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（考案の利用分野）
本考案は、信号線検査装置に関するものであ
り、詳しくは、信号線の断線や短絡を検出する装
置に関するものである。
り、詳しくは、信号線の断線や短絡を検出する装
置に関するものである。
（従来技術）
信号線駆動検出装置の一種に、第４図に示すよ
うに、複数の信号線Ｓを選択的に駆動する複数の
ドライバDVと各信号線Ｓのステータスを検出す
る複数のコンパレータCPよりなる複数のドライ
バ／コンパレータDV／CPを備えたものがある。
第５図は、このようなドライバ／コンパレータ
DV／CPの具体例を示す回路図である。第５図に
おいて、ドライバDVはオープンコレクタトラン
ジスタTrで構成されていて、トランジスタTrの
ベースには制御信号線Ｋが接続され、エミツタは
共通電位点に接続され、コレクタはダイオードＤ
および抵抗Ｒの直列回路を介して電源端子＋Ｖに
接続されるとともに外部の信号線Ｓに接続されて
いる。コンパレータCPの一方の入力端子には信
号線Ｓが接続され、他方の入力端子には基準信号
線Ｌが接続され、出力端子には比較出力信号線Ｍ
が接続されている。
うに、複数の信号線Ｓを選択的に駆動する複数の
ドライバDVと各信号線Ｓのステータスを検出す
る複数のコンパレータCPよりなる複数のドライ
バ／コンパレータDV／CPを備えたものがある。
第５図は、このようなドライバ／コンパレータ
DV／CPの具体例を示す回路図である。第５図に
おいて、ドライバDVはオープンコレクタトラン
ジスタTrで構成されていて、トランジスタTrの
ベースには制御信号線Ｋが接続され、エミツタは
共通電位点に接続され、コレクタはダイオードＤ
および抵抗Ｒの直列回路を介して電源端子＋Ｖに
接続されるとともに外部の信号線Ｓに接続されて
いる。コンパレータCPの一方の入力端子には信
号線Ｓが接続され、他方の入力端子には基準信号
線Ｌが接続され、出力端子には比較出力信号線Ｍ
が接続されている。
ところで、従来、このような信号線駆動検出回
路に接続される信号線Ｓの断線や短絡を検査する
のにあたつては、例えば信号線Ｓの両端間にテス
ター（回路計）を接続し、各信号線毎に導通状態
を検査することが行われていた。
路に接続される信号線Ｓの断線や短絡を検査する
のにあたつては、例えば信号線Ｓの両端間にテス
ター（回路計）を接続し、各信号線毎に導通状態
を検査することが行われていた。
しかし、このような従来の構成によれば、信号
線が少ない場合には簡単に行えるものの、信号線
が多くなると多大の工数が必要になり、検査もれ
を生じたり、誤測定の危険性もある。
線が少ない場合には簡単に行えるものの、信号線
が多くなると多大の工数が必要になり、検査もれ
を生じたり、誤測定の危険性もある。
（考案の目的）
本考案は、このような点に着目してなされたも
のであつて、その目的は、前述のような信号線の
断線や短絡の有無の検査を短時間で自動的に行う
ことができる信号線検査装置を提供することにあ
る。
のであつて、その目的は、前述のような信号線の
断線や短絡の有無の検査を短時間で自動的に行う
ことができる信号線検査装置を提供することにあ
る。
（考案の概要）
このような目的を達成する本考案は、複数の検
査対象の信号線を個別に駆動するドライバと信号
線のステータスを検出するコンパレータよりなる
複数のドライバ／コンパレータと、 マイクロプロセツサを含み、これらドライバ／
コンパレータの制御信号線、基準信号線および比
較出力信号線が共通に接続された制御装置とで構
成され、 各信号線の先端をすべて共通電位点に接続して
制御回路により各コンパレータの比較出力信号を
順次測定し、コンパレータの比較出力信号の
“Ｈ”を測定することにより信号線の断線を検出
し、 各信号線の先端を開放状態にして制御回路によ
り各ドライバを順次選択的に駆動しながら各コン
パレータの比較出力信号を順次測定し、駆動され
ていないドライバのコンパレータの比較出力信号
の“Ｌ”を測定することにより信号線間の短絡を
検出することを特徴とする。
査対象の信号線を個別に駆動するドライバと信号
線のステータスを検出するコンパレータよりなる
複数のドライバ／コンパレータと、 マイクロプロセツサを含み、これらドライバ／
コンパレータの制御信号線、基準信号線および比
較出力信号線が共通に接続された制御装置とで構
成され、 各信号線の先端をすべて共通電位点に接続して
制御回路により各コンパレータの比較出力信号を
順次測定し、コンパレータの比較出力信号の
“Ｈ”を測定することにより信号線の断線を検出
し、 各信号線の先端を開放状態にして制御回路によ
り各ドライバを順次選択的に駆動しながら各コン
パレータの比較出力信号を順次測定し、駆動され
ていないドライバのコンパレータの比較出力信号
の“Ｌ”を測定することにより信号線間の短絡を
検出することを特徴とする。
（実施例）
以下、図面を用いて詳細に説明する。
第１図は本考案の一実施例を示す構成説明図で
あつて、第５図と同等部分には同一符号を付けて
いる。第１図において、CTはプロセツサを含む
制御回路であり、この制御回路CTには各ドライ
バ／コンパレータDV／CPの制御信号線Ｋ、基準
信号線Ｌ、比較出力信号線Ｍが共通に接続されて
いる。
あつて、第５図と同等部分には同一符号を付けて
いる。第１図において、CTはプロセツサを含む
制御回路であり、この制御回路CTには各ドライ
バ／コンパレータDV／CPの制御信号線Ｋ、基準
信号線Ｌ、比較出力信号線Ｍが共通に接続されて
いる。
このような構成において、各信号線Ｓの断線の
有無を検出するにあたつては、例えば第２図に示
すように、各信号線Ｓの先端をすべて共通電位点
に接続する。そして、制御回路CTで各コンパレ
ータCPの比較出力信号線Ｍの電圧を測定する。
ここで、例えば電源電圧＋Ｖを5Vとし、コンパ
レータCPの基準信号線Ｌの電圧を2Vとすると、
断線していない信号線に接続されているドライバ
DVのコレクタの電位はOVになるのでその信号
線に接続されているコンパレータCPの比較出力
信号は“Ｌ”になるが、信号線が断線している場
合にはドライバDVのコレクタの電位はダイオー
ドＤの電圧降下分（約0.7V）よりも低くなるこ
とはないので、コンパレータCPの比較出力信号
は“Ｈ”になる。従つて、これら各コンパレータ
CPの比較出力信号線Ｍの電圧を測定することに
より、各信号線Ｓの断線の有無を検出することが
できる。
有無を検出するにあたつては、例えば第２図に示
すように、各信号線Ｓの先端をすべて共通電位点
に接続する。そして、制御回路CTで各コンパレ
ータCPの比較出力信号線Ｍの電圧を測定する。
ここで、例えば電源電圧＋Ｖを5Vとし、コンパ
レータCPの基準信号線Ｌの電圧を2Vとすると、
断線していない信号線に接続されているドライバ
DVのコレクタの電位はOVになるのでその信号
線に接続されているコンパレータCPの比較出力
信号は“Ｌ”になるが、信号線が断線している場
合にはドライバDVのコレクタの電位はダイオー
ドＤの電圧降下分（約0.7V）よりも低くなるこ
とはないので、コンパレータCPの比較出力信号
は“Ｈ”になる。従つて、これら各コンパレータ
CPの比較出力信号線Ｍの電圧を測定することに
より、各信号線Ｓの断線の有無を検出することが
できる。
次に、信号線間の短絡の有無を検出するのにあ
たつては、各信号線Ｓの先端を開放状態にし、制
御回路CTにより各ドライバDVを順次選択的に
駆動するとともにこの状態で各コンパレータCP
の比較出力信号を順次測定する。ここで、信号線
間での短絡が無い場合には駆動されているドライ
バDVのコレクタの電位はエミツタとコレクタの
電圧降下に応じた0.3V程度になつて他のドライ
バのコレクタの電位は4.3V程度以下にはならな
いが、駆動されている信号線と他の信号線との間
に短絡があるとこれら短絡している信号線のドラ
イバDVのコレクタの電位も0.3V程度になる。す
なわち、駆動されていないドライバDVに接続さ
れているコンパレータCPの比較出力信号の“Ｌ”
を測定することにより、短絡している信号線を検
出することができる。
たつては、各信号線Ｓの先端を開放状態にし、制
御回路CTにより各ドライバDVを順次選択的に
駆動するとともにこの状態で各コンパレータCP
の比較出力信号を順次測定する。ここで、信号線
間での短絡が無い場合には駆動されているドライ
バDVのコレクタの電位はエミツタとコレクタの
電圧降下に応じた0.3V程度になつて他のドライ
バのコレクタの電位は4.3V程度以下にはならな
いが、駆動されている信号線と他の信号線との間
に短絡があるとこれら短絡している信号線のドラ
イバDVのコレクタの電位も0.3V程度になる。す
なわち、駆動されていないドライバDVに接続さ
れているコンパレータCPの比較出力信号の“Ｌ”
を測定することにより、短絡している信号線を検
出することができる。
なお、上記実施例では、信号線Ｓの先端を共通
電位点に接続して断線の有無を検出し、信号線Ｓ
の先端を開放して短絡の有無を検出する例につい
て説明したが、第３図に示すような回路を信号線
Ｓの先端に接続することにより断線および短絡の
有無を効率良く検出することができる。
電位点に接続して断線の有無を検出し、信号線Ｓ
の先端を開放して短絡の有無を検出する例につい
て説明したが、第３図に示すような回路を信号線
Ｓの先端に接続することにより断線および短絡の
有無を効率良く検出することができる。
第３図において、RLはトランスフア形のリレ
ーであり、可動接点ｃが励磁状態ではメーク接点
ａに接続されて励磁されない状態ではブレーク接
点ｂに接続されるものであつて、各信号線毎に対
応するように複数個設けられている。これらリレ
ーRLにおいて、コイルの一端は電源線に共通に
接続され、可動接点ｃは対応する信号線Ｓの先端
に接続され、メーク接点ａは共通電位点に接続さ
れ、ブレーク接点ｂは次のリレーRLのコイルの
他端に接続されていて、最終段のリレーRLoのブ
レーク接点ｂは初段のリレーRL1のコイルの他端
に接続されている。これにより、信号線S1に接続
されているドライバ／コンパレータDV／CP1を
駆動すると信号線S2に対応したリレーRL2が励磁
されて可動接点ｃがメーク接点ａに接続されるこ
とになる。
ーであり、可動接点ｃが励磁状態ではメーク接点
ａに接続されて励磁されない状態ではブレーク接
点ｂに接続されるものであつて、各信号線毎に対
応するように複数個設けられている。これらリレ
ーRLにおいて、コイルの一端は電源線に共通に
接続され、可動接点ｃは対応する信号線Ｓの先端
に接続され、メーク接点ａは共通電位点に接続さ
れ、ブレーク接点ｂは次のリレーRLのコイルの
他端に接続されていて、最終段のリレーRLoのブ
レーク接点ｂは初段のリレーRL1のコイルの他端
に接続されている。これにより、信号線S1に接続
されているドライバ／コンパレータDV／CP1を
駆動すると信号線S2に対応したリレーRL2が励磁
されて可動接点ｃがメーク接点ａに接続されるこ
とになる。
このように構成された回路を用いて信号線の断
線および信号線間の短絡を検出する動作について
説明する。なお、以下の説明において、電源電圧
＋Ｖを5Vとし、コンパレータCPの基準信号の電
圧を2Vとする。
線および信号線間の短絡を検出する動作について
説明する。なお、以下の説明において、電源電圧
＋Ｖを5Vとし、コンパレータCPの基準信号の電
圧を2Vとする。
例えば信号線Siの断線を検出するものとする
と、信号線Si-1に接続されているドライバ／コン
パレータDV／CPi-1を駆動する。これにより、信
号線Siに対応したリレーRLiが励磁され、このリ
レーRLiの可動接点ｃはメーク接点ａに接続され
て信号線Siは共通電位点に接続されることにな
る。ここで、ドライバDVのコレクタの電位に着
目すると、信号線Siが断線していない場合には
0Vになり、信号線Siが断線していると第１図と
同様に約4.3V以下にはならない。従つて、コン
パレータCPiの比較出力信号を制御回路CTで測
定することにより、信号線Siの断線の有無を検出
することができる。
と、信号線Si-1に接続されているドライバ／コン
パレータDV／CPi-1を駆動する。これにより、信
号線Siに対応したリレーRLiが励磁され、このリ
レーRLiの可動接点ｃはメーク接点ａに接続され
て信号線Siは共通電位点に接続されることにな
る。ここで、ドライバDVのコレクタの電位に着
目すると、信号線Siが断線していない場合には
0Vになり、信号線Siが断線していると第１図と
同様に約4.3V以下にはならない。従つて、コン
パレータCPiの比較出力信号を制御回路CTで測
定することにより、信号線Siの断線の有無を検出
することができる。
次に、信号線間の短絡の有無を検出する場合に
ついて説明する。ここで、断線検出と同様にリレ
ーRLiを励磁するものとし、信号線SiおよびSi-1
が断線していないものとすると、ドライバDViの
コレクタの電位は0VになつてドライバDVi-1のコ
レクタの電位はトランジスタを駆動しているので
約0.3Vになる。そして、これら信号線Siおよび
Si-1と他の信号線が短絡していない場合には他の
ドライバのコレクタの電位は約4.3Vになる。従
つて、コンパレータCPiおよびCPi-1の比較出力信
号は“Ｌ”になつて他のコンパレータの比較出力
信号は“Ｈ”になる。これに対し、信号線Siおよ
びSi-1のいずれか例えばSiが他の信号線例えばSk
と短絡しているものとすると、この信号線Skに接
続されているドライバDVkのコレクタの電位はド
ライバDViのコレクタの電位と等しくなつて0V
になり、コンパレータCPkの比較出力信号も
“Ｌ”になる。従つて、順次ドライバDVを駆動
しながら各コンパレータCPの比較出力信号を制
御回路CTで測定することにより、短絡の有無を
測定することができる。
ついて説明する。ここで、断線検出と同様にリレ
ーRLiを励磁するものとし、信号線SiおよびSi-1
が断線していないものとすると、ドライバDViの
コレクタの電位は0VになつてドライバDVi-1のコ
レクタの電位はトランジスタを駆動しているので
約0.3Vになる。そして、これら信号線Siおよび
Si-1と他の信号線が短絡していない場合には他の
ドライバのコレクタの電位は約4.3Vになる。従
つて、コンパレータCPiおよびCPi-1の比較出力信
号は“Ｌ”になつて他のコンパレータの比較出力
信号は“Ｈ”になる。これに対し、信号線Siおよ
びSi-1のいずれか例えばSiが他の信号線例えばSk
と短絡しているものとすると、この信号線Skに接
続されているドライバDVkのコレクタの電位はド
ライバDViのコレクタの電位と等しくなつて0V
になり、コンパレータCPkの比較出力信号も
“Ｌ”になる。従つて、順次ドライバDVを駆動
しながら各コンパレータCPの比較出力信号を制
御回路CTで測定することにより、短絡の有無を
測定することができる。
なお、これら一連の動作はプロセツサにより自
動的に行わせることができ、すべての信号線Ｓの
断線および短絡の有無を自動的に検出することが
できる。
動的に行わせることができ、すべての信号線Ｓの
断線および短絡の有無を自動的に検出することが
できる。
（考案の効果）
以上説明したように、本考案によれば、信号線
の断線や短絡の有無の検査を短時間で自動的に行
うことができる信号線検査装置が実現できる。
の断線や短絡の有無の検査を短時間で自動的に行
うことができる信号線検査装置が実現できる。
第１図は本考案の一実施例を示す構成説明図、
第２図は検査説明図、第３図は本考案で信号線の
先端に接続される回路の具体例を示す回路図、第
４図は信号線駆動検出回路の一例を示す構成説明
図、第５図は第４図で用いるドライバ／コンパレ
ータの具体例を示す回路図である。 Ｓ……信号線、DV……ドライバ、CP……コン
パレータ、CT……制御回路、Ｋ……制御信号線、
Ｌ……基準信号線、Ｍ……比較出力信号線。
第２図は検査説明図、第３図は本考案で信号線の
先端に接続される回路の具体例を示す回路図、第
４図は信号線駆動検出回路の一例を示す構成説明
図、第５図は第４図で用いるドライバ／コンパレ
ータの具体例を示す回路図である。 Ｓ……信号線、DV……ドライバ、CP……コン
パレータ、CT……制御回路、Ｋ……制御信号線、
Ｌ……基準信号線、Ｍ……比較出力信号線。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 複数の検査対象の信号線を個別に駆動するドラ
イバと信号線のステータスを検出するコンパレー
タよりなる複数のドライバ／コンパレータと、 マイクロプロセツサを含み、これらドライバ／
コンパレータの制御信号線、基準信号線および比
較出力信号線が共通に接続された制御装置とで構
成され、 各信号線の先端をすべて共通電位点に接続して
制御回路により各コンパレータの比較出力信号を
順次測定し、コンパレータの比較出力信号の
“Ｈ”を測定することにより信号線の断線を検出
し、 各信号線の先端を開放状態にして制御回路によ
り各ドライバを順次選択的に駆動しながら各コン
パレータの比較出力信号を順次測定し、駆動され
ていないドライバのコンパレータの比較出力信号
の“Ｌ”を測定することにより信号線間の短絡を
検出することを特徴とする信号線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7485184U JPS60188390U (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 信号線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7485184U JPS60188390U (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 信号線検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60188390U JPS60188390U (ja) | 1985-12-13 |
| JPH0338710Y2 true JPH0338710Y2 (ja) | 1991-08-15 |
Family
ID=30615526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7485184U Granted JPS60188390U (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 信号線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60188390U (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6036029B2 (ja) * | 1978-05-22 | 1985-08-17 | マツダ株式会社 | 状態検出装置 |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP7485184U patent/JPS60188390U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60188390U (ja) | 1985-12-13 |
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