JPH0220922B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0220922B2 JPH0220922B2 JP55038400A JP3840080A JPH0220922B2 JP H0220922 B2 JPH0220922 B2 JP H0220922B2 JP 55038400 A JP55038400 A JP 55038400A JP 3840080 A JP3840080 A JP 3840080A JP H0220922 B2 JPH0220922 B2 JP H0220922B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- steel plate
- measurement
- image
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、鋼板の製造工程において板厚を測定
するに当り、該鋼板に伴う波打形状部における見
掛けの厚みを正確に補正する材料板厚補正方法に
関する。
するに当り、該鋼板に伴う波打形状部における見
掛けの厚みを正確に補正する材料板厚補正方法に
関する。
冷延鋼板の厚みは、使用時における加工精度や
加工性に影響をもつほか、でき上つた部品の強度
を保証する上からも重要であるため、正確に把握
しておくことが必要である。厚みの測定は鋼板の
周囲からマイクロメータによつて行うことができ
るが、冷延工場などの加工ラインにおいて連続的
に走行する鋼板については、この方法で測定でき
ないため、一般にはＸ線、γ線、レーザ・ビーム
またはマイクロ・ウエーブなどを利用した厚み計
を使用して連続的に板厚測定を行つている。
加工性に影響をもつほか、でき上つた部品の強度
を保証する上からも重要であるため、正確に把握
しておくことが必要である。厚みの測定は鋼板の
周囲からマイクロメータによつて行うことができ
るが、冷延工場などの加工ラインにおいて連続的
に走行する鋼板については、この方法で測定でき
ないため、一般にはＸ線、γ線、レーザ・ビーム
またはマイクロ・ウエーブなどを利用した厚み計
を使用して連続的に板厚測定を行つている。
これらの方法によつて測定を行う場合は、一般
に例えばγ線による透過式厚み測定のように、鋼
板の下から上に向かう垂直方向の直線的な厚みを
検出するものになされている。しかしながら、鋼
板自体は、いかなる部分も完全な水平状態で通板
されているものではなく、第１図に多少誇張して
示すように、材料１は波打ち状態を伴つて通板さ
れる場合が多い。従来の検出手段においては、こ
の波打ちによる傾斜部分についても垂直方向から
同様に測定するものであるので、第２図に示すよ
うに材料１の真の厚みがＴであるにもかかわら
ず、材料１の見掛け上の厚みｔが検出されてしま
い、したがつて測定結果が信頼性に欠ける欠点が
あつた。
に例えばγ線による透過式厚み測定のように、鋼
板の下から上に向かう垂直方向の直線的な厚みを
検出するものになされている。しかしながら、鋼
板自体は、いかなる部分も完全な水平状態で通板
されているものではなく、第１図に多少誇張して
示すように、材料１は波打ち状態を伴つて通板さ
れる場合が多い。従来の検出手段においては、こ
の波打ちによる傾斜部分についても垂直方向から
同様に測定するものであるので、第２図に示すよ
うに材料１の真の厚みがＴであるにもかかわら
ず、材料１の見掛け上の厚みｔが検出されてしま
い、したがつて測定結果が信頼性に欠ける欠点が
あつた。
本発明の目的は、従来の板厚測定手段における
この種の欠点を排除し、波打ち部においても真の
板厚を正確に捉えることのできる材料板厚補正方
法を得て、板厚測定の信頼性を向上させることに
ある。
この種の欠点を排除し、波打ち部においても真の
板厚を正確に捉えることのできる材料板厚補正方
法を得て、板厚測定の信頼性を向上させることに
ある。
本発明法の主眼は、鋼板側方に設けた工業用ビ
デオ・カメラで材料の傾斜部を分解能の高い画像
に処理して、その画素の座標から傾斜角を捉え、
この傾斜角によつて見掛け上の厚み検出値を補正
して真の厚みを得るようにしたことであつて、従
来の透過式厚み計測ラインとは別に補正ラインを
設けたことに特徴がある。
デオ・カメラで材料の傾斜部を分解能の高い画像
に処理して、その画素の座標から傾斜角を捉え、
この傾斜角によつて見掛け上の厚み検出値を補正
して真の厚みを得るようにしたことであつて、従
来の透過式厚み計測ラインとは別に補正ラインを
設けたことに特徴がある。
第１図に示すように、Ｘ線厚み計、またはγ線
厚み計などの厚み計２１による従来測定法と同様
の厚み計測ライン２を測定点に設けて、材料１に
おける見掛けの厚みｔを検出させる。
厚み計などの厚み計２１による従来測定法と同様
の厚み計測ライン２を測定点に設けて、材料１に
おける見掛けの厚みｔを検出させる。
一方、鋼板側方より鋼板幅方向に望ませた工業
用ビデオ・カメラ３１を有する補正ライン３を設
け、厚み計２１によつて計測される測定点を側方
から瞬時的に撮影させ、分解能の高い画像処理器
を用いて材料１の側断面方向における傾斜部を捉
えて第３図のように画像処理させる。
用ビデオ・カメラ３１を有する補正ライン３を設
け、厚み計２１によつて計測される測定点を側方
から瞬時的に撮影させ、分解能の高い画像処理器
を用いて材料１の側断面方向における傾斜部を捉
えて第３図のように画像処理させる。
画像には画素単位をもたせ、透過式厚み計測位
置である基準点Ｒを中心とする両側へそれぞれ所
定の読取点P1，P2を定め、各読取点における材
料の傾斜座標x1，y1：x2，y2を読取る。次に、演
算装置を用いて、基準点Ｒにおける傾斜角θを各
読取点P1，P2の傾斜座標から演算処理する。す
なわち、 tanθ＝y2−y1／x2−x1 θ＝tan-1y2−y1／x2−x1 演算内容は、最終的にcosθを求めて補正数値と
し、厚み計測ライン２において既に計測されてい
る見掛け上の厚みｔに補正数値cosθを乗じて真の
厚みＴを得る（第２図参照）。
置である基準点Ｒを中心とする両側へそれぞれ所
定の読取点P1，P2を定め、各読取点における材
料の傾斜座標x1，y1：x2，y2を読取る。次に、演
算装置を用いて、基準点Ｒにおける傾斜角θを各
読取点P1，P2の傾斜座標から演算処理する。す
なわち、 tanθ＝y2−y1／x2−x1 θ＝tan-1y2−y1／x2−x1 演算内容は、最終的にcosθを求めて補正数値と
し、厚み計測ライン２において既に計測されてい
る見掛け上の厚みｔに補正数値cosθを乗じて真の
厚みＴを得る（第２図参照）。
Ｔ＝ｔ・cosθ
得られた補正後の厚みＴは、必要に応じて表示
器および記録器によつて表示・記録させる。
器および記録器によつて表示・記録させる。
上述の過程において、カメラ３１による影像を
画像処理する場合、分解能を高くすると｜x2−x1
｜を小さくすることができるから、基準点Ｒにお
ける接線の傾斜角θを精度よく測定することがで
き、補正精度を上げることができる。
画像処理する場合、分解能を高くすると｜x2−x1
｜を小さくすることができるから、基準点Ｒにお
ける接線の傾斜角θを精度よく測定することがで
き、補正精度を上げることができる。
本発明法によれば、通板される材料の波打ち度
合のいかんにかかわらず、測定部の傾斜状態を的
確に捉えて補正するものであるので、常に正確な
板厚を検出することができる。例えば、熱間タン
デム圧延機関での板厚測定、または厚板圧延機前
後での圧延中鋼板を先後端鼻上り部を含めた全長
の板厚測定により、次段圧延での圧下補正を行う
ことが可能となり、圧延精度の著しい向上をもた
らすことができる。また、既存の他の測定ライン
に対しても容易に応用して測定の信頼性を向上さ
せることができる。
合のいかんにかかわらず、測定部の傾斜状態を的
確に捉えて補正するものであるので、常に正確な
板厚を検出することができる。例えば、熱間タン
デム圧延機関での板厚測定、または厚板圧延機前
後での圧延中鋼板を先後端鼻上り部を含めた全長
の板厚測定により、次段圧延での圧下補正を行う
ことが可能となり、圧延精度の著しい向上をもた
らすことができる。また、既存の他の測定ライン
に対しても容易に応用して測定の信頼性を向上さ
せることができる。
第１図は本発明法のフロー・チヤート。第２図
は本発明法にもとづいて画像処理された測定部画
像の見取図。第３図は測定部における傾斜状態を
図表的に示した説明図。 １：材料、２：厚み計測ライン、３：補正ライ
ン。
は本発明法にもとづいて画像処理された測定部画
像の見取図。第３図は測定部における傾斜状態を
図表的に示した説明図。 １：材料、２：厚み計測ライン、３：補正ライ
ン。
Claims (1)
- １ 鋼板の透過式板厚測定における波打材料板厚
補正方法において、材料測定点における見掛けの
厚みｔを厚み計によつて得ること、前記測定点に
おける材料の波打ち状態を鋼板側方に設けた工業
用ビデオ・カメラに画像として捉えこの画像から
材料縦断面の傾斜座標（x1，y1：x2，y2）を読み
取ること、傾斜座標から材料の傾斜角θ，cosθを
演算すること、前記見掛けの厚みｔにcosθを乗じ
て補正数値を演算すること、補正された真の厚み
Ｔを表示・記録することからなる材料板厚補正方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3840080A JPS56135106A (en) | 1980-03-26 | 1980-03-26 | Material plate thickness correction |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3840080A JPS56135106A (en) | 1980-03-26 | 1980-03-26 | Material plate thickness correction |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56135106A JPS56135106A (en) | 1981-10-22 |
| JPH0220922B2 true JPH0220922B2 (ja) | 1990-05-11 |
Family
ID=12524237
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3840080A Granted JPS56135106A (en) | 1980-03-26 | 1980-03-26 | Material plate thickness correction |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56135106A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10312535B4 (de) * | 2003-03-20 | 2006-12-07 | Ims-Messsysteme Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum geometrischen Vermessen eines Materialbandes |
| JP6447872B2 (ja) * | 2015-03-27 | 2019-01-09 | カルソニックカンセイ株式会社 | エアバッグドアの脆弱線残厚測定装置および測定方法 |
| CN107192326B (zh) * | 2017-05-13 | 2019-05-24 | 克拉玛依职业技术学院 | 基于gps数据计算岩层矢量真厚度的方法 |
-
1980
- 1980-03-26 JP JP3840080A patent/JPS56135106A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56135106A (en) | 1981-10-22 |
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