JPH0220930B2 - - Google Patents
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- JPH0220930B2 JPH0220930B2 JP58110535A JP11053583A JPH0220930B2 JP H0220930 B2 JPH0220930 B2 JP H0220930B2 JP 58110535 A JP58110535 A JP 58110535A JP 11053583 A JP11053583 A JP 11053583A JP H0220930 B2 JPH0220930 B2 JP H0220930B2
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- rubber
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/02—Details
- G01N3/06—Special adaptations of indicating or recording means
- G01N3/068—Special adaptations of indicating or recording means with optical indicating or recording means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/06—Indicating or recording means; Sensing means
- G01N2203/0641—Indicating or recording means; Sensing means using optical, X-ray, ultraviolet, infrared or similar detectors
- G01N2203/0647—Image analysis
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はゴム・プラスチツク用引張試験機に係
り、詳しくは紫外線ランプを使用し、試料にあら
かじめマークした標線を照射することによつて試
料上の標線のみ発光させ、該発光した光を検出し
多品種の試料の伸びを非接触で、かつ高精度で測
定する装置を具備した引張試験機に関する。
り、詳しくは紫外線ランプを使用し、試料にあら
かじめマークした標線を照射することによつて試
料上の標線のみ発光させ、該発光した光を検出し
多品種の試料の伸びを非接触で、かつ高精度で測
定する装置を具備した引張試験機に関する。
従来、試料における伸びの測定法としては試料
にスケールを当てて人が直接伸びを読み取る直接
測定法，可視光線を使用して測定する非接触測定
法，試料に伸び測定用治具を取り付けて治具の変
位量より伸びを測定する接触測定法などがある
が、直接測定法は時々刻々移動中の標線間の長さ
を目で追尾する方法であり高精度測定には不向き
である。又、可視光線を使用した非接触法はプラ
スチツク，ゴムのような伸び量が大きく、かつ多
品種，多様の色物に適用する場合、試料の伸びの
増大につれて地肌が変色し、試料地肌と標線との
コントラストが変化するなどの問題からすべての
試料の伸びを正確に測定することはできないとい
う欠点がある。たとえば、黒色試料の場合につい
て述べると、黒色試料に白色で標線をマークして
引張ると、黒色試料は白く変色し、標線の白と判
別することができなくなる。また、黒色試料に赤
系統の色で標線をマークして引張る場合、引張前
は標線の赤が試料の黒より明るいが、荷重をかけ
て引張つて行くと試料は白く変色し、標線の赤系
統より明るくなり、試料の明暗が反転することに
なり、標線の検出ができなくなる。また、投光器
からの可視光線が変色して白化した部分より反射
して受光器に入射することになり、一層標線の検
出を不可能ならしめる。
にスケールを当てて人が直接伸びを読み取る直接
測定法，可視光線を使用して測定する非接触測定
法，試料に伸び測定用治具を取り付けて治具の変
位量より伸びを測定する接触測定法などがある
が、直接測定法は時々刻々移動中の標線間の長さ
を目で追尾する方法であり高精度測定には不向き
である。又、可視光線を使用した非接触法はプラ
スチツク，ゴムのような伸び量が大きく、かつ多
品種，多様の色物に適用する場合、試料の伸びの
増大につれて地肌が変色し、試料地肌と標線との
コントラストが変化するなどの問題からすべての
試料の伸びを正確に測定することはできないとい
う欠点がある。たとえば、黒色試料の場合につい
て述べると、黒色試料に白色で標線をマークして
引張ると、黒色試料は白く変色し、標線の白と判
別することができなくなる。また、黒色試料に赤
系統の色で標線をマークして引張る場合、引張前
は標線の赤が試料の黒より明るいが、荷重をかけ
て引張つて行くと試料は白く変色し、標線の赤系
統より明るくなり、試料の明暗が反転することに
なり、標線の検出ができなくなる。また、投光器
からの可視光線が変色して白化した部分より反射
して受光器に入射することになり、一層標線の検
出を不可能ならしめる。
これらの理由により多品種，多様の色物すべて
の試料の伸びを測定に可視光線を使用することは
不可能である。
の試料の伸びを測定に可視光線を使用することは
不可能である。
一方、接触測定法は、試料に伸び測定用の治具
を測定の都度取り付ける煩わしさがあり、また、
治具の重さが往々にして誤差の原因となる。特に
フイルムのように微少な引張荷重で切断する試料
は治具取付箇所に応力がかかり、治具取付箇所よ
り切断する等の問題があつて伸びを測定すること
ができない。
を測定の都度取り付ける煩わしさがあり、また、
治具の重さが往々にして誤差の原因となる。特に
フイルムのように微少な引張荷重で切断する試料
は治具取付箇所に応力がかかり、治具取付箇所よ
り切断する等の問題があつて伸びを測定すること
ができない。
かくして、これら従来の何れの測定法において
も未だ高精度の測定を可能ならしめるには種々の
改善が求められている。
も未だ高精度の測定を可能ならしめるには種々の
改善が求められている。
本発明は叙上の如き現状に対応し、前記非接触
法，接触法の何れでも測定困難とされていた多品
種，多様な色物試料の伸びを高精度で測定するこ
とを課題とし、非接触法ではあるが、投光器の光
源として紫外線ランプを採用することに着目して
改善された測定装置を有するゴム・プラスチツク
用引張試験機を提供することを目的とするもので
ある。
法，接触法の何れでも測定困難とされていた多品
種，多様な色物試料の伸びを高精度で測定するこ
とを課題とし、非接触法ではあるが、投光器の光
源として紫外線ランプを採用することに着目して
改善された測定装置を有するゴム・プラスチツク
用引張試験機を提供することを目的とするもので
ある。
即ち、本発明の特徴とするところは、紫外線ラ
ンプを光源に用いた投光器と該投光器からの照射
を受けて発光する試料の発光光線を受光すると共
に入射した入射光量を検出する検出器を含む受光
器とを一対として、試料の伸び方向に間隔をおい
て配設された少くとも２対の投受光装置と、前記
受光器の２等分割された多素子半導体からなる多
素子半導体検出器による検出に従つて前記投受光
装置を試料の伸び方向において試料上に螢光塗料
でマークした標線に自動的に追尾させる追尾機構
と、該追尾機構の作動に伴つて各投受光装置の変
位信号を発信するそれぞれの伸び検出器と、該両
伸び検出器からの受信信号を受けてその差を演算
する伸び差演算器とからなるゴム・プラスチツク
用引張試験機にある。
ンプを光源に用いた投光器と該投光器からの照射
を受けて発光する試料の発光光線を受光すると共
に入射した入射光量を検出する検出器を含む受光
器とを一対として、試料の伸び方向に間隔をおい
て配設された少くとも２対の投受光装置と、前記
受光器の２等分割された多素子半導体からなる多
素子半導体検出器による検出に従つて前記投受光
装置を試料の伸び方向において試料上に螢光塗料
でマークした標線に自動的に追尾させる追尾機構
と、該追尾機構の作動に伴つて各投受光装置の変
位信号を発信するそれぞれの伸び検出器と、該両
伸び検出器からの受信信号を受けてその差を演算
する伸び差演算器とからなるゴム・プラスチツク
用引張試験機にある。
本発明の試験機による測定法では、試料に螢光
塗料で標線をマークし、紫外線を照射することに
よつて、標線のみ発光させる。荷重をかけて試料
を引張つて白く変色した部分からの紫外線等の反
射光線の影響は受光器にフイルターを取付けるこ
とで解決できる。かくして検出器に入射する入射
光は標線の発光によるものだけとなり、本発明の
試験器を使えば多品種の色物試料の伸びを高精度
で測定することが可能である。
塗料で標線をマークし、紫外線を照射することに
よつて、標線のみ発光させる。荷重をかけて試料
を引張つて白く変色した部分からの紫外線等の反
射光線の影響は受光器にフイルターを取付けるこ
とで解決できる。かくして検出器に入射する入射
光は標線の発光によるものだけとなり、本発明の
試験器を使えば多品種の色物試料の伸びを高精度
で測定することが可能である。
以下、引続き添付図面にもとづいて上記本発明
ゴム・プラスチツク用引張試験機の具体的な実施
態様につき詳述する。
ゴム・プラスチツク用引張試験機の具体的な実施
態様につき詳述する。
第１図は本発明に係るゴム・プラスチツク用引
張試験機の概要を示し、図において、６，１０は
夫々試料１に螢光塗料でマークした標線２，３に
紫外線を照射する投光器、７，１１は前記投光器
６，１０からの各照射を受けて発光する試料の発
光光線を受光し検出する受光器であり、これら投
光器と受光器は夫々その１つを一対のセツトとし
て２対の投受光装置６，７，１０，１１を形成
し、試料の伸び方向に間隔をおいてマークされた
標線２，３に夫々対応する如く配設され、ゴム・
プラスチツク用引張試験機の基本要素を構成して
いる。
張試験機の概要を示し、図において、６，１０は
夫々試料１に螢光塗料でマークした標線２，３に
紫外線を照射する投光器、７，１１は前記投光器
６，１０からの各照射を受けて発光する試料の発
光光線を受光し検出する受光器であり、これら投
光器と受光器は夫々その１つを一対のセツトとし
て２対の投受光装置６，７，１０，１１を形成
し、試料の伸び方向に間隔をおいてマークされた
標線２，３に夫々対応する如く配設され、ゴム・
プラスチツク用引張試験機の基本要素を構成して
いる。
そして、この両投受光装置６，７，１０，１１
は夫々、受光器７，１１に含まれる後述する検出
器の検出に従つて回転する平衡電動機５，９の該
回転によつて回転作動する移動用ねじ１４，１５
に取り付けられ、受光器７，１１への入射光量を
検出することによつて各対の投受光装置６，７，
１０，１１を夫々自動的に前記標線２，３に追尾
させ得るように構成されている。
は夫々、受光器７，１１に含まれる後述する検出
器の検出に従つて回転する平衡電動機５，９の該
回転によつて回転作動する移動用ねじ１４，１５
に取り付けられ、受光器７，１１への入射光量を
検出することによつて各対の投受光装置６，７，
１０，１１を夫々自動的に前記標線２，３に追尾
させ得るように構成されている。
一方、４，８は前記平衡電動機５，９の回転を
受け、前記投光器及び受光器よりなる各対の投受
光装置６，７，１０，１１の変位を変位信号とし
て発信する伸び検出器であり、前記各平衡電動機
５，９の端部に取り付けられ夫々発信信号を伸び
差演算器１２に入力して必要に応じその演算結果
を記録計１３に記録するようになつている。
受け、前記投光器及び受光器よりなる各対の投受
光装置６，７，１０，１１の変位を変位信号とし
て発信する伸び検出器であり、前記各平衡電動機
５，９の端部に取り付けられ夫々発信信号を伸び
差演算器１２に入力して必要に応じその演算結果
を記録計１３に記録するようになつている。
本発明ゴム・プラスチツク用引張試験機は、叙
上の如き各構成を基幹とするものであるが、特に
その重要な特色をなすものは紫外線ランプを光源
とする投光器６，１０ならびにこれに対応する受
光器７，１１の構成である。
上の如き各構成を基幹とするものであるが、特に
その重要な特色をなすものは紫外線ランプを光源
とする投光器６，１０ならびにこれに対応する受
光器７，１１の構成である。
第２図及び第３図は、かかる投光器６，１０及
び受光器７，１１の詳細を図示しており、投光器
６，１０においては、紫外線ランプ２６を光源と
し、該ランプ２６からの放射光線は凹面鏡２７と
レンズ２５の組み合わせによつて効率よく試料１
の標線２，３を照射するように構成され、特に紫
外線ランプ２６からの可視光線をカツトするフイ
ルター２４を有して標線２，３の照射は紫外線の
みで行ない、可視光線を照射した場合に問題とな
る試料１からの反射の影響を排除した構造を採用
している。
び受光器７，１１の詳細を図示しており、投光器
６，１０においては、紫外線ランプ２６を光源と
し、該ランプ２６からの放射光線は凹面鏡２７と
レンズ２５の組み合わせによつて効率よく試料１
の標線２，３を照射するように構成され、特に紫
外線ランプ２６からの可視光線をカツトするフイ
ルター２４を有して標線２，３の照射は紫外線の
みで行ない、可視光線を照射した場合に問題とな
る試料１からの反射の影響を排除した構造を採用
している。
一方、各受光器７，１１は第３図に図示する如
く、試料１の標線２，３の発光光量を受け紫外線
をカツトするフイルター３４を備えると共に、紫
外線をカツトし可視光線のみ集光する凸レンズ３
５と、集光した入射光量を検出する多素子半導体
検出器３６を有して可視光線のみ凸レンズ３５で
集光し検出器３６に導入することによつて信頼性
を向上せしめる装置構成からなつている。
く、試料１の標線２，３の発光光量を受け紫外線
をカツトするフイルター３４を備えると共に、紫
外線をカツトし可視光線のみ集光する凸レンズ３
５と、集光した入射光量を検出する多素子半導体
検出器３６を有して可視光線のみ凸レンズ３５で
集光し検出器３６に導入することによつて信頼性
を向上せしめる装置構成からなつている。
なお、この受光器７，１１の構成において、特
に多素子半導体検出器３６は多素子を２等分割し
て、各２等分割した多素子半導体の検出器３６
Ａ，３６Ｂの出力は夫々の増巾器３７，３８によ
つて増巾され更に差動増巾器３９に入力されて増
幅し各平衡電動機５，９を回転させる仕組が採り
入れられている。
に多素子半導体検出器３６は多素子を２等分割し
て、各２等分割した多素子半導体の検出器３６
Ａ，３６Ｂの出力は夫々の増巾器３７，３８によ
つて増巾され更に差動増巾器３９に入力されて増
幅し各平衡電動機５，９を回転させる仕組が採り
入れられている。
以下、受光器と試料の標線との対応関係を第３
図にもとづき受光器７と試料１の標線２との対応
関係について説明する。受光器１１と試料１の標
線３との関係についても同様である。
図にもとづき受光器７と試料１の標線２との対応
関係について説明する。受光器１１と試料１の標
線３との関係についても同様である。
即ち、試料１の標線２は試料１の引張開始後そ
の伸びにつれて標線巾が拡大されていく。したが
つて拡大されつつある標線の中心が標線の面積を
２等分する線であるように受光器７が移動して受
光器７と標線２との対応が完全にとれておれば多
素子半導体検出器３６の２等分割した多素子半導
体検出器３６Ａ，３６Ｂの出力は等しく、差動増
巾器３９の出力は零となり平衡電動機５と静止の
状態となる。
の伸びにつれて標線巾が拡大されていく。したが
つて拡大されつつある標線の中心が標線の面積を
２等分する線であるように受光器７が移動して受
光器７と標線２との対応が完全にとれておれば多
素子半導体検出器３６の２等分割した多素子半導
体検出器３６Ａ，３６Ｂの出力は等しく、差動増
巾器３９の出力は零となり平衡電動機５と静止の
状態となる。
これに対し、標線２と、受光器７との対応にず
れが生じると、２等分割した多素子半導体検出器
３６Ａ，３６Ｂの出力に差を生じる。
れが生じると、２等分割した多素子半導体検出器
３６Ａ，３６Ｂの出力に差を生じる。
この出力の差は標線自体の巾が試料の伸びと同
時に広がる結果、多素子半導体検出器の２等分割
された素子３６Ａ，３６Ｂのそれぞれに入力する
標線から反射光の量が巾広く変形した標線の面積
を２等分割した面積に対応していないことに基づ
くものである。
時に広がる結果、多素子半導体検出器の２等分割
された素子３６Ａ，３６Ｂのそれぞれに入力する
標線から反射光の量が巾広く変形した標線の面積
を２等分割した面積に対応していないことに基づ
くものである。
そこで、平衡電動機５は上記の差がなくなるま
で回転を続け、投光器と受光器の対からなる投受
光装置を変位させ試料１が伸びた結果巾が広がつ
た標線２の面積を２等分割するような位置に移動
せしめる。このようにして試料１の標線２の中心
を夫々常に精度よく自動追尾が可能となつてい
る。
で回転を続け、投光器と受光器の対からなる投受
光装置を変位させ試料１が伸びた結果巾が広がつ
た標線２の面積を２等分割するような位置に移動
せしめる。このようにして試料１の標線２の中心
を夫々常に精度よく自動追尾が可能となつてい
る。
かくして本発明ゴム・プラスチツク用引張試験
機は叙上の如き構成を有してなり、試料の伸びを
測定するにあたつては、先ず第１図に示すように
試料１にマークした２つの標線２，３に投光器
６，１０からの紫外線を照射することによつて該
標線２，３のみを発光させる。そして、発光した
光は夫々受光器７，１１により受光する。この受
光された各標線の発光光量は次いで第３図に図示
される受光器内のフイルター３４によつて紫外線
がカツトされ、可視光線のみが凸レンズ３５で集
光されて多素子半導体検出器３６に導入され、こ
の検出器３６で検出されてアナログ信号を発し、
受光器における増巾作用を経て平衡電動機５，９
を回転させる。
機は叙上の如き構成を有してなり、試料の伸びを
測定するにあたつては、先ず第１図に示すように
試料１にマークした２つの標線２，３に投光器
６，１０からの紫外線を照射することによつて該
標線２，３のみを発光させる。そして、発光した
光は夫々受光器７，１１により受光する。この受
光された各標線の発光光量は次いで第３図に図示
される受光器内のフイルター３４によつて紫外線
がカツトされ、可視光線のみが凸レンズ３５で集
光されて多素子半導体検出器３６に導入され、こ
の検出器３６で検出されてアナログ信号を発し、
受光器における増巾作用を経て平衡電動機５，９
を回転させる。
この平衡電動機５，９の回転が起生すると、１
つは投受光装置移動用ねじ１４，１５を回転し、
一対になつた投光器，受光器からなる投受光装置
６，７，１０，１１を自動的に各標線２，３に追
尾させ、平衡状態に至るまで同投受光装置を変位
させると共に、他のもう１つとして平衡電動機
５，９の端部に取り付けて設けた伸び検出器４，
８を作動させ、前記投光器，受光器の変位信号を
発信させ伸び差演算器１２に導入する。
つは投受光装置移動用ねじ１４，１５を回転し、
一対になつた投光器，受光器からなる投受光装置
６，７，１０，１１を自動的に各標線２，３に追
尾させ、平衡状態に至るまで同投受光装置を変位
させると共に、他のもう１つとして平衡電動機
５，９の端部に取り付けて設けた伸び検出器４，
８を作動させ、前記投光器，受光器の変位信号を
発信させ伸び差演算器１２に導入する。
かくして、このように各伸び検出器４，８から
の発信信号が導入されると、前記伸び差演算器１
２により両信号の差を演算によつて求めれば両標
線２，３間の伸びを自動的に測定することができ
る。
の発信信号が導入されると、前記伸び差演算器１
２により両信号の差を演算によつて求めれば両標
線２，３間の伸びを自動的に測定することができ
る。
以上のようにして紫外線投光器と検出器を含む
受光器を組合せ使用し、各機素を併設することに
よつて試料の伸びを高精度に測定することが可能
となる。
受光器を組合せ使用し、各機素を併設することに
よつて試料の伸びを高精度に測定することが可能
となる。
なお、上記説明は投受光装置のセツトを２対と
した場合について述べたが、標線数の増加に伴な
い適宜、その数を増加すれば同様にして複数の各
標線間の伸びを同時に測定することも出来、設計
的改変も任意である。
した場合について述べたが、標線数の増加に伴な
い適宜、その数を増加すれば同様にして複数の各
標線間の伸びを同時に測定することも出来、設計
的改変も任意である。
本発明は、以上のように投光器の光源に紫外線
ランプを使用し、試料にあらかじめマークした標
線を照射することによつて試料上の標線のみを発
光させ、その発光した光を検出器を用いて検出
し、これに従つて一対になつた投光器と２等分割
した多素子半導体からなる多素子半導体検出器を
含む受光器を自動的に標線に追尾させると共に伸
び検出器，伸び差演算器を付設して標線間の伸び
を測定し引張試験を行なうものであり、前記受光
器の２等分割された多素子半導体検出器による検
出を利用する追尾機構によつて標線が如何に幅広
く変化したとしてもその面積を２等分した線を標
線として把握し追尾せしめることによつて投受光
装置が伸びの大きいゴム・プラスチツク等の試料
でも、該試料標線の中心を常に精度良く自動追尾
可能となり、紫外線照射による発光利用と相俟つ
て従来非接触法，接触法でも困難とされていたゴ
ム，プラスチツクの如き伸び量が大きく、かつ多
品種，多様な色物や引張りによつて地肌が変色す
る試料に適用する場合においてもその伸びを極め
て精度よく測定することを可能ならしめる外、治
具取り付けの不便を起すことなく、従つて又、誤
差原因を可及的少なくして自動化を促進する上に
頗る有用な効果を有する。
ランプを使用し、試料にあらかじめマークした標
線を照射することによつて試料上の標線のみを発
光させ、その発光した光を検出器を用いて検出
し、これに従つて一対になつた投光器と２等分割
した多素子半導体からなる多素子半導体検出器を
含む受光器を自動的に標線に追尾させると共に伸
び検出器，伸び差演算器を付設して標線間の伸び
を測定し引張試験を行なうものであり、前記受光
器の２等分割された多素子半導体検出器による検
出を利用する追尾機構によつて標線が如何に幅広
く変化したとしてもその面積を２等分した線を標
線として把握し追尾せしめることによつて投受光
装置が伸びの大きいゴム・プラスチツク等の試料
でも、該試料標線の中心を常に精度良く自動追尾
可能となり、紫外線照射による発光利用と相俟つ
て従来非接触法，接触法でも困難とされていたゴ
ム，プラスチツクの如き伸び量が大きく、かつ多
品種，多様な色物や引張りによつて地肌が変色す
る試料に適用する場合においてもその伸びを極め
て精度よく測定することを可能ならしめる外、治
具取り付けの不便を起すことなく、従つて又、誤
差原因を可及的少なくして自動化を促進する上に
頗る有用な効果を有する。
第１図は本発明ゴム・プラスチツク用引張試験
機の略示概要図、第２図及び第３図は前記第１図
における投光器，受光器の構造説明図である。 １……試料、２，３……標線、４，８……伸び
検出器、５，９……平衡電動機、６，１０……投
光器、７，１１……受光器、１２……伸び差演算
器、１３……記録計、２４，３４……フイルタ
ー、２６……紫外線ランプ、３６……検出器、３
６Ａ，３６Ｂ……２等分割各多素子半導体検出
器、３７，３８……増巾器、３９……差動増巾
器。
機の略示概要図、第２図及び第３図は前記第１図
における投光器，受光器の構造説明図である。 １……試料、２，３……標線、４，８……伸び
検出器、５，９……平衡電動機、６，１０……投
光器、７，１１……受光器、１２……伸び差演算
器、１３……記録計、２４，３４……フイルタ
ー、２６……紫外線ランプ、３６……検出器、３
６Ａ，３６Ｂ……２等分割各多素子半導体検出
器、３７，３８……増巾器、３９……差動増巾
器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 紫外線ランプを光源に用いた投光器と、該投
光器からの照射を受けて発光する試料の発光光線
を受光すると共に、入射した入射光量を検出する
２等分割した多素子半導体からなる多素子半導体
検出器を含む受光器とを一対として、試料の伸び
方向に間隔をおいて配設された少くとも２対の投
受光装置と、前記受光器の２等分割された多素子
半導体からなる多素子半導体検出器による検出に
従つて前記投受光装置を試料の伸び方向において
試料上の螢光塗料でマークした標線に自動的に追
尾させる追尾機構と、該追尾機構の作動に伴つて
各投受光装置の変位信号を発信する夫々の伸び検
出器と、前記両伸び検出器からの発信信号を受け
てその差を演算する伸び差演算器とからなること
を特徴とするゴム・プラスチツク用引張試験機。 ２ 追尾機構が受光器の検出器による検出信号に
従つて回転する並行電動機と、該電動機の回転に
よつて回転する移動用ねじからなる特許請求の範
囲第１項記載のゴム・プラスチツク用引張試験
機。 ３ 伸び差演算器の演算結果を記録計によつて記
録する特許請求の範囲第１項記載のゴム・プラス
チツク用引張試験機。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58110535A JPS603537A (ja) | 1983-06-20 | 1983-06-20 | ゴム・プラスチック用引張試験機 |
| US06/618,607 US4605857A (en) | 1983-06-20 | 1984-06-08 | Tensile tester |
| DE8484106992T DE3463843D1 (en) | 1983-06-20 | 1984-06-19 | Tensile tester |
| EP84106992A EP0129242B1 (en) | 1983-06-20 | 1984-06-19 | Tensile tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58110535A JPS603537A (ja) | 1983-06-20 | 1983-06-20 | ゴム・プラスチック用引張試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS603537A JPS603537A (ja) | 1985-01-09 |
| JPH0220930B2 true JPH0220930B2 (ja) | 1990-05-11 |
Family
ID=14538269
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58110535A Granted JPS603537A (ja) | 1983-06-20 | 1983-06-20 | ゴム・プラスチック用引張試験機 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4605857A (ja) |
| EP (1) | EP0129242B1 (ja) |
| JP (1) | JPS603537A (ja) |
| DE (1) | DE3463843D1 (ja) |
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-
1983
- 1983-06-20 JP JP58110535A patent/JPS603537A/ja active Granted
-
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- 1984-06-19 EP EP84106992A patent/EP0129242B1/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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