JPH0221242A - 原子吸収スペクトロメータ - Google Patents
原子吸収スペクトロメータInfo
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- JPH0221242A JPH0221242A JP1064007A JP6400789A JPH0221242A JP H0221242 A JPH0221242 A JP H0221242A JP 1064007 A JP1064007 A JP 1064007A JP 6400789 A JP6400789 A JP 6400789A JP H0221242 A JPH0221242 A JP H0221242A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
原子吸収スペクトルメータは、試料中の探査元素の量ま
たは濃度を測定するために用いられる。この目的のため
に線放射する光源、例えば中空カソードランプから測光
束が光電検出器に導かれる。この測光束の光路に原子化
装置が配設されている。この原子化装置において探査す
べき試料が原子化され、その結果試料の構成成分は原子
状態において存在する。測光束は探査される元素の共振
線を含んでいる。測光束のこの共振線は探査される元素
の原子によって原子雲に吸収され、一方理想の場合試料
中に含まれている別の元素は測光束に何の影響も与えな
い。従って測光束は、測光束の通路に存在する、探査さ
れる元素の原子の数に対する尺度であって、適用される
原子化方法に応じて探査される元素の濃度または量に対
する尺度となる減衰を受ける。しかし測光束が受ける吸
収は探査される元素の原子によってのみ惹き起こされる
のではない。例えば分子による光の吸収に基づくバック
グラウンド吸収″がある。このバックグラウンド吸収は
殊に、高感度測定において補償されなければならない。
たは濃度を測定するために用いられる。この目的のため
に線放射する光源、例えば中空カソードランプから測光
束が光電検出器に導かれる。この測光束の光路に原子化
装置が配設されている。この原子化装置において探査す
べき試料が原子化され、その結果試料の構成成分は原子
状態において存在する。測光束は探査される元素の共振
線を含んでいる。測光束のこの共振線は探査される元素
の原子によって原子雲に吸収され、一方理想の場合試料
中に含まれている別の元素は測光束に何の影響も与えな
い。従って測光束は、測光束の通路に存在する、探査さ
れる元素の原子の数に対する尺度であって、適用される
原子化方法に応じて探査される元素の濃度または量に対
する尺度となる減衰を受ける。しかし測光束が受ける吸
収は探査される元素の原子によってのみ惹き起こされる
のではない。例えば分子による光の吸収に基づくバック
グラウンド吸収″がある。このバックグラウンド吸収は
殊に、高感度測定において補償されなければならない。
原子化装置として、試料が溶解液としてその中に噴霧さ
れる炎を用いることができる。しかし高感度測定に対し
て有利には電熱式の原子化方法が使用される。即ち試料
は、電流が貫流することで高温に加熱される炉内に供給
される。
れる炎を用いることができる。しかし高感度測定に対し
て有利には電熱式の原子化方法が使用される。即ち試料
は、電流が貫流することで高温に加熱される炉内に供給
される。
これにより試料は炉内で最初乾燥され、それから灰にな
り、最終的に原子化される。その際炉内で、探査される
原子が原子状態で存在する“原子雲″が形成される。測
光束がこの炉を通って案内される。この種の炉は種々の
形状を有し、通例はグラファイトから製造される。
り、最終的に原子化される。その際炉内で、探査される
原子が原子状態で存在する“原子雲″が形成される。測
光束がこの炉を通って案内される。この種の炉は種々の
形状を有し、通例はグラファイトから製造される。
バックグラウンド補償のために“ゼーマン効果″が利用
される。原子化された試料における吸収する原子に磁界
が加わるとき、これら原子の共振線の分裂およびシフト
が生じる。そこでこれら原子の共振線はもはや測光束の
スペクトル線と一致せず、限界状態ではもはや原子の吸
収は行われない。これにより、磁界を加えた場合にも生
じる原子によらないバックグラウンド吸収と、磁界を加
えていない場合にバックグラウンド吸収に重畳される真
の原子吸収とを区別することができる。
される。原子化された試料における吸収する原子に磁界
が加わるとき、これら原子の共振線の分裂およびシフト
が生じる。そこでこれら原子の共振線はもはや測光束の
スペクトル線と一致せず、限界状態ではもはや原子の吸
収は行われない。これにより、磁界を加えた場合にも生
じる原子によらないバックグラウンド吸収と、磁界を加
えていない場合にバックグラウンド吸収に重畳される真
の原子吸収とを区別することができる。
本発明は、試料の原子化が上述の電熱式原子化によって
行われかつバックグラウンド補償のために同じく上述の
ようにゼーマン効果が利用される、原子吸収スペクトロ
メータに関する。
行われかつバックグラウンド補償のために同じく上述の
ようにゼーマン効果が利用される、原子吸収スペクトロ
メータに関する。
従来の技術
西独国特許出願公告第１９６４４６９号公報により、ビ
ームが線放射器として形成されている唯一のビーム源か
ら出て、該ビーム源の、試料を通過するビームが縦方向
ゼーマン効果を利用して周波数変調される、原子吸収ス
ペクトロメータが公知である。この公知の原子吸収スペ
クトロメータでは、電磁石の磁極片の間に中空カソード
ランプが装着されている。磁極片の１つは、測光束を通
す貫通孔を有している。それから測光束は原子化装置と
して用いられる炎およびモノクロメータを通って進みか
つ光電検出器に入射する。電磁石は投入および遮断可能
であり、その際電磁石が投入されている場合と遮断され
ている場合との信号の差から、バックグラウンド吸収に
関して補償された、試料原子の原子吸収を測定すること
ができる。ここでは電磁石の巻線は磁極片に装着されて
いる。
ームが線放射器として形成されている唯一のビーム源か
ら出て、該ビーム源の、試料を通過するビームが縦方向
ゼーマン効果を利用して周波数変調される、原子吸収ス
ペクトロメータが公知である。この公知の原子吸収スペ
クトロメータでは、電磁石の磁極片の間に中空カソード
ランプが装着されている。磁極片の１つは、測光束を通
す貫通孔を有している。それから測光束は原子化装置と
して用いられる炎およびモノクロメータを通って進みか
つ光電検出器に入射する。電磁石は投入および遮断可能
であり、その際電磁石が投入されている場合と遮断され
ている場合との信号の差から、バックグラウンド吸収に
関して補償された、試料原子の原子吸収を測定すること
ができる。ここでは電磁石の巻線は磁極片に装着されて
いる。
この公知の原子吸収スペクトロメータにおいて、線放射
する光源の放射線はゼーマン効果によって周期的にシフ
トされかつ従って放射光は周波数変調され、試料の吸収
線は周波数変調されない。光源として中空カソードラン
プを使用した場合問題が生じる可能性がある。というの
は中空カソードランプの放電は磁界によって影響を受け
るからであり、この点は上記の西独国特許出願公告第１
９６４４６９号公報にも既に指摘されている通りである
。
する光源の放射線はゼーマン効果によって周期的にシフ
トされかつ従って放射光は周波数変調され、試料の吸収
線は周波数変調されない。光源として中空カソードラン
プを使用した場合問題が生じる可能性がある。というの
は中空カソードランプの放電は磁界によって影響を受け
るからであり、この点は上記の西独国特許出願公告第１
９６４４６９号公報にも既に指摘されている通りである
。
西独国特許第２１６５１０６号明細書によって、投入お
よび遮断可能な電磁石の磁界を光源にではなくて原子化
装置、すなわち原子化された試料に加えることが公知で
ある。その際原子化装置は炎である。磁界は測光束の走
行方向に対して垂直方向に加えられる。ここで“横方向
”ゼーマン効果に基づいて吸収線の分裂が生じる。この
場合にも、測光束の放射線と試料の吸収線との間に相対
的なずれが生じる。磁界の投入および遮断によってこの
場合も、探査される元素の原子による原子の吸収と、特
定できないバックグラウンド吸収とを区別することがで
きる。
よび遮断可能な電磁石の磁界を光源にではなくて原子化
装置、すなわち原子化された試料に加えることが公知で
ある。その際原子化装置は炎である。磁界は測光束の走
行方向に対して垂直方向に加えられる。ここで“横方向
”ゼーマン効果に基づいて吸収線の分裂が生じる。この
場合にも、測光束の放射線と試料の吸収線との間に相対
的なずれが生じる。磁界の投入および遮断によってこの
場合も、探査される元素の原子による原子の吸収と、特
定できないバックグラウンド吸収とを区別することがで
きる。
横方向ゼーマン効果を使用した場合、スペクトル線は、
その波長が磁界が遮断されている場合の当該線のシフト
していない波長に相応する中央線と、これに対して高い
方の波長にシフトしている側方線・および低い方の波長
にシフトしている側方線とに分裂される。中央線および
側方線は異なって偏向されている。それ故に中央線の影
響は偏光子によって取り除くことができる。しかしこの
種の偏光子には５０％の光損失が生じる。
その波長が磁界が遮断されている場合の当該線のシフト
していない波長に相応する中央線と、これに対して高い
方の波長にシフトしている側方線・および低い方の波長
にシフトしている側方線とに分裂される。中央線および
側方線は異なって偏向されている。それ故に中央線の影
響は偏光子によって取り除くことができる。しかしこの
種の偏光子には５０％の光損失が生じる。
原子化装置として試料を電熱式に原子化するための炉が
公知である。このようなものとして例えば、リング状の
接触部材の間に保持されているグラファイト管が用いら
れ、この管を通って測光束が長手方向に走行する。リン
グ状の接触部材を介して強い電流がグラファイト管を通
って案内される。これによりグラファイト管に挿入され
ている試料は原子化されかつグラファイト管内に“原子
雲”を形成する。この原子雲において探査される元素は
原子状態で存在するグラファイト管によって動作するこ
のような原子化装置は例えば、西独国特許第２３１４２
０７号明細書および西独国特許第２１４８７８３号明細
書から公知である。
公知である。このようなものとして例えば、リング状の
接触部材の間に保持されているグラファイト管が用いら
れ、この管を通って測光束が長手方向に走行する。リン
グ状の接触部材を介して強い電流がグラファイト管を通
って案内される。これによりグラファイト管に挿入され
ている試料は原子化されかつグラファイト管内に“原子
雲”を形成する。この原子雲において探査される元素は
原子状態で存在するグラファイト管によって動作するこ
のような原子化装置は例えば、西独国特許第２３１４２
０７号明細書および西独国特許第２１４８７８３号明細
書から公知である。
長手方向に電流が貫流するグラファイト管によって動作
するこの種の原子化装置においてゼーマン効果を利用し
てバックグラウンド吸収の補償を行うことも公知である
。この目的のために電磁石によって測光束の走行方向を
横断する方向に配向された交番磁界が加えられる。その
際同様横方向ゼーマン効果が惹き起こされ、このために
光路に偏光子が必要になってくる。
するこの種の原子化装置においてゼーマン効果を利用し
てバックグラウンド吸収の補償を行うことも公知である
。この目的のために電磁石によって測光束の走行方向を
横断する方向に配向された交番磁界が加えられる。その
際同様横方向ゼーマン効果が惹き起こされ、このために
光路に偏光子が必要になってくる。
電流がグラファイト管を通って長手方向ではなくて、周
方向に案内される、原子吸収スペクトロメータにおける
試料の電熱式原子化に対する炉が公知である。このため
の例は、米国特許第４４０７５８２号明細書および西独
国特許公開第３５３４４１７号公報並びに実質的に内容
の等しい刊行物“Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍｉｓ
ｔｒｙ ５８（１９８６）、１９７３である。
方向に案内される、原子吸収スペクトロメータにおける
試料の電熱式原子化に対する炉が公知である。このため
の例は、米国特許第４４０７５８２号明細書および西独
国特許公開第３５３４４１７号公報並びに実質的に内容
の等しい刊行物“Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍｉｓ
ｔｒｙ ５８（１９８６）、１９７３である。
未公開の西独国特許出願第３７２６５３３゜４号明細書
によって、原子吸収スペクトロスコープにおける電熱式
原子化のための横断方向加熱される管状の炉に電流を供
給するための２つの接触部材を有する接触部材−装置が
公知であり、その際管状の炉は長手方向に延在する、直
径をはさんで対向する接触部材リブを有している。軸線
が炉の軸線および測光束の走行方向に対して垂直方向に
延在する、この接触部材−装置の接触部材は作動状態に
おいて中空室を形成する。この中空室に管状の炉が収容
される。そこで炉は接触部材のＶ字形の溝の間に保持さ
れる。中空室は実質的に、接触部材の１つにおける凹所
によって形成される。この凹所は別の接触部材によって
分離ギャップまで被覆される。
によって、原子吸収スペクトロスコープにおける電熱式
原子化のための横断方向加熱される管状の炉に電流を供
給するための２つの接触部材を有する接触部材−装置が
公知であり、その際管状の炉は長手方向に延在する、直
径をはさんで対向する接触部材リブを有している。軸線
が炉の軸線および測光束の走行方向に対して垂直方向に
延在する、この接触部材−装置の接触部材は作動状態に
おいて中空室を形成する。この中空室に管状の炉が収容
される。そこで炉は接触部材のＶ字形の溝の間に保持さ
れる。中空室は実質的に、接触部材の１つにおける凹所
によって形成される。この凹所は別の接触部材によって
分離ギャップまで被覆される。
保護ガス通路が上記の溝につながっている。
未公開の西独国特許出願第３７３５０１３゜７号明細書
によって、原子吸収スペクトロスコープにおいて試料を
電熱式に原子化するための管状の炉が公知である。この
炉は、対向する側に接触部材突起が取り付けられている
管状の炉体を含んでいる。これら接触部材突起は、管状
の、本来の炉体に沿って延在するリブを有しており、こ
れらリブに円筒状の接続部材の円錐形の接触面が接続さ
れている。接触部材のリブはくびれ部を有している。こ
のようなくびれ部は西独国特許出願第３７３５０１３．
７号明細書では円筒状のねじ込みによって形成されてい
るこの構造によって炉体に沿って−様な温度を得ようと
する。接触部材−装置は、上述の西独国特許出願第３７
２６５３３．４号明細書と類似している。
によって、原子吸収スペクトロスコープにおいて試料を
電熱式に原子化するための管状の炉が公知である。この
炉は、対向する側に接触部材突起が取り付けられている
管状の炉体を含んでいる。これら接触部材突起は、管状
の、本来の炉体に沿って延在するリブを有しており、こ
れらリブに円筒状の接続部材の円錐形の接触面が接続さ
れている。接触部材のリブはくびれ部を有している。こ
のようなくびれ部は西独国特許出願第３７３５０１３．
７号明細書では円筒状のねじ込みによって形成されてい
るこの構造によって炉体に沿って−様な温度を得ようと
する。接触部材−装置は、上述の西独国特許出願第３７
２６５３３．４号明細書と類似している。
発明が解決しようとする問題点
本発明の課題は、冒頭に述べた形式の原子吸収スペクト
ロメータにおける改善された有効信号を得ることである
。
ロメータにおける改善された有効信号を得ることである
。
本発明の別の課題は、冒頭に述べた形式の原子吸収スペ
クトロメータにおいて、従来の“ゼーマン”原子吸収ス
ペクトロメータにおいて可能であったよりも一層一様な
、炉体に沿った温度経過が得られるようにすることであ
る。
クトロメータにおいて、従来の“ゼーマン”原子吸収ス
ペクトロメータにおいて可能であったよりも一層一様な
、炉体に沿った温度経過が得られるようにすることであ
る。
問題点を解決するための手段
本発明によれば上述の課題は、次の組み合わせによって
解決される： （ａ）原子吸収スペクトロメータの測光束の走行方向を
横断する方向において加熱される、試料の電熱式の原子
化に対する炉を備え、（ｂ）前記試料の配置場所に、測
光束の走行方向に対して平行に延在する磁界を発生する
ための切換可能な電磁石を備え、それにより磁石の投入
接続の際に吸収線の縦方向ゼーマン効果が生じるように
する。
解決される： （ａ）原子吸収スペクトロメータの測光束の走行方向を
横断する方向において加熱される、試料の電熱式の原子
化に対する炉を備え、（ｂ）前記試料の配置場所に、測
光束の走行方向に対して平行に延在する磁界を発生する
ための切換可能な電磁石を備え、それにより磁石の投入
接続の際に吸収線の縦方向ゼーマン効果が生じるように
する。
更に、請求項５記載の構成によれば、
（ａ）測光束を発生する、線放射する第１の光源に対し
て付加的に、該線放射する第１の光源と交互に作動接続
される、バックグラウンド補償のための連続放射する第
２の光源が設けられでおり、かつ （ｂ）部分透過性の鏡を選択的に光路内に旋回可能とし
、該鏡によって前記第２の光源がら放射される光束が測
光束の光路内に反射可能とする ことが可能である。
て付加的に、該線放射する第１の光源と交互に作動接続
される、バックグラウンド補償のための連続放射する第
２の光源が設けられでおり、かつ （ｂ）部分透過性の鏡を選択的に光路内に旋回可能とし
、該鏡によって前記第２の光源がら放射される光束が測
光束の光路内に反射可能とする ことが可能である。
本発明の別の構成は、その他の請求項に記載されている
。
。
実施例
次に本発明を図示の実施例につき図面を用いて詳細に説
明する。
明する。
第１図には、原子吸収スペクトロメータ全体が暗示され
ている。
ている。
原子吸収スペクトロメータは、その中にランプ、光学系
および光電検出器が収容されているケーシング１０を有
している。ケーシング１０は試料室１２を形成する。試
料室１２には原子化装置１４が配設されている。
および光電検出器が収容されているケーシング１０を有
している。ケーシング１０は試料室１２を形成する。試
料室１２には原子化装置１４が配設されている。
原子吸収スペクトロメータは第１の光源１６として中空
カソードランプ１６を有している。
カソードランプ１６を有している。
光源１６は、所定の、探査される元素の共振線に相応す
る線スペクトルを放射する。光源１６から測光束１８が
出ていく。測光束１８は平面鏡２０によって方向変換さ
れかつ凹面鏡２２によってケーシング１０の開口２４を
通って試料室の真ん中に集められる。それから測光束は
開口２４と心が合うように整列されている、ケーシング
１０の開口２６から出てかつ第２の凹面鏡２８に入射す
る。この第２の凹面鏡２８がら測光束１８は平面鏡３０
を介してモノクロメータ３４の入射スリット３２に集束
される。モノクロメータ３４の出射スリット３４の後方
に光電検出器３８が配設されている。光電検出器３８の
信号は信号処理回路４０に加えられる。
る線スペクトルを放射する。光源１６から測光束１８が
出ていく。測光束１８は平面鏡２０によって方向変換さ
れかつ凹面鏡２２によってケーシング１０の開口２４を
通って試料室の真ん中に集められる。それから測光束は
開口２４と心が合うように整列されている、ケーシング
１０の開口２６から出てかつ第２の凹面鏡２８に入射す
る。この第２の凹面鏡２８がら測光束１８は平面鏡３０
を介してモノクロメータ３４の入射スリット３２に集束
される。モノクロメータ３４の出射スリット３４の後方
に光電検出器３８が配設されている。光電検出器３８の
信号は信号処理回路４０に加えられる。
原子化装置１４は、電熱式原子化のための炉、および試
料の配置場所に磁界を発生するための投入および遮断可
能な電磁石４４を含んでいる。炉のうち第１図には本来
の炉体４２しか図示されていない。電磁石４４は２つの
心が合うように整列されている磁極片４６および４８を
有しており、両磁極片の間に炉体４２が装着されている
。磁極片４６および４８には整列されている貫通孔５０
および５２があけられているこれら貫通孔５０および５
２は炉体４２の長手孔５４と整列されている。測光束１
８は孔５０および５２並びに炉体の長手孔を通って延在
している。磁極片４６および４８にコイル保持体５６な
いし５８が固着されている。このコイル保持体５６およ
び５８に電磁石４４のコイル６０ないし６２が巻き付け
られている。６４は、炉体４２を流れる電流を制御する
電源部である。図かられかるように、電流は測光束１８
の走行方向を横断する方向に供給されかつ管状の炉体４
２を周方向において流れる。電磁石４４は磁石制御部６
６によって、磁界が交互に投入および遮断されるように
制御される。電磁石４４の磁界は炉体内の試料の配置場
所において測光束１８の走行方向において延在する。そ
れ故に磁界が投入されているとき、試料原子に縦方向ゼ
ーマン効果が発生される。すなわち、試料原子の吸収線
はその都度、雑音の影響を受けていない本来の吸収線に
比べてシフトしている２つの線に分裂される。本来の吸
収線の波長においてもはや試料中の原子吸収が生じない
。それ故に探査される元素の原子も測光束１８をもはや
吸収しない。その理由はこの測光束が、元素を特徴付け
るずれていない共振線しか含んでいないからである。そ
れ故に磁界が投入されているときにはバックグラウンド
吸収のみが測定される。磁界の投入および遮断時の測定
から、バックグラウンド吸収に関して補正された、真の
原子吸収の成分を測定することができる。この目的のた
めに電磁石４４の投入および遮断のタイミングは、線６
８によって図示されているように、信号評価回路４０に
供給される。縦方向ゼーマン効果の使用によって光路に
おける偏光子は不必要になりかつ有効信号は改善される
。
料の配置場所に磁界を発生するための投入および遮断可
能な電磁石４４を含んでいる。炉のうち第１図には本来
の炉体４２しか図示されていない。電磁石４４は２つの
心が合うように整列されている磁極片４６および４８を
有しており、両磁極片の間に炉体４２が装着されている
。磁極片４６および４８には整列されている貫通孔５０
および５２があけられているこれら貫通孔５０および５
２は炉体４２の長手孔５４と整列されている。測光束１
８は孔５０および５２並びに炉体の長手孔を通って延在
している。磁極片４６および４８にコイル保持体５６な
いし５８が固着されている。このコイル保持体５６およ
び５８に電磁石４４のコイル６０ないし６２が巻き付け
られている。６４は、炉体４２を流れる電流を制御する
電源部である。図かられかるように、電流は測光束１８
の走行方向を横断する方向に供給されかつ管状の炉体４
２を周方向において流れる。電磁石４４は磁石制御部６
６によって、磁界が交互に投入および遮断されるように
制御される。電磁石４４の磁界は炉体内の試料の配置場
所において測光束１８の走行方向において延在する。そ
れ故に磁界が投入されているとき、試料原子に縦方向ゼ
ーマン効果が発生される。すなわち、試料原子の吸収線
はその都度、雑音の影響を受けていない本来の吸収線に
比べてシフトしている２つの線に分裂される。本来の吸
収線の波長においてもはや試料中の原子吸収が生じない
。それ故に探査される元素の原子も測光束１８をもはや
吸収しない。その理由はこの測光束が、元素を特徴付け
るずれていない共振線しか含んでいないからである。そ
れ故に磁界が投入されているときにはバックグラウンド
吸収のみが測定される。磁界の投入および遮断時の測定
から、バックグラウンド吸収に関して補正された、真の
原子吸収の成分を測定することができる。この目的のた
めに電磁石４４の投入および遮断のタイミングは、線６
８によって図示されているように、信号評価回路４０に
供給される。縦方向ゼーマン効果の使用によって光路に
おける偏光子は不必要になりかつ有効信号は改善される
。
ケーシング１０に、連続放射する第２の光源７０が配設
されている。この第２の光源はジューチリウムランプで
ある。第２の光源７０は光束７２を放射する。第２の光
源７０からの光束７２は光路に選択的に挿入接続可能な
ビームスプリッタ７４を介して測光束１８の光路内に旋
回されて入ることができる。第１および第２の光源１６
ないし７０は高速に順次交互に挿入接続することができ
、その結果第１の光源（中空カソードランプ）１６から
の線スペクトルを有する測光束１８または第２の光源（
ジュートリウムランプ）からの連続スペクトルを有する
測光束が交互に炉体中に形成された原子雲を通っていく
。挿入接続されるビームスプリッタ７４を用いたこの作
動法では電磁石は遮断されている。その場合バックグラ
ウンド吸収は、第１の光源の非常に狭いスペクトル線の
吸収およびこのスペクトル線に比べて広範な、モノクロ
メータ３４によって規定される、連続ビームの幅の吸収
を交互に測定することによって、検出することができる
。第１の光源と第２の光源との間の交代は５００Ｈｚ以
上の周波数、すなわち１０００Ｈｚによって行われる。
されている。この第２の光源はジューチリウムランプで
ある。第２の光源７０は光束７２を放射する。第２の光
源７０からの光束７２は光路に選択的に挿入接続可能な
ビームスプリッタ７４を介して測光束１８の光路内に旋
回されて入ることができる。第１および第２の光源１６
ないし７０は高速に順次交互に挿入接続することができ
、その結果第１の光源（中空カソードランプ）１６から
の線スペクトルを有する測光束１８または第２の光源（
ジュートリウムランプ）からの連続スペクトルを有する
測光束が交互に炉体中に形成された原子雲を通っていく
。挿入接続されるビームスプリッタ７４を用いたこの作
動法では電磁石は遮断されている。その場合バックグラ
ウンド吸収は、第１の光源の非常に狭いスペクトル線の
吸収およびこのスペクトル線に比べて広範な、モノクロ
メータ３４によって規定される、連続ビームの幅の吸収
を交互に測定することによって、検出することができる
。第１の光源と第２の光源との間の交代は５００Ｈｚ以
上の周波数、すなわち１０００Ｈｚによって行われる。
基準光源として連続放射する第２の光源を用いた作動法
では、電磁石４４を用いたゼーマン効果を利用した場合
に検出することができない、バックグラウンド吸収の比
較的迅速な変化を検出することができる。電磁石４４は
比較的慣性が大なので、原子吸収測定とバックグラウン
ド測定との交代の周波数には制約がある。縦方向ゼーマ
ン効果によって光路には偏光子が必要でない。それ故に
電磁石の遮断後原子吸収スペクトメータは、偏光子およ
び付加的にビームスプリッタ７４による２重の光減衰が
生じることもなく、連続放射する第２の光源７０によっ
て動作することができる。
では、電磁石４４を用いたゼーマン効果を利用した場合
に検出することができない、バックグラウンド吸収の比
較的迅速な変化を検出することができる。電磁石４４は
比較的慣性が大なので、原子吸収測定とバックグラウン
ド測定との交代の周波数には制約がある。縦方向ゼーマ
ン効果によって光路には偏光子が必要でない。それ故に
電磁石の遮断後原子吸収スペクトメータは、偏光子およ
び付加的にビームスプリッタ７４による２重の光減衰が
生じることもなく、連続放射する第２の光源７０によっ
て動作することができる。
電磁石４４および炉を有する原子化装置の構造は第２図
および第３図に詳細に図示されている。
および第３図に詳細に図示されている。
電磁石４４は、成層化鉄心から成るＵ字形の磁束帰路部
材７６および整列されている磁極片４６．４８を有して
いる。磁極片４６および４８は円筒形でありかつ互いに
向き合う端面がさい頭内錐形状に先細になっている。磁
極片４６および４８は、Ｕ字形の磁束帰路部材７６の脚
部に取り付けられておりかつそれより内方向に突出して
いる、同じく心合わせされて整列されている終端部材７
８ないし８０に固着されている。磁極片４６および４８
および終端部材７８ないし８０を通って、心合わせされ
て整列されている貫通孔５０ないし５２が延在している
。
材７６および整列されている磁極片４６．４８を有して
いる。磁極片４６および４８は円筒形でありかつ互いに
向き合う端面がさい頭内錐形状に先細になっている。磁
極片４６および４８は、Ｕ字形の磁束帰路部材７６の脚
部に取り付けられておりかつそれより内方向に突出して
いる、同じく心合わせされて整列されている終端部材７
８ないし８０に固着されている。磁極片４６および４８
および終端部材７８ないし８０を通って、心合わせされ
て整列されている貫通孔５０ないし５２が延在している
。
磁極片４６および４８において貫通孔５０ないし５２は
、測光束を炉体４２の中心に集束することができるよう
に、円錐状の内壁を有している。終端部材７８および８
０の領域において貫通孔５０ないし５２は肩状部８２を
形成している。貫通孔５０および５２にウィンドウホル
ダ８４ないし８６が挿入されかつ０リング８８によって
シールされている。ウィンドウホルダ８４および８６に
は、反射を避けるためにウィンドウホルダ８４ないし８
６に斜めに配設されておりかつパツキンリング９２によ
って保持されるウィンドウ９０が装着されている。
、測光束を炉体４２の中心に集束することができるよう
に、円錐状の内壁を有している。終端部材７８および８
０の領域において貫通孔５０ないし５２は肩状部８２を
形成している。貫通孔５０および５２にウィンドウホル
ダ８４ないし８６が挿入されかつ０リング８８によって
シールされている。ウィンドウホルダ８４および８６に
は、反射を避けるためにウィンドウホルダ８４ないし８
６に斜めに配設されておりかつパツキンリング９２によ
って保持されるウィンドウ９０が装着されている。
磁極片４６および４８に、アルミニウムのような非磁性
材料から成る統合ユニット９４が固着されている。この
ユニットは一方において、磁気コイル６０ないし６２が
巻き付けられているコイル保持体５６および５８を形成
し、他方においてその間に炉を保持する接触部材のうち
１つを支持する接触部材支持体９６を形成する。磁気コ
イル６０および６２は第２図および第３図にはわかりや
すくために図示されていないコイル保持体５６および５
８は、２つのフランジ９８および１００ないし１０２お
よび１０４およびボス部分１０６ないし１０８を有する
巻型形状の部材によって形成されている。ボス部分１０
６および１０８は磁極片４６ないし４８の形状に整合さ
れている。２つのコイル保持体５６および５８の互いに
向き合っている７ランジ１００および１０２の間に、孔
１１２を有するブロック１１０が装着されている。孔１
１２において、その外面にミアンダ状の溝１１６を有す
る挿入体１１４が装着されており、その際溝は孔１１２
の内面とともに冷却通路を形成している。この冷却通路
は冷却液に対する入口１１８および出口１２０に接続さ
れている。挿入体は、保護ガス用人口１２４が設けられ
ているヘッド部１２２を有している。挿入体１１４を通
って軸線方向孔１２６が延在しているが、この孔は第３
図では左側の端部で閉鎖されている。この軸線方向孔に
接触部材１２８が装着されており、この接触部材によっ
て電熱式の原子化のための炉１３０が一方の側において
保持されておりかつを接触部材を介して炉１３０に対す
る電流供給も行われる。
材料から成る統合ユニット９４が固着されている。この
ユニットは一方において、磁気コイル６０ないし６２が
巻き付けられているコイル保持体５６および５８を形成
し、他方においてその間に炉を保持する接触部材のうち
１つを支持する接触部材支持体９６を形成する。磁気コ
イル６０および６２は第２図および第３図にはわかりや
すくために図示されていないコイル保持体５６および５
８は、２つのフランジ９８および１００ないし１０２お
よび１０４およびボス部分１０６ないし１０８を有する
巻型形状の部材によって形成されている。ボス部分１０
６および１０８は磁極片４６ないし４８の形状に整合さ
れている。２つのコイル保持体５６および５８の互いに
向き合っている７ランジ１００および１０２の間に、孔
１１２を有するブロック１１０が装着されている。孔１
１２において、その外面にミアンダ状の溝１１６を有す
る挿入体１１４が装着されており、その際溝は孔１１２
の内面とともに冷却通路を形成している。この冷却通路
は冷却液に対する入口１１８および出口１２０に接続さ
れている。挿入体は、保護ガス用人口１２４が設けられ
ているヘッド部１２２を有している。挿入体１１４を通
って軸線方向孔１２６が延在しているが、この孔は第３
図では左側の端部で閉鎖されている。この軸線方向孔に
接触部材１２８が装着されており、この接触部材によっ
て電熱式の原子化のための炉１３０が一方の側において
保持されておりかつを接触部材を介して炉１３０に対す
る電流供給も行われる。
接触部材１２８は、軸線方向の孔１２６に装着されてい
る軸部１３２、およびヘッド部１３４を有している。ヘ
ッド部１３４はその端面において切欠き１３６を有して
いる。この切欠き１３６は端面に接しているところで最
初横断面箇所１３８において円筒形でありがっそれがら
横断面箇所１４０において円錐形に狭まっていく。軸部
１３２に、切欠き１３６の底部までつながっている中央
の軸線方向孔１４２が延在している。円筒形状の横断面
箇所１３８において第３図の上側のヘッド部１３４に、
炉に試料を供給することができる半径方向の供給用開口
１４４が形成されている。
る軸部１３２、およびヘッド部１３４を有している。ヘ
ッド部１３４はその端面において切欠き１３６を有して
いる。この切欠き１３６は端面に接しているところで最
初横断面箇所１３８において円筒形でありがっそれがら
横断面箇所１４０において円錐形に狭まっていく。軸部
１３２に、切欠き１３６の底部までつながっている中央
の軸線方向孔１４２が延在している。円筒形状の横断面
箇所１３８において第３図の上側のヘッド部１３４に、
炉に試料を供給することができる半径方向の供給用開口
１４４が形成されている。
電磁石４４の磁束帰路部材７６は、横断面がＵ字形の薄
板部分１４６によって取り囲まれており、この薄板部分
内に支承部材１４８がボルト１５０によって保持されて
いる。支承部材のピン軸１５２に旋回アーム１５４が軸
受ブッシュ１５６を介して旋回可能に支承されている。
板部分１４６によって取り囲まれており、この薄板部分
内に支承部材１４８がボルト１５０によって保持されて
いる。支承部材のピン軸１５２に旋回アーム１５４が軸
受ブッシュ１５６を介して旋回可能に支承されている。
旋回アーム１５４に可動のブロック１５８が固着されて
いる。このブロック１５８はブロック１１０と類似して
孔１６０を有している。この孔１６０には挿入体１１４
と類似した挿入体１６２が装着されている。この挿入体
１６２はその外面に、孔１６０の内面とともに冷却通路
を形成するミアンダ状の溝１６４を有している。
いる。このブロック１５８はブロック１１０と類似して
孔１６０を有している。この孔１６０には挿入体１１４
と類似した挿入体１６２が装着されている。この挿入体
１６２はその外面に、孔１６０の内面とともに冷却通路
を形成するミアンダ状の溝１６４を有している。
この冷却通路はその端部が、冷却液に対する入口用接続
部１６６および出口用接続部１６８に接続されている。
部１６６および出口用接続部１６８に接続されている。
挿入体１６２はヘッド部１７０を有している。中央の軸
線方向の孔１７２は挿入体１６２およびヘッド部１７０
を通って延在している。軸線方向の孔１７２は第３図の
右側においてウィンドウによって閉鎖されているこの軸
線方向の孔１７２に保護ガス接続部１７４がつながって
いる。軸線方向の孔１７２には接触部材１７６が装着さ
れている。接触部材１７６は円筒形の軸部１７８および
ヘッド部１８０を有している。ヘッド部１８０の端面に
おいて円錐形の凹部１８２が形成されている。この凹部
Ｌ８２は横断面箇所１４０の凹部にほぼ相応する。接触
部材１７６の軸部１７８に、孔１４２に類似した中央の
軸線方向の孔１８４が延在している。
線方向の孔１７２は挿入体１６２およびヘッド部１７０
を通って延在している。軸線方向の孔１７２は第３図の
右側においてウィンドウによって閉鎖されているこの軸
線方向の孔１７２に保護ガス接続部１７４がつながって
いる。軸線方向の孔１７２には接触部材１７６が装着さ
れている。接触部材１７６は円筒形の軸部１７８および
ヘッド部１８０を有している。ヘッド部１８０の端面に
おいて円錐形の凹部１８２が形成されている。この凹部
Ｌ８２は横断面箇所１４０の凹部にほぼ相応する。接触
部材１７６の軸部１７８に、孔１４２に類似した中央の
軸線方向の孔１８４が延在している。
第３図に図示されている、旋回アーム１５４の動作位置
において、炉１３０は円錐形の接触面１８６および１８
８によって接触部材１２８と１７６との間に保持される
。その際接触部材１２８および１７６の軸線は一線を成
すように整列されている。また、ブロック１１０および
１５８、挿入体１１４および１６２および接触部材１２
８および１７６を介して電流が炉１３０に案内される。
において、炉１３０は円錐形の接触面１８６および１８
８によって接触部材１２８と１７６との間に保持される
。その際接触部材１２８および１７６の軸線は一線を成
すように整列されている。また、ブロック１１０および
１５８、挿入体１１４および１６２および接触部材１２
８および１７６を介して電流が炉１３０に案内される。
この目的のためにブロック１１０および挿入体１６２は
、高電流通路に対する差し込み接続部１９０ないし１９
２を備えている。
、高電流通路に対する差し込み接続部１９０ないし１９
２を備えている。
炉１３０は、第２図においてもっともよくわかる本来の
炉体４２を含んでいる。炉体４２に沿って、第３図にお
いて見て取れる直径をはさんで向かい合う接触部材リブ
１９４および１９６が延在している。これら接触部材リ
ブ１９４および１９６に、実質的に円筒形の接続部材１
９８および２００が接続されており、これら接続部材の
円錐形の接触面１８６および１８８が接触部材１２８お
よび１７６の間に保持されている。従ってこれら接続部
材１９８および２００の軸線は、第３図の図平面におい
て接触部材１２８および１７６の軸線と一線を成すよう
に整列されておりかつ測光束１８と一線を成すように整
列されている、炉体４２の軸線に対して垂直方向に位置
している。第２図および第３図の上側にあるこれら２つ
の軸線に対して垂直方向に炉体４２中に、供給用開口部
１４４と一線を成すように整列されておりかつ試料を炉
１３０に供給することができる供給用開口部が設けられ
ている。
炉体４２を含んでいる。炉体４２に沿って、第３図にお
いて見て取れる直径をはさんで向かい合う接触部材リブ
１９４および１９６が延在している。これら接触部材リ
ブ１９４および１９６に、実質的に円筒形の接続部材１
９８および２００が接続されており、これら接続部材の
円錐形の接触面１８６および１８８が接触部材１２８お
よび１７６の間に保持されている。従ってこれら接続部
材１９８および２００の軸線は、第３図の図平面におい
て接触部材１２８および１７６の軸線と一線を成すよう
に整列されておりかつ測光束１８と一線を成すように整
列されている、炉体４２の軸線に対して垂直方向に位置
している。第２図および第３図の上側にあるこれら２つ
の軸線に対して垂直方向に炉体４２中に、供給用開口部
１４４と一線を成すように整列されておりかつ試料を炉
１３０に供給することができる供給用開口部が設けられ
ている。
接触部材１２８および１７６はそれらの凹所１３６およ
び１８２で、炉１３０を収容する中空室を形成している
。その際接触部材１２８および１７６は比較的狭い分離
ギャップ２０２によってのみ相互に分離されている。（
図示されていない）ニューマチック旋回装置によって旋
回アーム１５４は第３図において時計の指針の進行方向
に旋回することができる。これは第３図では矢印によっ
て示されている。これにより挿入体１６２および接触部
材１７６を有するブロック１５８が戻し旋回されかつ炉
１３０は接近操作可能になる。このようにして炉１３０
の交換を行うことができる。保護ガス接続部１２４およ
び１７４を介して保護ガスが供給されるこの保護ガスは
孔１２６ないし１７２および軸線方向の孔１４２ないし
１８４を介して炉１３０の接続部材１９８ないし２００
に流れる。
び１８２で、炉１３０を収容する中空室を形成している
。その際接触部材１２８および１７６は比較的狭い分離
ギャップ２０２によってのみ相互に分離されている。（
図示されていない）ニューマチック旋回装置によって旋
回アーム１５４は第３図において時計の指針の進行方向
に旋回することができる。これは第３図では矢印によっ
て示されている。これにより挿入体１６２および接触部
材１７６を有するブロック１５８が戻し旋回されかつ炉
１３０は接近操作可能になる。このようにして炉１３０
の交換を行うことができる。保護ガス接続部１２４およ
び１７４を介して保護ガスが供給されるこの保護ガスは
孔１２６ないし１７２および軸線方向の孔１４２ないし
１８４を介して炉１３０の接続部材１９８ないし２００
に流れる。
それから保護ガスは後で説明する通路を介して炉１３０
に分配される。接触部材１２８および１７６並びに炉１
３０はグラファイトから製造されている。保護ガスは、
炉１３０の加熱、従って燃焼の際に炉１３０に空気中の
酸素が入り込むことがないようにする。
に分配される。接触部材１２８および１７６並びに炉１
３０はグラファイトから製造されている。保護ガスは、
炉１３０の加熱、従って燃焼の際に炉１３０に空気中の
酸素が入り込むことがないようにする。
１ｇ２図かられかるように、接触部材１２８と磁極片４
８の端面との間に測光束に対する中央の貫通孔を有する
遮蔽板２０４が装着されている。被覆板２０４は、この
遮蔽板２０４の平面において高い熱伝導率を有しかつこ
の平面に対して垂直な方向において低い熱伝導率を有す
る熱分解性の炭素から成っている。このようにして磁極
片４８は炉１３０および接触部材１２８の高温に対して
遮蔽される。
８の端面との間に測光束に対する中央の貫通孔を有する
遮蔽板２０４が装着されている。被覆板２０４は、この
遮蔽板２０４の平面において高い熱伝導率を有しかつこ
の平面に対して垂直な方向において低い熱伝導率を有す
る熱分解性の炭素から成っている。このようにして磁極
片４８は炉１３０および接触部材１２８の高温に対して
遮蔽される。
挿入体１６２および接触部材１７６における軸線方向孔
１７２および１８４並びに接続部材２００および接触部
材条片１９６は同時に、高温計光路２０８を形成するた
めに用いられる。
１７２および１８４並びに接続部材２００および接触部
材条片１９６は同時に、高温計光路２０８を形成するた
めに用いられる。
この光路において光線検出器２１０から結像系２１２を
用いて炉体４２の壁の一部が観察される。光線検出器２
１０の信号は、炉体４２の温度に対する尺度を表してい
るので、炉温度の調整のために使用することができる。
用いて炉体４２の壁の一部が観察される。光線検出器２
１０の信号は、炉体４２の温度に対する尺度を表してい
るので、炉温度の調整のために使用することができる。
第６図および第７図は、遮蔽板２０４を有する接触部材
１２８自体を示している。第８図は対向する接触部材を
示している。
１２８自体を示している。第８図は対向する接触部材を
示している。
第９図ないし第１１図には炉１３０が詳しく図示されて
いる。
いる。
第９図ないし第１１図の炉において２２０で、その基本
形において上側の平坦な面２２２および下側の平坦な面
２２４を有するプレートを形成するグラファイト部材が
示されている。グラファイト部材２２０は、平面で見て
実質的に規則的な８角形をしている中央部分２２６を有
している。この８角形の直径を挟んで対向する２つの辺
に、接続部材１９８および２００を形成する突起が固着
されている。これら接続部材１９８および２００は円筒
形の周面２３２ないし２３４を有しているが、平坦な面
２２２ないし２２４によって上側および下側において制
限されておりかつこれにより偏平に切取られている。接
続部材１９８および２００は円錐形の接触面１８６ない
し１８８を有している。これらの接触面１８６および１
８８によって炉１３０は、電流供給を行う装置側の接触
部材１２８および１７６の間に保持されている。
形において上側の平坦な面２２２および下側の平坦な面
２２４を有するプレートを形成するグラファイト部材が
示されている。グラファイト部材２２０は、平面で見て
実質的に規則的な８角形をしている中央部分２２６を有
している。この８角形の直径を挟んで対向する２つの辺
に、接続部材１９８および２００を形成する突起が固着
されている。これら接続部材１９８および２００は円筒
形の周面２３２ないし２３４を有しているが、平坦な面
２２２ないし２２４によって上側および下側において制
限されておりかつこれにより偏平に切取られている。接
続部材１９８および２００は円錐形の接触面１８６ない
し１８８を有している。これらの接触面１８６および１
８８によって炉１３０は、電流供給を行う装置側の接触
部材１２８および１７６の間に保持されている。
８角形の、接続部材１９８，２００を有する辺に垂直で
ある辺は、貫通孔２４０によって接続されている。この
貫通孔２４０の軸線２４２は接続部材の軸線２４４に対
して垂直方向に延びている。中心部分２２６の、貫通孔
２４０を介して接続されている辺間の部分が、炉体４２
を形成している。
ある辺は、貫通孔２４０によって接続されている。この
貫通孔２４０の軸線２４２は接続部材の軸線２４４に対
して垂直方向に延びている。中心部分２２６の、貫通孔
２４０を介して接続されている辺間の部分が、炉体４２
を形成している。
炉体４２の２つの辺に接触部材リブ１９４および１９６
が続いている。これら接触部材リブ１９４および１９６
は第１０図の平面図において台形をしている。接触部材
リブ１９４および１９６は平坦な面２２２および２２４
によって上側および下側において制限されておりかつ辺
は斜めに延びている側面２５２，２５４ないし２５６．
２５８によって制限されている。台形の平行な長い方の
辺は炉体４２に接している。
が続いている。これら接触部材リブ１９４および１９６
は第１０図の平面図において台形をしている。接触部材
リブ１９４および１９６は平坦な面２２２および２２４
によって上側および下側において制限されておりかつ辺
は斜めに延びている側面２５２，２５４ないし２５６．
２５８によって制限されている。台形の平行な長い方の
辺は炉体４２に接している。
狭い方の辺はそれぞれ、８角形の最初に述べた辺であり
かつ接続部材１９８ないし２００を支持している。接触
部材リブ１９４および１９６は横断面が縮小された領域
を有している。
かつ接続部材１９８ないし２００を支持している。接触
部材リブ１９４および１９６は横断面が縮小された領域
を有している。
第９図ないし第１１図に図示の炉において、炉体４２の
中央領域に沿ってスリット２９２および２９６，２９８
を通って平坦な面２２２および２２４に電流供給するた
めに横断面が縮小されている。これらスリットは炉体４
２の軸線２４２に対して平行であって、側面２５２．２
５４ないし２５６．２５８から間隔をおいた所で終わっ
ている。第９図かられかるように、スリット、例えば２
９６および２９８は保護ガス通路、例えば２０６から始
まっている。それ故に保護ガス通路を介して流れる保護
ガスは開口３００および３０２を通ってスリット２９６
゜２９８に入りかつ両側のこれらスリットを通って、炉
体４２全体に沿って出ていく。
中央領域に沿ってスリット２９２および２９６，２９８
を通って平坦な面２２２および２２４に電流供給するた
めに横断面が縮小されている。これらスリットは炉体４
２の軸線２４２に対して平行であって、側面２５２．２
５４ないし２５６．２５８から間隔をおいた所で終わっ
ている。第９図かられかるように、スリット、例えば２
９６および２９８は保護ガス通路、例えば２０６から始
まっている。それ故に保護ガス通路を介して流れる保護
ガスは開口３００および３０２を通ってスリット２９６
゜２９８に入りかつ両側のこれらスリットを通って、炉
体４２全体に沿って出ていく。
保護ガス通路２０６は軸線２４４に沿って接続部材１９
８および２００内に延びている。保護ガス通路は中央部
分２２６まで延在している。保護ガス通路を介して保護
ガスが装置の側の接触部材１２８．１７６から保護通路
２０６を通って供給されるとき、この保護ガスはスリッ
ト２９６，２９８を介して分配されかつ炉１３０に４方
から噴霧される。これにより炉への空気の侵入、従って
高い原子化温度の際の炉の燃焼が妨げられる。
８および２００内に延びている。保護ガス通路は中央部
分２２６まで延在している。保護ガス通路を介して保護
ガスが装置の側の接触部材１２８．１７６から保護通路
２０６を通って供給されるとき、この保護ガスはスリッ
ト２９６，２９８を介して分配されかつ炉１３０に４方
から噴霧される。これにより炉への空気の侵入、従って
高い原子化温度の際の炉の燃焼が妨げられる。
炉体４２の中央領域において電流供給に対して横断面を
縮小したことによって、特別−様な温度分配が実現され
る。
縮小したことによって、特別−様な温度分配が実現され
る。
炉体４２は、分析すべき試料を炉に供給することができ
る供給用開口２８２を有している。
る供給用開口２８２を有している。
この供給用開口２８２の軸線２８４は、炉体４２および
接続部材１９８，２００の軸線２４２および２４４に対
して垂直方向である。
接続部材１９８，２００の軸線２４２および２４４に対
して垂直方向である。
発明の効果
本発明によれば、グラファイト製炉に電流が測光束の方
向を横断する方向において供給される。これにより一様
な温度分布が得られる。それにも拘わらず磁界が測光束
の走行方向において発生されることで、グラファイト製
炉の一方の側を試料の供給のｊ；めに使用することがで
きる。
向を横断する方向において供給される。これにより一様
な温度分布が得られる。それにも拘わらず磁界が測光束
の走行方向において発生されることで、グラファイト製
炉の一方の側を試料の供給のｊ；めに使用することがで
きる。
本発明の別の利点は、試料に縦方向ゼーマン効果、従っ
て中央線なしの吸収線の分裂が本来の波長において生じ
ることである。それ故に、この種の中央線を光路に偏光
子を配設することで取り除く必要がない。これにより改
善された有効信号が得られる。
て中央線なしの吸収線の分裂が本来の波長において生じ
ることである。それ故に、この種の中央線を光路に偏光
子を配設することで取り除く必要がない。これにより改
善された有効信号が得られる。
Ｗｃ１図はバックグラウンド吸収が縦方向ゼーマン効果
を利用して補償される、原子吸収スペクトロメータの構
成全体を暗示するブロック線図であり、第２図は縦方向
ゼーマン効果が発生される電磁石と、該電磁石のギャッ
プにおいて試料を電熱式に原子化するための炉とを、一
部断面にて示す側面図であり、第３図は第２図の線■−
■に沿って切断して見た断面図であり、第４図は炉の保
持のための接触部材の１つおよび炉への電流供給部を支
持する接触部材支持体そのものと、該接点支持体ととも
に統合ユニットを形成するコイル保持体とを第２図と類
似した側面において示す図であり、第５図は第４図の構
成部分の平面図であり、第６図は第２図と類似した、炉
を一方の側において保持している接触部材の概略図であ
り、第７図は第６図の線■−■に沿って切断して見た断
面図であり、第８図は第６図と類似した、対向接触部材
の概略図であり、第９図は第１図ないし第３図の原子吸
収スペクトロメータにおける試料の電熱式原子化のため
の炉そのものを第３図に類似して、一部断面にて示す概
略図であり、第１０図は第９図の炉の平面図であり、第
１１図は炉を第９図の左側から見た、一部を断面にて示
す概略図である。 １２・・・試料室、１４・・・原子化装置、１６・・・
第１の光源、１８・・・測光束、４２・・・炉体、４４
・・・電磁石、４６．４８・・・磁極片、５６．５８・
・・コイル保持体、７０・・・第２の光源、９６・・・
接触部材支持体、１２８．１７６・・・接触部材、１３
０・・・炉 ″−４石１ １、ｉ：”Ｊ７弯 手 続 補 正 書 （方式） 事件の表示 平成 １ 発明の名称 年 特許願 第 号 原子吸収スペク トロメータ 補正をする者 事件との関係
を利用して補償される、原子吸収スペクトロメータの構
成全体を暗示するブロック線図であり、第２図は縦方向
ゼーマン効果が発生される電磁石と、該電磁石のギャッ
プにおいて試料を電熱式に原子化するための炉とを、一
部断面にて示す側面図であり、第３図は第２図の線■−
■に沿って切断して見た断面図であり、第４図は炉の保
持のための接触部材の１つおよび炉への電流供給部を支
持する接触部材支持体そのものと、該接点支持体ととも
に統合ユニットを形成するコイル保持体とを第２図と類
似した側面において示す図であり、第５図は第４図の構
成部分の平面図であり、第６図は第２図と類似した、炉
を一方の側において保持している接触部材の概略図であ
り、第７図は第６図の線■−■に沿って切断して見た断
面図であり、第８図は第６図と類似した、対向接触部材
の概略図であり、第９図は第１図ないし第３図の原子吸
収スペクトロメータにおける試料の電熱式原子化のため
の炉そのものを第３図に類似して、一部断面にて示す概
略図であり、第１０図は第９図の炉の平面図であり、第
１１図は炉を第９図の左側から見た、一部を断面にて示
す概略図である。 １２・・・試料室、１４・・・原子化装置、１６・・・
第１の光源、１８・・・測光束、４２・・・炉体、４４
・・・電磁石、４６．４８・・・磁極片、５６．５８・
・・コイル保持体、７０・・・第２の光源、９６・・・
接触部材支持体、１２８．１７６・・・接触部材、１３
０・・・炉 ″−４石１ １、ｉ：”Ｊ７弯 手 続 補 正 書 （方式） 事件の表示 平成 １ 発明の名称 年 特許願 第 号 原子吸収スペク トロメータ 補正をする者 事件との関係
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試料の電熱式の原子化およびゼーマン効果を利用し
たバックグラウンド補償が行われる原子吸収スペクトロ
メータにおいて、 （ａ）原子吸収スペクトロメータの測光束（１８）の走
行方向を横断する方向において加熱される、試料の電熱
式原子化に対する炉（１３０）を備え、 （ｂ）前記試料の配置場所に、前記測光束（１８）の走
行方向に対して平行に延在する磁界を発生するための切
換可能な電磁石（４４）を備え、それにより該電磁石（
４４）の投入接続の際に吸収線の縦方向ゼーマン効果が
生じるようにしたことを特徴とする原子吸収スペクトロ
メータ。 ２、（ａ）磁界を発生するための前記電磁石（４４）は
、前記測光束（１８）を通過させるように整列されてい
る貫通孔（５０、５２）を備えた磁極片（４６、４８）
を有し、かつ（ｂ）該磁極片（４６、４８）に接触部材
支持体（９６）が配設されており、該接触部材支持体に
おいて、軸線が前記測光束（１８）の軸線に対して垂直
方向に延在する接触部材（１２８、１７６）が、前記電
磁石（４４）のギャップにおいて前記試料を電熱式に原
子化するための前記測光束の走行方向を横断する方向に
加熱される炉（１３０）を保持しかつ該炉（１３０）に
電流を供給するために保持されていることを特徴とする
請求項１記載の原子吸収スペクトロメータ。 ３、磁界を発生するための磁気コイル（６０、６２）が
、前記電磁石（４４）の前記磁極片（４６、４８）に直
接配設されていることを特徴とする原子吸収スペクトロ
メータ。 ４、前記接触部材支持体（９６）は、磁気コイル（６０
、６２）を支持するコイル保持体（５６、５８）ととも
に、統合ユニットを形成し、該統合ユニットは前記コイ
ル保持体（５６、５８）とともに前記磁極片（４６、４
８）上に載着されていることを特徴とする請求項２記載
の原子吸収スペクトロメータ。 ５、（ａ）測光束（１８）を発生する、線放射する第１
の光源（１６）に付加的に、該線放射する第１の光源（
１６）と交互に投入接続される、バックグラウンド補償
のための連続放射する第２の光源（７０）が設けられて
おり、かつ （ｂ）ビームスプリッタ（７４）が選択的に光路内に旋
回可能であり、該ビームスプリッタによって前記第２の
光源（７０）から放射された光束が測光束（１８）の光
路内に反射可能であることを特徴とする請求項１記載の
原子吸収スペクトルメータ。 ６、第１および第２の光源（１６ないし７０）間の交代
は、５００Ｈｚ以上の周波数、有利には１ｋＨｚの周波
数によって行われることを特徴とする請求項５記載の原
子吸収スペククトルメータ。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3809212A DE3809212A1 (de) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | Atomabsorptions-spektrometer |
| DE3809216A DE3809216A1 (de) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | Atomabsorptions-spektrometer |
| DE3809212.3 | 1988-03-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0221242A true JPH0221242A (ja) | 1990-01-24 |
| JP2823583B2 JP2823583B2 (ja) | 1998-11-11 |
Family
ID=39386399
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1503420A Expired - Lifetime JP2868561B2 (ja) | 1988-03-18 | 1989-03-13 | 原子吸光‐分光計 |
| JP1064007A Expired - Lifetime JP2823583B2 (ja) | 1988-03-18 | 1989-03-17 | 原子吸収スペクトロメータ |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1503420A Expired - Lifetime JP2868561B2 (ja) | 1988-03-18 | 1989-03-13 | 原子吸光‐分光計 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5094530A (ja) |
| EP (2) | EP0365624B1 (ja) |
| JP (2) | JP2868561B2 (ja) |
| AT (1) | ATE110468T1 (ja) |
| AU (1) | AU618797B2 (ja) |
| DE (2) | DE3809212A1 (ja) |
| WO (2) | WO1989008833A1 (ja) |
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| RU2102726C1 (ru) * | 1996-09-30 | 1998-01-20 | Товарищество с ограниченной ответственностью "Кортэк" | Атомно-абсорбционный спектрометр |
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