JPH0221399A - 異地点計測情報の同期方式 - Google Patents
異地点計測情報の同期方式Info
- Publication number
- JPH0221399A JPH0221399A JP17235088A JP17235088A JPH0221399A JP H0221399 A JPH0221399 A JP H0221399A JP 17235088 A JP17235088 A JP 17235088A JP 17235088 A JP17235088 A JP 17235088A JP H0221399 A JPH0221399 A JP H0221399A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- voltage
- phase
- branch
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- Prior art date
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- Granted
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Locating Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は異地点で独立に計測さた各情報を同期をとって
現象解析や特性把握の処理に利用するための異地点計測
情報の同期方式に関する。
現象解析や特性把握の処理に利用するための異地点計測
情報の同期方式に関する。
電力系統の状態を監視したり、保護制御のためには異地
点で計測した複数の計測情報が利用される。この計測情
報は対象系統に故障等が発生した場合に変化を生ずるが
、変化したときの計測情報ばかりでなく、変化後の計測
情報も必要とされることがある。例えば、故障点標定で
は計測情報として故障継続中の値が使用される。このた
めに、従来は異地点でそれぞれ計測された計測情報を１
箇所に収集して現象解析や特性把握の処理に利用してい
る。
点で計測した複数の計測情報が利用される。この計測情
報は対象系統に故障等が発生した場合に変化を生ずるが
、変化したときの計測情報ばかりでなく、変化後の計測
情報も必要とされることがある。例えば、故障点標定で
は計測情報として故障継続中の値が使用される。このた
めに、従来は異地点でそれぞれ計測された計測情報を１
箇所に収集して現象解析や特性把握の処理に利用してい
る。
しかし、このような方法によれば、各々のサンプリング
のスタート位相が異なるために各地点の計測情報に同期
がとれておらず、したがって現象解析や特性把握の精度
に問題があった。特に故障点標定においては、系統の各
端子で測定された計測情報がベクトル量であるため、ベ
クトル演算を行なう際に各地点の計測情報の同期が必要
とされる。 計測情報間に同時性を図るために同期サンプリング方式
を使用した場合には同期信号送受信回路を必要とし、ま
た非同期サンプリング方式では瞬時故障検出によるサン
プリングデータの位相補正回路を必要としているため、
ハードウェアが増大し、コストアップになるという欠点
があった。 本発明は上記に鑑み、特に異境点における各計測値を１
カ所あるいは複数の異なるところに集合して利用すると
き、それぞれの関係を時間的に同一、すなわち同期計測
されたものと同等の扱いができるようにした異境点計測
情報の同期方式を提供することを課題とする。
のスタート位相が異なるために各地点の計測情報に同期
がとれておらず、したがって現象解析や特性把握の精度
に問題があった。特に故障点標定においては、系統の各
端子で測定された計測情報がベクトル量であるため、ベ
クトル演算を行なう際に各地点の計測情報の同期が必要
とされる。 計測情報間に同時性を図るために同期サンプリング方式
を使用した場合には同期信号送受信回路を必要とし、ま
た非同期サンプリング方式では瞬時故障検出によるサン
プリングデータの位相補正回路を必要としているため、
ハードウェアが増大し、コストアップになるという欠点
があった。 本発明は上記に鑑み、特に異境点における各計測値を１
カ所あるいは複数の異なるところに集合して利用すると
き、それぞれの関係を時間的に同一、すなわち同期計測
されたものと同等の扱いができるようにした異境点計測
情報の同期方式を提供することを課題とする。
３以上の複数端子により構成された送電系統の各端子に
それぞれ端末装置を設置し、各端末装置において非同期
にて一定周期で自端子の電圧値、電流値を測定し、これ
らの電圧値、電流値を１カ所に伝送して系統の現象解析
や特性把握の処理等を行なうものにおいて、各端子と分
岐との間の送電系統の単位長さ当たりの電圧降下分と、
各端子の電圧値と、各端子と分岐との間の距離とを用い
て各端子からみた分岐の電圧をそれぞれ求め、この求め
られた分岐の各電圧の位相差を求めて、該位相差を用い
て各端末装置にて測定された電圧値、電流値の同期をと
る。
それぞれ端末装置を設置し、各端末装置において非同期
にて一定周期で自端子の電圧値、電流値を測定し、これ
らの電圧値、電流値を１カ所に伝送して系統の現象解析
や特性把握の処理等を行なうものにおいて、各端子と分
岐との間の送電系統の単位長さ当たりの電圧降下分と、
各端子の電圧値と、各端子と分岐との間の距離とを用い
て各端子からみた分岐の電圧をそれぞれ求め、この求め
られた分岐の各電圧の位相差を求めて、該位相差を用い
て各端末装置にて測定された電圧値、電流値の同期をと
る。
各端子と分岐との間の送電系統の単位長さ当たりの電圧
降下分と、各端子の電圧値と、各端子と分岐との間の距
離とを用いて各端子からみた分岐の電圧をそれぞれ求め
た場合、それぞれの電圧の位相は等しいはずであるので
、各電圧の位相差を求めることによりこの位相差を用い
て同期をとることができる。
降下分と、各端子の電圧値と、各端子と分岐との間の距
離とを用いて各端子からみた分岐の電圧をそれぞれ求め
た場合、それぞれの電圧の位相は等しいはずであるので
、各電圧の位相差を求めることによりこの位相差を用い
て同期をとることができる。
第２図は３端子系１回線にお・ける非対称三相回路の各
相の単位長さ当たりの等価回路を示しており、Ｚ、□
Ｚ ｂｂ＊ ｚｃｃは単位長さ当たりの各相自己イン
ピーダンス、Ｚ ｍｂ＋ Ｚ ｂｔ＋ Ｚ ｃ＠は
ａｂ相間。 ｂｃ相間、ｃａ相間の単位長さ当たり９回線内相互イン
ピーダンスを示している。ここで、Ａ端子。 Ｂ端子、Ｃ端子で計測されるａ、ｂ、ｃ相に流れる電流
を■、＾Ａｂ”ＡＣ＾＋ １ ｍ”＋ Ｉ ｋ”＋ Ｉ
ｃｌ＋ Ｉ ｌＩＣ＋ＩｂＣ，Ｉ。Ｃとすると、各電
流によるＡ端子、Ｂ端子およびＣ端子から故障点までの
各相の単位長さ当たりの各電圧降下分はそれぞれ次のよ
うに表わすことができる。 ここで、ａ相ｌ線地絡故障を想定し、故障点抵抗をＲ２
とすると、その時の等価回路図は第１図に示すようにな
る。但し、Ａ端子〜分岐Ｐ間の距離をＬ＾、Ｂ端子〜分
岐Ｐ間の距離をＬ”、Ｃ端子〜分岐Ｐ間の距離をＬＣと
し、故障点はＡ端子と分岐Ｐとの間であり、Ａ端子より
αＬ＾の距離（但し０くα＜１）としている。 ａ相について考えた場合に、各端子から見た分岐Ｐの電
位ｖ、′は次のように表わされる。 （Ａ端子から）Ｖ、Ｐ−Ｖ、Ａ−ＬＡＶ、−−−−−（
４）（Ｂ端子から）■１デーＶ 、 ” −Ｌ ” Ｖ
１．” −−−−−（５）（Ｃ端子から）Ｖ、’＝Ｖ
、Ｃ−ＬｃＶ、、ｃ−−−−（６）故障がない健全時に
は（４）式＝（５）式＝（６）式となる。 これに対して、第１図に示すように区間ＡＰにおいて故
障が発生した場合は、この故障がａ相１線地絡故障であ
るので（４）式≠（５）式＝（６）式となり、Ｂ、Ｃ端
子からみた分岐Ｐの電位は等しくなる。 以上の計算に用いられた電圧値、電流値、インピーダン
ス値はベクトル量であるので、（４）〜（６）式の電位
Ｖ、Ｐもベクトル値となり大きさと位相をもつ、各端子
から見た分岐Ｐの電位ｖＩの大きさと位相を、 とすると、（５）式＝（６）式より、 Ｖ、” ｌ ＝ Ｉ Ｖ、Ｐｃｌ −・−・（８）θ
、″＝θ、ＰＣ・−・−（９） がそれぞれ成立する。しかし、各端子間のデータにはサ
ンプリングの同期がとられていないので、実際に演算さ
れるデータについては、 Ｖ、” ｌ ＝ ｌ Ｖ、ｒｃｌ −−−−−０ωθ
１■キθ、ＰＣ−・−・・・０１） となる、ここで、位相に着目すると、サンプリングに同
期がとられていないことによる位相差Δθ、ＩＣは、 Δθ１ＩＩＣ＝ｅｔ、Ｐａ−θ、ＰＣ、、−、−，０２
）により表わされる。したがって、このΔθ１■を用い
てＢ端子とＣ端子の同期を合わせることができる０例え
ば、分岐点Ｐから故障点Ｆに流れ込む電流値をｌ、Ｐと
すると、ｌ、ＰはＢ端子から流れ込む電流！、′とＣ端
子から流れ込む電流Ｉ−のベクトル和で表わされるので
、位相差Δθ、Ｉｃを用いてＢ、Ｃ端子の電流値の同期
を合わせると、次のようになる。 １２１くφ、’＝ｌｉ、”ｌ＜φｍ’＋１Ｉ−１く（φ
Ｊ＋Δθ、′Ｃ）−・−・・−０３１但し、０式におい
てφ、′、φ−は各電流値の計測位相を示している。 したがって、Ｂ端子を基準にして考えると、分岐点の電
圧、電流値は（５）、 Ｑ：１式により表わすことがで
きる。 同様にしてＢ相、Ｃ相故障および２線短絡、２線地絡時
も各故障相に着目して健全区間の同期をとることができ
る。 また、この様にして３端子系を２端子系に帰着すること
ができ（分岐Ｐ点の電圧、電流値を求めることができる
）、これにより本願と同日付出願の「故障点標定演算に
おける同期方式」を用いて２端子間の同期合わせが行な
えるので、必要ならば３端子全ての同期を合わせること
ができる。 さらに、３線短絡以外で健全相が存在する場合に、故障
相ではなく健全相を用いて同様なことが行なえるのは明
らかである。 このように、収集した端子間非同期データを１ケ所に集
めて演算を行なうことで同期をあわせることができる。 以上の説明では３端子系１回線について述べたが、３端
子系平行２回線においても同様に取扱うことができる。 第３図は３端子系平行２回線における非対称三相回線の
ａ相に関する単位長さ当たりの等価回路図を示している
。図においてＺ ｍａ、Ｚ ｂｂ＋ Ｚ ＥＣは１１
回線の単位長さ当たりの各相自己インピーダンス、Ｚａ
ｂ＋ＺＣｍは１１回線のａｂ相間、ｃａ相間の単位長さ
当たりの相互インピーダンス、Ｚ ａｍＺ ａｈ ’
＋ Ｚ ＣＩＲ′は１１回線のａ相と２Ｌ回線の各相
との回線間インピーダンスを示している。なお、ここで
は１１回線のａ相故障について説明するため他の相の相
互インピーダンス、回線間相互インピーダンスは省略さ
れている。 ここで、Ａ、Ｂ、Ｃ端子で測定される１１回線。 ２Ｌ回線のａ、ｂ、Ｃ相に流れる電流をそれぞれ、１
、Ａ＋ Ｉ ｋ”＋ Ｉ Ｃ＾＋ Ｆ”＋ １ｂ”＋
ｒｃ”１ ｔｍ’ｌ ｌｂ ＋ ＩＣ１２ｍ’＋ Ｉ
！に’＋ Ｉ ｚｃ＾＊ Ｉ ！Ｉ”＋ ｒ ｔｋ”＋
Ｉ ＩＣ”＋ Ｉ ２ａｃ＋１ ｔｂｃ＋ Ｉ Ｉ
Ｃ”とすると各電流によるＡ端子、Ｂ端子およびＣ端子
から故障点ＦまでのＩＬ回線ａ相の単位長さ当たりの電
圧降下分Ｖ ａｍ ′”＋ Ｖ ａａ ′８Ｖａｎ’
′はそれぞれ次のように表わすことができる。 なお、他相についても同様に表わすことができる。 ここで、区間ＡＰ間のａ相１線地絡故障を想定し、故障
点抵抗をＲｒとすると、前述の３端子系１回線と同様に
して同期合わせを行なうことができる。
相の単位長さ当たりの等価回路を示しており、Ｚ、□
Ｚ ｂｂ＊ ｚｃｃは単位長さ当たりの各相自己イン
ピーダンス、Ｚ ｍｂ＋ Ｚ ｂｔ＋ Ｚ ｃ＠は
ａｂ相間。 ｂｃ相間、ｃａ相間の単位長さ当たり９回線内相互イン
ピーダンスを示している。ここで、Ａ端子。 Ｂ端子、Ｃ端子で計測されるａ、ｂ、ｃ相に流れる電流
を■、＾Ａｂ”ＡＣ＾＋ １ ｍ”＋ Ｉ ｋ”＋ Ｉ
ｃｌ＋ Ｉ ｌＩＣ＋ＩｂＣ，Ｉ。Ｃとすると、各電
流によるＡ端子、Ｂ端子およびＣ端子から故障点までの
各相の単位長さ当たりの各電圧降下分はそれぞれ次のよ
うに表わすことができる。 ここで、ａ相ｌ線地絡故障を想定し、故障点抵抗をＲ２
とすると、その時の等価回路図は第１図に示すようにな
る。但し、Ａ端子〜分岐Ｐ間の距離をＬ＾、Ｂ端子〜分
岐Ｐ間の距離をＬ”、Ｃ端子〜分岐Ｐ間の距離をＬＣと
し、故障点はＡ端子と分岐Ｐとの間であり、Ａ端子より
αＬ＾の距離（但し０くα＜１）としている。 ａ相について考えた場合に、各端子から見た分岐Ｐの電
位ｖ、′は次のように表わされる。 （Ａ端子から）Ｖ、Ｐ−Ｖ、Ａ−ＬＡＶ、−−−−−（
４）（Ｂ端子から）■１デーＶ 、 ” −Ｌ ” Ｖ
１．” −−−−−（５）（Ｃ端子から）Ｖ、’＝Ｖ
、Ｃ−ＬｃＶ、、ｃ−−−−（６）故障がない健全時に
は（４）式＝（５）式＝（６）式となる。 これに対して、第１図に示すように区間ＡＰにおいて故
障が発生した場合は、この故障がａ相１線地絡故障であ
るので（４）式≠（５）式＝（６）式となり、Ｂ、Ｃ端
子からみた分岐Ｐの電位は等しくなる。 以上の計算に用いられた電圧値、電流値、インピーダン
ス値はベクトル量であるので、（４）〜（６）式の電位
Ｖ、Ｐもベクトル値となり大きさと位相をもつ、各端子
から見た分岐Ｐの電位ｖＩの大きさと位相を、 とすると、（５）式＝（６）式より、 Ｖ、” ｌ ＝ Ｉ Ｖ、Ｐｃｌ −・−・（８）θ
、″＝θ、ＰＣ・−・−（９） がそれぞれ成立する。しかし、各端子間のデータにはサ
ンプリングの同期がとられていないので、実際に演算さ
れるデータについては、 Ｖ、” ｌ ＝ ｌ Ｖ、ｒｃｌ −−−−−０ωθ
１■キθ、ＰＣ−・−・・・０１） となる、ここで、位相に着目すると、サンプリングに同
期がとられていないことによる位相差Δθ、ＩＣは、 Δθ１ＩＩＣ＝ｅｔ、Ｐａ−θ、ＰＣ、、−、−，０２
）により表わされる。したがって、このΔθ１■を用い
てＢ端子とＣ端子の同期を合わせることができる０例え
ば、分岐点Ｐから故障点Ｆに流れ込む電流値をｌ、Ｐと
すると、ｌ、ＰはＢ端子から流れ込む電流！、′とＣ端
子から流れ込む電流Ｉ−のベクトル和で表わされるので
、位相差Δθ、Ｉｃを用いてＢ、Ｃ端子の電流値の同期
を合わせると、次のようになる。 １２１くφ、’＝ｌｉ、”ｌ＜φｍ’＋１Ｉ−１く（φ
Ｊ＋Δθ、′Ｃ）−・−・・−０３１但し、０式におい
てφ、′、φ−は各電流値の計測位相を示している。 したがって、Ｂ端子を基準にして考えると、分岐点の電
圧、電流値は（５）、 Ｑ：１式により表わすことがで
きる。 同様にしてＢ相、Ｃ相故障および２線短絡、２線地絡時
も各故障相に着目して健全区間の同期をとることができ
る。 また、この様にして３端子系を２端子系に帰着すること
ができ（分岐Ｐ点の電圧、電流値を求めることができる
）、これにより本願と同日付出願の「故障点標定演算に
おける同期方式」を用いて２端子間の同期合わせが行な
えるので、必要ならば３端子全ての同期を合わせること
ができる。 さらに、３線短絡以外で健全相が存在する場合に、故障
相ではなく健全相を用いて同様なことが行なえるのは明
らかである。 このように、収集した端子間非同期データを１ケ所に集
めて演算を行なうことで同期をあわせることができる。 以上の説明では３端子系１回線について述べたが、３端
子系平行２回線においても同様に取扱うことができる。 第３図は３端子系平行２回線における非対称三相回線の
ａ相に関する単位長さ当たりの等価回路図を示している
。図においてＺ ｍａ、Ｚ ｂｂ＋ Ｚ ＥＣは１１
回線の単位長さ当たりの各相自己インピーダンス、Ｚａ
ｂ＋ＺＣｍは１１回線のａｂ相間、ｃａ相間の単位長さ
当たりの相互インピーダンス、Ｚ ａｍＺ ａｈ ’
＋ Ｚ ＣＩＲ′は１１回線のａ相と２Ｌ回線の各相
との回線間インピーダンスを示している。なお、ここで
は１１回線のａ相故障について説明するため他の相の相
互インピーダンス、回線間相互インピーダンスは省略さ
れている。 ここで、Ａ、Ｂ、Ｃ端子で測定される１１回線。 ２Ｌ回線のａ、ｂ、Ｃ相に流れる電流をそれぞれ、１
、Ａ＋ Ｉ ｋ”＋ Ｉ Ｃ＾＋ Ｆ”＋ １ｂ”＋
ｒｃ”１ ｔｍ’ｌ ｌｂ ＋ ＩＣ１２ｍ’＋ Ｉ
！に’＋ Ｉ ｚｃ＾＊ Ｉ ！Ｉ”＋ ｒ ｔｋ”＋
Ｉ ＩＣ”＋ Ｉ ２ａｃ＋１ ｔｂｃ＋ Ｉ Ｉ
Ｃ”とすると各電流によるＡ端子、Ｂ端子およびＣ端子
から故障点ＦまでのＩＬ回線ａ相の単位長さ当たりの電
圧降下分Ｖ ａｍ ′”＋ Ｖ ａａ ′８Ｖａｎ’
′はそれぞれ次のように表わすことができる。 なお、他相についても同様に表わすことができる。 ここで、区間ＡＰ間のａ相１線地絡故障を想定し、故障
点抵抗をＲｒとすると、前述の３端子系１回線と同様に
して同期合わせを行なうことができる。
本発明によれば、ハードウェアによる同期ではなく、収
集したデータのみを用いて演算による同期合せを行なう
ようにしたので、同期信号送受信回路や位相差補正回路
等のハードウェアが不要となり、コストを低減すること
ができる。
集したデータのみを用いて演算による同期合せを行なう
ようにしたので、同期信号送受信回路や位相差補正回路
等のハードウェアが不要となり、コストを低減すること
ができる。
第１図はａ相ｌ線地絡故障時の等価回路図、第２図は３
端子系１回線における非対称三相回路の各相の単位長さ
当たりの等価回路図、第３図は３端子系子行２回線にお
ける非対称三相回路の各相の単位長さ当たりの等価回路
図 Ｚ ｍ□Ｚ ｂｂ＋ Ｚ ｅｅ ”−’自己インピー
ダンス、Ｚ ａ ｂ ＊ＺｂｅｌｚＣＭ−・−回線内相
互インピーダンス、Ｚ□Ｚ ａｈ ’ ＋ ｚｃａ ”
−回線間相互インピーダンス、ｌ、ＡＡ端端子分分岐２
間距離Ｌ”−８端子〜分岐Ｐ間距離、ＬＣ・・−Ｃ端子
〜分岐Ｐ間距離。
端子系１回線における非対称三相回路の各相の単位長さ
当たりの等価回路図、第３図は３端子系子行２回線にお
ける非対称三相回路の各相の単位長さ当たりの等価回路
図 Ｚ ｍ□Ｚ ｂｂ＋ Ｚ ｅｅ ”−’自己インピー
ダンス、Ｚ ａ ｂ ＊ＺｂｅｌｚＣＭ−・−回線内相
互インピーダンス、Ｚ□Ｚ ａｈ ’ ＋ ｚｃａ ”
−回線間相互インピーダンス、ｌ、ＡＡ端端子分分岐２
間距離Ｌ”−８端子〜分岐Ｐ間距離、ＬＣ・・−Ｃ端子
〜分岐Ｐ間距離。
Claims (1)
- １）３以上の複数端子により構成された送電系統の各端
子にそれぞれ端末装置を設置し、各端末装置において非
同期にて一定周期で自端子の電圧値、電流値を測定し、
これらの電圧値、電流値を１ヵ所に伝送して系統の現象
解析や特性把握の処理等を行なうものにおいて、各端子
と分岐との間の送電系統の単位長さ当たりの電圧降下分
と、各端子の電圧値と、各端子と分岐との間の距離とを
用いて各端子からみた分岐の電圧をそれぞれ求め、この
求められた分岐の各電圧の位相差を求めて、該位相差を
用いて各端末装置にて測定された電圧値、電流値の同期
をとることを特徴とする異地点計測情報の同期方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17235088A JPH0727599B2 (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 異地点計測情報の同期方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17235088A JPH0727599B2 (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 異地点計測情報の同期方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0221399A true JPH0221399A (ja) | 1990-01-24 |
| JPH0727599B2 JPH0727599B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=15940273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17235088A Expired - Lifetime JPH0727599B2 (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 異地点計測情報の同期方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0727599B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6158622A (en) * | 1998-02-12 | 2000-12-12 | Nihon Kim Co., Ltd. | Closure to be attached to a container |
-
1988
- 1988-07-11 JP JP17235088A patent/JPH0727599B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6158622A (en) * | 1998-02-12 | 2000-12-12 | Nihon Kim Co., Ltd. | Closure to be attached to a container |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0727599B2 (ja) | 1995-03-29 |
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