JPH0221599A - Controlled parameter display setter for charged particle beam accelerator - Google Patents
Controlled parameter display setter for charged particle beam acceleratorInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は荷電粒子ビーム加速器、特にサイクロトロンの
運転制御の際に用いられる調整パラメータの設定及び表
示を行う設定表示装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a setting display device for setting and displaying adjustment parameters used in controlling the operation of a charged particle beam accelerator, particularly a cyclotron.
(従来の技術)
一般に、サイクロトロンでは、サイクロトロンを構成す
る要素(例えば、メインコイル、Qマグネット、デフレ
クタ等)ごとにffff1パラメータ(運転パラメータ
)か設定されており、これら調整パラメータに基づいて
各構成要素の制御を行っている。(Prior Art) In general, in a cyclotron, ffff1 parameters (operating parameters) are set for each element that makes up the cyclotron (for example, main coil, Q magnet, deflector, etc.), and each component is adjusted based on these adjustment parameters. is under control.
サイクロトロンを運転制御する際には、デイスプレィ上
に現時点における各種の調整パラメータを数値として表
示するともに荷電粒子ビームの電流値を検出しく以下こ
の電流値を検出ビーム電流値という)、この検出ビーム
電流値を表示して、これら調整パラメータ及び検出ビー
ム電流値を対比して、オペレータか最適のビーム電流値
が得られるように調整パラメータを調節(変化)してい
る。When controlling the operation of a cyclotron, various adjustment parameters at the current moment are displayed as numerical values on the display, and the current value of the charged particle beam is detected (hereinafter this current value is referred to as the detected beam current value). is displayed, and by comparing these adjustment parameters and detected beam current values, the operator adjusts (changes) the adjustment parameters so as to obtain the optimum beam current value.
(発明が解決しようとする課題)
ところで、従来の場合、上述のようにデイスプレィ上に
調整パラメータ(数値)及び検出ビーム電流値を単に表
示しているから、複数の調整パラメータ相互のr!A係
を直接認識することができず、その結果、パラメータの
調整には熟練を必要とし、オペレータに過度の負担を強
いるばかりでなく、荷電粒子ビームの調整に時間がかか
るという問題点がある。(Problem to be Solved by the Invention) In the conventional case, as described above, since the adjustment parameters (numeric values) and the detected beam current values are simply displayed on the display, the r! The A-group cannot be directly recognized, and as a result, adjusting the parameters requires skill, which not only imposes an excessive burden on the operator, but also takes time to adjust the charged particle beam.
本発明の目的は容易にパラメータの調整が行うことので
きる調整パラメータ表示設定装置を提供することにある
。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an adjustment parameter display and setting device that allows parameters to be easily adjusted.
(課題を解決するための手段)
本発明によれば、荷電粒子ビーム加速器を運転制御する
際に用いられる複数の調整パラメータを設定表示する際
に用いられ、該調整パラメータを記憶する記憶手段と、
前記調整パラメータを二軸座標系に表示する表示手段と
、前記調整パラメータを設定する設定手段と、前記調整
パラメータの相互の相関係数を算出するとともに該相関
係数を用いて前記調整パラメータを前記二軸座標系に変
換する演算手段とを有し、現時点で荷電粒子ビーム加速
器の運転制御に用いられている調整パラメータの変換値
と他の調整パラメータの変換値とを区別して表示するよ
うにしたことを特徴とする荷電粒子ビーム加速器の調整
パラメータ表示設定装置が得られる。(Means for Solving the Problems) According to the present invention, a storage means is used to set and display a plurality of adjustment parameters used when controlling the operation of a charged particle beam accelerator, and stores the adjustment parameters;
A display means for displaying the adjustment parameter on a two-axis coordinate system; a setting means for setting the adjustment parameter; It has calculation means for converting into a two-axis coordinate system, and displays the converted values of the adjustment parameters currently used for operational control of the charged particle beam accelerator and the converted values of other adjustment parameters. A device for displaying and setting adjustment parameters for a charged particle beam accelerator is obtained.
(作 用)
本発明では、記憶手段に記憶された調整パラメータを用
い、演算手段によってこれら調整パラメータ相互の相関
係数を算出して、この相関係数を用いて上記の調整パラ
メータを表示手段上の二軸座標系に変換する。(Function) In the present invention, the adjustment parameters stored in the storage means are used, the correlation coefficients between these adjustment parameters are calculated by the calculation means, and the above-mentioned adjustment parameters are displayed on the display means using the correlation coefficients. Convert to a two-axis coordinate system.
オペレータは、この相関係数が考慮された二軸座標系上
の変換値と検出ビーム電流値を対比して調整パラメータ
の変更を行う、この新たな調整パラメータは記憶手段に
記憶され、演算手段は上述の相関係数を用いてこの新た
な調整パラメータを表示手段上の二軸座標系に変換する
。この際、荷電粒子ビーム加速器の運転制御に現時点で
用いられている調整パラメータと他の調整パラメータと
は区別して表示される。そして、以下同様にして調整パ
ラメータが変更され、表示手段上に表示される。The operator compares the detected beam current value with the converted value on the two-axis coordinate system in which this correlation coefficient is taken into consideration, and changes the adjustment parameter. This new adjustment parameter is stored in the storage means, and the calculation means This new adjustment parameter is converted into a two-axis coordinate system on the display means using the above-mentioned correlation coefficient. At this time, the adjustment parameters currently used to control the operation of the charged particle beam accelerator and other adjustment parameters are displayed separately. Then, the adjustment parameters are changed in the same manner and displayed on the display means.
(実施例) 以下本発明について実施例によって説明する。(Example) The present invention will be explained below with reference to Examples.
まず、第1図を参照して、サイクロトロン等の荷電粒子
ビーム加速器システム1には制御用コンピュータシステ
ム2が連結されており、この制御用コンピュータシステ
ム2には調整パラメータ入力装置3及びデイスプレィ装
置(CRT)4が接続されている。First, referring to FIG. 1, a control computer system 2 is connected to a charged particle beam accelerator system 1 such as a cyclotron, and this control computer system 2 includes an adjustment parameter input device 3 and a display device (CRT). )4 are connected.
制御用コンピュータシステム2は中央処理装置(CPU
)2a、制御プログラムが格納されたメモリ2b、及び
磁気ディスク装置2cを備えており、前述の入力装置3
及びCI”tT4はそれぞれインタフェース2d及び2
eを介してCP LJ 2 aに接続されている。また
、CP tJ 2 aにはインタフェース2f及び1a
を介してビーム電流検出用プローブ1bが接続されてい
る。The control computer system 2 includes a central processing unit (CPU).
) 2a, a memory 2b storing a control program, and a magnetic disk device 2c, and the input device 3 described above.
and CI”tT4 are interfaces 2d and 2, respectively.
It is connected to CP LJ 2 a via e. In addition, CP tJ 2 a has interfaces 2f and 1a.
A beam current detection probe 1b is connected via.
磁気ディスク装置2cには、従前(過去)において、サ
イクロトロン1の運転制御に用いられた全ての調整パラ
メータが予め格納されており、CPU2aはこれら過去
の調整パラメータを統計解析して第(1)式に示す相関
係数行列Aを求める。The magnetic disk device 2c stores in advance all the adjustment parameters used for the operation control of the cyclotron 1 in the past, and the CPU 2a statistically analyzes these past adjustment parameters and calculates the equation (1). Find the correlation coefficient matrix A shown in .
即ち、過去の調整パラメータの相関性を求める。That is, the correlation between past adjustment parameters is determined.
なお、予め過去の調整パラメータに基づいて相関係数行
列Aを求めて、オペレータからの入力によりメモリ2b
に格納しておいてもよい。Note that the correlation coefficient matrix A is obtained in advance based on past adjustment parameters, and is stored in the memory 2b based on input from the operator.
It may be stored in .
上述の過去の調整パラメータ及び相関係数行列を用いて
、CPU2aは第(2)式によって二軸座標系(X−Y
座標系)に変換する。Using the above-mentioned past adjustment parameters and correlation coefficient matrix, the CPU 2a creates a two-axis coordinate system (X-Y
coordinate system).
ここで、P、、P、、・・・P7はサイクロトロン運転
中のある時点における調整パラメータを示ず。Here, P, , P, . . . P7 do not indicate adjustment parameters at a certain point in time during cyclotron operation.
従って、調整パラメータが1つでも変化すると、新たに
X−Y座標系上にプロット点が表示される。Therefore, if even one adjustment parameter changes, a new plot point is displayed on the X-Y coordinate system.
ここで、サイクロトロン1の運転制御を開始する際に、
新たに調整パラメータを入力装置3から入力する(以下
これを現時点の調整パラメータという)。そして、この
現時点の調整パラメータ(P、 ′、P2 ・・・、P
、 ′)に基づいてサイクロトロンの各構成要素が制御
される。この際、CP LJ 2 aは、上述の第(2
)式によって現時点の調整パラメータを二軸座標系に変
換する。Here, when starting the operation control of the cyclotron 1,
New adjustment parameters are input from the input device 3 (hereinafter referred to as current adjustment parameters). Then, this current adjustment parameter (P, ′, P2 ..., P
, '), each component of the cyclotron is controlled. At this time, CP LJ 2 a is the above-mentioned (2nd
) convert the current adjustment parameters into a two-axis coordinate system.
一方、サイクロトロン1における荷電粒子ビームの電流
値がプローブ1bによって検出され、検出ビーム電流値
としてCPU2aに入力される。On the other hand, the current value of the charged particle beam in the cyclotron 1 is detected by the probe 1b and inputted to the CPU 2a as a detected beam current value.
CP tJ 2 aは過去の調整パラメータをX−Y座
標系に変換したプロット点を第2図(b)に示すように
順次CRT4上に表示していく(+で示す)。また、現
在の調整パラメータをX−Y座標系に変換したプロット
点をCRT4上に表示する(ムで示す)。この際、第2
図(a)に示すようにCRT4上に検出ビーム電流値が
表示される。CP tJ 2 a sequentially displays plot points obtained by converting past adjustment parameters into the X-Y coordinate system on the CRT 4 as shown in FIG. 2(b) (indicated by +). Furthermore, plot points obtained by converting the current adjustment parameters into the X-Y coordinate system are displayed on the CRT 4 (indicated by a symbol). At this time, the second
As shown in Figure (a), the detection beam current value is displayed on the CRT 4.
調整パラメータを二軸座標系に変換した値をCRT4上
に表示する際には、予め、サイクロトロン1の構成要素
で相互に関連する構成要素が設定されており、この構成
要素の制御量をそれぞれX軸及びY軸に対応させる0例
えば、サイクロトロン1の第1〜第3の電磁石に流す電
流量をそれぞれQ、、Q、及びQ3とし、この電流量Q
t十Q3と電流量Q2とが相互に関連すれば、X軸にQ
l−トQ、をとり、Y軸にQ2をとる。従って、この場
合には、第1〜第3の電磁石の調整パラメータをそれぞ
れP、、P、及びP、とすれば、二軸座標系への変換式
は第(3)式で示される。When displaying the values obtained by converting the adjustment parameters into a two-axis coordinate system on the CRT 4, the mutually related components of the cyclotron 1 are set in advance, and the control amounts of these components are For example, let the amount of current flowing through the first to third electromagnets of the cyclotron 1 be Q, Q, and Q3, respectively, and the amount of current Q
If t+Q3 and the current amount Q2 are related to each other, then Q is shown on the X axis.
Let's take l-tQ, and put Q2 on the Y axis. Therefore, in this case, if the adjustment parameters of the first to third electromagnets are P, , P, and P, respectively, the conversion equation to the two-axis coordinate system is expressed by equation (3).
・・・(3)
よって、相互に関連するサイクロ1−ロン1の構成要素
が他にもある場合には、CRTJ上には複数のX−Y座
標系が表示されることになる。(3) Therefore, if there are other mutually related components of Cyclo 1-Lon 1, a plurality of X-Y coordinate systems will be displayed on the CRTJ.
オペレータはCRT 4上に表示された相関係数及びビ
ーム電流検出値を見て、最適の粒子ビームに調整する。The operator looks at the correlation coefficient and beam current detection value displayed on the CRT 4 and adjusts to the optimum particle beam.
即ち、粒子ビームを調整する際には、調整パラメータを
変更する。That is, when adjusting the particle beam, adjustment parameters are changed.
ここで、第(3)式に基づいて説明すると、調整パラメ
ータP2を変更した場合、この変更パラメータは磁気デ
ィスク2Cに記憶され、CPU2aは、調整パラメータ
(P、、P2′、P3 )に基づいて、X−Y座標系の
プロット点を求め、CRT4上にこのプロット点を他ρ
プロット点と区別して表示する。Here, to explain based on equation (3), when the adjustment parameter P2 is changed, this changed parameter is stored in the magnetic disk 2C, and the CPU 2a changes the adjustment parameter P2 based on the adjustment parameter (P, , P2', P3). , find the plot point of the X-Y coordinate system, and put this plot point on the CRT4
Display separately from plot points.
このプロット点が第2図(b)に示すプロット群(+で
示す)からずれる方向に移動した場合には、Nuパラメ
ータp、、p、をも変更しなければならないことがわか
る。If this plot point moves in a direction away from the plot group (indicated by +) shown in FIG. 2(b), it is understood that the Nu parameters p, , p, must also be changed.
従って、この場合には、調整パラメータP1P2.及び
P、を調整しなければならないことがわかる。即ち、従
来、調整パラメータはそれぞれ独立して数値で表示され
ていただけであるから、多数の調整パラメータが相互に
関連していた場合、最適の粒子ビームを得るためにはど
の調整パラメータを変更すればよいか表示画面を見ただ
けではわからないが、本実施例の場合、各調整パラメー
タの相互相関が二軸座標系に表示されているから、変更
後のプロット点が過去のプロブ1−群から離れるかどう
かによって、どの調整パラメータを変更すればよいかが
表示画面から直ちにわかる。Therefore, in this case, the adjustment parameters P1P2. It turns out that we have to adjust and P. In other words, in the past, each adjustment parameter was simply expressed numerically independently, so when many adjustment parameters are related to each other, it is difficult to determine which adjustment parameter should be changed in order to obtain the optimal particle beam. Although it is not obvious just by looking at the display screen, in the case of this example, the cross-correlation of each adjustment parameter is displayed on a two-axis coordinate system, so the plot points after the change will move away from the past Prob 1 group. You can immediately see from the display screen which adjustment parameters should be changed depending on whether the
(発明の効果)
以上説明したように、本発明では、調整パラメータを二
軸座標系に変換して相互相関図を表示するようにしたか
ら、調整パラメータを変更する際、複数の調整パラメー
タのうちどの調整パラメータを変更すればよいかが直ち
にわかり、その結果、最適粒子ビームを得るためのパラ
メータ変更が極めて容易となる。(Effects of the Invention) As explained above, in the present invention, adjustment parameters are converted into a two-axis coordinate system and a cross-correlation diagram is displayed. It is immediately known which adjustment parameters need to be changed, and as a result, it is extremely easy to change the parameters to obtain an optimal particle beam.
第1図は本発明による調整パラメータ表示設定装置の一
実施例を説明するための図、第2図(a)はデイスプレ
ィ上に表示される検出ビーム電流値を示す図、第2図(
b)は調整パラメータの相互相関を示すための相互相関
図である。
■・・・加速器システム、
2・・・制御コンピュータシ
ステム、
3・・・パラメータ入力装置、
11・・・デイスプ
レイ
(CR′r’ )FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment of the adjustment parameter display setting device according to the present invention, FIG. 2(a) is a diagram showing detected beam current values displayed on the display, and FIG.
b) is a cross-correlation diagram for showing the cross-correlation of adjustment parameters. ■... Accelerator system, 2... Control computer system, 3... Parameter input device, 11... Display (CR'r')
Claims (1)
る複数の調整パラメータを設定表示する際に用いられ、
該調整パラメータを記憶する記憶手段と、前記調整パラ
メータを二軸座標系に表示する表示手段と、前記調整パ
ラメータを設定する設定手段と、前記調整パラメータの
相互の相関係数を算出するとともに該相関係数を用いて
前記調整パラメータを前記二軸座標系に変換する演算手
段とを有し、現時点で荷電粒子ビーム加速器の運転制御
に用いられている調整パラメータの変換値と他の調整パ
ラメータの変換値とを区別して表示するようにしたこと
を特徴とする荷電粒子ビーム加速器の調整パラメータ表
示設定装置。1 Used to set and display multiple adjustment parameters used when controlling the operation of a charged particle beam accelerator,
a storage means for storing the adjustment parameters; a display means for displaying the adjustment parameters on a two-axis coordinate system; a setting means for setting the adjustment parameters; and a calculation means for converting the adjustment parameter into the two-axis coordinate system using a relational coefficient, and converting the conversion value of the adjustment parameter currently used for operation control of the charged particle beam accelerator and other adjustment parameters. A device for displaying and setting adjustment parameters for a charged particle beam accelerator, characterized in that the adjustment parameters are displayed in a manner that distinguishes between values.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16912088A JPH07118399B2 (en) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | Adjusting parameter display setting device for charged particle beam accelerator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16912088A JPH07118399B2 (en) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | Adjusting parameter display setting device for charged particle beam accelerator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0221599A true JPH0221599A (en) | 1990-01-24 |
| JPH07118399B2 JPH07118399B2 (en) | 1995-12-18 |
Family
ID=15880664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16912088A Expired - Lifetime JPH07118399B2 (en) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | Adjusting parameter display setting device for charged particle beam accelerator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07118399B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0662250A4 (en) * | 1991-12-20 | 1995-05-04 | Grace W R & Co | Multi-ply battery separator and process of forming. |
| US9234214B2 (en) | 2009-10-14 | 2016-01-12 | Purac Biochem Bv | Fermentation process at reduced pressure |
| CN119670516A (en) * | 2024-11-21 | 2025-03-21 | 西安电子科技大学 | Beam adjustment method for digital twin accelerator based on Gaussian ensemble belief propagation |
-
1988
- 1988-07-08 JP JP16912088A patent/JPH07118399B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0662250A4 (en) * | 1991-12-20 | 1995-05-04 | Grace W R & Co | Multi-ply battery separator and process of forming. |
| US9234214B2 (en) | 2009-10-14 | 2016-01-12 | Purac Biochem Bv | Fermentation process at reduced pressure |
| CN119670516A (en) * | 2024-11-21 | 2025-03-21 | 西安电子科技大学 | Beam adjustment method for digital twin accelerator based on Gaussian ensemble belief propagation |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07118399B2 (en) | 1995-12-18 |
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