JPH0221677A - 超伝導体のトンネル接合 - Google Patents

超伝導体のトンネル接合

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Publication number
JPH0221677A
JPH0221677A JP63170658A JP17065888A JPH0221677A JP H0221677 A JPH0221677 A JP H0221677A JP 63170658 A JP63170658 A JP 63170658A JP 17065888 A JP17065888 A JP 17065888A JP H0221677 A JPH0221677 A JP H0221677A
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JP
Japan
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superconductor
tunnel junction
oxide
tunnel
superconductors
Prior art date
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Pending
Application number
JP63170658A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiko Takemura
保彦 竹村
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Priority to US07/376,012 priority patent/US5106819A/en
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Pending legal-status Critical Current

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    • Y02E40/64

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  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は超伝導体を用いたトンネル接合に関する。超伝
導体のトンネル接合はジョセフソン接合として知られ、
高速度のデバイス素子として期待されている。本発明は
近年、発見された酸化物高温超伝導体を用いてジョセフ
ソン接合を形成せしめ、これを液体窒素温度以上の高温
で使用できるようなデバイスを作製することを目的とす
る。
〔従来の技術〕
従来の技術として、2枚の超伝導体の間に薄い(約10
0〜10000オングストローム)絶縁体や常伝導体、
半導体等を挟んだ接合はジョセフソン接合として知られ
ている。これらは超高速コンピュータ素子への応用が期
待され、研究されている。従来、この接合に用いられる
超伝導体としては臨界温度の低い金属系の物質が用いら
れ、冷媒として液体ヘリウムが用いられていた。一方、
近年、臨界温度が絶対温度90度を越える酸化物超伝導
体が発見された。これらの酸化物超伝導体は化学式 B
 i2s rzCan−ICU、、C)tn+a (n
=1.2.3、・・・)で表される。これらの物質を用
いてトンネル接合を持つ素子を作製することが試みられ
ている。
〔従来の問題点〕
これらの酸化物超伝導体はそのコヒーレント長が数10
オングストロームと短いため、特性のよいジョセフソン
接合を形成するためには、トンネル障壁の厚さは最大1
00オングストロームもの超薄膜でなければならない、
薄膜化技術の進歩によって適当な基板の上にこの酸化物
超伝導体薄膜をエピタキシャル成長させることは可能と
なったが、さらにそのうえに100オングストローム程
度のトンネル障壁層を形成しさらに酸化物超伝導体層を
結晶性よく形成することは不可能と思われていた。なぜ
ならば、従来の金属系の超伝導体のトンネル接合に用い
られていた酸化マグネシウム、酸化アルミニウム等はB
 l zSr zCa 、、−1Cu、02n+4とは
結晶構造が異なっていたからであり結晶性はよく、これ
らの接合用の被膜を形成することはできなかった。この
ため良好ジョセフソン接合を形成できなかった。
〔発明の構成〕
本発明は、トンネル障壁として酸化物超伝導体B iz
S rzca、、−1Cu、、Ozn+aと同じ結晶構
造、はぼ同じ格子定数を有するものをもちいれば、酸化
物超伝導体とトンネル障壁との間を結晶性を損なうこと
なくトンネル接合を形成することが可能と考え本発明に
至った。73 izS r zL n fi−+Cu 
、、Ozn−a (L nはイツトリウム(元素記号Y
)、またはランタノイド元素)で表される酸化物は酸化
物超伝導体B 1 gS r 2Ca n−ICuIl
21゜、と同じ結晶構造を有し、格子定数もほぼ同じで
あるが、抵抗の温度変化は半導体的で超伝導を示さない
物質として知られている。本発明はこのB i zS 
r 2L n、−l Cur+01゜4をトンネル障壁
として用いることによって結晶性のよいトンネル接合を
ヘテロエピタキシャル成長によって得るものである。以
下、実施例にしたがってより詳細に本発明を説明する。
「実施例」 酸化物超伝導体およびトンネル障壁はRFマグネトロン
スパッタリング法によって膜状に形成した。第1図に本
実施例にて、使用したスパッタリング装置の概要を示す
。スパッタリングターゲソ1− (71、F81として
は、B izS rzca cu、、07(7)および
B i zS r 2Y Cu zC7(81の焼結体
を用いたターゲットの組成が超伝導体のそれと少し異な
るのは、スパッタリングによって膜の組成がずれるのを
補償するためである。ターゲットをこのような組成にす
ることによって、化学世論的組成(Bi 2S r2C
a CuzoaおよびBizSr 2Y Cu 20g
)の膜が得られる。ターゲットはチャンバー内に2つ(
13j23 r2Ca Cu。
O7およびB r zS r 2Y Cuxoqの焼結
体)用意し、雰囲気を変えることなく連続的に膜形成が
できるようになっている。膜を形成する基板(1)とし
ては酸化マグネシウム車結晶の(100)へきかい面を
用いた。膜形成は、基板温度500 ’C1酸素:アル
ゴンーl:1の混合気体(全圧100ミリト〜ル)、堆
積速度約3nm/秒でおこなった。トンネル接合の作製
方法を第2図に示す。まず、B i 2S r 2Ca
 Cu20a(9)を約2000オングストローム形成
した(第2図(a))あと、ターゲットを交換し、素子
の領域の大きさにあわせたマスクα乃をしてB iz 
S r、YCuzO,Qolをその上に約100オング
ストローム堆積する。
(第2図(b)) 再びターゲットを交換してB izS r2Ca Cu
2O3第2のマスクαJを用いて、約2000オングス
トローム堆積する。(第2図(C))以上でトンネル接
合を形成することができた。酸化物超伝導体およびトン
ネル障壁はX線回折法および電子線回折法、RHEED
パターンから結晶性をあわせて形成されていることが確
かめられた。
また、このトンネル接合は液体窒素温度で動作すること
が直流および交流ジョセフソン効果によって確認された
この時の電流電圧特性を第3図に示す。測定温度は80
にであった。また本実施例において、YBa z Cu
:+ 01−x (91αυをスパッタ法により形成し
た後に酸素雰囲気大において、高温アニールを行い超伝
導特性を向上させることは有効であった。
また超伝導体(9)、トンネル接合構成物質00)およ
び超伝導体0υを積層して形成した後に全体をアニルし
超伝導体(9)0υの超伝導特性を向上させさらにトン
ネル接合構成物質と超伝導体の結晶性の整合を行うこと
ができ、トンネル接合特性の向上に結びつき効果的な処
理であった。
本実施例において超伝導体又はトンネル接合用物質の形
成にはスパッタリング法を用いたが、その他の形成法で
あってもトンネル接合部分の結晶性を損なわずに形成で
きるものであれば適用可能である。
「効果」 本発明によって酸化物高温超伝導体だけでジョセフソン
・トンネル接合を形成することが可能となり、これによ
って、液体窒素を冷媒とする、低コストの超伝導デバイ
スの作製が可能となった。
本発明によるトンネル接合はジョセフソンコンピュータ
ーの素子や超伝導トランジスター、量子干渉磁気検出装
置(SQUID)等に用いることができ、本発明は工業
的に存効な発明である。
【図面の簡単な説明】
第1図 RFマグネトロンスパンタリング装置の概略図 第2図 トンネル接合の作製手順を示す。 第3図は電流・電圧特性を示す。 1 基板     4  RF電源 2 電極     5 真空容器(チャンバー)3 排
気系    6 ガス系 7.8 ターゲット (B izs rzCa Cu3
0、およびB i zS r zY Cu :+09の
焼結体)9  BizSr2CaCuzOs膜 10  B i23 rzYcuzoe膜11  B 
izS rzCa Cu206膜12  第1のマスク 13  第2のマスク

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、化学式Bi_2Sr_2Ca_n_−_1Cu_n
    O_2_n_+_4(n=1、2、3、・・・)で表さ
    れる酸化物超伝導体を用い、前記超伝導体によって構成
    される一対の電極の間に絶縁体もしくは常伝導体、半導
    体を挟むトンネル接合であって、超伝導体に挟まれトン
    ネル障壁を構成する物質として、化学式Bi_2Sr_
    2Ln_n_−_1Cu_nO_2_+_4(Lnはイ
    ットリウム(元素記号Y)、またはランタノイド元素)
    で表される酸化物を用いることを特徴とする超伝導体の
    トンネル接合。 2、特許請求の範囲第1項において、超伝導体及びトン
    ネル障壁を構成する物質は、前記超伝導体と同様の結晶
    方位を示すことを特徴とする超伝導体のトンネル接合。
JP63170658A 1988-07-08 1988-07-08 超伝導体のトンネル接合 Pending JPH0221677A (ja)

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JP63170658A JPH0221677A (ja) 1988-07-08 1988-07-08 超伝導体のトンネル接合
US07/376,012 US5106819A (en) 1988-07-08 1989-07-06 Oxide superconducting tunnel junctions and manufacturing method for the same

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0296386A (ja) * 1988-10-03 1990-04-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超電導素子
JPH03218686A (ja) * 1988-05-11 1991-09-26 Canon Inc ジョセフソン素子
US5468973A (en) * 1990-03-09 1995-11-21 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Stacked Josephson junction device composed of oxide superconductor material
CN102393721A (zh) * 2011-11-14 2012-03-28 江苏科技大学 大型多油罐液位自动测量集成系统

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