JPH02216915A - 多点測定装置 - Google Patents
多点測定装置Info
- Publication number
- JPH02216915A JPH02216915A JP3712889A JP3712889A JPH02216915A JP H02216915 A JPH02216915 A JP H02216915A JP 3712889 A JP3712889 A JP 3712889A JP 3712889 A JP3712889 A JP 3712889A JP H02216915 A JPH02216915 A JP H02216915A
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- signal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、多点測定装置に関するものであり、詳しくは
、帰還形パルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器を用いた装置の
特性改善に関するものである。
、帰還形パルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器を用いた装置の
特性改善に関するものである。
〈従来の技術〉
複数の測定点のアナログ信号を選択的に取り込んでデジ
タル信号に変換する多点測定装置の一種に、帰還形パル
ス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器を用いたものがある。
タル信号に変換する多点測定装置の一種に、帰還形パル
ス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器を用いたものがある。
第２図は、従来のこのような装置の一例を示すブロック
図である。複数の測定点に対応した各入力端子１１〜１
１に加えられるアナログ入力信号Ａ ｉｊｌ ＋ 〜Ａ
ｊｒＬ％は、それぞれの変換器２１〜２ＴＬで共通の
信号形態（例えば直流電圧）に変換される。これら変換
器２．〜２１の出力信号はリレーを用いたスキャナ３を
介して選択的に帰還形パルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器４
に入力され、デジタル信号に変換される。帰還形パルス
幅変調方式Ａ／Ｄ変換器４は、アナログ信号をパルス幅
信号に変換するパルス幅変調（ＰＷＭ）部よりなるアナ
ログ部５とパルス幅信号をデジタル信号に変換するＡ／
Ｄ変換部６とこれらを電気的に絶縁された状態で光結合
するフォトカプラ（ＰＣ）７とで構成されている。
図である。複数の測定点に対応した各入力端子１１〜１
１に加えられるアナログ入力信号Ａ ｉｊｌ ＋ 〜Ａ
ｊｒＬ％は、それぞれの変換器２１〜２ＴＬで共通の
信号形態（例えば直流電圧）に変換される。これら変換
器２．〜２１の出力信号はリレーを用いたスキャナ３を
介して選択的に帰還形パルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器４
に入力され、デジタル信号に変換される。帰還形パルス
幅変調方式Ａ／Ｄ変換器４は、アナログ信号をパルス幅
信号に変換するパルス幅変調（ＰＷＭ）部よりなるアナ
ログ部５とパルス幅信号をデジタル信号に変換するＡ／
Ｄ変換部６とこれらを電気的に絶縁された状態で光結合
するフォトカプラ（ＰＣ）７とで構成されている。
第３図は、このような帰還形パルス幅変調方式Ａ／Ｄ変
換器の一例を示す構成説明図である。第３図において、
８は被変換アナログ入力信号ＶＬｒＬの入力端子であり
、抵抗器９を介して積分器Ｉを構成する演算増幅器１０
の反転入力端子に接続されている。演算増幅器１０の反
転入力端子と出力端子の間にはコンデンサ１１が接続さ
れ、非反転入力端子は共通電位点に接続されている。１
２はコンパレータとして用いられる演算増幅器であり、
非反転入力端子には演算増幅器１０の出力端子が接続さ
れ、反転入力端子は共通電位点に接続されている。演算
増幅器１２の出力端子はフォトカプラ１３を介してフリ
ップフロップ１４のデータ端子に接続されている。フリ
ップフロップ１４の出力端子はアンドゲート１５の一方
の入力端子に接続されるとともにその出力信号ＰＷＭ−
はフォトカプラ１６を介して切換スイッチ１７に切換駆
動信号として加えられている。切換スイッチ１７の一方
の固定接点ａには基準電圧源十Ｖｓの陽極側が接続され
、他方の固定接点すには基準電圧源−Ｖｓの陰極側が接
続され、可動接点は抵抗器１８を介して演算増幅器１０
の反転入力端子に接続されている。１９はカウントクロ
ックＣＣＫを出力するカウントクロック発生回路であり
、その出力端子はフリップフロップ１４のクロック端子
に接続されるとともにアンドゲート１５の他方の入力端
子に接続されている。アンドゲート１５の出力端子は図
示しないカウンタに接続される。２０は商用電源周波数
の影響の除去などのために積分器Ｉの積分周期を一定に
保つための基本クロックＣＫを出力する基本クロック発
生回路であり、その出力端子はフォトカプラ２１．アン
プ２２．直流成分をカットするコンデンサ２３および抵
抗器２４を介して演算増幅器３の反転入力端子に接続さ
れている。なお、基本クロックＣＫとカウントクロック
ＣＣＫは同期している。また、フォトカプラ１３．１６
．２１は、アナログ部とデジタル部を電気的に絶縁する
ために用いられる。
換器の一例を示す構成説明図である。第３図において、
８は被変換アナログ入力信号ＶＬｒＬの入力端子であり
、抵抗器９を介して積分器Ｉを構成する演算増幅器１０
の反転入力端子に接続されている。演算増幅器１０の反
転入力端子と出力端子の間にはコンデンサ１１が接続さ
れ、非反転入力端子は共通電位点に接続されている。１
２はコンパレータとして用いられる演算増幅器であり、
非反転入力端子には演算増幅器１０の出力端子が接続さ
れ、反転入力端子は共通電位点に接続されている。演算
増幅器１２の出力端子はフォトカプラ１３を介してフリ
ップフロップ１４のデータ端子に接続されている。フリ
ップフロップ１４の出力端子はアンドゲート１５の一方
の入力端子に接続されるとともにその出力信号ＰＷＭ−
はフォトカプラ１６を介して切換スイッチ１７に切換駆
動信号として加えられている。切換スイッチ１７の一方
の固定接点ａには基準電圧源十Ｖｓの陽極側が接続され
、他方の固定接点すには基準電圧源−Ｖｓの陰極側が接
続され、可動接点は抵抗器１８を介して演算増幅器１０
の反転入力端子に接続されている。１９はカウントクロ
ックＣＣＫを出力するカウントクロック発生回路であり
、その出力端子はフリップフロップ１４のクロック端子
に接続されるとともにアンドゲート１５の他方の入力端
子に接続されている。アンドゲート１５の出力端子は図
示しないカウンタに接続される。２０は商用電源周波数
の影響の除去などのために積分器Ｉの積分周期を一定に
保つための基本クロックＣＫを出力する基本クロック発
生回路であり、その出力端子はフォトカプラ２１．アン
プ２２．直流成分をカットするコンデンサ２３および抵
抗器２４を介して演算増幅器３の反転入力端子に接続さ
れている。なお、基本クロックＣＫとカウントクロック
ＣＣＫは同期している。また、フォトカプラ１３．１６
．２１は、アナログ部とデジタル部を電気的に絶縁する
ために用いられる。
このような構成において、コンパレータ１２から被変換
アナログ入力信号Ｖ ｉｒＬの振幅に比例したパルス幅
を有する信号ＰＷＭが出力される。すなわち、この信号
ＰＷＭのパルス幅を測定することにより、被変換アナロ
グ入力信号ｖ屯の振幅の値を求めることができる。そこ
で、この信号ＰＷＭをゲート信号として、そのパルス幅
に関連した時間をカウントクロックＣＣＫでカウントす
る。なお、フリップフロラ１１４は、カウントクロック
ＣＣＫに同期した信号ＰＷＭを出力させるためのもので
ある。
アナログ入力信号Ｖ ｉｒＬの振幅に比例したパルス幅
を有する信号ＰＷＭが出力される。すなわち、この信号
ＰＷＭのパルス幅を測定することにより、被変換アナロ
グ入力信号ｖ屯の振幅の値を求めることができる。そこ
で、この信号ＰＷＭをゲート信号として、そのパルス幅
に関連した時間をカウントクロックＣＣＫでカウントす
る。なお、フリップフロラ１１４は、カウントクロック
ＣＣＫに同期した信号ＰＷＭを出力させるためのもので
ある。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、従来のこのような構成←よれば、スキャナ３と
して機械的な接点を持つリレーを用いていることから、
動作速度が遅いこと、寿命が比較的短いこと、信頼性が
低いこと、複数のリレーが同時にオンになると複数の測
定チャンネル間が短絡接続されてしまうなどの問題があ
る。
して機械的な接点を持つリレーを用いていることから、
動作速度が遅いこと、寿命が比較的短いこと、信頼性が
低いこと、複数のリレーが同時にオンになると複数の測
定チャンネル間が短絡接続されてしまうなどの問題があ
る。
また、測定チャンネルの切り換えをフォトカプラの前段
で行っていることから、例えば交流電源電圧を含む多点
測定を行う場合において、交流電源電圧の測定チャンネ
ルと他の信号測定チャンネルとが短絡すると交流電源電
圧の測定チャンネルから他の信号測定チャンネルに電源
電圧が流れて大事故を引起こす恐れもある。
で行っていることから、例えば交流電源電圧を含む多点
測定を行う場合において、交流電源電圧の測定チャンネ
ルと他の信号測定チャンネルとが短絡すると交流電源電
圧の測定チャンネルから他の信号測定チャンネルに電源
電圧が流れて大事故を引起こす恐れもある。
本発明は、このような点に着目したものであり、その目
的は、比較的簡単な構成で、信頼性の高い高速測定が行
え、測定チャンネル間の相互干渉が防止できる安全性の
優れた多点測定装置を提供することにある。
的は、比較的簡単な構成で、信頼性の高い高速測定が行
え、測定チャンネル間の相互干渉が防止できる安全性の
優れた多点測定装置を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
本発明の多点測定装置は、
複数の測定点のアナログ信号を選択的に取り込んでデジ
タル信号に変換する多点測定装置において、 各測定点毎に設けられ、アナログ信号の大きさに応じた
パルス幅信号をフォトカプラを介して出力するパルス幅
変調部と、 半導体スイッチで構成され、各パルス幅変調部から入力
されるパルス幅信号を選択的に出力するマルチプレクサ
と、 このマルチプレクサから出力されるパルス幅信号をデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換部、とで構成されたこと
を特徴とする。
タル信号に変換する多点測定装置において、 各測定点毎に設けられ、アナログ信号の大きさに応じた
パルス幅信号をフォトカプラを介して出力するパルス幅
変調部と、 半導体スイッチで構成され、各パルス幅変調部から入力
されるパルス幅信号を選択的に出力するマルチプレクサ
と、 このマルチプレクサから出力されるパルス幅信号をデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換部、とで構成されたこと
を特徴とする。
く作用〉
本発明の多点測定装置では、各測定点毎に設けられてい
るパルス幅変調部でフォトカプラによりＡ／Ｄ変換部と
の電気的絶縁が図られ、各パルス幅変調部は半導体スイ
ッチを用いたマルチプレクサを介して選択的に共通のＡ
／Ｄ変換部に接続されているので、測定チャンネル間の
相互干渉を防止することができ、安全性、信頼性の高い
高速測定が実現できる。
るパルス幅変調部でフォトカプラによりＡ／Ｄ変換部と
の電気的絶縁が図られ、各パルス幅変調部は半導体スイ
ッチを用いたマルチプレクサを介して選択的に共通のＡ
／Ｄ変換部に接続されているので、測定チャンネル間の
相互干渉を防止することができ、安全性、信頼性の高い
高速測定が実現できる。
〈実施例〉
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。
第１図において、複数の測定点に対応した各アナログ入
力信号Ａ Ａ １〜Ａ１ｎ１Ｌは、それぞれの変換器３
１＋〜３２１でパルス幅信号ＰＷＭに変換される。すな
わち、各変換器３１．〜３２ＴＬ１１ｔには、第２図の
アナログ部と同様なパルス幅変調部３２１〜３２１が設
けられている。各パルス幅変調部３２１〜３２ＴＬから
出力されるパルス幅信号ＰＷＭはフォトカプラ３３１〜
３３１を介してマルチプレクサ３４に入力されている。
力信号Ａ Ａ １〜Ａ１ｎ１Ｌは、それぞれの変換器３
１＋〜３２１でパルス幅信号ＰＷＭに変換される。すな
わち、各変換器３１．〜３２ＴＬ１１ｔには、第２図の
アナログ部と同様なパルス幅変調部３２１〜３２１が設
けられている。各パルス幅変調部３２１〜３２ＴＬから
出力されるパルス幅信号ＰＷＭはフォトカプラ３３１〜
３３１を介してマルチプレクサ３４に入力されている。
このマルチプレクサ３４の出力信号は第２図のデジタル
部と同様なＡ／Ｄ変換部３５に入力されている。一方、
このＡ／Ｄ変換部３５からは、基本タロツクＣＫがデマ
ルチプレクサ３６に入力され、帰還パルス幅信号ＰＷＭ
−がデマルチプレクサ３７に入力されている。デマルチ
プレクサ３６の出力信号ＣＫはフォトカプラ３８１〜３
８７Ｌを介して各パルス幅変調部３２．〜３２１に入力
され、デマルチプレクサ３７の出力信号ＰＷＭ−はフォ
トカプラ３９．〜３９１を介して各パルス幅変調部３２
１〜３２１に入力されている。なお、マルチプレクサ３
４およびデマルチプレクサ３６．３７は半導体スイッチ
で構成されていて、制御部４０から出力される制御信号
Ｓｃに従って同一の変換器を選択するように同時に駆動
制御される。
部と同様なＡ／Ｄ変換部３５に入力されている。一方、
このＡ／Ｄ変換部３５からは、基本タロツクＣＫがデマ
ルチプレクサ３６に入力され、帰還パルス幅信号ＰＷＭ
−がデマルチプレクサ３７に入力されている。デマルチ
プレクサ３６の出力信号ＣＫはフォトカプラ３８１〜３
８７Ｌを介して各パルス幅変調部３２．〜３２１に入力
され、デマルチプレクサ３７の出力信号ＰＷＭ−はフォ
トカプラ３９．〜３９１を介して各パルス幅変調部３２
１〜３２１に入力されている。なお、マルチプレクサ３
４およびデマルチプレクサ３６．３７は半導体スイッチ
で構成されていて、制御部４０から出力される制御信号
Ｓｃに従って同一の変換器を選択するように同時に駆動
制御される。
このような構成において、測定チャンネルの選択は、マ
ルチプレクサ３４およびデマルチプレクサ３６．３７で
変換器３１．〜３１ＴＬとＡ／Ｄ変換部３５の接続関係
を切り換えることにより行われる。このようにしてマル
チプレクサ３４およびデマルチプレクサ３６．３７で変
換器３１１〜３１１とＡ／Ｄ変換部３５を選択的に接続
することにより、実質的に前述の第２図と同様な帰還形
パルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器が構成されることになる
。
ルチプレクサ３４およびデマルチプレクサ３６．３７で
変換器３１．〜３１ＴＬとＡ／Ｄ変換部３５の接続関係
を切り換えることにより行われる。このようにしてマル
チプレクサ３４およびデマルチプレクサ３６．３７で変
換器３１１〜３１１とＡ／Ｄ変換部３５を選択的に接続
することにより、実質的に前述の第２図と同様な帰還形
パルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器が構成されることになる
。
このように構成することにより、測定チャンネルの選択
は絶縁結合を行うフォトカプラの後段で行われる。従っ
て、従来のようなリレーによる切り換え選択の場合に比
べて扱う信号レベルは低くなり、マルチプレクサおよび
デマルチプレクサとして比較的安価な半導体スイッチで
構成されたものを用いることができる。そして、このよ
うにフォトカプラの後段で測定チャンネルの選択を行う
ことから、測定チャンネル間の相互干渉を防止できる。
は絶縁結合を行うフォトカプラの後段で行われる。従っ
て、従来のようなリレーによる切り換え選択の場合に比
べて扱う信号レベルは低くなり、マルチプレクサおよび
デマルチプレクサとして比較的安価な半導体スイッチで
構成されたものを用いることができる。そして、このよ
うにフォトカプラの後段で測定チャンネルの選択を行う
ことから、測定チャンネル間の相互干渉を防止できる。
特に、交流電源電圧測定を含む多点測定にあたって、仮
に交流電源電圧測定チャンネルを含む多重選択が行われ
たとしても交流電源電圧が他の測定チャンネルに流入す
ることはすく、高い安全性が保てる。
に交流電源電圧測定チャンネルを含む多重選択が行われ
たとしても交流電源電圧が他の測定チャンネルに流入す
ることはすく、高い安全性が保てる。
また、測定チャンネルの切り換えを半導体スイッチで行
うので、リレーのような機械的スイッチに固有の欠点を
解決できる。
うので、リレーのような機械的スイッチに固有の欠点を
解決できる。
なお、上記実施例では、基準クロックＣＫおよび帰還信
号ＰＷＭ−をそれぞれデマルチプレクサを介してＡ／Ｄ
変換部からパルス幅変調部に入力する例を示したが、基
準クロックＣＫは常時加えるようにしてもよいし、帰還
信号ＰＷＭ−は各パルス幅変調部内で帰還ループを設け
ておいて常に帰還させるようにしてもよい。
号ＰＷＭ−をそれぞれデマルチプレクサを介してＡ／Ｄ
変換部からパルス幅変調部に入力する例を示したが、基
準クロックＣＫは常時加えるようにしてもよいし、帰還
信号ＰＷＭ−は各パルス幅変調部内で帰還ループを設け
ておいて常に帰還させるようにしてもよい。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な構
成で、信頼性の高い高速測定が行え、測定チャンネル間
の相互干渉が防止できる安全性の優れた多点測定装置が
実現でき、実用上の効果は大きい。
成で、信頼性の高い高速測定が行え、測定チャンネル間
の相互干渉が防止できる安全性の優れた多点測定装置が
実現でき、実用上の効果は大きい。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
従来の装置の一例を示すブロック図、第３図は帰還形パ
ルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器の具体例を示す回路図であ
る。 ３１・・・変換器、３２・・・パルス幅変調部、３３゜
３８．３９・・・フォトカプラ、３４・・・マルチプレ
クサ、３５・・・Ａ／Ｄ変換部、３６．３７・・・デマ
ルチ第１図
従来の装置の一例を示すブロック図、第３図は帰還形パ
ルス幅変調方式Ａ／Ｄ変換器の具体例を示す回路図であ
る。 ３１・・・変換器、３２・・・パルス幅変調部、３３゜
３８．３９・・・フォトカプラ、３４・・・マルチプレ
クサ、３５・・・Ａ／Ｄ変換部、３６．３７・・・デマ
ルチ第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数の測定点のアナログ信号を選択的に取り込んでデジ
タル信号に変換する多点測定装置において、 各測定点毎に設けられ、アナログ信号の大きさに応じた
パルス幅信号をフォトカプラを介して出力するパルス幅
変調部と、 半導体スイッチで構成され、各パルス幅変調部から入力
されるパルス幅信号を選択的に出力するマルチプレクサ
と、 このマルチプレクサから出力されるパルス幅信号をデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換部、とで構成されたこと
を特徴とする多点測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3712889A JPH02216915A (ja) | 1989-02-16 | 1989-02-16 | 多点測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3712889A JPH02216915A (ja) | 1989-02-16 | 1989-02-16 | 多点測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02216915A true JPH02216915A (ja) | 1990-08-29 |
Family
ID=12488974
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3712889A Pending JPH02216915A (ja) | 1989-02-16 | 1989-02-16 | 多点測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02216915A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20110276294A1 (en) * | 2010-04-05 | 2011-11-10 | Yokogawa Electric Corporation | Measurement apparatus |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5698936A (en) * | 1980-01-10 | 1981-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | Digital controller |
| JPS57121319A (en) * | 1981-01-20 | 1982-07-28 | Fuji Electric Co Ltd | Analogue-digital converter |
| JPS58111529A (ja) * | 1981-12-25 | 1983-07-02 | Hitachi Ltd | Ａ／ｄ変換器 |
-
1989
- 1989-02-16 JP JP3712889A patent/JPH02216915A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5698936A (en) * | 1980-01-10 | 1981-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | Digital controller |
| JPS57121319A (en) * | 1981-01-20 | 1982-07-28 | Fuji Electric Co Ltd | Analogue-digital converter |
| JPS58111529A (ja) * | 1981-12-25 | 1983-07-02 | Hitachi Ltd | Ａ／ｄ変換器 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20110276294A1 (en) * | 2010-04-05 | 2011-11-10 | Yokogawa Electric Corporation | Measurement apparatus |
| US8738313B2 (en) * | 2010-04-05 | 2014-05-27 | Yokogawa Electric Corporation | Measurement apparatus |
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