JPH02218401A - 液体の分離装置 - Google Patents
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- JPH02218401A JPH02218401A JP1040946A JP4094689A JPH02218401A JP H02218401 A JPH02218401 A JP H02218401A JP 1040946 A JP1040946 A JP 1040946A JP 4094689 A JP4094689 A JP 4094689A JP H02218401 A JPH02218401 A JP H02218401A
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Landscapes
- Vaporization, Distillation, Condensation, Sublimation, And Cold Traps (AREA)
- Filtration Of Liquid (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、液体に混入した水や他の液体を分離するため
の分離装置に関する。
の分離装置に関する。
一般に、プリント板ユニットや自動車部品などの信幀性
試験の一環として、サーマルショック試験が行われでい
る。
試験の一環として、サーマルショック試験が行われでい
る。
サーマルショック試験は、供試品を一定時間毎に高温槽
と低温槽とに交互に入れてサーマルショック(熱衝ml
)を与え、供試品の品質性能の変化を観察する試験であ
る。近年においては、この試験に要する時間を短縮する
ために、フッソ系不活性液を試験液として用いた液槽式
のサーマルショック試験装置が開発されている。
と低温槽とに交互に入れてサーマルショック(熱衝ml
)を与え、供試品の品質性能の変化を観察する試験であ
る。近年においては、この試験に要する時間を短縮する
ために、フッソ系不活性液を試験液として用いた液槽式
のサーマルショック試験装置が開発されている。
液槽式のサーマルショック試験装置では、試験時間が飛
躍的に短縮されるものの、試験を行うことによって、試
験液へのパーティクルの混入、水分の混入、フッ素イオ
ン(F−イオン)の蓄積、及び二液混合などが発生する
ため、これによって試験の精度が低下し、また供試品や
試験装置に悪影響を与えるという難点がある。そのため
、高価な試験液の汚染状態を日常から注意深(管理し、
汚染された試験液の浄化処理又は分離処理を定期的に行
わなければならない。
躍的に短縮されるものの、試験を行うことによって、試
験液へのパーティクルの混入、水分の混入、フッ素イオ
ン(F−イオン)の蓄積、及び二液混合などが発生する
ため、これによって試験の精度が低下し、また供試品や
試験装置に悪影響を与えるという難点がある。そのため
、高価な試験液の汚染状態を日常から注意深(管理し、
汚染された試験液の浄化処理又は分離処理を定期的に行
わなければならない。
ところが、従来においては、上述のように汚染された試
験液の浄化や分離を筒便に行える装置がないため、試験
液を製造するための装置を一時的に流用することでこれ
らの処理の一部を代行しているのが現状である。
験液の浄化や分離を筒便に行える装置がないため、試験
液を製造するための装置を一時的に流用することでこれ
らの処理の一部を代行しているのが現状である。
そのため、浄化及び分離の効率が悪く、汚染された試験
液のXll1llや処理のために多くの時間と労力とを
要し、液槽式のサーマルシラツク試験装置のランニング
コストが極めて高価につくものとなっていた。
液のXll1llや処理のために多くの時間と労力とを
要し、液槽式のサーマルシラツク試験装置のランニング
コストが極めて高価につくものとなっていた。
本発明は、上述の問題に鑑み、液体に混入した水分及び
沸点の異なる他の液体を容易に分離して、液体を効率よ
く且つ低コストで再生することのできる液体の分離装置
を提供することを目的としている。
沸点の異なる他の液体を容易に分離して、液体を効率よ
く且つ低コストで再生することのできる液体の分離装置
を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、上述の課題を解決するため、液体を貯留する
貯留タンクと、前記液体に含まれている水分を除去する
ための水分離フィルタと、液体に含まれている沸点の異
なる他の液体を蒸留するための蒸留器とを有してなり、
前記水分離フィルタは、前記液体が前記貯留タンクの底
部から前記蒸留器の蒸発器に向かって液体の自重で流れ
るように配置されて接続されており、前記蒸留器と前記
貯留タンクとの間には、前記蒸留器によって蒸留された
液体が前記貯留タンクに向かって液体の自重で流れるよ
うに接続されてなることを特徴として構成される。
貯留タンクと、前記液体に含まれている水分を除去する
ための水分離フィルタと、液体に含まれている沸点の異
なる他の液体を蒸留するための蒸留器とを有してなり、
前記水分離フィルタは、前記液体が前記貯留タンクの底
部から前記蒸留器の蒸発器に向かって液体の自重で流れ
るように配置されて接続されており、前記蒸留器と前記
貯留タンクとの間には、前記蒸留器によって蒸留された
液体が前記貯留タンクに向かって液体の自重で流れるよ
うに接続されてなることを特徴として構成される。
貯留タンクに一時的に貯留した液体は、液体の自重によ
って蒸留器内に流入し、その際に液体内の水分が除去さ
れる。
って蒸留器内に流入し、その際に液体内の水分が除去さ
れる。
蒸留器内の液体は、蒸留によって沸点の低い液体が得ら
れ、この液体は、U字管路をその自重により流れて貯留
タンク内に流入する。
れ、この液体は、U字管路をその自重により流れて貯留
タンク内に流入する。
なお、液体の自重によって流れるという意味は、液体が
自重のみによって流れることが可能であればよいという
ことであり、液体が常に自重によってのみ流れるという
ことではない点に注意すべきである。
自重のみによって流れることが可能であればよいという
ことであり、液体が常に自重によってのみ流れるという
ことではない点に注意すべきである。
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
第2図は、本発明に係る分離装置3を有した浄化装置l
の液体回路図である。
の液体回路図である。
第2図において、鎖線で示したサーマルショック試験装
置2は、高温槽HT及び低温槽LTを有しており、これ
らの槽には、互いに沸点の異なるフッ素系不活性液の高
温液HQ又は低温液LQが適当な液位まで充填されてい
る。
置2は、高温槽HT及び低温槽LTを有しており、これ
らの槽には、互いに沸点の異なるフッ素系不活性液の高
温液HQ又は低温液LQが適当な液位まで充填されてい
る。
低温液LQは、マイナス60度C程度の氷点下で使用さ
れることが多いため、パーティクル、水分、及び高温液
HQの混入と酸(フッ素イオン)の蓄積とが発生する。
れることが多いため、パーティクル、水分、及び高温液
HQの混入と酸(フッ素イオン)の蓄積とが発生する。
高温液HQは、百数十度C程度で使用されることが多い
ため、水分及び低温液LQは沸騰して蒸発し、これらの
混入はほとんど発生せず、パーティクルの混入と酸の蓄
積とが主として発生する。
ため、水分及び低温液LQは沸騰して蒸発し、これらの
混入はほとんど発生せず、パーティクルの混入と酸の蓄
積とが主として発生する。
したがって浄化装置1は、低温液LQについて、パーテ
ィクルを除去しながら浄化装置l内に回収する低温液回
収工程、酸を吸着除去する酸除去工程、水分を除去する
水除去工程、高温液HQを分離除去する蒸留工程、浄化
された低温液LQを低温槽LTへ戻す低温液送出工程、
及び蒸留工程によって分離し残留した高温液HQを高温
槽HTへ送出する高、温残留液送出工程を実行する。
ィクルを除去しながら浄化装置l内に回収する低温液回
収工程、酸を吸着除去する酸除去工程、水分を除去する
水除去工程、高温液HQを分離除去する蒸留工程、浄化
された低温液LQを低温槽LTへ戻す低温液送出工程、
及び蒸留工程によって分離し残留した高温液HQを高温
槽HTへ送出する高、温残留液送出工程を実行する。
また、高温液HQについては、高温液回収工程、酸除去
工程、及び浄化された高温液HQを高温槽HTへ送出す
る高温液送出工程を実行する。
工程、及び浄化された高温液HQを高温槽HTへ送出す
る高温液送出工程を実行する。
さて、浄化装置lは、ポンプ11.パーティクル除去フ
ィルタ12、貯留タンク13、高温液HQ用の酸吸着フ
ィルタ14、低温液LQ用の酸吸着フィルタ15、水分
離フィルタ16、蒸留器17、蒸留器17に接続された
0字管路18、電磁切換え弁SV1〜11、手動式の三
方切り換え弁Vl、2、圧力スイッチPS1〜3、フロ
ートスイッチFSI〜3、温度センサーTSI、多数の
管路や電線、及び制御装置などがフレーム上に組み立て
られ、外周がカバーで覆われているとともに、操作パネ
ルが前面の適当位置に設けられて構成されている。
ィルタ12、貯留タンク13、高温液HQ用の酸吸着フ
ィルタ14、低温液LQ用の酸吸着フィルタ15、水分
離フィルタ16、蒸留器17、蒸留器17に接続された
0字管路18、電磁切換え弁SV1〜11、手動式の三
方切り換え弁Vl、2、圧力スイッチPS1〜3、フロ
ートスイッチFSI〜3、温度センサーTSI、多数の
管路や電線、及び制御装置などがフレーム上に組み立て
られ、外周がカバーで覆われているとともに、操作パネ
ルが前面の適当位置に設けられて構成されている。
電磁切換え弁SVI、2には、それぞれサーマルシ四ツ
ク試験装置2の低温槽LT又は高温槽HTにカプラーC
Pを介して接続可能なホース21゜22が接続されてお
り、また、三方切り換え弁■1.2には、同様にカプラ
ーCPを介して低温槽LT又は高温槽HTに接続可能な
ホース23.24が接続可能となっている。
ク試験装置2の低温槽LT又は高温槽HTにカプラーC
Pを介して接続可能なホース21゜22が接続されてお
り、また、三方切り換え弁■1.2には、同様にカプラ
ーCPを介して低温槽LT又は高温槽HTに接続可能な
ホース23.24が接続可能となっている。
三方切り換え弁Vl、2は、通常は第2図に示すような
切り換え位置にセットされているが、ホース23.24
を接続して使用する場合には、これらのホース23.2
4が電磁切換え弁SV5゜4にそれぞれ接続されるよう
な切り換え位置に切り換えられる。
切り換え位置にセットされているが、ホース23.24
を接続して使用する場合には、これらのホース23.2
4が電磁切換え弁SV5゜4にそれぞれ接続されるよう
な切り換え位置に切り換えられる。
パーティクル除去フィルタ12は、液中に含まれるパー
ティクルを濾過してクリーニングする公知のものである
。パーティクルは、酸吸着フィルタ14.15によって
も除去されるが、パーティクル除去フィルタ12がない
場合には、全部のパーティクルが酸吸着フィルタ14.
15に付着するため、酸吸着フィルタ14.15の寿命
が短くなってしまう。
ティクルを濾過してクリーニングする公知のものである
。パーティクルは、酸吸着フィルタ14.15によって
も除去されるが、パーティクル除去フィルタ12がない
場合には、全部のパーティクルが酸吸着フィルタ14.
15に付着するため、酸吸着フィルタ14.15の寿命
が短くなってしまう。
酸吸着フィルタ14.15は、活性アルミナや活性白土
などを用いて液中に含まれるフッ素イオン(F−イオン
)や塩素イオン(CIl−イオン)などを吸着する公知
のものであり、これによって腐食の原因となる酸が除去
される。
などを用いて液中に含まれるフッ素イオン(F−イオン
)や塩素イオン(CIl−イオン)などを吸着する公知
のものであり、これによって腐食の原因となる酸が除去
される。
水分離フィルタ16は、水を反発する性質を有する材料
を用いて構成され、貯留タンク13と後述する蒸発器3
1との中間高さ位置に取り付けられており、流入する液
体の位置エネルギーによって内部を流通して液体と水分
とを二層分離し、水分を排水路16aから自動的に排水
する公知のものである。
を用いて構成され、貯留タンク13と後述する蒸発器3
1との中間高さ位置に取り付けられており、流入する液
体の位置エネルギーによって内部を流通して液体と水分
とを二層分離し、水分を排水路16aから自動的に排水
する公知のものである。
ポンプ11の下流側(吐出口)に設けられた圧力スイッ
チPS1は、液体による管路の背圧を検出するように設
定されており、タイマーによる一定時間(例えばlO秒
程度)が経過する間に連続して背圧の低下を検出するこ
とによって、低温槽LT又は高温槽HT内の浄化すべき
液体の回収が終了したこと、及び蒸留器17に残留した
残留液の送出が終了したことを検知する。
チPS1は、液体による管路の背圧を検出するように設
定されており、タイマーによる一定時間(例えばlO秒
程度)が経過する間に連続して背圧の低下を検出するこ
とによって、低温槽LT又は高温槽HT内の浄化すべき
液体の回収が終了したこと、及び蒸留器17に残留した
残留液の送出が終了したことを検知する。
また、圧力スイッチPS2は、ポンプ11の通常の吐出
圧力よりも大きい圧力を検出するように設定されており
、フィルタの目詰まりなどによる管路内の異常圧力を検
知してポンプ11を停止させる。
圧力よりも大きい圧力を検出するように設定されており
、フィルタの目詰まりなどによる管路内の異常圧力を検
知してポンプ11を停止させる。
圧力スイッチPS3は、冷却水が正常に流れているか否
かを検知する。
かを検知する。
フロートスイッチFSI、2は、貯留タンク13内の液
体の液位を検知し、フロートスイッチFS3は、浄化装
置lの内部において漏れて溜まった液体が一定の量に達
したことを検知する。
体の液位を検知し、フロートスイッチFS3は、浄化装
置lの内部において漏れて溜まった液体が一定の量に達
したことを検知する。
温度センサーTSIは、蒸留器17の蒸発器31内の液
体の温度を検出して蒸留の終点を検知する。
体の温度を検出して蒸留の終点を検知する。
第1図は、本発明に係る分離装置3の構造及び配置位置
の関係を示す正面図である。
の関係を示す正面図である。
分離装置3は、貯留タンク13、水分離フィルタ16、
蒸留器17、及び0字管路18などから構成されている
。
蒸留器17、及び0字管路18などから構成されている
。
貯留タンク13は、ステンレス鋼板を板金加工して箱状
に形成したもので、その内部に上述したフロートスイッ
チFSI、2が設けられており、上蓋には外気と連通ず
るための穴が設置すられている。
に形成したもので、その内部に上述したフロートスイッ
チFSI、2が設けられており、上蓋には外気と連通ず
るための穴が設置すられている。
貯留タンク13の底部には、電磁切換え弁Sv7及び水
分離フィルタ16が配管接続されており、電磁切換え弁
SV7が開となることによって、貯留タンク13内の液
体はその自重で水分離フィルタ16内を流通し、蒸留器
17の蒸発器31内に流入する。つまり、水分離フィル
タ16は、貯留タンク13と蒸発器31との高さ位置関
係に応じた液体の自然流によって効率よく作動し、液体
中に含まれている水分を分離して排水路16aから排水
する。
分離フィルタ16が配管接続されており、電磁切換え弁
SV7が開となることによって、貯留タンク13内の液
体はその自重で水分離フィルタ16内を流通し、蒸留器
17の蒸発器31内に流入する。つまり、水分離フィル
タ16は、貯留タンク13と蒸発器31との高さ位置関
係に応じた液体の自然流によって効率よく作動し、液体
中に含まれている水分を分離して排水路16aから排水
する。
蒸留器17は、ステンレス鋼板を板金加工して形成した
もので、底部にヒータ32が取り付けられた直方体状の
蒸発器31、蒸発器31の上部に連結された円筒状の塔
33、塔33の上部に連結され塔33よりも径大で蓋3
4bで密閉された円筒状の凝縮器34、及び、凝縮器3
4の底部と塔33の上端部とによって形成された環状の
受は皿35が一体となって構成されている。蒸発器31
及び塔33の外周面には、図示しない断熱材が被覆され
ている。
もので、底部にヒータ32が取り付けられた直方体状の
蒸発器31、蒸発器31の上部に連結された円筒状の塔
33、塔33の上部に連結され塔33よりも径大で蓋3
4bで密閉された円筒状の凝縮器34、及び、凝縮器3
4の底部と塔33の上端部とによって形成された環状の
受は皿35が一体となって構成されている。蒸発器31
及び塔33の外周面には、図示しない断熱材が被覆され
ている。
水分離フィルタ16からポー)41を経“ζ流入した混
合液体(低温液LQに少量の高温液HQが混入した液体
)は、蒸発器31内に溜められる。
合液体(低温液LQに少量の高温液HQが混入した液体
)は、蒸発器31内に溜められる。
ヒータ32によって加熱が開始されると、混合液体は常
温付近から徐々に温度上昇し、混合液体の殆どを占める
沸点の低い低温液LQの蒸発が活発になり、120〜1
30度C付近で蒸発量が最も多くなる。
温付近から徐々に温度上昇し、混合液体の殆どを占める
沸点の低い低温液LQの蒸発が活発になり、120〜1
30度C付近で蒸発量が最も多くなる。
蒸発器31で蒸発した蒸気は、塔33内を上昇し、凝縮
室34aに至る。蒸発器31と凝縮器34とが塔33に
よって一定の距離に隔てられているため、高温液HQの
蒸気が凝縮室34aにまで至ることが抑制され、蒸留の
効率向上が図られている。
室34aに至る。蒸発器31と凝縮器34とが塔33に
よって一定の距離に隔てられているため、高温液HQの
蒸気が凝縮室34aにまで至ることが抑制され、蒸留の
効率向上が図られている。
am器34は、コイル状の冷却バイブ31を有しており
、冷却バイブ37内を冷却水が入口37aから出口37
bに向かって流通することにより、凝縮室34aの蒸気
が凝縮して低温液LQが得られ、これが受は皿35に滴
下する。
、冷却バイブ37内を冷却水が入口37aから出口37
bに向かって流通することにより、凝縮室34aの蒸気
が凝縮して低温液LQが得られ、これが受は皿35に滴
下する。
受は皿35に滴下した低温液LQは、その自重によって
、受は皿35の底部に設けられた流出穴35aから0字
管路18に流れ込む、0字管路18内には、低温液LQ
が滞留することとなるが、凝縮室34a内の蒸気圧が流
出穴35aを経て加わるため、0字管路18の蒸留器1
7例の液面が貯留タンク13側の液面よりも低下し、液
面差hlが生じる。つまり、0字管路18があるために
凝縮室34aに蒸気圧力phが発生し、これによって、
低温液LQの凝縮がほぼ完全に行われるとともに、高温
液HQの同伴蒸発が抑制され、蒸留の効率が向上する。
、受は皿35の底部に設けられた流出穴35aから0字
管路18に流れ込む、0字管路18内には、低温液LQ
が滞留することとなるが、凝縮室34a内の蒸気圧が流
出穴35aを経て加わるため、0字管路18の蒸留器1
7例の液面が貯留タンク13側の液面よりも低下し、液
面差hlが生じる。つまり、0字管路18があるために
凝縮室34aに蒸気圧力phが発生し、これによって、
低温液LQの凝縮がほぼ完全に行われるとともに、高温
液HQの同伴蒸発が抑制され、蒸留の効率が向上する。
さて、蒸発器31内の混合液体の温度は時間とともに上
昇するが、低温液LQが蒸発するにつれて混合液体内の
低温液LQの濃度が低下し、これによって混合液体の沸
点も上昇するため、混合液体の温度は高温液HQの沸点
を容易に越えない。
昇するが、低温液LQが蒸発するにつれて混合液体内の
低温液LQの濃度が低下し、これによって混合液体の沸
点も上昇するため、混合液体の温度は高温液HQの沸点
を容易に越えない。
低温液LQの殆どが蒸発して高温液HQの濃度が高くな
ると、混合液体の沸点は高温液HQの沸点に近づくが、
高温液HQの沸点を越えない適当な温度(例えば160
度C程度)になったときに、温度センサーTSIがこれ
を検知し、ヒータ32による加熱を停止して蒸留を終了
する。
ると、混合液体の沸点は高温液HQの沸点に近づくが、
高温液HQの沸点を越えない適当な温度(例えば160
度C程度)になったときに、温度センサーTSIがこれ
を検知し、ヒータ32による加熱を停止して蒸留を終了
する。
蒸留が終了した時点では、貯留タンク13には浄化され
た低温液LQのみが貯留され、蒸発器31内には濃度の
高い高温液HQが残留する。
た低温液LQのみが貯留され、蒸発器31内には濃度の
高い高温液HQが残留する。
上述した各種機器によって、冒頭で説明した各種の工程
を実行するための液路が構成されているが、低温槽LT
内の汚染された低温液LQを貯留タンク13に移し替え
て一時的に貯留するための回収液路4Lは、ホース21
、電磁切換え弁Sv1、ポンプ11、電磁切換え弁SV
6、パーティクル除去フィルタ12、及び貯留タンク1
3を含んだ管路によって構成されている。
を実行するための液路が構成されているが、低温槽LT
内の汚染された低温液LQを貯留タンク13に移し替え
て一時的に貯留するための回収液路4Lは、ホース21
、電磁切換え弁Sv1、ポンプ11、電磁切換え弁SV
6、パーティクル除去フィルタ12、及び貯留タンク1
3を含んだ管路によって構成されている。
また、同様に高温液HQのための回収液路4Hは、ホー
ス22、電磁切換え弁SV2、ポンプ11、電磁切換え
弁SV6、パーティクル除去フィルタ12、及び貯留タ
ンク13を含んだ管路によって構成されている。
ス22、電磁切換え弁SV2、ポンプ11、電磁切換え
弁SV6、パーティクル除去フィルタ12、及び貯留タ
ンク13を含んだ管路によって構成されている。
低温液LQに含まれている酸を除去するための酸除去液
路5Lは、貯留タンク13、電磁切換え弁SV3、ポン
プ11、酸吸着フィルタ15、及び電磁切換え弁5VI
Iを含んだ循環管路によって構成されている。
路5Lは、貯留タンク13、電磁切換え弁SV3、ポン
プ11、酸吸着フィルタ15、及び電磁切換え弁5VI
Iを含んだ循環管路によって構成されている。
また、同様に高温液HQのための酸除去液路5Hは、貯
留タンク13、電磁切換え弁SV3、ポンプ11、酸吸
着フィルタ14、及び電磁切換え弁5VIOを含んだ循
環管路によって構成されている。
留タンク13、電磁切換え弁SV3、ポンプ11、酸吸
着フィルタ14、及び電磁切換え弁5VIOを含んだ循
環管路によって構成されている。
低温液LQに含まれている水分を除去するための水除去
液路6Lは、貯留タンク13、電磁切換え弁SV7、水
分離フィルタ16、及び蒸留器17の蒸発器31を含ん
だ管路によって構成されている。
液路6Lは、貯留タンク13、電磁切換え弁SV7、水
分離フィルタ16、及び蒸留器17の蒸発器31を含ん
だ管路によって構成されている。
低温液LQに含まれている高温液HQを除去するための
蒸留液路7Lは、蒸留器17.0字管路18、及び貯留
タンク13を含んだ管路によって構成されている。
蒸留液路7Lは、蒸留器17.0字管路18、及び貯留
タンク13を含んだ管路によって構成されている。
浄化された低温液LQを低温槽LTへ送出して戻すため
の送出液路8Lは、貯留タンク13、電磁切換え弁SV
3、ポンプ11、酸吸着フィルタ15、電磁切換え弁S
V5、三方切り換え弁v2、及びホース21を含んだ管
路によって構成されている。
の送出液路8Lは、貯留タンク13、電磁切換え弁SV
3、ポンプ11、酸吸着フィルタ15、電磁切換え弁S
V5、三方切り換え弁v2、及びホース21を含んだ管
路によって構成されている。
また、同様に高温液HQのための送出液路8Hは、貯留
タンク13、電磁切換え弁SV3、ポンプ11、酸吸着
フィルタ14、電磁切換え弁SV4、三方切り換え弁v
1、及びホース22を含んだ管路によって構成されてい
る。
タンク13、電磁切換え弁SV3、ポンプ11、酸吸着
フィルタ14、電磁切換え弁SV4、三方切り換え弁v
1、及びホース22を含んだ管路によって構成されてい
る。
蒸留器17の蒸発器31に残った残留fi(高温液HQ
)を高温槽HTへ戻すための残留液送出液路9Hは、蒸
留器17、電磁切換え弁SV8、ポンプ11、酸吸着フ
ィルタ14、電磁切換え弁Sv4、三方切り換え弁v1
、及びホース22を含んだ管路によって構成されている
。
)を高温槽HTへ戻すための残留液送出液路9Hは、蒸
留器17、電磁切換え弁SV8、ポンプ11、酸吸着フ
ィルタ14、電磁切換え弁Sv4、三方切り換え弁v1
、及びホース22を含んだ管路によって構成されている
。
次に、上述した分離装置3の動作について簡単に説明す
る。
る。
まず、水除去工程では、電磁切換え弁SV?を開とし、
水除去液路6Lによって貯留タンク13内の低温液LQ
(混合液体)を水分離フィルタ16を通して蒸留器17
に移し替える。水分離フィルタ16内を流通することに
より水分が除去される。水除去工程の終了はフロートス
イッチFS2によって検知される。
水除去液路6Lによって貯留タンク13内の低温液LQ
(混合液体)を水分離フィルタ16を通して蒸留器17
に移し替える。水分離フィルタ16内を流通することに
より水分が除去される。水除去工程の終了はフロートス
イッチFS2によって検知される。
次に蒸留工程では、電磁切換え弁SV9を開とし、ヒー
タ32をオンして加熱を開始する。温度センサーTSI
が終点温度を検知することにより、蒸留工程を終了する
。浄化された低温液LQは凝縮器34及び0字管路18
を経て貯留タンク13に貯留され、高温液HQは蒸発器
31に残留する。
タ32をオンして加熱を開始する。温度センサーTSI
が終点温度を検知することにより、蒸留工程を終了する
。浄化された低温液LQは凝縮器34及び0字管路18
を経て貯留タンク13に貯留され、高温液HQは蒸発器
31に残留する。
低温液送出工程では、電磁切換え弁SV3,5を開とし
、ポンプ11を作動させ、貯留タンク13内の浄化され
た低温液LQを低温槽LTに戻す。
、ポンプ11を作動させ、貯留タンク13内の浄化され
た低温液LQを低温槽LTに戻す。
高温残留液送出工程では、電磁切換え弁SV8゜4を開
とし、ポンプ11を作動させ、蒸発器31に残留した高
温液HQを高温槽HTに戻す。
とし、ポンプ11を作動させ、蒸発器31に残留した高
温液HQを高温槽HTに戻す。
上述の実施例によると、浄化装置lをサーマルショック
試験装置2の付近に配置し、ホース21゜22を低温槽
LT又は高温槽HTに接続した上で、各工程を実行させ
ることにより、汚染された高温液HQ及び低温液LQの
浄化処理又は分離処理をその場で簡便迅速に且つ低コス
トで行うことができる。
試験装置2の付近に配置し、ホース21゜22を低温槽
LT又は高温槽HTに接続した上で、各工程を実行させ
ることにより、汚染された高温液HQ及び低温液LQの
浄化処理又は分離処理をその場で簡便迅速に且つ低コス
トで行うことができる。
分離装置3によって、低温液LQに含まれた水分が除去
され且つ低温液LQに混入した高温液HQが分離される
から、汚染された低温液LQをほぼ完全に浄化すること
ができる1分離された高温液HQは浄化された高温液H
Qとして戻されるから、高価な高温液HQの消耗が可及
的に防止される。
され且つ低温液LQに混入した高温液HQが分離される
から、汚染された低温液LQをほぼ完全に浄化すること
ができる1分離された高温液HQは浄化された高温液H
Qとして戻されるから、高価な高温液HQの消耗が可及
的に防止される。
上述の実施例によると、貯留タンク13に一時的に貯留
した低温液LQは、その自重によって水分離フィルタ1
6を経て蒸留器17内に流入し、また蒸留器17により
蒸留された低温液LQは、その自重によって0字管路1
8を流通し、貯留タンク13に流入するので、これらの
間での低温液LQの流通が自然に行われ、低温液LQを
圧送するためのポンプが不要である。また、水分離フィ
ルタ16内を低温液LQの自重によって流れるので、水
分離フィルタ16による水分離が効率よく行われる。
した低温液LQは、その自重によって水分離フィルタ1
6を経て蒸留器17内に流入し、また蒸留器17により
蒸留された低温液LQは、その自重によって0字管路1
8を流通し、貯留タンク13に流入するので、これらの
間での低温液LQの流通が自然に行われ、低温液LQを
圧送するためのポンプが不要である。また、水分離フィ
ルタ16内を低温液LQの自重によって流れるので、水
分離フィルタ16による水分離が効率よく行われる。
上述の実施例によると、蒸発器31、塔33、及び凝縮
器34が上下方向に連結されて一体に構成されているか
ら、蒸留器17を小型のものとすることができ、且つ設
置面積(底面積)が少なくて済む、また、0字管路18
には低温液LQが溜まり、このため、1i縮器34内に
は蒸気による圧力が発生する。これによって凝縮がより
完全に行われるとともに、高温液HQの同伴蒸発が抑制
され、また蒸気が0字管路18を通過することが防止さ
れ、蒸留の効率が向上して沸点の近い液体であっでも効
率よく蒸留することができる。蒸留は、ヒータ32のオ
ンによって開始し、温度センサーTSIによる終点温度
の検知によって終了するので、制御及び操作が極めて簡
単である。
器34が上下方向に連結されて一体に構成されているか
ら、蒸留器17を小型のものとすることができ、且つ設
置面積(底面積)が少なくて済む、また、0字管路18
には低温液LQが溜まり、このため、1i縮器34内に
は蒸気による圧力が発生する。これによって凝縮がより
完全に行われるとともに、高温液HQの同伴蒸発が抑制
され、また蒸気が0字管路18を通過することが防止さ
れ、蒸留の効率が向上して沸点の近い液体であっでも効
率よく蒸留することができる。蒸留は、ヒータ32のオ
ンによって開始し、温度センサーTSIによる終点温度
の検知によって終了するので、制御及び操作が極めて簡
単である。
上述の実施例において、貯留タンク13、水分離フィル
タ16、蒸留器17、及び0字管路18の水平方向の位
置関係は、第1図に示した状態よりももっと互いに接近
させ又は離間させることができる。また、垂直方向の位
置関係も可変することができる。ボート41や流出穴3
5aなどの位置は、上述した以外の位置でもよい、凝縮
器34や塔33は、四角や六角などの角筒状でもよく、
また蒸発器31は、六角など他の角筒状又は円筒状でも
よい、冷却パイプ37には、圧縮器によって液化された
冷媒など他の冷却液を流通させてもよい、その他の各部
の形状、寸法、構造、材質などは、上述した以外の種々
のものを採用することが可能である。
タ16、蒸留器17、及び0字管路18の水平方向の位
置関係は、第1図に示した状態よりももっと互いに接近
させ又は離間させることができる。また、垂直方向の位
置関係も可変することができる。ボート41や流出穴3
5aなどの位置は、上述した以外の位置でもよい、凝縮
器34や塔33は、四角や六角などの角筒状でもよく、
また蒸発器31は、六角など他の角筒状又は円筒状でも
よい、冷却パイプ37には、圧縮器によって液化された
冷媒など他の冷却液を流通させてもよい、その他の各部
の形状、寸法、構造、材質などは、上述した以外の種々
のものを採用することが可能である。
上述の実施例においては、分離装置3をサーマルショッ
ク試験装置2の試験液の分離に適用する場合について説
明したが、その他の混合液体や溶液の分離に適用するこ
とができる。
ク試験装置2の試験液の分離に適用する場合について説
明したが、その他の混合液体や溶液の分離に適用するこ
とができる。
本発明によると、貯留タンクに一時的に貯留した液体は
、その自重によって水分離フィルタを経て蒸留器内に流
入し、また蒸留器により蒸留された液体は、その自重に
よってU字管路を流通し貯留タンクに流入するので、こ
れらの間での液体の流通が自然に行われ、液体を圧送す
るための特別なポンプが不要であり、装置の制御及び操
作が容易である。水分離フィルタ内を液体が自重によっ
て流れるので、水分離フィルタによる水分離が効率よく
行われる。
、その自重によって水分離フィルタを経て蒸留器内に流
入し、また蒸留器により蒸留された液体は、その自重に
よってU字管路を流通し貯留タンクに流入するので、こ
れらの間での液体の流通が自然に行われ、液体を圧送す
るための特別なポンプが不要であり、装置の制御及び操
作が容易である。水分離フィルタ内を液体が自重によっ
て流れるので、水分離フィルタによる水分離が効率よく
行われる。
これによって、液体に混入した水分及び沸点の異なる他
の液体を容易に分離して、液体を効率よく且つ低コスト
で再生することができる。
の液体を容易に分離して、液体を効率よく且つ低コスト
で再生することができる。
したがって、分離装置を使用した浄化装置をサーマルシ
ョック試験装置などの近辺に設置して、試験液をその場
で容易に浄化再生することができる。
ョック試験装置などの近辺に設置して、試験液をその場
で容易に浄化再生することができる。
第1図は本発明に係る分離装置の構造及び配置位置の関
係を示す正面図、第2図は第1図の分離装置を有した浄
化装置の液体回路図である。 3・・・分離装置、13・・・貯留タンク、16・・・
水分離フィルタ、17・・・蒸留器、18・・・U字管
路、31・・・蒸発器、LQ・・・低温液(液体)、H
Q・・・高温液(他の液体)。
係を示す正面図、第2図は第1図の分離装置を有した浄
化装置の液体回路図である。 3・・・分離装置、13・・・貯留タンク、16・・・
水分離フィルタ、17・・・蒸留器、18・・・U字管
路、31・・・蒸発器、LQ・・・低温液(液体)、H
Q・・・高温液(他の液体)。
Claims (1)
- (1)液体を貯留する貯留タンクと、 前記液体に含まれている水分を除去するた めの水分離フィルタと、 液体に含まれている沸点の異なる他の液体 を蒸留するための蒸留器と を有してなり、 前記水分離フィルタは、前記液体が前記貯 留タンクの底部から前記蒸留器の蒸発器に向かって液体
の自重で流れるように配置されて接続されており、 前記蒸留器と前記貯留タンクとの間には、 前記蒸留器によって蒸留された液体が前記貯留タンクに
向かって液体の自重で流れるように接続されてなる ことを特徴とする分離装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1040946A JPH02218401A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | 液体の分離装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1040946A JPH02218401A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | 液体の分離装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02218401A true JPH02218401A (ja) | 1990-08-31 |
| JPH0523801B2 JPH0523801B2 (ja) | 1993-04-05 |
Family
ID=12594674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1040946A Granted JPH02218401A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | 液体の分離装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02218401A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001137607A (ja) * | 1999-11-11 | 2001-05-22 | Olympus Optical Co Ltd | 分散剤の再生方法 |
| JP2012012459A (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Nk Corporation:Kk | 廃棄物の処理装置及び処理方法 |
-
1989
- 1989-02-21 JP JP1040946A patent/JPH02218401A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001137607A (ja) * | 1999-11-11 | 2001-05-22 | Olympus Optical Co Ltd | 分散剤の再生方法 |
| JP2012012459A (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Nk Corporation:Kk | 廃棄物の処理装置及び処理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0523801B2 (ja) | 1993-04-05 |
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