JPH02221875A - 測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば各種電子機器の生産設備における回
路基板の調節や検査等に用いて好適な測定装置に関する
。

（発明の概要〕 この発明は、複数のテストポイントを有する回路基板の
各テストポイントにおける信号波形または電圧を測定す
る測定装置において、測定するテストポイントの位置を
指定する指定手段と、この指定手段によって指定された
テストポイントから出力される被測定信号の波形または
電圧を測定する測定手段と、指定手段によって指定され
たテストポイントに対応したメツセージを表示する表示
手段とを備えることにより、調整や検査等を簡単にして
生産効率を上げるようにしたものである。

〔従来の技術〕

電子機器の回路基板を製造する場合、最近では測定レン
ジを自動的に切換えできるプログラム可能なオシロスコ
ープ（以下、プログラムオシロと云う）をライン工程の
所定箇所に配置し、これを用いて回路基板の調整や検査
を行うようにしている。

このようなプログラムオシロによる作業は工程別に行う
が、その作業内容は作業者が記憶するかまたは指導書等
を用いて行われる。

また、回路基板を検査する場合、一般に電圧レベルの安
定した部分例えばペデスタル部分の電圧やクランプ部分
の電圧等を検査するが、その際にペデスタル部分やクラ
ンプ部分の電圧等をサンプリングして電圧を測定するの
にサンプリングホールド回路を用いている。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、従来の如く作業内容を記憶したり、指導書等
を見乍ら作業を進める方法の場合、多機線生産になると
記憶するのが困難であり、また、指導書等は枚数も多く
指導書を一枚一枚確認しながら作業をしなければならな
いので、熟練と時間を要し、非常に作業効率が悪い等の
欠点があった。

また、上述の如くペデスタル部分やクランプ部分の電圧
等を検査するのに単にサンプリングホールド回路を用い
る方法は垂直同期信号の部分になまりがある（これをＶ
サグと云う）波形の場合、電圧値が変動しているので正
確な測定ができず、調整に誤りを生ずる等の欠点があっ
た。

この発明は斯る点に鑑みてなされたもので、何隻熟練を
要することなく容易に調整や検査等が行うことができる
作業効率の向上が可能なしかも精度の高い調整、検査等
が可能な測定装置を提供するものである。

〔課題を解決するための手段〕

この発明は、複数のテストポイントを有する回路基板の
各テストポイントにおける信号波形または電圧を測定す
る測定装置において、測定するテストポイントの位置を
指定する指定手段（７，８）と、この指定手段（７，８
）によって指定されたテストポイントから出力される被
測定信号の波形または電圧を測定する測定手段（１，５
，６）と、指定手段（７，８）によって指定されたテス
トポイントに対応したメツセージを表示する表示手段（
２，３）とを備え、測定手段（５）は入力された被測定
信号の水平同期信号に基づいてサンプリングパルスを形
成する第１のパルス形成回路（３１）、被測定信号の垂
直同期信号に基づいてゲート信号を形成する第２のパル
ス形成回路（３３）と、サンプリングパルスをゲート信
号に基づいてゲートするゲート回路（３４）と、このゲ
ート回路（３４）の出力に基づいて被測定信号の所定の
点の電圧をサンプリングするサンプリング回路（３５）
とを備えるように構成している。

〔作用〕

指定手段（７，８）で測定する回路基板のテストポイン
トの位置を指定する。測定手段（１，５，６）では指定
されたテストポイントから出力される被測定信号の波形
または電圧を測定する。一方、表示手段（２，３）の方
には指定されたテストポイントに対応したメツセージ例
えばｒ　ＲＶＸＸＸを回して波形の大きさがＸＸｖ±Ｘ
Ｘになるように調整して下さい」と表示する。また、測
定手段（５）では安定した期間だけの電圧を検出して測
定するために、水平同期・信号からサンプリングパルス
を第１のパルス形成回路（３１）で形成し、このサンプ
リングパルスを第２のパルス形成回路（３３）で垂直同
期信号から形成したゲート信号でゲートして、サンプリ
ング回路（３５）において被測定信号の所定の点の電圧
例えばペデスタル部分等の電圧をサンプリングする。こ
れにより、作業が簡単となって作業効率を上げることが
できると共に精度の高い調整、検査等が可能となる。

〔実施例〕

以下、この発明の諸実施例を第１図〜第６図に基づいて
詳しく説明する。

第１図はこの発明の第１実施例を示すもので、同図にお
いて（１）は例えばパーソナルコンピュータを用いたコ
ントローラ、（２）は記憶装置としての例えばフロッピ
、（３）は表示装置としてのデイスプレィである。フロ
ッピ（２）には作業の工程番号或いはテストポイントに
対応したメツセージや被測定基板に対する測定用条件デ
ータが予め記憶されている。メツセージとしては例えば
ｒ　ＲＶＸＸＸを回して波形の大きさがＸＸＶ±ｘｘに
なるように調整して下さい」等作業手順に関する情報が
含まれる。また、測定用条件データとしては例えばｎ番
目のテストポイントとｎ＋１番目のテストポイントを接
続する等の測定に際して必要な条件設定を指定するデー
タ等が含まれる。メツセージは工程番号やテストポイン
トが設定されると、それに対応してフロッピ（２）から
読み出されてデイスプレィ（３）に表示される。

（４）は被測定基板取付部であって、複数のテストポイ
ントを有する一種の治具である。上述の測定用条件デー
タは、工程番号やテストポイントが指定されると、それ
に対応してフロッピ（２）から読み出されてコントロー
ラ（１）のｌ１０１より被測定基板取付部（４）に与え
られる。この被測定基板取付部（４）には被測定基板を
動作させるために電源（図示せず）は勿論カラーパー信
号やスイープ信号等各種の信号源が与えられている。

（５）は被測定基板取付部（４）からの信号を分析出力
、するアナライザであって、後述するサンプリング用の
回路もここに内蔵されている。被測定基板取付部（４）
の各テストポイントからの信号がアナライザ（５）に供
給されると、アナライザ（５）はコントローラ（１）の
ｌ１０３からのコントロール信号に基づいて必要なテス
トポイントからの信号を選択し、波形情報はプログラム
オシロ（６）に供給し、電圧情報はコントローラ（１）
に供給して測定に供する。

（７）はシーケンスコントローラであって、工程番号を
指定するアップ／ダウンキーを有し、このキーで指定さ
れた工程番号がシーケンス出力としてコントローラ（１
）のｌ１０２に供給される。

次に第１図の回路動作を第２図を参照して説明する。ス
テップ（１０）でコントローラ（１）はシーケンスコン
トローラ（７）で指定されている工程番号ｍを取り込む
、つまり、コントローラ（１）はシーケンスコントロー
ラ（７）から指定される工程番号を常時チエツクしてい
る。そして、コントローラ（１）はステップ（１１）で
工程番号ｍが変化したか否かを判断し、変化してなけれ
ば変化するまで待機し、変化したらステップ（１２）で
その変化した工程番号に対応したフロッピ（２）の読出
しトラック番号を１つだけインクリメントする。

そして、コントローラ（１）はステップ（１３）で読出
しトラック番号に基づいてフロッピ（２）のｎトラック
から変化した工程番号に対応したメツセージと測定用条
件データを読み出す、そして、コントローラ（１）はス
テップ（１４）で読み出した測定用条件データを被測定
基板取付部（４）に供給して何番目と何番目のテストポ
イント同士を接続するか等測定に必要な条件設定をさせ
る。

また、コントローラ（１）はステップ（１５）で読み出
したメツセージをデイスプレィ（３）に表示させる。

作業者はこのデイスプレィ（３）に表示されたメツセー
ジを見乍ら所定の作業を行うことができる。

また、コントローラ（１）はステップ（１６）でシーケ
ンスコントローラ（７）から指定されている工程番号が
最後の工程に対応する番号となったが否かを判断し、最
後でなければステップ（１０）に戻って上述の動作を繰
り返えし、最後であれば一連の動作を・終了する。

このようにして本実施例では作業者は工程番号に対応し
たメツセージをデイスプレィ（３）から読み取って行え
ばよいので、同等必要な作業内容を記憶しておく必要も
なく、容易に作業を行うことができる。

第３図はこの発明の第２実施例を示すもので、同図にお
いて、第１図と対応する部分には同一符号を付し、その
詳細説明は省略する。

本実施例では第１図で用いたシーケンスコントローラ（
７）の代わりにキーボード（８）を設け、修理の場合等
任意のときにテストポイントを指定できるようにする。

その他の構成は第１図の場合と同様である。

第３図の回路動作を第４図を参照して説明する。

ステップ（２０）でコントローラ（１）はキーボード（
８）で指定された測定するテストポイントの位置（番号
）を取り込む、そして、コントローラ（１）はステップ
（２１）でキーボード（８）により指定されたテストポ
イントに対応するメツセージと測定用条件データをフロ
ッピ（２）より読み出す０次にコントローラ（１）はス
テップ（２２）で読み出した測定用データを被測定基板
取付部（４）に供給して測定に必要な条件を設定させる
。

また、コントローラ（１）はステップ（２３）で読み出
したメツセージをデイスプレィ（３）に表示させる。

作業者はこのデイスプレィ（３）に表示されたメツセー
ジを見乍ら゛所定の作業を行うことができる。

また、コントローラ（１）はステップ（２４）で測定す
べきテストポイントに関する測定を全て完了したか否か
を判断し、完了してなければステップ（２０）に戻って
上述の動作を繰り返えし、完了しておれば一連の動作を
終了する。

このようにして本実施例でも作業者はテストポイントに
対応するメツセージをデイスプレィ（３）から読み取っ
て行えばよいので、同等必要な作業内容を記憶しておく
必要がなく、容易に作業を行うことができる。

第５図はアナライザ（５）に含まれる回路の一例を示す
もので、同図において、（３０）は内部的に発生・され
た水平同期信号が印加される入力端子、（３１）は入力
端子（１）からの水平同期信号に基づいてサンプリング
パルスを形成する第１のパルス形成回路としての例えば
単安定マルチバイブレーク、（３２）は内部的に発生さ
れた垂直同期信号が印加される入力端子、（３３）は入
力端子（３２）からの垂直同期信号に基づいて垂直ブラ
ンキングパルスの如きゲート信号を形成する第２のパル
ス形成回路としての例えば単安定マルチバイブレータ、
（３４）はゲート信号の期間だけゲートを開いて単安定
マルチバイブレーク（３１）からのサンプリングパルス
を出力するゲート回路、（３５）はサンプリングパルス
に基づいて被測定信号としての映像信号の所定部分例え
ばペデスタル部分の電圧をサンプリングするサンプリン
グ回路、（３６）はコントローラ（１）のＡ／Ｄ側に接
続された出力端子である。

次に第５図の回路動作を第６図を参照し乍ら説明する。

いま、入力端子（３０）より水平同期信号が単安定マル
チバイブレータ（３１）に供給されると、その出力側に
は第６図Ａに示すようなサンプリングパルスＳＩが得ら
れる。また、入力端子（３ｏ）より垂直同期信号が単安
定マルチバイブレーク（３３）に供給されると、その出
力側には第６図Ｂに示すようなゲート信号Ｓ２が得られ
る。このゲート信号Ｓ２はＶサグの少ない期間に設定し
ておく。このゲート信号Ｓｔがゲート回路（３４）に供
給されると、ゲート回！　（３４）はそのゲート信号Ｓ
ｔの期間だけゲートを開き、その期間に入った単安定マ
ルチバイブレータ（３１）からのサンプリングパルスＳ
Ｌのみがその出力側に真のサンプリングパルスＳ８とし
て出力される。

このサンプリングパルスＳ、は次段のサンプリング回路
（３５）に供給され、これに被測定基板取付部（４）側
より供給されて来る第６図りに示すような被測定信号と
しての映像信号Ｓ４の所定部分例えばペデスタル部分の
電圧をサンプリングし、出力端子（３６）に出力する。

この場合ペデスタル部分の電圧は常に一定であるので、
正確な測定が可能となる。つまり、実質的に■サグの部
分を避けてレベルの安定した期間だけの電圧を検出し、
結果としてサンプリングした箇所の調整が精度良く行え
るので調整の誤りがなくなる。

〔発明の効果〕

上述の如くこの発明によれば、プログラムオシロのシー
ケンス出力をもとにそれと同期した工程に対応するメツ
セージを表示して作業を行うようにしたので、同等熟練
を要することなく容易に調整や検査等を行うことができ
、作業効率を向上でき、また各種の機器の生産に対応す
ることができる。

また、■サグのある波形があるときはその部分は避けて
レベルの安定した部分のみ抜取って測定するようにした
ので、精度の高い調整、検査等が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す回路構成図、第２図
は第１図の動作説明に供するためのフローチャート、第
３図はこの発明の他の実施例を示す回路構成図、第４図
は第３図の動作説明に供するためのフローチャート、第
５図はこの発明の要部の一例を示す回路構成図、第６図
は第５図の動作説明に供するための図である。 （１）はコントローラ、（２）はフロッピ、（３）はデ
イスプレィ、（４）は被測定基板取付部、（５）はアナ
ライザ、（６）はプログラムオシロ、（７）はシーケン
スコントローラ、（８）はキーボードである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、複数のテストポイントを有する回路基板の各テスト
   ポイントにおける信号波形または電圧を測定する測定装
   置において、 測定するテストポイントの位置を指定する指定手段と、 該指定手段によって指定されたテストポイントから出力
   される被測定信号の波形または電圧を測定する測定手段
   と、 上記指定手段によって指定されたテストポイントに対応
   したメッセージを表示する表示手段と を備えたことを特徴とする測定装置。 ２、上記測定手段は入力された上記被測定信号の水平同
   期信号に基づいてサンプリングパルスを形成する第１の
   パルス形成回路と、 上記被測定信号の垂直同期信号に基づいてゲート信号を
   形成する第２のパルス形成回路と、上記サンプリングパ
   ルスを上記ゲート信号に基づいてゲートするゲート回路
   と、 該ゲート回路の出力に基づいて上記被測定信号の所定の
   点の電圧をサンプリングするサンプリング回路と を備えたことを特徴とする請求項１記載の測定装置。