JPH02222932A - Method and device for reducing light intensity variation of optical deflector - Google Patents
Method and device for reducing light intensity variation of optical deflectorInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光導波路に表面弾性波を発生させ、この表面
弾性波の回折作用によって導波光を偏向させるようにし
た光偏向器において、偏向ビームの光強度変動を低減さ
せる方法および装置に関するものである。Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention provides an optical deflector that generates surface acoustic waves in an optical waveguide and deflects guided light by the diffraction action of the surface acoustic waves. The present invention relates to a method and apparatus for reducing light intensity fluctuations in a beam.
(従来の技術)
従来より例えば特開昭81−183[i2B号公報に示
されるように、表面弾性波が伝播可能な材料から形成さ
れた光導波路に光を入射させ、この光導波路内を進行す
る導波光と交わる方向に表面弾性波を発生させて該表面
弾性波によって導波光をブラッグ回折させ、そして上記
表面弾性波の周波数を連続的に変化させることにより導
波光の回折角(偏向角)を連続的に変化させるようにし
た光偏向装置が公知となっている。(Prior Art) Conventionally, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 81-183 [i2B], light is incident on an optical waveguide made of a material that allows surface acoustic waves to propagate, and propagates within this optical waveguide. By generating a surface acoustic wave in a direction that intersects the guided light, the surface acoustic wave causes Bragg diffraction of the guided light, and by continuously changing the frequency of the surface acoustic wave, the diffraction angle (deflection angle) of the guided light can be changed. An optical deflection device that continuously changes the amount of light is known.
一方、例えば特開平1−25015号公報に示されるよ
うに、上述の光偏向装置と同様に光導波路において連続
的に周波数が変化する表面弾性波を進行させて、光ビー
ムの波長をΔFJ定する光スペクトラムアナライザーも
提案されている。この光スペクトラムアナライザーは、
光導波路を導波する光ビームが表面弾性波によって回折
する際、その回折角が前述のように表面弾性波周波数に
応じて変化するとともに該光ビームの波長にも応じて変
化することを利用し、光ビームが所定角度回折したとき
の表面弾性波周波数に基づいて該光ビームの波長を求め
るように構成されたものである。On the other hand, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-25015, for example, the wavelength of the light beam is determined by ΔFJ by propagating a surface acoustic wave whose frequency changes continuously in an optical waveguide, similar to the above-mentioned optical deflection device. Optical spectrum analyzers have also been proposed. This optical spectrum analyzer
When a light beam guided through an optical waveguide is diffracted by a surface acoustic wave, the diffraction angle changes according to the surface acoustic wave frequency as described above, and also changes according to the wavelength of the light beam. , the wavelength of the light beam is determined based on the surface acoustic wave frequency when the light beam is diffracted at a predetermined angle.
以上述べたように光ビームを連続的に偏向させる光偏向
装置や光スペクトラムアナライザーを構成する光偏向器
において、表面弾性波発生手段は通常、電極指間隔が変
化する交叉くし形電極対(I nter −D 1g1
tal T ransducer 、以下IDTと称
する)と、該IDTに周波数が連続的に変化する高周波
の交番電圧を印加するドライバーとから構成される。I
DTとしてより詳しくは、電極指間隔が段階的に変化し
かつ各電極指の向きが段階的に変化する傾斜指チャーブ
I DT (Tilted−Flnger Chir
ped IDT)や、電極指間隔が連続的に変化しか
つ各電極指が円弧状をなすいわゆる湾曲指IDTや、さ
らには電極指間隔が相異なる複数のIDTが互いに異な
る傾きに配置されてなるマルチプル拳ティルテッドID
T(Multlple Ti1ted I DT)等が
用いられる。また上述のドライバーは一般に、高周波ア
ンプと周波数掃引用スィーパ−等から構成される。As described above, in an optical deflector that continuously deflects a light beam or an optical deflector that constitutes an optical spectrum analyzer, the surface acoustic wave generating means is usually a pair of interdigitated electrodes (intersection) in which the spacing between electrode fingers changes. -D 1g1
tal transducer (hereinafter referred to as IDT) and a driver that applies a high-frequency alternating voltage whose frequency changes continuously to the IDT. I
More specifically, the DT is a Tilted-Flnger Chir I DT in which the interval between electrode fingers changes stepwise and the direction of each electrode finger changes stepwise.
ped IDT), so-called curved finger IDTs in which the electrode finger spacing changes continuously and each electrode finger forms an arc, and even multiple IDTs in which multiple IDTs with different electrode finger spacings are arranged at different inclinations. Fist Tilted ID
T (Multiple Tilted I DT) etc. are used. Further, the above-mentioned driver is generally composed of a high frequency amplifier, a frequency sweeper, and the like.
(発明が解決しようとする課題)
ところで、以上述べたようなIDTやドライバーを用い
る場合には、発生した表面弾性波に周期的な強度変動(
ゆらぎ)が発生しやすいことが認められている。すなわ
ち上述の目的で使用されるIDTや高周波アンプは、高
帯域に設計されるので、インピーダンスが通常の高周波
系のインピーダンス(50Ω)から大きくずれることが
ある。そこで高周波ケーブルとIDTの間で高周波信号
の反射が生じ、反射波が高周波アンプに戻るようになる
。このアンプも上記の通り高帯域設計のものであるから
、数%〜数十%の高周波信号が反射し、再度IDT側へ
伝播するようになる。そこでこのIDTへ向かう反射波
と、元来高周波アンプから出力される高周波信号(進行
波)とが干渉して、高周波強度が変動するようになる。(Problem to be solved by the invention) By the way, when using the IDT or driver as described above, periodic intensity fluctuations (
It is recognized that fluctuations are likely to occur. That is, since the IDT and high frequency amplifier used for the above purpose are designed for a high frequency band, the impedance may deviate greatly from the impedance (50Ω) of a normal high frequency system. Therefore, reflection of the high frequency signal occurs between the high frequency cable and the IDT, and the reflected wave returns to the high frequency amplifier. Since this amplifier is also designed for a high band as described above, several percent to several tens of percent of the high frequency signal is reflected and propagated to the IDT side again. Therefore, the reflected wave toward the IDT interferes with the high frequency signal (progressive wave) originally output from the high frequency amplifier, and the high frequency intensity fluctuates.
このようにしてIDTに入力される高周波強度が変動す
ると、IDTから発せられる表面弾性波の強度が同様に
変動して、表面弾性波による導波光の回折効率が変動し
てしまう。そうなると、回折光量、つまり偏向された光
ビームの強度が変動してしまう。When the high frequency intensity input to the IDT fluctuates in this way, the intensity of the surface acoustic wave emitted from the IDT similarly fluctuates, and the diffraction efficiency of guided light by the surface acoustic wave fluctuates. If this happens, the amount of diffracted light, that is, the intensity of the deflected light beam will fluctuate.
また、以上述べた反射波に起因する他、高周波アンプや
スィーパ−の周波数特性が一様でないことに起因して、
偏向ビームの光強度が変動することも多い。つまり、I
DTに川船される交番電圧の値がその周波数に応じて変
化すれば、上記と同様に導波光の回折効率が変動するか
らである。In addition to being caused by the reflected waves mentioned above, due to the uneven frequency characteristics of the high frequency amplifier and sweeper,
The light intensity of the deflected beam often fluctuates. In other words, I
This is because if the value of the alternating voltage applied to the DT changes depending on its frequency, the diffraction efficiency of the guided light will change in the same way as described above.
このように偏向ビームの光強度が変動すると、例えば光
偏向器を光走査記録装置や光走査読取装置に用いる場合
には記録画像に濃度ムラが生じたり、読取精度が低下す
る等の不具合が生じ、一方前述の光スペクトラムアナラ
イザーにあっては、スペクトル分析の精度低下を招くこ
とになる。If the light intensity of the deflected beam fluctuates in this way, for example, when an optical deflector is used in an optical scanning recording device or an optical scanning reading device, problems such as density unevenness in the recorded image and a decrease in reading accuracy may occur. On the other hand, in the optical spectrum analyzer described above, the accuracy of spectrum analysis is reduced.
以上述べた表面弾性波の強度変動を防止するため従来よ
り、例えば特開昭83−53516号公報に示されるよ
うに、lDTとドライバーとの間に非相反素子であるア
イソレーターを挿入することが考えられている。しかし
ながら上記反射波以外の原因による偏向ビームの光強度
変動は、上述のようなアイソレーターを設けても低減さ
せることはできない。In order to prevent the intensity fluctuations of the surface acoustic waves mentioned above, it has been considered to insert an isolator, which is a non-reciprocal element, between the IDT and the driver, as shown in Japanese Patent Application Laid-open No. 83-53516, for example. It is being However, variations in the light intensity of the deflected beam due to causes other than the reflected waves cannot be reduced even by providing the above-mentioned isolator.
そこで本発明は、以上述べた種々の原因による偏向ビー
ムの光強度変動を低減させることができる、光偏向器に
おける光強度変動低減方法、および装置を提供すること
を目的とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to provide a method and apparatus for reducing light intensity fluctuations in an optical deflector, which can reduce light intensity fluctuations of a deflected beam due to the various causes described above.
(課題を解決するための手段及び作用)本発明による第
1の光強度変動低減方法は、先に述べたように表面弾性
波が伝播可能な材料から形成された光導波路と、
この光導波路内を進行する導波光の光路に交わる方向に
進行して該導波光を回折、偏向させる表面弾性波を該光
導波路において発生させる表面弾性波発生手段とを有し
、
この表面弾性波発生手段が、IDTと、該IDTに周波
数が連続的に変化する高周波の交番電圧を印加するドラ
イバーとから構成されてなる光偏向器を使用する際に、
偏向後の光ビームの強度を、上記交番電圧の各周波数毎
に/jlJ定し、
この測定された光強度と一定の基準強度との差に基づい
て、この差を解消するために交番電圧の値に加えるべき
補正値を、交番電圧の周波数毎に求め、
この補正値対交番電圧周波数の関係を記憶手段に記憶さ
せ、
その後導波光を回折、偏向させる際に、上記記憶手段か
ら上述の関係を読み出して、交番電圧の値をこの関係に
従って補正することを特徴とするものである。(Means and effects for solving the problem) As described above, the first method for reducing light intensity fluctuation according to the present invention includes an optical waveguide formed of a material that allows surface acoustic waves to propagate, surface acoustic wave generating means for generating in the optical waveguide a surface acoustic wave that propagates in a direction intersecting the optical path of the guided light and diffracts and deflects the guided light, the surface acoustic wave generating means comprising: When using an optical deflector consisting of an IDT and a driver that applies a high-frequency alternating voltage whose frequency changes continuously to the IDT, the intensity of the deflected light beam is determined by each of the above alternating voltages. /jlJ for each frequency, and based on the difference between the measured light intensity and a constant reference intensity, the correction value to be added to the alternating voltage value to eliminate this difference is determined for each frequency of the alternating voltage. The relationship between the correction value and the alternating voltage frequency is stored in a storage means, and then when the guided light is diffracted and deflected, the above-mentioned relationship is read out from the storage means and the value of the alternating voltage is corrected according to this relationship. It is characterized by this.
また本発明による第2の光強度変動低減方法は、上記と
同じような光偏向器を使用する際に、光導波路内に入射
される光ビームの強度を光変調手段により変調可能とし
、
偏向後の光ビームの強度を、交番電圧の各周波数毎に測
定し、
この測定された光強度と一定の基準強度との差に基づい
て、この差を解消するために上記光変調手段に加えるべ
き変調制御信号を、交番電圧の周波数毎に求め、
この変調制御信号対交番電圧周波数の関係を記憶手段に
記憶させ、
その後前記導波光を回折、偏向させる際に、上記記憶手
段から上述の関係を読み田して、上記光変調手段をこの
関係に従って作動制御することを特徴とするものである
。Further, a second method for reducing light intensity fluctuations according to the present invention, when using an optical deflector similar to the above, allows the intensity of the light beam incident on the optical waveguide to be modulated by an optical modulation means, and after deflection. The intensity of the light beam is measured for each frequency of the alternating voltage, and based on the difference between the measured light intensity and a certain reference intensity, the modulation that should be applied to the light modulation means to eliminate this difference is determined. A control signal is obtained for each frequency of the alternating voltage, the relationship between the modulation control signal and the alternating voltage frequency is stored in a storage means, and the above relationship is read from the storage means when the guided light is subsequently diffracted and deflected. Furthermore, the light modulation means is characterized in that its operation is controlled according to this relationship.
一方本発明による第1の光強度変動低減装置は、前述と
同様の構成の光偏向器において、偏向後の光ビームの強
度を一定に揃えるために前記交番電圧の値に加えるべき
補正値を、交番電圧の周波数毎に記憶した記憶手段と、
導波光を回折、偏向させる際に、上記記憶手段から上記
補正値対交番電圧周波数の関係を読み出して、交番電圧
の値をこの関係に従って補正する補正手段とが設けられ
てなるものである。On the other hand, the first light intensity fluctuation reducing device according to the present invention, in an optical deflector having the same configuration as described above, adds a correction value to be added to the value of the alternating voltage in order to make the intensity of the deflected light beam constant. a storage means that stores information for each frequency of the alternating voltage; and a correction that reads out the relationship between the correction value and the alternating voltage frequency from the storage means and corrects the value of the alternating voltage according to this relationship when diffracting and deflecting the guided light. means.
なお、上記の記憶手段に記憶させておく補正値対交番電
圧周波数の関係は、例えば前記第1の方法におけるよう
にして求めればよい。The relationship between the correction value and the alternating voltage frequency to be stored in the storage means may be determined, for example, as in the first method.
また本発明による第2の光強度変動低減装置は、前述と
同様の構成の光偏向器において、光導波路内に入射され
る光ビームの強度を変調する光変調手段と、
偏向後の光ビームの強度を一定に揃えるために上記光変
調手段に加えるべき変調制御信号を、交番電圧の周波数
毎に記憶した記憶手段と、導波光を回折、偏向させる際
に、上記記憶手段から上記変調制御信号対交番電圧周波
数の関係を読み出して、上記光変調手段をこの関係に従
って作動制御する変調制御手段とが設けられてなるもの
である。Further, a second light intensity fluctuation reducing device according to the present invention is an optical deflector having a configuration similar to that described above, and includes an optical modulation means for modulating the intensity of the optical beam entering the optical waveguide, and an optical deflector for modulating the intensity of the optical beam after being deflected. A storage means stores a modulation control signal to be applied to the light modulation means for each frequency of the alternating voltage in order to make the intensity constant; and a storage means stores a modulation control signal pair from the storage means when diffracting and deflecting the guided light Modulation control means is provided for reading out the relationship between alternating voltages and frequencies and controlling the operation of the light modulation means in accordance with this relationship.
なおこの第2の装置においても、上記の記憶手段に記憶
させておく変調制御信号対交番電圧周波数の関係は、例
えば前記第2の方法におけるようにして求めればよい。In this second device as well, the relationship between the modulation control signal and the alternating voltage frequency to be stored in the storage means may be determined, for example, in the same manner as in the second method.
(実 施 例)
以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings.
第1図は、本発明の第1実施例による光強度変動低減装
置を備えた光偏向器10を示すものである。FIG. 1 shows an optical deflector 10 equipped with a light intensity fluctuation reducing device according to a first embodiment of the present invention.
この光偏向器IOは、基板11上に形成された光導波路
12と、この光導波路I2上に形成された光ビーム入射
用集光性回折格子(F oeusing G rati
ng Coupler、以下FCCと称する) 13
と、光ビーム出射用F G C14と、これらのF G
C13,14の間を進行する導波光の光路に交わる方
向に進行する表面弾性波15.1Bをそれぞれ発生させ
る第1、第2の傾斜指チャープIDTi7.18と、上
記表面弾性波15.16を発生させるために傾斜指チャ
ーブIDT17.18に高周波の交番電圧を印加する高
周波アンプ19と、上記電圧の周波数を連続的に変化(
掃引)させるスィーパ−20とを有している。そして上
記高周波アンプ19とスィーパ−20との間には、コン
トローラ30とともに光強度変動低減装置を構成する補
正部31が設けられている。This optical deflector IO includes an optical waveguide 12 formed on a substrate 11 and a condensing grating for light beam incidence formed on this optical waveguide I2.
ng Coupler (hereinafter referred to as FCC) 13
, F G C14 for light beam emission, and these F G
First and second inclined finger chirp IDTi7.18 each generate a surface acoustic wave 15.1B that travels in a direction intersecting the optical path of the guided light traveling between C13 and C14, and the surface acoustic wave 15.16. A high-frequency amplifier 19 applies a high-frequency alternating voltage to the inclined finger chirp IDT 17, 18 to generate the voltage, and a high-frequency amplifier 19 that continuously changes the frequency of the voltage (
It has a sweeper 20 for sweeping. A correction section 31 is provided between the high frequency amplifier 19 and the sweeper 20, and together with a controller 30, constitutes a light intensity fluctuation reducing device.
本実施例においては一例′として、基板11にLiNb
O3ウェハを用い、このウェハの表面にTi拡散膜を設
けることにより光導波路12を形成している。なお基板
11としてその他サファイア、Si等からなる結晶性基
板が用いられてもよい。また光導波路12も上記のTi
拡散に限らず、基板ll上にその他の材料をスパッタ、
蒸着する等して形成することもできる。ただしこの光導
波路12は、上記Ti拡散膜等、後述する表面弾性波が
伝播可能な材料から形成される。また光導波路は2層以
上の積層構造を有していてもよい。In this embodiment, as an example', LiNb is used on the substrate 11.
The optical waveguide 12 is formed by using an O3 wafer and providing a Ti diffusion film on the surface of this wafer. Note that other crystalline substrates made of sapphire, Si, etc. may also be used as the substrate 11. Moreover, the optical waveguide 12 is also made of the above-mentioned Ti.
In addition to diffusion, other materials can be sputtered onto the substrate.
It can also be formed by vapor deposition or the like. However, this optical waveguide 12 is formed from a material such as the above-mentioned Ti diffusion film that allows surface acoustic waves to propagate, which will be described later. Further, the optical waveguide may have a laminated structure of two or more layers.
偏向される光ビームLは、例えば半導体レーザ等の光源
21から、FGCHに向けて出射される。The deflected light beam L is emitted toward the FGCH from a light source 21 such as a semiconductor laser, for example.
この光ビームL(発散ビーム)は、FGC13によって
平行ビームとされた上で光導波路12内に取り込まれ、
該光導波路12内を導波する。この導波光L1は、第1
の傾斜指チャープIDT17から発せられた第1の表面
弾性波15との音響光学相互作用により、図示のように
回折(B ragg回折)する。This light beam L (divergent beam) is made into a parallel beam by the FGC 13 and then taken into the optical waveguide 12,
Wave is guided within the optical waveguide 12. This guided light L1 is
Due to the acousto-optic interaction with the first surface acoustic wave 15 emitted from the inclined finger chirp IDT 17, it is diffracted (B rag diffraction) as shown in the figure.
こうして回折、偏向した導波光L1は、第2の傾斜指チ
ャーブIDTlBから発せられた第2の表面弾性波1B
との音響光学相互作用により、上記の偏向をさらに増幅
させる方向に回折する(第2図参照)。そして前述のよ
うに、第1の傾斜指チャーブIDT17に印加される交
番電圧の周波数が連続的に変化するので、第1の表面弾
性波15の周波数が連続的に変化する。周知のように、
表面弾性波15によって回折した導波光LZの偏向角は
表面弾性波15の周波数にほぼ比例するので、上記のよ
うに表面弾性波15の周波数が変化することにより、導
波光L2は矢印Aで示すように連続的に偏向する。この
導波光L2は次に第2の表面弾性波16によって偏向さ
れるが、この第2の表面弾性波1Bも第1の表面弾性波
15と同様に周波数が連続的に変化するので、第2の表
面弾性波IBを通過した後の導波光L3は、矢印Bで示
すように連続的に大きく偏向する。この導波光L3はF
GCI4によって光導波路12外に出射せしめられ、ま
たその集光作用によって1点に集束する。The guided light L1 diffracted and deflected in this way is converted into a second surface acoustic wave 1B emitted from the second inclined finger chirp IDTlB.
Due to the acousto-optic interaction with the beam, it is diffracted in a direction that further amplifies the above-mentioned deflection (see Figure 2). As described above, since the frequency of the alternating voltage applied to the first inclined finger chirp IDT 17 changes continuously, the frequency of the first surface acoustic wave 15 changes continuously. As is well known,
Since the deflection angle of the guided light LZ diffracted by the surface acoustic wave 15 is approximately proportional to the frequency of the surface acoustic wave 15, by changing the frequency of the surface acoustic wave 15 as described above, the guided light L2 changes as shown by arrow A. Continuously deflect as shown. This guided light L2 is then deflected by the second surface acoustic wave 16, but since the frequency of this second surface acoustic wave 1B also changes continuously like the first surface acoustic wave 15, the second The guided light L3 after passing through the surface acoustic wave IB is continuously and largely deflected as shown by arrow B. This guided light L3 is F
The light is emitted to the outside of the optical waveguide 12 by the GCI 4, and is focused at one point by its focusing action.
以上述べた通り本装置においては、導波光L1を2回回
折、偏向させるようにしているので、導波光L3の偏向
角範囲Δδは、極めて大きなものとなり得る。つまり、
表面弾性波15.1Bの周波数が最大周波数、最小周波
数のとき、2回回折した導波光し、の進行方向はそれぞ
れ、第2図に■、■°で示す向きであり、その差が偏向
角範囲Δδとなる。なお、このように導波光を2回回折
、偏向させる場合に得られる偏向角範囲については、例
えば特開昭83−136021!号公報に詳しい記載が
なされている。As described above, in this device, the guided light L1 is diffracted and deflected twice, so the deflection angle range Δδ of the guided light L3 can be extremely large. In other words,
When the frequency of surface acoustic wave 15.1B is the maximum frequency and the minimum frequency, the traveling directions of the guided light beam diffracted twice are as shown by ■ and ■° in Figure 2, respectively, and the difference between them is the deflection angle. The range is Δδ. The deflection angle range obtained when the guided light is diffracted and deflected twice in this way is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 83-136021! Detailed information is provided in the publication.
ここで、IDT!?、18に入力される高周波信号(交
番電圧)には、前述した反射波の影響により、また、高
周波アンプ19やスィーパ−20の周波数特性が一様で
ないことに起因して、強度変動が生じることがある。以
下、この強度変動を抑えて、偏向ビームL°の光強度変
動を低減する点について説明する。第3図はこの光強度
変動低減に関わる構成を示しており、以下、この第3図
を参照して説明する。図示されるように前記補正部31
は、高周波アンプ19とスィーパ−20との間に設けら
れたミキサー32と、アンプ33と、D/A変換器34
と、テーブルメモリ35とからなる。Here, IDT! ? The high frequency signal (alternating voltage) input to the high frequency amplifier 19 and the sweeper 20 may have intensity fluctuations due to the influence of the reflected waves mentioned above and due to the uneven frequency characteristics of the high frequency amplifier 19 and the sweeper 20. There is. Hereinafter, the method of suppressing this intensity variation and reducing the light intensity variation of the deflected beam L° will be explained. FIG. 3 shows a configuration related to this reduction of light intensity fluctuations, and will be described below with reference to FIG. 3. As shown in the figure, the correction section 31
includes a mixer 32, an amplifier 33, and a D/A converter 34 provided between the high frequency amplifier 19 and the sweeper 20.
and a table memory 35.
前述のように光偏向器lOを実使用するのに先行して、
偏向した光ビームL゛の強度を検出しつる広い受光面を
持った光検出器(例えば光電子増倍管)36が配置され
、コントローラ30の掃引制御信号S1に基づいてスィ
ーパ−20が作動される。このときミキサー32はまず
、スィーパ−20が出力する周波数掃引された高周波信
号S2を、そのまま高周波アンプ19に入力する状態に
される。それにより、前述と同様にして光ビームL゛が
連続的に偏向する。この偏向した光ビームL°は光検出
器36に受光され、その光強度を示す出力信号S3はA
/D変換器37に送られる。こうしてデジタル化された
信号S4は、コントローラ30に入力される。As mentioned above, prior to actually using the optical deflector lO,
A photodetector (for example, a photomultiplier tube) 36 having a wide light-receiving surface that detects the intensity of the deflected light beam L is arranged, and the sweeper 20 is operated based on a sweep control signal S1 from the controller 30. . At this time, the mixer 32 is first brought into a state in which the frequency-swept high-frequency signal S2 output from the sweeper 20 is input to the high-frequency amplifier 19 as it is. Thereby, the light beam L' is continuously deflected in the same manner as described above. This deflected light beam L° is received by the photodetector 36, and the output signal S3 indicating the light intensity is A
/D converter 37. The signal S4 digitized in this way is input to the controller 30.
マイクロコンピュータ等からなるコントローラ30は、
上述のように表面弾性波15.16の周波数掃引タイミ
ングも制御するものであり、このタイミングに基づいて
、上記信号S4が示す光強度と高周波信号S2の(つま
り表面弾性波15.16の)周波数fとの関係を求める
。この関係は、連続的ニ示せば、例えば第4図の実線表
示のようなものとなる。コントローラ30はこの測定さ
れた光強度Pと、予め設定されている一定の基準強度P
rとを上記周波数f毎に比較し、両者の間に差が有れば
、その内部メモリに形成した補正テーブルにおいて微小
な補正値ΔVを与える、という処理を各周波数fについ
て行なう。なお基準強度Prの設定値は、測定光強度P
に対してどこでも良い。The controller 30 consisting of a microcomputer etc.
As mentioned above, the frequency sweep timing of the surface acoustic waves 15.16 is also controlled, and based on this timing, the light intensity indicated by the signal S4 and the frequency of the high frequency signal S2 (that is, of the surface acoustic waves 15.16) are controlled. Find the relationship with f. If this relationship is shown continuously, it will be as shown by the solid line in FIG. 4, for example. The controller 30 uses this measured light intensity P and a preset constant reference intensity P.
A process is performed for each frequency f in which the frequency f is compared with r for each frequency f, and if there is a difference between the two, a small correction value ΔV is given in the correction table formed in the internal memory. Note that the setting value of the reference intensity Pr is the measurement light intensity P.
Anywhere is fine.
そしてコントローラ30は、再度スィーパ−20から周
波数掃引された高周波信号S2を出力させて表面弾性波
15.16を発生させるが、その際上記周波数f毎の補
正値を担持する信号S5を、掃引制御信号S1と同期を
取った上で出力する。この信号S5は、補正部31のD
/A変換器34でアナログ化された後、アンプ33によ
って増幅されてミキサー32に入力される。このミキサ
ー32は、アンプ33から送られる直流成分からなる補
正信号S6(信号S5と対応している)により、高周波
信号S2の振幅を増減させる機能を持つ。従って、ある
周波数fに対応する補正信号S6が、それと同じ周波数
fの高周波信号S2を増減させる。Then, the controller 30 outputs the frequency-swept high-frequency signal S2 from the sweeper 20 again to generate surface acoustic waves 15.16, but at this time, the signal S5 carrying the correction value for each frequency f is controlled by the sweep control. It is output after being synchronized with the signal S1. This signal S5 is D of the correction section 31.
After being converted into analog by the /A converter 34, the signal is amplified by the amplifier 33 and input to the mixer 32. This mixer 32 has a function of increasing or decreasing the amplitude of the high frequency signal S2 using a correction signal S6 (corresponding to the signal S5) consisting of a DC component sent from the amplifier 33. Therefore, the correction signal S6 corresponding to a certain frequency f increases or decreases the high frequency signal S2 of the same frequency f.
以上のように高周波信号S2を補正信号S6により増減
し、表面弾性波15.16を周波数掃引すると、偏向さ
れた光ビームL゛の強度は、前回の偏向時と比べれば、
基準強度Prにより近いものとなる。コントローラ30
はこの際も、nj定された光強度Pと基準強度Prとを
周波数f毎に比較し、両者の間に差が有れば、内部メモ
リに記憶した前記テーブルにおいて、前記の微小な補正
値ΔVをさらに加える、という処理を各周波数f毎に行
なう。その後コントローラ30は前記と同様に、上記テ
ーブルに基づく補正信号S6により高周波信号S2によ
り増減させて、表面弾性波15.16を周波数掃引させ
る。As described above, when the high frequency signal S2 is increased or decreased by the correction signal S6 and the surface acoustic wave 15.16 is frequency swept, the intensity of the deflected light beam L' becomes as follows when compared with the previous deflection.
It becomes closer to the reference intensity Pr. controller 30
At this time, the light intensity P determined by nj and the reference intensity Pr are compared for each frequency f, and if there is a difference between the two, the minute correction value is set in the table stored in the internal memory. A process of further adding ΔV is performed for each frequency f. Thereafter, the controller 30 increases or decreases the frequency of the surface acoustic waves 15 and 16 by using the correction signal S6 based on the table and the high frequency signal S2, as described above, to sweep the surface acoustic waves 15 and 16 in frequency.
こうして光ビームL°の偏向、およびテーブルの変更が
何回か繰り返されると、ついには実測される光強度Pが
、表面弾性波15.16の全周波数域に亘って基準強度
Prに収束するようになる。つまり、こうなったときの
補正信号S6による補正部は、第4図に破線で示す通り
、当初の測定光強度対周波数fの関係に対して、基準強
度Prをはさんでいわば裏返しのものとなる。なお本実
施例においては、以上述べたような補正値に基づいて補
正信号S6を生成しているが、この補正信号S6が高周
波信号S2の振幅を補正しているのであるから、上記補
正値は間接的に、IDT17.18に加えるべき電圧補
正鏡を担っていると言える。By repeating the deflection of the light beam L° and changing the table several times in this way, the actually measured light intensity P will eventually converge to the reference intensity Pr over the entire frequency range of the surface acoustic waves 15.16. become. In other words, in this case, the correction section using the correction signal S6 is, as shown by the broken line in FIG. Become. In this embodiment, the correction signal S6 is generated based on the correction value as described above, but since this correction signal S6 corrects the amplitude of the high frequency signal S2, the above correction value is It can be said that it indirectly serves as a voltage correction mirror to be added to the IDT17.18.
以上述べた状態になると、次にコントローラ30は、そ
の内部メモリに記憶していた補正値対周波数fのテーブ
ルをテーブルメモリ35に転送して、そこに記憶させる
。この処理が終了すると、光検出器3BおよびA/D変
換器37が取り外される。そしてそれ以後光偏向器10
を作動させる際にコントローラ30は、テーブルメモリ
35に記憶されている上記テーブルのデータを読み出し
て、周波数f毎の補正値を担持する信号S7をD/A変
換器34に入力させる。したがってこの場合、光ビーム
L′の光強度Pが、表面弾性波15、lθの全周波数域
に亘ってほぼ一定となる。When the above-mentioned state is reached, the controller 30 next transfers the table of correction value versus frequency f stored in its internal memory to the table memory 35 and stores it there. When this process is completed, the photodetector 3B and A/D converter 37 are removed. And after that, the optical deflector 10
When operating the controller 30, the controller 30 reads out the table data stored in the table memory 35 and inputs the signal S7 carrying the correction value for each frequency f to the D/A converter 34. Therefore, in this case, the light intensity P of the light beam L' is approximately constant over the entire frequency range of the surface acoustic waves 15 and lθ.
上述のように本装置においては、光偏向器10を実使用
する際、単にテーブルメモリ35から補正データを読み
出しながら高周波信号S2を補正するようにしているの
で、例えば実使用時の偏向ビームL′の光強度を検出し
ながら、フィードバック制御により光強度変動を抑える
ような装置に比べれば、掃引速度をより高く設定するこ
とが可能となる。As described above, in this apparatus, when the optical deflector 10 is actually used, the high-frequency signal S2 is corrected while simply reading the correction data from the table memory 35, so that, for example, the deflected beam L' during actual use is Compared to a device that suppresses fluctuations in light intensity through feedback control while detecting the light intensity of , it is possible to set the sweep speed higher.
なおテーブルメモリ35に記憶させる補正値対周波数f
のテーブルは、当然ながら、より多くの周波数fについ
て補正値が規定されたものとするのが好ましい。つまり
、この補正値数が十分に多ければ、アナログ化された補
正信号S6は、光強度変動補正がなされない場合の光検
出器36の出力S3に対して、より正確に逆位相のもの
となり得る。Note that the correction value versus frequency f to be stored in the table memory 35
Naturally, it is preferable that the table has correction values defined for more frequencies f. In other words, if the number of correction values is large enough, the analogized correction signal S6 can more accurately have an opposite phase to the output S3 of the photodetector 36 when no light intensity fluctuation correction is performed. .
次に、第5図を参照して本発明の第2実施例について説
明する。なおこの第5図において、前記第3図中の要素
と同等の要素には同番号を付し、それらについての説明
は、特に必要の無い限り省略する。Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. Note that in FIG. 5, elements equivalent to those in FIG. 3 are given the same numbers, and explanations thereof will be omitted unless particularly necessary.
この実施例において光源21から出射した光ビームLは
、例えばAOM(音響光学光変調器)やEO,M (電
気光学光変調器)等の光変調器40に通されてから、光
偏向器10に入射するようになっている。この光変調器
40の作動は、変調回路41によって制御される。一方
スイーバー20が出力する高周波信号S2は、補正を受
けずにそのまま高周波アンプ19に入力される。In this embodiment, the light beam L emitted from the light source 21 is passed through an optical modulator 40 such as an AOM (acousto-optic modulator) or an EO,M (electro-optic modulator), and then passed through an optical deflector 10. It is designed to be incident on . The operation of this optical modulator 40 is controlled by a modulation circuit 41. On the other hand, the high frequency signal S2 outputted from the sweeper 20 is input to the high frequency amplifier 19 as it is without being corrected.
光偏向器IOの実使用に先立ち、テーブルメモリ35に
記憶させるデータを作成するために光ビームL゛を何回
か偏向させるとき、第1実施例におけるのと同様にコン
トローラ30からは、表面弾性波周波数f毎に測定光強
度Pと基準強度P「との差に応じた値をとる信号S5が
出力される。この信号S5はD/A変換器34でアナロ
グ化され、アンプ33で増幅されて、変調制御信号S6
°として変調回路41に入力される。この変調制御信号
S6’は、例えば前記基準強度Prが、実測される光強
度Pを下回るように設定される場合は、光変調器408
M遇する光ビームLの強度を低下させるように変調回路
4Lを制御する値とされる。基準強度P「が、実nノさ
れる光強度Pを上回るように設定される場合は、その反
対である。Prior to the actual use of the optical deflector IO, when the optical beam L is deflected several times in order to create data to be stored in the table memory 35, the controller 30 sends information about the surface elasticity as in the first embodiment. A signal S5 that takes a value corresponding to the difference between the measurement light intensity P and the reference intensity P is output for each wave frequency f. The modulation control signal S6
The signal is input to the modulation circuit 41 as .degree. This modulation control signal S6' is applied to the optical modulator 408 when the reference intensity Pr is set to be lower than the actually measured optical intensity P, for example.
This value is used to control the modulation circuit 4L so as to reduce the intensity of the light beam L received by M. The opposite is true if the reference intensity P is set to exceed the actual light intensity P.
上記の変調制御信号S6°に基づいて光変調器40の作
動状態を$111した上で、表面弾性波15.18を周
波数掃引すると、偏向された光ビームL°の強度は、前
回の偏向時と比べれば、基準強度Prにより近いものと
なる。コントローラ30は、測定された光強度Pと基準
強度Prとを周波数f毎に比較し、両者の間に差が有れ
ば、内部メモリに記憶したテーブルにおいて、微小な補
正量ΔV゛をさらに加える、という処理を各周波数f毎
に行なう。When the operating state of the optical modulator 40 is changed to $111 based on the above modulation control signal S6° and the surface acoustic wave 15.18 is frequency swept, the intensity of the deflected light beam L° is the same as that of the previous deflection. When compared with the reference intensity Pr, it is closer to the reference intensity Pr. The controller 30 compares the measured light intensity P and the reference intensity Pr for each frequency f, and if there is a difference between the two, further adds a small correction amount ΔV' in the table stored in the internal memory. , is performed for each frequency f.
こうして光ビームL°の偏向、およびテーブルの変更が
何回か繰り返されると、ついには実測される光強度Pが
、表面弾性波15.1Bの全周波数域に亘つて基準強度
Prに収束するようになる。By repeating the deflection of the light beam L° and changing the table several times in this way, the actually measured light intensity P will eventually converge to the reference intensity Pr over the entire frequency range of the surface acoustic wave 15.1B. become.
以上述べた状態になると、次にコントローラ3゜は、そ
の内部メモリに記憶していた変調制御信号対周波数fの
テーブルをテーブルメモリ35に転送して、そこに記憶
させる。この処理が終了すると、光検出器36およびA
/D変換器37が取り外される。When the above-mentioned state is reached, the controller 3° next transfers the table of modulation control signal versus frequency f stored in its internal memory to the table memory 35 and stores it there. When this process is completed, the photodetector 36 and the
/D converter 37 is removed.
そしてそれ以後光偏向器10を作動させる際にコントロ
ーラ30は、テーブルメモリ35に記憶されている上記
テーブルのデータを読み出して、周波数f毎の変調状態
を担持する信号S7°をD/A変換器34に入力させる
。したがってこの場合も、光ビームL°の光強度Pが、
表面弾性波15S113の全周波数域に亘ってほぼ一定
となる。Thereafter, when operating the optical deflector 10, the controller 30 reads out the table data stored in the table memory 35, and transmits the signal S7° carrying the modulation state for each frequency f to the D/A converter. 34. Therefore, in this case as well, the light intensity P of the light beam L° is
It remains approximately constant over the entire frequency range of the surface acoustic wave 15S113.
なお上記第2実施例においては、光ビームLを光変調器
40によって変調するようにしているが、光源21が例
えば半導体レーザー等からなる場合には、この光源21
を変調制御信号S6°に基づいて直接変調するようにし
ても構わない。In the second embodiment, the light beam L is modulated by the optical modulator 40, but if the light source 21 is composed of, for example, a semiconductor laser, this light source 21
may be directly modulated based on the modulation control signal S6°.
(発明の効果)
以上詳細に説明した通り本発明においては、導波光を回
折、偏向させる際に、IDTに印加する交番電圧の補正
値対周波数の関係を記憶手段から読み出して、交番電圧
の値をこの関係に従って補正するようにしたから、ある
いは光導波路内に入射される光ビームの強度を光変調手
段により変調可能とした上で、導波光を回折、偏向させ
る際に、この光変調手段に加える変調制御信号対交番電
圧周波数の関係を記憶手段から読み出して、光変調手段
をこの関係に従って作動制御するようにしたから、表面
弾性波の強度変動等による偏向ビームの光強度変動を確
実に低減させることが可能となる。(Effects of the Invention) As described above in detail, in the present invention, when diffracting and deflecting guided light, the relationship between the correction value of the alternating voltage applied to the IDT and the frequency is read out from the storage means, and the value of the alternating voltage is is corrected according to this relationship, or the intensity of the light beam entering the optical waveguide can be modulated by the optical modulation means, and when the guided light is diffracted or deflected, the optical modulation means Since the relationship between the modulation control signal to be applied and the alternating voltage frequency is read from the storage means and the operation of the optical modulation means is controlled according to this relationship, fluctuations in the optical intensity of the deflected beam due to fluctuations in the intensity of surface acoustic waves, etc. are reliably reduced. It becomes possible to do so.
したがって本発明によれば、例えば光偏向器を光走査記
録装置や光走査読取装置に用いる場合に記録画像に濃度
ムラが生じたり、読取精度が低下する等の不具合が生じ
ることを防止でき、また、導波路型光偏向器を適用した
スペクトラムアナライザーにあっては、スペクトル分析
の精度を高めることが可能となる。Therefore, according to the present invention, for example, when an optical deflector is used in an optical scanning recording device or an optical scanning reading device, it is possible to prevent problems such as density unevenness in a recorded image and a decrease in reading accuracy. In a spectrum analyzer to which a waveguide type optical deflector is applied, it is possible to improve the precision of spectrum analysis.
また本発明による光強度変動低減装置においては、光ビ
ームの偏向時、単に記憶手段からデータを読み出しなが
ら、このデータに基づいて光強度変動を補正するように
しているので、フィードバツク制御により光強度変動を
抑える場合に比べれば、掃引速度をより高く設定するこ
とが可能となる。Furthermore, in the light intensity fluctuation reducing device according to the present invention, when deflecting the light beam, data is simply read from the storage means and the light intensity fluctuation is corrected based on this data. Compared to the case where fluctuations are suppressed, it is possible to set the sweep speed higher.
第1図は本発明の第1実施例装置を示す概略斜視図、
第2図は上記実施例装置の一部を拡大して示す平面図、
第3図は上記実施例装置の電気回路を示すブロック図、
第4図は上記実施例装置における光強度変動低減の効果
を説明する説明図、
第5図は本発明の第2実施例装置を示すブロック図であ
る。
10・・・光偏向器 11・・・基 板12
・・・光導波路
13・・・光ビーム入射用FCC
14・・・光ビーム出射用FCC
15・・・第1の表面弾性波 16・・・第2の表面弾
性波17・・・第1の傾斜指チャーブIDT18・・・
第2の傾斜指チャーブIDT19・・・高周波アンプ
20・・・スィーパ−2I・・・光 源
30・・・コントローラ31・・・補正部
32・・・ミキサー33・・・アンプ 3
4・・・D/A変換器35・・・テーブルメモリ 3
B・・・光検出器37・・・A/D変換器 40・
・・光変調器41・・・変調回路
り工・・・第1の表面弾性波に入射する前の導波光り、
・・・第1の表面弾性波を通過した導波光L3・・・第
2の表面弾性波を通過した導波光L′・・・偏向ビーム
第1図
第3図
第2図
第4図
周壌乾fFIG. 1 is a schematic perspective view showing a device according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an enlarged plan view of a part of the device according to the embodiment, and FIG. 3 is an electrical circuit of the device according to the embodiment described above. FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating the effect of reducing light intensity fluctuations in the device of the above embodiment, and FIG. 5 is a block diagram showing a device of a second embodiment of the present invention. 10... Optical deflector 11... Substrate 12
...Optical waveguide 13...FCC for light beam incidence 14...FCC for light beam output 15...First surface acoustic wave 16...Second surface acoustic wave 17...First Inclined finger chive IDT18...
Second tilted finger chirp IDT19...high frequency amplifier
20...Sweeper-2I...Light source
30... Controller 31... Correction section
32...Mixer 33...Amplifier 3
4...D/A converter 35...Table memory 3
B... Photodetector 37... A/D converter 40.
... Optical modulator 41 ... Modulation circuit construction ... Guided light before entering the first surface acoustic wave,
... Guided light L3 that has passed through the first surface acoustic wave... Guided light L' that has passed through the second surface acoustic wave... Deflected beam Figure 1 Figure 3 Figure 2 Figure 4 Surrounding dryness f
Claims (4)
波路と、 この光導波路内を進行する導波光の光路に交わる方向に
進行して該導波光を回折、偏向させる表面弾性波を該光
導波路において発生させる表面弾性波発生手段とを有し
、 この表面弾性波発生手段が、交叉くし形電極対と、該電
極対に周波数が連続的に変化する高周波の交番電圧を印
加するドライバーとから構成されてなる光偏向器を使用
する際に、 偏向後の光ビームの強度を、前記交番電圧の各周波数毎
に測定し、 この測定された光強度と一定の基準強度との差に基づい
て、この差を解消するために前記交番電圧の値に加える
べき補正値を、交番電圧の周波数毎に求め、 この補正値対交番電圧周波数の関係を記憶手段に記憶さ
せ、 その後前記導波光を回折、偏向させる際に、前記記憶手
段から前記関係を読み出して、前記交番電圧の値をこの
関係に従って補正することを特徴とする、光偏向器にお
ける光強度変動低減方法。(1) An optical waveguide formed from a material that allows surface acoustic waves to propagate, and a surface acoustic wave that propagates in a direction intersecting the optical path of the guided light traveling in the optical waveguide and diffracts and deflects the guided light. The surface acoustic wave generating means includes a pair of intersecting comb-shaped electrodes and a driver that applies a high-frequency alternating voltage whose frequency changes continuously to the pair of interdigitated electrodes. When using an optical deflector composed of Then, in order to eliminate this difference, a correction value to be added to the value of the alternating voltage is determined for each frequency of the alternating voltage, the relationship between the correction value and the alternating voltage frequency is stored in a storage means, and then the guided light is A method for reducing light intensity fluctuations in an optical deflector, comprising reading out the relationship from the storage means and correcting the value of the alternating voltage according to the relationship when diffracting and deflecting.
波路と、 この光導波路内を進行する導波光の光路に交わる方向に
進行して該導波光を回折、偏向させる表面弾性波を該光
導波路において発生させる表面弾性波発生手段とを有し
、 この表面弾性波発生手段が、交叉くし形電極対と、該電
極対に周波数が連続的に変化する高周波の交番電圧を印
加するドライバーとから構成されてなる光偏向器を使用
する際に、 前記光導波路内に入射される光ビームの強度を光変調手
段により変調可能とし、 偏向後の光ビームの強度を、前記交番電圧の各周波数毎
に測定し、 この測定された光強度と一定の基準強度との差に基づい
て、この差を解消するために前記光変調手段に加えるべ
き変調制御信号を、交番電圧の周波数毎に求め、 この変調制御信号対交番電圧周波数の関係を記憶手段に
記憶させ、 その後前記導波光を回折、偏向させる際に、前記記憶手
段から前記関係を読み出して、前記光変調手段をこの関
係に従って作動制御することを特徴とする、光偏向器に
おける光強度変動低減方法。(2) An optical waveguide formed of a material that allows surface acoustic waves to propagate; and a surface acoustic wave that propagates in a direction intersecting the optical path of the guided light traveling in the optical waveguide and diffracts and deflects the guided light. The surface acoustic wave generating means includes a pair of intersecting comb-shaped electrodes and a driver that applies a high-frequency alternating voltage whose frequency changes continuously to the pair of interdigitated electrodes. When using an optical deflector consisting of the following, the intensity of the optical beam entering the optical waveguide can be modulated by an optical modulation means, and the intensity of the optical beam after deflection is adjusted to each frequency of the alternating voltage. Based on the difference between the measured light intensity and a constant reference intensity, a modulation control signal to be applied to the light modulation means to eliminate this difference is determined for each frequency of the alternating voltage; This relationship between the modulation control signal and the alternating voltage frequency is stored in a storage means, and then when the guided light is diffracted and deflected, the relationship is read out from the storage means and the operation of the light modulation means is controlled according to this relationship. A method for reducing light intensity fluctuations in an optical deflector, characterized by:
波路と、 この光導波路内を進行する導波光の光路に交わる方向に
進行して該導波光を回折、偏向させる表面弾性波を該光
導波路において発生させる表面弾性波発生手段とを有し
、 この表面弾性波発生手段が、交叉くし形電極対と、該電
極対に周波数が連続的に変化する高周波の交番電圧を印
加するドライバーとから構成されてなる光偏向器におい
て、 偏向後の光ビームの強度を一定に揃えるために前記交番
電圧の値に加えるべき補正値を、交番電圧の周波数毎に
記憶した記憶手段と、 前記導波光を回折、偏向させる際に、前記記憶手段から
前記補正値対交番電圧周波数の関係を読み出して、前記
交番電圧の値をこの関係に従って補正する補正手段とが
設けられてなる、光偏向器における光強度変動低減装置
。(3) An optical waveguide formed from a material that allows surface acoustic waves to propagate, and a surface acoustic wave that propagates in a direction intersecting the optical path of the guided light traveling in the optical waveguide and diffracts and deflects the guided light. The surface acoustic wave generating means includes a pair of intersecting comb-shaped electrodes and a driver that applies a high-frequency alternating voltage whose frequency changes continuously to the pair of interdigitated electrodes. An optical deflector comprising: a storage means that stores, for each frequency of the alternating voltage, a correction value to be added to the value of the alternating voltage in order to make the intensity of the deflected light beam constant; and the guided light. and a correction means for reading out the relationship between the correction value and the alternating voltage frequency from the storage means and correcting the value of the alternating voltage according to this relationship when diffracting and deflecting the light. Strength fluctuation reduction device.
波路と、 この光導波路内を進行する導波光の光路に交わる方向に
進行して該導波光を回折、偏向させる表面弾性波を該光
導波路において発生させる表面弾性波発生手段とを有し
、 この表面弾性波発生手段が、交叉くし形電極対と、該電
極対に周波数が連続的に変化する高周波の交番電圧を印
加するドライバーとから構成されてなる光偏向器におい
て、 前記光導波路内に入射される光ビームの強度を変調する
光変調手段と、 偏向後の光ビームの強度を一定に揃えるために前記光変
調手段に加えるべき変調制御信号を、交番電圧の周波数
毎に記憶した記憶手段と、 前記導波光を回折、偏向させる際に、前記記憶手段から
前記変調制御信号対交番電圧周波数の関係を読み出して
、前記光変調手段をこの関係に従って作動制御する変調
制御手段とが設けられてなる、光偏向器における光強度
変動低減装置。(4) An optical waveguide formed from a material that allows surface acoustic waves to propagate, and a surface acoustic wave that propagates in a direction intersecting the optical path of the guided light traveling in the optical waveguide and diffracts and deflects the guided light. The surface acoustic wave generating means includes a pair of intersecting comb-shaped electrodes and a driver that applies a high-frequency alternating voltage whose frequency changes continuously to the pair of interdigitated electrodes. An optical deflector comprising: an optical modulating means for modulating the intensity of the optical beam incident into the optical waveguide; and an optical modulating means to be added to the optical modulating means to uniform the intensity of the optical beam after deflection. a storage means that stores a modulation control signal for each frequency of an alternating voltage; and when diffracting and deflecting the guided light, the relationship between the modulation control signal and the alternating voltage frequency is read out from the storage means, and the light modulation means and modulation control means for controlling the operation according to this relationship.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4385789A JPH02222932A (en) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | Method and device for reducing light intensity variation of optical deflector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4385789A JPH02222932A (en) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | Method and device for reducing light intensity variation of optical deflector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02222932A true JPH02222932A (en) | 1990-09-05 |
Family
ID=12675378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4385789A Pending JPH02222932A (en) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | Method and device for reducing light intensity variation of optical deflector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02222932A (en) |
-
1989
- 1989-02-23 JP JP4385789A patent/JPH02222932A/en active Pending
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