JPH02222963A - Photosensitive body of amorphous silicon system - Google Patents

Photosensitive body of amorphous silicon system

Info

Publication number
JPH02222963A
JPH02222963A JP4410489A JP4410489A JPH02222963A JP H02222963 A JPH02222963 A JP H02222963A JP 4410489 A JP4410489 A JP 4410489A JP 4410489 A JP4410489 A JP 4410489A JP H02222963 A JPH02222963 A JP H02222963A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
content
fluorine
photoreceptor
amorphous silicon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4410489A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuji Marukawa
丸川 雄二
Tatsuo Nakanishi
達雄 中西
Satoshi Takahashi
智 高橋
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP4410489A priority Critical patent/JPH02222963A/en
Publication of JPH02222963A publication Critical patent/JPH02222963A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain good scratching resistance and to prevent image flowing by respectively specifying the content of hydrogen and fluorine and the content of fluorine in a surface reforming layer. CONSTITUTION:The photosensitive body 39 consists of a charge blocking layer 44 of an a-Si system to be provided at need on a drum-shaped supporting base body 41 consisting of Al, etc., a photoconductive layer 43 consisting of a-Si:H, F, and the surface reforming layer 45 consisting of a-C:H, F. The content of the hydrogen and fluorine in the surface reforming layer 45 consisting of the hydrogenated-fluorinated-amorphous carbon doped by at least one of group IIIa elements is specified to 5 to 40 atomic% and the content of the fluorine therein is specified to 1 to 30 atomic%. The scratching resistance is improved and the image flowing is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子写真感光体に関する。[Detailed description of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor.

(発明の背景) 従来、電子写真感光体として、アモルファスシリコン(
a−3t)を母体として用いt;電子写真感光体が近年
になって提案されている。
(Background of the Invention) Conventionally, amorphous silicon (
In recent years, an electrophotographic photoreceptor using a-3t) as a matrix has been proposed.

このようなa−5iはいわゆるダングリングボンドを有
しているため、この欠陥を水素原子で補償して暗所抵抗
を大としかつ光導電性も向上させたアモルファス水素化
シリコン(a−5t:H)が提案されている(特開昭5
4−78135号、同54−86341号)が暗所抵抗
は未だ充分ではない。
Since such a-5i has so-called dangling bonds, amorphous hydrogenated silicon (a-5t: H) has been proposed (Unexamined Japanese Patent Publication No. 5
No. 4-78135, No. 54-86341), but the dark resistance is still not sufficient.

また、a−5i:Hを表面とする感光体は、経時による
大気や湿気、或はコロナ放電で生成される活性物質によ
る劣化等に対する表面の化学的安定性に関して、これま
で十分な対策が施されないままであって、例えば1力月
以上放置したものは湿気の影響を受け、受容電位が著し
く低下し画像流れが生じ、また光照射による構造変化を
起す。
In addition, sufficient measures have been taken to date to ensure the chemical stability of the surface of photoreceptors with a-5i:H surface against deterioration caused by air and moisture over time, or by active substances generated by corona discharge. If the film is left untreated for more than one month, for example, it will be affected by moisture, the acceptance potential will drop significantly, image blurring will occur, and structural changes will occur due to light irradiation.

一方、アモルファス水素化炭化シリコン(以下、a−5
iC:Hと標記する。)について、その存在や製法が“
Phi 1.Mag、35”(1978)等に記載され
ており、その特性として、耐熱性や表面硬度が高いこと
、a  S i : Hと比較して高い暗件抵抗率(1
0” 〜10”Ω−am)を有するコト、炭素tにより
光学的エネルギーギャップが1.6〜2.8eVの範囲
に亘って変化すること等が知られている。但、炭素の含
有によりバンドギャップが拡がるために長波長感度が不
良となるという欠点がある。
On the other hand, amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter referred to as a-5
Marked as iC:H. ), its existence and manufacturing method are “
Phi 1. Magn.
It is known that the optical energy gap changes over a range of 1.6 to 2.8 eV depending on carbon t. However, there is a drawback that the long wavelength sensitivity becomes poor due to the widening of the band gap due to the inclusion of carbon.

更に水素より陰性度の強い弗素を導入することによって
ダングリングボンドの排除をより大きく促進し、またド
ーピング剤のドーピング効果を上げ、機械強度と光照射
安定性を上げることができる。
Furthermore, by introducing fluorine, which is more negative than hydrogen, it is possible to greatly promote the elimination of dangling bonds, increase the doping effect of the doping agent, and increase mechanical strength and light irradiation stability.

こうしたa−5iC:Hとa−5i:Hとを組合せた電
子写真感光体は例えば特開昭58−192046号にお
いて提案されている。この技術ではa −3j:H,F
からなる電荷発生層上にa−3iC:H及び/又はa−
3iC:F層を表面改質層として形成している。
An electrophotographic photoreceptor combining such a-5iC:H and a-5i:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 192046/1983. In this technique, a −3j: H, F
a-3iC:H and/or a-
The 3iC:F layer is formed as a surface modification layer.

更にa−3i系悪感光の表面改質層としてa−5iC:
H,a−5iN:H等が用いられてきているが、高温高
湿中で画像流れが発生しドラムヒータを使用し支障を回
避しているのが現状である。
Furthermore, a-5iC as a surface modification layer for a-3i-based adverse photosensitive photosensitivity:
H, a-5iN:H, etc. have been used, but at present, image deletion occurs in high temperature and high humidity, and a drum heater is used to avoid the problem.

又、a−C系表面改質層についての研究報告は電子写真
学会誌f!J27巻WI1号(24)等に記載がある。
Also, a research report on the a-C surface modified layer is published in the Electrophotography Society Journal f! It is described in Vol. J27, No. WI1 (24), etc.

しかしながら、上記の公知の表面改質層を設けた感光体
について本発明者が検討を加えたところ、表面改質層を
設けても、未だ期待した程には効果がなく、Ill的強
度が不充分であり、また画像流れが生じ易く、画像流れ
と耐スクラッチ性の両立には成功していない。
However, when the present inventor investigated the photoreceptor provided with the above-mentioned known surface-modified layer, it was found that even with the surface-modified layer, it was still not as effective as expected, and the Ill strength was insufficient. However, image deletion tends to occur, and it has not been possible to achieve both image deletion and scratch resistance.

(発明の目的) 本発明の目的は、繰返し使用に耐え、良好な耐スクラッ
チ性、画像流れ防止の両立した電子写真感光体を提供す
ることにある。
(Object of the Invention) An object of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor that can withstand repeated use, has good scratch resistance, and has both good scratch resistance and prevention of image deletion.

(発明の構成及び作用効果) 前記した本発明の目的は、少くとも水素化及び/又は弗
素化されj;アモルファスシリコンからなる光導電性層
上に、■a族元素の少くとも1つによってドーピングさ
れた水素化−弗素化−アモルファスカーボンからなる表
面改質層を有する電子写真感光体において、前記表面改
質層の水素及び弗素の含有量が5〜40atoa+%、
かつ弗素の含有量が1〜30atom%であるアモルフ
ァスシリコン系感光体によって達成できる。
(Structure and Effects of the Invention) The object of the present invention described above is to dope a photoconductive layer made of at least hydrogenated and/or fluorinated amorphous silicon with at least one of group a elements. In an electrophotographic photoreceptor having a surface modified layer made of hydrogenated-fluorinated amorphous carbon, the content of hydrogen and fluorine in the surface modified layer is 5 to 40 atoa+%,
This can be achieved using an amorphous silicon photoreceptor having a fluorine content of 1 to 30 atom %.

前記水素化弗素化−アモルファスカーボン(a−C:H
,P、!l:標記する)のa−8i:H,Fからなる光
導電性層上への付設は、ハイドロカーボン及びフルオル
カーボンの混合ガスを用い、ガス温度及び感光体基体温
度が比較的低く電子温度の高いグロー放電によるプラズ
マCVD法に拠ることが好ましい。
The hydrogenated fluorinated amorphous carbon (a-C:H
,P,! A-8i: A mixed gas of hydrocarbon and fluorocarbon is used to attach a-8i (denoted as 1) onto the photoconductive layer consisting of H and F, and the gas temperature and the photoreceptor substrate temperature are relatively low, and the electron temperature is low. It is preferable to use a plasma CVD method using a high glow discharge.

本発明に用いられるハイドロカーボンとしては、CHイ
CzHイC5Ha、 C4H1o、CaHa−CsHs
 、CaHイCJt、CsHイC,Ha、CsHいが挙
げられ、またフルオルカーボンとしてはCF4、CHF
、、C,FいCSF、等が用いられる。
Hydrocarbons used in the present invention include CH-CzH-C5Ha, C4H1o, CaHa-CsHs
, CaH, CJt, CsH, C, Ha, CsH, and fluorocarbons include CF4, CHF.
, ,C,FiCSF, etc. are used.

これらガスの流量比を制御した混合ガスによって、a−
C:H,Fの組成が、 に制御されることによって、耐スクラッチ性が向上する
By controlling the flow rate ratio of these gases, a-
C: Scratch resistance is improved by controlling the composition of H and F to be as follows.

尚上記範囲には水素含有量がOの場合も含まれる。また
atom%は元素原子数による%である。
Note that the above range also includes cases where the hydrogen content is O. Further, atom% is a percentage based on the number of atoms of an element.

更にB、Al1.G all n、TI2元素の少くと
も1つをドーピング剤として表面改質層中に1O−3〜
io4容量ppm添加することにより画像流れを防止す
ることができる。
Furthermore, B, Al1. G all n, 1O-3 to TI in the surface modification layer using at least one of the two elements as a doping agent.
Image deletion can be prevented by adding io4 volume ppm.

尚本発明に係るa−5f:H,Pからなる光導電性層に
も前記ドーピング剤を10−3〜10’容量ppm添加
してもよい。
The doping agent may also be added to the photoconductive layer of a-5f:H, P according to the present invention in an amount of 10-3 to 10' volume ppm.

ドーピングにはグロー放電プラズマによる外、イオン注
入法などの技法を用いてもよい。
In addition to glow discharge plasma, techniques such as ion implantation may be used for doping.

以下、本発明を図を用いて詳細に説明する。Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は、本発明の態様によるa−3ii電子写真感光
体39を示すものである。この感光体39はAQ等のド
ラム状導電性支持基体41上に、必要に応じて設けられ
るa−5i系の電荷ブロッキング層44と、a−8i:
H,Fからなる光導電性層43と、a−C:H,F表面
改質層からなっている。
FIG. 1 illustrates an A-3II electrophotographic photoreceptor 39 according to an embodiment of the present invention. This photoreceptor 39 has an a-5i charge blocking layer 44 provided as necessary on a drum-shaped conductive support substrate 41 such as AQ, and an a-8i:
It consists of a photoconductive layer 43 made of H, F, and an a-C:H, F surface modification layer.

電荷ブロッキング層44は、a−5f:H,a−9jC
:H又はa−5iN:I(からなっていてよく、また周
期表第1na族又は第Va族元素がドープされていてよ
い。また、光導電性層43にも同様の元素がドープされ
ていてよい。光導電性層43は、暗所抵抗率P。と光照
射時の抵抗率1’Lとの比が電子写真感光体として十分
大きく光感度(特に可視及び赤外領域の光に対するもの
)が良好である。
The charge blocking layer 44 is a-5f:H, a-9jC
:H or a-5iN:I (and may be doped with an element of Group 1Na or Group Va of the periodic table. In addition, the photoconductive layer 43 may also be doped with a similar element. Good. The photoconductive layer 43 has a ratio of resistivity P in the dark and resistivity 1'L when irradiated with light, which is sufficiently large as an electrophotographic photoreceptor and has photosensitivity (particularly to light in the visible and infrared regions). is good.

本発明の特徴は、表面改質層45がa−C:H,Fから
なっておりnla族元素をドープし又、作成にあたりフ
ルオルカーボンとハイドロカーボンの流量比を適宜選定
しH,Fの組成がコントロールされていることである。
The feature of the present invention is that the surface modified layer 45 is made of a-C:H, F and is doped with NLA group elements, and that the flow rate ratio of fluorocarbon and hydrocarbon is appropriately selected during creation. The composition is controlled.

これによって、表面改質層45の機械的強度及び画像流
れ特性が向上する。
This improves the mechanical strength and image deletion characteristics of the surface modified layer 45.

膜中(H)、(F)濃度は高すぎると耐スクラッチ性が
不良となる。
If the (H) and (F) concentrations in the film are too high, the scratch resistance will be poor.

また、この感光体の他の注目点は、後述のグロー放電法
において例えば(B zHa) / (CH4) +(
eF4)・lO−!〜10’容量pp璽(望ましくは1
O−1〜10”容量pp■)の周期表第1[Ia族元素
を表面改質層45中にドープしていることである。こう
した不純物元素の含有によって、画像流れを大幅に減少
させることができる。即ち、不純物元素の量が10−’
容量ppm未満または10’容量ppmを超えると共に
十分な表面抵抗が得られず、画像流れが顕著に生ずる。
Another noteworthy point of this photoreceptor is that in the glow discharge method described below, for example, (B zHa) / (CH4) + (
eF4)・lO−! ~10' capacity pp (preferably 1
The surface modification layer 45 is doped with Group 1 Ia elements of the periodic table with O-1 to 10" capacity pp■). By containing these impurity elements, image blurring can be significantly reduced. In other words, the amount of impurity element is 10-'
When the capacitance is less than ppm or exceeds 10' ppm, sufficient surface resistance cannot be obtained, and image blurring occurs significantly.

なお、表面改質層45には、周期表第Va族元素、例え
ば燐を用いてもよい。
Note that the surface modified layer 45 may be made of a Group Va element of the periodic table, for example, phosphorus.

また、表面改質層45の膜厚は200〜30,0OOA
とすることが望ましく、1.000〜l口、 00OA
とするのが更に望ましい。膜厚が大きすぎると、残留電
位V、が高くなりすぎかつ光感度の低下も生じ、a−3
i系感光体としての良好な特性を失い易い。
The thickness of the surface modified layer 45 is 200 to 30,000 mm.
It is desirable to make it 1.000 to 1 mouth, 00OA
It is even more desirable that If the film thickness is too large, the residual potential V becomes too high and the photosensitivity decreases, resulting in a-3
It is easy to lose the good characteristics as an i-type photoreceptor.

また、膜厚が小さすぎると、トンネル効果によって電荷
が表面上に帯電されなくなるため、暗減・衰の増大や光
感度の低下が生ずる。
Furthermore, if the film thickness is too small, charges will no longer be charged on the surface due to the tunnel effect, resulting in increased dark decay and reduction in photosensitivity.

感光層としての光導電性層43はa−5t:Hからなっ
ていてよく、その組成としては、Hを5〜4Qato■
%とするのがよ<、Hに代えて或いは併用してハロゲン
を含有するときにはハロゲン5〜40atom%、或い
はHとハロゲンとの合計量は5〜40atom%とする
のがよい。この光導電性層43は帯電能向上のために不
純物、特に周期表第1na族またはVa族元素をドープ
するとよい。例えば、後述のグロー放電時に、(BxH
s) / (S i H4) −1O−!〜100(好
ましくはio−”〜10)容量ppm、(PHs)/ 
(S i H4) −10−3〜100(JfFまL 
< ハ10−”−10)容量pplとしてよい。
The photoconductive layer 43 as a photosensitive layer may be composed of a-5t:H, and its composition is such that H is 5 to 4Qato■
When a halogen is contained in place of or in combination with H, the halogen is preferably 5 to 40 atom%, or the total amount of H and halogen is preferably 5 to 40 atom%. This photoconductive layer 43 is preferably doped with an impurity, particularly an element of Group 1 Na or Va of the periodic table, in order to improve charging ability. For example, during glow discharge (described later), (BxH
s) / (S i H4) -1O-! ~100 (preferably io-''~10) Capacity ppm, (PHs)/
(S i H4) -10-3~100 (JfF or L
<c10-”-10) Capacity ppl may be used.

また、この層43の厚みは5〜100μm1好ましくは
10〜30μmとするのがよい。光導電性層43の厚み
が小さすぎると十分な帯電電位が得られず、また大きす
ぎると残留電位が上昇し、実用上不利である。
Further, the thickness of this layer 43 is preferably 5 to 100 μm, preferably 10 to 30 μm. If the thickness of the photoconductive layer 43 is too small, a sufficient charging potential cannot be obtained, and if it is too large, the residual potential increases, which is disadvantageous in practice.

また、上記電荷ブロッキング層44は、基板41がらの
電子の注入を十分に防ぎ、感度、帯電能の向上のために
は、周期表第nla族元素(例えばボロン)をグロー放
電分解でドープして、Pff(更にはP+型)化する。
Further, in order to sufficiently prevent electron injection from the substrate 41 and to improve sensitivity and charging ability, the charge blocking layer 44 is doped with an element of group NLA of the periodic table (for example, boron) by glow discharge decomposition. , Pff (further, P+ type).

ブロッキング層の組成によって、次のようにドーピング
量を制御するのが望ましい。
It is desirable to control the doping amount as follows depending on the composition of the blocking layer.

(1)a−8i:H(N含有量5〜40atom%):
(B2H2) / (S i H4) −10−3−1
0’容量ppm(更には10−’−10”容量ppm)
CP H3) / (S i H,) =lQ−”〜1
0’容量ppI11(更には10−1〜lO2容量pp
m)(2)   a−3iC:H(N含有量5〜50a
tom%、C含有量5〜1100ato%): (82H@) / (S i Ha) −10−”10
’容量ppm(更には10−’−10’容量り9m)C
P )Is) / (S i H4) −10−3〜1
0’容量ppm(更にはlO−1〜lO1容量pp+*
)(3)  a−9iN:H(N含有量5−50ato
a+%、N含有量5〜60atom%): (BzHs) / (S i H4) ”10−3〜1
0’容量ppm(更には10−’ 〜10’容量ppm
)(P Hs) / (S i Ha) 〜10−”1
0’容量ppm(更には10−’ 〜10’容量ppm
)また、ブロッキング、層44は膜厚100人〜2μm
がよい。厚みが小さすぎるとブロッキング効果が弱く、
また大きすぎると電荷輸送能が悪くなり易い なお、上記の各層は水素を含有することが必要である。
(1) a-8i:H (N content 5-40 atom%):
(B2H2) / (S i H4) -10-3-1
0'capacity ppm (even 10-'-10''capacity ppm)
CP H3) / (S i H,) =lQ-”~1
0' capacity ppI11 (furthermore 10-1~lO2 capacity pp
m) (2) a-3iC:H (N content 5-50a
tom%, C content 5 to 1100ato%): (82H@) / (S i Ha) -10-"10
'Capacity ppm (furthermore, 10-'-10' capacity is 9m)C
P )Is) / (S i H4) -10-3~1
0' capacity ppm (further lO-1 to lO1 capacity pp+*
) (3) a-9iN:H (N content 5-50ato
a+%, N content 5 to 60 atom%): (BzHs) / (S i H4) "10-3 to 1
0'capacity ppm (even 10-' to 10'capacity ppm
) (PHs) / (S i Ha) ~10-”1
0'capacity ppm (even 10-' to 10'capacity ppm
) Also, the blocking layer 44 has a film thickness of 100 to 2 μm.
Good. If the thickness is too small, the blocking effect will be weak,
Moreover, if it is too large, the charge transport ability tends to deteriorate. Note that each of the above layers needs to contain hydrogen.

特に、光導電性層(電荷発生層)43中の水素含有量は
、ダングリングボンドを補償して光導電性及び電荷保持
性を向上させるために必要である。
In particular, the hydrogen content in the photoconductive layer (charge generation layer) 43 is necessary to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention.

また、ドープする不純物としては、ボロン以外にも、A
ff 、Ga11 n、TQ等の周期表第1[Ia族元
素を使用できるし、また燐以外にも、As。
In addition to boron, the impurities to be doped include A
Group Ia elements of the periodic table such as ff, Ga11n, TQ, etc. can be used, and in addition to phosphorus, As.

sb等の周期表第Va族元素を使用できる。Group Va elements of the periodic table, such as sb, can be used.

次に、上記した感光体(例えばドラム状)の製造方法及
びその装置(グロー放電装置)を第2図について説明す
る。
Next, a method for manufacturing the above-mentioned photoreceptor (for example, drum-shaped) and an apparatus therefor (glow discharge apparatus) will be explained with reference to FIG.

この装置51の真空槽52内ではドラム状の基体41が
垂直に回転可能にセットされ、ヒータ55で基板41を
内側から所定温度に加熱し得るようになっている。基板
41に対向してその周囲に、ガス噴出口53付きの円筒
状高周波電極57が配され、基板41との間に高周波電
源56によりグロー放電が生ぜしめられる。なお、図中
の62はSiH,又はガス状シリコン化合物の供給源、
63はCH4等の炭化水素ガスの供給源、64はN2等
の窒素化合物ガスの供給源、65は0!等の酸素化合物
ガスの供給源、66はAr等のキャリアガス供給源、6
7は不純物ガス(例えばBzHs)供給源、68は各流
量計である。
A drum-shaped base 41 is vertically rotatably set in a vacuum chamber 52 of this device 51, and a heater 55 can heat the substrate 41 from the inside to a predetermined temperature. A cylindrical high frequency electrode 57 with a gas outlet 53 is disposed around and facing the substrate 41, and a glow discharge is generated between the electrode 57 and the substrate 41 by a high frequency power source 56. In addition, 62 in the figure is a source of SiH or a gaseous silicon compound,
63 is a supply source of hydrocarbon gas such as CH4, 64 is a supply source of nitrogen compound gas such as N2, and 65 is 0! 66 is a carrier gas supply source such as Ar;
7 is an impurity gas (for example, BzHs) supply source, and 68 is each flow meter.

このグロー放電装置において、まず支持体である例えば
A2基体41の表面を清浄化した後に真空槽52内に配
置し、真空槽52内のガス圧が10−’Torrとなる
ように調節して排気し、かつ基体41を所定温度、特に
100〜350℃(望ましくは150〜300℃)に加
熱保持する。次いで、高純度の不活性ガス又はHlをキ
ャリアガスとして、SiH,又はガス状シリコン化合物
、CHいN2、NH3、CO2,0!等を適宜真空#1
52内に導入し、例えば0.01〜10Torrの反応
圧下で高周波電源56により高周波電圧(例えば13.
56 M tlz)を印加する。これによって、上記各
反応ガスを電極57と基板41との間でグロー放電分解
し、a−8i :H,a−5t :Hla−5(CN:
Hを上記の層44.43.45として基体上に連続的に
(即ち、例えば第1図の例に対応して)堆積させる。
In this glow discharge device, first, the surface of a support, for example, an A2 substrate 41, is cleaned, and then placed in a vacuum chamber 52, and the gas pressure in the vacuum chamber 52 is adjusted to 10-' Torr, and the air is evacuated. At the same time, the substrate 41 is heated and maintained at a predetermined temperature, particularly 100 to 350°C (preferably 150 to 300°C). Next, using high purity inert gas or Hl as a carrier gas, SiH or gaseous silicon compound, CHN2, NH3, CO2,0! Vacuum #1 as appropriate.
52, and a high frequency voltage (for example, 13 Torr) is applied by a high frequency power supply 56 under a reaction pressure of, for example, 0.01 to 10 Torr.
56 M tlz). As a result, each of the above reaction gases is decomposed by glow discharge between the electrode 57 and the substrate 41, and a-8i:H, a-5t:Hla-5(CN:
H is deposited as layers 44, 43, 45 as described above on the substrate successively (i.e. corresponding to the example of FIG. 1, for example).

上記製造方法においては、支持体上にa−5i系の層を
製膜する工程で支持体温度を100〜350℃としてい
るので、感光体の膜質(特に電気的特性)を良くするこ
とができる。
In the above manufacturing method, the support temperature is set at 100 to 350°C in the step of forming the a-5i layer on the support, so the film quality (especially electrical properties) of the photoreceptor can be improved. .

なお、上記a−5i系感光体感光層の形成時において、
ダングリングボンドを補償するためには、上記したHの
かわりに、或いはHと併用して弗素等のハロゲンをSf
F、等の形で導入し、a −3i :F、a−Si :
H,Fs a−5iN:F。
In addition, when forming the above a-5i photoreceptor photosensitive layer,
In order to compensate for dangling bonds, it is necessary to use halogens such as fluorine instead of H, or in combination with H.
F, etc., a-3i:F, a-Si:
H, Fs a-5iN:F.

a−3iN:)i、F、a−5iC:Fl a−3iC
:H,F等とすることもできる。
a-3iN:) i, F, a-5iC: Fl a-3iC
:H, F, etc. can also be used.

(実施例) 以下、本発明を具体的な実施例について説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described with reference to specific examples.

グロー放電分解法により、ドラム状Ai2支持体上に第
1図の構造の電−子写真感光体を作製した。
An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in FIG. 1 was prepared on a drum-shaped Ai2 support by a glow discharge decomposition method.

即ち、まず支持体である、例えば平滑な表面を持つドラ
ム状All基体41の表面を清浄化した後に、第2図の
真空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が10−
’Torrとなるように調節“して排気し、かつ基体4
1を所定温度、とくに100〜350’0 (望ましく
は150〜300℃)に加熱保持する。次いで、高純度
のArガスをキャリアガスとして導入し、Q、5Tor
rの背圧のもとて周波数13.56 M Hzの高周波
電力を印加し、10分間の予備放電を行った。次いで、
SiH,とB 、H、からなる反応ガスを導入し、流量
比1 : 1 : (1,5X1G−”)の(Ar :
 S iH,:BzHs)混合ガスをグロー放電分解す
ることにより、電荷ブロッキング機能を担うP+型の 
a −3i:H層44を6μm/hrの堆積速度で所定
厚さに製膜した。引続き、流量比1 : l : (5
XIG−’)の(A r : S i H4: B2H
2)混合ガスを放電分解し、所定厚さのボロンドープド
a−5i:8層43を形成した。引き続いて、流量比4
0: 3 : 90:1.5X 10−’の(A r 
: S i Ha: C)Ia: BzHs)混合ガス
を反応圧力P = 0.5Torr、放電パワーRf−
400Wでグロー放電分解し、所定厚さの中間層を形成
した。
That is, first, after cleaning the surface of a support, for example, a drum-shaped All-in-all substrate 41 with a smooth surface, it is placed in a vacuum chamber 52 in FIG. 2, and the gas pressure in the vacuum chamber 52 is set to 10-
'Torr' and exhaust the air, and the base 4
1 is heated and maintained at a predetermined temperature, particularly 100-350'0 (preferably 150-300°C). Next, high-purity Ar gas is introduced as a carrier gas, and Q, 5 Tor
A high frequency power with a frequency of 13.56 MHz was applied under a back pressure of r, and a preliminary discharge was performed for 10 minutes. Then,
A reaction gas consisting of SiH, B, and H was introduced, and (Ar:
S iH,:BzHs) By glow discharge decomposition of mixed gas, P+ type which has charge blocking function is generated.
a-3i: The H layer 44 was formed to a predetermined thickness at a deposition rate of 6 μm/hr. Subsequently, the flow rate ratio 1 : l : (5
XIG-') of (A r : S i H4: B2H
2) The mixed gas was subjected to discharge decomposition to form a boron-doped A-5i:8 layer 43 of a predetermined thickness. Subsequently, the flow rate ratio 4
0: 3: 90:1.5X 10-'(A r
: S i Ha: C) Ia: BzHs) Mixed gas at reaction pressure P = 0.5 Torr, discharge power Rf-
Glow discharge decomposition was performed at 400 W to form an intermediate layer of a predetermined thickness.

該中間層の上に本発明に係るa−C:H,F表面改質層
45を、表1に掲げた原料ガス流入及び反応条件に基き
、表2に示す組成をもつ厚み0.2μmの層として付設
し、比較感光体試料及び本発明実施例感光体試料1〜1
1を作製し、下記評価テストにかけた。その結果を表2
に併記する。
The a-C:H,F surface-modified layer 45 according to the present invention was formed on the intermediate layer with a thickness of 0.2 μm having the composition shown in Table 2 based on the raw material gas inflow and reaction conditions listed in Table 1. Comparative photoreceptor samples and inventive example photoreceptor samples 1 to 1
1 was prepared and subjected to the following evaluation test. Table 2 shows the results.
Also listed in

尚、層の組成はSIMSによって分析した。Note that the composition of the layer was analyzed by SIMS.

強制ジャムテスト 電子写真複写機U−Bix2500(コニカ株式会社製
)改造機を用い、次のステップでジャムテストを行った
Forced jam test Using a modified electrophotographic copying machine U-Bix 2500 (manufactured by Konica Corporation), a jam test was conducted in the following steps.

■分離電流をゼロにし、強制的にジャムを発生させる。■Separation current is set to zero and a jam is forcibly generated.

0紙づまりの状態で30秒空まわしする。0 Leave the machine running for 30 seconds with no paper jam.

■■、■を30回繰返す。Repeat ■■ and ■ 30 times.

0画出しによりジャム傷の有無を判断。Determine the presence or absence of jam damage by displaying 0 images.

Oジャム傷なし X ジャム傷 多数発生 画像流れ− 温度33℃、相対湿度80%の環境下で、感光体を電子
写真複写機U−Bix2500(コニカ株式会社製)改
造機内に24時間順応させた後、現像剤、紙、ブレード
とは非接触で1時間空回しを行った後、画像出しを行い
、以下の基準で画像流れの程度を判定した。
O No jam damage After idling for one hour without contacting the developer, paper, or blade, an image was produced, and the degree of image deletion was determined based on the following criteria.

O:画像流れが全くなく、5.5ポイントの英字や細線
の再現性が良い。
O: There is no image blurring at all, and the reproducibility of 5.5-point alphabetic characters and thin lines is good.

x : 5.5ポイントの英字がつぶれて読みづらい。x: 5.5 point letters are crushed and difficult to read.

表1 であって、 第1図はa−3t系悪感光の断面図、 第2図はグロー放電装置の概略断面図である。Table 1 And, Figure 1 is a cross-sectional view of the a-3t system ill-sensitivity photo, FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the glow discharge device.

39・・・・・・・・・a−5i系悪感光41・・・・
・・・・・支持体(基板)43・・・・・・・・・光導
電性 44・・・・・・・・・電荷ブロッキング層45・・・
・・・・・・表面改質層 表に明らかなようにma族元素の適正なドーピングによ
り画像流れが改善され表面改質層の水素及び弗素の含有
量を5〜55atom%の範囲に抑える事により良好な
耐スクラッチ性を実現できる。
39・・・・・・A-5i type bad sensitivity 41・・・・
...Support (substrate) 43...Photoconductivity 44...Charge blocking layer 45...
......As is clear from the surface modified layer surface, proper doping of Ma group elements improves image blurring and suppresses the hydrogen and fluorine content in the surface modified layer within the range of 5 to 55 atom%. This makes it possible to achieve good scratch resistance.

又、ハイドロカーボン及びフルオロカーボンの混合ガス
を用いる事によりアモルファスカーボン膜の組成を自由
に変える事が可能となり上記組成をコントロールするこ
とが可能となる。
Further, by using a mixed gas of hydrocarbon and fluorocarbon, it becomes possible to freely change the composition of the amorphous carbon film, and it becomes possible to control the composition.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)少くとも水素化及び/又は弗素化されたアモルフ
ァスシリコンからなる光導電性層上に、IIIa族元素の
少くとも1つによってドーピングされた水素化−弗素化
−アモルファスカーボンからなる表面改質層を有する電
子写真感光体において、前記表面改質層の水素及び弗素
の含有量が5〜40atom%、かつ弗素の含有量が1
〜30atom%であるアモルファスシリコン系感光体
(1) Surface modification made of hydrogenated-fluorinated amorphous carbon doped with at least one group IIIa element on a photoconductive layer made of at least hydrogenated and/or fluorinated amorphous silicon. In the electrophotographic photoreceptor having a layer, the content of hydrogen and fluorine in the surface modification layer is 5 to 40 atom%, and the content of fluorine is 1
-30 atom% amorphous silicon photoreceptor.
(2)前記表面改質層がハイドロカーボン及びフルオル
カーボンの混合ガスを用い、プラズマCVD法によって
設けられた請求項1記載のアモルファスシリコン系感光
体。
(2) The amorphous silicon photoreceptor according to claim 1, wherein the surface modification layer is provided by a plasma CVD method using a mixed gas of hydrocarbon and fluorocarbon.
JP4410489A 1989-02-23 1989-02-23 Photosensitive body of amorphous silicon system Pending JPH02222963A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4410489A JPH02222963A (en) 1989-02-23 1989-02-23 Photosensitive body of amorphous silicon system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4410489A JPH02222963A (en) 1989-02-23 1989-02-23 Photosensitive body of amorphous silicon system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02222963A true JPH02222963A (en) 1990-09-05

Family

ID=12682307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4410489A Pending JPH02222963A (en) 1989-02-23 1989-02-23 Photosensitive body of amorphous silicon system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02222963A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0094224B1 (en) A photoreceptor
JPS61159657A (en) Photosensitive body
JPH02222963A (en) Photosensitive body of amorphous silicon system
JPH01204057A (en) Manufacture of electrophotographic sensitive body
JPH02262665A (en) Amorphous silicon photosensitive body
JPS60235145A (en) Photosensitive body
JPH01185642A (en) Photosensitive body
JPS6314164A (en) Electrophotographic sensitive body
JPH01277244A (en) Photosensitive body
JPH01277243A (en) Photosensitive body
JPS60203959A (en) Photosensitive body
JPH01289959A (en) Photosensitive body
JPH01289961A (en) Photosensitive body
JPH01185644A (en) Photosensitive body
JPH01185645A (en) Photosensitive body
JPH01206353A (en) Photosensitive body
JPS6283761A (en) Photosensitive body
JPH01289958A (en) Photosensitive body
JPS60235153A (en) Photosensitive body
JPS60203960A (en) Photosensitive body
JPS60235151A (en) Photosensitive body
JPH01185643A (en) Photosensitive body
JPH01289962A (en) Photosensitive body
JPH01206355A (en) Photosensitive body
JPS6283762A (en) Photosensitive body