JPH02223835A - 分布型圧覚センサ - Google Patents
分布型圧覚センサInfo
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- JPH02223835A JPH02223835A JP4311089A JP4311089A JPH02223835A JP H02223835 A JPH02223835 A JP H02223835A JP 4311089 A JP4311089 A JP 4311089A JP 4311089 A JP4311089 A JP 4311089A JP H02223835 A JPH02223835 A JP H02223835A
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- JP
- Japan
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- gauges
- strain
- load
- pressure sensor
- gauge
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- Measurement Of Force In General (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は分布型圧覚センサに関し、詳しくは、ロボッ
トハンド等に取付けて、ハンドに対して垂直方向に加わ
る力の分布を検出することができる分布型圧覚センサに
関する。
トハンド等に取付けて、ハンドに対して垂直方向に加わ
る力の分布を検出することができる分布型圧覚センサに
関する。
この種の分布型圧覚センサは、ロボットハンドなどにお
いてその圧覚検知により把持力の強さや、面圧分布等の
情報を得る目的で開発が進められてきた。第7図にこの
ような分布型圧覚センサの一部を、また第8図に分布型
圧電センサを構成する個々の圧覚センサの一例を示す。
いてその圧覚検知により把持力の強さや、面圧分布等の
情報を得る目的で開発が進められてきた。第7図にこの
ような分布型圧覚センサの一部を、また第8図に分布型
圧電センサを構成する個々の圧覚センサの一例を示す。
分布型圧覚センサは、適当なりレグ率を有する弾性材の
基板である弾性体1の上に第7図に示すような単結晶シ
リコン板2が接着して構成されており、さらにこのよう
な単結晶シリコン板2上には、その中央部に荷重印加部
3が例えばSn/10Auによる共晶結合や接着等によ
り固定されていて、その周囲には半導体ストレンゲージ
2Bおよび2Cが配設され、このようにして構成された
個々の圧覚センサ4がマトリクス状に配列されている。
基板である弾性体1の上に第7図に示すような単結晶シ
リコン板2が接着して構成されており、さらにこのよう
な単結晶シリコン板2上には、その中央部に荷重印加部
3が例えばSn/10Auによる共晶結合や接着等によ
り固定されていて、その周囲には半導体ストレンゲージ
2Bおよび2Cが配設され、このようにして構成された
個々の圧覚センサ4がマトリクス状に配列されている。
なお、単結晶シリコン板2の上面2D上には、前記半導
体ストレンゲージ2Bや201更にこれらを結合する図
示しない配線に加えて、信号取出し用のはんだパッド2
Aが形成されており、これらのはんだパッド2Aに対し
て窓5^が形成されたフレキシブルプリント板5のはん
だパッド5Bが重ね合せるようにして溶融接合されてい
る。なおここで弾性体1には、圧覚センサ4を互いに離
隔させるために井桁状の溝l^が形成されている。
体ストレンゲージ2Bや201更にこれらを結合する図
示しない配線に加えて、信号取出し用のはんだパッド2
Aが形成されており、これらのはんだパッド2Aに対し
て窓5^が形成されたフレキシブルプリント板5のはん
だパッド5Bが重ね合せるようにして溶融接合されてい
る。なおここで弾性体1には、圧覚センサ4を互いに離
隔させるために井桁状の溝l^が形成されている。
以上のような構成において、荷重印加部3に垂直荷重が
負荷されると、単結晶シリコン板2が弾性体1と共に変
形することによって、単結晶シリコン板2の表面に形成
された半導体ストレンゲージ2Bおよび2Cにおける抵
抗値が変化する。そこでこれらの抵抗値の変化をホイー
トストンブリッジ回路により電圧変化として取り出せば
、荷重印加部3に加えられる垂直荷重の大きさを知るこ
とができ、さらにマトリックス状に並べられた複数の圧
覚センサ4を適当にスキャニングすることによって、加
えられた垂直荷重の分布を知ることができる。
負荷されると、単結晶シリコン板2が弾性体1と共に変
形することによって、単結晶シリコン板2の表面に形成
された半導体ストレンゲージ2Bおよび2Cにおける抵
抗値が変化する。そこでこれらの抵抗値の変化をホイー
トストンブリッジ回路により電圧変化として取り出せば
、荷重印加部3に加えられる垂直荷重の大きさを知るこ
とができ、さらにマトリックス状に並べられた複数の圧
覚センサ4を適当にスキャニングすることによって、加
えられた垂直荷重の分布を知ることができる。
ところで第8図のように圧覚センサ4を構成し、荷重印
加部3に垂直荷重をf1加した場合、単結晶シリコン板
2の表面上には圧縮歪のみが発生する。このため4つの
半導体ストレンゲージ2[1゜2Bおよび2G、2Gは
いずれも正の抵抗値変化を示すので、これらの半導体ス
トレンゲージ間にホイートストンブリッジ回路を構成し
た場合、互いにストレンゲージの抵抗値変化を打ち消し
合うように働くため、得られる出力は微小なものとなる
。そこで第9図の圧覚センサ4Aのように半導体ストレ
ンゲージの配置として、歪が発生しない箇所にダミーゲ
ージ2Eを配置し、歪が発生する箇所にアクティブゲー
ジ2B1および2B2を配置し、第10図のような回路
構成により出力電圧e。を得ることが考えられる。なお
、第9図の圧覚センサ4Aでは加工、組立性を考慮し、
単結晶シリコン板2の形状、はんだパッド2^の配置方
法、および荷重印加部3の形状がそれぞれ第8図に示す
例と異なっているが、基本的構成及び原理は第8図と同
一である。
加部3に垂直荷重をf1加した場合、単結晶シリコン板
2の表面上には圧縮歪のみが発生する。このため4つの
半導体ストレンゲージ2[1゜2Bおよび2G、2Gは
いずれも正の抵抗値変化を示すので、これらの半導体ス
トレンゲージ間にホイートストンブリッジ回路を構成し
た場合、互いにストレンゲージの抵抗値変化を打ち消し
合うように働くため、得られる出力は微小なものとなる
。そこで第9図の圧覚センサ4Aのように半導体ストレ
ンゲージの配置として、歪が発生しない箇所にダミーゲ
ージ2Eを配置し、歪が発生する箇所にアクティブゲー
ジ2B1および2B2を配置し、第10図のような回路
構成により出力電圧e。を得ることが考えられる。なお
、第9図の圧覚センサ4Aでは加工、組立性を考慮し、
単結晶シリコン板2の形状、はんだパッド2^の配置方
法、および荷重印加部3の形状がそれぞれ第8図に示す
例と異なっているが、基本的構成及び原理は第8図と同
一である。
しかしながら、上述の第9図に示すような構成とした場
合、荷重印加部3が所定の位置、すなわち単結晶シリコ
ン板2の正確な中心位置から第11図のように、ある偏
心量rだけずれた状態で、第12図のFxのような横荷
重の干渉を受けたとすると、次に述べるような問題点が
ある。
合、荷重印加部3が所定の位置、すなわち単結晶シリコ
ン板2の正確な中心位置から第11図のように、ある偏
心量rだけずれた状態で、第12図のFxのような横荷
重の干渉を受けたとすると、次に述べるような問題点が
ある。
すなわち、第11図のような圧覚センサ4Δにおいて、
第1O図に示す1うにホイートストンブリッジ回路を構
成した場合、回路の出力端子間から得られる出力電圧e
oは以下のようになる。
第1O図に示す1うにホイートストンブリッジ回路を構
成した場合、回路の出力端子間から得られる出力電圧e
oは以下のようになる。
e、、=−1/4・にS(ε2bl +ε2b2)el
”’の81は電源電圧、ε2blおよびε2b2
はアクティブゲージ281および2B2の長手方向歪、
に5はゲージファクタと言われる定数である。なおここ
で、ダミーゲージ2Eには歪が生じないので、ε26=
0と仮定している。
”’の81は電源電圧、ε2blおよびε2b2
はアクティブゲージ281および2B2の長手方向歪、
に5はゲージファクタと言われる定数である。なおここ
で、ダミーゲージ2Eには歪が生じないので、ε26=
0と仮定している。
そこでまず、第11図において荷重印加部3の偏心量r
=0の場合を考える。この場合第12図のように垂直荷
重F2が荷重印加部に負荷されると、アクティブゲージ
2B1および2B2には第13A図のように歪ε2bl
およびε2b2が発生し、■式より第13B図のような
出力電圧e。が得られ、垂直荷重が検出される。同様に
偏心量r=oの場合は、第12図のように横荷重FXが
負荷されたとしても、第14A図のようにアクティブゲ
ージ2B1および2B2には大きさが等しく符号が逆の
62,1およびε2ゎ、が発生し、■式より第148図
に示すように出力電圧e。−〇となり横荷重の影雷、す
なわち干渉は現れない。
=0の場合を考える。この場合第12図のように垂直荷
重F2が荷重印加部に負荷されると、アクティブゲージ
2B1および2B2には第13A図のように歪ε2bl
およびε2b2が発生し、■式より第13B図のような
出力電圧e。が得られ、垂直荷重が検出される。同様に
偏心量r=oの場合は、第12図のように横荷重FXが
負荷されたとしても、第14A図のようにアクティブゲ
ージ2B1および2B2には大きさが等しく符号が逆の
62,1およびε2ゎ、が発生し、■式より第148図
に示すように出力電圧e。−〇となり横荷重の影雷、す
なわち干渉は現れない。
次に荷重印加部3が例えば第11図のようにX方向にあ
る偏心firだけずれている場合、横荷重F8が負荷さ
れると、第15A図のように大きさが異なる歪ε2bl
とε2b2とが発生するため、■式より出力電圧e0
は第158図に示すように非常に大きな値となり、横荷
重の干渉を大きく受けることが分る。
る偏心firだけずれている場合、横荷重F8が負荷さ
れると、第15A図のように大きさが異なる歪ε2bl
とε2b2とが発生するため、■式より出力電圧e0
は第158図に示すように非常に大きな値となり、横荷
重の干渉を大きく受けることが分る。
ところで荷重印加部3の位置ずれをなくす、すなわち組
立位置決め精度を上げることは大きなコストアップに繋
がり実用的でないために、実質的には荷重印加部3の位
置ずれが生じることはやむを得ない。従って第11図の
ような、すなわち従来技術による圧覚センサ4Aでは横
荷重の干渉が発生し、正確な垂直荷重の検出ができない
という問題点があった。
立位置決め精度を上げることは大きなコストアップに繋
がり実用的でないために、実質的には荷重印加部3の位
置ずれが生じることはやむを得ない。従って第11図の
ような、すなわち従来技術による圧覚センサ4Aでは横
荷重の干渉が発生し、正確な垂直荷重の検出ができない
という問題点があった。
本発明の目的は、上述した従来の課題に着目し、その解
決を図るべく、荷重印加部の取付位置の精度いかんにか
かわらず横荷重の干渉を最少限に抑制可能な分布型圧覚
センサを提供することにある。
決を図るべく、荷重印加部の取付位置の精度いかんにか
かわらず横荷重の干渉を最少限に抑制可能な分布型圧覚
センサを提供することにある。
(課題を解決するための手段〕
このような課題を解決するために、本発明は、弾性材の
基板上に、各々半導体ストレンゲージおよび荷重印加部
が形成された複数個の単結晶シリコン板が、所定の間隔
をおいてアレイ状に配設され、このシリコン板の荷重印
加部に付加される垂直荷重により、単結晶シリコン板を
弾性材の基板と共に変形させて、半導体ストレンゲージ
に発生する抵抗値の変化により垂直荷重の大きさを検出
する分布型圧覚センサにおいて、荷重印加部近傍の垂直
荷重により歪が発生する部分に複数個の半導体ストレン
ゲージを配設して、複数個の半導体ストレンケージによ
り直列に接続した2組のアクティブゲージを構成し、単
結晶シリコン板上の歪が発生しない部分に半導体ストレ
ンゲージによる2つのダミーゲージを配設して2組のア
クティブゲージと2つのダミーゲージとの間にホイート
ストンブリッジを構成し、ホイートストンブリッジから
の出力電圧により垂直荷重を検出するようにしたもので
ある。
基板上に、各々半導体ストレンゲージおよび荷重印加部
が形成された複数個の単結晶シリコン板が、所定の間隔
をおいてアレイ状に配設され、このシリコン板の荷重印
加部に付加される垂直荷重により、単結晶シリコン板を
弾性材の基板と共に変形させて、半導体ストレンゲージ
に発生する抵抗値の変化により垂直荷重の大きさを検出
する分布型圧覚センサにおいて、荷重印加部近傍の垂直
荷重により歪が発生する部分に複数個の半導体ストレン
ゲージを配設して、複数個の半導体ストレンケージによ
り直列に接続した2組のアクティブゲージを構成し、単
結晶シリコン板上の歪が発生しない部分に半導体ストレ
ンゲージによる2つのダミーゲージを配設して2組のア
クティブゲージと2つのダミーゲージとの間にホイート
ストンブリッジを構成し、ホイートストンブリッジから
の出力電圧により垂直荷重を検出するようにしたもので
ある。
本発明によれば、荷重印加部の近傍に設けた複数個の半
導体ストレンゲージにより直列に接続した2組のアクテ
ィブゲージを構成し、これらのアクティブゲージと2つ
のダミーゲージとによりブリッジ回路を構成して、シリ
コン板上のより多くの個所の歪を組合せることにより、
ホイートストンブリッジ回路の出力電圧を得るようにし
たので、これにより荷重印加部が偏心した場合でも、複
数個の半導体ストレンゲージの抵抗値変化が互いに補い
合うため、横荷重による干渉出力が抑えられる。
導体ストレンゲージにより直列に接続した2組のアクテ
ィブゲージを構成し、これらのアクティブゲージと2つ
のダミーゲージとによりブリッジ回路を構成して、シリ
コン板上のより多くの個所の歪を組合せることにより、
ホイートストンブリッジ回路の出力電圧を得るようにし
たので、これにより荷重印加部が偏心した場合でも、複
数個の半導体ストレンゲージの抵抗値変化が互いに補い
合うため、横荷重による干渉出力が抑えられる。
(実施例〕
以下に、図面に基づいて本発明の実施例を詳細かつ具体
的に説明する。
的に説明する。
第1図に本発明の分布型圧覚センサを構成する個々の圧
覚センサ4Bの一実施例を示す。ここで、2B1〜2B
4は単結晶シリコン板2の上面2Dに形成され、荷重印
加部3に加えられた荷重を歪として検出する半導体スト
レンゲージであるアクティブゲージ、2Eは歪が発生し
ない周辺部に形成された半導体ストレンゲージであるダ
ミーゲージであリ、上面2Dにはこれらのアクティブゲ
ージ2B1〜2B4およびダミーゲージ2Eの外、これ
らの間を接続する図示しない配線や信号取出し用のはん
だバンブ2八が形成されている。
覚センサ4Bの一実施例を示す。ここで、2B1〜2B
4は単結晶シリコン板2の上面2Dに形成され、荷重印
加部3に加えられた荷重を歪として検出する半導体スト
レンゲージであるアクティブゲージ、2Eは歪が発生し
ない周辺部に形成された半導体ストレンゲージであるダ
ミーゲージであリ、上面2Dにはこれらのアクティブゲ
ージ2B1〜2B4およびダミーゲージ2Eの外、これ
らの間を接続する図示しない配線や信号取出し用のはん
だバンブ2八が形成されている。
しかして、これらのアクティブゲージ2B1〜284お
よびダミーゲージ2Eを第2図のようなブリッジ回路に
、アクティブゲージ2Bl と282とを1組とし、ア
クティブゲージ2B3と284とを1組として組込んで
構成することによりその出力端子間から出力電圧e。が
得られ、この場合の出力電圧e0は次式のように表され
る。
よびダミーゲージ2Eを第2図のようなブリッジ回路に
、アクティブゲージ2Bl と282とを1組とし、ア
クティブゲージ2B3と284とを1組として組込んで
構成することによりその出力端子間から出力電圧e。が
得られ、この場合の出力電圧e0は次式のように表され
る。
eo =−178・にe(ε 21.+ε 2b2+
ε2b3十ε2M)81”’■ここで、e、は電源電圧
、ε2,1〜2b4はアクティブゲージ2B1〜284
の長平方向歪、K、はゲージファクタと呼ばれる定数で
ある。なおダミーゲージ2Eには歪が生じないのでε2
゜=0と仮定している。
ε2b3十ε2M)81”’■ここで、e、は電源電圧
、ε2,1〜2b4はアクティブゲージ2B1〜284
の長平方向歪、K、はゲージファクタと呼ばれる定数で
ある。なおダミーゲージ2Eには歪が生じないのでε2
゜=0と仮定している。
そこで、このように構成した圧覚センサ4Bにおいて荷
重印加部3の偏心量r=oの場合、第12図に示したよ
うな垂直荷重F2が荷重印加部3に付加されたとすると
、アクティブゲージ2B1〜284には第3A図のよう
な歪がそれぞれ発生し、■式により第3B図のような出
力電圧e。が得られる。同様に第12図に示す横荷重F
Xに対しては、第4A図のようになり第4B図に示すよ
うに出力電圧e0=0となる。
重印加部3の偏心量r=oの場合、第12図に示したよ
うな垂直荷重F2が荷重印加部3に付加されたとすると
、アクティブゲージ2B1〜284には第3A図のよう
な歪がそれぞれ発生し、■式により第3B図のような出
力電圧e。が得られる。同様に第12図に示す横荷重F
Xに対しては、第4A図のようになり第4B図に示すよ
うに出力電圧e0=0となる。
次に荷重印加部3が従来の技術のところで説明したよう
に中心位置からX方向にある偏心量rだけずれている場
合、横荷重Fxが負荷されたとすると第5八図のような
歪が各アクティブゲージ2B1〜2B4に生じ、その結
果、出力電圧e。はTではないが、第5B図に示すよう
に極めてわずかな値となり、横荷重の干渉が大刀消去さ
れたことが分る。
に中心位置からX方向にある偏心量rだけずれている場
合、横荷重Fxが負荷されたとすると第5八図のような
歪が各アクティブゲージ2B1〜2B4に生じ、その結
果、出力電圧e。はTではないが、第5B図に示すよう
に極めてわずかな値となり、横荷重の干渉が大刀消去さ
れたことが分る。
以上の様に本発明による圧覚センサの場合、4つのアク
ティブゲージ2B1〜284に発生する歪が互いに補い
合う形で発生するため、2つのアクティブゲージで荷重
値を検出する従来技術の場合よりも、横荷重の干渉をは
るかに小さいものとすることができる。
ティブゲージ2B1〜284に発生する歪が互いに補い
合う形で発生するため、2つのアクティブゲージで荷重
値を検出する従来技術の場合よりも、横荷重の干渉をは
るかに小さいものとすることができる。
なお第1図のように構成した圧覚センサ4Bにおいて、
第6図のようにホイートストンブリッジ回路を構成して
も、第2図の場合と全く同様な効果が得られることはい
うまでもない。
第6図のようにホイートストンブリッジ回路を構成して
も、第2図の場合と全く同様な効果が得られることはい
うまでもない。
〔発明の効果〕
弾性材の基板上に、各々半導体ストレンゲージおよび荷
重印加部が形成された複数個の単結晶シリコン板が、所
定の間隔をおいてアレイ状に配設され、この単結晶シリ
コン板の荷重印加部に付加される垂直荷重により、単結
晶シリコン板を弾性材の基板と共に変形させて、半導体
ストレンゲージに発生する抵抗値の変化により、垂直荷
重の大きさを検出する分布型圧覚センサにおいて、垂直
荷重により歪が発生する荷重印加部の近傍に、複数個の
半導体ストレンゲージを配設してこれら複数個の半導体
ストレンゲージにより直列に接続した2組のアクティブ
ゲージを構成し、更に、歪が発生しないような単結晶シ
リコン板上の部分に半導体ストレンゲージによる2つの
ダミーゲージを配設して2組のアクティブゲージと2つ
のダミーゲージとの間にホイートストンブリッジ回路を
構成したので、ホイートストンブリッジ回路からの出力
電圧における横荷重による干渉を小さく抑制することが
できるようになった。
重印加部が形成された複数個の単結晶シリコン板が、所
定の間隔をおいてアレイ状に配設され、この単結晶シリ
コン板の荷重印加部に付加される垂直荷重により、単結
晶シリコン板を弾性材の基板と共に変形させて、半導体
ストレンゲージに発生する抵抗値の変化により、垂直荷
重の大きさを検出する分布型圧覚センサにおいて、垂直
荷重により歪が発生する荷重印加部の近傍に、複数個の
半導体ストレンゲージを配設してこれら複数個の半導体
ストレンゲージにより直列に接続した2組のアクティブ
ゲージを構成し、更に、歪が発生しないような単結晶シ
リコン板上の部分に半導体ストレンゲージによる2つの
ダミーゲージを配設して2組のアクティブゲージと2つ
のダミーゲージとの間にホイートストンブリッジ回路を
構成したので、ホイートストンブリッジ回路からの出力
電圧における横荷重による干渉を小さく抑制することが
できるようになった。
第1図は本発明の分布型圧覚センサを構成する個々の圧
覚センサの構成図、 第2図は本発明によるホイートストンブリッジ回路の構
成図、 第3八図および第3B図から第5A図および第5B図ま
ではアクティブゲージに生ずる歪量およびホイートスト
ンブリッジ回路出力電圧の関係をそれぞれ異なる荷重付
加状態で示す説明図、 第6図ば本発明による別のホイートストンブリッジ回路
の構成図、 第7図は従来技術による分布型圧覚センサの断面図、 第8図および第9図は従来技術にかかる個々の圧覚セン
サの構成図、 第1θ図は従来技術によるホイートストンブリッジ回路
の構成図、 第11図は第9図の構成において荷重印加部の偏心を示
した平面図、 第12図は圧覚センサに対する荷重方向を示した断面図
、 第13A図および第138図から第15A図および第1
5B図までは従来の圧覚センサにおいてアクティブゲー
ジに生ずる歪量およびホイートストンブリッジ回路出力
電圧の関係をそれぞれ異なる荷重付加状態で示す説明図
である。 1・・・弾性体、 l^・・・溝、 2・・・単結晶シリコン板、 2八・・・はんだパッド、 28 、2C・・・半導体ストレンゲージ、2E・・・
ダミーゲージ、 281〜2B4・・・アクティブゲージ、ト N 3・・・荷重印加部5 4.4^、4B・・・圧覚センサ、 5・・・フレキシブルプリント板、 ε2bl〜ε2b4・・・アクティブゲージの歪量。 特許出m々工r、j゛;・:、’;’::、′:、;、
ぴ;幸ニ第2図 第3A図 第3B図 第4A図 第4B図 第5A図 第5B図 第7図 第8図 第6図 第 9図 第10図 第11図 第12図 第13A図 第13B図 第14A図 第14B図 第15A図 第15B図
覚センサの構成図、 第2図は本発明によるホイートストンブリッジ回路の構
成図、 第3八図および第3B図から第5A図および第5B図ま
ではアクティブゲージに生ずる歪量およびホイートスト
ンブリッジ回路出力電圧の関係をそれぞれ異なる荷重付
加状態で示す説明図、 第6図ば本発明による別のホイートストンブリッジ回路
の構成図、 第7図は従来技術による分布型圧覚センサの断面図、 第8図および第9図は従来技術にかかる個々の圧覚セン
サの構成図、 第1θ図は従来技術によるホイートストンブリッジ回路
の構成図、 第11図は第9図の構成において荷重印加部の偏心を示
した平面図、 第12図は圧覚センサに対する荷重方向を示した断面図
、 第13A図および第138図から第15A図および第1
5B図までは従来の圧覚センサにおいてアクティブゲー
ジに生ずる歪量およびホイートストンブリッジ回路出力
電圧の関係をそれぞれ異なる荷重付加状態で示す説明図
である。 1・・・弾性体、 l^・・・溝、 2・・・単結晶シリコン板、 2八・・・はんだパッド、 28 、2C・・・半導体ストレンゲージ、2E・・・
ダミーゲージ、 281〜2B4・・・アクティブゲージ、ト N 3・・・荷重印加部5 4.4^、4B・・・圧覚センサ、 5・・・フレキシブルプリント板、 ε2bl〜ε2b4・・・アクティブゲージの歪量。 特許出m々工r、j゛;・:、’;’::、′:、;、
ぴ;幸ニ第2図 第3A図 第3B図 第4A図 第4B図 第5A図 第5B図 第7図 第8図 第6図 第 9図 第10図 第11図 第12図 第13A図 第13B図 第14A図 第14B図 第15A図 第15B図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)弾性材の基板上に、各々半導体ストレンゲージおよ
び荷重印加部が形成された複数個の単結晶シリコン板が
、所定の間隔をおいてアレイ状に配設され、該単結晶シ
リコン板の前記荷重印加部に付加される垂直荷重により
、前記単結晶シリコン板を前記弾性材の基板と共に変形
させて、前記半導体ストレンゲージに発生する抵抗値の
変化により前記垂直荷重の大きさを検出する分布型圧覚
センサにおいて、 前記荷重印加部近傍の前記垂直荷重により歪が発生する
部分に複数個の半導体ストレンゲージを配設して、該複
数個の半導体ストレンゲージにより直列に接続した2組
のアクティブゲージを構成し、 前記単結晶シリコン板上の歪が発生しない部分に半導体
ストレンゲージによる2つのダミーゲージを配設して前
記2組のアクティブゲージと前記2つのダミーゲージと
の間にホイートストンブリッジを構成し、当該ホイート
ストンブリッジからの出力電圧により前記垂直荷重を検
出するようにしたことを特徴とする分布型圧覚センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1043110A JPH0715417B2 (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | 分布型圧覚センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1043110A JPH0715417B2 (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | 分布型圧覚センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02223835A true JPH02223835A (ja) | 1990-09-06 |
| JPH0715417B2 JPH0715417B2 (ja) | 1995-02-22 |
Family
ID=12654695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1043110A Expired - Lifetime JPH0715417B2 (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | 分布型圧覚センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0715417B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5638843U (ja) * | 1979-08-31 | 1981-04-11 | ||
| JPS63155674A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-06-28 | Agency Of Ind Science & Technol | 分布型圧覚センサ |
-
1989
- 1989-02-27 JP JP1043110A patent/JPH0715417B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5638843U (ja) * | 1979-08-31 | 1981-04-11 | ||
| JPS63155674A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-06-28 | Agency Of Ind Science & Technol | 分布型圧覚センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0715417B2 (ja) | 1995-02-22 |
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| EXPY | Cancellation because of completion of term |