JPH02225677A - 成膜方法 - Google Patents
成膜方法Info
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- JPH02225677A JPH02225677A JP24634389A JP24634389A JPH02225677A JP H02225677 A JPH02225677 A JP H02225677A JP 24634389 A JP24634389 A JP 24634389A JP 24634389 A JP24634389 A JP 24634389A JP H02225677 A JPH02225677 A JP H02225677A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、化学気相成長(CVD)および粉体の沈着を
同時に生じさせて、緻密ないし多孔質の無機物質または
育機物質による基材表面の単相あるいは多相の被覆又は
薄膜あるいは厚膜を形成させ、組成あるいは気孔の含有
量が均一もしくは連続的又は段階的に変化する、あるい
は膜中に粉体がネットワーク状に分布することができる
成膜方法である。
同時に生じさせて、緻密ないし多孔質の無機物質または
育機物質による基材表面の単相あるいは多相の被覆又は
薄膜あるいは厚膜を形成させ、組成あるいは気孔の含有
量が均一もしくは連続的又は段階的に変化する、あるい
は膜中に粉体がネットワーク状に分布することができる
成膜方法である。
[従来の技術]
従来の金属、セラミックスなどの成膜方法として、例え
ば、“応用物理第54巻“ (昭80年)P6B7〜8
93に記載されているように、超微粒子のガスデポジシ
ョン法がある。この方法はガス中蒸発法などで生成した
金属またはセラミックスの超微粒子(0,1μm以下)
を、気流に乗せて対象物に吹きつけて成膜する方法であ
る。また、他の方法として、窯業協会誌第95@(昭6
2年)P70〜75または特開昭81−1581177
号公報に記載されているPPCVD法(Particl
e Pre−efpHatlon Aided C
hemical Vapor Depositio
n:超微粒子熱泳動CVD)がある。この方法は、反応
槽内の気相反応で超微粒子を発生させ、熱泳動で基材上
に超微粒子を堆積させて、基材に沈着した超微粒子表面
で、粒子成長反応を進行させることにより超微粒子間を
埋めて成膜する方法である。
ば、“応用物理第54巻“ (昭80年)P6B7〜8
93に記載されているように、超微粒子のガスデポジシ
ョン法がある。この方法はガス中蒸発法などで生成した
金属またはセラミックスの超微粒子(0,1μm以下)
を、気流に乗せて対象物に吹きつけて成膜する方法であ
る。また、他の方法として、窯業協会誌第95@(昭6
2年)P70〜75または特開昭81−1581177
号公報に記載されているPPCVD法(Particl
e Pre−efpHatlon Aided C
hemical Vapor Depositio
n:超微粒子熱泳動CVD)がある。この方法は、反応
槽内の気相反応で超微粒子を発生させ、熱泳動で基材上
に超微粒子を堆積させて、基材に沈着した超微粒子表面
で、粒子成長反応を進行させることにより超微粒子間を
埋めて成膜する方法である。
[発明が解決しようとするa!題〕
上記従来のガスデポジション法で得られる多孔質膜にお
いては、その気孔の制御が難しく、また、この方法では
、成膜にあたって基材をノズルに対して移動させる必要
があり、膜面積の拡大を図ることが大きく制限されてい
る。
いては、その気孔の制御が難しく、また、この方法では
、成膜にあたって基材をノズルに対して移動させる必要
があり、膜面積の拡大を図ることが大きく制限されてい
る。
PPCVD法では、ガス中での粉体の生成と基材上での
表面反応との気相反応および粉体の熱泳動などの現象の
熱的な制御を同時に行うことから、それぞれの現象につ
いて同時に最適条件にすることは困難であり、その成膜
速度の高速化には限界があった。さらに任意の組成の多
相膜を得るのが難しく、その#fl織や気孔を任意に制
御するのは困難であり、かつ、基本的に気相反応の遅い
系に対しては高速化は不可能であった。
表面反応との気相反応および粉体の熱泳動などの現象の
熱的な制御を同時に行うことから、それぞれの現象につ
いて同時に最適条件にすることは困難であり、その成膜
速度の高速化には限界があった。さらに任意の組成の多
相膜を得るのが難しく、その#fl織や気孔を任意に制
御するのは困難であり、かつ、基本的に気相反応の遅い
系に対しては高速化は不可能であった。
本発明は、これら従来の成膜方法では不可能であった組
成、組織、気孔の含有量の制御の容易性を両立させて、
組成、組織、気孔の含有量が連続的または段階的に変化
する、あるいは、均一ないしは膜中に粉体がネットワー
ク状に分布した膜を、高速かつ大面積に得る成膜方法を
提供することを目的とするものである。
成、組織、気孔の含有量の制御の容易性を両立させて、
組成、組織、気孔の含有量が連続的または段階的に変化
する、あるいは、均一ないしは膜中に粉体がネットワー
ク状に分布した膜を、高速かつ大面積に得る成膜方法を
提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明は、化学気相成長法による皮膜形成中に、化学気
相成長による膜と異なるか又は同種の組成あるいは結晶
構造(非晶質を含む)を有する粉体を基材表面に沈着す
るとともに、化学気相成長を同時に生ぜしめ、粉体もし
くは気孔の含有量が一定あるいは連続的又は段階的に変
化させるとともに、粉体として強磁性体を用いた場合に
該粉体が膜中でネットワークを形成することがtiJ能
なことを特徴とする成膜方法である。
相成長による膜と異なるか又は同種の組成あるいは結晶
構造(非晶質を含む)を有する粉体を基材表面に沈着す
るとともに、化学気相成長を同時に生ぜしめ、粉体もし
くは気孔の含有量が一定あるいは連続的又は段階的に変
化させるとともに、粉体として強磁性体を用いた場合に
該粉体が膜中でネットワークを形成することがtiJ能
なことを特徴とする成膜方法である。
第1図ないし第6図は本発明の方法によって作製された
膜の構造を模式的に示す図で、mは化学気相成長でなる
生成物、pは熱泳動法で沈着した粉体、Sは気孔である
。
膜の構造を模式的に示す図で、mは化学気相成長でなる
生成物、pは熱泳動法で沈着した粉体、Sは気孔である
。
すなわち、従来の気相反応を利用した成膜法では、膜の
原料としてガスまたは霧化した液体を供給し、粉体の沈
着による成膜法では、膜の原料として粉体のみを供給し
ているが、本発明では、膜の原料として、粉体およびガ
ス(または粉体および霧化した液体)の供給を同時に行
い、粉体を基体上に沈着させるとともに、気相反応を生
じさせるもので、従来の成膜方法とは異なるものである
。
原料としてガスまたは霧化した液体を供給し、粉体の沈
着による成膜法では、膜の原料として粉体のみを供給し
ているが、本発明では、膜の原料として、粉体およびガ
ス(または粉体および霧化した液体)の供給を同時に行
い、粉体を基体上に沈着させるとともに、気相反応を生
じさせるもので、従来の成膜方法とは異なるものである
。
本発明においては、例えば実施例に示すようなTiCな
どの成膜原料たる粉体をN2などの成膜原料とならない
ガスもしくはNH3などの成膜原料ガスを搬送ガスとし
てエアロゾルの状態で反応槽内に導入する。粉体は1種
でよいが、組成、結晶構造、磁気的性質、形状、粒径等
の異なる2種以上のものを用いることができるし、又、
反応槽への導入は複数の配管によって行らてもよい。
どの成膜原料たる粉体をN2などの成膜原料とならない
ガスもしくはNH3などの成膜原料ガスを搬送ガスとし
てエアロゾルの状態で反応槽内に導入する。粉体は1種
でよいが、組成、結晶構造、磁気的性質、形状、粒径等
の異なる2種以上のものを用いることができるし、又、
反応槽への導入は複数の配管によって行らてもよい。
搬送ガスと粉体との混合法としては、あらかじめ生成さ
せた粉体を混合器により混合する方法および粉体をプラ
ズマジェット法、/%イブリヴドプラズマ法、アーク放
電加熱によるガス中蒸発法等のガス中蒸発法等により、
粉体の生成と搬送ガスとの混合を同時に行う方法がある
。
せた粉体を混合器により混合する方法および粉体をプラ
ズマジェット法、/%イブリヴドプラズマ法、アーク放
電加熱によるガス中蒸発法等のガス中蒸発法等により、
粉体の生成と搬送ガスとの混合を同時に行う方法がある
。
上記ガス中蒸発法等によれば、粉体の生成速度が速く、
ガス中に活性な粉体を生成時に浮遊させ、生成時の圧力
が粉体の搬送に適した圧力範囲であり、生成時のガスを
そのまま搬送ガスに利用でき、粉体の表面汚染もなく、
好都合である。
ガス中に活性な粉体を生成時に浮遊させ、生成時の圧力
が粉体の搬送に適した圧力範囲であり、生成時のガスを
そのまま搬送ガスに利用でき、粉体の表面汚染もなく、
好都合である。
本発明においては、粉体の沈着を熱泳動により行い基材
上に沈着させる。そのためには基材の温度を気相の温度
より低くし、両者の間に10Kcm″1以上の温度勾配
をつける。温度勾配の存在により、ガス中に浮遊してい
る粉体は熱泳動現象により基材に向って移動し、基材上
に沈着する。
上に沈着させる。そのためには基材の温度を気相の温度
より低くし、両者の間に10Kcm″1以上の温度勾配
をつける。温度勾配の存在により、ガス中に浮遊してい
る粉体は熱泳動現象により基材に向って移動し、基材上
に沈着する。
本発明において基材は反応槽に導入されたガス(または
霧化した液体)および粉体の流路に接しているか、もし
くは近いことが望ましい。
霧化した液体)および粉体の流路に接しているか、もし
くは近いことが望ましい。
また、粉体を搬送しているガス流束と基材とのなす角度
については、基材の温度および温度勾配が一定であれば
基材上に沈着する粉体の量は基材上で一定であるので、
任意に設定されてもよい。さらに、粉体の熱泳動による
移動速度が重力沈降速度よりも十分に大きく、例えば、
粉体の粒径が4μ履以下の場合には、基材は反応槽内で
、水平、垂直あるいは傾斜するように配置すればよい。
については、基材の温度および温度勾配が一定であれば
基材上に沈着する粉体の量は基材上で一定であるので、
任意に設定されてもよい。さらに、粉体の熱泳動による
移動速度が重力沈降速度よりも十分に大きく、例えば、
粉体の粒径が4μ履以下の場合には、基材は反応槽内で
、水平、垂直あるいは傾斜するように配置すればよい。
次に本発明の実施に適した装置について説明する。
第7図はその一例である。図中、l、2は粉体搬送ガス
の導入口であり、その流量はニードルバルブ5およびス
トップバルブ8により制御されるようになっている。搬
送ガスは粉体供給装置22により、粉体を混合され、か
つ、任意の温度に制御され、ニードルバルブlOを経て
、ノズル13により反応槽21内に供給される。気相反
応による成膜の原料ガスまたは霧化した原料液体は、ガ
ス導入口3,4よりニードルバルブ6、ストップバルブ
9およびノズル14.15を経て、反応$121内に供
給されるようになっている。基材18は、ヒーター19
により加熱され、反応槽21の基材18に対向する面は
、ヒーター20により加熱され、これらのヒーター 1
9.20を個別に制御して温度勾配を付加させるように
なっている。反応槽21には、圧力計17がある。反応
槽21内のガスはガス排出口16よりストップバルブ1
2およびニードルバルブ7またはストップバルブ11を
経て、コールドトラップ23を経た後、真空ポンプ24
に排出される。
の導入口であり、その流量はニードルバルブ5およびス
トップバルブ8により制御されるようになっている。搬
送ガスは粉体供給装置22により、粉体を混合され、か
つ、任意の温度に制御され、ニードルバルブlOを経て
、ノズル13により反応槽21内に供給される。気相反
応による成膜の原料ガスまたは霧化した原料液体は、ガ
ス導入口3,4よりニードルバルブ6、ストップバルブ
9およびノズル14.15を経て、反応$121内に供
給されるようになっている。基材18は、ヒーター19
により加熱され、反応槽21の基材18に対向する面は
、ヒーター20により加熱され、これらのヒーター 1
9.20を個別に制御して温度勾配を付加させるように
なっている。反応槽21には、圧力計17がある。反応
槽21内のガスはガス排出口16よりストップバルブ1
2およびニードルバルブ7またはストップバルブ11を
経て、コールドトラップ23を経た後、真空ポンプ24
に排出される。
第8図は他の実施装置で、第7図のものとは基材の温度
制御法が異なる。反応槽28はヒーター27により加熱
され、基材25は冷媒導入管2Bを通る冷媒により冷却
され、温度勾配が存在するようになっている。また、基
材25は冷媒導入管26により、反応槽28内に保持さ
れている。なお図中29はガス排出口である。
制御法が異なる。反応槽28はヒーター27により加熱
され、基材25は冷媒導入管2Bを通る冷媒により冷却
され、温度勾配が存在するようになっている。また、基
材25は冷媒導入管26により、反応槽28内に保持さ
れている。なお図中29はガス排出口である。
[作 用〕
本発明においては、成膜速度などの成膜状態および膜特
性を制御する場合、その因子として原料ガスの表面反応
速度、粉体のガス中での熱泳動速度、供給する粉体の組
成、結晶構造、磁気的性質、形状、粒径等に代表される
粉体の種類および粉体の反応槽への供給量がある。表面
反応速度は、基材温度、圧力、原料ガス供給量、原料ガ
ス組成等により変化する。熱泳動速度は、主として温度
勾配により変化する。
性を制御する場合、その因子として原料ガスの表面反応
速度、粉体のガス中での熱泳動速度、供給する粉体の組
成、結晶構造、磁気的性質、形状、粒径等に代表される
粉体の種類および粉体の反応槽への供給量がある。表面
反応速度は、基材温度、圧力、原料ガス供給量、原料ガ
ス組成等により変化する。熱泳動速度は、主として温度
勾配により変化する。
第1図、第2図及び第3図に示すような膜の相対密度、
気孔の大きさ、気孔の含有率等の気孔の制御及び膜の組
織の制御は、表面反応速度及び熱泳動速度または粉体の
供給量さらには供給する粉体の形状、粒径の選択により
行える。
気孔の大きさ、気孔の含有率等の気孔の制御及び膜の組
織の制御は、表面反応速度及び熱泳動速度または粉体の
供給量さらには供給する粉体の形状、粒径の選択により
行える。
膜の組織については、粉体の結晶構造、磁気的性質の選
択によっても選択でき、粉体として強磁性体を用いた場
合には第4図に示すように、粉体が膜中で連なりネット
ワークを形成される、膜の組成の制御は、表面反応速度
及び熱泳動速度または粉体の供給量更には供給する粉体
の組成の選択により行える。以上の制御を連続的又は段
階的に変化させることにより、第5図及び第6図に示す
ような覆々の傾斜機能材料たる膜を作製できる。更に成
膜速度については、表面反応速度及び熱泳動速度又は粉
体の供給量により制御できる。膜は表面反応による生成
物と沈着による粉体との混合物となるので、表面反応に
よる柱状晶等の成長を粉体により制御することができる
。また、膜の大面積化については、一般のCVD法で行
われている範囲については可能である。更に、成膜速度
については、熱泳動による粉体の沈着により従来のCV
D法よりも高速化される。
択によっても選択でき、粉体として強磁性体を用いた場
合には第4図に示すように、粉体が膜中で連なりネット
ワークを形成される、膜の組成の制御は、表面反応速度
及び熱泳動速度または粉体の供給量更には供給する粉体
の組成の選択により行える。以上の制御を連続的又は段
階的に変化させることにより、第5図及び第6図に示す
ような覆々の傾斜機能材料たる膜を作製できる。更に成
膜速度については、表面反応速度及び熱泳動速度又は粉
体の供給量により制御できる。膜は表面反応による生成
物と沈着による粉体との混合物となるので、表面反応に
よる柱状晶等の成長を粉体により制御することができる
。また、膜の大面積化については、一般のCVD法で行
われている範囲については可能である。更に、成膜速度
については、熱泳動による粉体の沈着により従来のCV
D法よりも高速化される。
[実施例]
実施P41
前記第7図における粉体供給袋rl122としては、ア
ーク放電加熱によるガス中蒸発法により粉体の供給と粉
体の搬送ガスとの混合を行った。すなわち、アーク放電
によりTiを溶融蒸発させ、ガス導入口 1よりN2ガ
スを導入することにより、50〜100nsの粒径をも
つTEN超微粒子を合成した。
ーク放電加熱によるガス中蒸発法により粉体の供給と粉
体の搬送ガスとの混合を行った。すなわち、アーク放電
によりTiを溶融蒸発させ、ガス導入口 1よりN2ガ
スを導入することにより、50〜100nsの粒径をも
つTEN超微粒子を合成した。
次に、該TIN超微粒子をN2ガスにより反応槽21へ
導入する。一方、ガス導入管3,4よりTiCl4、N
H3、N2ガスの混合物を反応槽21へ導入し、反応槽
内部を750〜1000℃、20〜20QTorrに保
持した。
導入する。一方、ガス導入管3,4よりTiCl4、N
H3、N2ガスの混合物を反応槽21へ導入し、反応槽
内部を750〜1000℃、20〜20QTorrに保
持した。
反応槽2■はヒーター20.19により温度調節され、
Tg>Ts CTg:ガス温度、Ts:基材温度)にな
るようガス−基材間に温度勾配を設け、Al2O3基材
上にTAN超微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着し
たTIN超微粒子上でTiCl4、NH3、N2の反応
によりTiN膜を析出させた。
Tg>Ts CTg:ガス温度、Ts:基材温度)にな
るようガス−基材間に温度勾配を設け、Al2O3基材
上にTAN超微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着し
たTIN超微粒子上でTiCl4、NH3、N2の反応
によりTiN膜を析出させた。
比較品として、超微粒子の導入プロセスのないもの(C
VD反応のみ)、反応ガスの導入プロセスのないもの(
超微粒子の沈着のみ)およびガス温度と基材温度に差の
ないものについても作成した。得られたサンプルについ
ては成膜速度の測定を行った。
VD反応のみ)、反応ガスの導入プロセスのないもの(
超微粒子の沈着のみ)およびガス温度と基材温度に差の
ないものについても作成した。得られたサンプルについ
ては成膜速度の測定を行った。
結果を表1に示す。
表1
実施例2
前記第7図において粉体供給方法としては、粉体供給装
置に予め入れておいたTiC超微粒子を、ガス導入口1
より導入したN2ガスと混合させ、前記第8図における
反応槽28へ導入させる。一方、ガス導入口 3より5
iC14、N2ガスを、ガス導入口4よりNH3ガスを
それぞれ反応槽28へ導入し、反応槽28内をヒーター
27により1500〜1800℃、30〜200Tor
rに保持した。A120z基板25は冷媒導入管26に
所定量の空気を流すことにより冷却され、Tg>Ts(
Tg:ガス温度、Ts:基材温度)になるようガス−基
材間に温度勾配を設け、A、1203基板上にTiC超
微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着したTi−C超
微粒子上で、5ie14、NH3、N2の反応によりS
i3N+膜を析出させた。これにより、5i3Na中に
TiCHi微粒子が分散した緻密な膜を得た。作製した
膜については、成膜速度、X線回折による生成相同定を
行った。結果を表2に示す。
置に予め入れておいたTiC超微粒子を、ガス導入口1
より導入したN2ガスと混合させ、前記第8図における
反応槽28へ導入させる。一方、ガス導入口 3より5
iC14、N2ガスを、ガス導入口4よりNH3ガスを
それぞれ反応槽28へ導入し、反応槽28内をヒーター
27により1500〜1800℃、30〜200Tor
rに保持した。A120z基板25は冷媒導入管26に
所定量の空気を流すことにより冷却され、Tg>Ts(
Tg:ガス温度、Ts:基材温度)になるようガス−基
材間に温度勾配を設け、A、1203基板上にTiC超
微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着したTi−C超
微粒子上で、5ie14、NH3、N2の反応によりS
i3N+膜を析出させた。これにより、5i3Na中に
TiCHi微粒子が分散した緻密な膜を得た。作製した
膜については、成膜速度、X線回折による生成相同定を
行った。結果を表2に示す。
表2
実施例3
前記第7図において粉体供給方法としては粉体供給装置
に予め入れておいたSIC超微粒子(α−5iC)を、
ガス導入口 lより導入したH2ガスと混合させ、前記
第7図における反応槽28へ導入する。一方、ガス導入
口 3よりCH35iC1:+ガスと反応槽28へ導入
し、反応槽内をヒーター27により1200〜1800
℃、80Torrに保持した。
に予め入れておいたSIC超微粒子(α−5iC)を、
ガス導入口 lより導入したH2ガスと混合させ、前記
第7図における反応槽28へ導入する。一方、ガス導入
口 3よりCH35iC1:+ガスと反応槽28へ導入
し、反応槽内をヒーター27により1200〜1800
℃、80Torrに保持した。
Al2O3基板25は冷媒導入管2Bに所定量の空気を
流すことにより冷却されTg>Tta(Tg:ガス温度
、TS:基板温度)になるようにガス−基板間に温度勾
配を設けAl2O3基板上に粉体供給装置より導入した
SiC超微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着したS
iC超微粒子上でCH38tCI3の熱分解反応により
SjCを析出させた。
流すことにより冷却されTg>Tta(Tg:ガス温度
、TS:基板温度)になるようにガス−基板間に温度勾
配を設けAl2O3基板上に粉体供給装置より導入した
SiC超微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着したS
iC超微粒子上でCH38tCI3の熱分解反応により
SjCを析出させた。
作製した膜については成膜速度、相対密度の測定、Xv
a回折による生成相の同定を行った。
a回折による生成相の同定を行った。
表3に結果を示す。
表3
表3のように基板とガスの各温度及び基板−ガス間の温
度勾配を制御することにより、多孔質から緻密質までの
s I CHIを任意の相対密度で、かつ短時間に得る
ことができる。
度勾配を制御することにより、多孔質から緻密質までの
s I CHIを任意の相対密度で、かつ短時間に得る
ことができる。
実施例4
前記第7図における粉体供給装置22としては、アーク
放電加熱によるガス中蒸発法により粉体の供給と粉体の
搬送ガスとの混合を行った。溶融蒸発させる金属として
は、強磁性体であるCOl又は常磁性体であるMoを使
用した。即ち、アーク放電によりCo1又はMoを溶融
蒸発させ、ガス導入口よりA「ガスを導入することによ
り、平均粒径4Qn*のCO又はMo超微粒子を合成し
た。
放電加熱によるガス中蒸発法により粉体の供給と粉体の
搬送ガスとの混合を行った。溶融蒸発させる金属として
は、強磁性体であるCOl又は常磁性体であるMoを使
用した。即ち、アーク放電によりCo1又はMoを溶融
蒸発させ、ガス導入口よりA「ガスを導入することによ
り、平均粒径4Qn*のCO又はMo超微粒子を合成し
た。
次に生成したCOl又はMo超微粒子をA「ガスととも
に前記第8図における反応槽28へ導入させる。一方、
ガス導入口 3によりTt (C3HrO)4% A
rガスを反応槽28へ導入し、反応槽2B内をヒーター
27により 500℃、100Torrに保持した。A
l2O3基板25は冷媒導入管26に所定量の空気を流
すことにより冷却され、Tg>Ts (Tg:ガス温度
、TS:基材温度)になるようガス−基材間に温度勾配
を設け、Al2O3基板上にCOl又はMo超微粒子を
熱泳動により沈着させて、沈着した超微粒子上で、Ti
(C3HrO)4の熱分解により”rtoz膜を析出
させた。これによりCO超微粒子がネットワーク状に分
散した緻密なTiO2膜、又はMo超微粒子が均一に分
散した緻密なTiO2膜を得た。作製した膜については
シート抵抗値、膜厚、EDXによる金属超微粒子の含有
量の測定を行った。結果を表4に示す。
に前記第8図における反応槽28へ導入させる。一方、
ガス導入口 3によりTt (C3HrO)4% A
rガスを反応槽28へ導入し、反応槽2B内をヒーター
27により 500℃、100Torrに保持した。A
l2O3基板25は冷媒導入管26に所定量の空気を流
すことにより冷却され、Tg>Ts (Tg:ガス温度
、TS:基材温度)になるようガス−基材間に温度勾配
を設け、Al2O3基板上にCOl又はMo超微粒子を
熱泳動により沈着させて、沈着した超微粒子上で、Ti
(C3HrO)4の熱分解により”rtoz膜を析出
させた。これによりCO超微粒子がネットワーク状に分
散した緻密なTiO2膜、又はMo超微粒子が均一に分
散した緻密なTiO2膜を得た。作製した膜については
シート抵抗値、膜厚、EDXによる金属超微粒子の含有
量の測定を行った。結果を表4に示す。
表4
CO超微粒子がネットワーク状にTiO2に分布してい
るため、Moの場合に比較して、高い電気伝導性を有す
ることがわかる。
るため、Moの場合に比較して、高い電気伝導性を有す
ることがわかる。
実施例5
前記第7図において粉体供給方法としては、粉体供給装
置に予め入れておいたTiC超微粒子を、ガス導入口1
より導入したN2ガスと混合させ、前記第8図における
反応槽2Bへ導入させる。一方、ガス導入口 3よりS
IC+4、N2ガスを、ガス導入口4よりNH,ガスを
それぞれ反応槽28へ導入し、反応槽28内をヒーター
27により150G −1800℃、30〜200 T
orrに保持した。Si:+N*基板25は冷媒導入管
2Bに所定量の空気を流すことにより冷却され、Tg>
Ts(Tg:ガス温度、Ts二二基湿温度になるようガ
ス−基材間に温度勾配を設け、Si3N4基材上にTi
C超微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着したTiC
超微粒子上で、5iC1+、NH3、N2の反応により
Si3N4膜を析出させた。TiC超微粒子の供給量お
よび反応槽2B内のガス温度とSi3N4基板との間の
温度勾配を制御することにより、TiCと5t3N4の
組成が連続的に変化する傾斜機能材料たる膜を高速に成
膜できた。作製した膜については、X線回折による生成
相同定および膜断面のEPMA組成分析を行った。結果
を表5に、またEPMA組成分析結果を第9図、第10
図に示す。
置に予め入れておいたTiC超微粒子を、ガス導入口1
より導入したN2ガスと混合させ、前記第8図における
反応槽2Bへ導入させる。一方、ガス導入口 3よりS
IC+4、N2ガスを、ガス導入口4よりNH,ガスを
それぞれ反応槽28へ導入し、反応槽28内をヒーター
27により150G −1800℃、30〜200 T
orrに保持した。Si:+N*基板25は冷媒導入管
2Bに所定量の空気を流すことにより冷却され、Tg>
Ts(Tg:ガス温度、Ts二二基湿温度になるようガ
ス−基材間に温度勾配を設け、Si3N4基材上にTi
C超微粒子を熱泳動により沈着させて、沈着したTiC
超微粒子上で、5iC1+、NH3、N2の反応により
Si3N4膜を析出させた。TiC超微粒子の供給量お
よび反応槽2B内のガス温度とSi3N4基板との間の
温度勾配を制御することにより、TiCと5t3N4の
組成が連続的に変化する傾斜機能材料たる膜を高速に成
膜できた。作製した膜については、X線回折による生成
相同定および膜断面のEPMA組成分析を行った。結果
を表5に、またEPMA組成分析結果を第9図、第10
図に示す。
表5
[発明の効果]
本発明においては、従来の成膜方法と異なり、供給する
粉体の組成、結晶構造、磁気的性質、粒径、形状、量ま
たは原料ガス組成、量などの制御により、膜の組成、気
孔率あるいは組織を容易に制御し、均一なあるいは傾斜
機能を有する、あるいはネットワーク組織を有する膜を
高速に得ることができる。そして、本発明により作製さ
れる膜は、絶縁体、導電体、断熱体、触媒用担体、ヒー
トシンクあるいは異種材料接合の中間材等に効果的に利
用できる。
粉体の組成、結晶構造、磁気的性質、粒径、形状、量ま
たは原料ガス組成、量などの制御により、膜の組成、気
孔率あるいは組織を容易に制御し、均一なあるいは傾斜
機能を有する、あるいはネットワーク組織を有する膜を
高速に得ることができる。そして、本発明により作製さ
れる膜は、絶縁体、導電体、断熱体、触媒用担体、ヒー
トシンクあるいは異種材料接合の中間材等に効果的に利
用できる。
第1図ないし第6図は本発明の方法で作製した膜構造の
模式図、第7図は本発明の実施に適する反応装置の説明
図、第8図は本発明の実施に適する他の例の反応装置の
説明図、第9図および第10図は実施例のEPMA組成
分析結果を示すグラフである。 厘・・・化学気相成長でなる生成物、 p・・・熱泳動法で沈着した粉体、S・・・気孔、1.
2.3.4・・・ガス導入口、 5.8.7.10・・・ニードルバルブ、8.9,11
.12・・・ストップバルブ、13・・・ガスおよび粉
体を供給するノズル、14.15・・・膜原料ガスを供
給するノズル、16・・・ガス排出口、17・・・圧力
計、18・・・基材、19・・・基材温度調整用ヒータ
ー 20・・・基材の対向面の加熱ヒーター、21・・・反
応槽、22・・・粉体供給装置、23・・・コールドト
ラップ、24・・・真空ポンプ、25・・・基材、2B
・・・冷媒導入管、27・・・基材の対向面の加熱用ヒ
ーター28・・・反応槽、29・・・ガス排出口。 オ 1 図 第2図 才 図 第 図 第 図
模式図、第7図は本発明の実施に適する反応装置の説明
図、第8図は本発明の実施に適する他の例の反応装置の
説明図、第9図および第10図は実施例のEPMA組成
分析結果を示すグラフである。 厘・・・化学気相成長でなる生成物、 p・・・熱泳動法で沈着した粉体、S・・・気孔、1.
2.3.4・・・ガス導入口、 5.8.7.10・・・ニードルバルブ、8.9,11
.12・・・ストップバルブ、13・・・ガスおよび粉
体を供給するノズル、14.15・・・膜原料ガスを供
給するノズル、16・・・ガス排出口、17・・・圧力
計、18・・・基材、19・・・基材温度調整用ヒータ
ー 20・・・基材の対向面の加熱ヒーター、21・・・反
応槽、22・・・粉体供給装置、23・・・コールドト
ラップ、24・・・真空ポンプ、25・・・基材、2B
・・・冷媒導入管、27・・・基材の対向面の加熱用ヒ
ーター28・・・反応槽、29・・・ガス排出口。 オ 1 図 第2図 才 図 第 図 第 図
Claims (9)
- (1)化学気相成長法による皮膜形成中に、反応槽内に
1種類以上の粉体を導入し、基材表面に粉体を沈着する
とともに、化学気相成長による膜を同時に形成せしめる
ことを特徴とする成膜方法。 - (2)反応槽内に導入する粉体が化学気相成長による膜
と異なるか、同一種類である組成又は結晶構造(非晶質
を含む)である請求項(1)記載の成膜方法。 - (3)反応槽内に導入する粉体が強磁性体であり、該粉
体に膜中でネットワークを形成せしめる請求項(1)記
載の成膜方法。 - (4)基材表面における膜の形成において、膜中に気孔
を形成せしめる請求項(1)記載の成膜方法。 - (5)粉体もしくは気孔が均一に分散するか、あるいは
連続的又は段階的に含有量が変化する粉体もしくは気孔
を含有せしめる請求項(1)、(2)、(3)又は(4
)記載成膜方法。 - (6)反応槽内へエアロゾルとした粉体を導入する請求
項(1)ないし(5)のいずれかに記載の成膜方法。 - (7)粉体を反応槽内において気相反応により生成せし
める請求項(1)ないし(5)のいずかに記載の成膜方
法。 - (8)粉体を熱泳動法により基材表面に沈着させる請求
項(1)ないし(5)のいずれかに記載の成膜方法。 - (9)気相と基材表面に形成される温度勾配が10Kc
m^−^1以上であり、かつ気相の温度が基材表面より
も高い請求項(8)記載の成膜方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24634389A JPH02225677A (ja) | 1988-09-27 | 1989-09-25 | 成膜方法 |
Applications Claiming Priority (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23975488 | 1988-09-27 | ||
| JP63-239754 | 1988-09-27 | ||
| JP63-279396 | 1988-11-07 | ||
| JP63-280274 | 1988-11-08 | ||
| JP63-280273 | 1988-11-08 | ||
| JP24634389A JPH02225677A (ja) | 1988-09-27 | 1989-09-25 | 成膜方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02225677A true JPH02225677A (ja) | 1990-09-07 |
Family
ID=26534404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24634389A Pending JPH02225677A (ja) | 1988-09-27 | 1989-09-25 | 成膜方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02225677A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005206890A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Tohoku Univ | コバルトドープ二酸化チタン膜の作製方法、コバルトドープ二酸化チタン膜、及び多層膜構造 |
| JP2020525648A (ja) * | 2017-06-27 | 2020-08-27 | ペーエスツェー テクノロジーズ ゲーエムベーハー | 炭化ケイ素を含む繊維および発泡体の製造方法、およびその使用 |
-
1989
- 1989-09-25 JP JP24634389A patent/JPH02225677A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005206890A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Tohoku Univ | コバルトドープ二酸化チタン膜の作製方法、コバルトドープ二酸化チタン膜、及び多層膜構造 |
| JP2020525648A (ja) * | 2017-06-27 | 2020-08-27 | ペーエスツェー テクノロジーズ ゲーエムベーハー | 炭化ケイ素を含む繊維および発泡体の製造方法、およびその使用 |
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