JPH02225681A - 気相エッチング方法 - Google Patents
気相エッチング方法Info
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- JPH02225681A JPH02225681A JP1282546A JP28254689A JPH02225681A JP H02225681 A JPH02225681 A JP H02225681A JP 1282546 A JP1282546 A JP 1282546A JP 28254689 A JP28254689 A JP 28254689A JP H02225681 A JPH02225681 A JP H02225681A
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Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
r発明の利用分野1
本発明は、電子サイクロトロン共鳴を用い、エツチング
用反応性気体を活性化または分解せしめ、さらにエツチ
ングされるべき基板表面に垂直方向に高周波または直流
電界を同時に加えることにより、基板または基板上の被
エツチング材料に異方性エツチングを行わしめる気相エ
ツチング方法に関する。
用反応性気体を活性化または分解せしめ、さらにエツチ
ングされるべき基板表面に垂直方向に高周波または直流
電界を同時に加えることにより、基板または基板上の被
エツチング材料に異方性エツチングを行わしめる気相エ
ツチング方法に関する。
r従来技術j
気相エツチング反応によるエツチング(気相化学的除去
方法)技術として、高周波または直流電界により反応性
気体を活性にさせるプラズマエツチング法(グロー放電
エツチング法)が知られている。
方法)技術として、高周波または直流電界により反応性
気体を活性にさせるプラズマエツチング法(グロー放電
エツチング法)が知られている。
しかし、かかるグロー放電を用いる異方性エツチング法
においては、被膜の異方性が超LSIの進歩に比べて十
分でなく、さらにその異方性エッチングの精度をさらに
向上することが求められていた。
においては、被膜の異方性が超LSIの進歩に比べて十
分でなく、さらにその異方性エッチングの精度をさらに
向上することが求められていた。
他方、電子サイクロトロン共鳴を用いたエツチング法が
知られている。しかしかかる方法は被膜全体のエツチン
グを行うことを可とするが、選択的な異方性エツチング
には不充分であった。なぜなら、共鳴により反応性気体
が基板表面に平行に移動するため、凹部での形成がほと
んど不可能であり、加えて共鳴させる時、例えば共鳴原
子としてアルゴンを用い、周波数を2.45GH,zと
すると、875ガウスの強磁場を必要とする。このため
磁場作用の空心コイルが大きくなりがちで、励起気体を
大面積に広げることができない、結果として、サブミク
ロン(1μ以下例えば0.2μ)の巾または径を有し、
深さが2〜4μを有する穴状のエツチングはまったく不
可能であった。
知られている。しかしかかる方法は被膜全体のエツチン
グを行うことを可とするが、選択的な異方性エツチング
には不充分であった。なぜなら、共鳴により反応性気体
が基板表面に平行に移動するため、凹部での形成がほと
んど不可能であり、加えて共鳴させる時、例えば共鳴原
子としてアルゴンを用い、周波数を2.45GH,zと
すると、875ガウスの強磁場を必要とする。このため
磁場作用の空心コイルが大きくなりがちで、励起気体を
大面積に広げることができない、結果として、サブミク
ロン(1μ以下例えば0.2μ)の巾または径を有し、
深さが2〜4μを有する穴状のエツチングはまったく不
可能であった。
r問題を解決すべき手段j
本発明はこれらの問題を解決するため、反応性気体の活
性化はサイクロトロン共鳴を用いて行う。
性化はサイクロトロン共鳴を用いて行う。
このため、電子または活性化気体によりエツチング用反
応性気体の活性化、分解または反応がきわめて効率よく
行うことができる。この活性状態の気体をグロー放電が
行われている雰囲気に導き、共鳴エネルギの共鳴がなく
なった後も活性状態を持続し、かつこの電界を基板に垂
直とすることによりその方向性を与え、基板または基板
上の被エツチング材料を異方性エツチングさせんとする
もので、基板上部にサブミクロンレベルでも十分深い凹
部を有し得るようにしたものである。
応性気体の活性化、分解または反応がきわめて効率よく
行うことができる。この活性状態の気体をグロー放電が
行われている雰囲気に導き、共鳴エネルギの共鳴がなく
なった後も活性状態を持続し、かつこの電界を基板に垂
直とすることによりその方向性を与え、基板または基板
上の被エツチング材料を異方性エツチングさせんとする
もので、基板上部にサブミクロンレベルでも十分深い凹
部を有し得るようにしたものである。
r作用j
するとこのプラズマグロー放電の技術により、活性状態
の気体は広い空間に広げられ、このため広い面積にわた
って基板または基板上の被エツチング材料を多量に高精
度の異方性エツチングを場所的なバラツキもなく均一に
行うことが可能となる。
の気体は広い空間に広げられ、このため広い面積にわた
って基板または基板上の被エツチング材料を多量に高精
度の異方性エツチングを場所的なバラツキもなく均一に
行うことが可能となる。
本発明においてはグロー放電用電源としては直流電源を
用いた。しかし高周波グロー放電であっても励起した反
応性気体の励起状態を持続し、同時に作られるセルフバ
イアスにより異方性エツチングを行うことができる。
用いた。しかし高周波グロー放電であっても励起した反
応性気体の励起状態を持続し、同時に作られるセルフバ
イアスにより異方性エツチングを行うことができる。
さらにサイクロトロン共鳴は不活性気体または非生成物
気体(分解または反応をしてもそれ自体は気体しか生じ
ない気体)を用いる。不活性気体としてはアルゴンが代
表的なものである。しかしヘリニーム、ネオン、クリプ
トンを用いてもよい。
気体(分解または反応をしてもそれ自体は気体しか生じ
ない気体)を用いる。不活性気体としてはアルゴンが代
表的なものである。しかしヘリニーム、ネオン、クリプ
トンを用いてもよい。
エツチング用非生成物反応性気体としては、cpイ。
CFtHt=CFHy、CFsH,CC1a、弗化窒素
(Nh、NzFi)、弗化水素()IP) 、弗素(p
n) 、塩化水素(HCI)、塩素(C1g)またはこ
れらにキャリアガスまたは酸素を混合した気体が代表的
なものである。
(Nh、NzFi)、弗化水素()IP) 、弗素(p
n) 、塩化水素(HCI)、塩素(C1g)またはこ
れらにキャリアガスまたは酸素を混合した気体が代表的
なものである。
これらの非生成物エツチング気体をサイクロトロン共鳴
をさせて活性化せしめ、この共鳴領域より外部の反応空
間で生成物気体と混合し、励起エネルギを生成物気体に
移す、するとエツチング用気体にきわめて大きい電磁エ
ネルギを受けるため、はぼ100χ活性化または分解さ
せることができ、かつ異方性エツチングをするための電
界により加速されて基板上に所定の角度一般には基板に
垂直に衝突しエツチング反応をする。さらに室温〜30
0℃の温度で基板を加熱することにより、この基板また
は基板上に被エツチング材料を異方性エツチングさせる
ことができる。
をさせて活性化せしめ、この共鳴領域より外部の反応空
間で生成物気体と混合し、励起エネルギを生成物気体に
移す、するとエツチング用気体にきわめて大きい電磁エ
ネルギを受けるため、はぼ100χ活性化または分解さ
せることができ、かつ異方性エツチングをするための電
界により加速されて基板上に所定の角度一般には基板に
垂直に衝突しエツチング反応をする。さらに室温〜30
0℃の温度で基板を加熱することにより、この基板また
は基板上に被エツチング材料を異方性エツチングさせる
ことができる。
以下に実施例に従い本発明を示す。
実施N1
第1図は本発明のサイクロトロン共鳴型プラズマエツチ
ング装置の概要を示す。
ング装置の概要を示す。
図面において、ステンレス容器(l゛)は蓋(1”)を
有し反応空間(1)を構成させている。この容器(1′
)は、上部に基板(10)を基板ホルダ(10°)に設
け、その裏側の蓋(1°°)側にはハロゲンランプヒー
タ(7)を設け、基板の装着の時は蓋(1”)を上方向
に開けて行う0石英窓(19)を通して赤外線を基板に
照射し加熱している。さらにこの基板の裏側に一つの網
状電極(20’)と容器(1”)の下部には他の一方の
網状電極(20)とを有せしめ、ここに高周波または直
流電源(6)より13.56M1(zまたは直流の電界
を加える。基板(10)はこの電界に垂直に第1図では
位置させている。
有し反応空間(1)を構成させている。この容器(1′
)は、上部に基板(10)を基板ホルダ(10°)に設
け、その裏側の蓋(1°°)側にはハロゲンランプヒー
タ(7)を設け、基板の装着の時は蓋(1”)を上方向
に開けて行う0石英窓(19)を通して赤外線を基板に
照射し加熱している。さらにこの基板の裏側に一つの網
状電極(20’)と容器(1”)の下部には他の一方の
網状電極(20)とを有せしめ、ここに高周波または直
流電源(6)より13.56M1(zまたは直流の電界
を加える。基板(10)はこの電界に垂直に第1図では
位置させている。
また非生成物気体をドーピング系(13)より(18)
を経て石英管(29)で作られた共鳴空間(2)に供給
する。この共鳴空間はその外側に空心コイル(5)。
を経て石英管(29)で作られた共鳴空間(2)に供給
する。この共鳴空間はその外側に空心コイル(5)。
(5°)を配し磁場を加える。同時にマイクロ波発振器
(3)によりアナライザー(4)を経て例えば2.45
GH2のマイクロ波が共鳴空間(2)に供給される。
(3)によりアナライザー(4)を経て例えば2.45
GH2のマイクロ波が共鳴空間(2)に供給される。
この空間では共鳴を起こすべく非生成物気体をアルゴン
とするとその質量、周波数により決められた磁場(例え
ば875ガウス)が空心コイルにより加えられる。
とするとその質量、周波数により決められた磁場(例え
ば875ガウス)が空心コイルにより加えられる。
このため、アルゴンガスが励起して磁場によりビンチン
グすると同時に共鳴し、十分励起した後に反応空間(1
)へ電子および励起したアルゴンガスとして放出(21
)される、この空間の出口にはエツチング用気体がドー
ピング系(13’)の系(16)を経て複数のリング状
ノズル(17)により放出(22)される、その結果、
エツチング用気体(22)は非生成物気体(21)によ
り励起され、活性化する。加えて一対の電極(20)
、 (20’ )により生じた電界が同時にこれら反応
性気体に加えられる。
グすると同時に共鳴し、十分励起した後に反応空間(1
)へ電子および励起したアルゴンガスとして放出(21
)される、この空間の出口にはエツチング用気体がドー
ピング系(13’)の系(16)を経て複数のリング状
ノズル(17)により放出(22)される、その結果、
エツチング用気体(22)は非生成物気体(21)によ
り励起され、活性化する。加えて一対の電極(20)
、 (20’ )により生じた電界が同時にこれら反応
性気体に加えられる。
その結果、この電界にそって活性化した気体は飛翔し、
基板を選択的にエツチングさせることができる。
基板を選択的にエツチングさせることができる。
また反応性気体を十分反応室で広げ、かつサイクロトロ
ンをさせるため、反応空間(1)、共鳴空間(2)の圧
力を1〜10−’torr例えば0.03〜0.0QL
torrとした。この圧力は排気系(11)のコントロ
ールバルブ(14)によりターボポンプを併用して真空
ポンプ(9)の排気量を調整して行った。
ンをさせるため、反応空間(1)、共鳴空間(2)の圧
力を1〜10−’torr例えば0.03〜0.0QL
torrとした。この圧力は排気系(11)のコントロ
ールバルブ(14)によりターボポンプを併用して真空
ポンプ(9)の排気量を調整して行った。
実験例1
この実験例は実施例1を用い、シリコン半導体を弗化窒
素にてエツチングさせたものである。
素にてエツチングさせたものである。
即ち反応空間の圧力0.003torr 、非生成物気
体として(18)よりアルゴンを50cc/分で供給し
た。
体として(18)よりアルゴンを50cc/分で供給し
た。
加えて、NF2を(16)より20cc/分で供給した
。電界は自己バイアスが加わった13.56LHzの高
周波電界を加えた。マイクロ波は2.45GH2の周波
数を有し、30〜500−の出力例えば200−で調整
した。磁場(5) 、 (5°)の共鳴強度は875ガ
ウスとした。
。電界は自己バイアスが加わった13.56LHzの高
周波電界を加えた。マイクロ波は2.45GH2の周波
数を有し、30〜500−の出力例えば200−で調整
した。磁場(5) 、 (5°)の共鳴強度は875ガ
ウスとした。
基板(lO)はシリコン半導体とし、その上面には選択
的にフォトレジストがコーティングされているものを用
いた。この被形成面上の非単結晶半導体例えばアモルフ
ァスシリコン半導体を除去し、不要気体を排気系(11
)より放出した。するとエツチング速度15人/秒を得
ることができた。この速度はプラズマエツチングのみで
得られる5人/秒に比べ3倍の速さである。またこのシ
リコン基板上に0.3μの巾のレジストによるパターン
を切っておくと、0.3μ巾深さ4μの異方性エツチン
グを得ることができた。
的にフォトレジストがコーティングされているものを用
いた。この被形成面上の非単結晶半導体例えばアモルフ
ァスシリコン半導体を除去し、不要気体を排気系(11
)より放出した。するとエツチング速度15人/秒を得
ることができた。この速度はプラズマエツチングのみで
得られる5人/秒に比べ3倍の速さである。またこのシ
リコン基板上に0.3μの巾のレジストによるパターン
を切っておくと、0.3μ巾深さ4μの異方性エツチン
グを得ることができた。
さらにこれを異方性エツチングの後反応性気体を除去し
、かわりに酸素を導入し、このエツチング後この表面に
残っているレジストをアッシングして除去することは有
効である。
、かわりに酸素を導入し、このエツチング後この表面に
残っているレジストをアッシングして除去することは有
効である。
「効果」
本発明は、以上の説明より明らかなごとく、大面積の基
板または基板上の被エツチング材料を異方性エツチング
をするにあたり、被エツチング面の損傷をきわめて少な
くして成就させることができた。加えて、サイクロトロ
ン共鳴を用いているため、大きいエツチング速度を得る
ことができる。
板または基板上の被エツチング材料を異方性エツチング
をするにあたり、被エツチング面の損傷をきわめて少な
くして成就させることができた。加えて、サイクロトロ
ン共鳴を用いているため、大きいエツチング速度を得る
ことができる。
本発明のエツチング方法は半導体装置である光電変換装
置、発光素子旧S、PET(電界効果半導体装置)、S
L素子(スーパーラティス素子) 、 HEHT素子お
よび超LSIに十分応用し得る。さらに、その他生導体
レーザまたは光集積回路に対しても本発明は有効である
。
置、発光素子旧S、PET(電界効果半導体装置)、S
L素子(スーパーラティス素子) 、 HEHT素子お
よび超LSIに十分応用し得る。さらに、その他生導体
レーザまたは光集積回路に対しても本発明は有効である
。
本発明のサイクロトロン共鳴を用いたエツチング方法に
おいて、同時に光エネルギを加え光エッチングを併用さ
せることは有効である。特に光源として低圧水銀灯では
なくエキシマレーザ(波長100〜400+v) 、ア
ルゴンレーザ、窒素レーザ等を用い共鳴波長を選択する
ことは有効である。
おいて、同時に光エネルギを加え光エッチングを併用さ
せることは有効である。特に光源として低圧水銀灯では
なくエキシマレーザ(波長100〜400+v) 、ア
ルゴンレーザ、窒素レーザ等を用い共鳴波長を選択する
ことは有効である。
本発明において、エツチングされるべき基板としてはシ
リコン半導体、ガラス基板、ステンレス基板が主たるも
のである。しかし、加えて■−■化合物例えばGaAs
、GaAlAs、 InP、GaN等、またアルミニニ
ーム、珪化物金属も用い得る。
リコン半導体、ガラス基板、ステンレス基板が主たるも
のである。しかし、加えて■−■化合物例えばGaAs
、GaAlAs、 InP、GaN等、またアルミニニ
ーム、珪化物金属も用い得る。
又本発明のエツチング方法は単結晶半導体のみではな(
非単結晶半導体、例えばアモルファス半導体をSl)み
ならず5iGe1−x (0<Xd)、Stow−x(
0<X<2)、SlMCl−31(0<X<1)、5i
Jn−x (0<X<4)に対しても有効である。
非単結晶半導体、例えばアモルファス半導体をSl)み
ならず5iGe1−x (0<Xd)、Stow−x(
0<X<2)、SlMCl−31(0<X<1)、5i
Jn−x (0<X<4)に対しても有効である。
さらに第1図において、基板を下側または垂直構造とし
、サイクロトロンおよび電界を上方向より下方向または
横方向に放出してもよい。
、サイクロトロンおよび電界を上方向より下方向または
横方向に放出してもよい。
第1図は本発明のサイクロトロン共鳴型プラズマエツチ
ング装置を示す。
ング装置を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、サイクロトロン共鳴を利用して電子または活性化し
たエッチング用反応性気体を反応室内に設けられた電極
によって、基板に対して垂直方向に高周波電界または直
流電界を加えることにより、被エッチング面を選択的又
は基板全面にわたって異方性エッチングすることを特徴
とした気相エッチング方法。 2、特許請求の範囲第1項において、サイクロトロン共
鳴を利用して活性化する気体は不活性気体または非生成
物気体より選ばれ、さらにエッチング用反応性気体には
少なくともハロゲン元素を発生する気体が選ばれたこと
を特徴とする気相エッチング方法。 3、特許請求の範囲第1項において、エッチング用気体
は弗化炭素(CHnF_4_−_■0≦n<4)、塩化
炭素(CHnCl_4_−_■0≦n<4)、弗化珪素
(SiF_4、Si_2F_6等)または弗化窒素(N
F_3、N_2F_4)が用いられることを特徴とする
気相エッチング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1282546A JPH0762262B2 (ja) | 1985-10-14 | 1989-10-30 | 気相エッチング方法 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22808185A JPS6289882A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 気相エツチング方法 |
| JP1282546A JPH0762262B2 (ja) | 1985-10-14 | 1989-10-30 | 気相エッチング方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22808185A Division JPS6289882A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 気相エツチング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02225681A true JPH02225681A (ja) | 1990-09-07 |
| JPH0762262B2 JPH0762262B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=26528036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1282546A Expired - Lifetime JPH0762262B2 (ja) | 1985-10-14 | 1989-10-30 | 気相エッチング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0762262B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5813627A (ja) * | 1981-06-16 | 1983-01-26 | モンサント・カンパニ− | 酸ハライド官能性物質およびアシルラクタム官能性物質 |
-
1989
- 1989-10-30 JP JP1282546A patent/JPH0762262B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5813627A (ja) * | 1981-06-16 | 1983-01-26 | モンサント・カンパニ− | 酸ハライド官能性物質およびアシルラクタム官能性物質 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0762262B2 (ja) | 1995-07-05 |
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