JPH0222591A - 被検査アツセンブリから少なくとも1つの強磁性体が欠落しているか否かを定量的に測定する方法および装置 - Google Patents

被検査アツセンブリから少なくとも1つの強磁性体が欠落しているか否かを定量的に測定する方法および装置

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JPH0222591A
JPH0222591A JP1078750A JP7875089A JPH0222591A JP H0222591 A JPH0222591 A JP H0222591A JP 1078750 A JP1078750 A JP 1078750A JP 7875089 A JP7875089 A JP 7875089A JP H0222591 A JPH0222591 A JP H0222591A
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サム・ダブリユ・タリアフエロウ・ザ・セブンス
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    • G01V3/00Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 本発明は磁界技術を用いてのアッセンブリ検証に関する
、詳細には金属製のおよび非金属性の収容体−強磁性体
材料を含む収容体も一部の強磁性体コンポーネントの同
定確認および、次のような比較技術を用いてのこのコン
ポーネントの有無およびその位置の検証に関する、即ち
各コンポーネントがその磁気特性だけに依存するのでは
なくさらに収容体中におけるコンポーネント位置に依存
する値を有するようにした比較技術を用いての検証に関
する。
発明の背景 後述の係属中の出願に示されている方法および装置にお
いては、収容体中の鉄または非鉄の金属物体および、特
定の金属とこの検知される金属とは磁気特性の異なる金
属の有無を検出する構成が示されている。さらに後述の
先願の主要な要件を構成する本発明の特定の実施例は、
次のことを可能にする方法および装置を備えている。即
ち非磁性体のハウジング内の1つまたは複数個の鉄部品
の存在の有無を示すだけでなく、さらにその位置も示す
値を、この部品に対応させることのできる構成を備えて
いる。
本出願は前記と同じ技術を拡張することを目標とし、か
つその技術の特別な適用を即ち通常は゛′アッセンブリ
検証”として知られている特別な適用を特徴とする特別
な工業たとえば自動車製造工業を見ると、ますます多く
の作業が次々に自動化されさらにロボットにより人手を
介さずに実施されている。全体的に見て、産業における
最近のもう一つのすう勢−磁気原理にもとづくアッセン
ブリ検証技術の使用を促進する傾向−は、以前のように
重い鉄の鋳物を用いるのではなく例えばアルミニウム、
種々の金属合金およびプラスチックのような軽い材料の
使用である。この重い金属鋳物は、アッセンブリ内に含
まれている金属コンポーネントを例えば強磁性体コンポ
ーネントを被うだけでなく、このコンポーネントにエネ
ルギが作用させなくするほど厚く囲む。さらにアッセン
ブリ検証の適用範囲は、ネオジウムおよびポロンのよう
なエレメントを含む強力な磁気材料の最近の開発により
、促進されている。
強磁性体材料の走査の領域に適用された先行技術は、米
国特許第4677348号、 Tokura他;米国特
許第4310793号、 Butler ;米国特許第
3002149. Christian ;に示されて
いる。これらすべては刊行されておりかつ一部継続出願
である後述の元の特許出願の中に引用されている。Bu
tlerおよびChristianの特許は両者とも次
のようなスイッチを対象とする、即ちこのスイッチの場
合、永久磁石は強磁性体材料があると応動して回路を閉
じるようにし、これにより使用者に強磁性体材料が存在
することを示すようにされている。しかし定量化に関し
て検知される値を磁石に吸引される強磁性体材料に対応
させる構成も、およびこれらの装置が磁界内の強磁性体
コンポーネントの存在位置を測定する構成も何ら示され
ていない。
さらに前記の両特許は、′イエスまたはノーの答を与え
てさらに磁石を閉成位置へ作動させるだけの定性的な解
決手段しか示しておらず、そのため磁界中に入った強磁
性体の正確な存在位置を求める構成は何ら示していない
ButlerおよびChristianにより示された
装置は、非金属のハウジング中に強磁性体材料が存在す
るか否かを検知するためには用いられるが、次の場合に
は実質的に何の価値も有していない。即ち唯一のハウジ
ング内の異なる強磁性エレメントの間を相互に区別した
り、ましてアッセンブリ内の1つの強磁性体部品の特性
に関する量的な測定結果を供給することはできない。
現在、非磁性体の収容体中の強磁性体エレメントを検知
できるだけでなく、これらのエレメントを取り外すこと
もできる装置がある。この種の装置の一例として米国特
許第3896608号、 Garrottが示されてい
る。当業者には明らかなように、このGarrottに
示されている穀物収穫装置のような強磁性体材料を取り
外すための装置は、通常は工場で取り付けてアッセンブ
リ検証のため高い精度で走査するには適していない。
Tokura他により示された変位センサは、それぞれ
永久磁石および磁化されていない鉄エレメントにそれぞ
れ機械的に結合されかつ互いに電気的に接続されている
第1および第2の圧電エレメントを含む。運動する強磁
性体材料が存在すると、即ち外面に設けられる凸出部と
凹欠部とを有する磁石部材が存在すると永久磁石が伸び
てきて第1圧電素子を圧縮して、磁化されない鉄エレメ
ント −前記の磁石部材の存在する時は相対的に位置固
定される−とは異なり、回転する強磁性体材料の周波数
を表わす出力電圧を発生する。Tokura他の変位セ
ンサの動作に対して必須の要件は、磁化されない鉄エレ
メントを有する第2圧電エレメントが設けられているこ
とである、何故ならばこの装置は電気的に互いに接続さ
れかつ互いに独立には動作しない2つのサブアッセンブ
リにより発生された電圧の間の差を形成するように、第
2エレメントを作動させるからである。磁化されないエ
レメントを有する第2圧電エレメントを除去するとこの
センサをその所期の目的に対して役に立たなくしてしま
う、即ち磁気部材の凸出部および凹欠部が磁石と鉄エレ
メントとを交番的に通過するにつれて、ごく近傍にある
磁気材料の存在に対して異なるようにかつ差動的に応動
させるという目的に対して、役に立たなくしてしまう。
さらにこのセンサの動作は、凹欠部の設けられた磁気部
材の、磁石と磁化されないエレメント−それらの各圧電
エレメントに接続されている−に対する運動に依存する
。詳細には、信号は圧電エレメントからその運動により
得られ、ざらにTokura他の特許によればこの種の
運動は磁石片が第1圧電エレメントに対して伸びて来て
圧縮することによりなされる。そのためもし磁石片が磁
石の直接下側に位置され磁石片に対して十分な期間の間
保持されていると出力電圧が低下するであろう、何故な
らば第1圧電エレメントの物理的運動が止むからである
さらに注目すべきことは、Tokura他の特許におけ
るセンサの作用は運動に依存するため、運動がうず電流
効果を増加させる。このうず電流効果は、モータのスピ
ードを測定する場合は問題とはならないが、正確なアッ
センブリ検証を実施する装置の機能は損なうようになる
。例えばもしTokura他の特許において用いられて
いる磁気部材がアルミニウムまたはその他の導電金属を
含む場合には、磁極片により形成される磁界の強さを変
化させろうず電流が、この磁極片が磁石により回転され
るにつれて発生されてしまう。この種のうず電流は磁極
片の定量的な分析の品質を必然的に劣下させ、そのため
この装置を適切に補償しなければならないようなエラー
を発生させてしまう。
最後にTokura他に示された装置は、永久磁石の磁
界内の唯一の強磁性体エレメントさえもその位置を正確
に測定するために用いることができない。即ちToku
ra他は次のような過程を提案していないからである、
即ち測定された値をアッセンブリにおける磁石部分に対
応させて、他の同様のアッセンブリ中の個々の各磁石部
品の存在と位置を検証するための比較測定技術を使用す
るだめの過程を提案していないからである。換言すれば
、アッセンブリ中の少なくとも1つの強磁性コンポーネ
ントの強磁性に関連する大きさを定量的に測定しさらに
その大きさを基準強磁性関連値と、比較して、少なくと
も1つの強磁性体コンポーネントが被検査アッセンブリ
から無くなっているか否かを測定する構成は、このTo
kura他の刊行物には示されていない。本発明の課題
は、この技術およびこれを実施する装置を提供すること
である。
発明の要旨 本発明は被検査アッセンブリから1つまたは複数個の強
磁性体コンポーネントが欠落しているか否かを定量的に
測定する方法を開示したものである。この方法は磁界発
生器を使用するステップと、この磁界発生器に応動する
負荷セルを使用するステップと、この負荷セルに磁界発
生器の運動に応動して回路網を操作するステップとを含
む。少なくとも1つの基準強磁性体関連値が形成されて
以後の使用のために記憶される。この基準値は、本発明
の装置を用いて、基準アッセンブリまたは標準アッセン
ブリを含みかつ被検査アッセンブリに応動する1つまた
は複数個のアッセンブリを検査または試験することによ
り、得られる。被検査アッセンブリは代表的には複数個
の強磁性体コンポーネントを有する。検査のためにアッ
センブリは磁界発生器に対して位置ぎめされる。アッセ
ンブリ中に収容されるコンポーネントの強磁性体材料を
定量的に表わす出力信号が得られる。次に基準強磁性体
関連値とロードセルからの出力信号とを用いて被検査ア
ッセンブリから少なくとも1つの強磁性体コンポーネン
トが欠落しているか否かが測定される。次に1つまたは
複数個の強磁性体コンポーネントが被検査アッセンブリ
から欠落しているか否かの信号が表示される。
本発明によれば複合体の部品を持ってきて、例えば種々
のばね、保持リング、回転子1羽根ボルト ナツト、ワ
ッシャ等を含むことのある種々の強磁性コンポーネント
を収容している1つの部品でも持ってきて、それを完全
に組み立てた形にして、前もってプログラムされたアッ
センブリ検証装置上に載置し、前述のコンポーネントの
全部が存在するか否かを測定することができる。さらに
数秒以内に次の測定もできる:各コンポーネントがその
適切な配置場所にあるか、何らかの個々のコンポーネン
トが欠落していないか、正確にどういうコンポーネント
が欠落しているのか、どの配置位置からコンポ測定は人
手を介さずに自動的に実施できる。有利には検査後はア
ッセンブリに消磁回路を作用させて、強磁性中のいかな
る残留磁界も除去する。
本発明によればアッセンブリは固定の位置において検査
される。この形式の検査は迅速に実施される、特に部品
に例えばせん孔、ぬねじ切り、締め金具挿入、スロット
切さく等の加工を施すために部品を周期的に停止させる
形式のアッセンブリ作業ラインにおいて、迅速に実施さ
れる。さらに強磁性体アッセンブリを走査して、アッセ
ンブリに全部の孔が適切にせん孔されたか、完全なアッ
センブリを組み立てるに必要な溝およびコンポーネント
を取り付けるために必要とされる他の加工個所を測定す
ることさえもできる。本発明により金属ハウジングおよ
び収容体中での前述の検証を、このアッセンブリ内に導
電物質または無関係な強磁性体コンポーネントが存在し
ている時も、精密にかつ正確にを補償するために強磁性
体ハウジングを透過できるように磁界を増加させること
が必要とされる。
本発明の主な目的は、1つまたは複数個の強磁性体部品
を収容しているアッセンブリ内の強磁性体コンポーネン
トの存在を検証するための新規なかつ改善された方法を
提供することである。これに関連する目的は、この種の
コンポーネントが適切な個所にあるか、1つまたは複数
個のコンポーネントが欠落しているか、どういうコンポ
ーネントが欠落しているのかおよびそれらの欠落してい
る位置を見つけることであるもう一つの目的は、代表的
な製造工場において適切に使用できる前述のアッセンブ
リ検証装置を提供することである。
さらに別の目的は、次の様に人間に対する環境に即ち工
業的な使用に良好に適合するアッセンブリ検証装置を提
供することである。この場合、有害な放射線、高電圧ま
たは日常の製造作業において通常に生ずる以上の人体を
損傷するおそれのある原因を生ぜさせないアッセンブリ
検証装置を提供することである。
さらに別の目的は、高い精度のかつ正確な出力を得るた
めに高感度のロードセルと共に使用できるアッセンブリ
検証装置を提供することである。
本発明の付加的な目的は、検証過程を連続的に検証する
ために操作者を必要としない、強磁性体コンポーネント
を含むアッセンブリの検査装置を提供することである。
さらに別の目的は、強磁性体コンポーネントおよび導電
金属を収容する複合アッセンブリさえも検証する次のよ
うな方法および装置を提供することである。即ち大部分
の製造作業を実施するために必要とされる通常の時間よ
りも著しく短い時間内で作業を完了する方法および装置
を提供することである。
別の目的は、信頼性があり汎用で取り扱いが容易で構造
が簡単で、特にX線を用いる技術と比較して著しくコス
トの低い、かつコンパクトで動作が静かで多数の通常の
適用に対しても高度に特殊化された適用に対しても直ち
に対応できるアッセンブリ検証方式を提供することであ
る。
この出願は係属中の米国特許出願シリアルNo、177
356号、1.4.1988の一部継続出願である。
実施例 次に本発明を図示の実施例につき図面を用いて詳細に説
明する。
以下の説明において、用語“上方”下方“右”左”後”
前”垂直 方向”水平方向”およびそれらの派生語は図に例示され
ている有利な実施例に基いて使用されていることを考慮
して本発明に関連付けられるべきものである。従って本
発明は、わざわざそれと反対にことわり書きがあるとこ
ろ以外では、種々の選択的な配向やステップ順序をとる
ことができるものと考えられたい。また、図面に示され
ており、かつ以下の説明において述べられる特定のデバ
イスおよび過程は、特許請求の範囲において特定された
本発明の思想を簡単に例示する実施例であるものと考え
られたい。それ故に、特定の寸法、および以下に開示さ
れる実施例に関連したその他の物理的な特性は、特許請
求の範囲にそうでないと明確に記載されていない限りは
、制限しているものと見做されるべきではない。
第1図において参照番号lOは、アッセンブリ検証のた
めに使用される走査ヘッド全体を示し、12は試験され
る工作物を示し、14は信号処理回路網である。走査ヘ
ッドlOに関して、有利な実施例において、前壁18F
および後壁18R,右側の側壁2ORおよび左側の側壁
20L、底壁22およびカバープレート24を有してい
る普通のボックス形のケーシング16を含んでいること
が第2図および第3図に示されている。アルミニウムの
ような透磁性材料から製造されなければならないカバー
プレートを除いて、ケーシング16の残りは種々多様な
材料から形成することができる。それは相応の強磁性の
ものとすることができる。ケーシング16の底壁22か
らスペースを置いて締付は部材26に支持されている、
その上に支持プレート33が設けられている固定台28
が図示されている。ロードセルサブアッセンブリ30が
固定台28に締付けられかつその上面に支持されている
。第2図において最もよく示されているように、従来の
構成の調整可能な止め部材32は底壁22から上方に突
出していて、ロードセルサブアッセンブリ30の下方に
おいて固定台28の下面に係合されている。この調整可
能な止め部材32の目的は、固定台が、ひいてはロード
セルサブアッセンブリ30が、その上に置かれているロ
ードを受けて両方がスタチックまたは別様にたるむこと
を防止することである。以下の説明から、固定台28が
ロードを受けて垂れ下ることが許されているとすれば、
信号処理回路網14に出力される信号が、実際にはその
中に必要とされている強磁性のすべてのパーツによって
申し分なく製造されているときに、その工作物12が品
質に関して不十分であるものと誤って解釈してかつ指示
してしまう可能性があることが明らかになる。
ロードセルサブアッセンブリ30(第2図および第3図
)は従来のように、支持板33に対して中心から離れて
その上に組立てられている柱部34を含んでいる。ロー
ドセルサブアッセンブリ30は、水平方向に配設されて
いる曲げアーム36も含んでいる。このアームは支持板
33の上面上にそこから間隔をおいて突出した形になっ
ておりかつロードセルサブアッセンブリ30のトランス
ジューサまたは支持ブロック38に結合されている。ト
ランスジューサまたは支持ブロックは従来のように機械
的な運動を検出しかつ検出された変位の大きさに比例す
る電気信号を信号処理回路網14に出力するように動作
する。1つの実施例において、ロードセルサブアッセン
ブリ30はTransducer Tech−niqu
es of Rancho社(Ca1ifornia)
製のロードセルトランスジューサであり、MDB5−7
として認定されている。支持板33は従来通り、締め具
又は類似のものを用いて固定台28に結合されている。
調整可能な制限ストッパ40は支持ブロック38の下面
に作用結合されておりかつ支持板33に対して支持ブロ
ック38を係合するのに適するようになっている。この
制限ストッパ40は主に、ロードセルサブアッセンブリ
30をそのローディング期間中保護するために設けられ
ている。
図示の実施例において鋼製である第1のプレート42(
第2図)は、支持ブロック38の上面に固着されており
かつそこに、ねじ、リベットまたは類似のもののような
従来の締め具によって取付けられている。図示の実施例
においてこれはまた鋼製である第2のプレート44は第
1のプレート42に従来のように締付けられておりかつ
図示の実施例においては永久磁石である磁界発生器46
を支持している。プレート42および44のこの組合わ
せは、工作物12が走査ヘッド10の上方に配設されて
いるとき、工作物を取囲むために、磁界発生器46によ
って発生される磁界を強制的に上方に案内する導磁体と
して機能する。
有利な実施例において、磁界発生器46(第1図および
第2図)は、ネオジム−鉄−はう素から成る永久磁石を
含んでいる。当業者であれば明らかであるように、本発
明の検証装置で使用されている磁界発生器46のサイズ
および型は勿論、特殊な工作物12を確実に試験するた
めに要求される磁界の形状、サイズおよび強度に依存し
ている。いづれにせよ磁界発生器46は、検証されるい
づれの特殊な工作物12をも包囲する磁界を発生するこ
とができるものでなければならない。更に、工作物I2
が鋼球、小さなスプリング、ポンプ羽根車の羽根および
類似のもののような数多くの強磁性のパーツを含んでい
るならば、磁界発生器46によって発生される磁界が上
述の個別部品間を効果的に区別できるように比較的強力
なものでなければならい点に注目すべきである。他方に
おいて、サイズ、形状およびその他の特性のため、磁界
発生器46によって発生される磁界に応答する仕方が全
く異なっている僅かな強磁性パーツしかない場合は、そ
れらの間を区別することは比較的簡単なことになりかつ
発生されるべき磁界の大きさは比較的弱い。図示の実施
例において、磁界発生器46は永久磁石であるが、ここ
に開示される発明の思想は、磁石発生器46に対して電
磁力を使用しても実質的に何ら変更されるものではない
磁界発生器46の適正な選択は、電磁界に精通している
普通の業者であれば問題ない。所望の磁界の形状および
サイズ並びにそこにともに設けられているロードセルサ
ブアッセンブリ30のサイズがクリチカルである適用例
がある一方、本発明の検証装置の適当な機能は広範囲の
許容公差内で実施することができる。例えば、一般に、
要求されるより大きな強度の磁界を発生ずる磁界発生器
46を使用した場合でも、開示される検証装置は適切な
走査を満足出来る結果で一層容易に実施することができ
る。実際、いくつかの例において、オーバサイズの磁界
発生器46の使用は、装置の要求が所望の適用に応じて
広範囲に変化することができるので望ましいであろう。
いづれの例においても、磁界発生器46およびそこにと
もに使用されるロードセルサブアッセンブリ30の選択
は、磁界発生器46によって発生される磁界が種々の強
磁性の要素とロードセルサブアッセンブリ30との間を
区別することができるのに申し分のない大きさの強度で
あり、実質的に磁界発生器46のすべての動きに応答す
るための感度を有している限り、問題にならない。
プレート42および44の上面に支持されている磁界発
生器46、およびロードセルサブアッセンブリ30に取
付けられているその上のすべてとも、検証装置を構成す
る機械的なアッセンブリは適当な位置においてアッセン
ブリ検証の機能を果たすことができる。説明を続ける前
に、ロードセルサブアッセンブリ30に対して相対的に
磁界発生器46を組立てる別の効果的な方法もあること
を付は加えておきたい。例えば、磁界発生器46をロー
ドセルサブアッセンブリ30に直接組立てることができ
ることも極めて明らかである。
走査ヘッドlOは従来通り、信号処理回路網14(第1
図)に接続されている。この信号処理回路網は、AD変
換器48および処理装置50を含んでありかつ磁界発生
器46の動きに応答してロードセルサブアッセンブリ3
1によって発生された信号を変換しかつ処理するために
設けられている。ロードセルサブアッセンブリ30から
伝送されたアナログ信号は、処理装置によって使用され
るためにAD変換器48によってデジタル化される。処
理装置50は従来のように、図示の実施例において、従
来のCPUとすることができるプロセッサ51.RAM
およびROMタイプのメモリから構成することができる
メモリ52、典型的には従来のキーボードである入カニ
ニット52を含んでいる。1実施例において、処理装置
50は従来のPCを含んでいる。以下の説明から明らか
になるように、処理装置50およびその構成要素は、全
体としては典型的に、処理装置50の使用によって典型
的に容易化されている、加算、出力値の、基準値に対す
る比較のようなステップを使用しているので、アッセン
ブリ走査過程を促進している。
第1図を参照して説明を続けるが、試験される工作物1
2は、図示の実施例において、走査ヘッドlO上を直接
横断するコンベヤ56上に取付けられている適当な支持
固定部材54に取付は可能に結合することができる。工
作物12は固定部材54内に精確に与えられているので
、工作物12の、走査ヘッドlOに対する適切な位置整
定は、固定部材54、ひいては工作物12を走査ヘッド
lOに対して、最適に位置決めするために、両方とも同
じものを横断しているかまたはその上に停止しているの
で、従来の検出機構を使用することによって実施するこ
とができる。当業者であれば明らかであるように、上述
の検出機構のような、固定部材をコンベアに沿って、1
つまたは複数の機能デバイスに対して精確に位置整定す
るための検出装置は典型的なマニュファクチャリングセ
ッティングにおいて使用されるようになっており、かつ
本発明のアッセンブリ検出装置は、固定部材54、従っ
て工作物12を精確に位置整定する目的のために、この
ようなマニュファクチャリング検出装置と協働するため
に容易に整合することができる。選択的に、固定部材5
4、ひいては工作物12の適切な位置整定はコンベア5
6がない状態において手動で例えば次のようにして実施
することができる。即ち工作物12を1つづつ別個に、
カバープレート24に沿って働くように配置されている
(図示されていない)ピンを使用する、例えば位置決め
することによって、走査ヘッド10に関して精確に同じ
最適な位置に置くのである。走査ヘッドlOは、有利な
実施例において、コンベア56の下方に配置されて示さ
れているが、走査ヘッド10は特別な試験または検査位
置におけるスペースの制約に依存して工作物12の側方
または上方に配置することもできることに注目され!こ
い。
有利な実施例において、検証過程は、アルミニウム製の
ハウジング58を有しかつ1つまたは複数の強磁性の要
素を含んでいる工作物12を選択することによって初期
設定される。強磁性の要素は図示の例においては、2つ
の鋼製のギア62および64から成っており、それらは
それぞれ、強磁性または非磁性材料から形成することが
できる軸に作用結合されている。ハウジング58は、ギ
ア62および64の存在が見えるように切欠して示され
ており、かつこの実施例の目的のために、ギア62およ
び64は目視により容易に検証することができないもの
と仮定しである。
動作中、まず検査されるべきアッセンブリそれぞれにお
いて検出される強磁性要素の1つまたは複数の基準値を
得ることが好ましい。このことを実施するために、1つ
または複数の同じアッセンブリが基準値を得るために検
査されるこれら基準値は、それぞれの試験または検出さ
れたアッセンブリに対して得られた強磁性に関連付けら
れた大きさと連続的に比較される。
この基準値を得ることに続いて、第1図において走査ヘ
ッドIOの上面に配置されているものと等価である全部
組立てられI;工作物12が、その相応の固定部材54
とともに磁界発生器46の磁界中に置かれる。アッセン
ブリ中に含まれている強磁性要素62および64は直ち
に、磁界発生器46を吸引し、結果的にそれを持上げ、
従ってプレート42および44に対して上方向の力を及
ぼし、同様これによりロードセルサブアッセンブリ30
が、その組立て用柱部34とともに、支持板33(第2
図および第3図)8よび最終的に底壁22に固定取付け
されている曲げアーム36にトルクを加える。結果とし
てアーム36中に発生された曲げモーメントによりそこ
に応力が発生し、それはロードセルサブアッセンブリ3
0によって検出されかつ電気信号の形においてリード6
5を介してAD変換器48に伝送される。そこでこの信
号は、ここでは“トータル基準値°′と表わされる値と
してプロセッサ51において読取らされる値にデジタル
化される。当業者であれば明らかであるように、このト
ータル基準値の精度は複数の完成した工作物を走査する
ことで得られた値を平均することによって高められる。
予期されることだが、典型的に完成した工作物12に対
して読出された実際値がここでは“トータル許容基準値
″と表わされる゛エラー・ウィンドウ゛″分トータル基
準値からずれることがあるように、アッセンブリ検証装
置に関連付けられた一般的なエラーがある。工作物12
中には2つの強磁性要素があるものと仮定しているので
、受入れ可能な工作物12に対するトータル許容基準値
は通例、トータル基準値の約1%またはそれ以下に設定
することができる。
許容値の適用は、次の例から明らかになるであろう。ギ
ア62および64を収容するだめのアルミニウム鋳物を
含んでいる第1の工作物12は、ギア62および64が
、別の製造業者によって供給された、工作物12に対す
るおそらく別のいくらか一層理想的に構成された鋳物と
は僅かに異なった方法において磁界発生S46によって
発生される磁界内に垂直方向に配置されることがあるよ
うに、内部デイメンジョンにおいて僅かに変化する可能
性がある。結果は、第1の工作物12がトータル基準値
の、97であるデジタル化された値を有し、一方別の、
層理想的な工作物がトータル基準値の、99である値を
有する。しかしながら両方の工作物は、例えば、前置っ
て決められかつ入力された許容偏差が基準値の5%であ
るところでは受入れ可能なものとして認められることに
なる。磁界発生器46によって発生された磁界の強さが
工作物12中の強磁性要素の間を区別することと関連し
てエラーを低減するのに十分な大きさであるべきである
ことは明らかである。そうでない場合は検証装置によっ
て発生されるエラーは全体としてトータル許容基準値を
遥かに上回るかもしれず、その結果数多くの受取り可能
な工作物12は、実際にはそれらが不良品でないときも
パーツがかけているものと判断されることになる。
勿論、トータル基準値に相応するデジタル化された合計
を使用することができる数多くの方法かある。例えば、
操作員が未知の構成の工作物I2を走査ヘッドIOにい
ちどきに1つづつ手動で配置するとすれば、走査員は誰
でも次のことを思い出す必要がある。即ち工作物の中に
含まれている強磁性要素によって発生され、磁界発生器
46に及ぼされて、処理装置50において単一値(即ち
゛検査された値”)として読出される、吸引力の合計が
トータル基準値の値に近くなければ、その時いくつかの
磁性パーツが欠けておりかつ試験中の工作物12は拒絶
されるべきである。他方において、いづれにせよ人為的
なエラーはあるのだから、トータル基準値に対して適当
にデジタル化された基準値を処理装置50のメモリ52
に入力しかつ試験される所定の工作物12から検査され
た値をトータル基準値と比較するための適当なソフト7
エアを使用して、その検査された値とトータル基準値と
の間の差がトータル許容基準値内にあるかどうかに依存
して上記所定の工作物12を自動的に受入れるかまたは
拒絶するようにすることが、有利な解決法である。
ギア62に対する基準値とギア64に対する基準値との
合計を表わすトータル基準値に対する値を得た後、検証
過程への次のステップはギア62のような、強磁性要素
(第1図)の1つの取除きかつギア64に対する基準値
を指示する判断を導くことである。全体の過程は、ギア
62に対する基準値が得られたように、ギア62に代わ
ってギア64が取除かれていることの他は再び、完成し
た工作物12において実施される。トータル基準値の検
出に関する場合と同様、ギア62および64に対する基
準値の精度は、ギア62および64の1つを欠いている
複数の工作物を走査することから得られる値を平均する
ことによって高められる。ギア62および64に関連付
けられた基準値のすべては、それらの対応する許容基準
値とともにメモリ52に入力されて、必要なギア62お
よび64を含んでいるかまたは含んでいない同じに構成
された工作物12の検査された値と比較される。以下に
更に詳しく説明するように、メモリ52に入力された、
ギア62および64に対する基準値は、ギア62および
64に関する固有の位置情報を指示するためにソフトフ
ェアによって使用することができる。
ギア62および64に対する基準値を得ることに基づい
て、それがギア62および64両方を有しているかどう
かを検出するために検査されるべきである工作物12が
走査ヘッドIO上に直接、コンベア56上に配置され、
かつ全体に対して検査されt;値がロードセルサブアッ
センブリ30からAD変換器48に伝送されて、次の方
法に従ってメモリ52に記憶されている基準値と比較さ
れる。検査された値およびトータル基準値がトータル許
容基準値以上に異なってりなければ、工作物12は検査
のために前方へ移動される。工作物がそばを通過すると
き残留磁界が完成した製品に残っていることがないよう
に、(図示されていない)消磁回路に引渡されるべきで
あることを注意しておきたい。検査された値とトータル
基準値との間の差がトータル許容基準値より大きいとき
、検査された値はギア62に対する基準値と比較される
。ギア62に対する基準値と検査された値との間の差が
ギア62に対するエラー許容基準値より大きければ、検
査は続けられ、そうでなければギア62の欠落が記録さ
れかつ適当な調整作業が行なわれる。
検査された値がトータル基準値より小さく、かつギア6
2に対する基準値から、しかもギア62に対する許容基
準値よりずっと大きい量だけ異なっているとき、検査さ
れた値はギア64に対する基準値と比較される。検査さ
れた値とギア64に対する基準値との差が、ギア64に
対する許容基準値より小さければ、ギア64の欠落が記
録されかつ適当な調整動作が行なわれる。しかしながら
検査された値とギア64に対する基準値との間の差がギ
ア64に対する許容基準値より大きければ、ギア62お
よび64の、工作物12からの欠落が記録されかつ適当
な調整動作が行なわれる。
上述のように、工作物12に対するギア62および64
の期待される位置はわかっているので、ギア62および
64の、工作物I2に対する位置を、図示の実施例にお
いては従来のCRTとすることができるモニタ68に場
合に応じてデイスプレィするためにメモリに入力するこ
とができる。ある実施例においては、検査される工作物
12のギア62および64のようなすべての強磁性要素
の存在を、このようなすべての要素が工作物12中にあ
るものと指示されるとき、略式に表示するために標準グ
ラフィックパッケージが使用されている。1つまたは複
数の要素が工作物12から欠落している場合、モニタ6
8はもしそれが工作物12中にあるとすればそのような
要素を表示するようにプログラムされている位置におい
てCRTの空白領域を用いてこのような要素の欠落を記
述することになる。付加的にギア62および64のよう
な、2つまたはそれ以上の数のギアの欠落または存在に
関する情報並びに2つまたはそれ以上の数のギアの存在
は(図示されていない)プリンタを介してハードコピー
を作成することができる。第6図において例えば、2つ
のギア装置に関連付けられた4つの可能な場合、即ち2
つのギアの存在、第1ギアの欠落、2つのギアの欠落お
よび第2ギアの欠落がそれぞれ行1.2.38よび4に
表示されている。
検証装置の機能を更に実例に基づいて説明するために、
次の実例について考察するニド−タル基準値−2,00
0ユニツト トータル許容基準値−20ユニツト ギア62に対する基準値−1,200ユニツトギア62
に対する許容基準値−12ユニツトギア64に対する基
準値−800ユニツトギア64に対するトータル基準値
−8ユニツト これまでの説明から明らかであるように、工作物12の
検査に基づいたローゼルサブアッセンブリ30からの出
力が1980ユニツト〜2020ユニツトの範囲内にあ
ることが検出されたとき、検査された工作物12は合格
と認められかつコンベア56を通行していくことが許さ
れる。例えばギア62のみが欠落しているならば、処理
装置50は出力が792ユニツト〜808ユニツトの範
囲内にあることを検出し、かつギア64のみが欠落して
いるならば、処理回路50における読出しは1188ユ
ニツト〜1212ユニツトの間になる。最終的に、79
2より少ないという判定が行なわれれば、2つのギアが
欠落しているものと推測することができる。いづれにせ
よ、ギア62または64のいづれかが欠落しているとき
、工作物12は結果的に拒絶されるべきである。
このように、本発明が、効果的でかつ秀れた方法および
1つまたは数個のこのような要素を含むことができるア
ッセンブリ中の強磁性要素の存在を確実に検証するため
の装置を含んでいることがわかった。以下の説明から、
工作物12のハウジング58も、それに関連付けられた
相応のデジタル化された値を、ハウジング58に固有に
関連付けられた検査された値に対して比較するための基
準値として使用することができるので、強磁性材料から
形成してもよいことが明らかになる。
強磁性パーツが欠落している場合の検証のための処理ス
テップを実施するソフトウェアプログラムは、後述のよ
うに開発されている。ロードセルサブアッセンブリ30
から処理装置50へ伝送される信号は、その中に含まれ
ている強磁性要素の存在および位置に関連付けられた固
有値を表わす量的な出力である。ロードセルサブアッセ
ンブリ30からのこの同じ信号は、信号が受入可能な工
作物12に対する所定の閾値レベル以下に降下したとき
、ロボットのような拒絶機構をトリガするために使用す
ることができる。上述の表示例において、上述の検査さ
れた値がトータル許容基準値を上回って、トータル基準
値に対してセットされた値以下であるときは常時、拒絶
機構が作動されて、欠落のある工作物12が通過するの
を許さないようにされる。このようなシステムは当業者
には周知であり、欠落のあるパーツをコンベア56かう
自動的に取除くロポントを含んでいる複合装置を働かせ
るようにベルを作動させるなど操作上変更を加えること
ができる。
走査ヘッドIO内において、重い物理的なロードを、プ
レート42および44並びに磁界発生器46の質量分ロ
ードセルサブアッセンブリ30上に配置することができ
る。普通は、この状態は広範囲なロードに適応しかつア
ッセンブリ検証装置において通例型まれているより著し
く感度の低いロードセルの使用を要求することになる。
即ち、比較的重いロードに適用されるロードセルが使用
されるとき、プレート42および44並びに磁界発生器
46を支持するために一層剛性の曲げアーム36が要求
されるので、走査ヘッドlOの感度が犠牲になり、かつ
剛性が高められた曲げアーム36は一般に、ロードセル
サブアッセンブリ30上のロードの比較的小さな動きに
対する応答が鈍る。明らかであるように、ロードセルサ
ブアッセンブリ30上のロードとロードセルサブアッセ
ンブリの相応の感度との間には逆の関係があり、即ちロ
ードが増加すると、要求されるロードセルサブアッセン
ブリ30によって得ることができる感度の結果は低下し
、また反対のことが言える。従って、ロードセルサブア
ッセンブリ30上のスタチックロードは可能な程度に最
大限低減するべきであり、そうすればロードセルサブア
ッセンブリ30によって検出される唯一のふれは、磁界
発生器46によって発生される磁界内の1つまたは複数
のパーツの存在によって惹き起こされたものということ
になる。
最適な感度のロードセルサブアッセンブリ30の使用を
可能にする“フローティング″プレート42および44
に対するユニークなメカニズム′は第1図および第3図
〜第5図においてよくわかるように図示されている。図
示の実施例において、4つのフローティングサブアッセ
ンブリ69を含んでおり、そのうちの1つが第4図に図
示されているこの70−ティング装置は永久磁石の対の
同極の間に生じる反発力を利用することによって実現さ
れている。
有利な実施例において非磁性のステンレス鋼である柱部
70は、固定板28の4隅における適当なねじ大向に締
付けられかつナツト72によって固定されている。4つ
のフローティングサブアッセンブリ69(そのうちの2
つに第2図では隠れた所にある)はそれぞれ同じに構成
されているので、説明を簡単にするために以下フローテ
ィングサブアッセンブリ69の1つの構造についてのみ
詳しく説明することにするしかしながら70−ティング
サブアッセンブリ69の1つに対する説明はいづれも、
走査ヘッドlO内に使用することができるような他の多
くの70−ティングサブアッセンブリ69に対しても当
てはまるものとすることができる。
柱部70に沿ってプレート28上方に、ナツト74(第
3図および第4図)が設けられている。それは第1のネ
オジム−鉄−はう素から成る環状マグネット76Bに結
合されている。第2の環状マグネット、76T(第4図
)は平滑な表面78に関して自由にフローティングする
。従って、この平滑な表面78と接触していない第2の
環状マグネット76Tは、第1のマグネット76Bに対
して自由なすべり運動に実施する。環状マグネット76
Bおよび76Tの対は、それらの間に反発力が存在し、
かつ従ってその間隔が維持されるように、双方が隣接す
る所で同じ極(S極が示されているように)を有してい
る。
マグネット支持プレート44も、第2の環状マグネッ)
76T近傍の平滑な表面78に接触していない。従って
プレート44は、ロードが支えられ、例えば磁界発生器
46が変化するとき、上方および下方へ自由に70−テ
ィングすることが許されるようになっている。プレート
44の、ロードセルサブアッセンブリ30との接触は第
1のプレート42を使用して実現されている。これまで
説明したことにより、磁界発生器46の重量およびその
支持装置、即ちプレート42および44の重量を実質的
に平衡をとることが可能になり、その結果ロードセルサ
ブアッセンブリ30が検出するすべては、試験されてい
る特定の工作物12内の1つまたは複数の強磁性パーツ
の結果として生じた、本発明の検証装置における負のロ
ードである。
上述のフローティング装置と共に、有利にはロードセル
サブアッセンブリ30が過度の負のローディングが原因
になって損傷を受けることがないように防止するために
、荷重を加えるサブアッセンブリ79(第4図)が設け
られている。図示の実施例において、フローティングサ
ブアッセンブリ69と同様、同様に構成された4つの荷
重用サブアッセンブリ79があるが、荷重用サブアッセ
ンブリ79の1つの構造についてのみ詳しく説明するも
のとする。主要なマグネット支持プレート44から上方
に突き出ている、柱部70のねじ山部分80(第4図お
よび第5図)に、このねじ山ロッド部分、80に締付け
られたねじ山付開口84を有している短いバ一部材82
が、ナツト86によって適切に保持されている。バ一部
材82の部分88は主要な支持プレート44の方向に張
出しておりかつこの部分は所謂アレンねじ92が係合さ
れて締付けられるようになっているねじ山付開口90を
備えている。アレンねじ92を調整することによって、
ロードセルサブアッセンブリ30に対するローディング
が過度に不足しないように、磁界発生器46およびその
支持プレート42の上方向の動きを制限する調整ストッ
パが形成されることになる。
これまでの説明から、当業者にはここに開示された有利
な実施例を開示された本発明の思想を逸脱しない限りに
おいて変形または改良することができることは明らかで
ある。請求されている権利範囲は特許請求の範囲および
法律が定める解釈の幅によって決定されるべきものであ
る。
発明の効果 本発明により、アッセンブリ中の強磁性体コンポーネン
トの有無、その種類、取付位置の状態に関する量的な測
定を、自動的に迅速に高い精度で安全に実施できる、か
つ工場での大量生産ラインに使用できる構成が提供され
る。
次に欠落している強磁性体バーンないしコンポーネント
を検証するためのソフトウェアプログラムの実施例を示
す。
DIM CLt(31) Dl、  TTL9(10) DIM SUB、NAME9+10) TRIJIJ −−1: F’ALSE! −0+ 0
NCE% −−1: CLZ、FL% = TRUE%
P1雰355 / l13+ A+1寓6183+ A
、2−5906: A、3−5599RAD −360
/  (2會Pi) MAXCU1%  雪 79:  GO8UB  XN
FMEN[JIJ ” ” (space)  5ca
n、  (L)  Learn。
(D) Data、  (End) Quit、PK5
 m ” −Press a key to cont
inue、”EO9−″ (End) Quit ”B
LNKS −5PACE9(79) (2)  Zero、  (PI  Pr1nヒ。
0PEN ”5CNX、COL″FORINPUT A
S l ’Read color assiqnmen
辷。
INPUT  番1.  BKGD% FORL%  −Oto 31 1NPUT  番1.CL亀(11) EXT CLO8E  1 SOU’ND Boo、、3 GO8UB  HEADO OPEN  ”5CNX、SUB”  FORINPU
T As  1工NPυT 参1. 5UBS% FORit  −I  To 5UBS&LINE  
INPUT  番1. 5tJB、NAME幻11EX
T CLOJFi  1 OPEN  ”5CNX、OPR”  FORINPU
T  As  l  ’Read  opera七in
gparameters。
INPUT  番り、  DOARD亀XNPUT  
番1. 5CRN% ’5creen  mode、 
 1  or  9  only。
INPUT  参1.  ASPECT  ’C1rc
le  aspect  ratio+INPUT  
番1.  FX、  FY  ’X  5cale、 
 Y  5cale、  pixels/1nch  
for  640  x350 5creen。
INPUT  番1.  Hot、  VO%  ’!
;creen  position、  pixels
  fot  640  x  350tzcteen
INPUT  番1.  DLAY&  ’softw
are  delay  constan七。
INPUT 11.N、OBS@ DIM 911(N、OBS%l  ’Low sig
nal for objects missingDI
M S2%(N、088%)  ’H1gh sign
al for objects missingINP
UT  参1.  X、21%、  X、22%INP
UT  11.  X、NULl&、  X、NUL2
%X、MrN%  −9999 FOR1%−1七o  N、OB9% INPtJT 會1. 51%(1%)、52%(it
)IF 51%(1%l  (X、MIN% THEN
 X、MXN% −91%(1%)EXT CLO8E  1 P)n −BOARDt + &HF      ’/
/ port Ctri ad【。
PA% 禦 BOARDI  +  &HC’//  
poft  PA  adr。
MODE、O@ −bHBo       ’0utp
ut modeOUT Pxs、 MODE、0%  
     ’Seセ// port outpuセmo
deADC% −BOARDt  +  &H8ADC
,LO% −BOARDI + &H9ADC,H1%
  −BOARDI + &H8MXPI  +  B
OARDI ’ADCadr。
’ADClow byte adr。
’ADChi byte adr。
’MX  adr。
Do’+11 1F RGN、PL6%’I’HEN GO8tlB 
HEADIXF  CLZ、FIA  THEN COLOR11,0 FOR1% −’l To SUB8% ’Displ
ay 5ubject options。
LocATE 6 + 1%、  47 A 寓A、I
PRXNT ”IIシ 5TRI(1%l;”7 −シ
SUB、NAMES(1%) EXT Do ’(1,1) Do ’(1,2) MjG9g ” 5elecヒ5can 5ubjec
t、”+ EQ%虐 TRUE% GO5UB  F’r、MSG LOOP UNTIL 工N5TR(I′12345”
、  xs*)  )  OCR(JIIlllO″ 
’(L21 Do ’(1,3) IFO亭鳳”O’ THEN GO8UB  XIT、OP’l’ EXXT  D。
END  IP 工F工N9 0  ”3” THEN M505 m ” 0bject Definitio
nPile  not  found、”PK% −T
RUE%; WARN% −TRtfE%JGO5UB
  FT+MSG GO8UB  XI’l’、OP’r EX工TDO LSE EXXT  D。
END  XF LOOP UNTIL 0NCIJ  ’(1,3)L
OOP UN’ML XN9−  ”3”  ’(1,
1)ZRO,FLG亀 −FALSE% LOCATE 6.L FOR1% −17010 PRXNT 5PACIJ(241 EXT ND XF L% 」 8 OPEN″5CNX、OBS″FORINPUT As
 l ’Read display dimensio
ns。
INP(IT  11.  N、TTIJ  ’Rea
d  七1tle8゜FOR1% −I To N、T
TL%INPUT  番1.  TTLI(1%)Ex
T INPUT  参1.  N、OB!9%、  N、E
NT% ’No  of  objects、  en
七1七ies  perobject、 max。
IF CLY、FL% AND NOT RGN、Fr
、G%THEN ’Dimension only o
n firstpass。
DIM K1.08Jl(N、0BSj N、ENT%
IDIM K2.0BJS(N、088%、N、ENT
%)MM Xl、OBJ亀(N、085%、N、ENT
%1DIM Yl、083%(N、088%、N、EN
T%)DIM K2.083%(N、088%、N、E
NT%)’Entitiy、  objecヒ key
  1’Entitiy、 object key 2
’0bject  en七1七yX coord、1ine or circle/arc。
’0bjecヒ entiヒyY cooed、1ine or circle/a【e。
’0bjecaヒ entity  Xcoord、1
ine end。
DIM  Y2.OBJi(N、089%、  N、E
NT%l  ’0bject  en七1tyY(oo
rd、1ine end。
’0bjecat  enti七y radius、 circl@/ac。
’0bject entity color。
’0bjec七 en七ity  5tart。
arC。
’0bject entity end。
arC,。
’0bject paint pointX coot
d+ 0bjec七paint point Y coord。
’0bject  ON  Pa1n七Co1or。
’0bject ON border color。
’0bjec七 OFF  paintcolor。
’0bject OFF bordercolor。
’0bject  5tatus  flag  。
DIM CF2.OBJi(N、OBJi)DIM D
K、FLGI(N、OBSi)DIM E、0BJ(N
、088%、N+ENT%)DIM CF2.OBJi
(N、0856101M CF2.0BJI(N、OB
8%1DIM XP、OBJi(N、OBJi)DIM
 C+OBJ%(N、088%、N、ENT%)DIM
 S、0BJ(N、089%、N、ENT%)DIM 
YP、OBJi(N、OBS亀)DIM CPL、OB
Ji(N、089%)DIM R,OB、1%(N、0
85%、N+ENTt)END  XF Do UNTIL EOF(1) ORXN5TR(L
≦、 ”−”110INPUT 11.LS K1♀−1IJFTS(LS、1) K29− MIDS(LL  21 1)IF KIS
  (1”” TI’[ENON lN5TR(”AC
LPX″、 Ell)  GO5LTB XCXRC,
XCIRC。
XLXNE、 XPAINT、1. X0BJEND 
 IF 0OP XF XN5TR(L5.”It″)−0THENMS
G5 s  ” End of file mark 
not found、5CNX、DIM” +AKTC
S GO8UB  FT、MSG GO6UB  )HT、0PT ENT  IF POR1亀 III I TON、OBS%OK、FL
G亀(111−TRUE% EXT CLO5E  I GO5UB  XPAINT GO5UB  TITLES GO9UB  DATFILE RGN、FL(J  −FALSE% N、5CAN亀 = 0 OBS、5TR5m  ”  ’0bject  ke
y  string。
FOR1% *  l To N、OBS%OBS、5
TRS −0Bi9.5TR9+RIGHTH8’f’
RS(IJI 、 1)EXT Do’(2) in menu。
MSG9− MENU19+  FT、N% −TRt
TE&GO8UB  FT、MSG MNU、FLG龜 −FALSE亀 Do’(3) KS 露 III′ Do  ’(3,11 GO8UB  KBRD LOOP UNTIL rNsTR(”DLP!32”
 + CHRS(321+OBS、5TR9,工NS)
  OOR05−”O”+3.111F ’IN9 0
  ”THEN K9− lN9IP O5−″”r部
N DO’(3,21 1P lN5TR(OB3+5TRS、KS)OT皿N
GO8UB 0BSJW EXIT  D。
END  XF ON IN’5TR(”DLPS2”″露CHR1(3
21,K字)GO8UB RD+DATA、LEARN
、PRINTER。
5CkN、ZERO,TESTER,5CANLOOP
 U’NTIL 0NCIJ  ’ (3,21END
  IP LOOP IJNTXL 05 m O” ORRGN
、FLGI ORMNU、FLG亀 1(3)IF R
GN、FLGI THEN EXXT Do  ’(2
)IF  NOT MNU、FLGI  THEN G
O9UB  XIT、OPT工F RGN、FLGI 
’rHEN EXIT Do ’ (21LOOP  
’(2) LOOP  ’(1) OBSJW+  ’                
1tch object by keyboard。
J% −VAL(KS) OK、FLGI(J%)−N0IrOK、FLGI(J
%IGO5UB  S’f’ATUS OBSW、FI、G% −TRUEAIETURN STATUS+  ’               
              object  5ta
tus。
NNS −NN%+ NNS = 5TR9(NNS)
LOCATE 23.l: Cot、OR12,Or 
PRINT LEFT5(NN9 +BLNKI、50
17 に亀 ! 0 FORit  −I  To N、OB!911F N
OT  0BSW、FLGI  THENOK、FLG
I(1%)  −(X%  (91%(1%l  OR
X% )SZ%(1%)) END  IP XF NOT 0KJLG%(1%l  THEN N
% −Nt + 1EWT XF  X% (m X、MXN% THENFORl
亀 −I To N、OB8%IF A  □  A、
l THEN ENDOK、FLGI(1%) 舅FA
LSEもN% 諺 N% + 1 EXT END  工F IFN% )OTHEN N、FAIIA  −N+FAIL% + 1L♀−”
 FAIL −舊 FOR1%  −I To N、OBS%XF NOT
 OK、FLGI(1%l  THENL9 m L5
 + 5TR5(1@)  + ”  END  IP EXT DPIMF 500,1+ 5OUND 200.2L
SE N、PASS% 諺 N、PASS% + 1SOUN
D 800..3 L$III  PASS  ″ END  IF LOCATE 23.6: C0LOR12,Or P
RINT LEFT9(LS + BLNKS。
50): WRXTE  D、  NNS、  TXMEp、  
LsLOCATE  22. 60:  C0LOR1
1,Or  PRINT  USING  ’IIIP
ASSEC”i  N、PAsS%ILOCATE 2
3.60: C0LOR14,Or PRINT US
ING ”IIIFAILED”j  N、FA4L亀
;ZERO: FORJt 雪 I  To N、OBS%GO3UB
  PAINTER EXT IF OPN、FL% THEN LOGA’l’E 6.6G+ PRINT 5PAC
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 ” 0utput to (S)creen (Pl
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 AS  3N%−0 Do UNTIL EOF(3)  AND Nt −
N、IJNES%IF  PRN、007% THEN LPRINT TAB(101i  L5LSE L$露LEF’T9(LS + BLNK5.40)P
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FLG& l= TRUE%PRN、007%  −F
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、 OBS file op七ion。
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          data  file。
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As  15CNX OPR,BAK” ”5CNX、OPR”  As  5CNX OPR,
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WRITE参1. ASPCT ’C1rcle as
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WRITE $1. FX、 FY ’X 5cale
、 Y 5ca1e、 pixels/1nchfor
 640 x 3505creen。
WR1’l’E II、 HOt、 VOl ’5cr
een position、 pixels for6
40 x 350 5ateen。
WRITE  11.  DLAY&  ’!3oft
ware  delay  consヒanセ。
WRITE  番1.  N、OBS%WRITE 参
1.X、2H,X22%WRITE 参1.X、NUL
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 11,102% END  IP IF K2≦!II+−THEN INPUT  参1.  A2.  Y2.  C%X
i −999j  Yl  −999XA2%  −H
ot  +  FX  會 x2YY2%  −VOl
  −FY 會 Y2IF  OBJ、FLG% TH
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K2.OBJ宇(IDlt、ID2%)  −K29X
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Y2.OBJ%(ID1%、ID2%l  = YY2
%C,OBJ%(101%、ID2龜)=C亀END 
 IP LINE −(XX2%、  YY2@) 、 CL%
(C%)LSE INPUT’  番1.  Xi、  Yl、  A2
.  Y2.  C%XX1% −Hot  +  F
X  ★ xIYY1% −VOl−FY会YI XX2t  −Hot  + FX ★ x2YY2%
  −V(n  −FY  &  Y2XF  OBJ
、FLG&  THENKl、0BJ9(101%、 
ID2%l  −K15に2.0BJl(101%、I
D211 − K29X1.0BJI(IDII、10
2%)−XXI%Y1.OBJ%(ID1%、ID2t
1 − YYI%X2.OBJ% Iよりll、ID2
%)−XX2%Y2.OBJ%(ID1%、 ID21
)  謬YY2%C,OBJ%(IDlt、ID2%)
−CtEND  IF’ END  IF RETURN XCIRC:  ″ INPtJT  11.  Xi、  Yl、  R,
C%X2  =  999+  Y2  Ill 99
9−−−Draw circle。
XXt  =  HOt  +  Xi  ”  FX
YY%  −VO亀 −Yl  會 P’YRR% −
R裔11’X IF OBJ、FLG%  THEN KL、0BJ5(101%、XD2%l  M K15
に2.0BJ5(101%、ID2%l  −K29X
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t(ID1%、ID2%)−YYtR,OBJ魁101
%、102%)  −RR%C,0BJt(In1%、
  ID2%)−CtEND  IF 工F K19 −  A’ THEN  ’Arc工N
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/ RAD E −A2 / RAD 工F  OBJ、FLG%  THENS、OBJ(I
D1%、より2%)IIISE、0BJ(ID1%、I
D2%l  =I END U END  IP LINE  jXX1%、YYI龜1−(XX2%、Y
Y2tl、CL!(C%)XF KIS  −”C″T
HEN  ’CircleX0BJj CxRCLE  (XX%、YY%)、RR%、CIJ
(C%)、、、ASPC置SE  Arc CIRCLR(XX%、YY%)、RR%、CL%(C
%1.S、S。
5PECT END  IP ETUM fine  objecヒ。
OBJ、FLGI 諺 TRIBE% INPUT  参1.  ID1%、  ENT!9%
 ’0bjec七 XD、  Num  entiセi
es。
INPUT  11.  Xi、  Yl、C1%、C
2%、  C3%、  C41’0bject  pa
inしparameters。
K2−9997  Y2−999 INPUT  番1. 102%  ’Enセi七y 
より+XP、OBJ%(より1%)m Xi 倉 FX
 + Hot  ’Pa1nt 5crn coord
s。
YP、OBJ亀(:[Dll)  冒−Y1☆FY +
 00%CP1.OBJ!(ID1%)−C1&  ’
ON colors。
CP2+OBJ%(より1亀1−C2%CP2.OBJ
&(ID1%)−C3% ’OFF calors。
CP4.OBJ%(よりlr)  −C4%Do UN
TIL EOF(110RlN5TR(L≦t  ”2
”)INPUT  會1. L$ KIJ ” LEFTY(μs、1) K1111Mより≦(LS、2.1) IF Kl!9 0  ”” THENON lN5T
R(”ACL″、 K191  GO9UB XCIR
C,XCHtC。
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Jt)LSE PA工NT (XP、OBJ%(Jtl 、 YP+O
BJ% (Jt) l 。
CP2.OBJ%(Jt)、CP4.OBJ%(Jも)
END  IF ETURN XPAINT、1:  ’ INPUT  11.  Zl、  Yl、  C1%
、  C2%X2 = 9991 Y2 = 999P
a1n七 area。
×P%−HO%+FX * Xl YP% −VO%  −FY ★ Y1PA工NT  
(XP%、YPt)、CL%(C1%)、CL[(C2
%)TITLES : 1splay ヒ1tles。
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 6 + 1%、  60COLORCPl、OBJ%
(1% −1)、 0PRINT TTLS(11); EXT PRXNT  USING  ”ZERO:  #参〇
  〇N”+LOCATE 14,60+ X、2]J、X、22% FOR1%  −I To N、OBS%LOCATE
 14 + 1%、 60:番番参会11%i  91
亀(1%);PRINT  USING  ”  参会
 番参#番52%(1も) EXT LOCATE  14  +  1%、  60:  
PRINT  USING  ”  ALL+  番l
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5  厘 lll′ WHILE 119− ”+  In2− INKEY
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    Foo仁Messaqe。
LOCATE 25.l+  cor、oR7,O+ 
PRINT BLNK5+IF PKt OREQ& 
ORMSGS  (1″” THENIF  FT、に
% THEN COLOR11,0 ELSEIF WARN%  THENCOLOR11
2,O LSE COLOR14,0 END  IP IP  PKt  THEN rJ −LEFT5(MSG5 + BLNK5. 5
0+  + PKSELS!JF EQ亀THEN L9− LEFT9+MSGS + BLNK≦ 6o
)  + EQSLSE L$ツLEFT幻MSG9 + BLNK粘 79)E
ND  IP LOCATE 25,1:  PRINT L5+IF
  FT、M  THEN SOUND 800..3 LSE SOUND 400..3: 5OUND [100,
,3GO9UB  KBRD [、OCA’陀25.1+ C0LOR7,O+ PR
INTBLNKS ;END  IP END  XF MSGS −”+FT、M%−FALSE%j PKt
 −FALS!J: EQ% −FALSEU  WA
RN% −FALSE亀ETURN HEADO+  ’ Inセroduc七ory  5creen  Hea
ding。
5CREEN  9 COLOR14,O+  CLS A5 lI”5canTech Corporatio
n  Breckenridge Co1orad。
USA” B9−5CNX 1.OAssembly HVeri
fication″CS m ”by Glenn F
ryer−”LS −C≦ LS(11厘11QI+ L*(21m ”vali” LS(3)  霧 ”Tl′ L9+41 − ”@(tl d4vision″LS
(5)  −CINAX” LS(61m ”Incorporated”FOR1
% −I To) LS 冨LS + LS(IJI EXT L≦(7)富5PACE≦(79−LBH(L句)A9
− LEF’r9(A5 + BLNK5,79)B5
− IJFTS(B9 + BLNK9.79− LE
N(VERB + !9))  + VER5COLO
R11,O+ PRINT STR工NG55(79,
CHRS(1961)COLOR14,O+ PR工N
TB9;C0LOR7,On PR工NTS9iCOL
OR15,01PRINT ASCOLOR11,O+
 PRINT STR工NGS(79,CHRS(19
6))COLOR11,O+ PRINT C91CO
LOR14,0+ PRINT LS(11゜C0LO
R11,O+  PRINT LS(2);C0LOR
14,O+ PR工NTL9(31゜C0LOR11,
01PRINT LS(41FCOLOR14,O: 
PRINT LS(511COLOR11,O+ PR
XNT LS(61jCOLOR14,0+ PRXN
T tJ(7)iCOLOR11,Q+  PRXNT
 LS(8TXMERON T 露 TIMER WHILE timer  (T + lI  WEN
DLOCATE 5.l:  PRINT BLNK9
)LOCATE 24.  l: PRXNT 5TR
INGS9(79,CHRS(1961);ETURN HEAD+ reen heading COLOR14,Q:  cLs As=”ScanTechCorpotationBr
eckenzidgeColo【ad。
LISA” B5−5CNX 1.0  Asssembly Ve
rification”A$冨A$÷5PACE亭(7
9−LEN(A91)BS −LEFT9+BS + 
BLNIC9,79−LENtVER亭+ 5S)l 
 + VERSCOLOR11,O+ PRXNT 5
TRXNG9(79,CHRS(19611COLOR
14,O: PRXNT B釣C0LOR7,O: P
RINT ScIC0LOR15,0+ PRINT 
71COLOR11,O+ PRXNT 5TRING
亭(79,CHRS(1961)LOCATE 24.
l: C0LOR11,08PRINT 5TRING
S(79゜CHRS(19611; ETURN XIT、OPT+  ’              
                  iヒ opti
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IF  XIT、FLG亀 THEN MSG9 X  FATAL ERROR+ERR,M
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N)”EQ%冨’1’RUE% GO9UB  Fr、MSG END  工F IP INS  O”Y″AND OS  OD″TH
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番3.  N、PA!95亀、  ”PASSED″W
RITE $3. N、FAIL%、  FAILED
”END  IP LO8E END  ’End 5CNX
【図面の簡単な説明】
第1図は、コンベア上に配設されている3つの工作物の
概略図と走査ヘッドの横断面図と走査ヘッドから伝送さ
れる情報を処理するために設けられている回路網のブロ
ック図とから成るアッセンブリ検証装置全体の概略図で
あり、その際工作物はそれぞれ、その中に1つまたは2
つのギアが見えるように切欠いて示されており、第2図
は、走査ヘッドの拡大横断面であり、第3図は、第2図
の線3−3に沿って切断してみた走査ヘッドの水平断面
図であり、第4図はフローティングサブアッセンブリお
よび荷重サブアッセンブリを含んでいる走査ヘッドの一
部を示す拡大横断面図であり、第5図は第2図の線5−
5に沿って切断してみた走査ヘッドの水平断面図であり
、第6図はアッセンブリ検証装置の使用により実現され
た、工作物の試験のプリントアウトの1例を示す図であ
る。 lO・・・走査ヘッド、12・・・工作物、14・・・
信号処理回路網、30・・・ロードセルサブアッセンブ
リ、46・・・磁界発生器、48・・・AD変換器、5
0・・・処理装置、51・・・プロセッサ、52・・・
メそり、53・・・入カニニット、68・・・モニタ第
4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検査アッセンブリから少なくとも1つの強磁性体
    エレメントが欠落しいてるか否かを定量的に測定する方
    法において、該方法は:磁界発生装置を使用するように
    し、 さらに該磁界発生装置に応動して出力信号を形成する装
    置を使用するようにし; さらに該形成装置に応動する処理装置とを使用するよう
    にし;該処理装置が; 少なくとも1つの基準強磁性体に関連づけた値を形成す
    るようにし; 該基準強磁性体関連値を記憶するようにし;検査のため
    にアッセンブリを前記装置に対して相対的に位置決めす
    るようにし、この位置定めの場合にこのアッセンブリは
    、強磁性体材料を有する少なくとも1つの強磁性体コン
    ポーネントを有するようにし; 該位置決めステップ後に前記形成装置から前記出力信号
    を得るようにし、該出力信号が前記の少なくとも1つの
    強磁性体コンポーネントを定量的に表わすようにし; 前記の基準強磁性体関連値と前記出力信号とを用いて、
    被検査アッセンブリから欠落している前記の少なくとも
    1つの強磁性体コンポーネントを測定するようにし; さらに前記処理装置を用いて被検査アッセンブリから少
    なくとも1つの強磁性体コンポーネントが欠落している
    か否かの表示情報を出力するようにしたことを特徴とす
    る、被検査アッセンブリから少なくとも1つの強磁性体
    エレメントが欠落しているか否かを定量的に測定する方
    法。 2、位置決めステップが検査のためにアッセンブリを、
    アッセンブリの検査の間中、固定静止の位置に保持する
    過程を含むようにした請求項1記載の方法。 3、基準強磁性体関連値を形成するステップが、基準ア
    ッセンブリを前記磁界発生装置に対して位置決めする過
    程と、前記出力信号形成装置からの基準出力信号を処理
    する過程とを含むようにした請求項1記載の方法。 4、前記測定ステップが前記基準強磁性体関連値を、前
    記強磁性体コンポーネントの定量的な値と比較する過程
    を含むようにした請求項1記載の方法。 5、前記の出力ステップが、被検査アッセンブリから欠
    落している各強磁性体コンポーネントの同定確認を示す
    過程を含むようにした請求項1記載の方法。 6、前記の出力ステップが、被検査アッセンブリから欠
    落している各強磁性体コンポーネントの位置を示す過程
    を含むようにした請求項5記載の方法。 7、前記の少なくとも1つの基準強磁性体関連値を形成
    するステップが、基準アッセンブリ中の各強磁性体コン
    ポーネントに対する基準強磁性体関連値を測定する過程
    を含むようにした請求項3記載の方法。 8、測定ステップが、被検査アッセンブリから少なくと
    も1つの強磁性体コンポーネントが欠落している時に常
    に、この少なくとも1つの欠落している強磁性体コンポ
    ーネントを同定確認するために、前記の基準強磁性体関
    連値の少なくとも1つを用いる過程を含むようにした請
    求項7記載の方法。 9、少なくとも1つの基準強磁性体関連値を形成するス
    テップが、基準アッセンブリの少なくとも1つの強磁性
    体コンポーネントに関連する許容値を入力する過程を含
    むようにした請求項3記載の方法。 10、出力信号を形成する装置を使用するステップが、
    該形成装置からの出力信号の改善された感度が得られた
    時に、該形成装置からロードを除去する過程を含むよう
    にした請求項1記載の方法。 11、出力信号形成装置を使用するステップが、該形成
    装置の著しく大きい負の帯磁を阻止する過程を含むよう
    にした請求項10記載の方法。 12、被検査アッセンブリから少なくとも1つの強磁性
    体コンポーネントが欠落しているか否かを定量的に測定
    する装置において; 検査のためにアッセンブリを保持する装置を設け、該保
    持装置においてアッセンブリが少なくとも1つの強磁性
    体コンポーネントを有するようにし; さらに磁界発生装置を設け、該装置の中でアッセンブリ
    を磁界内に配置するようにし; さらに該磁界発生装置に応動して、被検査アッセンブリ
    の少なくとも1つの強磁性体コンポーネントの定量的な
    出力信号を形成する装置を設け、 さらに前記出力信号形成装置からの出力信 号に応動して、少なくとも1つの強磁性体コンポーネン
    トに対する強磁性に関連する大きさを定量的に測定する
    処理装置を設け、該処理装置は基準強磁性体関連値を記
    憶する装置を含むようにし、さらに該処理装置において
    前記強磁性体関連値と前記強磁性に関連する大きさは、
    被検査アッセンブリから少なくとも1つの強磁性体コン
    ポーネントが欠落しているか否かを測定するために用い
    られるようにしたことを特徴とする、被検査アッセンブ
    リから少なくとも1つの強磁性体コンポーネントが欠落
    しているか否かを定量的に測定する装置。 13、磁界発生装置が磁石装置および保持装置を含み、
    該保持装置を磁石装置と出力信号形成装置との間に配置
    した請求項12記載の装置。 14、出力信号形成装置がロードセルを含むようにした
    請求項12記載の装置。 15、出力信号形成装置がさらに、支持装置と接続され
    ている、ロードセルを除去する装置を含むようにした請
    求項14記載の装置。 16、ロードセル除去装置が第1および第2磁石を含み
    、該除去装置において両磁石の同じ極を、両磁石を離反
    しようとする反撥力が両磁石間に存在するように対向さ
    せた請求項15記載の装置。 17、ロードセル除去装置がさらに、この除去装置に接
    続されて、該ロードセルの著しく大きい負の帯磁を阻止
    する装置を含むようにした請求項15記載の装置。 18、前記阻止装置が磁界発生装置と作用結合する装置
    を含み、さらに該阻止装置が前記磁界発生装置の少なく
    とも複数個の部分の運動を阻止する調整装置を含むよう
    にした請求項17記載の装置。 19、前記磁石装置が永久磁石を含むようにした請求項
    13記載の装置。 20、基準強磁性体関連値が、アッセンブリ中の強磁性
    体コンポーネントの全部を表わすようにした請求項12
    記載の装置。 21、処理装置がキーボード装置および、被検査アッセ
    ンブリの少なくとも1つの強磁性体コンポーネントに関
    する情報を表示する装置を含むようにした請求項12記
    載の装置。 22、処理装置が出力信号形成装置からの出力信号をデ
    ィジタル信号に変換する装置を有するようにした請求項
    12記載の装置。
JP1078750A 1988-04-01 1989-03-31 被検査アツセンブリから少なくとも1つの強磁性体が欠落しているか否かを定量的に測定する方法および装置 Pending JPH0222591A (ja)

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