JPH02227785A - 円あるいは菱形マークの認識方法 - Google Patents
円あるいは菱形マークの認識方法Info
- Publication number
- JPH02227785A JPH02227785A JP1046547A JP4654789A JPH02227785A JP H02227785 A JPH02227785 A JP H02227785A JP 1046547 A JP1046547 A JP 1046547A JP 4654789 A JP4654789 A JP 4654789A JP H02227785 A JPH02227785 A JP H02227785A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mark
- axis
- coordinates
- center
- circle
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Image Analysis (AREA)
- Multi-Process Working Machines And Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子部品搭載機において、成子部品をプリント
基板上へ高精度に4滅する為に、プリント基板上のマー
クを認識し、その位置ずれを補正して搭載するマーク認
識率の向上をはかる円あるいは菱形マークの認識方法に
関する。
基板上へ高精度に4滅する為に、プリント基板上のマー
クを認識し、その位置ずれを補正して搭載するマーク認
識率の向上をはかる円あるいは菱形マークの認識方法に
関する。
プリント基板上の円マークと電子部品の関係を第5図に
示す。電子部品搭載機は円マークと電子部品の相対位t
X/ 、 Y/は一定のデータとし、プリント基板上
の円マークを認識してプリント基板のばらつきX、Yを
認識し、それに従い電子部品搭載位置を補正し、精度よ
く搭載する。円マークの認識はカメラにて入力した白黒
画像のメモリ情報(第6図に示す。)により行っている
。
示す。電子部品搭載機は円マークと電子部品の相対位t
X/ 、 Y/は一定のデータとし、プリント基板上
の円マークを認識してプリント基板のばらつきX、Yを
認識し、それに従い電子部品搭載位置を補正し、精度よ
く搭載する。円マークの認識はカメラにて入力した白黒
画像のメモリ情報(第6図に示す。)により行っている
。
この円マーク認識の従来の方法は第6図に示すように、
画像メモリΦ内へ記憶された背景の白画素(明)と円マ
ーク認識5の黒画素(暗)の数を数えて行うものである
。例えば、Y方向の円マーク中心位直はAA’上の白画
素の数が41黒画素の数がlの場合、円マークの中心は
基準の左端から計算してl□+12/2となる。
画像メモリΦ内へ記憶された背景の白画素(明)と円マ
ーク認識5の黒画素(暗)の数を数えて行うものである
。例えば、Y方向の円マーク中心位直はAA’上の白画
素の数が41黒画素の数がlの場合、円マークの中心は
基準の左端から計算してl□+12/2となる。
このようにして、プリント基板0円マーク中心を認識し
、プリント板のずれを補正して、精度よく′電子部品を
搭載する。
、プリント板のずれを補正して、精度よく′電子部品を
搭載する。
なお、この種の装置として関連するものには、[センナ
技術J 1987年5月号90貞〜93頁に記載のLS
Iマウンタ等がある。
技術J 1987年5月号90貞〜93頁に記載のLS
Iマウンタ等がある。
上記従来技術では、第7図の様にカメラから入力したデ
ータが欠け、変形状態であった場合に誤った中心位直な
算出してしまう。又第8図の様に基板のずれが大きく、
菱形マークの場合も誤った中心位直を算出してしまう問
題があった。
ータが欠け、変形状態であった場合に誤った中心位直な
算出してしまう。又第8図の様に基板のずれが大きく、
菱形マークの場合も誤った中心位直を算出してしまう問
題があった。
本発明は上記のような場合でもマーク中心を認識できる
認識方法を提供することを目的とする。
認識方法を提供することを目的とする。
上記目的は、マークのX方向つ両端点をサーチし、その
X−Y座標を求める方式を採用することにより達成され
る。
X−Y座標を求める方式を採用することにより達成され
る。
円及び煩いた菱形であっても、両端点の距離(ピッチ)
は円の直径あるいは菱形の対角長さに等しくなる為、カ
メラより入力したマークデータの両端点のピッチが本来
のピッチに比べ、差が大きい場合は、マークデータが不
良であるとわかるので、誤った中心位直を算出・認識す
ることがない〔実施例〕 以下、本発明の一実施例を第1図、第2図により説明す
る。
は円の直径あるいは菱形の対角長さに等しくなる為、カ
メラより入力したマークデータの両端点のピッチが本来
のピッチに比べ、差が大きい場合は、マークデータが不
良であるとわかるので、誤った中心位直を算出・認識す
ることがない〔実施例〕 以下、本発明の一実施例を第1図、第2図により説明す
る。
カメ2にて入力した画像メモリが、第1図の場合は、第
2図のフローチャートに示すようVこ、まずAA’軸上
で白画素(明)及び黒画素(暗)の数11、112 を
計数する、AA’軸を右へ移動して行き、黒画素数がO
から1以上に変わったX方向の座標なx1又その時のA
A細軸上黒画素の中心位直をyl(−111+#2/2
)とする。さらにAA’軸を右へ移動して、黒画素数
が1以上から0に変わったX方向の座標から1を引いた
直をx、x位置のAA′細軸上黒画素の中心位直を、V
2(=l、’ ±12’ /2)とする。これでマーク
のX方向の両端点のX・Y座標が求まったことになるが
、この両端点のピッチLが、あらかじめ設定されている
マークの対角長さL′と比軸して、その差が任意の範囲
(±ΔL)を超えていれば、データエラーとして処理す
る。第8図、第4図のように入力したマークデータが変
形していた場合は、この時点で、データエラーとして処
理されるので、誤認識による搭載精度不良はほとんどな
くなる効果がある。
2図のフローチャートに示すようVこ、まずAA’軸上
で白画素(明)及び黒画素(暗)の数11、112 を
計数する、AA’軸を右へ移動して行き、黒画素数がO
から1以上に変わったX方向の座標なx1又その時のA
A細軸上黒画素の中心位直をyl(−111+#2/2
)とする。さらにAA’軸を右へ移動して、黒画素数
が1以上から0に変わったX方向の座標から1を引いた
直をx、x位置のAA′細軸上黒画素の中心位直を、V
2(=l、’ ±12’ /2)とする。これでマーク
のX方向の両端点のX・Y座標が求まったことになるが
、この両端点のピッチLが、あらかじめ設定されている
マークの対角長さL′と比軸して、その差が任意の範囲
(±ΔL)を超えていれば、データエラーとして処理す
る。第8図、第4図のように入力したマークデータが変
形していた場合は、この時点で、データエラーとして処
理されるので、誤認識による搭載精度不良はほとんどな
くなる効果がある。
マークデータが正常(1,/−ΔL≦L≦L′+ΔL)
の場合は、両端点の中間点がマークの中心位直であるの
で、プリント基板のずれが求まり、これに基づいて搭載
データを補正し、電子部品を精度良く搭載するものであ
る。
の場合は、両端点の中間点がマークの中心位直であるの
で、プリント基板のずれが求まり、これに基づいて搭載
データを補正し、電子部品を精度良く搭載するものであ
る。
本発明によれば、円・菱形のどちらのマークでも、入力
したマークデータの良・否判別を行い、正しくマーク中
心を認識することができ、電子部品を正しく搭載できる
効果がある。
したマークデータの良・否判別を行い、正しくマーク中
心を認識することができ、電子部品を正しく搭載できる
効果がある。
第1図、第8図、第4図は本発明の一実施例のマーク画
1象のメモリー内の配置図、第2図は本発明のマーク中
心認識のフローチャート図を示す。 第5図はプリント基板のマークと゛電子部品の関係を示
す配置図。第6図、第7図、第8図は従来のマーク画像
のメモリー内の配置図である。 ■・・・プリント基板 2・・・電子部品 8・・
・基板マーク 4・・・面識メモリ 5・・・マー
ク画像6・・・明暗(白黒)Vベル 7・・・設定マーク形 状。
1象のメモリー内の配置図、第2図は本発明のマーク中
心認識のフローチャート図を示す。 第5図はプリント基板のマークと゛電子部品の関係を示
す配置図。第6図、第7図、第8図は従来のマーク画像
のメモリー内の配置図である。 ■・・・プリント基板 2・・・電子部品 8・・
・基板マーク 4・・・面識メモリ 5・・・マー
ク画像6・・・明暗(白黒)Vベル 7・・・設定マーク形 状。
Claims (1)
- 1.カメラより入力したプリント基板上の円あるいは菱
形マークの中心位直を求める方法において、マークのX
方向の両端点のXY座標を求め、入力したマークデータ
の良・否判別をしたのちマーク中心を求めることを特徴
とする円あるいは菱形マークの認識方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046547A JPH02227785A (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 円あるいは菱形マークの認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046547A JPH02227785A (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 円あるいは菱形マークの認識方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02227785A true JPH02227785A (ja) | 1990-09-10 |
Family
ID=12750339
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1046547A Pending JPH02227785A (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 円あるいは菱形マークの認識方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02227785A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04165479A (ja) * | 1990-09-12 | 1992-06-11 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | ワーク検出装置 |
-
1989
- 1989-03-01 JP JP1046547A patent/JPH02227785A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04165479A (ja) * | 1990-09-12 | 1992-06-11 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | ワーク検出装置 |
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