JPH02227972A - 半導体装置の接触装置 - Google Patents

半導体装置の接触装置

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JPH02227972A
JPH02227972A JP4931389A JP4931389A JPH02227972A JP H02227972 A JPH02227972 A JP H02227972A JP 4931389 A JP4931389 A JP 4931389A JP 4931389 A JP4931389 A JP 4931389A JP H02227972 A JPH02227972 A JP H02227972A
Authority
JP
Japan
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contact
lead
contacting
face
external electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP4931389A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryoji Nishibashi
西橋 良二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4931389A priority Critical patent/JPH02227972A/ja
Publication of JPH02227972A publication Critical patent/JPH02227972A/ja
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/325—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by abutting or pinching; Mechanical auxiliary parts therefor

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体装置の外部電極と、他の導電部との間
に介在し、両者の電気的接続を行なうための接触装置に
関するものである。
〔従来の技術〕
第5図は従来のこの種接触装置を示す概略図であり、困
中、(1)は半導体装置であるIC素子、(2)はIC
素子の外部電極となるリードで、IC素子の周縁部から
外方に向けて多数設けられている。
(3)はlCC禁令装着するためのソケット、(4)は
このソケットに設けられたコンタクトビンで、IC素子
の各リード(2)に対応する位置に夫々設けられ、各リ
ードの下面に接触することにより各リードとの電気的接
続が行なわれる。
(5)はIc素子の各リードの上面に当接され、押圧す
ることにより、各リードを夫々対応するコンタクトビン
に圧接させるリード押えで、ソケット(3)に対してヒ
ンジ(6)で結合された可動部(7)に装着されており
、可動部(7)をソケット(3)側に回動することによ
り各リードを押圧し得るようにされている。第6図はこ
のようにしてリード(2)を押圧している状態を概略的
に示したものである。なお、第6図では可動部(7)の
図示を省略している。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の接触装置は以上のように構成されているため、I
C素子のリード(2)の先端部が第7図に示すように、
水平状態ではなく、先端に向かって傾斜するような形に
変形しているような場合には、コンタクトビン(4)と
の接触状態が第7図のようになり、点接触となって十分
な導通が得られない。
又、リード(2)の先端部が水平状態になっていたとυ
て コ田も横方向に折曲していたり、その他の変形によって
先端部が所定の位置にない場合には、第8図に示すよう
に、リード(2)がコンタクトピン(4)から滑落し、
仁の場合も十分な導通が得られないという8題があった
。
なお、滑落の問題に関しては、リード(2)が変形コン
タクトビン(4)がたわむことによっても発生する場合
があり、又、リード(2)がコンタクトピン(4)に当
接した際、コンタクトピンによってリードが折り曲げら
れる場合もある。このような問題はリード(2)のピッ
チが細かくなり、又、リード(2)の巾や厚み寸法が小
さくなるに従ってますます発生しやすくなるものである
。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、リードの先端部が水平状態でなくでも点接触
になることがなく、又、リードがコンタクトピンから滑
落することがなく、良好な接触状態を保ち得る接触装置
を提供しようとするものである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る接触装置は、導電性のよい金属の箔及び
この箔と同形状で弾性を有する絶縁膜を交互に重ね合せ
て一体に構成し、その端面を半導体装置の外部電極に当
接し、接触させるようにしたものである。
〔作用〕
この発明によれば金属箔と弾性のある絶縁膜とを交互に
重ねt合せたもの一端面に半導体装置の(外部電極が当
接されることになり端面が大きいため、外部電極が変形
していても端面から滑落するという仁とはない。そして
リードとの導通はリードと金属箔との接触によって得ら
れ、接触圧力は絶縁膜の弾性によって得られる。又、リ
ードの変形の程度が大きい場1合でも、その変形に応じ
て金属箔及び絶縁膜が変形するために、点接触になるこ
とはない。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例を第1図について説明する。
この図において、(1)は半導体装置であるIC素子、
(2)はIC素子の外部電極となるリードで、IC素子
の周縁部から外方に向けて多数設けられている。(8)
はコンタクト部、(9)はコンタクト部に装着されたプ
リント基板で、IC素子の各リード(2)に対応した端
子部01を印刷パターンとする印刷回路を有している。
なお、各端子部Qlは図示しない外部回路との接続が可
能なように構成されているものである。
aηは各端子部Qqのパターン上に設けられ、各端子部
αQとIC素子の各リード(2)とを接続する接触装置
で、第2図にその詳細構成を示す。即ち、電気抵抗が低
くて導電性のよい金属の箔(1囚と、この箔と同形状で
同程度の厚さを有し、弾性の大きい絶縁材、例えばゴム
等からなる膜(IIB)とを交互に重ね合せて接着或は
熱融着により一体的に成形したものである。
このように構成された接触装置の端面が、端子部−に接
するようにして第1図に示す如く、ブリット基板(9)
上に配置される。第1図では1箇所のに配置された各接
触装flQl)の上側端面に、第1図番ζ示すIc素子
のリード(2)を当接し、更にその上面からリード押え
(2)によって各リード(27を接触装置0ηの上側端
面に押圧し、リード(2)と接触装置の金属箔(nA)
、更にプリント基板の端子部−との接触を十分に行なう
。
第3図はこの状態を概略的に示したもので、接触装置a
uの絶縁膜(nB)の弾性によって、図示のように接触
装置avが変形し、リード(2)と接触装置0υと端子
部Qり相互間の接触が保たれる。この場合、金属箔(I
IA)及び絶縁膜(IIB)の厚さを十分に薄くすれば
、IC素子のリード(2)の巾寸法内に複数の金属箔(
IIA)が存在することになり、リード(2)と金属箔
(IIA)との接触面積が増加するため一層良好な導電
状態が得られることになる。
第4図はIC素子のリード(2)が変形している場合の
接触状態を示すものであるが、絶縁膜(13E)の弾性
によって接触装置Qυの端面がリード(2)の表面に沿
うような形で変形するため、点接触となるようなことが
なく、良好な導電状態が得られる。又、接触装置の端面
が大きいためリード(2)が端面から滑落するような事
態を招くことがない。更に、各リード(2)相互間の絶
縁は金属箔(IIA)の相互間に設けられている絶縁膜
(uB)によって保持されることになる。なお、リード
押えa)による押圧力を解除した場合には、絶縁膜(l
的の復元力によって接触装置QIJの端面ば平担な状態
に復帰するものである。
〔発明の効果〕
この発明は以上のように構成され、接触装置に柔軟性を
持たせたため、IC素子のリードの先端部が水平状態で
ない場合でもリードと接触装置との接触状態を良好に保
つことができ良好な導電状態が得られる他、接触装置が
リード自体を変形させるような事態を招く恐れがない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す概略図、第2図は上
記実施例の主要部を構成する接触装置の詳細構成を示す
拡大図、第3図及び第4図はリードと接触装置との接触
状態を示す拡大図、第5図は従来の接触装置を示す概略
図、第6図は従来のIC素子をソケットに装着した状態
を示す概略断面図、第7図及び第8図は従来の接触装置
における問題点を説明するための説明図である。 図において、(1)はIC素子、(2)はリード、(8
月よコンタクト部、(9)はプリント基板、 00は端
子部、CAvは接触装置、(IIA)は金属箔、(1迅
)は絶縁膜、(ロ)はリード押えである。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 弁理士  大 岩 増 雄

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体装置の外部電極を接触装置を介して他の導電部
    に接続するようにしたものにおいて、上記接触装置は導
    電性のよい金属の箔及びこの箔と同形状で弾性を有する
    絶縁膜を交互に重ね合せて一体に構成すると共に、その
    端面を上記半導体装置の外部電極に当接するようにした
    ことを特徴とする半導体装置の接触装置。
JP4931389A 1989-03-01 1989-03-01 半導体装置の接触装置 Pending JPH02227972A (ja)

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JP4931389A JPH02227972A (ja) 1989-03-01 1989-03-01 半導体装置の接触装置

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JP4931389A JPH02227972A (ja) 1989-03-01 1989-03-01 半導体装置の接触装置

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JPH02227972A true JPH02227972A (ja) 1990-09-11

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ID=12827474

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JP4931389A Pending JPH02227972A (ja) 1989-03-01 1989-03-01 半導体装置の接触装置

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JP (1) JPH02227972A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57205976A (en) * 1981-06-15 1982-12-17 Kanegafuchi Chemical Ind Columnar structure for anisotropic conductive interconnector
JPS6257394B2 (ja) * 1977-10-25 1987-12-01 Ea Ind Anuironman

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6257394B2 (ja) * 1977-10-25 1987-12-01 Ea Ind Anuironman
JPS57205976A (en) * 1981-06-15 1982-12-17 Kanegafuchi Chemical Ind Columnar structure for anisotropic conductive interconnector

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