JPH02228501A - 軸体の軸線に直交されて形成された穴の芯ずれ測定方法 - Google Patents
軸体の軸線に直交されて形成された穴の芯ずれ測定方法Info
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- JPH02228501A JPH02228501A JP5070189A JP5070189A JPH02228501A JP H02228501 A JPH02228501 A JP H02228501A JP 5070189 A JP5070189 A JP 5070189A JP 5070189 A JP5070189 A JP 5070189A JP H02228501 A JPH02228501 A JP H02228501A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 12
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えば歯車が取付けられる軸体の軸線に直
交されて形成された穴の芯ずれ測定方法に関するもので
ある。
交されて形成された穴の芯ずれ測定方法に関するもので
ある。
従来、軸体の軸線に直交されて形成された穴の芯ずれ測
定は、割出台を用いて測定する方法と三次元測定装置で
測定する方法等が用いられていた。
定は、割出台を用いて測定する方法と三次元測定装置で
測定する方法等が用いられていた。
第２図に示すように軸１の軸線に直交され−Ｃ形成され
た穴２の芯ずれを割出台を用いて測定する方法並びに三
次元測定装置により測定する方法等の何れも、操作上難
点があり、誰でもが簡単に測定できるものではなかった
。
た穴２の芯ずれを割出台を用いて測定する方法並びに三
次元測定装置により測定する方法等の何れも、操作上難
点があり、誰でもが簡単に測定できるものではなかった
。
そこで、この発明は、直線的な距離を測定する測定器に
新規な測定子を取付け、基盤上に測定すべき穴にピンが
挿入された軸体をセットすれば誰でも簡単に測定精度を
劣化させることなくかつ迅速に芯ずれを測定できる方法
を提供することを目的とする。
新規な測定子を取付け、基盤上に測定すべき穴にピンが
挿入された軸体をセットすれば誰でも簡単に測定精度を
劣化させることなくかつ迅速に芯ずれを測定できる方法
を提供することを目的とする。
上述の目的を達成するため、この発明は、直線的な距離
を測定する測定器のスライド杆の先端に対向して設けた
基盤上に穴にピンが挿入された測定対象物である軸体を
寝かせてセットし、スライド杆の先端にピンの穴から突
出する両端に基盤平面と平行する底面が当接する測定子
を取付けて上方からこの測定子でピンを押さえたときの
測定器による測定値を基準値とし、次いで軸体を反転さ
せて測定子をピンの両端に当接させて測定して基準値と
の誤差の１／２を計算するようにしたものである。
を測定する測定器のスライド杆の先端に対向して設けた
基盤上に穴にピンが挿入された測定対象物である軸体を
寝かせてセットし、スライド杆の先端にピンの穴から突
出する両端に基盤平面と平行する底面が当接する測定子
を取付けて上方からこの測定子でピンを押さえたときの
測定器による測定値を基準値とし、次いで軸体を反転さ
せて測定子をピンの両端に当接させて測定して基準値と
の誤差の１／２を計算するようにしたものである。
この発明では、ダイヤルゲージやデジタルリニアスケー
ル（Ｄ、 Ｌ、 Ｓ）等の測定器のスライド杆の先
端に測定子を設け、基盤上に穴にピンが挿入された軸体
を寝かせてセットし、スライド杆を下降させて測定子の
底面をピンの穴から突出する両端に当接させ、この状態
で測定器の測定値を零とし、次いで軸体を反転して同様
に測定子を当て、そのときの値の１／２が芯すれとなる
。
ル（Ｄ、 Ｌ、 Ｓ）等の測定器のスライド杆の先
端に測定子を設け、基盤上に穴にピンが挿入された軸体
を寝かせてセットし、スライド杆を下降させて測定子の
底面をピンの穴から突出する両端に当接させ、この状態
で測定器の測定値を零とし、次いで軸体を反転して同様
に測定子を当て、そのときの値の１／２が芯すれとなる
。
以下に、この発明の好適な実施例を図面を参照にして説
明する。
明する。
直線的な距離を測定する、例えばデジタルリニアスケー
ル等の測定器３のスライド杆４の先端に測定子５を取付
け、測定器３をスタンド６にセットし、このスタンド６
には測定子５の底面とその上部平面とが平行する基盤７
を設ける。基盤７上には軸体ｌを寝かせてセットするが
、この軸体１の軸線に直交されて形成された穴２内には
ピン８を挿入し、この穴２からピン８の両端が突出する
ようにしておく。この第１図に示す状態でスライド杆４
を下降させて測定子５の底面でピン８の両端を押さえる
。この状態は第３図に示す通りであり、測定子５の底面
がピン８の両端に当接した状態で測定器３を零にセット
する。次いで基盤７上の軸体１を反転して第３図に示す
と同様に測定子５をピン８に当接させる。このときの測
定値の１７２が芯すれとなる。
ル等の測定器３のスライド杆４の先端に測定子５を取付
け、測定器３をスタンド６にセットし、このスタンド６
には測定子５の底面とその上部平面とが平行する基盤７
を設ける。基盤７上には軸体ｌを寝かせてセットするが
、この軸体１の軸線に直交されて形成された穴２内には
ピン８を挿入し、この穴２からピン８の両端が突出する
ようにしておく。この第１図に示す状態でスライド杆４
を下降させて測定子５の底面でピン８の両端を押さえる
。この状態は第３図に示す通りであり、測定子５の底面
がピン８の両端に当接した状態で測定器３を零にセット
する。次いで基盤７上の軸体１を反転して第３図に示す
と同様に測定子５をピン８に当接させる。このときの測
定値の１７２が芯すれとなる。
使用した測定子５は、その底面と基盤７との平行度が５
ミクロン以内のものを用い、第２図に示すφＤが５Ｍの
ものに対しφＤが１．５闘の穴２を形成した測定対象物
の測定をした結果と所要時間は平均値で芯ずれ“０．０
８２５ｍｍ：２０秒／個であった。
ミクロン以内のものを用い、第２図に示すφＤが５Ｍの
ものに対しφＤが１．５闘の穴２を形成した測定対象物
の測定をした結果と所要時間は平均値で芯ずれ“０．０
８２５ｍｍ：２０秒／個であった。
これに対して、従来の割出台を用いての結果と所要時間
は、平均値で芯ずれ０．０７９ｍｍ；１３〜１５秒／個
、三次元測定装置を用いての結果は、０．０７７ｍｍ；
７分／個である。
は、平均値で芯ずれ０．０７９ｍｍ；１３〜１５秒／個
、三次元測定装置を用いての結果は、０．０７７ｍｍ；
７分／個である。
この方法は短時間で極めて精度が高いことが判明した。
また、従来の割出台を用いる場合には、穴２に挿入され
るピン８は穴２に対してガタつきがないようなもの（ピ
ン８の直径とφｄとの差が少ない）が使用されていたが
、この発明ではピン８が穴２に対して多少のガタつきが
生じるようなものであっても測定精度は変わらない。従
って、ピンを細かな寸法ステップで用意しなくとも充分
である。
るピン８は穴２に対してガタつきがないようなもの（ピ
ン８の直径とφｄとの差が少ない）が使用されていたが
、この発明ではピン８が穴２に対して多少のガタつきが
生じるようなものであっても測定精度は変わらない。従
って、ピンを細かな寸法ステップで用意しなくとも充分
である。
測定子５の形状は両端に平らな底面を有し、中央部がア
ーチ状の窪みを有するものであり、上部にはスライド杆
４に取付けるためのねじ９を有しているものである。測
定対象物である軸体１の径が異なる場合に対応できるよ
うに数種類の大きさの測定子５を用意しておくことが望
ましい。
ーチ状の窪みを有するものであり、上部にはスライド杆
４に取付けるためのねじ９を有しているものである。測
定対象物である軸体１の径が異なる場合に対応できるよ
うに数種類の大きさの測定子５を用意しておくことが望
ましい。
第２図に示すような軸体１はボリュームのつまみ等の取
付けに用いたり、種々の精密機械等の回転軸に用いられ
る。
付けに用いたり、種々の精密機械等の回転軸に用いられ
る。
以上説明したように、この発明によれば、直線的な距離
を測定する測定器のスライド杆に測定子を取付け、この
測定子の底面と平行する平面を有する基盤上に軸体を寝
かせてセットし、測定子の底面を穴に挿入したピンの両
端に当接させて測定器で測定した値を基準値とし、軸体
を反転させて同様にして測定したときの値と基準値との
誤差の１／２を計算することにより穴の芯ずれが誰でも
容易に特別な習熟を必要とせずに短時間に高精度で測定
することができる。また、ピンと穴とに多少のガタがあ
っても良いのでピンを細かな寸法ステップで用意せずと
も対応できるものである。
を測定する測定器のスライド杆に測定子を取付け、この
測定子の底面と平行する平面を有する基盤上に軸体を寝
かせてセットし、測定子の底面を穴に挿入したピンの両
端に当接させて測定器で測定した値を基準値とし、軸体
を反転させて同様にして測定したときの値と基準値との
誤差の１／２を計算することにより穴の芯ずれが誰でも
容易に特別な習熟を必要とせずに短時間に高精度で測定
することができる。また、ピンと穴とに多少のガタがあ
っても良いのでピンを細かな寸法ステップで用意せずと
も対応できるものである。
第１図はこの発明の測定方法に用いられる装置全体を示
す側面図、第２図は測定対象物である軸体を示す側面図
、第３図は測定状態の部分的拡大図である。 １・・・軸体、 ２・・・穴、 ３・・・測定器、 ４・・・スライド杆、 ５・・・測定子、 Ｔ・・・基盤、 ８・・・ビン。
す側面図、第２図は測定対象物である軸体を示す側面図
、第３図は測定状態の部分的拡大図である。 １・・・軸体、 ２・・・穴、 ３・・・測定器、 ４・・・スライド杆、 ５・・・測定子、 Ｔ・・・基盤、 ８・・・ビン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、直線的な距離を測定する測定器のスライド杆の先端
に対向して設けた基盤上に穴にピンが挿入された測定対
象物である軸体を寝かせてセットし、 スライド杆の先端にピンの穴から突出する両端に基盤平
面と平行する底面が当接する測定子を取付けて上方から
この測定子でピンを押さえたときの測定器による測定値
を基準値とし、 次いで軸体を反転させて測定子をピンの両端に当接させ
て測定して基準値との誤差の１／２を計算することを特
徴とする軸体の軸線に直交されて形成された穴の芯ずれ
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1050701A JP2689393B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 軸体の軸線に直交されて形成された穴の芯ずれ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1050701A JP2689393B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 軸体の軸線に直交されて形成された穴の芯ずれ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02228501A true JPH02228501A (ja) | 1990-09-11 |
| JP2689393B2 JP2689393B2 (ja) | 1997-12-10 |
Family
ID=12866205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1050701A Expired - Fee Related JP2689393B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 軸体の軸線に直交されて形成された穴の芯ずれ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2689393B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0181256U (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-31 |
-
1989
- 1989-03-01 JP JP1050701A patent/JP2689393B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0181256U (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-31 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2689393B2 (ja) | 1997-12-10 |
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|---|---|---|---|
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