JPH1123255A - 真円度測定機及びその検出器感度校正方法 - Google Patents

真円度測定機及びその検出器感度校正方法

Info

Publication number
JPH1123255A
JPH1123255A JP9197722A JP19772297A JPH1123255A JP H1123255 A JPH1123255 A JP H1123255A JP 9197722 A JP9197722 A JP 9197722A JP 19772297 A JP19772297 A JP 19772297A JP H1123255 A JPH1123255 A JP H1123255A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
sensitivity
reference gauge
work
face
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9197722A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3081174B2 (ja
Inventor
Yasuyuki Tokoi
安幸 床井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP09197722A priority Critical patent/JP3081174B2/ja
Priority to US09/221,159 priority patent/US6092411A/en
Publication of JPH1123255A publication Critical patent/JPH1123255A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3081174B2 publication Critical patent/JP3081174B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042Calibration or calibration artifacts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検出器の感度校正が短時間でできる真円度測
定機の検出器感度校正方法を提供する。 【解決手段】 互いに平行で段差寸法が既知の2面を上
面に有する基準ゲージを用意し、それをワークを載置す
るテーブルに載置する。そして、検出器又はテーブルを
回転させて基準ゲージの上面を測定し、得られた段差測
定値が既知の段差寸法に一致するように検出器の感度を
校正する。 【効果】検出器の取付け取外しが不要であるので検出器
の感度校正が短時間できる。また、検出器を支持する取
付け台を別に用意する必要もない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物(本明細
書では「ワーク」という。)の真円度や円柱形状を測定
する真円度測定機の検出器感度校正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】真円度測定機には、ベースに設けられた
回転テーブルにワークを載置しコラムに設けられた検出
器を固定又は上下動して測定するテーブル回転型のもの
や、回転しないテーブルにワークを載置して検出器を回
転又は上下動させて測定する検出器回転型のものがあ
る。テーブル回転型は小型の部品に、検出器回転型は大
型の部品に用いられる。
【0003】まず、検出器回転型の真円度測定機の一例
を説明すると、図1に示すように、ベース11に水平方
向(XY方向)移動自在に支持されたXYテーブル12
が設けられるとともに、ベース11にはコラム13が立
設され、コラム13にZテーブル14が鉛直方向(Z方
向移)動自在に支持されている。Zテーブル14の前側
には回転支持部15が設けられ、回転支持部15には鉛
直軸回りに回転するスピンドル16が内蔵されている。
そして、スピンドル16の下端には支持アーム17が固
着され、支持アーム17には検出器ホルダー18が水平
一軸方向移動自在に支持されている。
【0004】検出器回転型の真円度測定機はこのように
構成されており、ワークをXYテーブル12の上に載置
し固定した状態で、XYテーブル12を駆動してワーク
の測定部分の中心を検出器19の回転中心に概略(検出
器19の測定可能範囲内)に合わせた後、スピンドル1
6によって検出器19を回転させてワークの円周を測定
し、測定データから真円度を算出する。
【0005】また、テーブル回転型の真円度測定機では
図2に示すように、ベース21に鉛直軸回りに回転する
回転テーブル22が設けられるとともに、ベース21に
はコラム23が立設され、コラム23にZテーブル24
がZ方向移動自在に支持されている。Zテーブル24に
は検出器ホルダー25が水平一軸方向移動自在に支持さ
れており、その先端25aに検出器26が設けられてい
る。検出器26の測定子26aのY方向位置は回転テー
ブル22の中心にほぼ一致している。
【0006】テーブル回転型の真円度測定機はこのよう
に構成されており、ワークの測定部分の中心を回転テー
ブル22の回転中心に概略(検出器26の測定可能範囲
内)合わせてワークを回転テーブル22に載置してワー
クを回転さてワークの円周を測定し、測定データから真
円度を算出する。
【0007】いずれの真円度測定機も検出器19、26
はZテーブル14、24によって上下に移動可能である
ので、ワークの任意の高さで真円度測定ができる。これ
によって、各測定断面での真円度データから同軸度や円
柱形状の算出も可能となる。また、検出器19や回転テ
ーブル22を回転せずに上下移動させると真直度の測定
も可能である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、検出器1
9、26は一般的に差動トランス方式のものが用いられ
ており、差動トランスはアナログ式であるためブロック
ゲージ等の基準器との比較によって変位量が判定され
る。そのために、測定子19a、26aを交換した場合
や環境条件等が変化した場合には感度を校正する必要が
ある。校正する場合は、延長ロッド18aから検出器1
9を、又は検出器ホルダー25の先端25aから検出器
26を取り外し、別に用意した取付け台に検出器19、
26を取り付けて行う。
【0009】したがって、感度を校正するには検出器1
9、26の取付け取外しが必要であるので時間がかか
る。また、検出器19、26を支持する取付け台が別に
必要である。
【0010】本発明はこのような事情を鑑みてなされた
もので、真円度測定機でワークを測定する場合に、検出
器19、26の感度校正が短時間でき、検出器19、2
6を支持する取付け台を別に用意必要もない検出器感度
校正方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、真円度測定機に次のものを備える。 (イ)互いに平行で段差寸法が既知の2面を上面に有す
る基準ゲージ。 (ロ)基準ゲージの段差寸法を入力する入力部。 (ハ)検出器19又はテーブル22を回転させて基準ゲ
ージの上面を測定したときの段差測定値を算出する段差
測定値算出部。 (ニ)得られた段差測定値が既知の段差寸法に一致する
ように検出器19、26の感度を校正する感度校正部。
【0012】そして、次のようにして検出器19,26
の感度を校正する。 (イ)検出器19,26の検出方向をZ方向に設定す
る。 (ロ)基準ゲージをテーブル12、22にセットする。 (ハ)基準ゲージの段差寸法を入力する。 (ニ)検出器19又はテーブル22を回転させて基準ゲ
ージの上面を測定する。 (ホ)得られた段差測定値が既知の段差寸法に一致する
ように検出器19,26の感度を校正する。
【0013】この場合、基準ゲージは測定される部分が
円になるので、円筒や円柱の端面の一部に互いに平行な
2面を形成した形状にすればよい。その場合、互いに平
行な2面は同一円周上になければならないので、端面の
一部に凹面又は凸面を形成するようにする。
【0014】
【実施の形態】本発明に係る真円度測定機及びその検出
器感度校正方法の実施の形態の、基準ゲージを図3に、
ブロック図を図4に、フローチャートを図5に示す。こ
の実施の形態は検出器回転型の真円度測定機の場合につ
いてである。
【0015】図3に示すように、基準ゲージGは円筒形
状をしており、その上端面Gaの一部に凹面Gbが形成
されている。凹面Gbは上端面Gaに平行になってお
り、その段差寸法は10〜20μmである。
【0016】図4において、10は真円度測定機本体、
31はあらかじめ正確に求められている基準ゲージGの
段差寸法を入力する入力部である。段差測定値算出部3
2は、検出器19を回転させて基準ゲージGの上端面G
aを測定したときの段差測定値を算出する。感度校正部
33は、得られた段差測定値が既知の段差寸法に一致す
るように検出器19の感度を校正する。
【0017】次に検出器感度校正方法を、図5のフロー
チャートを用いて説明する。まず、図3に示すように検
出器19の検出方向をZ方向に設定する(ステップ4
1)とともに、基準ゲージGをテーブル12にセットす
る(ステップ42)。この場合、基準ゲージGの上端面
Gaは検出器19回転軸に対して直角にセットする必要
がある。次に、基準ゲージGの上端面Gaと凹面Gbと
の段差寸法を入力した(ステップ43)後、検出器19
を回転させ基準ゲージGの上端面Ga及び凹面Gbを測
定する(ステップ44)と、上端面Gaと凹面Gbとの
段差測定データが得られ、その測定データから段差測定
値が算出される(ステップ45)。そして、得られた段
差測定値が既知の段差寸法に一致するように検出器19
の感度が校正される(ステップ46)。検出器19の感
度が校正されると、再び検出器19の検出方向を水平方
向に設定し直してワーク測定を行う。
【0018】なお、実施の形態では、検出器回転型の真
円度測定機について述べたが、図2に示したようなテー
ブル回転型の真円度測定機についても同様に本発明が適
用できることはいうまでもない。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、真
円度測定機において、互いに平行で段差寸法が既知の2
面を上面に有する基準ゲージを用意し、これをワークを
載置するテーブルにセットして、検出器又はテーブルを
回転させて基準ゲージの上面を測定し、得られた段差測
定値が既知の段差寸法に一致するように検出器の感度を
校正するようにした。したがって、検出器の取付け取外
しが不要であるので検出器の感度校正が短時間でき、ま
た、検出器を支持する取付け台を別に用意する必要もな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】検出器回転型の真円度測定機の外観図
【図2】テーブル回転型の真円度測定機の外観図
【図3】本発明に係る実施の形態の基準ゲージ図
【図4】本発明に係る真円度測定機の実施の形態のブロ
ック図
【図5】本発明に係る検出器感度校正方法の実施の形態
のフローチャート
【符号の説明】
41……検出器設定ステップ 42……基準ゲージ載置ステップ 43……段差寸法入力ステップ 44……測定ステップ 45……段差測定値算出ステップ 46……感度校正ステップ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】検出器又はワークを回転させて、ワークの
    真円度等を測定する真円度測定機において、 互いに平行で段差寸法が既知の2面を上面に有する基準
    ゲージと、 前記基準ゲージの段差寸法を入力する入力部と、 前記検出器の検出方向を回転軸と平行な方向に設定し、
    前記検出器又はテーブルを回転させて前記基準ゲージの
    上面を測定したときの段差測定値を算出する段差測定値
    算出部と、 得られた段差測定値が既知の段差寸法に一致するように
    前記検出器の感度を校正する感度校正部と、を備えたこ
    とを特徴とする真円度測定機。
  2. 【請求項2】前記基準ゲージが円筒形状で、その端面の
    一部に凹面が形成されて互いに平行な2面が構成された
    ことを特徴とする請求項1に記載の真円度測定機。
  3. 【請求項3】検出器又はワークを回転させて、ワークの
    真円度等を測定する真円度測定機において、 前記検出器の検出方向を回転軸の方向に設定し、 互いに平行で段差寸法が既知の2面を上面に有する基準
    ゲージを、ワークを載置するテーブルに載置し、 前記基準ゲージの段差寸法を入力し、 前記検出器又は前記テーブルを回転させて前記基準ゲー
    ジの上面を測定し、 得られた段差測定値が既知の段差寸法に一致するように
    前記検出器の感度を校正することを特徴とする真円度測
    定機の検出器感度校正方法。
  4. 【請求項4】前記基準ゲージが円筒形状で、その端面の
    一部に凹面が形成されて互いに平行な2面が構成された
    ことを特徴とする請求項3に記載の真円度測定機の検出
    器感度校正方法。
JP09197722A 1997-07-08 1997-07-08 真円度測定機及びその検出器感度校正方法 Expired - Fee Related JP3081174B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09197722A JP3081174B2 (ja) 1997-07-08 1997-07-08 真円度測定機及びその検出器感度校正方法
US09/221,159 US6092411A (en) 1997-07-08 1998-12-28 Roundness measuring instrument and measuring head calibration method therefor

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09197722A JP3081174B2 (ja) 1997-07-08 1997-07-08 真円度測定機及びその検出器感度校正方法
US09/221,159 US6092411A (en) 1997-07-08 1998-12-28 Roundness measuring instrument and measuring head calibration method therefor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1123255A true JPH1123255A (ja) 1999-01-29
JP3081174B2 JP3081174B2 (ja) 2000-08-28

Family

ID=26510526

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP09197722A Expired - Fee Related JP3081174B2 (ja) 1997-07-08 1997-07-08 真円度測定機及びその検出器感度校正方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6092411A (ja)
JP (1) JP3081174B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008070181A (ja) * 2006-09-13 2008-03-27 Mitsutoyo Corp 真円度測定装置較正治具および真円度測定装置の較正方法
JP2008157863A (ja) * 2006-12-26 2008-07-10 Nissan Diesel Motor Co Ltd 真円度測定装置及び真円度測定方法
JP2009534681A (ja) * 2006-04-26 2009-09-24 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 差分較正

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6546640B2 (en) * 2000-01-18 2003-04-15 Mitutoyo Corporation Traverse linearity compensation method and rotational accuracy compensation method of measuring device
ATE313411T1 (de) * 2002-05-21 2006-01-15 Michel Yerly Kupplung zur lösbaren verbindung von zwei bauteilen, und vorrichtung mit dieser kupplung zur voreinstellung der werkzeuge einer werkzeugmaschine
US6990743B2 (en) * 2002-08-29 2006-01-31 Micron Technology, Inc. Process for monitoring measuring device performance
JP2004205288A (ja) * 2002-12-24 2004-07-22 Mori Seiki Co Ltd 計測装置及びこれを備えた精度解析装置
US7191535B2 (en) * 2005-02-28 2007-03-20 United Technologies Corporation On-machine automatic inspection of workpiece features using a lathe rotary table
EP1884310B1 (en) 2005-05-26 2013-03-13 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Bolt tightening method and bolt tightening device
DE102005032749A1 (de) * 2005-07-13 2007-01-18 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Antasten eines Werkstücks mit einem Koordinatenmessgerät und Koordinatenmessgeräte
DE202005014635U1 (de) * 2005-09-15 2007-02-01 Jeromin, Johannes Kalibrierlehre zur Kalibrierung eines Messschiebers
EP1798516A1 (en) * 2005-12-14 2007-06-20 Aktiebolaget SKF Method for generating a relation between an output signal of a distance gauge and a distance between the distance gauge and a measuring surface of a mechanical element
CN101358825B (zh) * 2007-08-01 2010-09-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 端面跳动测量仪
TWI386624B (zh) * 2007-08-17 2013-02-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 端面跳動測量儀
FR2930818B1 (fr) * 2008-04-30 2010-06-18 Peugeot Citroen Automobiles Sa Procede de determination de la precision d'un capteur de mesure de forme
CN101750007B (zh) * 2010-02-01 2012-03-14 洛阳轴研科技股份有限公司 精密测量轴承套圈沟位置的接触式测量方法
CN103292772A (zh) * 2012-02-27 2013-09-11 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 同轴度检测装置
JP6153816B2 (ja) * 2013-08-23 2017-06-28 株式会社ミツトヨ 形状測定装置及びロータリテーブル座標系の登録方法
CN108709470B (zh) * 2018-03-27 2020-02-11 第一拖拉机股份有限公司 一种通用凸轮轴测量仪计量特性指标确定及控制评定方法
CN110645935B (zh) * 2019-10-31 2021-01-19 大连理工大学 数控回转轴集成位移传感器安装偏置的精确校准方法
CN110763180B (zh) * 2019-11-06 2021-05-07 中国航发南方工业有限公司 一种悬臂细长轴小台阶面尺寸测量方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4283857A (en) * 1979-08-17 1981-08-18 Graham Erwin W Spindle-height gage and method of calibration
US4429464A (en) * 1982-01-29 1984-02-07 Burrus Brice M Roundness calibration standard
US4918972A (en) * 1988-11-10 1990-04-24 Brier Technology, Inc. Dual reference track scheme
US5134781A (en) * 1991-01-14 1992-08-04 Baker Stephen H Geometric simulator for coordinate measuring machine
US5567864A (en) * 1993-02-04 1996-10-22 Sunward Technologies, Inc. Method and apparatus for calibration of a transducer flying height measurement instrument
DE4326551C2 (de) * 1993-08-07 1997-04-17 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Kalibrier-Verfahren zum Ermitteln und Kompensieren unterschiedlicher Antastkraft-Verhältnisse bei Mehrkoordinaten-Tastsystemen
US5780714A (en) * 1997-04-03 1998-07-14 Electronics, Incorporated Calibration apparatus and method for shot blasting intensity measurement

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009534681A (ja) * 2006-04-26 2009-09-24 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 差分較正
JP2008070181A (ja) * 2006-09-13 2008-03-27 Mitsutoyo Corp 真円度測定装置較正治具および真円度測定装置の較正方法
JP2008157863A (ja) * 2006-12-26 2008-07-10 Nissan Diesel Motor Co Ltd 真円度測定装置及び真円度測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3081174B2 (ja) 2000-08-28
US6092411A (en) 2000-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3081174B2 (ja) 真円度測定機及びその検出器感度校正方法
EP1467175B1 (en) Reference fixture for roundness measuring instrument
JP4968600B1 (ja) 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法
US6546640B2 (en) Traverse linearity compensation method and rotational accuracy compensation method of measuring device
US4080741A (en) Measuring apparatus
JP2010223865A (ja) 補正ボール径算出方法および形状測定装置
EP2253931B1 (en) Form measuring instrument, form measuring method, and program
JP6671011B2 (ja) 真円度測定装置
JP5652631B2 (ja) 真円度測定装置における心ずれ量算出方法
JPH0560503A (ja) 切削工具の刃先精度検出方法
JP5716427B2 (ja) 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法
US10416647B1 (en) Apparatus for determining axes for the computer assisted setup of a machine tool table
CN114749995B (zh) 摆动式回转轴定位精度检测方法
JP5489017B2 (ja) 真円度測定装置における心ずれ量算出方法
JP3215354B2 (ja) 測定機の校正方法及びその装置
JPH08122050A (ja) 輪郭形状測定方法及び測定用治具
JP5742078B2 (ja) 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法、並びに心ずれ量算出方法
JP3083758B2 (ja) 真円度測定機の検出器感度校正方法及びその装置
JP2504561B2 (ja) 形状測定装置
JP2008070181A (ja) 真円度測定装置較正治具および真円度測定装置の較正方法
JPH1123256A (ja) 真円度測定機
JPH10103905A (ja) 測定方法
JPH0480601A (ja) 石英治具の測定装置
JP2754128B2 (ja) 円筒度測定装置及び測定方法
JP3536020B2 (ja) 真直度誤差校正方法および測定治具

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees