JPH02230387A - 像解析計数システム及びその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

［産業上の利用分野】 この発明は、計数システム及びその方法に関し、より詳
言すれば，人間の視覚が対象物を解析して計数する方法
によく似た像解析手法を利用する対象物の計数システム
及びその方法に関する．

【従来の技術］ 例えば新、−間輪転機から搬出される−多数の新聞を計
数する分野において、従来、数多くの計数システムが開
発され、それらは通常，機械、超音波、レーザーまたは
赤外線を利用したものが公知である． 特公昭４０−２０７５８号は、ズレ重なり合って送られ
る被計数体上に結ばれる光像の乱反射光を２個の受光素
子で検出し、この出力を比較して被計数体の段の進行に
よって一方の検出部への反射光の入射が遮られることに
よってのみ計数信号を得るようにした光学的計数検出器
を開示する． 特開昭５７−１３５９１号は，ズレ重なり合って送られ
る被計数体にレーザー光線を反射させ，その反射光を少
なくとも２つの感光センサで測定し、測定された表示値
をマイクロコンビ１−夕で処理する計数方法及び装置を
開示する．特開昭５９−７７５８４号は，概ね前記２つ
の公知例を組み合わせた印刷物の計数装置を開示する． 更に、特開昭６２−２２６２９５号は、ズレ重なり合っ
て送られる被計数体にビーム状の光線を照射し、その光
線の反射点の高さが被計数体の端部の厚さの段差により
急激に変化する状態を検出し、反射点の高さの時間に関
する微分が当該被計数体の他の部分に比較して非常に大
きいことを利用して部数を計数する装置を開示する． 〔発明が解決しようとする課題１ 先ず、機械的カウンターは，永年にわたり、魚鱗状に直
列にズレ重なり合った流れにおかれた新聞を計数するた
め、及び、新聞用スタッカー装置の稼動サイクルを制御
するために使われ、それによって得られた計数値は数種
類の全体的装置に供給される．これらの機械的カウンタ
ーは、比較的低廉という利益があるものの、例えば，挿
入包装のように、小形と大形の製品が混在する場合に計
数の正確さが低下し、維持費が高く、寿命が短く、また
、今流行のグリッパー形コンベヤに使用し難く、併設に
不向きであるなどの不利益を有する． 次に，超音波によるカウンターは、紙が電気一機械変換
器（トランジューサー）の下を通過するときに生ずる圧
力の変化を読み取るシステムであるが、これは操作環境
の一面に広がる紙扮によって汚される多くの機械構成部
分をもち、また，紙と変換器との間の距離の変化、不幸
なことには、そのような変化は新聞の流れでは普通に生
じるが、そのような変化にあまり鋭゛敏でなく、更に併
設に不向きである． レーザー装置は多くの好意的な名声にも拘らず，新聞の
計数に使うとなると，多分，ユーザーの制約された保存
寿命及び運転寿命の故かと思われるが，彼らから入り混
った批評を受ける．ユーザーは彼らが欲するとき新しい
予備部品が作動しないということに満足しない．通常，
新聞計数用のＨｅ−Ｎｅレーザーは、より一層強力なレ
ーザー装置と比べで、安価ではあるが、やはり、それら
は，発行者に対し責任上、継続して取替コストを表わす
ものである．レーザーカウンターは、計数値記録のため
反射光線ビームに換えられることが期待される． 赤外線カウンターは，レーザー装置のように、計数する
のに反射エネルギーを使うが、それらは費用がかかり、
薄い製品及び厚い製品に感応しない． 新聞発行業務において、印刷機から搬出される新聞を正
確に計数することは、必要な商品業務の達成上不可欠で
ある．新開印刷の常時増加や急騰するコストに伴なって
，計画された需要よりも印刷機稼動中の折帳をより多く
印刷することが行われているが、そのことは出版業界に
おいてもはや好ましい業務でなく、それは、逆に、明ら
かに実行不可能で貧弱な業務であり，実際に販売可能な
折帳よりかなり多くの折帳を印刷することは好ましくな
い業務である．つまり、多過ぎず、少な過ぎず、極めて
正確な印刷計数を得ることが望ましい． 前述した従来技術における感知手段のすべては或種の混
乱に会う．それらに備えるために、機械的カウンターの
場合には、接触星形輸その他の機構に変更され、他のす
べての装置の場合においては，発射エネルギーの変化を
検出することによって感知が達成される． 【課題を解決するための手段】 この発明は、コンベヤ上を運ばれる折帳な計数するシス
テムであって，前記折帳の側縁に対して交差する方向に
列設された線形光検出アレー上に前記折帳の側縁を光字
的に結像させ，ＤＣ残留偏差を除去するために、前記線
形光検出アレーかものアナログ出力を定時間比で差動増
幅手段へ逐次シフトさせ、その差動増幅手段からの出力
を、選択された光レベルで定められた直列デジタル出力
信号に変換し、更に、その出力信号を直列入力／並列出
力シフトレジスタに入力させ、前記線形光検出アレーに
現れる折帳の流れの像の量的輪郭を曲記シフトレジスタ
の出力に基いてマイクロプロセッサにて数値化し，更に
、前後の折帳の輪郭の決定値を比較し、その差によって
前記像の上端の微分値を得て、連続する輪郭の決定値の
変化の割合が正から負へ変る時点ごとに折帳の計数を出
力するものである． 上記に加えて更に、この発明は、折帳の厚さ測定値を得
て、その厚さ測定値が厚さ校正値を超える時点で単数の
計数増分を出力し、また、前記厚さ測定値が第２の厚さ
校正値を超える時点で２数の計数増分を出力する． 前記折帳の側縁を光学的に結像する手段は、光源と光遮
断材とレンズシステムとがらなり、前紀光遮断材は，前
記折帳の側縁に対して交差する方向に沿って細長孔を有
し，前記レンズシステムは，その細長孔と前記線形光検
出アレーとの間の視線上に設けられ、かつ、それによっ
て，前記細長孔に規制された折帳の側縁が前記線形光検
出アレー土に結像し、そして、前記光源は、前記視線に
対して所定の角度を有する位置に設けられ、それによっ
て、前記レンズシステムで定められたフィールドの予定
深度の背後の光が，調整可能なしきい値検出レベルの下
であり，そして、折帳の側縁が照らされて前記線形光検
出アレー上に結像するように配設される．なお、前記線
形光検出アレーはＣＣＤアレーに置き換えて使用し得る
． 〔作　　　用Ｊ この発明に使われるセンサは、全く受動的であって，通
遇する場面に据付けられ、その場面を見て，見えるもの
を認識し、そして、それを解析する像処理技術を使った
エレクトロニクスの機敏なシステムであって、人間の目
によく似た機能を発揮する． この発明に装備される光学システムは、被計数体を超高
速で見るという観察に意味のある解析を加えるために、
人間の視覚システムによる観察を複製するものである． 更に，この発明は、人間の眼の複製に本質的に類似する
光学的感応システムを備え，そのシステムによって印刷
物の搬出を印刷機の側縁で特異に見ることができ、そし
て、完全に重なり合った２部の折帳な１部の折帳として
計数エラーすることなく、確実に２部として解析し得る
．更に、この発明に使われる光学的計数システムは、本
質的に受身であり、かつ、人間の視覚システムのように
、計数を得るために通過する像を計数することができ、
また、再校正することができ，か《して、像の変化を動
的に調整することができ、被計数体上に押しつけられた
像の乱れによっても影響を受けない正確な計測が得られ
る． センササブシステムは，前述したように、レンズシステ
ム、自己抑制光源及び観察窓とからなり、その観察窓と
なる細長孔を通る視線と光路との間の角度によって，フ
ィールドの焦点深度の後背地域に、ノイズ潜在源を消去
する陰が形成される． 電気的サブシステムは，走行コンベヤ上を運ばれる折帳
の側線に対して交差する方向に列設されたＣＣＤアレー
上に光が突き当たって折帳の端から反射する光の像が結
ばれ、その像を解析することによって折帳の計数が得ら
れる方法を行う． 前記センサシステムの電気的サブシステムは、そこから
ＤＣ出力残留偏差を取り除くために、前記ＣＣＤアレー
から差動増幅器へアナ．ログ出力を順次反復してシフト
させ、その結果生じる信号を増幅し、そして、前記差動
増幅器から出力されたアナログ信号を選択光レベルによ
って定められた直列デジタル出力信号に変換する．この
直列デジタル出力は、ＲＡＭ内に記憶される並列出力か
ら、直列入力／並列出力シフトレジスタに供給され、そ
のＲＡＭ内に記憶されたデータはマイクロプロセッサに
移される．通常，ソフトウエア制御を経由するコンピュ
ータサブシステムは．ＲＡＭ内の像解析データを読み出
して、そのデータがセンサシステムによって進行する折
帳の側線の像をソフトウエアの中に表示する．そのソフ
トウエアは，光学システムを通過する折帳像の上端の輪
郭の決定値の表示を決め，それによって，折帳の高さの
デタ決定値が得られ、そして、その折帳の高さのデータ
の定時間微分として指定される折帳の高さのデータに喚
えられる． そのソフトウエアは、高さのデータ決定値と時間微分デ
ータとを用いて、像の高さ測定値と微分値とを決め、そ
れらの値をソフトウエアの折帳計数決定に使用する． そのソフトウエアは，例えばそのシステムが自己計測さ
れるような、折帳の先行端縁を決める計測微分値よりも
大きな即時的な正の決定微分値を用いる．従来の折帳輪
郭に適切な履歴情報は、光学システムを通過する次の折
帳の高さを決める資料としてマイクロプロセッサに紀憶
され，そして，現在の折帳の輪郭上の現微分値がインジ
ケータにおいて正から負へ変化するのを使って、現輪郭
から光の輪郭を差し引いた現高さ決定値を得る．それか
ら、そのソフトウエアは，対象物が折帳であることを決
めるために，前記現高さ決定値と前記高さ測定値とを対
比し、そして、前記基準が満たされているとき、単数の
計数増分を出力する． その現高さ決定値が、光学システムを通過する完全に重
なった２部の折帳を表示する決定値と比較されるとき、
マイクロプロセッサは２数の計数増分を出力する．かく
して、デジタルで配憶された折帳の輪郭の高さとその変
化の割合とを使って、折帳の計数が正確に出力される．
ｆ実　施　例Ｊ 第１図及び第２図で示すように、光学サブシステムは、
次の通りである． コンベヤ上をズレ重なり合って運ばれる新聞の流れは、
第１図において対象物２として示され、この対象物２は
、垂直方法の細長孔４を通ってレンズシステム６を経由
し、例えばＣＣＤアレーのような線形光検出アレ−８上
に結像される．本発明において、この対象物２は、例え
ば、ズレ重なり合った新聞の側縁であり，ＣＣＤアレ−
８は，例えばアメリカ合衆国テキサス州　ダラス　イン
ストルメント　インコーボレテッドで製造販売されるＴ
Ｃ１０３型ＣＣＤアレーが使用される． 第２図は，第１図で示すシステムの平面図を示し、その
中で，コンベヤ上のズレ重なり合った新聞の流れは，第
２図の平面内に位置する．光源１０は、光遮断材ｌ４に
設けられた縦の細長孔４に対して或る角度で設けられる
．第１図のレンズシステム６を経て光遮断材ｌ４内の細
長孔４へ向う視線１２は、光源ｌＯからの光をフィール
ドの予定深度を越λて見ることができない．そして、細
長孔４によって与えられる陰は，第１図のレンズシステ
ム６を経てＣＯＤアレ−８上に結像される縦形の光学的
像薄片からすべての有害な騒音影響を縮小する方向へ作
用する． 細長孔４の後に搬送される新聞の流れの側端が、レンズ
システム６の場の深さの範囲内であるから、ＣＣＤアレ
−８上に結像する縦形の像薄片は，細長孔４内へ現れる
新聞の流れの縁を離れて反射する光以外の光によっては
影響されない．このやり方で，光源１０は，レンズシス
テム６に現れる視線１２に関して角度づけられて見られ
、そして、結果的には、場の焦点深度の後の地域が陰に
なるような角度を形成し、それによってノイズ潜在源が
除去される．第３図において．ＣＣＤアレ−８（第ｌ図
）からのアナログ出力ｌ８は像信号処理回路ｌ５に入力
する一方、複合ドライバーライン１６は線形光検出アレ
−８に信号を供給して、ライン１８上の光学線形光検出
アレーからのアナログ出力１Ｂと、当該アレーからの基
準暗レベル出力２０とを、順次差動増幅器２２ヘシフト
しで、そこからＤＣ残留検査を取り除き，そして、その
信号を増幅し、そこから高周波ノイズを取り除く．差動
増幅器２２からの出力は，ライン２４を経由して，ライ
ン２６上のしきい値調整信号と共に、比較器２８へそれ
ぞれ入力し、差動増幅器２２からの出力は、比較器の出
力ライン３０上の選択光レベルによって規制されるとこ
ろの直列デジタル出力信号に変換される．ライン３０上
の直列デジタル出力信号は、直列入力並列出力形シフト
レジスタ３２に入力し、そのシフトレジスタ３２からの
並列出力はライン３４を経由し、バッファ６２からのア
ドレスライン３８の制御下において、ＲＡＭ３６に入力
する．なお，前記バッファ６２は、タイミングと論理の
回路５４からライン６４上のアドレス情報を受け取る． 他方において、ＲＡＭ３６からの並列データ出力は、バ
ッファ４６を通り、ライン４８を経由して、マイクロプ
ロセッササブシステム４９（第４図）に供給される． 第３図の像信号処理回路ｌ５は、更に、クロック源５０
をもち、そのクロック源は、ライン５２を経由してタイ
ミングと論理の回路５４への出力を備え，そのタイミン
グと論理の回路５４は、ライン５６を経由してＣＣＤア
レードライバー群５８への出力を備え、そのＣＣＤアレ
ードライバー群５８のライン群ｌ６を経由した出力は、
前記アレ−８からの直列様式内にアナログ情報を読み出
すために供給される．更に、前記タイミングと論理の回
路５４は，バッファ６２．４０．４６及びＲＡＭ３６に
制御入力としてライン６０上へタイミング制御を供給す
る．タイミングと論理の回路５４は、更に，ライン６４
を経由するバッファ６２への制御と、ライン６６を経由
する直列入力並列出力形シフトレジスタ３２への制御と
を備える． マイクロプロセッサ４４（第４図）によって、信号読出
し指令が発せられると、その指令は、信号ライン５５を
経由してタイミングと論理の回路５４に供給され，タイ
ミングと論理の回路５４は．ＯＫを生じつつ保持をオフ
にして，データがＣＣＤアレ−８からＲＡＭ３６へのシ
フトが完了するまでに、信号ライン５７上に生じた信号
を読み出す．それから、タイミングと論理の回路５４は
、ライン６０を経由して、バッファ４０及び４６を可能
にし、バッファ６２を不能にする．タイミングと論理の
回路５４は、更に，シフトレジスタ３２からＲＡＭ３６
内へのデータのシフトを終結させるために，信号ライン
６６を経由して信号を生ぜしめる．マイクロプロセッサ
サブシステム４９（第４図）からライン４２を経由する
アドレス情報は、バッファ４０及び信号ライン３８を経
由してＲＡＭ３６に供給されるので、ＲＡＭ３６内にあ
らかじめ記憶されたデータは，ライン４８を経由してマ
イクロプロセッサ４４（第４図）に出力するために、ラ
イン３４を経由してバッファ４６に供給され得る． かくして、シフトレジスタ３２からの並列出力は、コン
ベヤ上の新聞の縁の連続的な並行薄片像が．ＣＣＤアレ
−８上の結像に発展して表示されながら、マイクロプロ
セッササブシステム４９（第４図）に供給され、その紙
の流れの縁の像に似た縦薄片を使うことにより、光学シ
ステムによって、通過する新聞の計数を生ぜしめること
に供せられる， この発明において、マイクロプロセッササブシステム４
９（第４図）は、信号４８を経由して第３図の像信号処
理回路ｌ５からのデジタルデータを受け取り、そして、
そのデータから、ソフトウエアが、第１図のＣＣＤアレ
−８に現れた像の上端の位置を決定する．この用語「上
端」は新聞の高さとして規定される． そのソフトウエアは，新聞の輪郭の上端が第１図のＣＣ
Ｄアレ−８内に現れるその上端から下端の新聞の輪郭の
高さを考えながら、前記デジタルデータから決定する．
この決定は，新聞が第１図の検出器システムの後に運ば
れるように、ＣＯＤアレ−８上に突き当たる連続的な像
“薄片”のために行われる． 第４図において、マイクロプロセッサブシステム４９は
、マイクロプロセッサ４４を含んで表示される．マイク
ロプロセッサ４４は，例えば、テキサス　インストルメ
ント　インコボレーテッドで製作販売されたＴＭＳ７０
００型を使用し、それは同社が１９８６年に公開した公
開番号ＳＮＯＯ　Ｉ　Ｂ　ｒ８ビットマイクロコンピュ
ータファミリー」に記載される．マイクロプロセッサ４
４の組合わせは、８ビットデータバス４８及び２゜０ビ
ットアドレスバス４２である．高次アドレスデコードは
、高次アドレスデコード回路９０によって達成され、そ
の回路は，アドレスライン４２上で、マイクロプロセッ
サ４４が消去可能なプログラマブルリードオンリーメモ
リー（ＥＦＲＯＭ）９２か、または、ランダムアクセス
メモリ（ＲＡＭ）９４との交信の選択、もしくは、マイ
クロプロセッサ４４がデジタルーアナログ変換器９６に
データをロードするか否かの選択をする．前記ＥＦＲＯ
Ｍ９２は，本発明に使用するソフトウエア用の記憶装置
をも備える，ＲＡＭ９４は操作上のＲＡＰＩ／Ｉであっ
て，これはマイクロプロセッサ４４のビルトインＲＡＭ
との関係で使われる．デジタルアナログ変換器９６はマ
イクロプロセッササブシステム４９用のアナログテスト
出力を備え、そして、ＥＦＲＯＭ９２の制御下で操作し
、そのＥＦＲＯＭ９２は、データを制御して、達成され
るべき特種なテストに属するデジタルアナログ変換器９
６にシフトする．第６図に記載される１つの特殊なテス
トは、新聞一部の上端の輪郭の出力である．新聞の上端
に比例する信号がテスト目的のために生起される． マイクロプロセッサ４４は、ワンショットデバイス１０
０への出力信号を生じ、この出力信号は１つの新聞の検
出を表示する．ワンショットデバイスｌ００の出力はラ
インドライバｌ０２、光アイソレータ１０４及び１０６
に向けて供給される．ラインドライバ１０２の出力は遠
隔位置に設置され得る制御コンソールへの出力を備える
．光アイソレータ１０４は、マイクロプロセッササブシ
ステム４９からの分離を要求する制御コンソールへの出
力を備える．光アイソレーク１０６は、発光ダイオード
ディスプレイへの出力を備え、そのディスプレイは新聞
が検出される度ごとに動作する．このやり方で，このシ
ステムのオペレータは，そのシステムが新聞を操作し検
出中であることを容易に決定し得る．マイクロプロセッ
サ４４は、また、制御コンソールへの出力である故障条
件を表示するラインドライバ１０８を経由する信号を生
起する． マイクロプロセッサ４４への入力は，又、ランプＦオン
」検出器から比較器１１０を経由して備＾られ、その検
出器は、例えば光検出器からなり，その光検出器は光源
１０（第１図）からの光を受けるために設けられ、そし
て，光の現存状態で作動する．ランプｒオン」検出器の
出力は、入力調整を含む比較器１１０に送られる．ラン
プ「才ン］検出器からの信号がないときは、故障条件を
生ずるソフトウエアによって使うためのシステム操作用
の不足光を表示しつつ，マイクロプロセッサ４４へ信号
を発する．マイクロプロセッサ４４は、また、デジタル
・アナログ変換器９６からの特殊テスト出力を選別する
ためにテスト出力選別入力を含む信号ライン１１２を経
由して入力を受け入れる．マイクロプロセッサ４４は，
また，それぞれマイクロプロセッサ４４の範囲内におい
て、出力の調整と機能のタイミングを計るため、バワー
オンリセット１１４及びクリスタル発振機１１６からの
入力を受け入れる． 第６図に紀載されるソフトウエアは、走行する新聞の上
端像（新聞の高さ）の継続決定値の間の差を得るために
プログラムされる．それらの決定値は定時間比でなされ
、そして、それは、ＣＯＤアレーを通過するコンベヤに
よって送られる走行新聞の上端の輪郭の変化（微分）の
比率に相当する．新聞の高さのこの変化が正（増加）値
から負（減少）値に変るとき、そのソフトウエアは、上
端の輪郭の光の決定値を根拠とした新聞走行輪郭の最高
高さを計算し、そして、このとき、新聞の計数が出力さ
れる．この手順が第５図に図式的に記され、その中で、
前記ＣＣＤアレ−８は、コンベヤ上を送られるズレ重な
り合った新聞の方向によって位置付けられ，かつ，その
コンベヤの走行方向は、前記ＣＣＤアレ−８の底で決め
られる基準面７０との関係で方向づけることができる．
前記ＣＣＤアレー８は、例えば、コンベヤ面に交差して
配置された２０４８個のセルを線形に配列してなるＣＯ
Ｄであり、それらは、コンベヤの表面６８上を送られる
ズレ重なり合う新聞の側線に対して交差する方向に配置
され得る． ＣＣＤアレ−８を通過して運ばれるところの、ズレ重な
り合って走行する第１の新聞７２は，新聞不存在時には
前記検出器の表示もな《，新間存在時には前記検出器の
表示があるから，前記ＣＣＤアレーの底を基準とした１
つの大きな正の微分値を生じ、それで、計数パルスが出
力される． 更に、第５図において、線形光検出アレ−８の最初のエ
レメントはそのアレー中の第１の価（あたい）、つまり
、最初の光映像セルであって、前記アレ−８が上から下
へ向けて操作されるときに、その最初のエレメントが新
聞の上端を写しており、そして、それが、視場を横切っ
て動く新聞の輪郭を決めるために使われる．数からみた
この上端の価（あたい）は、前記アレ中におけるエレメ
ントの数によって決められ、そして、そのエレメントは
、そのアレーが上から下へ向けて操作されるときに第１
番目の最初の光映像セルとして最初に検出され、この数
が新聞の高さとして決められる． 微分変化を決めるために、前記上端の輪郭（高さ）の現
在値から光の見本値が差引かれる．前記高さの現在値が
、Ａ点からＢ点に向けて示されるように，光の値よりも
大である場合には、その微分変化は正であり，そして，
前記高さの現在値が、光の値よりも小である場合には、
Ｂ点からＡ１点に向けて示されるように、その微分変化
は負である．前記微分変化は、Ｂ点で正から負に変り、
そして、このＢ点が最高位置であって、このＢ点におけ
る上端の輪郭（新聞高さ）の変化率は零である．前記微
分変化は、Ａ１点で負から正に変り、そして、このＡ１
点が最低位置である．その新聞の厚さ値は、高さの最高
値から高さの光の最低値を差引けば算出される．換言す
れば、Ｂ，点における前記アレー上の新聞の上端の輪郭
の高さ値から、Ａ１点における前記アレー上の新聞の上
端の輪郭の高さ値を差引けば、その新聞の厚さ値が算出
されろ．この厚さの目盛上の校正値は，前記アレーと交
差する最初の１６部の新聞の厚さ値を平均化することに
より計算され、この校正値は、光の１６部の新聞の厚さ
値を使って生産を続ける間中は平均化が続き，それは，
新聞の流れに約３秒間の途切れが生ずるまで継続し、そ
の途切れ時に前記校正値が再計算される．その理由は，
走行中，製品のサイズの変更が行われることに備えるた
めである． １部の新聞例えば７２がセンサの前を通過するとき，１
つのパルスが出力され、その出力は、前述したように微
分値が正から負に変る度ごと、つまり、最高位置ごとに
生じ、そして、それは厚さ値が目盛上の校正値の３／８
よりも大となるときに生じる．そして、前記厚さ値が前
記校正値の２００〜４００バーセントの間となった場合
には，２部の新聞７６及び７８が重なっているものとみ
て，２つのパルスが出力される．この状況は、第５図中
の８２点で示される．記載されたシステムは、高さ、高
さの変化率及びアレ−８上に映像された走行する新聞の
上端輪郭の高さの変化率を決めるために操作され、そし
て、周辺状況、積上がった新聞、波状となった福部等が
結果的に加工処理されるので、マイクロプロセッサ４４
が受け取る信号にノイズもしくは変動等の混乱が入る．
しかしながら，これらの混乱は、ノイズとしてソフトウ
エアにより解読され、そして取り除かされねばならない
．本発明は，それらの混乱を除去するために、第２図に
関して討議された遮繭配置，及び第１図に関して討議さ
れた光学的配置において、周囲の光の混乱すなわち外的
反射等に対する防護手段を備え、それらについては次の
通りである．すなわち，レンズシステム６の視線ｌ２の
場の潔さは、その場の深さを超＾で光を受けることを許
さないから、場の深さの背後にあるあらゆる外的光源か
ら生ずる光の混乱を回避１″ることかでき、また，光遮
蔽配置と、それを通し，かつ、レンズシステム６を経由
して投射される反射光との関係によって形成される影（
シャドウ）は、更に周りの光から生ずる混乱を回遵する
のに役立つ． 第６図の６ａ図から６０図は、このシステムで使うソフ
トウエアを示すコンビエーターのフローダイヤグラムで
ある． 第６ａ図、第６ｂ図及び第６Ｃ図は，このシステムの各
種サブルーチンを伴なったメインプログラムを示す． 第６ｄ図は，マイクロプロセッサ４４とランダムアクセ
スメモリ９４の範囲内におけるすべてのレジスタを初期
設定するサブルーチンを示す． 第６ｅ図は、新聞の上端の輪郭を得てその新聞の上端の
関係値を指定するためのランダムアクセスメモリ３６（
第３図）読出し用サブルーチンを示す． 第６ｆ図は、信号ライン１１２（第４図）からマイクロ
プロセッサ４ｌへの入力を経て選別可能な，デジタルア
ナログ変換器９６からのアナログテスト信号出力用サブ
ルーチンを示す．第６ｇ図は、新聞の輪郭内に増加があ
る時正の微分値を計算し、そして、その内に減少がある
とき負の微分値を計算するためのプログラムを示す． 第６ｈ図は、新聞の上端の光の４つの値及びその変化値
の履歴ファイルを維持するための履歴サブルーチンのソ
フトウエアを示す．第６ｉ図及び第６ｊ図は、新聞の単
数検出の基準及び誤ったノイズ混乱を取り除くための基
準を含んだ新しい検出サブルーチンのソフトウエアを示
す． 第６ｋ図は，高さ校正値及び微分値を決定する校正サブ
ルーチン用のソフトウエアを示す．第６１２図は，マイ
クロプロセッサ４１（第４図）からの出力パルスの間隔
をあけるための遅延サブルーチンを示すフローダイヤグ
ラムである． 第６ｍ図は、ワンショットデバイスｌ００（第４図）を
励起するためにパルスを出力するサブルーチンを示す． 第６ｎ図は、ラインドライバ１０８（第４図）から故障
表示出力を発するために新聞が線形光検出アレ−８の上
端の上を通るとき光源ｌＯ（第１図）による光の故障検
出用サブルーチンのソフトウエアを示す． 第６０図は、出力パルスの間隔をあけるのに使われる時
間の中断及び光の時間周期の間に線形光検出アレ−８を
通過した新自がないという理由でそのシステムを再校正
するための時間を決めるのに使われる時間中断生起用サ
ブルーチンを示す． さて、第６ａ図において、まず，ブロックｌ２０で，マ
イクロプロセッサ４４内のランダムアクセスメモリの光
の量を仕切るために，スタックポインターがロードされ
る．次に，ブロック１２２で、初期設定サブルーチンが
、マイクロプロセッサ４４及びランダムアクセスメモリ
９４（第４図）の初期設定レジスターにおいて初期値を
０にロードする．それから，ブロック１２４で，システ
ムを再校正する時か否かを決する決定がなされる．例え
ば約５秒以内にすべての新聞が検出されない場合には、
線形光検出アレ−８が自動的に再校正し、マイクロプロ
セッサ４４内のレジスタは、その状況を決するためにチ
ェックされる．レジスタが零を含む場合には，再校正す
る時間は通過しない．そして、前記レジスタが１を含む
場合に再校正が行われる． 再校正を必要としない場合には，ブロック１２６でその
上端取出しサブルーチンが呼び出される．その上端取出
しサブルーチンは新聞配列の上端をフエツチし、そして
、第６ｅ図に関して討議される．次に，ブロック１２８
で、新聞の上端が線形光検出アレ−８の上であるかどう
かの決定がなされる．その決定が「諾」の場合には，カ
ウンターはブロック１３０で増大し、そして，そのカウ
ンターが決定ブロック１３２でＦＦ　（ＨＥＸ）に等し
い場合には、プログラムビットがブロック１３４でセッ
トされ、そのブロックは，故障信号を出力し、故障サブ
ルーチンがブロック１３５で呼び出される．前記ブロッ
ク１３２での決定が「否」である場合には，プログラム
はブロック１３５で故障サブルーチンを呼び出す． その故障サブルーチンがブロック１３５で呼び出され、
そのブロック１３５は第６０図中に記載されており、い
ずれか１つのビットがセットされるか否かを決定するべ
くプログラムビットのすべてをチェックする．そして，
新聞が線形光検出アレ−８に存在する判定がブロック１
３６でなされる，２０４８検出器のいずれか１つが光れ
ば新聞が線形光検出アレ−８に存在する．ブロック１３
６の答えが「否」である場合には、微分サブルーチン（
第６ｇ図）がブロック１３８で呼び出され，履歴サブル
ーチン（第６ｈ図）がブロック１４０で呼び出され、デ
ジタルアナログ変換器（ＤＡＣ）サブルーチン（第６ｆ
図）がブロック１４２で呼び出され、そして、プログラ
ムはブロック１２４に戻される．ブロック１３６での決
定が新聞の存在ありの場合には、前の新聞があったかど
うかを決める決定がブロック１４４でなされ，前の新聞
がなかった場合には、プログラムは第６ｂ図に続き、前
の新聞があった場合には、プログラムは第６Ｃ図に続く
． 第６ｂ図において、微分サブルーチンがブロック１５０
で呼び出され，このサブルーチンは線形光検出アレ−８
を通過する新聞の輪郭における微分値の相違を点から点
へ、又はサンプルからサンプルへ計算しつつある．履歴
サブルーチンがブロック１５２で呼び出され、このサブ
ルーチンは、新聞の輪郭，新聞の上端、そして、微分値
について回転ファイル４資料点に記憶する．そのプログ
ラムはブロック１５４でデジタル・アナログ変換器（Ｄ
ＡＣ）サブルーチンを呼び出すことによって続けられ，
そのブロック１５４は、例えば新聞の上端のような情報
をデジタル・アナログ変換器９６に出力する．次のサブ
ルーチンとしてブロック１５６で新検出サブルーチンが
呼び出され、そのブロック１５６は，線形光検出アレ−
８に新聞がある時，出力パルスが新聞ありの表示を生起
すべき時、及び、新聞存在の単複を検出する． ブロック１５８での判定は出力パルスレジスタがセット
されているかどうかを決定することであり、マイクロプ
ロセッサ４４内の出力パルスレジスタは以下に示す４つ
のセット，すなわち、 ｌ）出力パルスが生ずべきでない． ２）パルス出力用の第１基準と大きな正の微分値が満た
されている． ３）零微分値が通遇したところの第２基準と、１つの新
聞があることを示すサイズ、または４）２つの新聞があ
ること、 が含まれる．これらの条件は出力パルスレジスタに含ま
れるＯ、■、２または３によって表示される、その出力
パルスレジスタが０を含めば，そのプログラムはブロッ
クｌ２４（第６ａ図）に戻る． もし，出力パルスレジスタがパルスを出力することにセ
ットされるならば、ブロック１５８での判定は「諾」で
あり、そして，マイクロプロセッサ４４の計数レジスタ
がブロック１６０でクリアーされる．マイクロプロセッ
サ４４内の計数レジスタぱあらかしめ定められた時間間
隔，例えば、５秒毎に継続的に計数し，次の新聞の存在
を検出するために新聞の厚さを決めることによってその
システムを再計算することが要求される時が決められる
．校正サブルーチン（第６ｋ図）は，線形光検出アレ−
８を通過した最初の１６部の新聞の値を記憶する．最初
の１６部の新聞が通過した後、そのシステムは線形光検
出アレ−８を通過した新聞の単複を決定するために校正
される．それ故、計数レジスクはクリアーされる．例え
ば５秒の新聞の流れの中にギャップが存在すれば、新聞
が存在しないとき、再校正が、例えば，サイズの違った
新聞が次に通過可能であるなどの理由によって、要求さ
れる．それ故、計数レジスタはクリアーされる． 出力パルスレジスタがセットされた後、ブロック１６２
でビットがセットされ、次の新聞のために光の新聞の存
在を表示する．ブロック１６４で決定がなされ、禁止出
力パルスビットのセットが決められる．前記禁止出力パ
ルスビツトが出力されたならば，パルスは出力されず、
そして、禁止パルスビットがクリアーされ、すべてのレ
ジスタがブロック１６６でクリアーされ，主ループが再
びブロックｌ２４（第６ａ図）でスタートする． 前記禁止出力パルスビットがセットされなかったならば
、そのプログラムはブロック１６８で遅延サブルーチン
を呼び出すことによって，継続する．このサブルーチン
はマイクロプロセッサ４４からパルスを積極的に出力し
，そして、マイクロプロセッサ４４によって出力するパ
ルス間隔が最少であることを保証する．パルス間隔は、
例＾ば１０ミリ秒にすることができる．パルスが出力さ
れた後にセットされたレジスタはブロック１７０でクリ
アーされ、プログラムはブロックｌ２４（第６ａ図）に
継続する．第６ｃ図において，光の新聞が存在した時は
，微分サブルーチン、デジタルアナログ変換器サブルー
チンが、それぞれブロック１８０、ｌ８２及び１８４で
呼び出される．ブロック１８６で決定がなされ、出力パ
ルスレジスタがセットされることを決め、その決定が「
否」であれば、そのプログラムは決定ブロック１２４（
第６ａ図）に継続する． 判定ブロック１８６での判定が「諾」であれば，計数レ
ジスタはブロック１８８でクリアーされ、そして光の新
聞が存在したことを示すビットがブロック１９０でセッ
トされる．ブロック１９２でなれた決定で禁止パルスが
セットされたことが決められる．その禁止出力パルスが
セットされたならば、パルスは出力されず、そして、全
レジスクはブロック１９４でクリアされ、プログラムは
決定ブロックｌ２４（第６ａ図）に継続する．メインプ
ログラムの「Ｂブランチ」におけるこのポイントまで、
それらの段階が「Ａブランチ」　（第６ｂ図）と同じで
ある．しかしながら，もし、禁止出力パルスがセットさ
れなかった場合には、計算サブルーチン（第６ｋ図）が
ブロック１９６で呼び出され、プログラムは，ブロック
１９８で遅延サブルーチン（第６１２図）を呼び出すこ
とによって継続し、そのレジスタは、ブロック２００で
パルスが出力された後にセットされたことをクリアーし
、プログラムは決定ブロックｌ２４（第６ａ図）に継続
する． 第６ｄ図には、初期設定サブルーチンが記載される．第
６ｄ図のプログラムは、ブロック２ｌＯでマイクロプロ
セッサ４４を初期化し、ブロック２１２でマイクロプロ
セッサ４４の割込みを初期化し、ブロック２１４でマイ
クロプロセッサ４４の入出力を初期化し，ブロック２１
６でマイクロプロセッサ４４のレジスタをクリアーし，
ブロック２１８でランダムアクセスメモリ９４をクリア
ーし、ブロック２２０で新聞の初期高さ基準をセットし
，そして、ブロック２２２で初期微分基準をセットする
．初期設定プログラムはメインプログラム（第６ａ図）
に戻る． 第６ｅ図には、上端取出しサブルーチン用のソフトウエ
アが記載される．ブロック２３０でＣＣＤアレーエネー
ブルビットが１であるか否かの決定がなされ、エネーブ
ルビットが１でない場合に、そのプログラムはブロック
２３０でエネーブルビットを読み出すために戻る．その
ビットが１の場合に、エネーブルビットは再びブロック
２３４で読出され、そして、ブロック２３６でそのエネ
ーブルビットが零であるか否かの決定がなされる．その
エネーブルビットが零でない場合には、そのビットは再
びブロック２３４で読出される．そのエネーブルビット
が零である場合には、そのエネーブルビットがトグルさ
れているところの確認がなされ、そして、ＲＡＭ３Ｂ　
（第３図）のバイトがブロック２４０で読み出される．
判定ブロック２４２で前記バイトがＯＯＨＥＸに等しい
場合には、マイクロプロセッサ４４のカウンタがブロッ
ク２４４で８までに増加される．それから、ブロック２
４６で前記計数が最大値であるか否かの決定がなされる
．その計数が最大値である場合には、ブロック２４８に
新聞が存在せずどいう表示がマイクロプロセッサ４４内
のレジスタにセットされる．前記最大値が存在しない場
合にはＲＡＭ３６（第３図）のバイトが再びブロック２
４０で読出される．ブロック２４４で増加するカウンタ
ーが新聞の上端値に相当する数を表示する．そのカウン
ターが最大値にある場合、ＣＯＤアレ−８の全アレーが
走査され、そして、新聞が見出されないことを意味する
．ブロック２４２での判定が「否」である場合には零に
等しくないバイトが見出されており、そして、そのバイ
トのビットが最初の１であることを決せられねばならな
い、そして，キャリーオペレーションを経由する回転書
き込みがブロック２５０でなされる．そのキャリーが判
定ブロック２５２で１である場合には、そのカウンター
の値が新聞の上端に等しくなり、そして、ブロック２５
４で信号が発せられる．ブロック２５２での判定が「否
」である場合には，そのカウンターはブロック２５６で
１まで減少し、プログラムはブロック２５０に戻る．新
聞の上端が一旦決定され、そしてカウンターがセットさ
れると，そのプログラムはメインプログラム（第６ａ図
）に戻る． 第６ｆ図には、デジタルアナログ変換器サブルーヂンが
示され、このサブルーチンはマイクロプロセッササブシ
ステム４９からのアナログテスト信号を備える．ブロッ
ク２７０で１／０ビット６がセットされるか否かの決定
がなされる．Ｉ／Ｏビット６がセットされる場合には、
ブロック２７２でＩ／Ｏビット４がセットされるか否か
の決定がなされ、Ｉ／Ｏビット４がセットされる場合に
は，ブロック２７４でＴ／０ビット３がセットされるか
否かの決定がなされ、Ｉ／Ｏビット３がセットされる場
合には、マイクロプロセッサ４４内のＡレジスタがロー
ドされる．マイクロプロセッサ４４のＡレジスタは微分
値をもっている．前記Ａレジスタの８ビット値はブロッ
ク２７６でデジタルアナログ変換器に向けて出力される
． Ｉ／Ｏビット３がセットされない場合には、レジスタＡ
はＯＯＨＥＸでロードされ、その値はブロック２７８で
デジタルアナログ変換器９６（第４図）に向けて出力さ
れる．ビット６及びビット４がセットされた場合には，
マイクロプロセッサ４への信号の出力がビット３を経て
入力される位置入力である．それ故、それはビット３で
あり、ビット３はブロック２７８でのテスト信号として
出力される． ビット６がセットされ、ビット４がセットされない場合
には、ブロック２７２での判定はブロック２８０でレジ
スタＡに微分値でロードされる．なお、ブロック２８０
ではテスト信号として出力される．ビット６がセットさ
れない場合には，ブロック２８２でビット５がセットさ
れるか否かの決定がなされる．ビット５がセットされる
場合には、ブロック２８４でレジスタＡが計算値をロー
ドされる．ビット５がセットされなかった場合には、ブ
ロック２７８でレジスタＡが新聞の上端値をテスト信号
の出力としてロードされる．それ故，そのテスト信号は
、新聞の上端の値、計算値，微分値、もしくはＩ／Ｏビ
ット３、４、５及び６のセットによる位置入力のいずれ
かを含むことができる．第６ｇ図には、微分サブルーチ
ンが記載される．ブロック３００で新聞の新しい上端値
が光の上端値よりも大であるかどうかの決定がなされ、
その新しい上端値が光の上端値よりも・大である場合番
ζは、その新しい値はブロック３０２で光の値から差し
引かれる．差引後の値がＨＥＸ８０より大またはそれに
等しい場合には，その値はブロック３０４でＨＥＸ８０
に等しくセットされる．その新上端値はブロック３０６
でＨＥＸ８０から差引かれ、この｛直はブロック３０８
でマイクロプロセッサ４４の微分レジスタに入力され，
そのプログラムはメインプログラムに戻される． 前記新上端値が光の値より小であった場合には，ブロッ
ク３１０でその新しい値から光の値の差引がなされる．
その差引値がＨＥＸ８０より大なる場合には、その値は
ブロック３１２でＨＥＸ８０に等しくセットされ、そし
て，ブロック３１４でその差がＨＥＸ８０に加えられる
．この値はブロック３０８で微分レジスタにまわされる
．第６ｇ図の微分サブルーチンの目的は、正の微分変化
が中央基準の上であり、かつ、負の微分変化が中央基準
の下であることを保証することである．なお，前記中央
基準でＨＥＸ８０がオフセット値を表示する． 第６ｈ図は履歴サブルーチンを示し、これは、新聞の光
の４つの値と微分値の履歴を維持する機能を有する．ブ
ロック３２０で再校正レジスタがセットされるか否かの
決定がなされ、そのレジスタがセットされると、００　
（ＨＥＸ）の値がブロック３２２で上端新聞ファイルに
記憶され．８０　（ＨＥＸ）１７）値がブロック３２４
で微分ファイル内に記憶される．ブロック３２０での決
定が「否」であった場合には、そのプログラムは，ブロ
ック３２６でその上端データを次の記憶位置にシフトす
ることを続け，最高メモリーロケーション内に記憶され
た光のデータが低められる．現在値がブロック３２８で
最低メモリーロケーション内に記憶される．微分データ
がブロック３３０で次の記憶位置にシフトされ、そして
、微分データ用の前記最高メモリーロケーションに記憶
された光のデータが低められる．現在微分値はブロック
３３２で最低メモリーロケーション内に記憶され，その
プログラムはメインプログラム（第６ａ図〕に戻される
． 第６１図は新検出サブルーチンを示し、これは、新聞の
単数検出用ソフトウエアの機能を有する．大きな負の低
下が１０（ＨＥＸ）より大またはそれに等しいかどうか
を決める前に、新微分値と光の値との比較がブロック３
４０でなされる．この比較は、ノイズ排除を達成して．
新聞の端が実際に存在すること、及び，新聞の折目が実
際の新聞として現れないことを保証する．判定ブロック
３４０での基準が合う場合には、ブロック３４２での禁
止パルスレジスタがクリアーされ，新聞が実際に存在し
ない故にパルスによる計数を妨げるプロセスを始める．
ブロック３４０での決定が「否」である場合には，新し
い新聞が存在することを示し、光の微分値を回復するこ
とによってブロック３４４でそのプログラムが続けられ
る．ブロック３４６で光の微分値が校正微分値よりも大
なるか否かの決定がなされ、その決定が「諾」の場合に
は，レジスタ４５はブロック３４８で１に等しくセット
され，そして、その決定が「否」である場合には、レジ
スタ４５は、ブロック３５０で零に等しくセットされる
．ブロック３５２で新微分値が校正微分値より大または
それに等しいか否かの決定がなされ、その決定が「諾」
の場合には、レジスタ４６はブロック３５４で１に等し
くセットされ、そして、その決定が「否Ｊの場合にはレ
ジスタ４６はブロック３５６で零に等しくセットされる
． ブロック３５８で新微分値が最大微分値よりも小である
か否かの決定がなされる．この質問の機能は負の微分値
がある値より低下するかどうか，及びこの決定が「諾」
であるかどうかを決することにあり、そのデータがノイ
ズを示し，そして，禁止パルスレジスタがブロック３６
０でセットされる．禁止パルスレジスクのセットは，そ
れによってこの条件が生ずるとき次のパルスを禁止する
．大きな負の微分ジャンプより前の値がブロック３６２
で記憶され，そして、ブロック３６４で境界値が光の値
に加えられる。 ブロック３６６で、レジスタ４５内に記憶された値がレ
ジスタ４６内に記憶された値に等しいか否かの決定がな
される．その答えが「諾Ｊの場合には，フラットなスロ
ープが示され、新しい検出サブルーチンが再度実行され
る．ブロック３６６での決定が「否」の場合には、レジ
スタ４５の値がレジスタ４６の値よりも大であるか否か
の決定がなされる．なお、この際，レジスタ４５は零を
含み，そしてレジスタ４６はブロック′３６８で１を含
むことを意味する．この決定が「諾」の場合には、新聞
の上端が位置づけられ，そして、その輪郭が減少しつつ
あり、零微分ポイントを通遇しつつあり、そして新検出
プログラムは第６ｊ図に続く．ブロック３６８での決定
が「否」の場合には、レジスタ４６の値はｌに等しく、
そして、レジスタ４５の値は零に等しく、ブロック３７
０で現存新聞の初期基準がセットされ，正への変化があ
ることを表示する．厚さ計測用の最低値はブロック３７
２で記憶され、そして，新検出サブルーチンが再び実行
される． 新しい検出プログラムは、レジスタ４５内に記憶された
値がレジスタ４６内に記憶された値より大となるまで引
き続いて再実行される．新検出プログラムはそのレジス
タ４６のポイントで第６ｊ図に続き，かつ、新聞上端の
最低値がブロック３８０で回復される．新聞の厚さはブ
ロック３８２で計算される．ブロック３８４で、その厚
さ校正値が厚さ測定値より大であるか否かの決定がなさ
れる．この基準が合う場合には、ブロック３８６で，レ
ジスタ２３が１に等しくセットされるか否かの決定がな
され、その答えが「諾」の場合には、現在する新聞用の
基準が満足され、ブロック３８８でレジスタ２３が２に
等しくセットされる．ブロック３８４及び３８６での双
方の決定が「否」の場合には，現在する新聞用の基準が
満足されず、その新検出プログラムは再実行される． ブロック３９０で先行する新聞が存在したか否かの決定
がなされる．その答えが「諾」である場合には、ブロッ
ク３９２で、その厚さが２部の新聞が存在するという校
正値より大であるかまたはそれに等しいかの決定がなさ
れる．その厚さの基準が満足する場合には、レジスク２
３はブロック３９４で３に等しくセットされる．光の１
５部の新聞用のレジスタ２３の値がブロック３９６でＲ
ＡＭ９４　（第４図）にシフトされ，かつ、新しい値も
またブロック３９８でＲＡＭ９４にシフトされる． 第６ｋ図は、高さの校正値及び微分値を決めるサブルー
チンを示す．マイクロプロセッサ４４内の現在は零に始
まるカウンターである。ＣＣＤアレ−８を通過した最初
の１６部の新聞は高さの校正値を生起するために使われ
る．最初の１６部目の新聞の高さ値はＲＡＭ９４　（第
４図）にロードされる．ブロック４１０でその１６部の
新聞がＣＯＤアレ−８を通過したか否かの決定がなされ
る．通過が１６部より少ない場合には，その校正サブル
ーチンは継続する．ブロック４１０での「諾」の決定は
、１６部の新聞全部がＣＣＤアレ−８を通過したことを
示し，そのｌ６の値がブロック４１２で集計される．そ
の集計値がブロック４１４で１６に分割され、新聞高さ
の校正値がブロック４１６でセットアップされる．その
微分校正値が、ブロック４１８でセットされ、かくして
、校正サブルーチンは完成され、プログラムはメインプ
ログラム（第６ａ図〕に戻される． 第６β図は遅延サブルーチンを示し、これは新聞計数用
の出力パルスを間隔づける機能を有する．ブロック４３
０で、マイクロプロセッサ４４のタイマーレジスタ内に
記憶された値が、光の割込みパルスからｌＯミリ秒より
大またはそれに等しいか否かの決定がなされる．その決
定が「否」の場合には．ブロック４３２でそのその記憶
値がｌＯミリ秒に遅延される．その決定が「諾」の場合
には，ブロック４３４で出力サブルーチン（第６ｍ図）
が呼び出される。ブロック４３６で２つのパルスが出力
されるべきか否かの決定がなされ、その決定が［諾Ｊの
場合には、レジスタ２３１内の値が３に等しいことを表
示し、２部の新聞の実在を表示する．ブロック４３８で
更にｌＯミリ秒の遅延が付加され，出力サブルーチン４
２（第６ｍ図）がブロック４４０で呼び出される．かく
して．プログラムはメインプログラム（第６ａ図）に戻
される． 第６ｍ図は、ワンショットデバイスｌ００（第４図）を
トリガーするパルスを出力する出力サブルーチンを示し
，それは、ブロック４４２で入力／出力ビットｌを零に
換え、ブロック４４４で例えば５マイクロ秒の遅延をし
、そして，ブロック４４６でＩ／Ｏビットを１に復帰変
換する機能を有する．ワンショットデバイス１００（第
４図）をトリガーして零から１１Ｌ：Ｉ／０ビットを変
換することは、前記ワンショットデバイス１００が１０
ミリ秒の巾のパルスを出力するようにセットすることで
ある．この出力サブルーチンによってなされた遅延は、
それがワンショットデバイス１００の出力より小さい限
りにおいて，臨界ではない． 第６ｎ図は，故障サブルーチンを示し、これは光源ｌＯ
の故障又は新聞が線形光検出アレ−８の上を通過したか
否かを検出して、故障条件を出力する．ブロック４５０
で、Ｉ／Ｏビット７がセットされるか否かの決定がなさ
れる．ビット７はランプ「才ン」検出器（第４図）から
入力する．ビット７がセットされない場合には、マイク
ロプロセッサ４４内のプロプレムレジスタにおけるビッ
ト１がブロック４５２でクリアーされる．ビット７がセ
ットされる場合には，プレプレムレジスタにおけるビッ
ト１がプロック４５４でセットされる．ブロック４５６
で、そのプロプレムレジスタが、そのプログラム内の他
の位置からＯＯＨＥＸに等しくセットされるか否かの決
定がなされる．ブロック４５６での決定が「諾」の場合
に、ブロック４５８でＩ／Ｏビット２がリセットされる
．その決定が「否」の場合には、ブロック４６０でＩ／
Ｏビット２がセットされる．かくして、プログラムはメ
インプログラムに戻される． 第６０図は、例えば、３３ミリ秒毎の割込みを入れるた
めの割込みサブルーチンを示し、そうすることによって
マイクロプロセッサ４４はブロック４８０でカウンター
を増加するための割込みを生せしめる．ブロック４８０
におけるカウンターはパルスの出力後にリセットされる
．新聞が線形光検出アレ−８を通過しない場合には、カ
ウンターは計数を続ける．ブロック４８２で、計数が５
秒の通過を示す３Ａ９８　（ＨＥＸ）より大なるか否か
の決定がなされる．その決定が「諾Ｊの場合には、線形
光検出アレー８を通過した新聞がないので、ブロック４
８４で再計算ビットがセットされる． ブロック４８６での決定が「否」である場合には、ブロ
ック４８６で、出力パルスビットがセットされるか否か
の決定がなされる．出力パルスビットがセットされる場
合には、ブロック４８８で出力パルス間の時間を示すカ
ウンターが減少される．ブロック４９０で最少時間が零
であるか否か決定がなされる．その時間が零の・場合に
は、ブロック４９２で次の出力パルスが可能である．そ
の決定が「否」の場合には、割込みプログラムはメイン
プログラム（第６ａ図）に戻される．マイクロプロセッ
サ４４は第６０図の割込みプログラムを実行するために
自動的に割込みを生せしめる． 本発明は、その具体的実施例に関して記載されたが、特
許請求の範囲に記載される発明の精神を逸脱しない限り
におけるいかなる改変にも及ぶものである． 【発明の効果Ｊ 以上、詳述したように、この発明は、コンベヤ上を運ば
れる折帳の側線の像が、前記折帳の側縁に対して交差す
る方向に設けた光線形光検出アレー上に、あたかも人間
の視覚システムによって得られる観測に似て、逐次、映
し出されるように構成したので、像の変化を動的に捉え
ることができ，しかも、その観察は被計数体の像の乱れ
によっても影響を受けないから，それらの動的映像に対
してプロセシング技術を使って正確な解析を加えること
が可能であり、更に、完全に重なり合った２部の被計数
体を１部のそれと高さ乃至厚さの相違によって確実に見
分けて計数することができるので、計数の精度が正確で
ある．

【図面の簡単な説明】

第１図は，本発明に使用される光学システムの機能の一
例を示す側面図、 第２図は，第１図の光学システムにおける光遮新材の機
能を示す平面図、 第３図は、本発明に使用される電子システムにおける像
信号処理回路の機能を示すブロックダイヤグラム、 第４図は、本発明に使用されるマイクロプロセッサの機
能を示すブロックダイヤグラム、第５図は、本発明のソ
フトウエアに使われる操作原理の説明の一助として、セ
ンサシステムを通過する新聞の像が生ずるソフトウエア
の一例を示すブロックダイヤグラム、 第６ａ図から第６０図は、本発明システムの操作を示す
フローチャートであって，そのうち、第６ａ、６ｂ及び
６０図は、このシステムの各種サブルーチンを伴なった
メインプログラム、第６ｄ図は，初期設定サブルーチン
、 第６ｅ図は、上端取出しブルーチン、 第６ｆ図は、アナログテスト信号出力用サブルーチン、 第６ｇ図は、微分サブルーチン， 第６ｈ図は、履歴サブルーチン、 第６１及び６Ｊ図は，新検出サブルーチン、第６ｋ図は
、校正サブルーチン、 第６１２図は、遅延サブルーチン、 第６ｍ図は，パルス出力サブルーチン、第６ｎ図は、光
故障検出用サブルーチン、第６０図は、瞬間中断生起用
サブルーヂンを示す． ２・・・・対象物（波計数体）、 ４　・・・細長孔、 ６・・・・レンズシステム， ８・・・・光線形光検出アレーまたはＣＣＤアレ＝１０
　・・・光源、 ｌ２・・・・視線、 １４・・・・光遮断材（シールド） １５・・・像信号処理回路、 ｌ６・・・・複合駆動ライン、 １８・・・・ライン、 ２０・・・・基準暗レベル出力、 ２２・・・・差動増幅器、 ２４・・・・ライン、 ２６・・・・ライン、 ２８・・・・履歴を有する比較器、 ３０・・・・比較器の出力ライン、 ３２・・・・直列入力／並列出力型シフトレジスタ、３
４・・・・ライン、 ３６・・・ＲＡＭ、 ３８・・・・アドレスライン， ４０・・・バッファ， ４２・・ライン（２０ビットアドレスバス）、４４・・
・マイクロプロセッサ、 ４６・・・・バッファ， ４８・・・・ライン（８ビットデータバス）、４９・・
・・マイクロプロセッササブシステム，５０・・・・ク
ロック源、 ５４・・・・タイミングと論理の回路，５５・・・・信
号ライン、 ５８・・・・ＣＣＤアレードライバー群、６０・・・・
ライン、 ６２・・・・バッファ、 ６４・・・・ライン、 ６６・・・・ライン、 ６８・・・・コンベヤの上端、 ７０・・・・基準面、 ７２・・・・第１の新開、 ９０・・・・高次アドレスデコード回路、９２・・・・
消去可能なプログラマブルリードオンリーメモリ　ｆＥ
ＰＲＯＭ）、 ９４・・・・ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）９６・
・・デジタル・アナログ変換器，１００・・・・ワンシ
ョットデバイス、１０２・・・・ラインドライバ １０４及び１０６・・・・光アイソレータ、１０８・・
・・ラインドライバー １１０・・・・比較器、 １１２・・・・信号ライン、 １１４・・・・パワー才ンリセット、 １１６・・・クリスタル発振器、 第６ａ図 １２０・・・・スタックボインクロード、１２２・・・
・初期設定サブルーチン呼出し、１２４・・・・再校正
する時？、 １２６・・・・上端取出しサブルーチン呼出し、１２８
・・・・新聞上端は？、 １３０・・・・増分カウンター １３２・・・・カウンターＯＦＦ？、 １３４・・・・プロプレムレジスタにビット２セツト、 １３５・・・・故障サブルーチン呼出し、１３６・・・
・新聞があるか？， １３８・・・・微分サブルーチン呼出し、１４０・・・
・履歴サブルーチン呼出し、１４２・・・・デジタルア
ナログ変換器サブルーチン呼出し、 １４４　　・・・前の新聞があるか？ 第６ｂ図 １５０・・・・微分サブルーチン呼出し，１５２・・・
・履歴サブルーチン呼出し、１５４・・・・デジタルア
ナログ変換器サブルーチン呼出し、 １５６・・・・新検出サブルーチン呼出し，１５８・・
・・パルス出力のレジスタセット７１６０・・・・計数
レジスタクリアー １６２・・・・ピットセット， １６４・・・・禁止出力パルスピットセット、１６６・
・・・全レジスタクリアー １６８・・・・遅延サブルーチン呼出し、１７０・・・
・レジスタクリアー 第６Ｃ図 １８０・・・・微分サブルーチン呼出し、１８２・・・
・デジタルアナログ変換器サブルーチン呼出し， １８４・・・・新検出サブルーチン呼出し、１８６・・
・・出力パルスレジスタセット？、１８８・・・・計数
レジスタクリアー １９０・・・・ピットセット， １９２・・・・禁止出力パルスセット，１９４・・・・
全レジスタクリアー １９６・・・・校正サブルーチン呼出し，１９８・・・
・遅延サブルーチン呼出し、２００・・・・レジスタク
リアー 第６ｄ図　初期設定サブルーチン ２１０・・・・マイクロプロプロセッサ初期化，２１２
・・・・マイクロ゜ブロプロセッサの割込み初期化、 ２１４・・・・マイクロプロプロセッサの入出力初期化
、 ２１６・・・・マイクロプロプロセッサのレジスタクリ
アー ２１Ｂ・・・・ランダムアクセスメモリクリアー２２０
・・・・新聞の初期高さ基準セット、２２２・・・・初
期微分基準セット、 第６ｅ図　上端取出しサブルーチン ２３０・・・・ＣＣＤアレーエネーブルビット続出し、 ２３２・・・・エネーブルビット＝１？、２３４・・・
・エネーブルビット読出し，２３６・・・・エネーブル
ビット＝零？、２４０・・・・ＲＡＭ３６のバイト読出
し，２４２・−−−バイｔ−＝ＯＯＨＥＸ？、２４４・
・・・８まで計数増加， ２４６・・・・計数最大値？、 ２４８・・・・新聞存在せずどの表示セット、２５０・
・・・バイト書込み、 ２５２・・・・キャリー＝１？、 ２５４・・・・計数値＝新間上端値， ２５６・・・・ｌまで計数減少、 第６ｆ図　ＤＡＣサブルーチン ２７０・・・・Ｉ／Ｏビット６のセット？、２７２・・
・・Ｉ／Ｏビット４のセット？，２７４・・・・Ｉ／Ｏ
ビット３のセット？、２７６・・・・Ａレジスタ８ビッ
ト値でロード、２７８・・・・８ビット値出力， ２８０・・・・Ａレジスタ微分値でロード、２８２・・
・・Ｉ／Ｏビット５のセット？、２８４・・・・Ａレジ
スタ計算値でロード、２８６・・・・Ａレジスタ新聞上
端値でロード、第６ｇ図　微分サブルーチン ３００・・・・新上端値〉前上端値？、３０２・・・・
前上端値一新上端値、 ３　０　４−・・−差引値≧８０　（ＨＥＸ）（７）場
合８０（ＨＥＸ）にセット、 ３０６・・・・新上端値−８０　（ＨＥＸ）．３０８・
・・・微分レジスタへ入力、 ３１０・・・・前上端値一新上端値、 ３１２・・・・差引値＞８０　（ＨＥＸ）（７）場合８
０（ＨＥＸ）にセット、 ３ｌ４・・・・差引値＋８０　（ＨＥＸ）、第６ｈ図　
履歴サブルーチン ３２０・・・・再校正レジスタセット？、３２２・・・
・上端ファイルに００　（ＨＥＸ）値を記憶、 ３２４・・・・微分ファイルに８０　（ＨＥＸ）値を記
憶， ３２６・・・・上端データを次の記憶装置にシフト、３
２８・・・・現在値を最低メモリロケーションに記憶、 ３３０・・・・微分データを次の記憶装置にシフト、３
３２・・・・現在微分値を最低メモリロケーションに記
憶、 第６ｉ図　新聞の単数検出用サブルーチン３４０・・・
・大きな負の低下≧１０　（ＨＥＸ）？の前に新微分値
と光の値比較、 ３４２・・・・禁止パルスレジスタクリアー３４４・・
・・光の微分値回復、 ３４６・・・・光の微分値≧計算微分値，３４８・・・
・ｌにセット、 ３５０・・・・０にセット， ３５２・・・・新微分値≧計算微分値？、３５４・・・
・ｌにセット、 ３５６・・・・０にセット， ３５８・・・・新微分値く最大微分値、３６０・・・・
禁止パルスレジスタセット，３６２・・・・大きな負の
微分ジャンプより前の値記憶、 ３６４・・・・前の値＋境界値、 ３６６・・・・レジスタ４５＝レジスタ４６，３６８・
・・・レジスタ４５〉レジスタ４６，３７０・・・・現
在新聞の初期基準セット、３７２・・・・厚さ計測最低
値記憶、 ３９８・・・・新値をＲＡＭ９４にシフト、第６ｋ図　
校正サブルーチン ４１０・・・・１６部目の新聞が通過したが？４１２・
・・ｌ６の値集計， ４１４・・・・集計値÷１６、 ４１６・・・・新聞厚さ校正値セット、４１８・・・・
微分校正値セット、 第６ｊ図（第６１図のつづき） ３８０・・・・新聞上端最低値回復、 ３８２・・・・新聞厚さ計算、 ３８４・・・・厚さ測定値≧厚さ校正値？、３８６・・
・・レジスタ２３＝１にセット？、３８８・・・・レジ
スタ２３＝２にセット、３９０・・・・光の新聞の存在
？、 ３９２・・・・厚さ測定値≧２部の校正値？、３９４・
・・・レジスタ２３＝３にセット、３９６・・・・光の
１５部の新聞の値をＲＡＭ９４にシフト、 第６ｅ図　遅延サブルーチン ４３０・・・・計算値≧光の割込みパルスが６１０ミリ
秒、 ４３２・・・・記憶値を１０ミリ秒に遅延、４３４・・
・・出力サブルーチン呼出し，４３６・・・・２パルス
出力？、 ４３８・・・・更に１０ミリ秒の遅延付加、４４０・・
・・出力サブルーチン呼出し、第６ｍ図　出力サブルー
チン ４４２・・・・Ｉ／Ｏビット１を０に換える、４４４・
・・・５マイクロ秒遅延、 ４４６・・・・Ｉ／Ｏビット１を０に換える、４９２・
・・・次のパルス出力可能、 第６ｎ図　故障サブルーチン

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. （１）コンベヤ上を運ばれる折帳を計数するシステムで
   あつて、 前記折帳の側縁の厚さの増減を観測し得る方向と位置に
   列設された線形光検出アレー上に前記折帳の側縁の像を
   光学的に結ぶ結像手段と、前記線形光検出アレーからの
   出力を数値化する解析手段と、 前記折帳の側縁の厚さの測定値の変化の割合が正から負
   へ変る時点ごとに当該折帳の計数を出力する折帳計数出
   力手段と、 からなる像解析計数システム。
2. （２）コンベヤ上を運ばれる折帳を計数するシステムで
   あって、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に列設された線形
   光検出アレー上に前記折帳の側縁の像を光学的に結ぶ結
   像手段と、 ＤＣ残留偏差を除去するために、前記線形光検出アレー
   からのアナログ出力を定時間比で差動増幅手段へ逐次シ
   フトするシフト手段と、前記差動増幅手段からの出力を
   受理し、その出力を光のレベルによって決められた直列
   デジタル出力信号に変換する変換手段と、 変換された前記出力信号を受理する直列入力／並列出力
   シフトレジスタと、 前記線形光検出アレーに現れる前記折帳の流れの像の量
   的輪郭を前記シフトレジスタの出力に基づいて数値化す
   るマイクロプロセシング手段と、 微分された前記像の上端決定値を更に数値化するために
   、連続する前後の折帳の像の輪郭の決定値間の差を比較
   する比較手段と、 連続する輪郭の決定値の変化の割合が正から負へ変る時
   点ごとに折帳の計数を出力する折帳計数出力手段と、 からなる像解析計数システム。
3. （３）前記結像手段が 光源と、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に沿って設けた細
   長孔を有する光遮断材と、 前記細長孔と前記線形光検出アレーとの間の視線上に設
   けられ、かつ、前記細長孔に規制された折帳の側縁の像
   が前記線形光検出アレー上に結ばれるレンズシステムと
   、 前記視線に対して所定の角度を有する位置に設けられ、
   かつ、それによって、前記レンズシステムで定められた
   フィールドの予定深度の背後の光が、調整可能なしきい
   値検出レベルの下であり、そして、折帳の側縁が照らさ
   れて前記線形光検出アレー上に結像するように配設され
   た前記光源と、 からなる請求項１または２記載の像解析計数システム。
4. （４）折帳の厚さ測定値を得て、その厚さ測定値が厚さ
   校正値を超える時点で単数の計数増分を出力し、かつ、
   前記厚さ測定値が第２の厚さ校正値を超える時点で２数
   の計数増分を出力するようにした前記折帳計数出力手段
   と、 からなる請求項１または２記載の像解析計数システム。
5. （５）コンベヤ上を運ばれる折帳を計数するシステムで
   あって、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に列設され、かつ
   、前記折帳の側縁が光学的に結像されるＣＣＤアレーと
   、 前記ＣＣＤアレーからの出力を定時間比で順次連続して
   シフトする手段と、 前記シフトされた出力を受理して、前記折帳の上端の輪
   郭の定時的反復的連続デジタル値を生ぜしめる信号処理
   手段と、 前記デジタル値と当該デジタル値の次のデジタル値とを
   比較して、その差によって前記折帳の上端の輪郭微分値
   を得る比較手段と、 前記差値が正から負に変る時点で折帳計数増分を出力す
   る折帳計数出力手段と、 からなる像解析計数システム。
6. （６）前記結像手段が、 光源と、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に沿って設けた細
   長孔を有する光遮断材と、 前記細長孔と前記ＣＣＤアレーとの間の視線上に設けら
   れ、かつ、前記細長孔に規制された折帳の側縁の像が前
   記ＣＣＤアレー上に結ばれるレンズシステムと、 前記視線に対して所定の角度を有する位置に設けられ、
   かつ、それによって、前記レンズシステムで定められた
   フィールドの予定深度の背後の光が、調整可能なしきい
   値検出レベルの下であり、そして、折帳の側縁が照らさ
   れて前記ＣＣＤアレー上に結像するように配設された前
   記光源と、 からなる請求項５記載の像解析計数システム。
7. （７）光の折帳と現在の折帳の各上端の輪郭の決定値の
   対比から折帳の厚さ決定値を得る手段と、サンプルから
   サンプルへ計算された差値が現実の折帳で正から負へ変
   る時点において、更に、前記折帳の厚さ決定値が厚さ校
   正値を超える時点で単数の計数増分を出力し、前記折帳
   の厚さ測定値が第２の厚さ校正値を超える時点で２数の
   計数増分を出力するようにした前記折帳計数出力手段と
   、 からなる請求項５記載の像解析計数システム。
8. （８）コンベヤ上を運ばれる折帳の側縁に対して交差し
   て線形光検出アレーを設け、その線形光検出アレー上に
   結ばれる前記折帳の側縁の像を解析することによって前
   記折帳の計数を得る方法であって、 前記線形光検出アレーからのアナログ出力を差動増幅手
   段への標準暗レベル出力に逐次シフトして、それからＤ
   Ｃ残留偏差及び又は高周波ノイズを取り除く過程と、 前記差動増幅手段からの出力信号を直列デジタル出力信
   号に変換する過程と、 前記直列デジタル出力信号を直列入力／並列出力シフト
   レジスタ手段に供給する過程と、前記シフトレジスタか
   らの並列出力をランダムアクセスメモリに記憶する過程
   と、 前記ランダムアクセスメモリ内のデータをマイクロプロ
   セシング手段に移送して、前記線形光検出アレーに現れ
   る折帳の上端輪郭像を数値化する過程と、 連続する折帳の上端像の決定値間を比較して、その差か
   ら前記上端決定値の変化の割合を得る過程と、 前記上端決定値の変化の割合が正から負へ変る時点で前
   記折帳の厚さを決定する過程と、連続する上端決定値の
   変化の割合が正から負へ変り、かつ、前記折帳の厚さ計
   測値が第１の厚さ校正値を超える時点で単数の計数増分
   を出力する過程と、 連続する上端決定値の変化の割合が正から負へ変り、か
   つ、前記折帳の厚さ計測値が第２の厚さ校正値を超える
   時点で２数の計数増分を出力する過程と、 からなる像解析計数方法。