JPH02235182A - 画像情報の補正方法 - Google Patents
画像情報の補正方法Info
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- JPH02235182A JPH02235182A JP1057365A JP5736589A JPH02235182A JP H02235182 A JPH02235182 A JP H02235182A JP 1057365 A JP1057365 A JP 1057365A JP 5736589 A JP5736589 A JP 5736589A JP H02235182 A JPH02235182 A JP H02235182A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は画像情報検出装置に於ける検出画像情報の補正
方法に関し、特に光学系の誤差等により生ずる単一方向
の歪を補正する方法に関する． （従来技術） 近年、コンピュータ画像処理等の広範囲に於いて光学系
を用いた画像情報検出装置が多用されつつあり、またこ
れらの検出精度は高精度であることが要求されるように
なってきた．そのため画像情報検出装置では様々な歪補
正方法が用いられ、例えばそれに用いられるレンズ、反
射鏡及び受光器等の精度を向上する方法やＸ．Ｙ座標を
用いそれぞれアナログ演算回路により歪量を検出し、該
検出値に基づいて歪を補正する方法等がある。
方法に関し、特に光学系の誤差等により生ずる単一方向
の歪を補正する方法に関する． （従来技術） 近年、コンピュータ画像処理等の広範囲に於いて光学系
を用いた画像情報検出装置が多用されつつあり、またこ
れらの検出精度は高精度であることが要求されるように
なってきた．そのため画像情報検出装置では様々な歪補
正方法が用いられ、例えばそれに用いられるレンズ、反
射鏡及び受光器等の精度を向上する方法やＸ．Ｙ座標を
用いそれぞれアナログ演算回路により歪量を検出し、該
検出値に基づいて歪を補正する方法等がある。
しかしながら、画像検出装置に用いられるレンズ、反射
鏡及びＣＣＤ受光センサ等の精度或はこれら光学部品の
相対的な取り付け位置精度等の向上には限界があり、従
って、画像情報の歪による位置ずれの発生を完全に押さ
れることは困難であり、また前述した如きアナログ演算
回路を用いた補正方法で高精度の補正を行なうとすると
回路構成が著しく複雑になるという問題点があった． （発明が解決しようとする課題） 本発明は上述した従来の画像情報検出装置の問題点に鑑
みてなされたものであって、画像情報の歪のうち特に光
学系の誤差により発生する単一方向の歪を有する画像情
報に於いて、該検出画像の歪の特性を設定し該特性に従
って画像情報の歪を完全に補正をする画像情報の補正方
法を提供することを目的とする． （課題を解決するための手段） この目的を達成するために、本発明の画像情報補正・方
法は、単一方向の歪を有する画像情報の補正方法に於で
、所望のデータを記載したテスト画像を受像することに
より得た第一のテスト画像情報と、該第一のテスト画像
情報を最小二乗法を用いて解析することにより得た第二
のテスト画像情報とを比較し、受像手段の特性情報を検
出記憶するとともに該特性情報に基づいて原稿画像を補
正することにより正確な原稿画像情報を得ることを特徴
とする。
鏡及びＣＣＤ受光センサ等の精度或はこれら光学部品の
相対的な取り付け位置精度等の向上には限界があり、従
って、画像情報の歪による位置ずれの発生を完全に押さ
れることは困難であり、また前述した如きアナログ演算
回路を用いた補正方法で高精度の補正を行なうとすると
回路構成が著しく複雑になるという問題点があった． （発明が解決しようとする課題） 本発明は上述した従来の画像情報検出装置の問題点に鑑
みてなされたものであって、画像情報の歪のうち特に光
学系の誤差により発生する単一方向の歪を有する画像情
報に於いて、該検出画像の歪の特性を設定し該特性に従
って画像情報の歪を完全に補正をする画像情報の補正方
法を提供することを目的とする． （課題を解決するための手段） この目的を達成するために、本発明の画像情報補正・方
法は、単一方向の歪を有する画像情報の補正方法に於で
、所望のデータを記載したテスト画像を受像することに
より得た第一のテスト画像情報と、該第一のテスト画像
情報を最小二乗法を用いて解析することにより得た第二
のテスト画像情報とを比較し、受像手段の特性情報を検
出記憶するとともに該特性情報に基づいて原稿画像を補
正することにより正確な原稿画像情報を得ることを特徴
とする。
（実施例）
以下、図面に示した実施例に基づいて本発明の詳細に説
明する． 第１図は本発明のフローチャートを示す図であって、先
ず、テスト画像を得るために第２図に示すような透明の
シート上に等間隔に平行線を引いたテスト原稿を透過式
のスキャナで読み取りコンピュータのＲＡＭ上に記憶さ
せ、該読み込んだ情報からテスト画像の平行線の位置情
報｛Ｘ＋｝を得る． 次に前記｛Ｘ＋｝のうち画像の中心に最も近いものをｘ
ｃとする．これはレンズ等の歪により画像の周辺ほど著
しく歪むため歪の比較的少ない中心部の画像情報を基準
にするためである。このようにｘ０を選定した後に偏差
量Ｋを定め、前記平行線の位置情報｛Ｘ，｝のうち Ｘ０−８≦Ｘ．：＝Ｘ．。、 であるものについて最小二乗法を適用して本来の平行線
の位置情報｛ｘ’．｝を推定し、前記検出位置情報｛ｘ
１｝及び推定位置情報｛Ｘ’＋）とから補正値｛む｝を
算出する。
明する． 第１図は本発明のフローチャートを示す図であって、先
ず、テスト画像を得るために第２図に示すような透明の
シート上に等間隔に平行線を引いたテスト原稿を透過式
のスキャナで読み取りコンピュータのＲＡＭ上に記憶さ
せ、該読み込んだ情報からテスト画像の平行線の位置情
報｛Ｘ＋｝を得る． 次に前記｛Ｘ＋｝のうち画像の中心に最も近いものをｘ
ｃとする．これはレンズ等の歪により画像の周辺ほど著
しく歪むため歪の比較的少ない中心部の画像情報を基準
にするためである。このようにｘ０を選定した後に偏差
量Ｋを定め、前記平行線の位置情報｛Ｘ，｝のうち Ｘ０−８≦Ｘ．：＝Ｘ．。、 であるものについて最小二乗法を適用して本来の平行線
の位置情報｛ｘ’．｝を推定し、前記検出位置情報｛ｘ
１｝及び推定位置情報｛Ｘ’＋）とから補正値｛む｝を
算出する。
更に、テスト原稿の両端付近に設定した２定点ＩＡ ｓ
ｉｓ間で生じる誤差ΔをあらかじめＸＩＡｓＬｓより
算出したうえで、前記Ｋの値を数回変化させ上述した過
程を行ない、該補正値ｄｌＡとｄｉ！１との差ｄ Ｉｌ
ｌ ｄｌＡ及び前記Δとの差１ ＋Ｌｓ−＋ＬＡ−
Δ｛ が最小となるようなＫｍｌｎを算出し、Ｘｅ−Ｋｓａｔ
ｎ≦Ｘｔ≦ＸｅＪ＋ｍｔ。
ｉｓ間で生じる誤差ΔをあらかじめＸＩＡｓＬｓより
算出したうえで、前記Ｋの値を数回変化させ上述した過
程を行ない、該補正値ｄｌＡとｄｉ！１との差ｄ Ｉｌ
ｌ ｄｌＡ及び前記Δとの差１ ＋Ｌｓ−＋ＬＡ−
Δ｛ が最小となるようなＫｍｌｎを算出し、Ｘｅ−Ｋｓａｔ
ｎ≦Ｘｔ≦ＸｅＪ＋ｍｔ。
であるものについて再び最小二乗法を適用し推定位置情
報をＸ，を得、最も適正な補正値ｄ＋を算出する． このようにして得た補正値｛ａ．｝をスキャナの補正特
性情報として用いることにより、原稿用紙の任意の位置
Ｘにおける補正値ｄを前記｛島｝及び｛ｄ１｝とから線
形補間により近似的に求め、位置Ｘにおける像をｘ−ｄ
の像として補正し、正しい位置情報を得ることができる
。
報をＸ，を得、最も適正な補正値ｄ＋を算出する． このようにして得た補正値｛ａ．｝をスキャナの補正特
性情報として用いることにより、原稿用紙の任意の位置
Ｘにおける補正値ｄを前記｛島｝及び｛ｄ１｝とから線
形補間により近似的に求め、位置Ｘにおける像をｘ−ｄ
の像として補正し、正しい位置情報を得ることができる
。
また、本発明の方法によれば、前記テスト原稿上の平行
線の間隔は狭いほどより正確な歪特性情報を得ることが
できる．なお、本発明の実施例に於いては透過式のスキ
ャナを用いる場合について説明したが、これに限定され
るものではなく反射式スキャナ或は他の受像装置であっ
ても単一方向の歪を生ずるものであれば同様の手法によ
り歪補正を行なうことができ、更に単一方向の歪が複数
の方向に合成されている場合についても前述した手法を
複数回行なうことにより補正することは明らかである。
線の間隔は狭いほどより正確な歪特性情報を得ることが
できる．なお、本発明の実施例に於いては透過式のスキ
ャナを用いる場合について説明したが、これに限定され
るものではなく反射式スキャナ或は他の受像装置であっ
ても単一方向の歪を生ずるものであれば同様の手法によ
り歪補正を行なうことができ、更に単一方向の歪が複数
の方向に合成されている場合についても前述した手法を
複数回行なうことにより補正することは明らかである。
（発明の効果）
本発明は上述した如く且つ機能するものであるから、画
像に生じる単一方向の歪を特性情報を検出し、該検出情
報に基づいて原稿の画像情報を補正するため歪を完全に
除去することができ正確な原稿画像を得るうえで著しい
効果を発揮する．
像に生じる単一方向の歪を特性情報を検出し、該検出情
報に基づいて原稿の画像情報を補正するため歪を完全に
除去することができ正確な原稿画像を得るうえで著しい
効果を発揮する．
第１図は本発明による補正方法のフローチャートを示す
説明図、第２図は本発明に用いるテスト原稿の一実施例
を示す説明図である．特許出願人 株式会社東京グラフ
ィック・アーツ代理人 弁理士 瀬 川 幹
夫第 図 第２１！ｌ ｉ八 ＬＢ
説明図、第２図は本発明に用いるテスト原稿の一実施例
を示す説明図である．特許出願人 株式会社東京グラフ
ィック・アーツ代理人 弁理士 瀬 川 幹
夫第 図 第２１！ｌ ｉ八 ＬＢ
Claims (1)
- 単一方向の歪を有する画像情報の補正方法に於いて、所
望のデータを記載したテスト画像を受像することにより
得た第一のテスト画像情報と、該第一のテスト画像情報
を最小二乗法を用いて解析することにより得た第二のテ
スト画像乗法とを比較し、受像手段の特性情報を検出記
憶するとともに該特性情報に基づいて原稿画像を補正す
ることにより正確な原稿画像情報を得ることを特徴とし
た画像情報の補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1057365A JPH02235182A (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 画像情報の補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1057365A JPH02235182A (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 画像情報の補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02235182A true JPH02235182A (ja) | 1990-09-18 |
Family
ID=13053557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1057365A Pending JPH02235182A (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 画像情報の補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02235182A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109970A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-25 | Toshiba Corp | 歪補正装置 |
| JPS629954A (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-17 | 吉村 一義 | 防湿ダンボ−ルシ−ト及びその製造方法 |
| JPS6421922A (en) * | 1987-07-16 | 1989-01-25 | Hitachi Ltd | Electron beam exposure system |
-
1989
- 1989-03-09 JP JP1057365A patent/JPH02235182A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109970A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-25 | Toshiba Corp | 歪補正装置 |
| JPS629954A (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-17 | 吉村 一義 | 防湿ダンボ−ルシ−ト及びその製造方法 |
| JPS6421922A (en) * | 1987-07-16 | 1989-01-25 | Hitachi Ltd | Electron beam exposure system |
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