JPH0223821B2 - - Google Patents

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JPH0223821B2
JPH0223821B2 JP1538784A JP1538784A JPH0223821B2 JP H0223821 B2 JPH0223821 B2 JP H0223821B2 JP 1538784 A JP1538784 A JP 1538784A JP 1538784 A JP1538784 A JP 1538784A JP H0223821 B2 JPH0223821 B2 JP H0223821B2
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JP
Japan
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slit
lens
aperture
lens meter
meter according
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JP1538784A
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JPS60159627A (ja
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Takashi Masuda
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Canon Inc
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Canon Inc
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0228Testing optical properties by measuring refractive power

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、特に眼鏡レンズやコンタクトレンズ
の測定に効果があり、被検レンズの頂点屈折力等
を自動的に測定できるレンズメータに関するもの
である。
従来のこの種のレンズメータは、一般に被検レ
ンズを通して所定のターゲツト像を投影し、その
結像位置によつてレンズの球面屈折力、乱視屈折
力、乱視軸、プリズム屈折力、プリズム基底方向
等を測定しているが、最近はその測定を自動的に
行うようにしたものが、例えば米国特許第
4180325号、同第4275964号公報等によつて提案さ
れている。
しかし、これらの従来の自動レンズメータで
は、一般に可動部を有するため機構的に相当に複
雑化、また可動部の無い方式でも受光素子を多数
備えなければならないのでやはり複雑な構造にな
り、それだけコストも高く精度も十分ではないと
いう問題がある。
本発明の目的は、可動部が全く無く、構造的に
簡単でコストが安く、一次元光検出素子によつて
高精度の測定を自動的に実施し得るようにしたレ
ンズメータを提供することにあり、その要旨は、
被検レンズに光束を入射させる対物レンズ及び該
対物レンズの前側焦点位置に配置し3経線方向に
対応するスリツトを備えて該スリツトからの光束
を順次に抽出する照明系と、前記被検レンズの後
方に配置し前記各スリツトに直交した経線方向に
各2個以上の開口を有する絞りと、前記被検レン
ズを通過して前記絞りの各開口を通つた光束の入
射位置を検出する1個又は2個の一次元光検出素
子とを具備したことを特徴とするものである。
以下に、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示すものであ
つて、1は測定されるべき被検レンズである。こ
の被検レンズ1に光束を入射させる対物レンズ2
の前側焦点位置又はこれと等価な位置に、3経線
方向にそれぞれ各1個の細条状の孔を有する3個
のスリツト3,4,5が配置されている。対物レ
ンズ2の光軸01上に光路分割手段として2個の
半透鏡6,7が挿入され、光軸01にそれぞれ直
交する光軸02,03を有する光路に光を分割す
るようになつており、光軸01,02,03上に
それぞれスリツト3,4,5が配置されている。
また、これらの3つの光軸01,02,03につ
いて、それぞれのスリツト3,4,5を照明する
ため、例えば赤外発光ダイオード等の光源8a〜
8fが2個ずつ設置され、これらの各光源8a〜
8fの前方にはコンデンサレンズ9a〜9fがそ
れぞれ対応して配置されている。
一方、光軸01上の被検レンズ1の後方には、
第2図に示すように等角度に配置された6個の開
口10a〜10fを有する絞り10、次いで投影
レンズ11、単一の一次元光検出素子12が順次
に配備されている。ここで、開口10a〜10f
のうち経線方向に対向する各2個は、スリツト
3,4,5の長手方向の各経線方向と直交する方
向に配置されていることが必要である。また、絞
り10と光源8a〜8fとは略共役位置に置か
れ、かつ各開口10a〜10fはそれぞれの光源
8a〜8fに対応して設けられている。
第1図において、例えば光源8c,8dから出
射した光は半透鏡6で反射され、光源8e,8f
から出射した光は半透鏡7で反射されてそれぞれ
対物レンズ2により被検レンズ1に投影され、光
源8a,8bから出射した光は半透鏡6,7を透
過し直接に対物レンズ2により被検レンズ1に投
影される。スリツト3,4,5は前述のように対
物レンズ2の前側焦点位置に配置されているの
で、各スリツト3,4,5からの光束は平行光束
になつて被検レンズ1へ入射する。従つて、被検
レンズ1側からスリツト3,4,5を見た場合に
は、第3図に示すように互いに120度の角度をな
すスリツト像3a,4a,5aが重なつて見える
ことになる。また、被検レンズ1を通過した光束
は、絞り10の開口10a〜10fを通過して投
影レンズ11により一次元光検出素子12上にス
リツト像3a,4a,5aを投影する。
被検レンズ1が無い場合又は被検レンズ1が0
デイオプタである場合なら、一次元光検出素子1
2上には第4図に示すように、開口10a〜10
fのそれぞれに対応したスリツト像Sa〜Sfが3
本のスリツト像として結像する。このスリツト
Sa〜Sfを分離するため、光源8a〜8fを順次
に点灯して一次元光検出素子12を走査すると、
スリツト像Sa〜Sfのそれぞれに対応する一次元
光検出素子12の交点位置を検出素子12の出力
から得ることができる。この場合に一次元光検出
素子12に対する交点位置は全て同一位置であ
り、一次元光検出素子12の出力はスリツト像
Sa〜Sfに対して全て同一位置においてピーク値
が得られる。
次に、屈折力を有する被検レンズ1が挿入され
た場合は、光源8a〜8fによる像は第5図に示
すように現れる。この場合に、一次元光検出素子
12はスリツト3,4,5との共役関係から外れ
るため、開口10a〜10fのそれぞれに対応し
たスリツト像は一次元光検出素子12上で一致し
なくなり、つまりぼけた6本のスリツト像とな
る。従つて、前例と同様に光源8a〜8fを順次
に点灯すれば、スリツト像SaとSbとの間隔、Sc
とSb及びSeとSf間の3組の像間隔から3つの経
線方向の屈折力を測定することができ、つまり屈
折力は像間隔に対応して求められる。そして、求
められた3方向の屈折力をそれぞれD1、D2、D3
とし、経線方向をθ1、θ2、θ3として次式、 DN=A sin2(θN+Ψ)+B (ただしN=1〜3)に代入してA、B、Ψを求
め、球面屈折力、乱視屈折力、乱視軸を算出し得
ることになる。
被検レンズ1として乱視レンズを入れた場合の
スリツト像Sa〜Sfと、一次元光検出素子12と
の関係は第6図に示すようになる。この場合は3
方向の屈折力はD1≠D2≠D3であるから、スリツ
ト像SaとSb、ScとSd、SeとSfの間隔は異なつた
ものになる。
また、プリズム成分を有する被検レンズ1を挿
入した場合、第7図に示すように一次元光検出素
子12の中心位置Oを基準にしてスリツト像Sa,
Sc,Seの交点0′の位置座標(x、y)よりプリ
ズム量x、yを求めることができる。なお一般に
は第5図に示すようにスリツト像Sa〜Sfは6本
の線となるが、この場合SaとSbの中間仮想線、
ScとSdの中間仮想線、SeとSfの中間仮想線を想
定し、これら3つの中間仮想線の交点0′の位置座
標(x、y)よりプリズム量x、yを求める。
第8図は本発明の第2の実施例を示し、第1図
と同一の符号は同一又は同等の部材を表してい
る。この第2の実施例では、各スリツト3,4,
5を照明する光源8a〜8cと、それに付随する
コンデンサレンズ9a,9b,9cがそれぞれ1
個ずつ各光軸上に配置され、投影レンズ11の後
方には絞り10の開口10a〜10fを透過した
光束を分割する光路分割手段としてプリズム13
が設置されている。その他の構成は先の第1の実
施例とほぼ同様であり、絞り10の形状も第2図
に示すものと同じ形状を有し、投影レンズ11と
プリズム13により絞り10の各開口10a〜1
0fに対応してスリツト像Sa〜Sfを形成するよ
うになつている。プリズム13は第9図に例示す
るように、絞り10の各開口10a〜10fに対
応するエレメント13a〜13fを有し、各経線
方向に光を屈折するようなくさび型とされてい
る。
第10図はこの第2の実施例におけるスリツト
像Sa〜Sfと一次元光検出素子12との関係を表
したものであり、光源8a〜8cを順次に点灯し
てスリツト像Sa〜Sfと一次元光検出素子12と
の交点を求めることにより、先の第1の実施例と
同様に被検レンズ1の屈折力を測定することがで
きる。ちなみに、光源8aを点灯するとスリツト
像SaとSbが一次元光検出素子12上へ投影され
る。
次に、第11図はプリズムの屈折力を多く計測
するために、2個の一次元光検出素子12a,1
2bを使用した第3の実施例を示すものであり、
光軸01上の第1の一次元光検出素子12aと投
影レンズ11との間に光路分割手段して半透鏡1
4が挿入され、その反射側の光軸04上に第2の
一次元光検出素子12bが配置されている。
第12図a,bはそれぞれ一次元光検出素子1
2a,12bとスリツト像Sa〜Sfとの関係を示
し、被検レンズ1のプリズム度によつてはスリツ
ト像Sa〜Sfがaに示すようにスリツト像Se〜Sf
が素子12aにかからなくなり測定不能となつた
ときでも、第2の一次元光検出素子12bにはb
に示すようにスリツト像Sa,Sfによる信号が投
影されるので測定が可能となる。
上述の各実施例は絞り10の各開口10a〜1
0f又はスリツト3,4,5に対応して、それぞ
れ別々の光源を用いた場合を示したが、開口又は
スリツトを形成する手段として液晶素子を用いる
場合には、光源は1個だけで済ませることができ
る。
即ち、第13図は単一の光源8を用いた第4の
実施例を示し、ここでは単一の光源8とそれによ
つて照明されるピンホール15に続いて、第14
図a〜cに示すような形状を有する液晶素子16
a〜16cを組合わせた液晶シヤツタ16が用い
られている。また、絞りとして被検レンズ1と投
影レンズ11との間に第15図に示すような6個
の開口17a〜17fの開閉を独立的に制御でき
る液晶シヤツタ17が用いられている。
この第4の実施例において、液晶シヤツタ16
は3枚の液晶素子16a〜16cで構成され異な
る3つの経線方向を選択し、液晶シヤツタ17は
絞りとしてスリツトの経線に対して直角方向に配
された開口17a〜17fの中の対応する2個を
開閉する。
測定時には先ず液晶素子16aのみを開けて、
開口17a,17bぽ順次に開放し、一次元光検
出素子12からの信号を取り込み、次に液晶素子
16bに対し開口17e,17f、更には液晶素
子16cに対し開口17c,17dというように
信号を入力させればよい。
また、スリツトとして液晶素子を1枚だけ用
い、これを第16図に示すように例えば13個のエ
レメントE1〜E13に分割し、その中の必要な
エレメントだけを適時に透過させて、先の3個の
液晶素子16a〜16cを組合わせた場合と等価
な形状を作ることもできる。そして、この場合は
光学部材の数を極端に減少できるという利点があ
る。
なお、絞りの開口は各経線方向に2個として説
明したが、光束位置が分離できるならば2個より
多くとも良く、例えば4個としてもよい。
以上説明したように本発明に係るレンズメータ
は、可動部が無く、3経線方向に対応するスリツ
トからの光束を順次に抽出する照明系と、1個又
は2個設けられる一次元光検出素子によつて高精
度の測定ができるため、構造が著しく単純化さ
れ、小型で安価でしかも精度が高い利点がある。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明に係るレンズメータの実施例を示
すものであり、第1図は第1の実施例の光学配置
図、第2図は絞り形状の正面図、第3図は被検レ
ンズ側から見たスリツト像の説明図、第4図〜第
7図はスリツト像と一次元光検出素子との関係
図、第8図は第2の実施例の光学配置図、第9図
はプリズムの正面図、第10図はスリツト像と一
次元光検出素子との関係図、第11図は第3の実
施例の光学配置図、第12図はその場合のスリツ
ト像と一次元光検出素子との関係図、第13図は
第4の実施例の光学配置図、第14図、第15図
は液晶シヤツタの正面図、第16図は液晶シヤツ
タの説明図である。 符号1は被検レンズ、2は対物レンズ、3,
4,5はスリツト、6,7は半透鏡、8は光源、
9はコンデンサレンズ、10は絞り、10a〜1
0fは開口、11は投影レンズ、12は一次元光
検出素子、13はプリズム、16,17は液晶シ
ヤツタである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検レンズに光束を入射させる対物レンズ及
    び該対物レンズの前記焦点位置に配置し3経線方
    向に対応するスリツトを備えて該スリツトからの
    光束を順次に抽出する照明系と、前記被検レンズ
    の後方に配置し前記各スリツトに直交した経線方
    向に各2個以上の開口を有する絞りと、前記被検
    レンズを通過して前記絞りの各開口を通つた光束
    の入射位置を検出する1個又は2個の一次元光検
    出素子とを具備したことを特徴とするレンズメー
    タ。 2 前記スリツトは3個から成り、光路分割手段
    によつて3つに分割された光路中にそれぞれ異な
    る経線方向に向けて配置し、照明用の光源を分割
    された光路中に前記絞りと略共役位置に配置し、
    特定の絞りを通して特定のスリツト像を前記一次
    元光検出素子上に投影するようにした特許請求の
    範囲第1項に記載のレンズメータ。 3 前記3個のスリツトは互いに120度の角度を
    与えて配置した特許請求の範囲第2項に記載のレ
    ンズメータ。 4 前記光路分割手段を半透鏡とした特許請求の
    範囲第2項に記載のレンズメータ。 5 前記光源として前記絞りの開口の1個だけを
    それぞれ照明する各経線方向に2個ずつ計6個の
    光源を用いた特許請求の範囲第2項に記載のレン
    ズメータ。 6 前記光源を順次に点灯して、1個の開口によ
    るスリツト像の位置を前記一次元光検出素子で検
    出するようにした特許請求の範囲第5項に記載の
    レンズメータ。 7 前記光源として3個の光源を用い、それぞれ
    各スリツトに対応した特定経線上の各2個の開口
    を照明するようにした特許請求の範囲第2項に記
    載のレンズメータ。 8 前記光源は順次に点灯する3個の発光ダイオ
    ードであり、各2個の開口によるスリツト像を分
    割して前記一次元光検出素子上に投影する光路分
    割手段を設けた特許請求の範囲第7項に記載のレ
    ンズメータ。 9 前記光路分割手段としてプリズムを用いた特
    許請求の範囲第8項に記載のレンズメータ。 10 前記スリツトとして経線方向を選択する液
    晶素子を用い、前記絞りとして前記スリツトの経
    線方向に対して直角な方向に偏角した位置の2個
    の開口を開閉する液晶素子を用いた特許請求の範
    囲第1項に記載のレンズメータ。 11 前記スリツトは異なる3つの経線方向を選
    択する3枚の液晶素子を組合わせて構成した特許
    請求の範囲第10項に記載のレンズメータ。 12 前記スリツトは3つの経線方向を選択する
    複数のエレメントに分割した1枚の液晶素子で構
    成した特許請求の範囲第10項に記載のレンズメ
    ータ。 13 開放された前記スリツトに、直角方向の各
    2個の開口を順次に開放してスリツト像を特定の
    開口を通して前記一次元光検出素子上に投影する
    ようにした特許請求の範囲第10項に記載のレン
    ズメータ。
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