JPH02238545A - Protocol testing device - Google Patents

Protocol testing device

Info

Publication number
JPH02238545A
JPH02238545A JP1057872A JP5787289A JPH02238545A JP H02238545 A JPH02238545 A JP H02238545A JP 1057872 A JP1057872 A JP 1057872A JP 5787289 A JP5787289 A JP 5787289A JP H02238545 A JPH02238545 A JP H02238545A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
protocol
section
data
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1057872A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Adachi
修 安達
Toshitake Yanagawa
柳川 利武
Yoichi Nakamura
陽一 中村
Mizue Fukuoka
福岡 瑞枝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
N T T SOFTWARE KK
NTT Software Corp
NTT Inc
Original Assignee
N T T SOFTWARE KK
Nippon Telegraph and Telephone Corp
NTT Software Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by N T T SOFTWARE KK, Nippon Telegraph and Telephone Corp, NTT Software Corp filed Critical N T T SOFTWARE KK
Priority to JP1057872A priority Critical patent/JPH02238545A/en
Publication of JPH02238545A publication Critical patent/JPH02238545A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Computer And Data Communications (AREA)
  • Communication Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、通信端末等に実装されたプロトコルの規格適
合性を試験するためのプロトコル試験装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a protocol testing device for testing the conformance of a protocol implemented in a communication terminal or the like to a standard.

(従来の技術〕 通信端末等に実装されている通信プロトコルの規格適合
性を検証する試験は、試験の制御や監視を行なうプロト
コル試験装置と被試験システムを通信回線で接続し、プ
ロトコル試験装置から送信した試験データに対する被試
験システムからの応答を監視することにより実施される
(Conventional technology) Tests to verify the conformance of communication protocols implemented in communication terminals, etc., to standards are performed by connecting the protocol test equipment that controls and monitors the test with the system under test via a communication line, and from the protocol test equipment to the system under test. This is performed by monitoring the response from the system under test to the transmitted test data.

このため、プロトコル試験装置には被試験プロトコルと
同一の機能を持ち、しかも規格適合しているプロトコル
処理部と、プロトコル処理部より下位のプロトコルエン
テイテイである下位プロトコル処理が必要である。また
、きめ細かい試験を実施するには、試験データとして正
常なプロトコル制御情報を持ったものに加え、異常なプ
ロトコル制御情報のもの、あるいはタイミング的にずれ
たもの等種々なものを送信し、それに対する被試験シス
テムの反応を見る必要がある。ここで、通常の試験は、
プロトコル試験装置と被試験システム間で送受信する試
験データのシーケンスを記述した試験シナリオにしたが
って実施される。
For this reason, the protocol testing device requires a protocol processing unit that has the same functions as the protocol under test and is compliant with the standards, and a lower protocol processing unit that is a lower protocol entity than the protocol processing unit. In addition, in order to conduct detailed tests, in addition to test data that has normal protocol control information, it is necessary to send various test data such as abnormal protocol control information or timing-shifted data, and respond accordingly. It is necessary to see the reaction of the system under test. Here, the normal test is
The test is performed according to a test scenario that describes the sequence of test data sent and received between the protocol test equipment and the system under test.

一方、通信端末等に実装する一般的なプロトコル処理部
は、正常処理のみを行なう機能しか必要でなく、プロト
コル処理部自身が異常なプロトコル制御情報を持つデー
タを生成・送出する機能は持たない。このため、プロト
コル試験装置内のプロトコル処理部には、新たに異常な
プロトコル制御情報を持つデータ等も生成・送出できる
ようにした特殊なプロトコル処理部を用意するかあるい
は、プロトコル処理を正常系と異常系に完全に分けて、
正常系はプロトコル処理部で処理を行ない、異常系につ
いてはマニュアル的に試験データを作成することが行な
われていた。
On the other hand, a general protocol processing section installed in a communication terminal, etc., only needs the function of performing normal processing, and does not have the function of generating and sending out data having abnormal protocol control information. For this reason, either a special protocol processing section that can generate and send data with abnormal protocol control information should be prepared for the protocol processing section in the protocol test equipment, or the protocol processing section should be set to normal system. Completely divided into abnormal systems,
Normal systems were processed by the protocol processing section, and test data for abnormal systems was created manually.

なお、プロトコル一般については、社団法人電子通信学
会編・オーム社より昭和59年1月発行・「データ通信
ハンドブック」のP159〜166に詳しい説明がなさ
れている。
Note that a detailed explanation of protocols in general is given in pages 159 to 166 of the ``Data Communication Handbook'' edited by the Institute of Electronics and Communication Engineers and published by Ohmsha in January 1980.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述のように従来のプロトコル試験装置では、プロトコ
ル処理部には通信端末等で使用出来る一般的なプロトコ
ル処理部ではなく、異常なプロトコル制御情報を持つ試
験データ等の生成・送出も可能な特殊なものを用いるか
、あるいは一般的なプロトコル処理部を用いた場合には
試験手順を正常系と異常系に完全に分離する必要があっ
た。
As mentioned above, in conventional protocol test equipment, the protocol processing unit is not a general protocol processing unit that can be used in communication terminals, etc., but a special protocol processing unit that can generate and send test data with abnormal protocol control information. If a general protocol processor was used, it would be necessary to completely separate the test procedures into normal and abnormal systems.

このため、特殊なプロトコル処理部の実装に関しては、
正常処理機能に加え異常処理機能も追加するために処理
機能が複雑なものを新たに作成しなければならないとい
う欠点が、また試験手順を正常系と異常系に分離するこ
とに関しては、正常系と異常系とが混在した試験手順の
実行が出来ず、しかも異常系に関しては送信する試験デ
ータを独自に作成しなければならず試験シナリオに沿っ
たきめ細かい試験ができないという欠点があった。
For this reason, regarding the implementation of special protocol processing units,
The drawback is that in order to add an abnormality processing function in addition to the normal processing function, a new complex processing function must be created. It is not possible to execute test procedures that include abnormal systems, and furthermore, for abnormal systems, test data to be transmitted must be created independently, making it impossible to conduct detailed tests in accordance with the test scenario.

本発明の目的は、上記の欠点を除去することにより、正
常系と異常系を混在させた試験シナリオを容易に作成で
き、かつ、きめ細かい試験が出来るプロトコル試験装置
を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a protocol testing device that can easily create test scenarios in which normal and abnormal systems are mixed, and that can perform detailed tests by eliminating the above-mentioned drawbacks.

[課題を解決するだめの手段] 上記目的を達成するために、本発明では、プロトコル試
験装置において、プロトコル処理部と下位プロトコル処
理部との間に異常処理を行なうための外乱発生部を設け
、この外乱発生部には、プロトコル処理部や通信制御部
からの試験データに対し異常処理を施す機能を持たせ、
このために、異常処理を行なう対象としての試験データ
を識別するだめの条件や異常処理内容を盛り込んだ異常
処理情報を付与されて蓄積する格納部と、プロトコル処
理部や下位プロトコル処理部から受け渡される試験デー
タを監視し異常処理を施すための条件と比較することに
より異常処理を行なうかどうかの判断を行なう比較監視
部と、その試験データに対し異常処理を行なう異常処理
部と、一つの異常処理がすんだら次の処理に備えて、格
納部から次の異常処理情報を取り出して比較監視部や異
常処理部へ転送する変更部と、を備えるとともに、試験
を実施する試験シナリオ内の全ての異常処理内容とそれ
を施すための条件とを試験の実施前にあらかじめ試験実
行管理部から格納部に受け渡すようにした。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides a protocol testing device with a disturbance generating section for performing abnormality processing between the protocol processing section and the lower protocol processing section, This disturbance generation section is equipped with a function to perform abnormality processing on test data from the protocol processing section and communication control section.
For this purpose, there is a storage unit that is given and accumulates abnormality processing information that includes the conditions for identifying the test data to be subjected to abnormality processing and the details of the abnormality processing, and a storage unit that stores the abnormality processing information that is passed from the protocol processing unit and the lower protocol processing unit. a comparison monitoring unit that monitors the test data that is generated and determines whether or not to perform abnormality processing by comparing it with the conditions for performing abnormality processing; an abnormality processing unit that performs abnormality processing on the test data; After processing, in preparation for the next process, it is equipped with a change unit that extracts the next abnormality processing information from the storage unit and transfers it to the comparison monitoring unit and the abnormality processing unit, and also updates all of the information in the test scenario to be tested. The details of the abnormality processing and the conditions for carrying out the processing are passed from the test execution management section to the storage section before the test is conducted.

〔作用〕[Effect]

試験シナリオに沿った試験実施時には、試験実行管理部
から送出される試験データをプロトコル処理部で正常処
理し、正常なプロトコル制御情報を持つ試験データを作
成し、さらにこの試験データを外乱発生部に渡し、外乱
発生部では、試験データを監視し、該データが試験実施
前にあらかじめ受け取ってある異常処理情報内の条件と
一致した場合には異常処理を行ない、異常なプロトコル
制御情報を持つかあるいはタイミングのずれた試験デー
タを下位プロトコル処理部に渡し被試験システムに送信
する。
When conducting a test according to a test scenario, the protocol processing section normally processes the test data sent from the test execution management section, creates test data with normal protocol control information, and then sends this test data to the disturbance generation section. The disturbance generation unit monitors the test data, and if the data matches the conditions in the abnormality processing information received before the test, performs abnormality processing and detects whether the data has abnormal protocol control information or The test data with a timing shift is passed to the lower protocol processing unit and sent to the system under test.

また、被試験システムから受信した試験データについて
も、下位プロトコル処理部で正常処理したものを外乱発
生部を通過させることにより異常な試験データに置き換
えることが出来る。従って、プロトコル処理部には、通
常の通信端末に実装する一般的な正常処理機能のみを有
するものが使え、しかも、外乱発生部で異常処理を行な
うに必要な条件を試験に先立ち試験実行管理部から外乱
発生部に一括して転送しておくとともに、異常処理毎に
次の条件を取り出して試験データと比較することによっ
て、試験実施時には正常系、異常系を区別することなく
、正常系と異常系とを混在させてきめ細かく、かつ、連
続性のある試験が容易に実施可能となる。
Furthermore, regarding the test data received from the system under test, it is possible to replace the test data that has been normally processed by the lower protocol processing section with abnormal test data by passing it through the disturbance generating section. Therefore, the protocol processing section can be one that has only the general normal processing functions implemented in normal communication terminals, and the test execution management section must prepare the necessary conditions for abnormal processing in the disturbance generation section before the test. In addition to transmitting the data all at once to the disturbance generating section, the following conditions are extracted for each abnormality process and compared with the test data. Detailed and continuous tests can be easily performed by mixing systems.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は、本発明の一実施例としてのプロトコル試験装
置を示すモジュール構成図である。プロトコル試験装置
1は通信回線30で被試験プロトコルを実装した被試験
システム2と接続されている。
FIG. 1 is a module configuration diagram showing a protocol testing device as an embodiment of the present invention. The protocol test device 1 is connected via a communication line 30 to a system under test 2 in which a protocol under test is implemented.

プロトコル試験装置1には、ユーザインタフェース11
のもとに、試験シーケンスを記述した試験シナリオと異
常処理を行うか否かの判断に必要な条件とを作成する試
験シナリオ作成部12、試験シナリオに基づいて試験の
実行制御を行なう試験実行管理部13、試験のログ情報
をもとに試験結果の解析を行なう試験結果解析部14の
各機能モジュールが実装されている。前記試験シナリオ
作成部12には、作成した試験シナリオを蓄積する試験
シナリオファイル15と、その試験シナリオ中の異常処
理について、該処理を行うか否かの判断に必要な条件を
蓄積する条件ファイル16が設けてある。また、試験実
行管理部13のもとには、被試験プロトコルと同一の機
能を持ちしかも正常なプロトコル処理のみを行なうプロ
トコル処理部17、プロトコル処理部17から送られる
試験データに対し、条件次第で異常処理を施したり施さ
なかったりする外乱発生部18、さらには被試験プロト
コルより下位のプロトコルエンティティから構成される
下位プロトコル処理部19が各々インタフェース26.
27.28を介して接続されている。さらに、試験実行
管理部13と外乱発生部18との間には異常処理を施す
べきか否かの判断のための条件と異常処理の内容を含む
異常処理情報を転送するためのインタフェース29が設
けてある。
The protocol test device 1 includes a user interface 11.
, a test scenario creation unit 12 that creates a test scenario that describes a test sequence and conditions necessary for determining whether or not to perform abnormality handling, and a test execution management unit that controls test execution based on the test scenario. Functional modules such as a section 13 and a test result analysis section 14 that analyze test results based on test log information are installed. The test scenario creation unit 12 includes a test scenario file 15 that stores created test scenarios, and a condition file 16 that stores conditions necessary for determining whether or not to perform abnormal processing in the test scenario. is provided. Also, under the test execution management section 13, there is a protocol processing section 17 that has the same function as the protocol under test and only performs normal protocol processing, and a protocol processing section 17 that processes the test data sent from the protocol processing section 17 depending on the conditions. A disturbance generating section 18 that performs or does not perform abnormality processing, and a lower protocol processing section 19 composed of protocol entities lower than the protocol under test are each connected to an interface 26.
27.28. Further, an interface 29 is provided between the test execution management section 13 and the disturbance generation section 18 for transferring abnormality processing information including conditions for determining whether abnormality processing should be performed and the contents of the abnormality processing. There is.

なお、試験実行管理部13、プロトコル処理部17、外
乱発生部18、下位プロトコル処理部19の関係をJI
SX5003 (開放型システム間相互接続の基本参照
モデル)における階層化モデルで説明すると、プロトコ
ル処理部17と外乱発生部18が被試験プロトコルと同
位エンティティ、下位プロトコル処理部19は被試験プ
ロトコルより下位のプロトコルエンティティであり、試
験実行管理部13には被試験プロトコルより上位のプロ
トコルエンティティを含む。
Note that the relationship among the test execution management section 13, protocol processing section 17, disturbance generation section 18, and lower protocol processing section 19 is
Explaining the layered model of SX5003 (basic reference model for interconnection between open systems), the protocol processing unit 17 and disturbance generation unit 18 are entities at the same level as the protocol under test, and the lower protocol processing unit 19 is an entity at a lower level than the protocol under test. This is a protocol entity, and the test execution management unit 13 includes a protocol entity higher than the protocol under test.

ロギング部20は試験結果の解析を行なうために必要な
ログ情報を収集する。このログ情報には、試験実行管理
部13で試験シナリオに基づいて実際に実行した試験シ
ーケンス情報と、外乱発生部18で試験データに異常処
理を施すことにより異常系に置き換えた場合の情報と、
プロトコル試験装置と被試験システム間で送受信する試
験データが含まれ、ロギング部20には収集したログ情
報を蓄積するためのログ情報ファイル2Iが設けてある
The logging unit 20 collects log information necessary for analyzing test results. This log information includes test sequence information actually executed based on the test scenario by the test execution management unit 13, information when the disturbance generation unit 18 performs abnormal processing on test data and replaces it with an abnormal system,
The logging unit 20 includes a log information file 2I for storing collected log information, which includes test data transmitted and received between the protocol test device and the system under test.

第2図は第1図の外乱発生部18を詳細に示した構成図
である。第2図において、外乱発生部18は、前記条件
ファイル16からの異常処理情報を試験実行管理部13
経出で付与されて蓄積する格納部22、プロトコル処理
部17から送られてくる試験データ(送信データ)ある
いは下位プロトコル処理部19から送られてくる試験デ
ータ(送信データに対して被試験システム2が応答して
くる受信データ)を監視し、格納部22の異常処理情報
に含まれる条件と比較することにより、異常処理を施す
かどうかの判断を行なう比較監視部23、異常処理を施
す場合に比較監視部23からの指示により試験データに
対し異常処理を実施し、下位プロトコル処理部19ある
いはプロトコル処理部17に送出する異常処理部24、
異常処理が終了すると、格納部22から次の異常処理情
報を取り出し比較監視部23と異常処理部24へ通知す
る変更部25から構成されており、さらに、比較監視部
23と異常処理部24とは、プロトコル処理部17から
送られてくる試験データ(送信データ)と下位プロトコ
ル処理部19から送られてくる試験データ(被試験シス
テム2からの送信デ一夕に対する応答データ)と、下位
プロトコル処理部19へ送出する試験データ(送信デー
タ)とプロトコル処理部17へ送出する試験データ(被
試験システム2からの応答データ)と、さらには、異常
処理部24で異常処理を行なった場合にはその異常処理
内容とをロギング部20へ通知する機能を有している。
FIG. 2 is a detailed configuration diagram of the disturbance generating section 18 of FIG. 1. In FIG. 2, the disturbance generation section 18 transfers the abnormality processing information from the condition file 16 to the test execution management section 13.
The test data (transmission data) sent from the storage unit 22 assigned and accumulated by the protocol processing unit 17 or the test data sent from the lower protocol processing unit 19 (the system under test 2 for transmission data) A comparison monitoring unit 23 monitors the received data (received data received as a response) and compares it with the conditions included in the abnormality processing information in the storage unit 22 to determine whether or not to perform abnormality processing. an abnormality processing unit 24 that performs abnormality processing on the test data according to instructions from the comparison monitoring unit 23 and sends it to the lower protocol processing unit 19 or the protocol processing unit 17;
When the abnormality processing is completed, the change section 25 extracts the next abnormality processing information from the storage section 22 and notifies it to the comparison monitoring section 23 and the abnormality processing section 24. is the test data (transmission data) sent from the protocol processing unit 17, the test data sent from the lower protocol processing unit 19 (response data to the transmission data from the system under test 2), and the lower protocol processing. The test data (transmission data) sent to the section 19, the test data (response data from the system under test 2) sent to the protocol processing section 17, and furthermore, when the abnormality processing section 24 performs abnormal processing, the It has a function of notifying the logging unit 20 of the contents of abnormal processing.

第3図は試験シナリオ作成部12で作成する異常処理情
報のフレーム構成図である。異常処理情報フレーム3は
、フレーム識別やフレームの長さ等からなるフレーム情
報31と、試験データを監視して異常処理を行うか否か
の判断を行うための判断条件32と、試験データに施す
異常処理の内容33と、その異常処理に必要となるデー
タ34から構成されており、一つの試験シナリオに対す
る異常処理情報は必要に応じ複数組のフレーム3で構成
される。
FIG. 3 is a frame configuration diagram of abnormality processing information created by the test scenario creation section 12. The abnormality processing information frame 3 includes frame information 31 including frame identification, frame length, etc., judgment conditions 32 for monitoring test data and determining whether or not to perform abnormality processing, and information to be applied to the test data. It is composed of the contents 33 of the abnormality processing and the data 34 necessary for the abnormality processing, and the abnormality processing information for one test scenario is composed of a plurality of sets of frames 3 as necessary.

第4図は第1図のプロトコル試験装置1から被試験シス
テム2へ試験データを送信する場合のプロトコル試験装
置内の各インタフェース26,27,28での試験デー
タのフレーム構成を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the frame structure of test data at each interface 26, 27, 28 in the protocol test device when the test data is transmitted from the protocol test device 1 shown in FIG. 1 to the system under test 2. .

第4図(a)はインタフェース26を通過する試験デー
タのフレーム構成であり、被試験プロトコルより上位の
プロトコル制御情報41と、利用者データ42とで構成
されている。(b)はインタフェース27を通過する試
験データのそれであり、試験データ(a)がプロトコル
処理部17で正常処理され、試験データ(a)のフレー
ムに被試験プロトコルのプロトコル制御情報43が付加
されたフレーム構成である。(C)はインタフェース2
8を通過する試験データであり、試験データ(b)が外
乱発生部18で異常処理され、試験データ(b)のプロ
トコル制御情報43が異常なプロトコル制御情報43′
に置き換えられている。
FIG. 4(a) shows the frame structure of the test data passing through the interface 26, which is composed of protocol control information 41 higher than the protocol under test and user data 42. (b) is that of the test data passing through the interface 27, in which the test data (a) has been normally processed by the protocol processing unit 17, and the protocol control information 43 of the protocol under test has been added to the frame of the test data (a). This is the frame configuration. (C) is interface 2
8, the test data (b) is abnormally processed by the disturbance generating unit 18, and the protocol control information 43 of the test data (b) is abnormal protocol control information 43'.
has been replaced by

なお、外乱発生部18で異常処理をされない試験データ
(b)はそのままインタフェース28を通過する。
Note that the test data (b) that is not subjected to abnormality processing by the disturbance generating section 18 passes through the interface 28 as is.

また、′fI!試験システム2から受信した応答データ
としての試験データは、インタフェース28では正常な
プロトコル制御情報43を持つ試験データ(b)で、そ
の試験データ(b)に対し外乱発生部18で異常処理を
行なった場合には、インタフェース27では異常なプロ
トコル制御情報43′を持つ試験データ(c)となる。
Also, 'fI! The test data as response data received from the test system 2 is test data (b) having normal protocol control information 43 at the interface 28, and abnormality processing has been performed on the test data (b) at the disturbance generating unit 18. In this case, the test data (c) at the interface 27 has abnormal protocol control information 43'.

次にこのような構成のプロトコル試験装置における試験
手順を説明する。
Next, a test procedure in the protocol test device having such a configuration will be explained.

試験実施者はあらかじめ試験シナリオ作成部12を起動
し、試験シーケンスを記述した試験シナリオと試験シナ
リオ中に異常系を含む場合には異常処理情報を作成し、
試験シナリオファイル15と条件ファイル16に蓄積す
る。試験実施時には試験実行管理部13を起動し、試験
を実施する試験シナリオを指定する。試験実行管理部1
3では指定された試験シナリオとそれに対応した異常処
理情報とを試験シナリオファイル15と条件ファイル1
6から読み出し、試験シナリオ全体に含まれる異常処理
情報はインタフェース29を通して外乱発生部18の格
納部22に一括転送する。
The test conductor activates the test scenario creation unit 12 in advance, creates a test scenario that describes the test sequence, and if the test scenario includes an abnormal system, creates abnormality processing information,
It is stored in the test scenario file 15 and condition file 16. When conducting a test, the test execution management unit 13 is activated and a test scenario for conducting the test is specified. Test execution management department 1
3, the specified test scenario and the corresponding abnormality processing information are stored in the test scenario file 15 and the condition file 1.
6 and the abnormality processing information included in the entire test scenario is collectively transferred to the storage section 22 of the disturbance generation section 18 through the interface 29.

試験実行管理部13では、被試験システム2へ送信する
試験データ(a)を前記試験シナリオに従って作成し、
インタフェース26を通してプロトコル処理部17へ送
出する。プロトコル処理部17では試験データ(a)に
対し正常なプロトコル処理を施し、正常なプロトコル制
御情報のある試験データ(b)をインタフェース27を
通して外乱発生部18中の比較監視部23に転送する。
The test execution management unit 13 creates test data (a) to be sent to the system under test 2 according to the test scenario,
It is sent to the protocol processing unit 17 through the interface 26. The protocol processing section 17 performs normal protocol processing on the test data (a), and transfers the test data (b) containing normal protocol control information to the comparison monitoring section 23 in the disturbance generation section 18 through the interface 27.

外乱発生部18では変更部25により格納部22から先
頭の異常処理情報フレーム3を取り出し、判断条件32
を比較監視部23に、異常処理内容33と異常処理に必
要なデータ34を異常処理部24に転送しておく。比較
監視部23では変更部25から転送された判断条件32
と前記プロトコル処理部17からの試験データ(b)と
を比較し、その試験データ(b)に予め含ませてある条
件と判断条件32とが一致する場合には、その試験デー
タを異常処理部24へ渡す。
In the disturbance generation unit 18, the change unit 25 takes out the first abnormality processing information frame 3 from the storage unit 22, and sets the judgment condition 32.
is transferred to the comparison monitoring section 23, and the abnormality processing details 33 and data 34 necessary for the abnormality processing are transferred to the abnormality processing section 24. The comparison monitoring unit 23 uses the judgment condition 32 transferred from the changing unit 25.
and the test data (b) from the protocol processing section 17, and if the condition included in the test data (b) in advance matches the judgment condition 32, the test data is sent to the abnormality processing section. Pass it to 24.

異常処理部24では、変更部25から転送された異常処
理内容33にしたがって試験データ(b)に対し異常処
理を施し、異常なプロトコル制御情報をもつ試験データ
(C)あるいはタイミング的にずれた試験データ(b)
を生成し、インタフェース28を通して下位プロトコル
処理部19へ転送するとともに、異常処理を実施したこ
とを変更部25に通知する。すると変更部25では、次
の異常処理に対処するため、格納部22から次の異常処
理情報フレーム3を取り出し、判断条件32を比較監視
部23に、異常処理内容33とデータ34を異常処理部
24に転送する。
The abnormality processing unit 24 performs abnormality processing on the test data (b) according to the abnormality processing content 33 transferred from the change unit 25, and removes test data (C) with abnormal protocol control information or timing-shifted tests. Data (b)
is generated and transferred to the lower protocol processing unit 19 through the interface 28, and the change unit 25 is notified that the abnormality processing has been performed. Then, in order to deal with the next abnormal process, the changing unit 25 takes out the next abnormal process information frame 3 from the storage unit 22, sends the judgment condition 32 to the comparison monitoring unit 23, and sends the abnormal process contents 33 and data 34 to the abnormal process unit. Transfer to 24.

もし外乱発生部18に転送された試験データ(b)に予
め含ませてある条件が判断条件32と一致しない場合に
は、試験データ(b)はそのまま下位プロトコル処理部
19へ転送される。下位プロトコル処理部19では、外
乱発生部18より転送された試験データに対し被試験プ
ロトコルより下位層のプロトコル処理を施して被試験シ
ステム2へ送出する。
If the conditions included in the test data (b) transferred to the disturbance generation section 18 in advance do not match the judgment conditions 32, the test data (b) is transferred to the lower protocol processing section 19 as is. The lower protocol processing section 19 performs a lower layer protocol processing than the protocol under test on the test data transferred from the disturbance generation section 18 and sends the data to the system under test 2 .

このようにして、プロトコル試験装置から送信する試験
データに対し連続して任意に異常処理を施すことが出来
る。
In this way, abnormality processing can be continuously and arbitrarily applied to the test data transmitted from the protocol test device.

一方、被試験システム2から応答データとして受信する
試験データに対しては、被試験プロトコルより下位層の
プロトコル処理を下位プロトコル処理部19で行なって
得た試験データ(b)を外乱発生部18に転送し、外乱
発生部18では前記送信時の試験データと同様な方法に
より必要に応じ異常処理を行ない、得られた試験データ
(c)をプロトコル処理部17へ転送する。
On the other hand, for test data received as response data from the system under test 2, test data (b) obtained by performing protocol processing of a layer lower than the protocol under test in the lower protocol processing unit 19 is sent to the disturbance generation unit 18. The disturbance generation section 18 performs abnormality processing as necessary using the same method as the test data at the time of transmission, and transfers the obtained test data (c) to the protocol processing section 17.

このような方法により、プロトコル試験装置1と被試験
システム2との間で連続して試験データを送受信し、し
かもその間に、インタフェース26やインタフェース2
8での試験データのフレームと送受信のタイミングや、
さらに異常処理を施した場合の異常処理内容をロギング
部20で収集し,、これら情報をログファイル21に蓄
積する。
By such a method, test data is continuously transmitted and received between the protocol test device 1 and the system under test 2, and during that time, the interface 26 and the
The test data frame and transmission/reception timing in 8.
Furthermore, the logging section 20 collects the contents of the abnormality processing when the abnormality processing is performed, and accumulates this information in the log file 21.

試験実施後、試験結果解析部14でこのログ情報ファイ
ル21中のログ情報をもとに試験結果の解析を行ない、
被試験プロトコルが規格に適合しているかを判断する。
After the test is conducted, the test result analysis section 14 analyzes the test results based on the log information in the log information file 21.
Determine whether the protocol under test complies with the standard.

〔発明の効果] I7 以上説明したように、本発明によれば、プロトコル試験
装置において、そのプロトコル処理部と下位プロトコル
処理部との間に外乱発生部を設け、試験実施に先立ち試
験データの判別条件と異常処理内容等から構成した異常
処理情報フレームを外乱発生部に転送しておくことによ
り、試験に必要な異常系の試験データを生成するための
特殊なプロトコル処理部を用意することなく、容易に異
常系の試験も実施可能であり、しかも、試験実施中に試
験実行管理部と外乱発生部との間で異常処理に関するや
り取りを行なう必要がなく、異常系を含む試験手順に対
しても正常系の場合とまったく同一の方法によりきめ細
かく、しかも効率よく連続した試験ができるという利点
がある。
[Effects of the Invention] I7 As explained above, according to the present invention, in the protocol testing device, a disturbance generating section is provided between the protocol processing section and the lower protocol processing section, and the discriminating of test data is performed prior to the test execution. By transmitting an abnormality processing information frame consisting of conditions and abnormality processing details to the disturbance generation section, there is no need to prepare a special protocol processing section to generate the abnormality-related test data required for the test. Tests for abnormal systems can be easily performed, and there is no need for communication regarding abnormal handling between the test execution management section and the disturbance generating section during test execution, and test procedures including abnormal systems can be performed easily. It has the advantage of being able to carry out detailed and efficient continuous testing using exactly the same method as for normal systems.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例としてのプロトコル試験装置
を示すモジュール構成図、第2図は第1図中の外乱発生
部の詳細を示す構成図、第3図は異常処理情報のフレー
ム構成図、第4図は第1図のプロトコル試験装置内の各
インタフェースでの試験データのフレーム構成図、であ
る。 符号の説明 1・・・プロトコル試験装置、2・・・被試験システム
、11・・・ユーザインタフェース、12・・・試験シ
ナリオ作成部、13・・・試験実行管理部、14・・・
試験結果解析部、15・・・試験シナリオファイル、1
6・・・条件ファイル、17・・・プロトコル処理部、
18・・・外乱発生部、19・・・下位プロトコル処理
部、20・・・ロギング部、21・・・ログ情報ファイ
ル、22・・・格納部、23・・・比較監視部、24・
・・異常処理部、25・・・変更部、26,27,28
.29・・・インタフェース、30・・・通信回線、3
・・・異常処理情報フレーム、32・・・判断条件、3
3・・・異常処理内容、34・・・データ、41.43
・・・プロトコル制御情報、42・・・利用者データ。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫
FIG. 1 is a module configuration diagram showing a protocol test device as an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram showing details of the disturbance generating section in FIG. 1, and FIG. 3 is a frame configuration of abnormality processing information. 4 is a frame configuration diagram of test data at each interface in the protocol testing device shown in FIG. 1. Explanation of symbols 1... Protocol test device, 2... System under test, 11... User interface, 12... Test scenario creation section, 13... Test execution management section, 14...
Test result analysis department, 15...Test scenario file, 1
6... Condition file, 17... Protocol processing section,
18... Disturbance generating section, 19... Lower protocol processing section, 20... Logging section, 21... Log information file, 22... Storage section, 23... Comparison monitoring section, 24.
... Abnormality processing section, 25... Change section, 26, 27, 28
.. 29...Interface, 30...Communication line, 3
... Abnormality processing information frame, 32 ... Judgment condition, 3
3... Abnormal processing content, 34... Data, 41.43
...Protocol control information, 42...User data. Agent Patent Attorney Akio Namiki

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)被試験プロトコルを実装した被試験システムと通信
回線を介して相互接続され、予め作成された試験シナリ
オに従って、被試験システムとの間で試験データを送受
信することにより、被試験システム内に実装されている
プロトコルの規格適合性を試験するプロトコル試験装置
において、(a)試験実施時に、試験シナリオを指定さ
れると、異常処理の内容と該異常処理を施すための条件
とを含む異常処理情報を、該シナリオに対応させてファ
イルから読み出して外乱発生部へ転送すると共に、被試
験システムへ送信すべき試験データを前記試験シナリオ
に従って作成しプロトコル処理部へ送出する試験実行管
理部と、 (b)試験実行管理部から送出されてきた試験データを
受信するとそれに対して正常なプロトコル処理を施して
前記外乱発生部へ転送する前記プロトコル処理部と、 (c)前記プロトコル処理部から転送されてきた試験デ
ータに対し、試験実行管理部から予め送られてきている
前記異常処理情報に含まれている条件に従って異常処理
を施し或いは施さずして下位プロトコル処理部へ転送す
る前記外乱発生部と、(d)前記外乱発生部より転送さ
れてきた試験データに対して被試験プロトコルより下位
層のプロトコル処理を施して被試験システムへ送出する
前記下位プロトコル処理部と、 (e)前記下位プロトコル処理部から被試験システムへ
送出された送信データと、それに対する被試験システム
からの応答データとして、前記下位プロトコル処理部、
外乱発生部、プロトコル処理部という具合に逆の経路を
経て被試験システムから受信された受信データと、前記
試験実行管理部において実行した試験手順を示すデータ
と、を試験結果解析のために収集するロギング部と、を
具備して成ることを特徴とするプロトコル試験装置。 2)請求項1に記載のプロトコル試験装置において、前
記外乱発生部は、前記試験実行管理部から一括して送ら
れてくる複数組の異常処理情報を格納する格納部と、異
常処理部と、前記プロトコル処理部から転送されてきた
試験データと前記格納部から渡された1組の異常処理情
報とを比較して異常処理を施すための条件が一致したら
該試験データを前記異常処理部へ渡して該異常処理情報
に含まれている内容の異常処理を施させる比較監視部と
、前記異常処理部において異常処理が行われるとそのこ
とを検出して前記格納部から次の1組の異常処理情報を
取り出して前記比較監視部へ渡す異常処理情報変更部と
、から成ることを特徴とするプロトコル試験装置。
[Claims] 1) A system under test that is interconnected via a communication line with a system under test that implements a protocol under test, and transmits and receives test data to and from the system under test according to a test scenario created in advance. In a protocol testing device that tests the conformance of a protocol implemented in a system under test to standards, (a) when a test scenario is specified during test execution, the contents of the abnormality handling and the conditions for performing the abnormality handling are specified. and abnormal processing information, including the above, is read out from the file in accordance with the scenario and transferred to the disturbance generation section, and at the same time, test data to be sent to the system under test is created according to the test scenario and sent to the protocol processing section. (b) the protocol processing unit which performs normal protocol processing on the test data sent from the test execution management unit and transfers it to the disturbance generation unit; (c) the protocol processing unit; The test data transferred from the test execution management section is transferred to the lower protocol processing section with or without abnormality processing according to the conditions included in the abnormality processing information sent in advance from the test execution management section. (d) the lower protocol processing unit that performs protocol processing on a layer lower than the protocol under test on the test data transferred from the disturbance generation unit and sends it to the system under test; As transmission data sent from the lower-level protocol processing unit to the system under test and response data from the system under test to the transmission data, the lower-level protocol processing unit;
Received data received from the system under test via the opposite path, such as the disturbance generation unit and the protocol processing unit, and data indicating the test procedure executed by the test execution management unit are collected for test result analysis. A protocol test device comprising: a logging section; 2) In the protocol testing device according to claim 1, the disturbance generation section includes a storage section that stores a plurality of sets of abnormality processing information sent collectively from the test execution management section, and an abnormality processing section; Compare the test data transferred from the protocol processing section with a set of abnormality processing information passed from the storage section, and if conditions for performing abnormality processing match, pass the test data to the abnormality processing section. a comparison monitoring unit that performs abnormality processing according to the content included in the abnormality processing information; and a comparison monitoring unit that detects when abnormality processing is performed in the abnormality processing unit and transmits the next set of abnormality processing from the storage unit. A protocol testing device comprising: an abnormality processing information changing section that extracts information and passes it to the comparison monitoring section.
JP1057872A 1989-03-13 1989-03-13 Protocol testing device Pending JPH02238545A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1057872A JPH02238545A (en) 1989-03-13 1989-03-13 Protocol testing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1057872A JPH02238545A (en) 1989-03-13 1989-03-13 Protocol testing device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02238545A true JPH02238545A (en) 1990-09-20

Family

ID=13068074

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1057872A Pending JPH02238545A (en) 1989-03-13 1989-03-13 Protocol testing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02238545A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06188952A (en) * 1992-12-22 1994-07-08 Matsushita Electric Works Ltd Protocol verifying device
CN118660091A (en) * 2024-06-26 2024-09-17 南京南瑞继保电气有限公司 A method, system and storage medium for generating an optical fiber interconnection protocol of a DC test device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06188952A (en) * 1992-12-22 1994-07-08 Matsushita Electric Works Ltd Protocol verifying device
CN118660091A (en) * 2024-06-26 2024-09-17 南京南瑞继保电气有限公司 A method, system and storage medium for generating an optical fiber interconnection protocol of a DC test device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0310782A2 (en) Failing resource manager in a multiplex communication system
EP0261335B1 (en) Test method and apparatus for a distributed processing system
JPH01243653A (en) Analyzer of error of communication system
CN112333044B (en) Shunting equipment performance test method, device and system, electronic equipment and medium
CN110290154A (en) A kind of illegal external connection detection device, method and storage medium
CN114942623A (en) Controller testing method and device, vehicle and computer readable storage medium
JPH02238545A (en) Protocol testing device
CN112995337B (en) High-performance processor chip-based high-performance Internet of things hardware platform and method
CN115766469A (en) Network anomaly simulation test method and device, electronic equipment and storage medium
CN110708286A (en) Supervision system for testing internet
CN115202921B (en) Fault diagnosis signal indicating device
CN115454015A (en) Controller node detection method, controller node detection device, control system, vehicle and storage medium
CN120387197B (en) An expansion module, fault location method, terminal equipment, medium and product
CN119149319B (en) Automated testing method, device, electronic device and storage medium
CN106506861B (en) A kind of transmission method and device of data
JP2001067248A (en) System and method for gathering fault log
JPH02159636A (en) Network fault diagnosis method
JPS6198046A (en) Testing method of data communication controller
CN118760073A (en) A method and device for automatically burning numbers of diagnostic connectors
JPS62108635A (en) Diagnostic method for communication control equipment
CN121462277A (en) Distributed network device fault monitoring and tracing methods and systems
CN113867325A (en) Communication diagnosis method and system for instrument control system
CN117320057A (en) A contextual logic judgment method and system for large-capacity communication signaling testing
CN121262144A (en) Backup transmission method, device and system for optical port data and ATE equipment
JPH02121451A (en) System bus monitor for electronic exchange