JPH02238545A - プロトコル試験装置 - Google Patents
プロトコル試験装置Info
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- JPH02238545A JPH02238545A JP1057872A JP5787289A JPH02238545A JP H02238545 A JPH02238545 A JP H02238545A JP 1057872 A JP1057872 A JP 1057872A JP 5787289 A JP5787289 A JP 5787289A JP H02238545 A JPH02238545 A JP H02238545A
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Computer And Data Communications (AREA)
- Communication Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、通信端末等に実装されたプロトコルの規格適
合性を試験するためのプロトコル試験装置に関する。
合性を試験するためのプロトコル試験装置に関する。
(従来の技術〕
通信端末等に実装されている通信プロトコルの規格適合
性を検証する試験は、試験の制御や監視を行なうプロト
コル試験装置と被試験システムを通信回線で接続し、プ
ロトコル試験装置から送信した試験データに対する被試
験システムからの応答を監視することにより実施される
。
性を検証する試験は、試験の制御や監視を行なうプロト
コル試験装置と被試験システムを通信回線で接続し、プ
ロトコル試験装置から送信した試験データに対する被試
験システムからの応答を監視することにより実施される
。
このため、プロトコル試験装置には被試験プロトコルと
同一の機能を持ち、しかも規格適合しているプロトコル
処理部と、プロトコル処理部より下位のプロトコルエン
テイテイである下位プロトコル処理が必要である。また
、きめ細かい試験を実施するには、試験データとして正
常なプロトコル制御情報を持ったものに加え、異常なプ
ロトコル制御情報のもの、あるいはタイミング的にずれ
たもの等種々なものを送信し、それに対する被試験シス
テムの反応を見る必要がある。ここで、通常の試験は、
プロトコル試験装置と被試験システム間で送受信する試
験データのシーケンスを記述した試験シナリオにしたが
って実施される。
同一の機能を持ち、しかも規格適合しているプロトコル
処理部と、プロトコル処理部より下位のプロトコルエン
テイテイである下位プロトコル処理が必要である。また
、きめ細かい試験を実施するには、試験データとして正
常なプロトコル制御情報を持ったものに加え、異常なプ
ロトコル制御情報のもの、あるいはタイミング的にずれ
たもの等種々なものを送信し、それに対する被試験シス
テムの反応を見る必要がある。ここで、通常の試験は、
プロトコル試験装置と被試験システム間で送受信する試
験データのシーケンスを記述した試験シナリオにしたが
って実施される。
一方、通信端末等に実装する一般的なプロトコル処理部
は、正常処理のみを行なう機能しか必要でなく、プロト
コル処理部自身が異常なプロトコル制御情報を持つデー
タを生成・送出する機能は持たない。このため、プロト
コル試験装置内のプロトコル処理部には、新たに異常な
プロトコル制御情報を持つデータ等も生成・送出できる
ようにした特殊なプロトコル処理部を用意するかあるい
は、プロトコル処理を正常系と異常系に完全に分けて、
正常系はプロトコル処理部で処理を行ない、異常系につ
いてはマニュアル的に試験データを作成することが行な
われていた。
は、正常処理のみを行なう機能しか必要でなく、プロト
コル処理部自身が異常なプロトコル制御情報を持つデー
タを生成・送出する機能は持たない。このため、プロト
コル試験装置内のプロトコル処理部には、新たに異常な
プロトコル制御情報を持つデータ等も生成・送出できる
ようにした特殊なプロトコル処理部を用意するかあるい
は、プロトコル処理を正常系と異常系に完全に分けて、
正常系はプロトコル処理部で処理を行ない、異常系につ
いてはマニュアル的に試験データを作成することが行な
われていた。
なお、プロトコル一般については、社団法人電子通信学
会編・オーム社より昭和59年1月発行・「データ通信
ハンドブック」のP159〜166に詳しい説明がなさ
れている。
会編・オーム社より昭和59年1月発行・「データ通信
ハンドブック」のP159〜166に詳しい説明がなさ
れている。
上述のように従来のプロトコル試験装置では、プロトコ
ル処理部には通信端末等で使用出来る一般的なプロトコ
ル処理部ではなく、異常なプロトコル制御情報を持つ試
験データ等の生成・送出も可能な特殊なものを用いるか
、あるいは一般的なプロトコル処理部を用いた場合には
試験手順を正常系と異常系に完全に分離する必要があっ
た。
ル処理部には通信端末等で使用出来る一般的なプロトコ
ル処理部ではなく、異常なプロトコル制御情報を持つ試
験データ等の生成・送出も可能な特殊なものを用いるか
、あるいは一般的なプロトコル処理部を用いた場合には
試験手順を正常系と異常系に完全に分離する必要があっ
た。
このため、特殊なプロトコル処理部の実装に関しては、
正常処理機能に加え異常処理機能も追加するために処理
機能が複雑なものを新たに作成しなければならないとい
う欠点が、また試験手順を正常系と異常系に分離するこ
とに関しては、正常系と異常系とが混在した試験手順の
実行が出来ず、しかも異常系に関しては送信する試験デ
ータを独自に作成しなければならず試験シナリオに沿っ
たきめ細かい試験ができないという欠点があった。
正常処理機能に加え異常処理機能も追加するために処理
機能が複雑なものを新たに作成しなければならないとい
う欠点が、また試験手順を正常系と異常系に分離するこ
とに関しては、正常系と異常系とが混在した試験手順の
実行が出来ず、しかも異常系に関しては送信する試験デ
ータを独自に作成しなければならず試験シナリオに沿っ
たきめ細かい試験ができないという欠点があった。
本発明の目的は、上記の欠点を除去することにより、正
常系と異常系を混在させた試験シナリオを容易に作成で
き、かつ、きめ細かい試験が出来るプロトコル試験装置
を提供することにある。
常系と異常系を混在させた試験シナリオを容易に作成で
き、かつ、きめ細かい試験が出来るプロトコル試験装置
を提供することにある。
[課題を解決するだめの手段]
上記目的を達成するために、本発明では、プロトコル試
験装置において、プロトコル処理部と下位プロトコル処
理部との間に異常処理を行なうための外乱発生部を設け
、この外乱発生部には、プロトコル処理部や通信制御部
からの試験データに対し異常処理を施す機能を持たせ、
このために、異常処理を行なう対象としての試験データ
を識別するだめの条件や異常処理内容を盛り込んだ異常
処理情報を付与されて蓄積する格納部と、プロトコル処
理部や下位プロトコル処理部から受け渡される試験デー
タを監視し異常処理を施すための条件と比較することに
より異常処理を行なうかどうかの判断を行なう比較監視
部と、その試験データに対し異常処理を行なう異常処理
部と、一つの異常処理がすんだら次の処理に備えて、格
納部から次の異常処理情報を取り出して比較監視部や異
常処理部へ転送する変更部と、を備えるとともに、試験
を実施する試験シナリオ内の全ての異常処理内容とそれ
を施すための条件とを試験の実施前にあらかじめ試験実
行管理部から格納部に受け渡すようにした。
験装置において、プロトコル処理部と下位プロトコル処
理部との間に異常処理を行なうための外乱発生部を設け
、この外乱発生部には、プロトコル処理部や通信制御部
からの試験データに対し異常処理を施す機能を持たせ、
このために、異常処理を行なう対象としての試験データ
を識別するだめの条件や異常処理内容を盛り込んだ異常
処理情報を付与されて蓄積する格納部と、プロトコル処
理部や下位プロトコル処理部から受け渡される試験デー
タを監視し異常処理を施すための条件と比較することに
より異常処理を行なうかどうかの判断を行なう比較監視
部と、その試験データに対し異常処理を行なう異常処理
部と、一つの異常処理がすんだら次の処理に備えて、格
納部から次の異常処理情報を取り出して比較監視部や異
常処理部へ転送する変更部と、を備えるとともに、試験
を実施する試験シナリオ内の全ての異常処理内容とそれ
を施すための条件とを試験の実施前にあらかじめ試験実
行管理部から格納部に受け渡すようにした。
試験シナリオに沿った試験実施時には、試験実行管理部
から送出される試験データをプロトコル処理部で正常処
理し、正常なプロトコル制御情報を持つ試験データを作
成し、さらにこの試験データを外乱発生部に渡し、外乱
発生部では、試験データを監視し、該データが試験実施
前にあらかじめ受け取ってある異常処理情報内の条件と
一致した場合には異常処理を行ない、異常なプロトコル
制御情報を持つかあるいはタイミングのずれた試験デー
タを下位プロトコル処理部に渡し被試験システムに送信
する。
から送出される試験データをプロトコル処理部で正常処
理し、正常なプロトコル制御情報を持つ試験データを作
成し、さらにこの試験データを外乱発生部に渡し、外乱
発生部では、試験データを監視し、該データが試験実施
前にあらかじめ受け取ってある異常処理情報内の条件と
一致した場合には異常処理を行ない、異常なプロトコル
制御情報を持つかあるいはタイミングのずれた試験デー
タを下位プロトコル処理部に渡し被試験システムに送信
する。
また、被試験システムから受信した試験データについて
も、下位プロトコル処理部で正常処理したものを外乱発
生部を通過させることにより異常な試験データに置き換
えることが出来る。従って、プロトコル処理部には、通
常の通信端末に実装する一般的な正常処理機能のみを有
するものが使え、しかも、外乱発生部で異常処理を行な
うに必要な条件を試験に先立ち試験実行管理部から外乱
発生部に一括して転送しておくとともに、異常処理毎に
次の条件を取り出して試験データと比較することによっ
て、試験実施時には正常系、異常系を区別することなく
、正常系と異常系とを混在させてきめ細かく、かつ、連
続性のある試験が容易に実施可能となる。
も、下位プロトコル処理部で正常処理したものを外乱発
生部を通過させることにより異常な試験データに置き換
えることが出来る。従って、プロトコル処理部には、通
常の通信端末に実装する一般的な正常処理機能のみを有
するものが使え、しかも、外乱発生部で異常処理を行な
うに必要な条件を試験に先立ち試験実行管理部から外乱
発生部に一括して転送しておくとともに、異常処理毎に
次の条件を取り出して試験データと比較することによっ
て、試験実施時には正常系、異常系を区別することなく
、正常系と異常系とを混在させてきめ細かく、かつ、連
続性のある試験が容易に実施可能となる。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は、本発明の一実施例としてのプロトコル試験装
置を示すモジュール構成図である。プロトコル試験装置
1は通信回線30で被試験プロトコルを実装した被試験
システム2と接続されている。
置を示すモジュール構成図である。プロトコル試験装置
1は通信回線30で被試験プロトコルを実装した被試験
システム2と接続されている。
プロトコル試験装置1には、ユーザインタフェース11
のもとに、試験シーケンスを記述した試験シナリオと異
常処理を行うか否かの判断に必要な条件とを作成する試
験シナリオ作成部12、試験シナリオに基づいて試験の
実行制御を行なう試験実行管理部13、試験のログ情報
をもとに試験結果の解析を行なう試験結果解析部14の
各機能モジュールが実装されている。前記試験シナリオ
作成部12には、作成した試験シナリオを蓄積する試験
シナリオファイル15と、その試験シナリオ中の異常処
理について、該処理を行うか否かの判断に必要な条件を
蓄積する条件ファイル16が設けてある。また、試験実
行管理部13のもとには、被試験プロトコルと同一の機
能を持ちしかも正常なプロトコル処理のみを行なうプロ
トコル処理部17、プロトコル処理部17から送られる
試験データに対し、条件次第で異常処理を施したり施さ
なかったりする外乱発生部18、さらには被試験プロト
コルより下位のプロトコルエンティティから構成される
下位プロトコル処理部19が各々インタフェース26.
27.28を介して接続されている。さらに、試験実行
管理部13と外乱発生部18との間には異常処理を施す
べきか否かの判断のための条件と異常処理の内容を含む
異常処理情報を転送するためのインタフェース29が設
けてある。
のもとに、試験シーケンスを記述した試験シナリオと異
常処理を行うか否かの判断に必要な条件とを作成する試
験シナリオ作成部12、試験シナリオに基づいて試験の
実行制御を行なう試験実行管理部13、試験のログ情報
をもとに試験結果の解析を行なう試験結果解析部14の
各機能モジュールが実装されている。前記試験シナリオ
作成部12には、作成した試験シナリオを蓄積する試験
シナリオファイル15と、その試験シナリオ中の異常処
理について、該処理を行うか否かの判断に必要な条件を
蓄積する条件ファイル16が設けてある。また、試験実
行管理部13のもとには、被試験プロトコルと同一の機
能を持ちしかも正常なプロトコル処理のみを行なうプロ
トコル処理部17、プロトコル処理部17から送られる
試験データに対し、条件次第で異常処理を施したり施さ
なかったりする外乱発生部18、さらには被試験プロト
コルより下位のプロトコルエンティティから構成される
下位プロトコル処理部19が各々インタフェース26.
27.28を介して接続されている。さらに、試験実行
管理部13と外乱発生部18との間には異常処理を施す
べきか否かの判断のための条件と異常処理の内容を含む
異常処理情報を転送するためのインタフェース29が設
けてある。
なお、試験実行管理部13、プロトコル処理部17、外
乱発生部18、下位プロトコル処理部19の関係をJI
SX5003 (開放型システム間相互接続の基本参照
モデル)における階層化モデルで説明すると、プロトコ
ル処理部17と外乱発生部18が被試験プロトコルと同
位エンティティ、下位プロトコル処理部19は被試験プ
ロトコルより下位のプロトコルエンティティであり、試
験実行管理部13には被試験プロトコルより上位のプロ
トコルエンティティを含む。
乱発生部18、下位プロトコル処理部19の関係をJI
SX5003 (開放型システム間相互接続の基本参照
モデル)における階層化モデルで説明すると、プロトコ
ル処理部17と外乱発生部18が被試験プロトコルと同
位エンティティ、下位プロトコル処理部19は被試験プ
ロトコルより下位のプロトコルエンティティであり、試
験実行管理部13には被試験プロトコルより上位のプロ
トコルエンティティを含む。
ロギング部20は試験結果の解析を行なうために必要な
ログ情報を収集する。このログ情報には、試験実行管理
部13で試験シナリオに基づいて実際に実行した試験シ
ーケンス情報と、外乱発生部18で試験データに異常処
理を施すことにより異常系に置き換えた場合の情報と、
プロトコル試験装置と被試験システム間で送受信する試
験データが含まれ、ロギング部20には収集したログ情
報を蓄積するためのログ情報ファイル2Iが設けてある
。
ログ情報を収集する。このログ情報には、試験実行管理
部13で試験シナリオに基づいて実際に実行した試験シ
ーケンス情報と、外乱発生部18で試験データに異常処
理を施すことにより異常系に置き換えた場合の情報と、
プロトコル試験装置と被試験システム間で送受信する試
験データが含まれ、ロギング部20には収集したログ情
報を蓄積するためのログ情報ファイル2Iが設けてある
。
第2図は第1図の外乱発生部18を詳細に示した構成図
である。第2図において、外乱発生部18は、前記条件
ファイル16からの異常処理情報を試験実行管理部13
経出で付与されて蓄積する格納部22、プロトコル処理
部17から送られてくる試験データ(送信データ)ある
いは下位プロトコル処理部19から送られてくる試験デ
ータ(送信データに対して被試験システム2が応答して
くる受信データ)を監視し、格納部22の異常処理情報
に含まれる条件と比較することにより、異常処理を施す
かどうかの判断を行なう比較監視部23、異常処理を施
す場合に比較監視部23からの指示により試験データに
対し異常処理を実施し、下位プロトコル処理部19ある
いはプロトコル処理部17に送出する異常処理部24、
異常処理が終了すると、格納部22から次の異常処理情
報を取り出し比較監視部23と異常処理部24へ通知す
る変更部25から構成されており、さらに、比較監視部
23と異常処理部24とは、プロトコル処理部17から
送られてくる試験データ(送信データ)と下位プロトコ
ル処理部19から送られてくる試験データ(被試験シス
テム2からの送信デ一夕に対する応答データ)と、下位
プロトコル処理部19へ送出する試験データ(送信デー
タ)とプロトコル処理部17へ送出する試験データ(被
試験システム2からの応答データ)と、さらには、異常
処理部24で異常処理を行なった場合にはその異常処理
内容とをロギング部20へ通知する機能を有している。
である。第2図において、外乱発生部18は、前記条件
ファイル16からの異常処理情報を試験実行管理部13
経出で付与されて蓄積する格納部22、プロトコル処理
部17から送られてくる試験データ(送信データ)ある
いは下位プロトコル処理部19から送られてくる試験デ
ータ(送信データに対して被試験システム2が応答して
くる受信データ)を監視し、格納部22の異常処理情報
に含まれる条件と比較することにより、異常処理を施す
かどうかの判断を行なう比較監視部23、異常処理を施
す場合に比較監視部23からの指示により試験データに
対し異常処理を実施し、下位プロトコル処理部19ある
いはプロトコル処理部17に送出する異常処理部24、
異常処理が終了すると、格納部22から次の異常処理情
報を取り出し比較監視部23と異常処理部24へ通知す
る変更部25から構成されており、さらに、比較監視部
23と異常処理部24とは、プロトコル処理部17から
送られてくる試験データ(送信データ)と下位プロトコ
ル処理部19から送られてくる試験データ(被試験シス
テム2からの送信デ一夕に対する応答データ)と、下位
プロトコル処理部19へ送出する試験データ(送信デー
タ)とプロトコル処理部17へ送出する試験データ(被
試験システム2からの応答データ)と、さらには、異常
処理部24で異常処理を行なった場合にはその異常処理
内容とをロギング部20へ通知する機能を有している。
第3図は試験シナリオ作成部12で作成する異常処理情
報のフレーム構成図である。異常処理情報フレーム3は
、フレーム識別やフレームの長さ等からなるフレーム情
報31と、試験データを監視して異常処理を行うか否か
の判断を行うための判断条件32と、試験データに施す
異常処理の内容33と、その異常処理に必要となるデー
タ34から構成されており、一つの試験シナリオに対す
る異常処理情報は必要に応じ複数組のフレーム3で構成
される。
報のフレーム構成図である。異常処理情報フレーム3は
、フレーム識別やフレームの長さ等からなるフレーム情
報31と、試験データを監視して異常処理を行うか否か
の判断を行うための判断条件32と、試験データに施す
異常処理の内容33と、その異常処理に必要となるデー
タ34から構成されており、一つの試験シナリオに対す
る異常処理情報は必要に応じ複数組のフレーム3で構成
される。
第4図は第1図のプロトコル試験装置1から被試験シス
テム2へ試験データを送信する場合のプロトコル試験装
置内の各インタフェース26,27,28での試験デー
タのフレーム構成を示す説明図である。
テム2へ試験データを送信する場合のプロトコル試験装
置内の各インタフェース26,27,28での試験デー
タのフレーム構成を示す説明図である。
第4図(a)はインタフェース26を通過する試験デー
タのフレーム構成であり、被試験プロトコルより上位の
プロトコル制御情報41と、利用者データ42とで構成
されている。(b)はインタフェース27を通過する試
験データのそれであり、試験データ(a)がプロトコル
処理部17で正常処理され、試験データ(a)のフレー
ムに被試験プロトコルのプロトコル制御情報43が付加
されたフレーム構成である。(C)はインタフェース2
8を通過する試験データであり、試験データ(b)が外
乱発生部18で異常処理され、試験データ(b)のプロ
トコル制御情報43が異常なプロトコル制御情報43′
に置き換えられている。
タのフレーム構成であり、被試験プロトコルより上位の
プロトコル制御情報41と、利用者データ42とで構成
されている。(b)はインタフェース27を通過する試
験データのそれであり、試験データ(a)がプロトコル
処理部17で正常処理され、試験データ(a)のフレー
ムに被試験プロトコルのプロトコル制御情報43が付加
されたフレーム構成である。(C)はインタフェース2
8を通過する試験データであり、試験データ(b)が外
乱発生部18で異常処理され、試験データ(b)のプロ
トコル制御情報43が異常なプロトコル制御情報43′
に置き換えられている。
なお、外乱発生部18で異常処理をされない試験データ
(b)はそのままインタフェース28を通過する。
(b)はそのままインタフェース28を通過する。
また、′fI!試験システム2から受信した応答データ
としての試験データは、インタフェース28では正常な
プロトコル制御情報43を持つ試験データ(b)で、そ
の試験データ(b)に対し外乱発生部18で異常処理を
行なった場合には、インタフェース27では異常なプロ
トコル制御情報43′を持つ試験データ(c)となる。
としての試験データは、インタフェース28では正常な
プロトコル制御情報43を持つ試験データ(b)で、そ
の試験データ(b)に対し外乱発生部18で異常処理を
行なった場合には、インタフェース27では異常なプロ
トコル制御情報43′を持つ試験データ(c)となる。
次にこのような構成のプロトコル試験装置における試験
手順を説明する。
手順を説明する。
試験実施者はあらかじめ試験シナリオ作成部12を起動
し、試験シーケンスを記述した試験シナリオと試験シナ
リオ中に異常系を含む場合には異常処理情報を作成し、
試験シナリオファイル15と条件ファイル16に蓄積す
る。試験実施時には試験実行管理部13を起動し、試験
を実施する試験シナリオを指定する。試験実行管理部1
3では指定された試験シナリオとそれに対応した異常処
理情報とを試験シナリオファイル15と条件ファイル1
6から読み出し、試験シナリオ全体に含まれる異常処理
情報はインタフェース29を通して外乱発生部18の格
納部22に一括転送する。
し、試験シーケンスを記述した試験シナリオと試験シナ
リオ中に異常系を含む場合には異常処理情報を作成し、
試験シナリオファイル15と条件ファイル16に蓄積す
る。試験実施時には試験実行管理部13を起動し、試験
を実施する試験シナリオを指定する。試験実行管理部1
3では指定された試験シナリオとそれに対応した異常処
理情報とを試験シナリオファイル15と条件ファイル1
6から読み出し、試験シナリオ全体に含まれる異常処理
情報はインタフェース29を通して外乱発生部18の格
納部22に一括転送する。
試験実行管理部13では、被試験システム2へ送信する
試験データ(a)を前記試験シナリオに従って作成し、
インタフェース26を通してプロトコル処理部17へ送
出する。プロトコル処理部17では試験データ(a)に
対し正常なプロトコル処理を施し、正常なプロトコル制
御情報のある試験データ(b)をインタフェース27を
通して外乱発生部18中の比較監視部23に転送する。
試験データ(a)を前記試験シナリオに従って作成し、
インタフェース26を通してプロトコル処理部17へ送
出する。プロトコル処理部17では試験データ(a)に
対し正常なプロトコル処理を施し、正常なプロトコル制
御情報のある試験データ(b)をインタフェース27を
通して外乱発生部18中の比較監視部23に転送する。
外乱発生部18では変更部25により格納部22から先
頭の異常処理情報フレーム3を取り出し、判断条件32
を比較監視部23に、異常処理内容33と異常処理に必
要なデータ34を異常処理部24に転送しておく。比較
監視部23では変更部25から転送された判断条件32
と前記プロトコル処理部17からの試験データ(b)と
を比較し、その試験データ(b)に予め含ませてある条
件と判断条件32とが一致する場合には、その試験デー
タを異常処理部24へ渡す。
頭の異常処理情報フレーム3を取り出し、判断条件32
を比較監視部23に、異常処理内容33と異常処理に必
要なデータ34を異常処理部24に転送しておく。比較
監視部23では変更部25から転送された判断条件32
と前記プロトコル処理部17からの試験データ(b)と
を比較し、その試験データ(b)に予め含ませてある条
件と判断条件32とが一致する場合には、その試験デー
タを異常処理部24へ渡す。
異常処理部24では、変更部25から転送された異常処
理内容33にしたがって試験データ(b)に対し異常処
理を施し、異常なプロトコル制御情報をもつ試験データ
(C)あるいはタイミング的にずれた試験データ(b)
を生成し、インタフェース28を通して下位プロトコル
処理部19へ転送するとともに、異常処理を実施したこ
とを変更部25に通知する。すると変更部25では、次
の異常処理に対処するため、格納部22から次の異常処
理情報フレーム3を取り出し、判断条件32を比較監視
部23に、異常処理内容33とデータ34を異常処理部
24に転送する。
理内容33にしたがって試験データ(b)に対し異常処
理を施し、異常なプロトコル制御情報をもつ試験データ
(C)あるいはタイミング的にずれた試験データ(b)
を生成し、インタフェース28を通して下位プロトコル
処理部19へ転送するとともに、異常処理を実施したこ
とを変更部25に通知する。すると変更部25では、次
の異常処理に対処するため、格納部22から次の異常処
理情報フレーム3を取り出し、判断条件32を比較監視
部23に、異常処理内容33とデータ34を異常処理部
24に転送する。
もし外乱発生部18に転送された試験データ(b)に予
め含ませてある条件が判断条件32と一致しない場合に
は、試験データ(b)はそのまま下位プロトコル処理部
19へ転送される。下位プロトコル処理部19では、外
乱発生部18より転送された試験データに対し被試験プ
ロトコルより下位層のプロトコル処理を施して被試験シ
ステム2へ送出する。
め含ませてある条件が判断条件32と一致しない場合に
は、試験データ(b)はそのまま下位プロトコル処理部
19へ転送される。下位プロトコル処理部19では、外
乱発生部18より転送された試験データに対し被試験プ
ロトコルより下位層のプロトコル処理を施して被試験シ
ステム2へ送出する。
このようにして、プロトコル試験装置から送信する試験
データに対し連続して任意に異常処理を施すことが出来
る。
データに対し連続して任意に異常処理を施すことが出来
る。
一方、被試験システム2から応答データとして受信する
試験データに対しては、被試験プロトコルより下位層の
プロトコル処理を下位プロトコル処理部19で行なって
得た試験データ(b)を外乱発生部18に転送し、外乱
発生部18では前記送信時の試験データと同様な方法に
より必要に応じ異常処理を行ない、得られた試験データ
(c)をプロトコル処理部17へ転送する。
試験データに対しては、被試験プロトコルより下位層の
プロトコル処理を下位プロトコル処理部19で行なって
得た試験データ(b)を外乱発生部18に転送し、外乱
発生部18では前記送信時の試験データと同様な方法に
より必要に応じ異常処理を行ない、得られた試験データ
(c)をプロトコル処理部17へ転送する。
このような方法により、プロトコル試験装置1と被試験
システム2との間で連続して試験データを送受信し、し
かもその間に、インタフェース26やインタフェース2
8での試験データのフレームと送受信のタイミングや、
さらに異常処理を施した場合の異常処理内容をロギング
部20で収集し,、これら情報をログファイル21に蓄
積する。
システム2との間で連続して試験データを送受信し、し
かもその間に、インタフェース26やインタフェース2
8での試験データのフレームと送受信のタイミングや、
さらに異常処理を施した場合の異常処理内容をロギング
部20で収集し,、これら情報をログファイル21に蓄
積する。
試験実施後、試験結果解析部14でこのログ情報ファイ
ル21中のログ情報をもとに試験結果の解析を行ない、
被試験プロトコルが規格に適合しているかを判断する。
ル21中のログ情報をもとに試験結果の解析を行ない、
被試験プロトコルが規格に適合しているかを判断する。
〔発明の効果]
I7
以上説明したように、本発明によれば、プロトコル試験
装置において、そのプロトコル処理部と下位プロトコル
処理部との間に外乱発生部を設け、試験実施に先立ち試
験データの判別条件と異常処理内容等から構成した異常
処理情報フレームを外乱発生部に転送しておくことによ
り、試験に必要な異常系の試験データを生成するための
特殊なプロトコル処理部を用意することなく、容易に異
常系の試験も実施可能であり、しかも、試験実施中に試
験実行管理部と外乱発生部との間で異常処理に関するや
り取りを行なう必要がなく、異常系を含む試験手順に対
しても正常系の場合とまったく同一の方法によりきめ細
かく、しかも効率よく連続した試験ができるという利点
がある。
装置において、そのプロトコル処理部と下位プロトコル
処理部との間に外乱発生部を設け、試験実施に先立ち試
験データの判別条件と異常処理内容等から構成した異常
処理情報フレームを外乱発生部に転送しておくことによ
り、試験に必要な異常系の試験データを生成するための
特殊なプロトコル処理部を用意することなく、容易に異
常系の試験も実施可能であり、しかも、試験実施中に試
験実行管理部と外乱発生部との間で異常処理に関するや
り取りを行なう必要がなく、異常系を含む試験手順に対
しても正常系の場合とまったく同一の方法によりきめ細
かく、しかも効率よく連続した試験ができるという利点
がある。
第1図は本発明の一実施例としてのプロトコル試験装置
を示すモジュール構成図、第2図は第1図中の外乱発生
部の詳細を示す構成図、第3図は異常処理情報のフレー
ム構成図、第4図は第1図のプロトコル試験装置内の各
インタフェースでの試験データのフレーム構成図、であ
る。 符号の説明 1・・・プロトコル試験装置、2・・・被試験システム
、11・・・ユーザインタフェース、12・・・試験シ
ナリオ作成部、13・・・試験実行管理部、14・・・
試験結果解析部、15・・・試験シナリオファイル、1
6・・・条件ファイル、17・・・プロトコル処理部、
18・・・外乱発生部、19・・・下位プロトコル処理
部、20・・・ロギング部、21・・・ログ情報ファイ
ル、22・・・格納部、23・・・比較監視部、24・
・・異常処理部、25・・・変更部、26,27,28
.29・・・インタフェース、30・・・通信回線、3
・・・異常処理情報フレーム、32・・・判断条件、3
3・・・異常処理内容、34・・・データ、41.43
・・・プロトコル制御情報、42・・・利用者データ。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫
を示すモジュール構成図、第2図は第1図中の外乱発生
部の詳細を示す構成図、第3図は異常処理情報のフレー
ム構成図、第4図は第1図のプロトコル試験装置内の各
インタフェースでの試験データのフレーム構成図、であ
る。 符号の説明 1・・・プロトコル試験装置、2・・・被試験システム
、11・・・ユーザインタフェース、12・・・試験シ
ナリオ作成部、13・・・試験実行管理部、14・・・
試験結果解析部、15・・・試験シナリオファイル、1
6・・・条件ファイル、17・・・プロトコル処理部、
18・・・外乱発生部、19・・・下位プロトコル処理
部、20・・・ロギング部、21・・・ログ情報ファイ
ル、22・・・格納部、23・・・比較監視部、24・
・・異常処理部、25・・・変更部、26,27,28
.29・・・インタフェース、30・・・通信回線、3
・・・異常処理情報フレーム、32・・・判断条件、3
3・・・異常処理内容、34・・・データ、41.43
・・・プロトコル制御情報、42・・・利用者データ。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)被試験プロトコルを実装した被試験システムと通信
回線を介して相互接続され、予め作成された試験シナリ
オに従って、被試験システムとの間で試験データを送受
信することにより、被試験システム内に実装されている
プロトコルの規格適合性を試験するプロトコル試験装置
において、(a)試験実施時に、試験シナリオを指定さ
れると、異常処理の内容と該異常処理を施すための条件
とを含む異常処理情報を、該シナリオに対応させてファ
イルから読み出して外乱発生部へ転送すると共に、被試
験システムへ送信すべき試験データを前記試験シナリオ
に従って作成しプロトコル処理部へ送出する試験実行管
理部と、 (b)試験実行管理部から送出されてきた試験データを
受信するとそれに対して正常なプロトコル処理を施して
前記外乱発生部へ転送する前記プロトコル処理部と、 (c)前記プロトコル処理部から転送されてきた試験デ
ータに対し、試験実行管理部から予め送られてきている
前記異常処理情報に含まれている条件に従って異常処理
を施し或いは施さずして下位プロトコル処理部へ転送す
る前記外乱発生部と、(d)前記外乱発生部より転送さ
れてきた試験データに対して被試験プロトコルより下位
層のプロトコル処理を施して被試験システムへ送出する
前記下位プロトコル処理部と、 (e)前記下位プロトコル処理部から被試験システムへ
送出された送信データと、それに対する被試験システム
からの応答データとして、前記下位プロトコル処理部、
外乱発生部、プロトコル処理部という具合に逆の経路を
経て被試験システムから受信された受信データと、前記
試験実行管理部において実行した試験手順を示すデータ
と、を試験結果解析のために収集するロギング部と、を
具備して成ることを特徴とするプロトコル試験装置。 2)請求項1に記載のプロトコル試験装置において、前
記外乱発生部は、前記試験実行管理部から一括して送ら
れてくる複数組の異常処理情報を格納する格納部と、異
常処理部と、前記プロトコル処理部から転送されてきた
試験データと前記格納部から渡された1組の異常処理情
報とを比較して異常処理を施すための条件が一致したら
該試験データを前記異常処理部へ渡して該異常処理情報
に含まれている内容の異常処理を施させる比較監視部と
、前記異常処理部において異常処理が行われるとそのこ
とを検出して前記格納部から次の1組の異常処理情報を
取り出して前記比較監視部へ渡す異常処理情報変更部と
、から成ることを特徴とするプロトコル試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1057872A JPH02238545A (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | プロトコル試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1057872A JPH02238545A (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | プロトコル試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02238545A true JPH02238545A (ja) | 1990-09-20 |
Family
ID=13068074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1057872A Pending JPH02238545A (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | プロトコル試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02238545A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06188952A (ja) * | 1992-12-22 | 1994-07-08 | Matsushita Electric Works Ltd | プロトコル検証装置 |
| CN118660091A (zh) * | 2024-06-26 | 2024-09-17 | 南京南瑞继保电气有限公司 | 一种直流测试装置的光纤互联协议产生方法、系统及存储介质 |
-
1989
- 1989-03-13 JP JP1057872A patent/JPH02238545A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06188952A (ja) * | 1992-12-22 | 1994-07-08 | Matsushita Electric Works Ltd | プロトコル検証装置 |
| CN118660091A (zh) * | 2024-06-26 | 2024-09-17 | 南京南瑞继保电气有限公司 | 一种直流测试装置的光纤互联协议产生方法、系统及存储介质 |
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