JPH0223934A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents
眼屈折力測定装置Info
- Publication number
- JPH0223934A JPH0223934A JP63173575A JP17357588A JPH0223934A JP H0223934 A JPH0223934 A JP H0223934A JP 63173575 A JP63173575 A JP 63173575A JP 17357588 A JP17357588 A JP 17357588A JP H0223934 A JPH0223934 A JP H0223934A
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- Japan
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- eye
- refractive power
- measurement
- examined
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、被検眼の眼屈折力を他覚的に測定する眼屈折
力測定装置に関するものである。
力測定装置に関するものである。
[従来の技術]
従来、使用されている眼屈折力測定装置を第5図〜第9
図に基づいて説明する。第5図は従来の眼屈折力測定装
置の構成図であり、被検眼Eの前方に、小孔状の光透過
部1aを有する測定指標lと、これを照明する赤外LE
D等から成る光源2・とが配置され、測定指標1と被検
眼Eとを結ぶ丸軸Ll上に、測定指標lから被検眼Eに
向けて順次にレンズ3、第2図に示す光軸L1上に円形
間11部4aを有する投影絞り4、中心に穴を有する穴
あきミラー5、対物レンズ6がそれぞれ配列されている
。なお、穴あきミラー5は光軸Llに対して傾けて設置
されており、被検眼Eから入射する光の反射方向の光軸
L2上に、第7図に示す光軸を中心にして等距離に配置
された3個の開ロアa7b、7Cを有する受光絞り7、
レンズ8、第8図に示す3個の撲プリズム9a、9b、
9Cを組合わせた偏向用プリズム9、CODのような二
次元センサアレイ10が順次に配列されている。・:こ
で、受光絞り7は被検眼Eの眼瞳Epと共役であり、二
次元センサアレイ10は眼底Erと共役面じ一装置され
ている。
図に基づいて説明する。第5図は従来の眼屈折力測定装
置の構成図であり、被検眼Eの前方に、小孔状の光透過
部1aを有する測定指標lと、これを照明する赤外LE
D等から成る光源2・とが配置され、測定指標1と被検
眼Eとを結ぶ丸軸Ll上に、測定指標lから被検眼Eに
向けて順次にレンズ3、第2図に示す光軸L1上に円形
間11部4aを有する投影絞り4、中心に穴を有する穴
あきミラー5、対物レンズ6がそれぞれ配列されている
。なお、穴あきミラー5は光軸Llに対して傾けて設置
されており、被検眼Eから入射する光の反射方向の光軸
L2上に、第7図に示す光軸を中心にして等距離に配置
された3個の開ロアa7b、7Cを有する受光絞り7、
レンズ8、第8図に示す3個の撲プリズム9a、9b、
9Cを組合わせた偏向用プリズム9、CODのような二
次元センサアレイ10が順次に配列されている。・:こ
で、受光絞り7は被検眼Eの眼瞳Epと共役であり、二
次元センサアレイ10は眼底Erと共役面じ一装置され
ている。
このような構成において、測定指標lから発せられた光
束はレンズ3によって、レンズ3と対物レンズ6の間に
結像され、更に対物レンズ6によって被検眼Eの眼底E
rにスポット光束を投影する。そして、眼底Erで反射
した反射光束は対物レンズ6を通り穴あきミラー5で反
射され、眼瞳Epと共役位置にある受光絞り7に至る。
束はレンズ3によって、レンズ3と対物レンズ6の間に
結像され、更に対物レンズ6によって被検眼Eの眼底E
rにスポット光束を投影する。そして、眼底Erで反射
した反射光束は対物レンズ6を通り穴あきミラー5で反
射され、眼瞳Epと共役位置にある受光絞り7に至る。
受光絞り7は3個の開ロアa、7b、7Cを有している
ので、瞳の周辺部の3個所から光束を取り出すことがで
き、取り出された3つの光束は偏向用プリズム9のそれ
ぞれと対応する楔プリズム9a、9b、9Cによって光
軸L2から離れる方向に偏向される。つまり、各開ロア
a、7b、7Cを通過した光束は、それぞれ相対応する
楔プリズム9a、9b、9Cを通って二次元センサアレ
イ10に至り、第9図に示すように二次元センサアレイ
10上にそれぞれのスポット像A、B、Cを結像する0
例えば、開ロアaからの光束は櫟プリズム9aを通り、
ここで第8図に示す撲プリズム9b、9Cの分割線りに
垂直な方向に偏向される。他の開ロアb、7Cを通る光
束も、同様に光軸L2から離れる方向に偏向されること
になる。
ので、瞳の周辺部の3個所から光束を取り出すことがで
き、取り出された3つの光束は偏向用プリズム9のそれ
ぞれと対応する楔プリズム9a、9b、9Cによって光
軸L2から離れる方向に偏向される。つまり、各開ロア
a、7b、7Cを通過した光束は、それぞれ相対応する
楔プリズム9a、9b、9Cを通って二次元センサアレ
イ10に至り、第9図に示すように二次元センサアレイ
10上にそれぞれのスポット像A、B、Cを結像する0
例えば、開ロアaからの光束は櫟プリズム9aを通り、
ここで第8図に示す撲プリズム9b、9Cの分割線りに
垂直な方向に偏向される。他の開ロアb、7Cを通る光
束も、同様に光軸L2から離れる方向に偏向されること
になる。
なお、第9図において点線と矢印は被検眼Eの屈折力が
変った場合に、スポット像A、B、Cが移動する方向を
示している1反対方向に屈折力が変るとスポット像A、
B、Cは矢印と反対方向にずれ、また乱視がある場合は
点線からずれて動くことになる。被検眼Eの屈折力を求
めるには、先ずスポット像A、B、Cの二次元的座標を
求める。もし、二次元センサアレイ10がテレビカメラ
の撮像素子である場合には、そのビデオ信号を使用すれ
ばよく、画像処理回路、演算処理回路等の電気回路によ
って適当なスレシュホールドレベルを定めて二値化し、
計算によってスポット中心位置を求める。更に、正確な
値を得るためには各素子ごとの信号を用いることもでき
る。二値化又はそれ以上に多値化して座標を算出した後
に、その座標から眼屈折力を計算することになる。
変った場合に、スポット像A、B、Cが移動する方向を
示している1反対方向に屈折力が変るとスポット像A、
B、Cは矢印と反対方向にずれ、また乱視がある場合は
点線からずれて動くことになる。被検眼Eの屈折力を求
めるには、先ずスポット像A、B、Cの二次元的座標を
求める。もし、二次元センサアレイ10がテレビカメラ
の撮像素子である場合には、そのビデオ信号を使用すれ
ばよく、画像処理回路、演算処理回路等の電気回路によ
って適当なスレシュホールドレベルを定めて二値化し、
計算によってスポット中心位置を求める。更に、正確な
値を得るためには各素子ごとの信号を用いることもでき
る。二値化又はそれ以上に多値化して座標を算出した後
に、その座標から眼屈折力を計算することになる。
眼の屈折力は球面度数、乱視度数及び乱視度の3つの値
から成り、径線方向の変化は正弦波的と仮定されるから
、二径線の屈折値が求まれば、後は計算によって算出す
ることができる。
から成り、径線方向の変化は正弦波的と仮定されるから
、二径線の屈折値が求まれば、後は計算によって算出す
ることができる。
しかしながら、この上述の従来の測定装置では、測定指
標lを光軸L1方向に移動する手段がないために、被検
眼Eが正視に近い場合には眼底Erでの測定指標1の投
影像は鮮明であるが、強度近視や強度遠視又は無水晶体
眼の場合にこの投影像が大きくぼけてしまう、つまり、
投影像のS/N比が低下し、測定精度が劣る虞れがある
。
標lを光軸L1方向に移動する手段がないために、被検
眼Eが正視に近い場合には眼底Erでの測定指標1の投
影像は鮮明であるが、強度近視や強度遠視又は無水晶体
眼の場合にこの投影像が大きくぼけてしまう、つまり、
投影像のS/N比が低下し、測定精度が劣る虞れがある
。
[発明の目的]
本発明の目的は、上述の欠点を解消し、先ず被検眼屈折
力の状態を検出し、この状態に応じて測定指標を実質的
に光軸方向に移動し、強度の近視や遠視及び無水晶眼等
の被検眼でも、その眼底にぼけが少ない指標投影像を結
像させることにより測定精度を向上させることを可能に
した眼屈折力測定装置を提供することにある。
力の状態を検出し、この状態に応じて測定指標を実質的
に光軸方向に移動し、強度の近視や遠視及び無水晶眼等
の被検眼でも、その眼底にぼけが少ない指標投影像を結
像させることにより測定精度を向上させることを可能に
した眼屈折力測定装置を提供することにある。
[発明の概要]
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、被検眼の
眼底に測定指標を投影し、該測定指標の眼底投影像を検
出し、眼屈折力を他覚的に測定する眼屈折力測定装置に
おいて、前記測定指標を所定位置又は任意位置に配置し
て被検眼の屈折力を測定する第1の測定手段と、該第1
の測定手段の結果に応じて前記測定指標を実質的に光軸
方向に移動して屈折力を測定する第2の測定手段を備え
たことを特徴とする眼屈折力測定装置である。
眼底に測定指標を投影し、該測定指標の眼底投影像を検
出し、眼屈折力を他覚的に測定する眼屈折力測定装置に
おいて、前記測定指標を所定位置又は任意位置に配置し
て被検眼の屈折力を測定する第1の測定手段と、該第1
の測定手段の結果に応じて前記測定指標を実質的に光軸
方向に移動して屈折力を測定する第2の測定手段を備え
たことを特徴とする眼屈折力測定装置である。
[発明の実施例]
本発明を第1図〜第4図に図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
第1図は眼屈折力測定装置の構成図であり、第5図の従
来例と同一の符号は同一の部材を示している。二次元セ
ンサアレイ10の出力は演算処理回路11に接続され、
演算処理回路llの出力はモータ等から成る駆動装置1
2を介して、測定指標lと光源2は光軸L1方向に移動
できる構成となっている。
来例と同一の符号は同一の部材を示している。二次元セ
ンサアレイ10の出力は演算処理回路11に接続され、
演算処理回路llの出力はモータ等から成る駆動装置1
2を介して、測定指標lと光源2は光軸L1方向に移動
できる構成となっている。
被検眼Eに対して所定の位置決めした後に図示していな
い測定スイッチを押すと、先ず測定指標lは初期状態の
位置、例えば被検眼Eが正視の場合の測定位置で予備測
定を行う、この予備測定で被検眼Eの概略の眼屈折力が
測定され、その測定値を演算処理回路11が処理して駆
動袋2112に駆動信号を送り、駆動装置12が被検眼
Eの眼底Erに測定指標1の像を鮮明に結像するように
測定指標1の測定位置の制御を行う、このような予備測
定を行って、所望の位置に測定指標lを移動させてから
本測定を行うことにより、正確な眼屈折力を測定するこ
とができる。
い測定スイッチを押すと、先ず測定指標lは初期状態の
位置、例えば被検眼Eが正視の場合の測定位置で予備測
定を行う、この予備測定で被検眼Eの概略の眼屈折力が
測定され、その測定値を演算処理回路11が処理して駆
動袋2112に駆動信号を送り、駆動装置12が被検眼
Eの眼底Erに測定指標1の像を鮮明に結像するように
測定指標1の測定位置の制御を行う、このような予備測
定を行って、所望の位置に測定指標lを移動させてから
本測定を行うことにより、正確な眼屈折力を測定するこ
とができる。
ここで、予備測定を行ってから本測定を行うまでの時間
は極力短時間とすることが好ましく、検者が測定スイッ
チを押さなくとも、被検眼Eが所定位置にあることを検
知する手段を設け、この検知手段によって被検眼Eの位
置が確認されたら、予備測定から本測定までを自動的に
行うようにしてもよい、また、111定指標1の移動は
連続でも、非連続な間欠的移動でも支障はない。
は極力短時間とすることが好ましく、検者が測定スイッ
チを押さなくとも、被検眼Eが所定位置にあることを検
知する手段を設け、この検知手段によって被検眼Eの位
置が確認されたら、予備測定から本測定までを自動的に
行うようにしてもよい、また、111定指標1の移動は
連続でも、非連続な間欠的移動でも支障はない。
第2図は本発明の第2の実施例の構成図を示し、第1の
実施例のように測定指標lを移動させる代りに測定指標
lを固定し、測定指標1とレンズ3の間の光軸L1上に
フォーカシングレンズ13を挿入し、予備測定の結果に
応じた演算制御回路11の出力により作動する駆動装置
12’ を用いて、フォーカシングレンズ13を光軸L
1方向に移動させ、被検眼Eの眼底Erに焦点を合わせ
て指標投影像をぼけが少ない状態で撮影するようにされ
ている。
実施例のように測定指標lを移動させる代りに測定指標
lを固定し、測定指標1とレンズ3の間の光軸L1上に
フォーカシングレンズ13を挿入し、予備測定の結果に
応じた演算制御回路11の出力により作動する駆動装置
12’ を用いて、フォーカシングレンズ13を光軸L
1方向に移動させ、被検眼Eの眼底Erに焦点を合わせ
て指標投影像をぼけが少ない状態で撮影するようにされ
ている。
第3図は本発明の第3の実施例の構成を示し第4図に示
すような焦点距離が異なる複数個のレンズ14aを円周
に沿って嵌め込んだレンズ付回転円板14を光軸L1上
で駆動装置12″を用いて回転させ、予4a測定の結果
に応じて適切な焦点距離のレンズ14aを光軸L1上に
選択し、被検[Hの眼底Er上に指標投影像をぼけが少
ない状態で投影するようにしている。
すような焦点距離が異なる複数個のレンズ14aを円周
に沿って嵌め込んだレンズ付回転円板14を光軸L1上
で駆動装置12″を用いて回転させ、予4a測定の結果
に応じて適切な焦点距離のレンズ14aを光軸L1上に
選択し、被検[Hの眼底Er上に指標投影像をぼけが少
ない状態で投影するようにしている。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係る眼屈折力測定装置は、
先ず予備測定を実施し、この予m測定で得られた結果に
応じて、測定指標の光軸上の位置を実質的に変化させる
ことにより、強度近視や強度遠視の被検眼でも眼底にぼ
けの少ない像を投影することが可能となり、電気的にS
/N比の良好な像を得ることができるため、次の本測定
で正確な測定を可能にしている。
先ず予備測定を実施し、この予m測定で得られた結果に
応じて、測定指標の光軸上の位置を実質的に変化させる
ことにより、強度近視や強度遠視の被検眼でも眼底にぼ
けの少ない像を投影することが可能となり、電気的にS
/N比の良好な像を得ることができるため、次の本測定
で正確な測定を可能にしている。
図面第1図〜第4図は本発明に係る眼屈折力測定装置の
実施例を示し、第1図、第2図、第3図はそれぞれ第1
.第2、第3の実施例の構成図。 第4図はレンズ付回転円板の正面図であり、第5図は従
来の測定装置の構成図、第6図は投影絞りの正面図、第
7図は受光絞りの正面図、第8図は偏向用プリズムの正
面図、第9図は二次元センサアレイ上のスポット光束の
説明図である。 符号1は測定指標、2は光源、4は投影絞り。 5は穴あきミラー、6は対物レンズ、7は受光絞り、9
はプリズム、10は二次元センサアレイ。 11は演算処理回路、12は駆動装置、13はフォーカ
シングレンズ、14はレンズ付回転円板である。 特許出願人 キャノン株式会社 N1図 M2図 醜3図
実施例を示し、第1図、第2図、第3図はそれぞれ第1
.第2、第3の実施例の構成図。 第4図はレンズ付回転円板の正面図であり、第5図は従
来の測定装置の構成図、第6図は投影絞りの正面図、第
7図は受光絞りの正面図、第8図は偏向用プリズムの正
面図、第9図は二次元センサアレイ上のスポット光束の
説明図である。 符号1は測定指標、2は光源、4は投影絞り。 5は穴あきミラー、6は対物レンズ、7は受光絞り、9
はプリズム、10は二次元センサアレイ。 11は演算処理回路、12は駆動装置、13はフォーカ
シングレンズ、14はレンズ付回転円板である。 特許出願人 キャノン株式会社 N1図 M2図 醜3図
Claims (1)
- 1、被検眼の眼底に測定指標を投影し、該測定指標の眼
底投影像を検出し、眼屈折力を他覚的に測定する眼屈折
力測定装置において、前記測定指標を所定位置又は任意
位置に配置して被検眼の屈折力を測定する第1の測定手
段と、該第1の測定手段の結果に応じて前記測定指標を
実質的に光軸方向に移動して屈折力を測定する第2の測
定手段を備えたことを特徴とする眼屈折力測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173575A JPH0223934A (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 眼屈折力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173575A JPH0223934A (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 眼屈折力測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0223934A true JPH0223934A (ja) | 1990-01-26 |
Family
ID=15963107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63173575A Pending JPH0223934A (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 眼屈折力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0223934A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4965221A (en) * | 1989-03-15 | 1990-10-23 | Micron Technology, Inc. | Spacer isolation method for minimizing parasitic sidewall capacitance and creating fully recessed field oxide regions |
| JP2023001373A (ja) * | 2018-05-31 | 2023-01-04 | 株式会社トーメーコーポレーション | 眼屈折力測定装置 |
-
1988
- 1988-07-12 JP JP63173575A patent/JPH0223934A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4965221A (en) * | 1989-03-15 | 1990-10-23 | Micron Technology, Inc. | Spacer isolation method for minimizing parasitic sidewall capacitance and creating fully recessed field oxide regions |
| JP2023001373A (ja) * | 2018-05-31 | 2023-01-04 | 株式会社トーメーコーポレーション | 眼屈折力測定装置 |
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