JPS6151890B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6151890B2 JPS6151890B2 JP54094578A JP9457879A JPS6151890B2 JP S6151890 B2 JPS6151890 B2 JP S6151890B2 JP 54094578 A JP54094578 A JP 54094578A JP 9457879 A JP9457879 A JP 9457879A JP S6151890 B2 JPS6151890 B2 JP S6151890B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eye
- examined
- refractive power
- fundus
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は眼の屈折状態を瞬間的に測定する装置
に関し、更に乱視度を含めた屈折状態を測定し得
る装置に関する。
に関し、更に乱視度を含めた屈折状態を測定し得
る装置に関する。
従来より、眼屈折力計の構成に関する提案は
種々知られており、また製品化されたものも多
く、最近では測定指標を視認しながら測定するも
のに代わつて、自動的に測定が行なわれる装置も
使用されている。
種々知られており、また製品化されたものも多
く、最近では測定指標を視認しながら測定するも
のに代わつて、自動的に測定が行なわれる装置も
使用されている。
しかしながら、周知の自動眼屈折力の装置にお
いては、測定光学系の全部または一部を機械的に
回転あるいは揺動しながら、視野に関する各径線
（子午線）方向の視度（屈折力）を順次測るため
の時間が掛り、そのため測定中苦痛で、また眼が
動いたりあるいは視力の調節状態が変わつたりし
て測定精度が低下することがある。
いては、測定光学系の全部または一部を機械的に
回転あるいは揺動しながら、視野に関する各径線
（子午線）方向の視度（屈折力）を順次測るため
の時間が掛り、そのため測定中苦痛で、また眼が
動いたりあるいは視力の調節状態が変わつたりし
て測定精度が低下することがある。
更に測定中、長く動かない様に指示するため被
検者の緊張が高まり、視力の調節状態が普段と違
つたまま測定される不都合があつた。
検者の緊張が高まり、視力の調節状態が普段と違
つたまま測定される不都合があつた。
本発明の目的は短時間で測定が行なわれる新規
な眼屈折力測定装置を提供することである。
な眼屈折力測定装置を提供することである。
第１図は本発明の一実施例を示しており、１径
線方向の測定を行なうものである。図中、Ｅは被
検眼、Epは瞳、Erは眼底である。また１と１′は
照明光源で、不可視の赤外発光ダイオードを使用
する。２と２′はマスクで、それぞれ中心にピン
ホール２ａ，２a′又はスリツトを備えており、こ
れらピンホールが測定ビームの発出源すなわち指
標光源となる。３と３′はスポツトミラー、４は
結像レンズ、５は絞り板、６は対物レンズ、７は
ポジシヨン・デイテクターである。ここで、ピン
ホール２ａとスポツトミラー３を結ぶ光軸と、ピ
ンホール２a′とスポツトミラー３′を結ぶ光軸は
単一平面内に含まれる。また、ポジシヨン・デイ
テクター７は被検眼が正視眼のときの眼底Erと
結像レンズ４及び対物レンズ６に関して共役に配
置し、結像レンズ４の光軸とポジシヨン・デイテ
クター７の受光面との交点０がスポツトミラー３
に関してピンホール２ａと共役になり、同様にス
ポツトミラー３′に関してピンホール２a′と共役
になる様に配置する。ポジシヨン・デイテクター
７はアナログ型のものでも良いし、微細なフオト
デイテクターを一次元的に並べたデジタル型のア
レイでも良い。更に瞳分割手段たる絞り板５は対
物レンズ６に関して瞳Epと共役に配置され、ま
た第２図に描く通り、光軸に一致する開口５ａと
光軸に対称な軸外位置に開口５ｂと５ｃを備え、
スポツトミラー３で反射したビームは開口５ｂを
通り、スポツトミラー３′で反射したビームは開
口５ｃを通る。
線方向の測定を行なうものである。図中、Ｅは被
検眼、Epは瞳、Erは眼底である。また１と１′は
照明光源で、不可視の赤外発光ダイオードを使用
する。２と２′はマスクで、それぞれ中心にピン
ホール２ａ，２a′又はスリツトを備えており、こ
れらピンホールが測定ビームの発出源すなわち指
標光源となる。３と３′はスポツトミラー、４は
結像レンズ、５は絞り板、６は対物レンズ、７は
ポジシヨン・デイテクターである。ここで、ピン
ホール２ａとスポツトミラー３を結ぶ光軸と、ピ
ンホール２a′とスポツトミラー３′を結ぶ光軸は
単一平面内に含まれる。また、ポジシヨン・デイ
テクター７は被検眼が正視眼のときの眼底Erと
結像レンズ４及び対物レンズ６に関して共役に配
置し、結像レンズ４の光軸とポジシヨン・デイテ
クター７の受光面との交点０がスポツトミラー３
に関してピンホール２ａと共役になり、同様にス
ポツトミラー３′に関してピンホール２a′と共役
になる様に配置する。ポジシヨン・デイテクター
７はアナログ型のものでも良いし、微細なフオト
デイテクターを一次元的に並べたデジタル型のア
レイでも良い。更に瞳分割手段たる絞り板５は対
物レンズ６に関して瞳Epと共役に配置され、ま
た第２図に描く通り、光軸に一致する開口５ａと
光軸に対称な軸外位置に開口５ｂと５ｃを備え、
スポツトミラー３で反射したビームは開口５ｂを
通り、スポツトミラー３′で反射したビームは開
口５ｃを通る。
次に作用を説明する。
まず、光源１を点燈するとマスクのピンホール
２ａは照明され、ピンホール２ａを発したビーム
はスポツトミラー３で反射して、結像レンズ４へ
入射して収斂作用を受け、絞り板の開口５ｂを通
過した後、一旦、光軸上でピンホール像を結び、
つづいて対物レンズ６へ入射して、光軸に平行に
射出する。このビームは軸外位置で瞳に入射し、
被検眼が正視眼である場合目の屈折力を受けて眼
底Erと光軸との交点へ入射する。眼底Erで散乱
反射したビームは瞳Epの中心から射出し、光軸
上を進んで、対物レンズ６、絞り板の軸上開口５
ａ、結像レンズ４を通過し、ポジシヨン・デイテ
クター７の中央点０に入射する。
２ａは照明され、ピンホール２ａを発したビーム
はスポツトミラー３で反射して、結像レンズ４へ
入射して収斂作用を受け、絞り板の開口５ｂを通
過した後、一旦、光軸上でピンホール像を結び、
つづいて対物レンズ６へ入射して、光軸に平行に
射出する。このビームは軸外位置で瞳に入射し、
被検眼が正視眼である場合目の屈折力を受けて眼
底Erと光軸との交点へ入射する。眼底Erで散乱
反射したビームは瞳Epの中心から射出し、光軸
上を進んで、対物レンズ６、絞り板の軸上開口５
ａ、結像レンズ４を通過し、ポジシヨン・デイテ
クター７の中央点０に入射する。
しかしながら、もし被検眼に屈折力異常、例え
ば近視があると、目のレンズ作用体の屈折力が強
まるため、恰も眼底が水晶体から遠ざかつた位置
Er′に移動した反応を示し、眼底へ向つたビーム
は光軸から離れた位置（図中で、光軸の下方）で
反射するため、ポジシヨン・デイテクター７の光
軸より下側の点Ｐに入射する。ポジシヨン・デイ
テクター７はこの位置Ｐに対応する信号を出力
し、不図示の電気処理系はその信号を記憶する。
ば近視があると、目のレンズ作用体の屈折力が強
まるため、恰も眼底が水晶体から遠ざかつた位置
Er′に移動した反応を示し、眼底へ向つたビーム
は光軸から離れた位置（図中で、光軸の下方）で
反射するため、ポジシヨン・デイテクター７の光
軸より下側の点Ｐに入射する。ポジシヨン・デイ
テクター７はこの位置Ｐに対応する信号を出力
し、不図示の電気処理系はその信号を記憶する。
光源１の消燈につづいて光源１′が点燈し、ピ
ンホール２a′を発したビームはスポツトミラー
３′で反射し、結像レンズ４、絞り板の軸外開口
５ｃ、対物レンズ６を通過し、瞳Ep上の、先程
のビームの通過位置とは軸対称の位置を通つて眼
底へ向う。被検眼が近視の場合、眼底Ef′の、光
軸より上方位置で反射する結果、反射ビームはポ
ジシヨン・デイテクター７の光軸より上側の点Ｑ
へ入射する。ポジシヨン・デイテクターはこの位
置Ｑに対応する信号を出力し、演算部たる電気処
理系は記憶していた点Ｐに対応する信号と比較す
ることで点Ｐと点Ｑの間隔を算出することがで
き、この間隔は屈折力に変換できるものである。
すなわち屈折力が大であれば点Ｐと点Ｑの間隔も
大となり、この間隔より屈折力を換算することは
容易である。
ンホール２a′を発したビームはスポツトミラー
３′で反射し、結像レンズ４、絞り板の軸外開口
５ｃ、対物レンズ６を通過し、瞳Ep上の、先程
のビームの通過位置とは軸対称の位置を通つて眼
底へ向う。被検眼が近視の場合、眼底Ef′の、光
軸より上方位置で反射する結果、反射ビームはポ
ジシヨン・デイテクター７の光軸より上側の点Ｑ
へ入射する。ポジシヨン・デイテクターはこの位
置Ｑに対応する信号を出力し、演算部たる電気処
理系は記憶していた点Ｐに対応する信号と比較す
ることで点Ｐと点Ｑの間隔を算出することがで
き、この間隔は屈折力に変換できるものである。
すなわち屈折力が大であれば点Ｐと点Ｑの間隔も
大となり、この間隔より屈折力を換算することは
容易である。
一方、被検者が遠視の場合は、眼底は正視眼の
ときより水晶体寄りに在るかの様に反応するので
ビームの反射位置は光軸を境に逆転し、ポジシヨ
ン・デイテクター７へのビームの入射位置も逆転
するが、すなわち第１図で点Ｐと点Ｏより上側と
なり、点Ｑが点Ｏより下側となるが、この場合
も、近視の場合とは符号が逆の、点Ｐと点Ｑの間
隔に応じた屈折力を知ることができるわけであ
る。
ときより水晶体寄りに在るかの様に反応するので
ビームの反射位置は光軸を境に逆転し、ポジシヨ
ン・デイテクター７へのビームの入射位置も逆転
するが、すなわち第１図で点Ｐと点Ｏより上側と
なり、点Ｑが点Ｏより下側となるが、この場合
も、近視の場合とは符号が逆の、点Ｐと点Ｑの間
隔に応じた屈折力を知ることができるわけであ
る。
第３図は別の実施例を示している。この実施例
では３径線方向の視度を得ることができるが、最
低３径線方向がわかれば、他の径線方向は適当な
方法で内挿して求めることが可能で、乱視眼の屈
折状態を測定し得る。
では３径線方向の視度を得ることができるが、最
低３径線方向がわかれば、他の径線方向は適当な
方法で内挿して求めることが可能で、乱視眼の屈
折状態を測定し得る。
図中、１０はマスクで、光軸に一致したピンホ
ール１０ａを備える。このピンホール１０ａは測
距ビームの発出源すなわち指標光源として機能す
る。１１と１１′は照明光源で、ここでは２つの
み描いているが、実際には円周を等分する３本の
径線の各々に２個ずつ、計６個の光源を設けてい
る。１２は絞り板で、第４図に描く通り２個ずつ
３組の軸外開口を備え、各開口と各照明光源は対
応する。１３はコンデンサーレンズで、マスク１
０に近接配置する。１４は結像レンズである。１
５は別の絞り板で、２個ずつ３組の軸外開口１５
ａ，１５ｂ……と軸上開口を備える。ここで第１
の絞り板１２と第２の絞り板１５はコンデンサー
レンズ１３に関して共役で、両板の軸外開口もそ
れぞれ共役関係を充す。１６は対物レンズ、１７
は二次元ポジシヨン・デイテクター。１８はスポ
ツトミラーで、対物レンズ１６は関して瞳Epと
共役な光軸上に斜設し、かつ絞り板１５と近接さ
せる。またスポツトミラー１８の鏡面に関してマ
スクのピンホール１０ａとポジヨン・デイテクタ
ー１７の中心点Ｏが共役になる様にそれぞれ配置
する。なお、マスク１０はレンズ１４，１６に関
して正視眼の眼底と共役で、第２のマスク板１５
は瞳Epと略共役となる。次に作用を説明する
と、光源１１の点燈で絞り板の開口１２ａを通過
した軸外光束はコンデンサーレンズ１３を通して
マスクのピンホール１０ａを照明し、ピンホール
１０ａを発したビームは結像レンズ１４へ入射し
て結像作用を受け、第２の絞り板の軸外開口１５
ａを通過し、更に対物レンズ１６を経て眼底へ向
う。被検者が正視眼であれば、ビームは光軸と眼
底Erの交点へ入射してそこで反射し、光軸上を
辿つて対物レンズ１６、絞り板１５の軸上開口、
結像レンズ１４を通過し、スポツトミラー１８で
反射し、ポジシヨン・テイテクター１７の中心点
０へ入射する。
ール１０ａを備える。このピンホール１０ａは測
距ビームの発出源すなわち指標光源として機能す
る。１１と１１′は照明光源で、ここでは２つの
み描いているが、実際には円周を等分する３本の
径線の各々に２個ずつ、計６個の光源を設けてい
る。１２は絞り板で、第４図に描く通り２個ずつ
３組の軸外開口を備え、各開口と各照明光源は対
応する。１３はコンデンサーレンズで、マスク１
０に近接配置する。１４は結像レンズである。１
５は別の絞り板で、２個ずつ３組の軸外開口１５
ａ，１５ｂ……と軸上開口を備える。ここで第１
の絞り板１２と第２の絞り板１５はコンデンサー
レンズ１３に関して共役で、両板の軸外開口もそ
れぞれ共役関係を充す。１６は対物レンズ、１７
は二次元ポジシヨン・デイテクター。１８はスポ
ツトミラーで、対物レンズ１６は関して瞳Epと
共役な光軸上に斜設し、かつ絞り板１５と近接さ
せる。またスポツトミラー１８の鏡面に関してマ
スクのピンホール１０ａとポジヨン・デイテクタ
ー１７の中心点Ｏが共役になる様にそれぞれ配置
する。なお、マスク１０はレンズ１４，１６に関
して正視眼の眼底と共役で、第２のマスク板１５
は瞳Epと略共役となる。次に作用を説明する
と、光源１１の点燈で絞り板の開口１２ａを通過
した軸外光束はコンデンサーレンズ１３を通して
マスクのピンホール１０ａを照明し、ピンホール
１０ａを発したビームは結像レンズ１４へ入射し
て結像作用を受け、第２の絞り板の軸外開口１５
ａを通過し、更に対物レンズ１６を経て眼底へ向
う。被検者が正視眼であれば、ビームは光軸と眼
底Erの交点へ入射してそこで反射し、光軸上を
辿つて対物レンズ１６、絞り板１５の軸上開口、
結像レンズ１４を通過し、スポツトミラー１８で
反射し、ポジシヨン・テイテクター１７の中心点
０へ入射する。
しかしながら、もし屈折力異常があれば第１図
の実施例の説明で述べた様に眼底の位置が移動し
た反応を示し、例えばEr′の位置に移動すれば、
測距ビームはポジシヨン・デイテクター１７のＰ
点へ入射する。他方、光源１１′を点燈すればポ
ジシヨン・デイテクターのＱ点へ入射する。従つ
て、間隔PQからその径線方向の視度を知ること
が可能である。又、点Ｐ、Ｑのいずれが点Ｏに関
し例えば右側にあるかということで、近視か遠視
かが判別される。
の実施例の説明で述べた様に眼底の位置が移動し
た反応を示し、例えばEr′の位置に移動すれば、
測距ビームはポジシヨン・デイテクター１７のＰ
点へ入射する。他方、光源１１′を点燈すればポ
ジシヨン・デイテクターのＱ点へ入射する。従つ
て、間隔PQからその径線方向の視度を知ること
が可能である。又、点Ｐ、Ｑのいずれが点Ｏに関
し例えば右側にあるかということで、近視か遠視
かが判別される。
次に別の径線の光源の組を点燈すると、被検眼
のその径線方向の視度に応じてポジシヨン・デイ
テクターの入射位置は移動するわけで、両光源を
順次点燈した時の入射位置の間隔からその径線方
向の視度を検出することができる。ただし、測距
ビームの入射位置は紙面に垂直な方向にも移動す
るので、本例では二次元のデイテクターを使用し
ているが、紙面に垂直な方向の移動量は径線同志
の成す角度で決定されるから、二次元デイテクタ
ーの代りに一次元デイテクターを３本平行に配置
しても良い。
のその径線方向の視度に応じてポジシヨン・デイ
テクターの入射位置は移動するわけで、両光源を
順次点燈した時の入射位置の間隔からその径線方
向の視度を検出することができる。ただし、測距
ビームの入射位置は紙面に垂直な方向にも移動す
るので、本例では二次元のデイテクターを使用し
ているが、紙面に垂直な方向の移動量は径線同志
の成す角度で決定されるから、二次元デイテクタ
ーの代りに一次元デイテクターを３本平行に配置
しても良い。
以上説明した通り本発明は瞬時に測定できるた
め精度の高い測定値を得ることができる利点があ
り、また測定時間が極めて短いから、被検者に苦
痛を与えることなく複数回の測定を行なつて結果
の確認が可能になる効果がある。
め精度の高い測定値を得ることができる利点があ
り、また測定時間が極めて短いから、被検者に苦
痛を与えることなく複数回の測定を行なつて結果
の確認が可能になる効果がある。
そして更に機械的可動部を除去したから、可動
部の移動速度の変動等による誤差や故障はなくな
り、装置の据付け条件も緩知されると共に全体も
小型になるなどの利点を有する。
部の移動速度の変動等による誤差や故障はなくな
り、装置の据付け条件も緩知されると共に全体も
小型になるなどの利点を有する。
第１図は本発明の一実施例を示す断面図、第２
図は構成要素の平面図。第３図は別の実施例を示
す断面図。第４図と第５図は各々、構成要素の平
面図、図中、Epは瞳、２，２′，１０はマスク、
２ａ，２a′，１０ａはピンホールすなわち発出
源、３，３′，１８はスポツトミラー、５，１５
は絞り板、５ａは軸上開口、５ｂ，５ｃ，１５
ａ，１５ｂは軸外開口、７，１７はポジシヨンデ
イテクターである。
図は構成要素の平面図。第３図は別の実施例を示
す断面図。第４図と第５図は各々、構成要素の平
面図、図中、Epは瞳、２，２′，１０はマスク、
２ａ，２a′，１０ａはピンホールすなわち発出
源、３，３′，１８はスポツトミラー、５，１５
は絞り板、５ａは軸上開口、５ｂ，５ｃ，１５
ａ，１５ｂは軸外開口、７，１７はポジシヨンデ
イテクターである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検眼底と略共役な指標光源から出た測定ビ
ームを、被検眼に対向する対物光学系に関し被検
眼の瞳と略共役に設けられる瞳分割手段の第１の
通過域、第２の通過域を順次に通過させて被検眼
眼底へ順次に投光する投光部と、 被検眼眼底で反射した測定ビームを前記瞳分割手
段の第１，第２の通過域と異なる第３の通過域を
通過させて受光し被検眼眼底と略共役に設けられ
る受光手段上での測定ビームの入射位置を検出す
る受光部と、該受光部に順次入射する測定ビーム
の入射位置を記憶し入射位置間隔を算出して屈折
力に変換する演算部を有することを特徴とする眼
屈折力測定装置。 ２ 前記瞳分割手段の第１，第２の通過域は前記
対物光学系の光軸に関し対称に設けられる領域で
あり、第３の通過域は軸上領域である特許請求の
範囲第１項記載の眼屈折力測定装置。 ３ 前記瞳分割手段の第１，第２の通過域は３径
線方向に各々設けられる特許請求の範囲第２項記
載の眼屈折力測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9457879A JPS5618836A (en) | 1979-07-23 | 1979-07-23 | Refraction method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9457879A JPS5618836A (en) | 1979-07-23 | 1979-07-23 | Refraction method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5618836A JPS5618836A (en) | 1981-02-23 |
| JPS6151890B2 true JPS6151890B2 (ja) | 1986-11-11 |
Family
ID=14114159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9457879A Granted JPS5618836A (en) | 1979-07-23 | 1979-07-23 | Refraction method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5618836A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5815839A (ja) * | 1981-07-22 | 1983-01-29 | 株式会社トプコン | 眼屈折力測定装置 |
| JPS5964022A (ja) * | 1982-10-05 | 1984-04-11 | キヤノン株式会社 | 屈折度測定装置 |
| JPS59225035A (ja) * | 1983-06-03 | 1984-12-18 | キヤノン株式会社 | 被検眼の近点測定装置 |
| JPH0197435A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-14 | Canon Inc | 眼屈折計 |
| JPH07265267A (ja) * | 1995-01-30 | 1995-10-17 | Canon Inc | 眼測定装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53111697A (en) * | 1977-03-11 | 1978-09-29 | Asahi Optical Co Ltd | Optical system of objective automatic ophthalmoscope |
-
1979
- 1979-07-23 JP JP9457879A patent/JPS5618836A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5618836A (en) | 1981-02-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6216088B2 (ja) | ||
| JPS624967B2 (ja) | ||
| KR20050116383A (ko) | 무아레 수차계 | |
| US5208619A (en) | Automatic refractor, lensmeter and keratometer utilizing Badal optics | |
| JPH0566804B2 (ja) | ||
| US4293199A (en) | Apparatus for detecting astigmatic axes and measuring refractive powers | |
| US4529280A (en) | Apparatus for subjectively measuring the refractive power of an eye | |
| JPH0359689B2 (ja) | ||
| JPS6141212B2 (ja) | ||
| US5781275A (en) | Eye refractometer and eye refractive power measuring apparatus for electro-optically measuring the refractive power of the eye | |
| US6676258B2 (en) | Eye characteristic measurement apparatus with speckle noise reduction | |
| JPH0352572B2 (ja) | ||
| JPH0355125B2 (ja) | ||
| JPS6153053B2 (ja) | ||
| JPS6214291B2 (ja) | ||
| JP3206936B2 (ja) | 眼屈折計 | |
| JP4562234B2 (ja) | 眼特性測定装置 | |
| JPH0254B2 (ja) | ||
| JP2614328B2 (ja) | 眼科測定装置 | |
| JPS59230535A (ja) | 眼科用測定装置 | |
| JPH06245909A (ja) | 眼屈折計 | |
| JPS624969B2 (ja) | ||
| JP3052280B2 (ja) | 眼屈折測定装置 | |
| JP2775285B2 (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
| JPH0588131B2 (ja) |