JPH022471A - Ｉｃカードシステム - Google Patents
ＩｃカードシステムInfo
- Publication number
- JPH022471A JPH022471A JP63145588A JP14558888A JPH022471A JP H022471 A JPH022471 A JP H022471A JP 63145588 A JP63145588 A JP 63145588A JP 14558888 A JP14558888 A JP 14558888A JP H022471 A JPH022471 A JP H022471A
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- card
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- abnormality
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、ホスト装置等の電子機器とＩＣカードの間で
情報の授受を行なうＩＣカードシステムに関する。
情報の授受を行なうＩＣカードシステムに関する。
［従来の技術］
ＩＣカードに対して情報の書き込みおよび読み出しを行
なう従来のＩＣカードシステムでは、第４図にその外観
を示すＩＣカード１１が用いられている。
なう従来のＩＣカードシステムでは、第４図にその外観
を示すＩＣカード１１が用いられている。
ＩＣカード１１はリーダライタとの間で一時的に結合可
能な電極１２を有する。この電極１２を介して後述のリ
ーダライタ２１から作動用電力が情報の記憶および読み
出しを行なうＩＣカード１１内のＩＣチップに対して供
給され、また読み書きのための情報も転送される。
能な電極１２を有する。この電極１２を介して後述のリ
ーダライタ２１から作動用電力が情報の記憶および読み
出しを行なうＩＣカード１１内のＩＣチップに対して供
給され、また読み書きのための情報も転送される。
第５図に示すように、リーダライタ２１にはＩＣカート
１１と一時的に結合可能な端子２３が設けられ、ＩＣカ
ードが挿入口２２から挿入されたときに、支持台２４に
支えられたＩＣカード１１の電極と端子２３が接続する
。
１１と一時的に結合可能な端子２３が設けられ、ＩＣカ
ードが挿入口２２から挿入されたときに、支持台２４に
支えられたＩＣカード１１の電極と端子２３が接続する
。
ＩＣカード１１と接続したり一ダライタ２１はホスト装
置２５との間にあって、ＩＣカードに対する送受信情報
を転送する。
置２５との間にあって、ＩＣカードに対する送受信情報
を転送する。
［発明が解決しようとする課題］
ＩＣカードはその所有者が携帯するために、力学的また
は電気的な衝撃を受けＩＣチップ自体が破壊してしまう
ことがある。破壊してしまったＩＣチップから記憶情報
を読み出すことは不可能であるために、従来ではＩＣチ
ップの記憶情報と同一内容をバックアップ記憶する必要
があった。
は電気的な衝撃を受けＩＣチップ自体が破壊してしまう
ことがある。破壊してしまったＩＣチップから記憶情報
を読み出すことは不可能であるために、従来ではＩＣチ
ップの記憶情報と同一内容をバックアップ記憶する必要
があった。
このような不具合を解決するために本願出願人は本願の
提出に先立って、ＩＣカード１１のＩＣチップに対する
作動電力の供給状態を監視し、予め定められた電力値を
超えたときにはＩＣチップに異常が生じていると判断し
、ＩＣチップの破壊における初期状態を検知する検知装
置（特願昭１ｉ３−７４６１１号）を提案している。
提出に先立って、ＩＣカード１１のＩＣチップに対する
作動電力の供給状態を監視し、予め定められた電力値を
超えたときにはＩＣチップに異常が生じていると判断し
、ＩＣチップの破壊における初期状態を検知する検知装
置（特願昭１ｉ３−７４６１１号）を提案している。
この提案により、ＩＣチップの破壊の初期状態を検知し
、ＩＣチップが完全破壊を起こす前にＩＣチップの記憶
情報を読み出すことが可能となった。ところが、上記検
知装置では検知できない程度にＩＣチップが少しく破壊
したＩＣカード１１をリーダライタ２１に挿入した場合
、ＩＣチップに流れる長時間にわたる過剰電流によって
ＩＣチップが過熱され、膨脂で形成されているＩＣカー
ド本体がそのために変形してしまう。極端な場合、ＩＣ
カード挿入口２２からＩＣカート１１を排出できないと
いう不具合が生じ、上記提案には、なお、改良の余地が
あった。
、ＩＣチップが完全破壊を起こす前にＩＣチップの記憶
情報を読み出すことが可能となった。ところが、上記検
知装置では検知できない程度にＩＣチップが少しく破壊
したＩＣカード１１をリーダライタ２１に挿入した場合
、ＩＣチップに流れる長時間にわたる過剰電流によって
ＩＣチップが過熱され、膨脂で形成されているＩＣカー
ド本体がそのために変形してしまう。極端な場合、ＩＣ
カード挿入口２２からＩＣカート１１を排出できないと
いう不具合が生じ、上記提案には、なお、改良の余地が
あった。
そこで、本発明の第１目的は、異常が生じているＩＣカ
ードとの交信時にはそのＩＣカードの過熱による変形を
阻止するＩＣカードシステムを提供することにある。本
発明の第２の目的は、ＩＣチップの傷の大きさにかかわ
りなく異常の生じたＩＣカードを確実に検出し、システ
ムへの悪影響を防止するＩＣカードシステムを提供する
ことにある。
ードとの交信時にはそのＩＣカードの過熱による変形を
阻止するＩＣカードシステムを提供することにある。本
発明の第２の目的は、ＩＣチップの傷の大きさにかかわ
りなく異常の生じたＩＣカードを確実に検出し、システ
ムへの悪影響を防止するＩＣカードシステムを提供する
ことにある。
［課題を解決するための手段］
このよう・な目的を達成するために、本発明の第１形態
は、ＩＣカードのＩＣチップ付近の温度が所定値を超え
たことを検出して異常検知信号を発生する異常検出回路
と、異常検知信号に応じて、ＩＣカードへの電力の供給
を遮断する電力遮断回路とを具えたことを特徴とする。
は、ＩＣカードのＩＣチップ付近の温度が所定値を超え
たことを検出して異常検知信号を発生する異常検出回路
と、異常検知信号に応じて、ＩＣカードへの電力の供給
を遮断する電力遮断回路とを具えたことを特徴とする。
本発明の第２形態は、ＩＣカードへ供給する電力レベル
が所定値を超えたことを検出して第１の異常検知信号を
発生する第１の異常検出回路と、ＩＣカードのＩＣチッ
プ付近の温度が所定値を超えたことを検出して第２の異
常検知信号を発生する第２の異常検出回路と、第１の異
常検出信号および第２の異常検出信号の少なくともいず
れか一方の信号に応じてＩＣカードへの電力の供給を遮
断する電力遮断回路とを具えたことを特徴とする。
が所定値を超えたことを検出して第１の異常検知信号を
発生する第１の異常検出回路と、ＩＣカードのＩＣチッ
プ付近の温度が所定値を超えたことを検出して第２の異
常検知信号を発生する第２の異常検出回路と、第１の異
常検出信号および第２の異常検出信号の少なくともいず
れか一方の信号に応じてＩＣカードへの電力の供給を遮
断する電力遮断回路とを具えたことを特徴とする。
［作 用］
本発明の第１形態ではＩＣカードの温度上昇を異常検出
回路により検知してＩＣカードへの電力を遮断するよう
にしたので、ＩＣカードの過熱による変形を阻止するこ
とができる。
回路により検知してＩＣカードへの電力を遮断するよう
にしたので、ＩＣカードの過熱による変形を阻止するこ
とができる。
本発明の第２の形態では、ＩＣカードに対する電力供給
状態の異常およびＩＣカードの温度の異常のいずれか一
方を検出してＩＣカードに対する電力供。
状態の異常およびＩＣカードの温度の異常のいずれか一
方を検出してＩＣカードに対する電力供。
給を遮断するようにしたので、従来のように電力の供給
状態の異常検出のみだけでは検出できなかったＩＣチッ
プに小さな傷を持つＩＣカードを識別することが可能と
なり、ＩＣカードの異常をより確実に検出することが可
能となるとともにこのＩＣカードの温度上昇およびｉ！
ｉ電力によるシステムへの悪影舌を阻止することができ
る。
状態の異常検出のみだけでは検出できなかったＩＣチッ
プに小さな傷を持つＩＣカードを識別することが可能と
なり、ＩＣカードの異常をより確実に検出することが可
能となるとともにこのＩＣカードの温度上昇およびｉ！
ｉ電力によるシステムへの悪影舌を阻止することができ
る。
［実施例コ
以下図面を参照して本発明実施例を詳細に説明する。
第１図は本発明実施例の回路構成を示す。
第１図において従来例と同様の箇所においては同一の符
号を付し、その詳細な説明を省略する。
号を付し、その詳細な説明を省略する。
１はＩＣカード１１に対する電力供給状態の異常を検出
する第１異常検出回路であり、本例においては、第２図
に示すようなトランジスタおよび抵抗を用いた公知の過
電流検出回路１−１により上記電力供給状態の異常を検
出する。過電流検出回路１−１の検知信号はレベル″Ｌ
”なのでインバータ１−２によりレベル反転する。この
ため、電力供給の異常状態が発生したときには、レベル
″Ｈ”の異常検知信号が第１異常検出回路１から後述の
遮断回路３へ供給される。
する第１異常検出回路であり、本例においては、第２図
に示すようなトランジスタおよび抵抗を用いた公知の過
電流検出回路１−１により上記電力供給状態の異常を検
出する。過電流検出回路１−１の検知信号はレベル″Ｌ
”なのでインバータ１−２によりレベル反転する。この
ため、電力供給の異常状態が発生したときには、レベル
″Ｈ”の異常検知信号が第１異常検出回路１から後述の
遮断回路３へ供給される。
２は、ＩＣカード１１の温度異常を検出する第２異常検
知回路であり、温度センサ２−１およびコンパレータ２
−３を有する。温度センサ２−１はリーダライタ２１の
ＩＣカード１１と接触する位置近く、特にＩＣチップ近
くに配置する。なお、温度センサ２−１には熱電対なと
検知温度に比例した電圧を出力するものを使用するとよ
い。
知回路であり、温度センサ２−１およびコンパレータ２
−３を有する。温度センサ２−１はリーダライタ２１の
ＩＣカード１１と接触する位置近く、特にＩＣチップ近
くに配置する。なお、温度センサ２−１には熱電対なと
検知温度に比例した電圧を出力するものを使用するとよ
い。
コンパレータ２−３は温度センサ２−１の出力電圧と、
予め定められたしきい値電圧Ｖａａを比較し、温度セン
サ２−１の検知出力がしきい値電圧Ｖａａよりも大きい
ときにＩＣカード１１は温度異常であると判断し、レベ
ル“Ｈ”の異常検知信号を遮断回路３に供給する。
予め定められたしきい値電圧Ｖａａを比較し、温度セン
サ２−１の検知出力がしきい値電圧Ｖａａよりも大きい
ときにＩＣカード１１は温度異常であると判断し、レベ
ル“Ｈ”の異常検知信号を遮断回路３に供給する。
遮断回路３はオア回路３−１および遮断スイッチ３−２
により構成される。
により構成される。
遮断スイッチ３−２はＩＣカード１１に対して電力を供
給する信号線上に設けられている。第１異常検出回路１
からの過電流に対する異常検知信号または第２異常検出
回路２からの温度異常に対する異常検知信号をオア回路
３−１に人力し、オア回路３−１からのいずれか一方の
異常検知信号の出力により遮断スイッチ３−２を開とな
し、ＩＣカード１１に対する電力供給を遮断する。
給する信号線上に設けられている。第１異常検出回路１
からの過電流に対する異常検知信号または第２異常検出
回路２からの温度異常に対する異常検知信号をオア回路
３−１に人力し、オア回路３−１からのいずれか一方の
異常検知信号の出力により遮断スイッチ３−２を開とな
し、ＩＣカード１１に対する電力供給を遮断する。
また、オア回路３−１からの異常検出信号はホスト装置
２５に対して供給され、システム動作の中止処理のトリ
ガーとなる。
２５に対して供給され、システム動作の中止処理のトリ
ガーとなる。
次に本実施例の動作を説明する。第３図はリーダライタ
２１が実行するシステム動作のための制御手順を示す。
２１が実行するシステム動作のための制御手順を示す。
第３図において、ＩＣカード１１が挿入されると、リー
ダライタ２１はＩＣカード１１に対し作動用電圧Ｖｃｃ
および作動用クロックを供給し、次にＩＣカード１１の
ＩＣチップを初期状態に設定するためにリセット信号を
供給する（ステップ５６１→５６２）。
ダライタ２１はＩＣカード１１に対し作動用電圧Ｖｃｃ
および作動用クロックを供給し、次にＩＣカード１１の
ＩＣチップを初期状態に設定するためにリセット信号を
供給する（ステップ５６１→５６２）。
ＩＣカード１１はリセット信号の受信後、１ｃチツプ内
の各部を初期化し、動作可能であることを示すアンサ信
号をリーダライタ２１に対し返す。このアンサ信号をリ
ーダライタ２１が受は取ることによって一般の処理、例
えば読み出しや書き込みが可能であることをリーダライ
タ２１からホスト装置２５に知らせる（ステップ５６３
）。このあとリーダライタ２１は、ホスト装置２５から
の指示に従いＩＣカード１１に対し情報を書き込んだり
または情報の読み出しを行なう（ステップ５６４）。
の各部を初期化し、動作可能であることを示すアンサ信
号をリーダライタ２１に対し返す。このアンサ信号をリ
ーダライタ２１が受は取ることによって一般の処理、例
えば読み出しや書き込みが可能であることをリーダライ
タ２１からホスト装置２５に知らせる（ステップ５６３
）。このあとリーダライタ２１は、ホスト装置２５から
の指示に従いＩＣカード１１に対し情報を書き込んだり
または情報の読み出しを行なう（ステップ５６４）。
また、ＩＣカード１１に対して電力が供給され、電力供
給状態に異常が生じ、ＩＣカード１１の温度が上昇する
と、第１異常検知回路１または第２異常検知回路２のど
ちらが異常検知信号を発生し、この異常検知信号により
遮断回路３がＩＣカード！ｌに対する電力供給を遮断す
る。
給状態に異常が生じ、ＩＣカード１１の温度が上昇する
と、第１異常検知回路１または第２異常検知回路２のど
ちらが異常検知信号を発生し、この異常検知信号により
遮断回路３がＩＣカード！ｌに対する電力供給を遮断す
る。
例えばＩＣチップのひび割れが小さく、ＩＣカード１１
に対する供給電流の過電流の度合が小さい場合は、第１
異常検知回路１は異常検知信号を発生せず、第２異常検
知回路２のみが異常検知信号を発生する。
に対する供給電流の過電流の度合が小さい場合は、第１
異常検知回路１は異常検知信号を発生せず、第２異常検
知回路２のみが異常検知信号を発生する。
さらに、本実施例においては次のようなメリットも生ま
れる。ＩＣカードに対する供給するための電力遮断条件
を従来のように電力異常の検出のみとする場合には、Ｉ
Ｃチップの傷による長時間の温度上昇を防止するために
は、電力上昇の異常検出のためのしきい値レベルと正常
な電力供給レベルとの差を小さくしなければならない。
れる。ＩＣカードに対する供給するための電力遮断条件
を従来のように電力異常の検出のみとする場合には、Ｉ
Ｃチップの傷による長時間の温度上昇を防止するために
は、電力上昇の異常検出のためのしきい値レベルと正常
な電力供給レベルとの差を小さくしなければならない。
その結果、例えば電源立ち上がり時に一時的に流れる過
剰電流により異常検出回路が誤って応答してしまう状況
が発生する。けれども、本実施例においては第２異常検
出回路２によりＩＣカード１１の異常な温度上昇を検出
するので、ＩＣチップによる傷による過剰電流の発生と
電源立上がり時の過剰電流の発生との違いを正確に判断
できる電流供給レベルにしきい値を設定することができ
、ＩＣカードの異常検出をより確実に行なうことが可能
となる。
剰電流により異常検出回路が誤って応答してしまう状況
が発生する。けれども、本実施例においては第２異常検
出回路２によりＩＣカード１１の異常な温度上昇を検出
するので、ＩＣチップによる傷による過剰電流の発生と
電源立上がり時の過剰電流の発生との違いを正確に判断
できる電流供給レベルにしきい値を設定することができ
、ＩＣカードの異常検出をより確実に行なうことが可能
となる。
リーダライタ２１は異常の発生がないかどうかを遮断回
路３からの検知信号によりチエツクする。
路３からの検知信号によりチエツクする。
ＩＣカード１１に異常が発生すればＩＣカード１１に対
し、リセット信号１炸動クロックの供給を停止すると共
に電源の作動を停止する（ステップ５８７→５６８）。
し、リセット信号１炸動クロックの供給を停止すると共
に電源の作動を停止する（ステップ５８７→５６８）。
このようなＩＣカード１１の異常が生じた場合には、リ
ーダライタ２１は異常が発生した旨をホスト装置２５に
伝えたり、不図示の警告ランプを点灯し、ＩＣカード所
有者に対し異常が生じていることを知らせる。その後、
ＩＣカード１１を排出して、本動作手順を終了する（ス
テップ５６８）。
ーダライタ２１は異常が発生した旨をホスト装置２５に
伝えたり、不図示の警告ランプを点灯し、ＩＣカード所
有者に対し異常が生じていることを知らせる。その後、
ＩＣカード１１を排出して、本動作手順を終了する（ス
テップ５６８）。
また、本実施例によれば、ＩＣカードのＩＣチップのき
ずによる温度上昇を検知するだけでなく、長時間にわた
るＩＣカード１１との交信によりＩＣカード１１の温度
が異常になることを阻止できる。その結果ＩＣカードが
加熱により使用不可能になる以前にＩＣカードを排出で
きる。このためＩＣカード１１、リーダライタ２１とも
に悪影響を与えることがない。
ずによる温度上昇を検知するだけでなく、長時間にわた
るＩＣカード１１との交信によりＩＣカード１１の温度
が異常になることを阻止できる。その結果ＩＣカードが
加熱により使用不可能になる以前にＩＣカードを排出で
きる。このためＩＣカード１１、リーダライタ２１とも
に悪影響を与えることがない。
また、本実施例においてはＩＣカードの電力供給レベル
に対する異常と温度に対する異常のいずれかの異常に応
じてＩＣカードに対する電力供給を遮断するようにして
いるが、単にＩＣカードの過熱を防止する目的であれば
、電力レベルに対する異常を検知する手段を設ける必要
はない。このとき、ＩＣチップの異常を温度異常により
検出することになるので、異常の検出に時間がかかるが
、装置コストを低減化できるメリットがある。
に対する異常と温度に対する異常のいずれかの異常に応
じてＩＣカードに対する電力供給を遮断するようにして
いるが、単にＩＣカードの過熱を防止する目的であれば
、電力レベルに対する異常を検知する手段を設ける必要
はない。このとき、ＩＣチップの異常を温度異常により
検出することになるので、異常の検出に時間がかかるが
、装置コストを低減化できるメリットがある。
本実施例の応用形態としてＩＣカード１１に異常がある
ことを報知した後、ＩＣカード発行者のところに異常の
生じたＩＣカードを持ってくるように表示しておけばＩ
Ｃカード発行者がこのＩＣカードを回収し、ＩＣカード
の記憶情報を読み出し、新規のＩＣカードを再発行する
ことが可能となる。
ことを報知した後、ＩＣカード発行者のところに異常の
生じたＩＣカードを持ってくるように表示しておけばＩ
Ｃカード発行者がこのＩＣカードを回収し、ＩＣカード
の記憶情報を読み出し、新規のＩＣカードを再発行する
ことが可能となる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明の第１形態においては、Ｉ
Ｃカードの温度上昇を異常検出回路により検知してＩＣ
カードへの電力を遮断するようにしたので、ＩＣカード
の過熱による変形を阻止することができる。
Ｃカードの温度上昇を異常検出回路により検知してＩＣ
カードへの電力を遮断するようにしたので、ＩＣカード
の過熱による変形を阻止することができる。
本発明の第２形態によれば、ＩＣカードに対する電力供
給状態の異常およびＩＣカードの温度の異常の少なくと
もいずれか一方を検出してＩＣカードに対する電力供給
を遮断するようにしたので、従来のように電力の供給状
態の異常検出のみだけでは検出できなかったＩＣチップ
に小さな傷を持つＩＣカードを識別することが可能とな
りＩＣカードの異常をより確実に検出することが可能と
なるとともにこのＩＣカードの温度上昇および過電力に
よるシステムへの悪影響を阻止することができるという
効果が得られる。
給状態の異常およびＩＣカードの温度の異常の少なくと
もいずれか一方を検出してＩＣカードに対する電力供給
を遮断するようにしたので、従来のように電力の供給状
態の異常検出のみだけでは検出できなかったＩＣチップ
に小さな傷を持つＩＣカードを識別することが可能とな
りＩＣカードの異常をより確実に検出することが可能と
なるとともにこのＩＣカードの温度上昇および過電力に
よるシステムへの悪影響を阻止することができるという
効果が得られる。
第１図は本発明実施例の構成を示す回路図、第２図は本
発明実施例の過電流検出回路１−１の構成を示す回路図
、 第３図は本発明実施例のり一ダライタ２１の動作手順を
示すフローチャート、 第４図は従来例のＩＣカード１１の外観を示す平面図、 第５図は従来のり一ダライタ２１の概略構成を示す模式
断面図である。 ｌ・・・第１異常検出回路、 １−１・・・過電流検出回路、 １−２・・・インバータ、 ２・・・第２異常検出回路、 ２−１・・・温度センサ、 ２−２・・・コンパレータ、 ３・・・遮断回路、 ３−１・・・オア回路、 ３−２・・・遮断スイッチ、 １１・・・ＩＣカード、 ２１・・・リーダライタ、 ２５・・・ホスト装置。
発明実施例の過電流検出回路１−１の構成を示す回路図
、 第３図は本発明実施例のり一ダライタ２１の動作手順を
示すフローチャート、 第４図は従来例のＩＣカード１１の外観を示す平面図、 第５図は従来のり一ダライタ２１の概略構成を示す模式
断面図である。 ｌ・・・第１異常検出回路、 １−１・・・過電流検出回路、 １−２・・・インバータ、 ２・・・第２異常検出回路、 ２−１・・・温度センサ、 ２−２・・・コンパレータ、 ３・・・遮断回路、 ３−１・・・オア回路、 ３−２・・・遮断スイッチ、 １１・・・ＩＣカード、 ２１・・・リーダライタ、 ２５・・・ホスト装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １） ＩＣカードのＩＣチップ付近の温度が所定値を超
えたことを検出して異常検知信号を発生する異常検出回
路と、 前記異常検知信号に応じて、前記ＩＣカードへの電力
の供給を遮断する電力遮断回路と を具えたことを特徴とするＩＣカードシステム。 ２） ＩＣカードヘ供給する電力レベルが所定値を超え
たことを検出して第１の異常検知信号を発生する第１の
異常検出回路と、 前記ＩＣカードのＩＣチップ付近の温度が所定値を超
えたことを検出して第２の異常検知信号を発生する第２
の異常検出回路と、 前記第１の異常検出信号および前記第２の異常検出信
号の少なくともいずれか一方の信号に応じて前記ＩＣカ
ードへの電力の供給を遮断する電力遮断回路と を具えたことを特徴とするＩＣカードシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63145588A JPH022471A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Ｉｃカードシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63145588A JPH022471A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Ｉｃカードシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH022471A true JPH022471A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=15388559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63145588A Pending JPH022471A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Ｉｃカードシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH022471A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112025000209T5 (de) | 2024-06-07 | 2026-08-20 | Fuji Electric Co., Ltd. | Halbleitervorrichtung |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP63145588A patent/JPH022471A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112025000209T5 (de) | 2024-06-07 | 2026-08-20 | Fuji Electric Co., Ltd. | Halbleitervorrichtung |
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