JPH02249939A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼屈折力測定装置、特に小児から乳幼児に対し
ても有用である眼屈折力測定装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来、眼屈折力測定装置としては、被検者の応答を基に
眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚的
に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置が知ら
れている。

然し乍ら、この種の装置で乳幼児の測定を行なう場合、
乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定がで
きず、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼の位
置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検眼の
位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるという欠
点を有していた。

これらの欠点を解消する為、ストロボ光で被検眼眼底を
照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影し
、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆるフ
ォトレフラクション方式の測定方法か提案されている。

このフォトレフラクション方式の測定に於いては、被検
眼の光軸が少しずれても充分に測定をすることができ、
被検眼を固定することが困難である乳幼児の眼屈折力の
測定には有用であるとされているものである。

［発明が解決しようとする課題］ 然し乍ら、斯かるフォトレフラクション方式の眼屈折力
測定装置では、カメラの光軸に対し、斜め方向からスト
ロボ光源により照明し、その時の瞳孔像を単に撮影する
だけであり、光源の位置により測定できないデイオプタ
ー値があり、又測定可能な範囲が狭いという問題を有し
ている。

更に従来この種の装置では乱視度、乱視軸角度等乱視に
ついての測定に関しては考慮されていなかった。

本発明は、上記実情に鑑みなしたものであり、瞬時に測
定結果を得ることができると共に乱視度、乱視軸角度等
についても測定し得る眼屈折力測定装置を提供しようと
するものである。

［課題を解決する為の手段］ 本発明は、被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と
、被検眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子を有し被
検眼眼底からの反射光束を前記受光素子に導く為の受光
系とを有する眼屈折力測定装置に於いて、前記受光系の
光路中に光軸と垂直な平面で光軸を中心に回転可能に配
置したエッヂ状の遮光部材を設け、該遮光部材の少なく
とも３つの回転位置での受光素子上の各光量分布状態か
ら眼屈折力を測定し得る様に構成し、及び投影系には光
軸と垂直な平面で光軸を中心として異なる経線方向に配
置され選択的に点灯される複数の光源部を有する光源を
設け、前記受光系光路中に光軸と垂直な平面内に前記複
数の光源部に対応して光軸を中心とした少なくとも３経
線方向に対し直角方向のエッヂ状稜線を有する遮光部材
を配置し、前記複数の光源部を選択的に点灯した時の受
光素子上の各光量分布状態から眼屈折力を測定し得る様
に構成し、及び投影系には光軸と垂直な平面で光軸を中
心として異なる経線方向に配置さな複数の光源部を有す
る光源を設け、前記受光系光路中に光軸と垂直な平面内
に前記複数の光源部に対応して光軸を中心とした少なく
とも３経線方向に対し直角方向のエッヂ状稜線を有する
遮光部材と、前記エッヂ状稜線を透過した各光束を分離
させ受光素子に導く為の光束分離手段を設け、前記受光
素子上の各光量分布状態から眼屈折力を測定し得る様に
構成し、及び受光系を少なくとも３組設け、前記反射光
束を各受光系に向けて分離する光束分離手段を前記被検
眼光軸上に設け、前記受光系にはそれぞれエッヂ状の遮
光部材を設け、各受光系に於いて前記受光素子上の光量
分布状態からそれぞれ異なった経線方向の眼屈折力を測
定し得る様に構成したことを特徴とするものである。

［作　　用］ 被検眼の眼屈折力の相違により、遮光部材による光束を
遮光する状態が異なってくる。この遮光の状態と眼屈折
力とは対応し、受光素子に投影された光束の状態、即ち
形状、光量分布を基に眼屈折力を測定でき、更に３経線
についての眼屈折力を求めて乱視についての測定を行う
。

［実　施　例コ 以下、図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。

乱視は、各経線での眼屈折力（デイオプター値）が異な
ることによって生じ、乱視の状態は球面度Ｓ、乱視度Ｃ
１乱視軸角度Ａを測定することで特定することができる
。又、任意の角度θの経線でのデイプター値Ｄ−と球面
度Ｓ、乱視度Ｃ１乱視軸角度Ａとの関係は下記の式で表
される。

Ｄ＃　＝Ｓ＋Ｃｓｉｎ　（θ−Ａ＞　　　・（１）従っ
て、３経線θ１、θ２、θ３のデイオプター値を求めれ
ば、球面度数Ｓ、乱視度数Ｓ、乱視軸角度Ａが求められ
、乱視状態が特定できる。

以下、第１図、第２図に於いて本発明の第１の実施例に
ついて説明する。

１は光源像を被検眼３の眼底７に投影する為の投影系で
あり、２は眼底７により反射された光束１０を受光する
為の受光系であり、投影系１及び受光系２は被検眼３に
対向して配置される。

前記投影系１は、光源４及び光源４からの光束１１を被
検眼３に向けて反射させる為のハーフミラ−５から成り
、該投影系１は光源４からの光束１１を瞳孔６を通して
眼底７上に光源４の像を形成する様に投影する。

前記受光系２は、対物レンズ８及び受光素子９から成り
、眼底７からの光束１０はハーフミラ−５を透過して受
光素子９上に導かれる。

該受光素子９は、エリアＣＯＤ、撮像管或は２以上の受
光素子の集合体であり、受光素子９の受光面９ａは対物
レンズ８に関して被検眼３の瞳孔６と共役位置に配置さ
れる。

前記受光系２の光路内には、被検眼３の眼屈折力が基準
デイオプター値の場合に光源像が形成される位置に、対
物レンズ８の光軸０を境界と起て光束１０の片側を遮光
する為のエッヂ状の遮光部材１２を光軸と垂直な平面内
に配置する。

遮光部材１２は、エッヂ部１５のエッヂ状稜線１５ａが
受光系２の光軸と合致し且ローラ２０等により該光軸を
中心に回転可能に支持されている。

又、前記受光素子９には演算器１３が接続され、該演算
器３は受光素子９の受光状態を演算し、その結果を表示
器１４に出力する様になっている。

以下作用を説明する。

前記した様に乱視の測定は３経線のデイオプター値を測
定することで求められるので、先ず第３図〜第１１図に
於いて１経線についてのデイオプター値測定について説
明する。

第３図（Ａ）に示す様に、被検眼３のデイオプター値が
基準デイオプター値に比べて負のデイオプター値の場合
には、光源４の像は眼底７の前方で結像され、この光束
により照明された眼底７上の内、光軸上の１点で反射さ
れた光束１０を考えると、この光束１０は遮光部材１２
の前方、即ち被検眼３側で集光され、対物レンズ８によ
り受光素子９上に投影される光束の上半分（斜線部分）
が遮光される。一方、第３図（Ｂ）に示す様に、被検眼
のデイオプター値が基準デイオプター値の場合には、光
束１０は遮光部材１２上に集光されるもので、光束１０
は遮光部材１２によって遮られない。

又、第３図（Ｃ）に示す様に、被検眼３のデイオプター
値が基準デイオプター値より正の場合には、光源４の像
は眼底７の後方で結像するように投影され、前述と同様
に眼底７で反射された光束１０は遮光部材１２の後方、
即ち受光素子９側で集光され、受光素子９上に投影され
る光束１０は第３図（＾）とは逆の部分の光束〈図中で
は上半分）が遮光される。

而して、受光面９ａに投影される光束は基準デイオプタ
ー値に対して被検眼３のデイオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態が変化し、この光量分布状態を基に
デイオプター値が求められる。

受光素子９はこの受光面９ａに形成される光束の光量分
布を検出する為のものであり、前記演算器１３は受光素
子９からの信号を基に、受光面９ａ上に形成される光束
の光量分布を検出し、基準となるデイオプター値に対し
被検眼の眼屈折力が正か負かを判断すると共にその絶対
値を演算し、演算結果を表示器１４に出力し、表示器１
４は求められた結果を表示する。

尚、上記実施例では光束分離手段としてハーフミラ−を
使用したが、ビームスプリッタ−偏光プリズム等種々の
光束分離手段を用いることは勿論である。

以下第４図（Ａ）〜（Ｅ）に於いて、受光面９ａに形成
される光束の光量分布状態を説明する。

尚、第４図（＾）〜（Ｅ）に於いて説明を簡略化する為
、光源４の光軸と受光系の光軸とを合致させ且遮光部材
１２と対物レンズ８とを一致させている。この為、光源
４と対物レンズ８とは同一位置で重ね合わせて示してお
り、遮光部材１２は省略して示している。

第４図（Ａ）〜（Ｅ）は被検眼の屈折力りが基準屈折力
Ｄｏに対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ８によって受光面９ａ上
に投影されるものとする。

光源４と被検眼瞳孔６との距離をｇに設定しこの光源の
像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力Ｄ０と
すると である。

第４図（Ａ）は被検眼の屈折力がＤ　（＜Ｄ、　）の場
合の、光軸に対し直角方向にＬの長さを有するスリット
状の光源４の軸上の一点Ｓｏからの投影光束を示すもの
で、点Ｓ０の像は一旦、Ｓｏ′に結像され、被検眼眼底
７には、ぼけた像として投影される。Ｄ６Ｄが大きくな
るに従い投影される領域７ａは広くなる。

第４図（８）は受光系２、及び、被検眼眼底７からの反
射光束の状態を示すものである。

第４図（Ｂ）に示す様に、被検眼眼底７上の投影領域の
端部の点り、からの光束を考えると、この点の像Ｉ−１
′は被検眼瞳孔から２′の距離の位置に結像され、この
光束は対物レンズ８を介して被検眼瞳孔６と共役位置に
配置した受光素子９上に投影される。尚、このグと被検
眼の屈折力りの関係式は下記の通りである。

一方、この眼底上の一点から発した光束のエッヂ上での
広がり幅Δは被検眼の瞳径をＵとすると、第４図（Ｂ）
から明らかな様に、となり、被検眼３の屈折力りと基準
屈折力Ｄ０との差が大になるに従い遮光部材１２上の広
がりは大きくなる。

次に、受光素子９上での光束の広がりについて述べる。

受光素子９は、被検眼３の屈折力に関係なく常に、対物
レンズ８に関して被検眼瞳孔と共役に配置されており、
被検眼瞳孔６の径をＵ、対物レンズ８の倍率をβとする
と、受光素子９上ではβＵの径の領域（被検眼の屈折力
に影響を受けない）に光束が投影される。

又、光軸に対して前記り、と対称な点■。からの光束も
同様に被検眼瞳孔６からグの位置に像１．′を結像した
後、受光素子９上の同じ領域βＵに投影される。光源４
を点光源として、遮光部材１２が無いものとした時、こ
れら眼底７からの各点り、、・・・Ｉｏ、・・・■ヵ、
からの光束の積分が受光素子９上の光量分布を決めるも
のである。

ここで、受光素子９上での光量分布について考察するな
め、受光素子９上の光束投影位置の端部位置Ｐ−１すな
わち、光軸を中心とした座この位置に入射する光束は第
４図（Ｃ）での斜線Ａの範囲の光束に限られることとな
る。又、同様に、光軸に対して、前記のＰ−３位置と対
称な位置Ｐ、に入射する光束を考えると斜線Ａ′範囲の
光束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔６
から９の距離〈光源４と共役位置）の位置に光軸の一方
の光束Ａ′を遮断するエッヂ状の遮光部材１２を配置す
ると受光素子９上のＰ−、の位置に入射する光束は遮光
部材１２により遮断されず、このＰ−、の位置から上方
の位置にいくに従って光束は徐々に遮光され、中心Ｐ０
０位置光束の半分が遮光され、Ｐ、の位置になると全て
の光束が遮断されることとなるものである。従って、エ
ッヂ状の遮光部材１２により受光素子９上には上方に行
くにしたがって暗くなり、Ｐ、の点で光量がＯとなる一
定傾斜の光量分布となるものである。

以上の第４図（Ａ）〜（Ｃ）では、光源４の光軸上の一
点から発する光束のみを示したが、光源４の端部の一点
Ｓ−１〈光源の大きさをＬとする第４図（Ｄ）に示すよ
うになる。この点Ｓ−１からの光束は、第４図（０）に
示す被検眼眼底７上のＩ−、点から１３点の領域に投影
され、このＩ−。

点、１１点からの反射光は、前述と同様に被検眼瞳孔６
からグの距離の位置で１．　　、Ｉ。

の像を結像した後、受光素子９上のβＵの径の領域に投
影されるものである。ここで、光源４の端部の点Ｓ−１
から発する光束のうち、受光素子９上の光束投影の端部
位置Ｐ−，に入射する光束は第４図（Ｄ）のＢの斜線領
域の光束となるものである。

又、前記Ｓ−１の点と対称な光源４の一点Ｓ。

からの光束を考え、そのうち受光素子９上のＰ−、の点
に入射する光束を考えると第４図（Ｅ）のＣの斜線領域
の光束となる。この様に、光源４がある大きさを有する
ものとして考えた場合、受光素子９上の一点の光量は、
光源４の各点からの光束の総和として考えなければなら
ない。

第５図（Ａ）は、この考え方に基づき、受光素子９上の
Ｐ−３の位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のＳ−１の位置から発する光束のうち
Ｐ−１の位置に入射する光束はＢの領域であり（第４図
（Ｄ）参照）、光源上での位置が上方に行くにしたがっ
てその光束も上方に移動し、軸上の光源位置Ｓ。ではＡ
の領域の光束となり（第４図（Ｃ）参照）、光源上での
Ｓ、の位置ではＣの領域の光束となる（第４図（Ｅ）参
照）、従って、受光素子９上のＰ−１の点での光量は、
これらの光束の総和として考えられる。

ここで、被検眼瞳孔６から９の距離の位置に遮光部材１
２を配置した時の受光素子９上の点Ｐ−，の光量を示す
模式図を第５図（Ａ）に示す。

第５図（Ａ）は光源上の位置が変化するにしたがって遮
光部材１２により光束がどの様に遮光されるかを示すも
のである。第５図（Ｂ）の横軸は光源上の座標位置、縦
軸は光量を示すものであり、光源上での各点からの光束
を考えると、座標位の光束は遮光部材１２により遮光さ
れず、座標位置の０点を過ぎると徐々に遮光され、Δ（
前述の光束の広がり）の位置で全ての光束が遮断される
事になるものである。ここで遮光されない場合の光源上
の各点からの光量をｋとして光源上での各点からの光量
の寄与を示したものが第５図（Ｂ）であり、斜線部の面
積が受光素子上のＰ−、の点の光量値に対応するもので
ある。この面積値Ｔは下記の様になる。

同様にして、受光素子上での他の点についても考察する
。第６図（＾）は受光素子上での中心点Ｐ０に入射する
光束を第５図（Ａ）と同様に示したものであり、光源上
のＳ−３の点からの光束の内Ｐ０の点に入射する光束は
Ｂｏの斜線領域、光源上の中心ＳｏＯ点からはＡｏの斜
線領域、光源上のＳ、の点からの光束はＣ０の斜線領域
の光束となるものであり、受光素子９の中心に入射する
光量は第６図（Ｂ）の斜線領域の面積Ｔ０に対応するこ
とになる。すなわち、光源の各点からの受光素子の中心
点に入射する光束をの光束が遮断されることになり、こ
の面積値を前述と同様に計算すると下記値になる。

同様にして、受光素子上での点Ｐ、に入射する光束の状
態、及びこの点での光量値を第７図（Ａ）、第７図（Ｂ
）に示す、第７図（Ａ）において、光源上のＳ−３の点
からの光束の内Ｐ、の点に入射する光束はＢ′の斜線領
域、光源上の中心Ｓｏの点からはＡ″の斜線領域、光源
上のＰ−。

の点からの光束はＣ″の斜線領域の光束として示す、こ
の場合には、第７図（８）に示すように、光源の各点か
ら受光素子のＰ、の点に入射するの位置までは光束は遮
光されず、−Δ位置を過ぎると徐々に光束が遮られ、０
の位置で全ての光束が遮断されることになり、この面積
値を計算すると下記値になる。

これらの式（６）　、（７）　、（８）の結果かられが
るように、受光素子９上の光量値は下方から上方にいく
にしたがって、光量値は徐々に低くなるものであり、そ
の受光素子上での光量分布を図示すると第８図に示すよ
うに直線的に変化する。

前述の説明に於いては、眼底の一点から発する光束を考
えた場合の遮光部材１２上での広がり定して説明を行っ
たものである。

一値Ｄ０に対する被検眼のデイオプター値の偏差ΔＤが
所定量以上の場合には、第１１図に示すような直線変化
は示さない、これを第５図ないし第７図にしたがって説
明を行う、前述のよ（Ｂ）、第７図（Ｂ）はそれぞれ第
１２図、第１３図、第１４図、に示す様になり、この光
量変化は第８図に示す様な直線変化を示さないことにな
る。

次に、第３図（Ｂ）で示す被検眼の屈折力が基準値であ
る場合、第３図（Ｃ）で示す被検眼の屈折力が基準値よ
り正の場合も、前記したと同様に受光素子９上の光量分
布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力が基
準値である場合は、第９図に示す如く、均一分布、被検
眼の屈折力が正の場合は第８図で示したものと逆な分布
状態となる。

上記しな光量分布の傾斜がデイオプター値（屈折力）を
そして、傾斜の方向がデイオプター値の正負を表わす、
以下第１１図を参照して説明する。

前記した光束の広がりΔ、即ちボケ量Δは、前記（５）
式より、 よって（７）式より 対する被検眼のデイオプター値の偏差ΔＤとにより被検
眼のデイオプター値を求めることが可能となる。

上記の如くして１経線についてのデイオプター値を求め
ることができるが、他の２経線についてのデイオプター
値は遮光部材１２を例えば６０°次に１２０°と回転さ
せた位置で求めればよい。

即ち、遮光部材１２の３箇所の回転位置を選び、各位置
のデイオプター値を測定すれば、前記第（１）式により
球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ２乱視軸角度Ａが直ちに求めら
れる。

次に、第１５図に於いて本発明の第２の実施例を説明す
る。

該第２の実施例では、光源１６を第１６図で示す様に複
数の光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・・を有し、
各光源部が選択的に点灯できる様に構成したもので各光
源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・・は投影系１の光
軸と垂直な平面内で該光軸と所要距離離れた位置で光軸
を中心としてθだけ異なる経線上、例えば６０″’、１
２０’・・・の経線上に設けられている。

又、遮光部材１７は、第１７図に示す如く６角形の孔１
８が設けられ、鎖孔１８の中心が受光系２の光軸と合致
する様に配置されている。更に、６角孔１８の角エッヂ
状稜線１８ａ、　１８ｂ、　１８ｃ・・・は前記光源部
１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・・の属する経線と直角
方向で且該光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・・と
対応した位置にあり且基準デイオプター値の場合、光源
部の像がこの稜線上で形成される様にする。

該第２の実施例において異なった経線上の少なくとも３
箇所の光源部（経線の延長状にある他の光源部を除く）
、例えば１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃを選択的に１箇所
ずつ点灯させ前記したと同様な測定をすれば、３経線で
のデイオプター値が求められ、やはり前記（１）式より
直ちに球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ５乱視軸角度Ａが求めら
れる。

又、第１８図は第３の実施例を示しており、該実施例で
は第２の実施例中で示した光源１６と同様な構成を有し
、各光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・・が点滅し
ない様になっている光源１６′と第２の実施例中で示し
たものと同一の遮光部材１７を有すると共に該遮光部材
１７と対物レンズ８との間に各光源部１６ａ、　１６ｂ
、　１６ｃ・・・からの光束を受光系２の光軸より分離
即ち該光軸より離反させる方向に分離させる光束分離手
段、例えば偏角プリズム１９を設けている。該偏角プリ
ズム１９は各光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ　−・
・に対応するプリズム片１９ａ、　１９ｂ、　１９ｃ・
・・を光軸を中心に放射状に集合させたものである。

該実施例では各光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・
・からの光束が、受光面９ａの異なった位置に投影され
る為、受光面９ａの投影された各部分で前記したと同様
な方法でデイオプター値を求めるようにすれば、複数の
経線方向のデイオプター値が同時に求められ、球面度Ｓ
、乱視度数Ｃ５乱視軸角度Ａも又求められる。

更に、第２０図は第４の実施例を示している。

光源４を被検眼３に対して対向した位置に配置し、該光
源４、被検眼３の光軸を含む平面内で該光軸に交差する
光軸を有する受光系２ｘ、２ｙ２Ｚを被検眼３側より順
次配設する。而して、被検眼３の光軸上にハーフミラ−
５ｘ、５ｙ、５Ｚを配設し、眼底７からの光束を受光系
２ｘ、２ｙ、２ｚに向けて分割反射する。

ここで、受光系２ｘ、２ｙ、２ｚの受光素子９ｘ、９ｙ
、９ｚの受光面９ｘａ、　９ｙａ、　９ｚａは前記実施
例と同様対物レンズ８ｘ、８ｙ、８ｚに関して被検眼３
の瞳孔６と共役位置とし、該３つの受光系２ｘ、　２ｙ
、　２ｚの光路内に前記実施例と同様な位置に遮光部材
１２ｘ。

１２ｙ、　１２ｚを遮光部材１２Ｖは光軸に関し遮光部
材１２×より６０゛回転させた位置、遮光部材１２ｚは
光軸に関し該遮光部材１２１／より更に６０°回転させ
た位置とする。

斯かる構成とすれば、受光素子９ｘ、９ｙ、９ｚの受光
結果より得られるデイオプター値は３経線方向の値とな
り、しかも同時に測定することができる。

尚、第２０図で示した実施例に於いて、受光系２ｘ、２
ｙ、２ｚを全く同一の構成とし、ハーフミラ−で分割反
射する方向を被検眼３の光軸に関し、６０’、１２０°
と変え、受光系２ｘ、　２ｙ、　２ｚが被検眼３の光軸
に対して放射状となる様な配置としても、同様に３経線
方向のデイオプター値を得ることが可能である。

尚、上記した第１、第２、第３、第４の実施例に於いて
乱視状態を特定する為に３経線上のデイオプター値を求
めればよいが、１つの経線延長上の他の経線についての
デイオプター値を、第１、第４の実施例では遮光部材１
２及び１２×。

１２ｙ、　１２ｚを更に回転させ、第２、第３の実方組
例では対称な位置にある光源部、及び対向配置位置にあ
るエッヂ部により求めて平均化すれば、被検眼のマツグ
の影響、角膜水晶体等透明体の部分的な濁りの影響を除
くことができ、測定精度は更に向上する。

尚、上記実施例では投影系の光束分離手段としてハーフ
ミラ−を使用したが、ビームスプリッタ−１開光プリズ
ム等種々の光束分離手段を用い得ることは勿論である。

更に、乱視の測定では３経線上のデイオプター値を求め
るのが好ましいが、乱視の状態は大体２経線方向（直角
関係にある２経線方向）に代表されるものであり、従っ
て第１７図で示した６角形状の遮光部材は矩形形状の遮
光部材であってもよい。

［発明の効果］ 以上述べた如く本発明によれば、複数の経線についての
デイオプター値が測定でき、乱視についての測定を実現
化すると共に受光系は受光素子を用いているので測定結
果は瞬時に得られるという優れた効果を発揮する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示す基本構成図、第２
図は第１図のＡ−Ａ矢視図、第３図（Ａ）　ＣＢ）　（
Ｃ）は該実施例に於ける被検眼のデイオプター値の相違
による光束の状態の相違を示す説明図、第４図（Ａ）（
Ｂ）　（ＣＨＤ）　（Ｅ）は受光系及び被検眼眼底から
の反射光束の状態を示す説明図、第５図（Ａ）、第６図
（Ａ）、第７図（＾）は受光素子に到達する光源各点の
反射光束の状態を示す説明図、第５図（Ｂ）、第６図（
Ｂ）、第７図（Ｂ）は遮光部材によって遮られた場合の
各光束の光量変化を示す説明図、第８図、第９図、第１
０図はデイオプター値に対応した受光面での光量分布状
態を示す説明図、第１１図は光量分布状態よりデイオプ
ター値を求める場合の説明図、第１２図、第１３図、第
１４図は遮光部材上での広がり幅Δが光源の１７２の大
きさより大きな場合の遮光部材によって遮光された場合
の各光束の光量変化を示す説明図、第１５図は第２の実
施例を示す基本構成図、第１６図は第１５図のＢ−Ｂ矢
視図、第１７図は第１５図のＣ−Ｃ矢視図、第１８図は
第３の実施例を示す基本構成図、第１９図は第１８図の
Ｄ−Ｄ矢視図、第２０図は第４の実施例を示す基本構成
図である。 １は投影系、２．２ｘ、　２ｙ、　２ｚは受光系、３は
被検眼、４，１６．１６’は光源、５．５ｘ、　５ｙ、
　５ｚはハーフミラ−１８，８ｘ、８ｙ、８ｚは対物レ
ンズ、９．９ｘ、　９ｙ、　９ｚは受光素子、１２，１
２ｘ、１２ｙ、１２ｚ、１７は遮光部材、１９は偏向プ
リズムを示す。 特　　許　　出　　願　　人 東京光学機械株式会社

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と、被検
   眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子を有し被検眼眼
   底からの反射光束を前記受光素子に導く為の受光系とを
   有する眼屈折力測定装置に於いて、前記受光系の光路中
   に光軸と垂直な平面で光軸を中心に回転可能に配置した
   エッヂ状の遮光部材を設け、該遮光部材の少なくとも３
   つの回転位置での受光素子上の各光量分布状態から眼屈
   折力を測定し得る様に構成したことを特徴とする眼屈折
   力測定装置。 ２）被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と、被検
   眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子を有し被検眼眼
   底からの反射光束を前記受光素子に導く為の受光系とを
   有する眼屈折力測定装置に於いて、投影系には光軸と垂
   直な平面で光軸を中心として異なる経線方向に配置され
   選択的に点灯される複数の光源部を有する光源を設け、
   前記受光系光路中に光軸と垂直な平面内に前記複数の光
   源部に対応して光軸を中心とした少なくとも３経線方向
   に対し直角方向のエッヂ状稜線を有する遮光部材を配置
   し、前記複数の光源部を選択的に点灯した時の受光素子
   上の各光量分布状態から眼屈折力を測定し得る様に構成
   したことを特徴とする眼屈折力測定装置。 ３）被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と、被検
   眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子を有し被検眼眼
   底からの反射光束を前記受光素子に導く為の受光系とを
   有する眼屈折力測定装置に於いて、投影系には光軸と垂
   直な平面で光軸を中心として異なる経線方向に配置した
   複数の光源部を有する光源を設け、前記受光系光路中に
   光軸と垂直な平面内に前記複数の光源部に対応して光軸
   を中心とした少なくとも３経線方向に対し直角方向のエ
   ッヂ状稜線を有する遮光部材と、前記エッヂ状稜線を透
   過した各光束を分離させ受光素子に導く為の光束分離手
   段を設け、前記受光素子上の各光量分布状態から眼屈折
   力を測定し得る様に構成したことを特徴とする眼屈折力
   測定装置。 ４）被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と、被検
   眼瞳孔と略共役位置に配置した受光素子を有し被検眼眼
   底からの反射光束を前記受光素子に導く為の受光系とを
   有する眼屈折力測定装置に於いて、受光系を少なくとも
   ３組設け、前記反射光束を各受光系に向けて分離する光
   束分離手段を前記被検眼光軸上に設け、前記受光系には
   それぞれエッヂ状の遮光部材を設け、各受光系に於いて
   前記受光素子上の光量分布状態からそれぞれ異なった経
   線方向の眼屈折力を測定し得る様に構成したことを特徴
   とする眼屈折力測定装置。