JPH02251778A - バーイン装置 - Google Patents
バーイン装置Info
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- JPH02251778A JPH02251778A JP7435189A JP7435189A JPH02251778A JP H02251778 A JPH02251778 A JP H02251778A JP 7435189 A JP7435189 A JP 7435189A JP 7435189 A JP7435189 A JP 7435189A JP H02251778 A JPH02251778 A JP H02251778A
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- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims abstract description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 230000002265 prevention Effects 0.000 abstract 2
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 abstract 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
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- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、試験室内で半導体デバイスなどの供試品のス
クリーニング、エージングあるいは信頼性の試験を行う
バーイン装置に係わり、と(に、供試品を搭載した基板
を試験室内に挿入する挿入機構に関する。
クリーニング、エージングあるいは信頼性の試験を行う
バーイン装置に係わり、と(に、供試品を搭載した基板
を試験室内に挿入する挿入機構に関する。
(従来の技術)
この種のバーイン装置は、供試品が搭載された基板が上
下複数段に並べて試験室内に挿入され、それに伴って、
各基板が試験室内に配設されたコネ、クタに接続される
ようになっている。そして、基板を自動的に挿入するた
めに、従来、たとえば特開昭62−2176号公報に記
載されているように、基板の挿入機構を設けたバーイン
装置が知られている。この従来の挿入機構は、モータに
より駆動される回転軸に複数のアーム体を固定した構造
になっており、これら各アーム体により各基板を同時に
それぞれ押込むようになっている。
下複数段に並べて試験室内に挿入され、それに伴って、
各基板が試験室内に配設されたコネ、クタに接続される
ようになっている。そして、基板を自動的に挿入するた
めに、従来、たとえば特開昭62−2176号公報に記
載されているように、基板の挿入機構を設けたバーイン
装置が知られている。この従来の挿入機構は、モータに
より駆動される回転軸に複数のアーム体を固定した構造
になっており、これら各アーム体により各基板を同時に
それぞれ押込むようになっている。
(発明が解決しようとする課題)
しかし、上記従来の構造では、複数の基板を同時に押込
むため、駆動源であるモータに大きな負荷がかかるとと
もに、大きな動力を要する問題があった。しかも、モー
タに連結された回転軸にアーム体が固定されているため
、基板あるいはコネクタに異常があって、両者間に位置
ずれがあるような場合でも、アーム体が強引に押し込み
動作を続け、破損をきたすことがある問題があった。
むため、駆動源であるモータに大きな負荷がかかるとと
もに、大きな動力を要する問題があった。しかも、モー
タに連結された回転軸にアーム体が固定されているため
、基板あるいはコネクタに異常があって、両者間に位置
ずれがあるような場合でも、アーム体が強引に押し込み
動作を続け、破損をきたすことがある問題があった。
本発明は、このような問題点を解決しようとするもので
、基板の挿入機構の駆動源に大きな負荷がかかることが
ないとともに、基板およびコネクタに位置ずれがあるよ
うな場合でも、無理な力がかかることがな(、破損をき
たすことのないバーイン装置を提供することを目的とす
るものである。
、基板の挿入機構の駆動源に大きな負荷がかかることが
ないとともに、基板およびコネクタに位置ずれがあるよ
うな場合でも、無理な力がかかることがな(、破損をき
たすことのないバーイン装置を提供することを目的とす
るものである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記目的を達成するために、半導体デバイス
などの供試品が搭載された基板が複数段に並べて挿脱自
在に収納される試験室と、この試験室内に配設され前記
基板が着脱自在に接続されるコネクタと、前記各基板を
前記試験室内の奥部へ向けて挿入して前記コネクタに接
続させる挿入機構とを備えたバーイン装置において、こ
の挿入機構が、前記複数の基板の配列方向に延びモータ
などの駆動源により正逆回転駆動される回転軸と、この
回転軸に前記各基板にそれぞれ対応して固定された複数
のベース体と、これらベース体にそれぞれ重ねられて前
記回転軸にそれぞれ回動自在に支持され前記各基板をそ
れぞれ挿入方向へ押込む複数のアーム体とを有するもの
とし、また、前記各ベース体およびこのベース体と対を
なす前記各アーム体の対向部の一方にほぼ球面状の係合
部を有する係合子を可動にかつ他方へ向けて付勢して設
けるとともに、他方に前記係合子の係合部が係脱自在に
係合される受け孔を設け、さらに、前記ベース体に役け
られた前記係合子または受け孔の前記回転軸の回転方向
における位置を、前記各基板にそれぞれ対応する各ベー
ス体で互いに偏位させたものである。
などの供試品が搭載された基板が複数段に並べて挿脱自
在に収納される試験室と、この試験室内に配設され前記
基板が着脱自在に接続されるコネクタと、前記各基板を
前記試験室内の奥部へ向けて挿入して前記コネクタに接
続させる挿入機構とを備えたバーイン装置において、こ
の挿入機構が、前記複数の基板の配列方向に延びモータ
などの駆動源により正逆回転駆動される回転軸と、この
回転軸に前記各基板にそれぞれ対応して固定された複数
のベース体と、これらベース体にそれぞれ重ねられて前
記回転軸にそれぞれ回動自在に支持され前記各基板をそ
れぞれ挿入方向へ押込む複数のアーム体とを有するもの
とし、また、前記各ベース体およびこのベース体と対を
なす前記各アーム体の対向部の一方にほぼ球面状の係合
部を有する係合子を可動にかつ他方へ向けて付勢して設
けるとともに、他方に前記係合子の係合部が係脱自在に
係合される受け孔を設け、さらに、前記ベース体に役け
られた前記係合子または受け孔の前記回転軸の回転方向
における位置を、前記各基板にそれぞれ対応する各ベー
ス体で互いに偏位させたものである。
(作用)
本発明のバーイン装置では、供試品が搭載された基板が
試験室内に複数段に並べて収納されるが、このとき、挿
入機構が各基板を試験室内の奥部へ向けて挿入して、コ
ネクタに接続させる。挿入機構にあっては、駆動源によ
り回転軸が回転駆動されるが、この回転軸に固定された
複数のベース体も一体的に回転する。ベース体およびこ
のベース体に対応するアーム体の対向部の一方に設けら
れた係合子が他方に設けられた受け孔に係合されていな
い間は、ベース体のみが回転し、アーム体は回転しない
が、係合子が受け孔に臨む位置に達すると、この受け孔
の方へ付勢された係合子の保合部が受け孔に係合され、
その後は、ベース体と一体的にアーム体が回転し、この
回転するアーム体が対応する基板を挿入方向へ押込む。
試験室内に複数段に並べて収納されるが、このとき、挿
入機構が各基板を試験室内の奥部へ向けて挿入して、コ
ネクタに接続させる。挿入機構にあっては、駆動源によ
り回転軸が回転駆動されるが、この回転軸に固定された
複数のベース体も一体的に回転する。ベース体およびこ
のベース体に対応するアーム体の対向部の一方に設けら
れた係合子が他方に設けられた受け孔に係合されていな
い間は、ベース体のみが回転し、アーム体は回転しない
が、係合子が受け孔に臨む位置に達すると、この受け孔
の方へ付勢された係合子の保合部が受け孔に係合され、
その後は、ベース体と一体的にアーム体が回転し、この
回転するアーム体が対応する基板を挿入方向へ押込む。
そして、ベース体に設けられた係合子または受け孔の回
転方向における位置は、各ベース体で互いに偏位してい
るので、各基板に対応する各ベース体およびアーム体で
係合子が受け孔に係合される時間がずれ、その結果、複
数の基板は互いに時間差をもって押込まれることになる
。また、ある基板の押込みが完了したとき、あるいは、
ある基板とコネクタとに位置すれかあって過大荷重がか
かったようなときには、係合部がほぼ球面状の係合子が
受け孔から外れ、アーム、体は回転せずに、ベース体の
みが回転する。
転方向における位置は、各ベース体で互いに偏位してい
るので、各基板に対応する各ベース体およびアーム体で
係合子が受け孔に係合される時間がずれ、その結果、複
数の基板は互いに時間差をもって押込まれることになる
。また、ある基板の押込みが完了したとき、あるいは、
ある基板とコネクタとに位置すれかあって過大荷重がか
かったようなときには、係合部がほぼ球面状の係合子が
受け孔から外れ、アーム、体は回転せずに、ベース体の
みが回転する。
(実施例)
以下、本発明のバーイン装置の一実施例の構成について
、図面を参照して説明する。
、図面を参照して説明する。
第2図および第3図において、11は試験室で、この試
験室11は、前面を開口した箱状の断熱材12により囲
まれて形成されている。また、前記試験室11の前面開
口部13には断熱扉14が開閉自在に設けられている。
験室11は、前面を開口した箱状の断熱材12により囲
まれて形成されている。また、前記試験室11の前面開
口部13には断熱扉14が開閉自在に設けられている。
そして、前記試験室11内の後側の奥部には複数のコネ
クタISが上下方向に並べて配設されている。また、前
記試験室H内の左右両側部には前後一対の支柱16がそ
れぞれ配設されている。そして、これら左右の支柱16
の対向面には、左右方向で相対向させてかつ上下方向に
並べて、複数の案内部17がそれぞれ設けられており、
これら案内部1フは、断面はぼコ字形状で前後方向に延
びている。
クタISが上下方向に並べて配設されている。また、前
記試験室H内の左右両側部には前後一対の支柱16がそ
れぞれ配設されている。そして、これら左右の支柱16
の対向面には、左右方向で相対向させてかつ上下方向に
並べて、複数の案内部17がそれぞれ設けられており、
これら案内部1フは、断面はぼコ字形状で前後方向に延
びている。
また、21は基板で、この基板21は、上面に半導体デ
バイスなどの供試品22が搭載されるとともに、左右両
側縁部が前記左右の案内部17に係合されて、前記試験
室11内に上下複数段に並べて挿脱自在に収納されると
ともに、後端縁部が前記コネクタ15に着脱自在に接続
されるものである。なお、前記基板21の下面には補強
材23が設けられている。
バイスなどの供試品22が搭載されるとともに、左右両
側縁部が前記左右の案内部17に係合されて、前記試験
室11内に上下複数段に並べて挿脱自在に収納されると
ともに、後端縁部が前記コネクタ15に着脱自在に接続
されるものである。なお、前記基板21の下面には補強
材23が設けられている。
さらに、前記試験室11内の前部には、前記基板21を
前記試験室11内の奥部へ向けて挿入して前記コネクタ
1sにそれぞれ接続させる挿入機構26が配設されてい
る。一方、前記試験室11の後部には、前記基板21を
前方へ抜去してコネクタ15から外す抜去機構27が配
設されている。
前記試験室11内の奥部へ向けて挿入して前記コネクタ
1sにそれぞれ接続させる挿入機構26が配設されてい
る。一方、前記試験室11の後部には、前記基板21を
前方へ抜去してコネクタ15から外す抜去機構27が配
設されている。
つぎに、前記挿入機構26の構成について説明する。
第3図に示すように、前記試験室1!の最上部には左右
方向に延びる駆動軸31が軸支されており、試験室11
外に突出したこの駆動軸31の一端部にギヤ32が固定
されている。そして、前記試験室ll外に配設された駆
動源としてのモータ33の正逆回転する出力輪34に固
定されたギヤ35が前記ギヤ32に歯合されている。一
方、前記前側の左右の支柱t6の前方には、上下方向に
延びる回転軸36がそれぞれ軸支されており、これら回
転軸36の上端部にはそれぞれベベルギヤ3丁が固定さ
れている。そして、前記駆動軸31に互いに逆向きに固
定されたベベルギヤ38が前記両回転軸3Gのベベルギ
ヤ37にそれぞれ歯合されている。したがって、これら
両回転軸36は、前記駆動軸31の正逆回転により互い
に逆方向へ正逆回転駆動される。
方向に延びる駆動軸31が軸支されており、試験室11
外に突出したこの駆動軸31の一端部にギヤ32が固定
されている。そして、前記試験室ll外に配設された駆
動源としてのモータ33の正逆回転する出力輪34に固
定されたギヤ35が前記ギヤ32に歯合されている。一
方、前記前側の左右の支柱t6の前方には、上下方向に
延びる回転軸36がそれぞれ軸支されており、これら回
転軸36の上端部にはそれぞれベベルギヤ3丁が固定さ
れている。そして、前記駆動軸31に互いに逆向きに固
定されたベベルギヤ38が前記両回転軸3Gのベベルギ
ヤ37にそれぞれ歯合されている。したがって、これら
両回転軸36は、前記駆動軸31の正逆回転により互い
に逆方向へ正逆回転駆動される。
そして、前記両回転軸36には、前記複数の案内部17
の下方にそれぞれ位置して、複数のベース体41が固定
されている。このベース体41は、第1図に示すように
、−側に切溝42を有する円筒形状になっており、割り
締めにより前記回転軸36にそれぞれ固定されている。
の下方にそれぞれ位置して、複数のベース体41が固定
されている。このベース体41は、第1図に示すように
、−側に切溝42を有する円筒形状になっており、割り
締めにより前記回転軸36にそれぞれ固定されている。
すなわち、前記回転軸36がベース体41内に貫通され
ており、このベース体41がその切溝42を貫通したポ
ルト43により、回転軸36に締め付けられている。割
り締めにより固定されていることにより、回転軸36に
対するベース体41の固定角度は自在に調整できる。
ており、このベース体41がその切溝42を貫通したポ
ルト43により、回転軸36に締め付けられている。割
り締めにより固定されていることにより、回転軸36に
対するベース体41の固定角度は自在に調整できる。
また、このベース体41の上面に突出形成された軸部4
4にアーム体4sが前記回転軸3Gの中心軸を回動中心
として回動自在に支持されている。なお、このアーム体
45は、前記軸部44の上部に嵌着されたCリング46
により抜は止めされており、このCリング46とアーム
体45との間にはスペーサ47が介在されている。そし
て、前記アーム体45の先端部には、前記基板21を後
方へ押圧するローラ48が支軸49により軸着されてい
る。
4にアーム体4sが前記回転軸3Gの中心軸を回動中心
として回動自在に支持されている。なお、このアーム体
45は、前記軸部44の上部に嵌着されたCリング46
により抜は止めされており、このCリング46とアーム
体45との間にはスペーサ47が介在されている。そし
て、前記アーム体45の先端部には、前記基板21を後
方へ押圧するローラ48が支軸49により軸着されてい
る。
前記ベース体41とアーム体45とには、前記回転軸3
6の中心軸から等距離離れてかつ互いに120″ずつ離
間して、複数の貫通孔51と受け孔52とがそれぞれ貫
通形成されている。そして、前記各貫通孔51には、外
面が係合部をなす係合子としての球形のボール53が上
部にそれぞれ上下動自在に嵌合されているとともに、押
しねじ54が下部に進退自在に螺合されており、これら
押しねじ54とボール53との間に装着されたばね55
により、このボールS3は常時上方へ付勢されている。
6の中心軸から等距離離れてかつ互いに120″ずつ離
間して、複数の貫通孔51と受け孔52とがそれぞれ貫
通形成されている。そして、前記各貫通孔51には、外
面が係合部をなす係合子としての球形のボール53が上
部にそれぞれ上下動自在に嵌合されているとともに、押
しねじ54が下部に進退自在に螺合されており、これら
押しねじ54とボール53との間に装着されたばね55
により、このボールS3は常時上方へ付勢されている。
前記アーム体4Sの受け孔52は、前記ボール53が下
方から係脱自在に係合されるものであるが、このボール
53よりも径が小さくなっている。なお、前記貫通孔5
tは、ボール53とほぼ同じ径で、少し大きくなってい
る。
方から係脱自在に係合されるものであるが、このボール
53よりも径が小さくなっている。なお、前記貫通孔5
tは、ボール53とほぼ同じ径で、少し大きくなってい
る。
そして、前記ベース体41に設けられた前記ボール53
の前記回転軸36の回転方向における位置は、前記各基
板21にそれぞれ対応する各ベース体41で互いに0偏
位している。たとえば、第3図図示の右側の5つのベー
ス体41で、任意のベース体41のボール53は、この
ベース体41の上側に隣接するベース体41のボール5
3よりも、上から見て反時計回り方向へ20°ずれてい
る。また、左右で対をなすベース体41のボール53は
、面対称な位置にある。
の前記回転軸36の回転方向における位置は、前記各基
板21にそれぞれ対応する各ベース体41で互いに0偏
位している。たとえば、第3図図示の右側の5つのベー
ス体41で、任意のベース体41のボール53は、この
ベース体41の上側に隣接するベース体41のボール5
3よりも、上から見て反時計回り方向へ20°ずれてい
る。また、左右で対をなすベース体41のボール53は
、面対称な位置にある。
さらに、第2図に示すように、前記前側の左右の支柱1
6の外側面には、前記各アーム体45が前方へ突出した
状態で内側面に当接するストッパ56が固定されている
。
6の外側面には、前記各アーム体45が前方へ突出した
状態で内側面に当接するストッパ56が固定されている
。
つぎに、前記抜去機構27の構成について説明する。
第2図に示すように、前記後側の左右の支柱16の後方
には、上下方向に延びる支軸61がそれぞれ設けられて
おり、これら支軸61には、前記挿入機構26の各アー
ム体45とそれぞれほぼ同じ高さで、複数のアーム体6
2がそれぞれ回動自在に支持されている。そして、これ
ら各アーム体62の先端部には、前記基板21を前方へ
押圧するローラ63が支軸64により軸着されている。
には、上下方向に延びる支軸61がそれぞれ設けられて
おり、これら支軸61には、前記挿入機構26の各アー
ム体45とそれぞれほぼ同じ高さで、複数のアーム体6
2がそれぞれ回動自在に支持されている。そして、これ
ら各アーム体62の先端部には、前記基板21を前方へ
押圧するローラ63が支軸64により軸着されている。
また、前記各支軸61の後側に隣接して、上下方向に延
びる回転軸65がそれぞれ軸支されている。
びる回転軸65がそれぞれ軸支されている。
そして、これら回転軸65には、前記各アーム体62を
それぞれ後側から押圧して揺動させる複数の偏心カム6
6が固定されている。なお、図示していないが、前記両
回転軸65は、前記挿入機構26と全く同様にして、ベ
ベルギヤ、駆動軸およびギヤを介して、前記モータ33
とは別のモータに連結されており、このモータにより正
逆回転駆動されるようになっている。
それぞれ後側から押圧して揺動させる複数の偏心カム6
6が固定されている。なお、図示していないが、前記両
回転軸65は、前記挿入機構26と全く同様にして、ベ
ベルギヤ、駆動軸およびギヤを介して、前記モータ33
とは別のモータに連結されており、このモータにより正
逆回転駆動されるようになっている。
つぎに、上記実施例の作用について説明する。
挿入機構26および抜去機構27がすべて初期状態にな
っているときに、供試品22が搭載された複数の基板2
1を試験室11内に複数段に並べて収納する。すなわち
、各基板21の左右両側縁部を左右の案内部17にそれ
ぞれ差し込む。なお、前記初期状態にあっては、各アー
ム体45.62は戻しの位置にある。すなわち、挿入機
構26のアーム体45は、前方に向いてストッパ511
に当接しており、抜去機構27のアーム体62は、左右
方向内方に向いている。
っているときに、供試品22が搭載された複数の基板2
1を試験室11内に複数段に並べて収納する。すなわち
、各基板21の左右両側縁部を左右の案内部17にそれ
ぞれ差し込む。なお、前記初期状態にあっては、各アー
ム体45.62は戻しの位置にある。すなわち、挿入機
構26のアーム体45は、前方に向いてストッパ511
に当接しており、抜去機構27のアーム体62は、左右
方向内方に向いている。
つぎに、挿入機構26のモータ33を駆動する。
このモータ33の出力軸34の回転は、ギヤ35. 3
2、駆動軸31およびベベルギヤ37.1gを介して回
転軸36に伝達され、これら回転軸36が互いに逆方向
でかつ挿入方向へ回転し、これら回転軸36と一体的に
各ベース体41も回転する。
2、駆動軸31およびベベルギヤ37.1gを介して回
転軸36に伝達され、これら回転軸36が互いに逆方向
でかつ挿入方向へ回転し、これら回転軸36と一体的に
各ベース体41も回転する。
最初、最上側のベース体41およびアーム体45のみで
、ボール53と受け孔52とが係合しているが、このよ
うにボール53と受け孔52とが係合している状態で、
ベース体41からアーム体4sに最大の力が加わり、こ
のアーム体45のローラ48が基板21に当接していて
も、ベース体41と一体的にアーム体45が回転する。
、ボール53と受け孔52とが係合しているが、このよ
うにボール53と受け孔52とが係合している状態で、
ベース体41からアーム体4sに最大の力が加わり、こ
のアーム体45のローラ48が基板21に当接していて
も、ベース体41と一体的にアーム体45が回転する。
したがって、最上側の左右のローラ48が最上側の基板
21の前縁の左右両側部に当接して、この基板21を後
方へ押し込む。これによって、この基板21がコネクタ
Isに接続される。
21の前縁の左右両側部に当接して、この基板21を後
方へ押し込む。これによって、この基板21がコネクタ
Isに接続される。
この基板21の押込みが完了すると、アーム体45に過
大荷重がかかるので、ボール53が受け孔52解除され
、その後は、アーム体45は回転せず、ベース体41の
みが回転する。
大荷重がかかるので、ボール53が受け孔52解除され
、その後は、アーム体45は回転せず、ベース体41の
みが回転する。
一方、下側のベース体41およびアーム体45において
は、最初ボール53が受け孔52に係合しておらず、そ
のため、少なくともローラ48が基板21に当接してい
るときには、当初、ベース体41のみが回転し、アーム
体45は回転しない。ところが1、両者の相対的な回転
に伴って、ボール53が受け孔52に臨む位置に達する
と、この受け孔52のほうへ付勢されたボールs3が受
け孔52に係合され、その後は、ベース体41と一体的
にアーム体45が回転し、このアーム体45が対応する
基板21を後方へ押し込む。
は、最初ボール53が受け孔52に係合しておらず、そ
のため、少なくともローラ48が基板21に当接してい
るときには、当初、ベース体41のみが回転し、アーム
体45は回転しない。ところが1、両者の相対的な回転
に伴って、ボール53が受け孔52に臨む位置に達する
と、この受け孔52のほうへ付勢されたボールs3が受
け孔52に係合され、その後は、ベース体41と一体的
にアーム体45が回転し、このアーム体45が対応する
基板21を後方へ押し込む。
こうして、上下の各ベース体41でボール53の位置が
たとえば20’ずつずれていることにより、各ベース体
41およびアーム体4Sでボールs3が受け孔52に係
合される時間がずれ、その結果、たとえば上下6段の基
板21は、上から下へ時間差をもって順次押込まれてい
く。このように押込みを分散して行うことにより、モー
タ33などに大きな負荷がかからないとともに、1回の
押込みに要する力が小さくてすみ、大きな動力を必要と
しない。
たとえば20’ずつずれていることにより、各ベース体
41およびアーム体4Sでボールs3が受け孔52に係
合される時間がずれ、その結果、たとえば上下6段の基
板21は、上から下へ時間差をもって順次押込まれてい
く。このように押込みを分散して行うことにより、モー
タ33などに大きな負荷がかからないとともに、1回の
押込みに要する力が小さくてすみ、大きな動力を必要と
しない。
また、基板21の押込み時に、基板21あるいはコネク
タ1sなどの異常により、両者間に位置ずれがあって、
基板21が最後まで挿入されなかった場合のように、異
常な過大荷重がかかったときにも、ボール53が受け孔
52から外れ、アーム体45は回転せずに、ベース体4
1のみが回転することになる。
タ1sなどの異常により、両者間に位置ずれがあって、
基板21が最後まで挿入されなかった場合のように、異
常な過大荷重がかかったときにも、ボール53が受け孔
52から外れ、アーム体45は回転せずに、ベース体4
1のみが回転することになる。
したがって、これら両者間で働く力が弱くなるので、無
理な力がかかることがなく、モータ33などに過大な負
荷がかかることがないとともに、破損をきたすことがな
い。
理な力がかかることがなく、モータ33などに過大な負
荷がかかることがないとともに、破損をきたすことがな
い。
なお、第3図は、上側2段のアーム体4sが横に向き、
他のアーム体45が前方に向いた状態を示している。
他のアーム体45が前方に向いた状態を示している。
全部の基板21の挿入が終わったら、モータ33を逆転
させ、挿入機構2Gを初期状態に戻す。
させ、挿入機構2Gを初期状態に戻す。
その後、断熱扉14を閉じる。
そして、試験室ll内で、供試品22のスクリーニング
、エージングあるいは信頼性の試験が行われる。
、エージングあるいは信頼性の試験が行われる。
この試験が終了したら、もう1つのモータにより、抜去
機構27の両回転軸65を回転させる。そうすると、こ
れら回転軸6sとともに回転する偏心カムも6により、
抜去機構2フの左右のアーム体も2が互いに反対方向で
かつ前方へ回転し、これらアーム体62のローラ63が
基板21の後縁の左右両側部に当接して、これら基板2
1を同時に前方へ押出す。
機構27の両回転軸65を回転させる。そうすると、こ
れら回転軸6sとともに回転する偏心カムも6により、
抜去機構2フの左右のアーム体も2が互いに反対方向で
かつ前方へ回転し、これらアーム体62のローラ63が
基板21の後縁の左右両側部に当接して、これら基板2
1を同時に前方へ押出す。
これによって、基板21がコネクタ■5から外れる。
基板21がコネクタISから外れたならば、モータを逆
転させて、抜去機構27を初期状態に戻す。
転させて、抜去機構27を初期状態に戻す。
さらに、断熱扉14を開けて、試験室li内の案内部1
1から基板21を抜き取る。
1から基板21を抜き取る。
なお、上記実施例では、上下のベース体41でボールs
3の位置を20°ずつずらしたが、ずらす角度は、基板
21の数に応じて、30°あるいは40°などにしても
よい、たとえば30°にすれば、ポールs3間間隔が1
20°である場合、4位置がとれる。
3の位置を20°ずつずらしたが、ずらす角度は、基板
21の数に応じて、30°あるいは40°などにしても
よい、たとえば30°にすれば、ポールs3間間隔が1
20°である場合、4位置がとれる。
また、上記実施例では、円周を3等分する位置にボール
53および受け孔52を設けたが、ボールs3および受
け孔52の配置は、それに限るものではない。
53および受け孔52を設けたが、ボールs3および受
け孔52の配置は、それに限るものではない。
また、各ベース体41のボール53の位置は、上記実施
例のように上から下へ順次ずらす必要はなく、全体とし
て互いにずれていればよい。
例のように上から下へ順次ずらす必要はなく、全体とし
て互いにずれていればよい。
さらに、複数の基板21を複数群に分け、1つの群に対
応するベース体41ではボール53の位置を同一位相と
し、各群間でベース体41におけるボール53の位置を
互いに偏位させてもよい。たとえば、1つの群の基板2
1を4枚とし、この群を6つ設ければ、全部で24枚の
基板21を挿入することができる。
応するベース体41ではボール53の位置を同一位相と
し、各群間でベース体41におけるボール53の位置を
互いに偏位させてもよい。たとえば、1つの群の基板2
1を4枚とし、この群を6つ設ければ、全部で24枚の
基板21を挿入することができる。
また、上記実施例では、ベース体41に−ボール53を
設け、アーム体45に受け孔52を設けたが、逆に、ベ
ース体に受け孔を設け、アーム体にボールを設けてもよ
い。
設け、アーム体45に受け孔52を設けたが、逆に、ベ
ース体に受け孔を設け、アーム体にボールを設けてもよ
い。
また、上記実施例では、係合子をボール53としたが、
係合子は、受け孔52への係合部が球面をなすほぼ半球
状のものなどにしてもよい。
係合子は、受け孔52への係合部が球面をなすほぼ半球
状のものなどにしてもよい。
[発明の効果]
本発明によれば、各基板を挿入してコネクタに接続させ
る挿入機構を、モータなどの駆動源により駆動される回
転軸と、この回転軸に各基板にそれぞれ対応して固定さ
れた複数のベース体と、これらベース体にそれぞれ重ね
られて回転軸にそれぞれ回動自在に支持され各基板をそ
れぞれ押込む複数のアーム体とにより構成し、対をなす
各ベース体および各アーム体の一方にほぼ球面状の係合
部を有する係合子を他方へ向けて付勢して設けるととも
に、他方に係合子の係合部が係脱自在に係合される受け
孔を設け、ベース体に設けられた係合子または受け孔の
回転軸の回転方向における位置を各基板に対応する各ベ
ース体で互いに偏位させたので、ベース体およびアーム
体の係合子と受け孔とが係合されて各アーム体が各基板
を押し込む時間が互いにずれることにより、駆動源など
にかかる負荷を軽減させることができるとともに、小さ
な動力で、駆動することができ、また、たとえば基板と
コネクタとに位置ずれがあっても、これを原因とする過
大荷重がかかると、係合子が受け孔から外れて、ベース
体とアーム体との結合が解除されることにより、無璃な
力が加わることを防止でき、破損を防止することができ
る。
る挿入機構を、モータなどの駆動源により駆動される回
転軸と、この回転軸に各基板にそれぞれ対応して固定さ
れた複数のベース体と、これらベース体にそれぞれ重ね
られて回転軸にそれぞれ回動自在に支持され各基板をそ
れぞれ押込む複数のアーム体とにより構成し、対をなす
各ベース体および各アーム体の一方にほぼ球面状の係合
部を有する係合子を他方へ向けて付勢して設けるととも
に、他方に係合子の係合部が係脱自在に係合される受け
孔を設け、ベース体に設けられた係合子または受け孔の
回転軸の回転方向における位置を各基板に対応する各ベ
ース体で互いに偏位させたので、ベース体およびアーム
体の係合子と受け孔とが係合されて各アーム体が各基板
を押し込む時間が互いにずれることにより、駆動源など
にかかる負荷を軽減させることができるとともに、小さ
な動力で、駆動することができ、また、たとえば基板と
コネクタとに位置ずれがあっても、これを原因とする過
大荷重がかかると、係合子が受け孔から外れて、ベース
体とアーム体との結合が解除されることにより、無璃な
力が加わることを防止でき、破損を防止することができ
る。
第1図(1)は本発明のバーイン装置の一実施例を示す
ベース体およびアーム体の平面図、第1図(b)は同上
ベース体およびアーム体の断面図、第1図(c)は同上
ベース体およびアーム体の底面図、第2図は同上全体の
水平断面図、第3図は同上全体の一部を切欠いた正面図
である。 11・・試験室、15・・コネクタ、21・・基板、2
2・・供試品、26・・挿入機構、33拳・駆動源とし
てのモータ、36・・回転軸、41・・ベース体、45
・・アーム体、52・舎受け孔、53・・係合子として
のボール。 、冬ユ1−
ベース体およびアーム体の平面図、第1図(b)は同上
ベース体およびアーム体の断面図、第1図(c)は同上
ベース体およびアーム体の底面図、第2図は同上全体の
水平断面図、第3図は同上全体の一部を切欠いた正面図
である。 11・・試験室、15・・コネクタ、21・・基板、2
2・・供試品、26・・挿入機構、33拳・駆動源とし
てのモータ、36・・回転軸、41・・ベース体、45
・・アーム体、52・舎受け孔、53・・係合子として
のボール。 、冬ユ1−
Claims (1)
- (1)供試品が搭載された基板が複数段に並べて挿脱自
在に収納される試験室と、この試験室内に配設され前記
基板が着脱自在に接続されるコネクタと、前記各基板を
前記試験室内の奥部へ向けて挿入して前記コネクタに接
続させる挿入機構とを備え、 この挿入機構は、前記複数の基板の配列方向に延び駆動
源により正逆回転駆動される回転軸と、この回転軸に前
記各基板にそれぞれ対応して固定された複数のベース体
と、これらベース体にそれぞれ重ねられて前記回転軸に
それぞれ回動自在に支持され前記各基板をそれぞれ挿入
方向へ押込む複数のアーム体とを有し、 前記各ベース体およびこのベース体と対をなす前記各ア
ーム体の対向部の一方にほぼ球面状の係合部を有する係
合子を可動にかつ他方へ向けて付勢して設けるとともに
、他方に前記係合子の係合部が係脱自在に係合される受
け孔を設け、前記ベース体に設けられた前記係合子また
は受け孔の前記回転軸の回転方向における位置は、前記
各基板にそれぞれ対応する各ベース体で互いに偏位させ
た ことを特徴とするバーイン装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7435189A JPH0682145B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | バーイン装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7435189A JPH0682145B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | バーイン装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02251778A true JPH02251778A (ja) | 1990-10-09 |
| JPH0682145B2 JPH0682145B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=13544619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7435189A Expired - Fee Related JPH0682145B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | バーイン装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0682145B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08338014A (ja) * | 1995-06-12 | 1996-12-24 | Maeda Seikan Kk | 耐酸性砂防ダムの構築方法及び基盤ブロック |
| JP4563552B2 (ja) * | 2000-05-26 | 2010-10-13 | 富士通テン株式会社 | 基板の検査装置 |
-
1989
- 1989-03-27 JP JP7435189A patent/JPH0682145B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0682145B2 (ja) | 1994-10-19 |
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