JPH02252043A - 外部転送回路検証方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、特に外部装置に対してデータ転送を行う外部
転送回路検証方式に関する。

〔従来の技術〕

従来、コンピュータグラフィックスは、日経ＣＧ　（１
９８８，６）ｒ共生・補完の時代を抑えるスーパーコン
ピュータとＣＧＪに記載されるように、高速チャネルを
介してデータの送出を行っていた。チャネルには、グラ
フィックスのデイスプレィをするモニタの他に、ディス
ク装置など記憶媒体の接続が可能であるため、データ送
出部分（チャネル）のテストは、−度記憶媒体にデータ
を送出し、再びそのデータを読込んでデータに誤りがな
いかをテストするという方法で行っている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術では、データの転送はチャネルを介して行
われており、ディスク装置などの接続も可能である。し
かし１本発明で対象としている外部転送回路とは、前述
のチャネルとは異なり、記憶装置内のデータを直接外部
装置に転送するための回路で、転送能力は大きく、ディ
スク装置等の記憶媒体の接続が困難である。

ここで述べる外部装置は、モニタのようなもので、デー
タは画像データになり、データの正誤はモニタの画像を
目視によってチエツクするにとどまる。目視によるチエ
ツクには、自ずと限界があり、検証の正確さに欠け、長
時間のテストも困難である。

本発明の目的は、このような外部転送回路のテストを定
量的に行い、かつ、長時間のテストを可能にする外部転
送回路検証方式を提供することにある。

また、他の目的は、該テストによって外部転送回路の故
障が発見された場合、故障の原因追求に必要な情報を保
持できるようにすることである。

さらに、他の目的は複数種類のテストを可能にすること
である。

【課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、外部転送回路内に期待値生
成回路と比較回路を設け、記憶装置内には予め期待値生
成回路で生成されるデータパターンを格納しておき、該
データを外部転送回路を介して外部装置に送出し、期待
値生成回路で生成される期待値と比較回路で比較し、不
一致の場合をエラーとして検出する。

また、エラーが検出された場合、エラーになったデータ
、該データに対する期待値、エラーになったデータが格
納されていたバッファのアドレスなどを保持できる。

さらに、期待値生成回路では複数種類の期待値を生成す
ることができ、複数のデータパターンのテストを実施し
、外部転送回路の信頼性を高められる。

〔作　用〕

外部転：ｊｔＦｒｊＲ路は、記憶装置から読出したデー
タを外部装置に対して非常に高速に転送する１期待値生
成回路は、該外部転送データの送出に合わせて期待値を
生成し、比較回路で外部転送データと期待値の比較が行
われる。従って、外部装置の検証は極めて正確に行われ
る。また、すべてハードウェア、ソフトウェアで行い１
人間の目視チエツクを伴うことがないので、数時間に及
ぶ長時間テストも可能である。

また、故障発生時のエラーデータ、期待値、エラーデー
タが格納されていたバッファアドレスを知ることができ
るので、故障の原因追求を容易にできる。

さらに１期待値を複数種類生成でき、該テストによる外
部転送回路の信頼性を向上できる。

【実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面により詳細に説明する。

説明にあたり、まず外部転送動作について説明し、次に
本発明の外部転送回路の検証方法について説明する。

外部転送ｔＬ外部転送命令の実行によって行われる。外
部転送命令とは、記憶装置２に連続して格納されている
データをある一定のピッチで外部装Ｍ４に対して転送す
る命令で、データが格納されている記憶装置！２の先頭
アドレス、および、転送するデータの量を指定する０本
実施例では、外部装置４に対して送出されるデータは４
バイトずつとする。

第１Ｉｌ！ａは、外部転送動作を行うシステムの全体を
表す構成図である。外部転送命令は、命令処理袋［１で
解読され、データを記憶装置２から読出し、外部転送回
路３で一部バッファリングされ、一定のピッチで外部装
置４に転送する。

第３図は、記憶装置２の一部について示したものである
。第４図は外部転送回路３、第５図は外部転送制御部３
０を示したものである。

命令処理装置１１で外部転送命令を解読すると、記憶装
置２に対して、外部転送指令を送出して外部転送動作を
起動する。記憶装置２では、外部転送指令によって、外
部転送コマンドレジスタ２００を′１′にして、外部転
送開始記憶アドレス、転送量を各々、記憶読出しアドレ
スレジスタ２０１．残転送量２０２にセットする。また
、外部転送回路３に対し、外部転送開始信号を送出して
、外部転送制御部３０のバッファ書込みアドレスレジス
タ３００、バッファ読出しアドレスレジスタ３０１のイ
ニシャライズを行う。

記憶装置２では、外部転送コマンドレジスタ２００が１
′になると１サイクルピツチで外部転送回路３に対して
外部転送指示を送出するとともに、記憶読出しアドレス
レジスタ２０１が示すアドレスのデータを記憶データ部
２２０から読み出し、バッファ書き込みデータとして外
部転送回路３に送出し、記憶読出しアドレスレジスタ２
０１の内容を加算器２１１で＋３２．列転送量レジスタ
２０２の内容を減算器２１２で−３２する。ここで、１
サイクルに送出するバッファ書込みデータの幅を３２バ
イトとした。

外部転送回路３では、外部転送指示によって。

外部転送データバッファ３１に対して、バッファ書込み
指示、及び、バッファ書込みアドレスを送出し、外部転
送データバッファ３１のデータの書込みを行う６外部転
送データバッファ３１への書込みはアドレスＯ番地から
行われ、バッファ書込みデータ幅３２バイトずつ書込む
。また、バッファ書込みアドレスレジスタは加算器３１
０で＋３２する。

上記動作を繰り返し行い、バッファ読出し判定回路３２
１である一定量のデータが外部転送データバッファ３１
に格納されたことを検出するとバッファ読出し可能レジ
スタ３０３を１′にする。

また、外部転送データバッファ３１がＦ　ｕｌｌになる
と、データ量制御３２０で検出し、バッファＦｕＬＬ信
号を記憶装置２に対して送出し、外部転送指示の送出を
抑止する。

バッファ読出し可能レジスタ３０３が１′になるとバッ
ファ読出しピッチ制御３２２で生成されるピッチ信号に
よってバッファ読出し指示、バッファ読出し指示の送出
を行い、外部転送データバッファ３１からデータを４バ
イト読出し、外部転送データレジスタ３２にセットする
。また、バッファ読出しアドレス３０１の内容を加算器
３１１で＋４する。以下、上記動作を繰り返し、外部転
送データレジスタ３２にセットされた４バイトのデータ
を、順次、外部装置４に対して送出する。

外部装置４に対するデータ送出によって、外部転送デー
タバッファ３１に空きが生じたことをデータ量制御３２
０で検出するとバッファＦｕＬＬ信号の送出を止め、外
部転送データバッファ３１に対するデータ書込みを再開
する。ここで、外部転送データバッファ３１は、読出し
が終わったアドレスから書込まれるので、バッファ書込
みアドレスレジスタ３００．バッファ読出しアドレスレ
ジスタ３０１の内容は０′にラップアラウンドするよう
に制御する。

列転送量レジスタ２０２の内容が１０　ｊになったこと
を終了判定２３０で検出すると、命令処理装置１．外部
転送回路３に対し、外部転送終了信号を送出する。さら
に、外部転送終了信号を受けた外部転送回路３では、バ
ッファ読出し判定回路３２１で外一部装置４に対するデ
ータ送出の終了を判定し、バッファ読出し可能レジスタ
３０３の値を０′にリセットする。以上で、外部転送動
作を終了する。

次に、外部転送回路３の検証方法について説明する。

まず、該テストを行うために用意するハードウェア構成
について説明する。期待値生成回路３４は第７図に示す
カウンタａ３４１、カウンタｌ３４２．・・・・・・と
テストパターンレジスタ３４０によって構成される。カ
ウンタａ３４１、カウンタＪ３４２、・・・・・・は異
ったデータパターンを生成し、テストパターンレジスタ
３４０の値によっていずれかが選択されて期待値データ
レジスタ３３にセットする０期待値データレジスタも、
外部転送データと同じ４バイト幅とする。比較回路３５
は、外部転送データレジスタ３２の内容（外部転送デー
タ）と期待値データレジスタ３３の内容（期待値データ
）を比較して、一致している場合は０′、不一致の場合
は１′を出力する。エラーチエツクレジスタ３６は比較
回路３５の出力結果をエラーチエツク指示によってセッ
トする。最後に、テストモードレジスタ３０４は、テス
ト実施時のみ１１′にセットし、通常外部転送動作実行
時に′０′をセットする。

テスト実施時には、まずテストモードレジスタに′Ｉ′
をセットし、さらに、期待値のデータパターンを選択す
るためにテストパターンレジスタ３４０の値を設定する
。ここでは、カウンタａ３４１で期待値を生成するよう
に設定したものとする。

カウンタａ３４１で生成される期待値のパターンは確定
しているので、命令処理装置ｔｌで、同一パターンのデ
ータを生成し、記憶装置２に連続して格納しておく。

このような状態で外部転送動作を実行する。このときの
外部転送開始記憶アドレスと転送量は、カウンタａ３４
１で生成される期待値と同一パターンのデータを格納し
た。記憶データ部の先頭アドレス、格納したデータ量に
設定する。

外部転送動作の起動による外部転送開始信号でバッファ
書込みアドレスレジスタ３００、バッファ読出しアドレ
スレジスタ３０１のイニシャライズと、同時に、期待値
データレジスタ３３をイニシャライズする。

外部転送データバッファ３１にデータが書込まれ、バッ
ファ読出し可能レジスタ３０３の値が′１′になると、
外部転送データバッファ３１からのデータ読み出しを行
うとともに、期待値更新指示を送出し、カウンタａ３４
１の値を期待値データレジスタ３３にセットする。また
、外部転送データレジスタ３２にセットされた４バイト
データ、期待値データレジスタ３３にセットされた４バ
イトデータを比較回路３５で比較する。比較結果はエラ
ーチエツク指示によって、エラーチエツクレジスタ３６
に格納する。エラーチエツクレジスタ３６の値が′１′
になると外部転送制御部３０で。

バッファ読出し指示１期待値更新指示、エラーチエツク
指示の送出を抑止する。これによって、外部転送レジス
タ３２の値、期待値データレジスタ３３の値、バッファ
読出しアドレスレジスタ３０１の値、エラーチエツクレ
ジスタの値の更新は抑止される。すなわち、エラー発生
時の外部転送データ、期待値、外部転送データバッファ
３１のアドレスを知ることができる。

また、エラーチエツクレジスタ３６の値１１′によって
エラー報告を記憶袋［１２に送出する。記憶装置２では
、該エラー報告によって、外部転送コマンドレジスタ２
００をリセットし、命令処理装置１．外部転送回路３に
対して外部転送の終了を報告する。

実際のシステムでテストを行う場合には、テストモード
レジスタ３０４、テストパターンレジスタ３４０の設定
、期待値のデータパターンの記憶装置１２への格納、外
部転送命令の発行、命令実行後のエラー発生有無のチエ
ツク、および、エラー発生時の外部転送レジスタ３２の
値、期待値データレジスタ３３の値、バッファ読出しア
ドレスレジスタの値の読出しをテストプログラムによっ
て行う、該テストによって、外部装置１４がモニタなど
の場合でも定量的な検証を行うことができるだけでなく
、長時間テストが可能となり、さらに、外部転送回路３
の故障の原因追求を容易にすることができる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、外部装置にデータを送出してしまうた
めにテストしにくい外部転送回路の動作検証を、テスト
プログラムによって容易に且つ定量的に行うことができ
るという効果がある。また、容易に長時間のテスト（ヒ
ートランテスト）を行うことができ、さらに、エラー発
生の場合、アドレス、データ等の情報を知ることができ
、故障原因の追求を容易にすることができるという効果
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の全体構成図、第２図は従来
のチャネルを介するデータ転送をするシステムの構成図
、第３図は記憶装置の一部を示した回路図、第４図は外
部転送回路を示した回路図。 第５図は外部転送制御部の詳細を示した回路図、第６図
は期待値生成回路を示した回路図である。 １・・・命令処理装置、２・・・記憶装置、３・・・外
部転送回路、４・・・外部装置、５・・・高速チャネル
、６・・・ディスク装置、２００・・・外部転送コマン
ドレジスタ、２０１・・・記憶読出しアドレスレジスタ
、２０２・・・列伝送量レジスタ、２２０・・・記憶デ
ータ部、３０・・・外部転送制御部、３１・・・外部転
送データバッファ、３２・・・外部転送データレジスタ
、３３・・・期待値データレジスタ、３４・・・期待値
生成回路、３５・・・比較回路、３６・・・エラーチエ
ツクレジスタ、３００・・・バッファ書込みアドレスレ
ジスタ、３０１・・・バッファ読出しアドレスレジスタ
、３０２・・・外部転送指示レジスタ、３０３・・・バ
ッファ読出し可能レジスタ、３０４・・・テストモード
レジスタ、３４０・・・テストパターンレジスタ。 見 目 １．５ 第４目 晃５目

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、命令の解読および実行、命令の実行に伴うデータ転
   送および演算などを行う機能を有する命令処理装置と、
   該命令処理装置との間のデータ転送を行い、データの保
   持をする記憶装置と、該記憶装置に格納されたデータを
   外部装置に対して送出する機能を有する外部転送回路に
   おいて、前記外部装置に対して送出するデータと期待値
   とを比較する比較回路を設け、前記記憶装置に予め期待
   値データパターンを格納しておき、前記外部装置に対し
   て送出して、前記比較回路で期待値と比較し、不一致の
   場合をエラーとして検出することを特徴とする外部転送
   回路検証方式。 ２、請求項１記載の外部転送回路で、エラー検出によっ
   て、エラーになったデータと、該データに対する期待値
   を保持することを特徴とする外部転送回路検証方式。 ３、請求項１記載の外部転送回路で期待値生成回路を設
   けて複数種類の期待値が生成されることを特徴とする外
   部転送回路検証方式。