JPH02257236A - 故障診断方式 - Google Patents
故障診断方式Info
- Publication number
- JPH02257236A JPH02257236A JP1076579A JP7657989A JPH02257236A JP H02257236 A JPH02257236 A JP H02257236A JP 1076579 A JP1076579 A JP 1076579A JP 7657989 A JP7657989 A JP 7657989A JP H02257236 A JPH02257236 A JP H02257236A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mounting position
- fault
- information
- log
- suspected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔、産業上の利用分野〕
本発明は、故障診断方式に関し、特に情報処理システム
を構成する主記憶装置の故障診断をサービスプロセッサ
により行う故障診断方式に関する。
を構成する主記憶装置の故障診断をサービスプロセッサ
により行う故障診断方式に関する。
従来、この種の故障診断方式では、°情報処理システム
を構成する主記憶装置に書込み／読出しをする際に符号
化情報にチエツクピットを付したデータの書込み／読出
しを行い、読出し几データに対しシンドロームを生成し
、該シンドロームから誤り検出回路が誤シを検出したと
きに、前記データ音アクセスした主記憶装置のアドレス
上位バイト並びに前記シンドロームをエラーログとして
診断ユニットを経由して情報処理システム中のサービス
プロセ、すにより収集し磁気ディスク装置に書込むよう
にしていた。収集されたエラーログは必要に応じて磁気
ディスク装置から呼び出され。
を構成する主記憶装置に書込み／読出しをする際に符号
化情報にチエツクピットを付したデータの書込み／読出
しを行い、読出し几データに対しシンドロームを生成し
、該シンドロームから誤り検出回路が誤シを検出したと
きに、前記データ音アクセスした主記憶装置のアドレス
上位バイト並びに前記シンドロームをエラーログとして
診断ユニットを経由して情報処理システム中のサービス
プロセ、すにより収集し磁気ディスク装置に書込むよう
にしていた。収集されたエラーログは必要に応じて磁気
ディスク装置から呼び出され。
サービスプロセッサによって故障診断が行われる。
この故障診断は、収集し几エラーログを故障情報として
別途用意された故障診断辞書の内容に基づいて行なわれ
る。第７図はこの故障診断辞書の内容を示す図であって
、故障診断辞書５００は、エラーログと被疑故障部品情
報との対応テーブルとなっている。故障診断解析によっ
て得られた被疑故障部品情報が磁気ディスク装置等の被
疑故障部品情報ファイル内に格納され、必要に応じてエ
ラーログ毎に編集出力されるようになってい念。
別途用意された故障診断辞書の内容に基づいて行なわれ
る。第７図はこの故障診断辞書の内容を示す図であって
、故障診断辞書５００は、エラーログと被疑故障部品情
報との対応テーブルとなっている。故障診断解析によっ
て得られた被疑故障部品情報が磁気ディスク装置等の被
疑故障部品情報ファイル内に格納され、必要に応じてエ
ラーログ毎に編集出力されるようになってい念。
しかしながら、上述した従来の故障診断方式では、１つ
の故障情報に対する被疑故障部品情報は故障辞書内に一
意的に記述しておかなければならない。すなわち、同一
手順で指摘できるような。
の故障情報に対する被疑故障部品情報は故障辞書内に一
意的に記述しておかなければならない。すなわち、同一
手順で指摘できるような。
部品の構成が同一な部品群を複数含む装置においても１
部品群数分だけ殊んど同じ手順全記述しておく必要かめ
る。そのため、故障辞書のステップ数及び辞書サイズが
部品の構成が全て異なる部品群から成る装置と同程度と
なり、ステップ数および辞書サイズを大幅に減らすこと
ができないという欠点があった。
部品群数分だけ殊んど同じ手順全記述しておく必要かめ
る。そのため、故障辞書のステップ数及び辞書サイズが
部品の構成が全て異なる部品群から成る装置と同程度と
なり、ステップ数および辞書サイズを大幅に減らすこと
ができないという欠点があった。
本発明はこのような従来の欠点を改善したもので、その
目的は、複数の同一部品の組合せで構成されている装置
を故障診断する場合に、故障辞書のチエツク手段数およ
び辞書サイズを大幅に減らすことができて診断実行時間
を短縮させることの可能な故障診断方式を提供すること
にある。
目的は、複数の同一部品の組合せで構成されている装置
を故障診断する場合に、故障辞書のチエツク手段数およ
び辞書サイズを大幅に減らすことができて診断実行時間
を短縮させることの可能な故障診断方式を提供すること
にある。
本発明の故障診断方式は１部品の構成が同一なメモリ群
を複数含む主記憶装置に故障が発生し次ときに、エラー
ログとして故障情報を収集するログ収集手段と、故障情
報に対応する被疑故障部品の実装位置部分情報が格納さ
れている故障診断辞書と、前記ログ収集手段により収集
された前記エラーログを故障情報として前記故障診断辞
書を用いて同一被疑部品の複数の実装位置情報を求める
ログ分析手段と、前記ログ分析手段によって得られた被
疑故障部品の複数の実装位置部分情報をマージして被疑
故障部品の実装位置を求める被疑故障部品実装位置マー
ジ手段と、ログ分析手段及び被疑故障部品実装位置情報
マージ手段によって得られ九被疑故障部品の実装位置を
出力する出力手段とを有している。
を複数含む主記憶装置に故障が発生し次ときに、エラー
ログとして故障情報を収集するログ収集手段と、故障情
報に対応する被疑故障部品の実装位置部分情報が格納さ
れている故障診断辞書と、前記ログ収集手段により収集
された前記エラーログを故障情報として前記故障診断辞
書を用いて同一被疑部品の複数の実装位置情報を求める
ログ分析手段と、前記ログ分析手段によって得られた被
疑故障部品の複数の実装位置部分情報をマージして被疑
故障部品の実装位置を求める被疑故障部品実装位置マー
ジ手段と、ログ分析手段及び被疑故障部品実装位置情報
マージ手段によって得られ九被疑故障部品の実装位置を
出力する出力手段とを有している。
部品構成が同一なメモリ群を複数含む主記憶装置に故障
が発生し念ときにログ収集手段では故障情報をエラーロ
グとして収集する。ログ分析手段では、故障情報に対応
する被疑故障部品の実装位置部分情報が格納されている
故障診断辞書を用いて収集したエラーログに対応する同
一被疑部品の複数の実装位置情報を求める。被疑故障部
品実装位置マージ手段は、ログ分析手段によって得られ
た被疑故障部品の複数の実装位置部分情報をマージして
被疑故障部品の実装位置を求め、出力手段によってとれ
を出力する。
が発生し念ときにログ収集手段では故障情報をエラーロ
グとして収集する。ログ分析手段では、故障情報に対応
する被疑故障部品の実装位置部分情報が格納されている
故障診断辞書を用いて収集したエラーログに対応する同
一被疑部品の複数の実装位置情報を求める。被疑故障部
品実装位置マージ手段は、ログ分析手段によって得られ
た被疑故障部品の複数の実装位置部分情報をマージして
被疑故障部品の実装位置を求め、出力手段によってとれ
を出力する。
次に１本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の故障診断方式の一実施例の全体構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
本実施例では１例えばＣＰＵから送られてきた被符号化
情報１０がチエ、クビ、ト生成回路２０に入力すること
によってチエ、クビ、ト３ｏが生成され、被符号化情報
１０にチエツク手段数）３０を付加したデータ４０が主
記憶装置５ｏに書込みデータとして入力し、アドレスレ
ジスタ３００で示される該主記憶装置５０内のエリアに
書込みデータ４０が書込まれるようになっている。″１
友アドレスレジスタ３００で示される主記憶装置５０内
のエリアからは読出しデータ６０が読出され、シンドロ
ーム生成回路７０に加えられてシンドローム８０として
出力されるようになりている。
情報１０がチエ、クビ、ト生成回路２０に入力すること
によってチエ、クビ、ト３ｏが生成され、被符号化情報
１０にチエツク手段数）３０を付加したデータ４０が主
記憶装置５ｏに書込みデータとして入力し、アドレスレ
ジスタ３００で示される該主記憶装置５０内のエリアに
書込みデータ４０が書込まれるようになっている。″１
友アドレスレジスタ３００で示される主記憶装置５０内
のエリアからは読出しデータ６０が読出され、シンドロ
ーム生成回路７０に加えられてシンドローム８０として
出力されるようになりている。
シンドローム生成回路７０から出力され几シンドローム
５ＯＦｉ、誤り検出回路９に入力し、誤り検出回路９で
はシンドローム８０４Ｃ３ａリビ、トカ含まれているか
否かを判定し、誤りが発生していた場合に診断ノ９ス１
００を介してサービスグロセッサ１００に報告するよう
になりている。
５ＯＦｉ、誤り検出回路９に入力し、誤り検出回路９で
はシンドローム８０４Ｃ３ａリビ、トカ含まれているか
否かを判定し、誤りが発生していた場合に診断ノ９ス１
００を介してサービスグロセッサ１００に報告するよう
になりている。
サービスグロセ、す１１０け、ログ収集手段１１１と、
ログ分析手段１１２と、実装位置情報マージ手段１１３
と、出力手段１１４とを有しており、ディスク１２０．
プリンタ１３０．操作卓１４０と接続されている。ディ
スク１２０中には。
ログ分析手段１１２と、実装位置情報マージ手段１１３
と、出力手段１１４とを有しており、ディスク１２０．
プリンタ１３０．操作卓１４０と接続されている。ディ
スク１２０中には。
故障診断辞書１２２が格納されており、またサービスプ
ロセッサ１１０によりエラーログ１２１及び診断結果１
２３が格納される。
ロセッサ１１０によりエラーログ１２１及び診断結果１
２３が格納される。
第２図は第１図の主記憶装置５０内のツ階層図であり、
主記憶装置５０内の霜の一部２００とアドレスレジスタ
３００．データ４０との関係が示されている。第２図に
おいて、主記憶装置５０内の謂の一部２００には、部品
の構成が同じである部品群２１０．２２０．・・・、２
ｎＯが実装されており１部品群２１０には、メモリチッ
プ２１１〜２１ｒｆｌが１部品群２２１０にはメモリチ
ｙ ｆ ２ｎｌ 〜２ｎｍが実装されている。この主記
憶装置５０内の暦の一部２００へのデータ４０の書込み
は例えばアドレスレジスタ３００中の上位部分３１０に
よシ部品群２１１０ ’に、下位部分３２０により部品
群ＺｎＯ内のメモリチップのアドレスＸを与え、各部品
２ｎｌ〜２ｎｍにそれぞれ対応するピットを与えるとい
う形で行われる。
主記憶装置５０内の霜の一部２００とアドレスレジスタ
３００．データ４０との関係が示されている。第２図に
おいて、主記憶装置５０内の謂の一部２００には、部品
の構成が同じである部品群２１０．２２０．・・・、２
ｎＯが実装されており１部品群２１０には、メモリチッ
プ２１１〜２１ｒｆｌが１部品群２２１０にはメモリチ
ｙ ｆ ２ｎｌ 〜２ｎｍが実装されている。この主記
憶装置５０内の暦の一部２００へのデータ４０の書込み
は例えばアドレスレジスタ３００中の上位部分３１０に
よシ部品群２１１０ ’に、下位部分３２０により部品
群ＺｎＯ内のメモリチップのアドレスＸを与え、各部品
２ｎｌ〜２ｎｍにそれぞれ対応するピットを与えるとい
う形で行われる。
第３図は、第２図で示した主記憶装置５０内の脂の一部
２００内の各部品の実装位置を表している。各部品の実
装位置は、Ａ、Ｂ、・・・、Ｘで示される縦方向ロケー
ションと、００１〜ｘｘｘで示される横方向ロケーショ
ンの組合せ九よシ表される。
２００内の各部品の実装位置を表している。各部品の実
装位置は、Ａ、Ｂ、・・・、Ｘで示される縦方向ロケー
ションと、００１〜ｘｘｘで示される横方向ロケーショ
ンの組合せ九よシ表される。
第４図は、第２図及び第３図に対応した故障診断辞書を
示す、故障診断辞書４００は、エラー四グに対応した実
装位置部分情報を示している。
示す、故障診断辞書４００は、エラー四グに対応した実
装位置部分情報を示している。
次にこのようにして構成され九本実施例の故障診断方式
の動作について説明する。
の動作について説明する。
情報処理システムの運用中に、サービスプロセッサ１１
０が誤り検出回路９０よシ誤り発生の報告をうけた際に
は、ログ収集手段１１１が起動され、アドレスレジスタ
３００及びシンドローム生成回路７０よシェラ−ログと
して、アドレス上位部分ＲＯＩ及びシンドローム部分Ｒ
Ｏ２が収集され。
０が誤り検出回路９０よシ誤り発生の報告をうけた際に
は、ログ収集手段１１１が起動され、アドレスレジスタ
３００及びシンドローム生成回路７０よシェラ−ログと
して、アドレス上位部分ＲＯＩ及びシンドローム部分Ｒ
Ｏ２が収集され。
ディスク１２０中に例えば第５図に示すようにエラーロ
グ１２１として格納される０次にログ分析手段１１２が
ディスク１２０よりエラーログ１２１と故障診断辞書１
２２ｔ−読み出し、アドレス上位部分ＲＯＩ及びシンド
ローム部分ＲＯＺより１例えば第６図（ａ） 、 （ｂ
）に示すように実装位置部分情報ＬＯＩ及びＬＯ２ｇ診
断結果として求めディスク１２０に書込む１次に実装位
置情報マージ手段１１３が起動され、ログ分析手段１１
２によって得られ、ディスク１２０に書込まれ友実装位
置部分情報Ｌ０１゜ＬＯＺをマージして第６図（ｅ）に
示すような実装位置情報Ｌ０３ ｔ−求め、これをディ
スク１２０に診断結果として書込む。次に出力手段１１
４が起動され。
グ１２１として格納される０次にログ分析手段１１２が
ディスク１２０よりエラーログ１２１と故障診断辞書１
２２ｔ−読み出し、アドレス上位部分ＲＯＩ及びシンド
ローム部分ＲＯＺより１例えば第６図（ａ） 、 （ｂ
）に示すように実装位置部分情報ＬＯＩ及びＬＯ２ｇ診
断結果として求めディスク１２０に書込む１次に実装位
置情報マージ手段１１３が起動され、ログ分析手段１１
２によって得られ、ディスク１２０に書込まれ友実装位
置部分情報Ｌ０１゜ＬＯＺをマージして第６図（ｅ）に
示すような実装位置情報Ｌ０３ ｔ−求め、これをディ
スク１２０に診断結果として書込む。次に出力手段１１
４が起動され。
実装位置情報マージ手段１１３により求められディスク
１２０に書込まれた実装位置情報ＬＯａをプリンタ１３
０′！たけ操作卓１４０に出力する。
１２０に書込まれた実装位置情報ＬＯａをプリンタ１３
０′！たけ操作卓１４０に出力する。
以上説明したように本発明の故障診断方式では。
複数の同一部品の組合せで構成されている装置の場合に
実装位置情報を部分的に求めて後からマージするように
しているので、故障辞書のチエツク手段数を大幅に減ら
すことができて１診断実行時間を短縮することができる
という効果がある。
実装位置情報を部分的に求めて後からマージするように
しているので、故障辞書のチエツク手段数を大幅に減ら
すことができて１診断実行時間を短縮することができる
という効果がある。
第１図は本発明の故障診断方式の一実施例の全体構成を
示すブロック図、第２図は主記憶装置内の廣階層を示す
図、第３図は第２図に対応した部品の実装位置の一例を
示す図、第４図は第２図。 第３図に対応する故障診断辞書例を示す図、第５図は第
２図に対応するエラーログの一例を示ｉ図、第６図（＆
） −（ｂ） 、 （ｅｒＦｉログ分析後の診断結果の
一例を示す図、第７図は従来の故障診断辞書の一例を示
す図である。 図において。 ｉｏ・・・被符号化情報、２０・・・チエ、クビ、ト生
成回路、３０・・・チエツクピット、４０・・・書込み
データ、５０・・・主記憶装置、６０・・・読出しデー
タ、７０・・・シンドローム化ＪｆｌｌｌＫ、 ８０・
・・シンドローム、９０・・・誤り検出回路、１００・
・・診断パス、１１０・・・サービスプロセッサ、１２
０・・・ディスク。 １３０・・・プリンタ、１４０・・・操作卓、２００・
・・謂の一部２００内ビ 故障診断辞書、ＲＯＩ 、 ＲＯ２・・・エラーログ、
ＬＯＩ。 １．０２ 、 ＬＯ３・・・診断結果。 第 図 第 図
示すブロック図、第２図は主記憶装置内の廣階層を示す
図、第３図は第２図に対応した部品の実装位置の一例を
示す図、第４図は第２図。 第３図に対応する故障診断辞書例を示す図、第５図は第
２図に対応するエラーログの一例を示ｉ図、第６図（＆
） −（ｂ） 、 （ｅｒＦｉログ分析後の診断結果の
一例を示す図、第７図は従来の故障診断辞書の一例を示
す図である。 図において。 ｉｏ・・・被符号化情報、２０・・・チエ、クビ、ト生
成回路、３０・・・チエツクピット、４０・・・書込み
データ、５０・・・主記憶装置、６０・・・読出しデー
タ、７０・・・シンドローム化ＪｆｌｌｌＫ、 ８０・
・・シンドローム、９０・・・誤り検出回路、１００・
・・診断パス、１１０・・・サービスプロセッサ、１２
０・・・ディスク。 １３０・・・プリンタ、１４０・・・操作卓、２００・
・・謂の一部２００内ビ 故障診断辞書、ＲＯＩ 、 ＲＯ２・・・エラーログ、
ＬＯＩ。 １．０２ 、 ＬＯ３・・・診断結果。 第 図 第 図
Claims (1)
- 部品の構成が同一なメモリ群を複数含む主記憶装置に故
障が発生したときに、エラーログとして故障情報を収集
するログ収集手段と、故障情報に対応する被疑故障部品
の実装位置部分情報が格納されている故障診断辞書と、
前記ログ収集手段により収集された前記エラーログに基
づき前記故障診断辞書を用いて同一被疑部品の複数の実
装位置情報を求めるログ分析手段と、前記ログ分析手段
によって得られた被疑故障部品の複数の実装位置部分情
報をマージして被疑故障部品の実装位置を求める被疑故
障部品実装位置マージ手段と、ログ分析手段及び被疑故
障部品実装位置情報マージ手段によって得られた被疑故
障部品の特定された実装位置を出力する出力手段とを有
することを特徴とする故障診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1076579A JPH02257236A (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | 故障診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1076579A JPH02257236A (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | 故障診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02257236A true JPH02257236A (ja) | 1990-10-18 |
Family
ID=13609181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1076579A Pending JPH02257236A (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | 故障診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02257236A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0520116A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-01-29 | Fujitsu Ltd | 情報処理装置 |
-
1989
- 1989-03-30 JP JP1076579A patent/JPH02257236A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0520116A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-01-29 | Fujitsu Ltd | 情報処理装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5422890A (en) | Method for dynamically measuring computer disk error rates | |
| US5410545A (en) | Long-term storage of controller performance | |
| US4964129A (en) | Memory controller with error logging | |
| US3735105A (en) | Error correcting system and method for monolithic memories | |
| KR920003286A (ko) | 대용량 기억지능 디스크 드라이브 어레이 서브 시스템에 있어서의 배경 디스크 드라이브 섹터 분석을 실행하는 방법 | |
| JPS607549A (ja) | 故障診断装置 | |
| JPH01137349A (ja) | 記憶アドレス変換システム | |
| US6836438B2 (en) | Method and apparatus for dynamically hiding a defect in an embedded memory | |
| JPS58105500A (ja) | メモリ駆動回路故障検出システム及び方法 | |
| CN114267402B (zh) | 闪存的坏存储单元测试方法、装置、设备及存储介质 | |
| JPH02257236A (ja) | 故障診断方式 | |
| JP2002536777A (ja) | 集積半導体メモリのメモリセルの機能検査方法 | |
| EP0366757A1 (en) | MEMORY SELF-TEST METHOD AND APPARATUS. | |
| KR100269168B1 (ko) | 하드 디스크 드라이브의 서보 시스템에서의 디펙트 처리방법 | |
| JPH07105102A (ja) | メモリ制御装置 | |
| KR20210088916A (ko) | 이전에 발생한 에러 분석을 통해 에러대응동작을 선택하기 위한 메모리 시스템 및 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템 | |
| JPS59207496A (ja) | 半導体メモリ不良ビット救済解析装置 | |
| JPH04341998A (ja) | メモリ回路 | |
| JPS60200352A (ja) | メモリ装置診断方式 | |
| JP2614110B2 (ja) | 磁気ディスク欠陥検査方式 | |
| JPH02181837A (ja) | サービスプロセッサ | |
| JPH06110721A (ja) | メモリ制御装置 | |
| JPS6223336B2 (ja) | ||
| JPH0241119B2 (ja) | ||
| JP3071846B2 (ja) | パリティーエラー検出方法及びパリティーエラー検出回路 |