JPH0226048Y2 - - Google Patents
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- JPH0226048Y2 JPH0226048Y2 JP6456884U JP6456884U JPH0226048Y2 JP H0226048 Y2 JPH0226048 Y2 JP H0226048Y2 JP 6456884 U JP6456884 U JP 6456884U JP 6456884 U JP6456884 U JP 6456884U JP H0226048 Y2 JPH0226048 Y2 JP H0226048Y2
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- chamber
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- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 28
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 10
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は、ICパツケージ等の被試験体のリー
ク量を検出するのに用いられるリークテスト装置
に関するものである。
ク量を検出するのに用いられるリークテスト装置
に関するものである。
(ロ) 従来技術
この種のリークテスト装置としては、プローブ
ガス(リークガス)を封入した被試験体を収容す
る密閉可能なチヤンバと、始端をこのチヤンバに
接続させて設けられ該チヤンバ内を排気する排気
系路と、この排気系路の終端側に介設され該排気
系路を介して前記チヤンバ内のガスを吸引する真
空ポンプと、前記排気系路を通して排気されるプ
ローブガスを検知する分析計とを具備してなるも
のがある。このようなものにあつては、チヤンバ
の蓋を開いて被試験体を該チヤンバ内に収容し、
蓋を閉じて該チヤンバ内を密封し、真空ポンプを
駆動させて排気系路からガスを排気する。このと
き、もし被試験体からプローブガスが漏洩してい
ると、該プローブガスも排気系路から排気される
ため、それを分析計により検知して、被試験体に
欠損等が存する旨を知り得るようになつている。
ガス(リークガス)を封入した被試験体を収容す
る密閉可能なチヤンバと、始端をこのチヤンバに
接続させて設けられ該チヤンバ内を排気する排気
系路と、この排気系路の終端側に介設され該排気
系路を介して前記チヤンバ内のガスを吸引する真
空ポンプと、前記排気系路を通して排気されるプ
ローブガスを検知する分析計とを具備してなるも
のがある。このようなものにあつては、チヤンバ
の蓋を開いて被試験体を該チヤンバ内に収容し、
蓋を閉じて該チヤンバ内を密封し、真空ポンプを
駆動させて排気系路からガスを排気する。このと
き、もし被試験体からプローブガスが漏洩してい
ると、該プローブガスも排気系路から排気される
ため、それを分析計により検知して、被試験体に
欠損等が存する旨を知り得るようになつている。
ところで、このようなリークテスト装置におい
ては、次のような問題がある。すなわち、前記被
試験体から前記チヤンバ内において塵芥(セラミ
ツクの粉、メツキのはがれたもの等)が発生し、
かかる塵芥が該チヤンバのシール部等に付着し該
シール部よりガス漏れが発生する等という問題で
ある。このような問題を解消するために、従来、
シール部等をガーゼ等で拭くということが行なわ
れている。しかし、このようなものには、シール
部の窪んだ部分等の清掃を十分に行なうことが困
難であり塵芥の除去を不十分にしか行なえないと
いう不都合がある。また、従来、電気掃除器によ
り前記チヤンバ内を清掃することも行なわれてお
り、このようにすれば塵芥の除去は確実に行なう
ことができる。しかし、電気掃除器を格別に設置
しておくということは、それだけ構成要素が多く
なりコストも高くつくという不都合がある。
ては、次のような問題がある。すなわち、前記被
試験体から前記チヤンバ内において塵芥(セラミ
ツクの粉、メツキのはがれたもの等)が発生し、
かかる塵芥が該チヤンバのシール部等に付着し該
シール部よりガス漏れが発生する等という問題で
ある。このような問題を解消するために、従来、
シール部等をガーゼ等で拭くということが行なわ
れている。しかし、このようなものには、シール
部の窪んだ部分等の清掃を十分に行なうことが困
難であり塵芥の除去を不十分にしか行なえないと
いう不都合がある。また、従来、電気掃除器によ
り前記チヤンバ内を清掃することも行なわれてお
り、このようにすれば塵芥の除去は確実に行なう
ことができる。しかし、電気掃除器を格別に設置
しておくということは、それだけ構成要素が多く
なりコストも高くつくという不都合がある。
(ハ) 目的
本考案の考案者は、このような事情およびチヤ
ンバ清掃時には排気用真空ポンプを使用していな
いことに着目し、チヤンバの排気に使用されてい
る真空ポンプをチヤンバ内の清掃に利用できれば
清掃用にポンプを格別に設ける必要がなくなり、
構成要素を少なくしかつコストを安くすることが
できるのではないかと思い至り、本考案をなした
ものである。すなわち、本考案は、チヤンバ内の
塵芥の除去を十分に行なうことができ、しかも、
格別にポンプを設ける必要がなくそれだけ構成要
素を少なくできかつコストを安くすることができ
るリークテスト装置を提供することを目的とす
る。
ンバ清掃時には排気用真空ポンプを使用していな
いことに着目し、チヤンバの排気に使用されてい
る真空ポンプをチヤンバ内の清掃に利用できれば
清掃用にポンプを格別に設ける必要がなくなり、
構成要素を少なくしかつコストを安くすることが
できるのではないかと思い至り、本考案をなした
ものである。すなわち、本考案は、チヤンバ内の
塵芥の除去を十分に行なうことができ、しかも、
格別にポンプを設ける必要がなくそれだけ構成要
素を少なくできかつコストを安くすることができ
るリークテスト装置を提供することを目的とす
る。
(ニ) 構成
本考案は、かかる目的を達成するために、前記
従来のリークテスト装置において、いずれかの排
気系路から分枝し先端に前記チヤンバ内の塵芥を
吸込む吸込口を有する清掃用系路を設けるととも
に、前記いずれかの排気系路と清掃用系路とを択
一的に開成させる系路切換手段を設けたことを特
徴とする。
従来のリークテスト装置において、いずれかの排
気系路から分枝し先端に前記チヤンバ内の塵芥を
吸込む吸込口を有する清掃用系路を設けるととも
に、前記いずれかの排気系路と清掃用系路とを択
一的に開成させる系路切換手段を設けたことを特
徴とする。
(ホ) 実施例
以下、本考案の一実施例を図面を参照して説明
する。
する。
プローブガスを封入した被試験体であるICパ
ツケージAを密封するチヤンバ1を設け、このチ
ヤンバ1の上端部1aに蓋2を開閉可能に蓋着さ
せている。そして、この蓋2とチヤンバ1とをシ
ール部3においてシールさせるようにしている。
また、このチヤンバ1の底部1bに初期排気系路
4および主排気系路5の始端を接続させている。
初期排気系路4は、始端を前記チヤンバ1内に開
口させた初期排気管路6と、この初期排気管路6
中に介挿したフイルタ7と電磁弁8とを有するも
のである。そして、この初期排気管路6の終端部
に排気用の油回転真空ポンプ9を介設している。
また、主排気系路5は、先端部を前記初期排気管
路6と共有する主排気管路11と、この主排気管
路11中に介挿した、前記初期排気系路4と共通
のフイルタ7と、電磁弁12と、コールドトラツ
プ13と、拡散ポンプ14と、電磁弁15とを有
するものである。そして、この主排気系路5の終
端部に油回転真空ポンプ16を介設している。ま
た、前記コールドトラツプ13にはプローブガス
を検出するためのガス検出手段たる質量分析計1
7を接続している。
ツケージAを密封するチヤンバ1を設け、このチ
ヤンバ1の上端部1aに蓋2を開閉可能に蓋着さ
せている。そして、この蓋2とチヤンバ1とをシ
ール部3においてシールさせるようにしている。
また、このチヤンバ1の底部1bに初期排気系路
4および主排気系路5の始端を接続させている。
初期排気系路4は、始端を前記チヤンバ1内に開
口させた初期排気管路6と、この初期排気管路6
中に介挿したフイルタ7と電磁弁8とを有するも
のである。そして、この初期排気管路6の終端部
に排気用の油回転真空ポンプ9を介設している。
また、主排気系路5は、先端部を前記初期排気管
路6と共有する主排気管路11と、この主排気管
路11中に介挿した、前記初期排気系路4と共通
のフイルタ7と、電磁弁12と、コールドトラツ
プ13と、拡散ポンプ14と、電磁弁15とを有
するものである。そして、この主排気系路5の終
端部に油回転真空ポンプ16を介設している。ま
た、前記コールドトラツプ13にはプローブガス
を検出するためのガス検出手段たる質量分析計1
7を接続している。
このようなリークテスト装置において、清掃用
系路18と系路切換手段19とを設けている。清
掃用系路18は、初期排気系路4の油回転真空ポ
ンプ9よりも前段側の部位から分枝させてなるも
ので、先端に吸込口21を有し基端を前記初期排
気系路4に接続した清掃用管路22と、この清掃
用管路22中に介挿したフイルタ23と電磁弁2
4とを有してなる。そして、前記清掃用管路22
の先端部分は、その吸込口21を前記チヤンバの
蓋2部分にまで自在に延出させ得るように可撓変
形可能な構造にしてある。また、系路切換手段1
9は、前記初期排気系路4の電磁弁8と、前記清
掃用系路18の電磁弁24と、これらの電磁弁
8,24を択一的に開成させるスイツチング回路
25とを具備してなるものである。
系路18と系路切換手段19とを設けている。清
掃用系路18は、初期排気系路4の油回転真空ポ
ンプ9よりも前段側の部位から分枝させてなるも
ので、先端に吸込口21を有し基端を前記初期排
気系路4に接続した清掃用管路22と、この清掃
用管路22中に介挿したフイルタ23と電磁弁2
4とを有してなる。そして、前記清掃用管路22
の先端部分は、その吸込口21を前記チヤンバの
蓋2部分にまで自在に延出させ得るように可撓変
形可能な構造にしてある。また、系路切換手段1
9は、前記初期排気系路4の電磁弁8と、前記清
掃用系路18の電磁弁24と、これらの電磁弁
8,24を択一的に開成させるスイツチング回路
25とを具備してなるものである。
次にこの装置の作動を説明する。
チヤンバ1の蓋2を開いてICパツケージAを
該チヤンバ1内に収容し、該蓋2を閉じて該IC
パツケージAを該チヤンバ1内に密封する。次
に、初期排気系路4の電磁弁8を開成させるとと
もに油回転真空ポンプ9を駆動させ、チヤンバ1
内の気体を該ポンプ9により吸引して該初期排気
系路4の初期排気管路6から排気する。そして、
前記チヤンバ1内がある程度の真空状態になる
と、電磁弁8を閉成させるとともに油回転真空ポ
ンプ9を停止させる一方、主排気系路5の電磁弁
12および電磁弁15を開成させるとともに拡散
ポンプ14と油回転真空ポンプ16を駆動させ
る。この操作によつて、チヤンバ1内の気体は前
記拡散ポンプ14と油回転真空ポンプ16とによ
つて吸引され主排気管路11から排気されて、よ
り高真空になる。このとき、ICパツケージA内
に封入したHe等のプローブガスが該ICパツケー
ジAから漏洩していれば、かかるプローブガスも
前記主排気系路5の主排気管路11から排気され
る。そして、こうして排気されるプローブガスを
コールドトラツプ13に設けた質量分析計17が
検知するものである。
該チヤンバ1内に収容し、該蓋2を閉じて該IC
パツケージAを該チヤンバ1内に密封する。次
に、初期排気系路4の電磁弁8を開成させるとと
もに油回転真空ポンプ9を駆動させ、チヤンバ1
内の気体を該ポンプ9により吸引して該初期排気
系路4の初期排気管路6から排気する。そして、
前記チヤンバ1内がある程度の真空状態になる
と、電磁弁8を閉成させるとともに油回転真空ポ
ンプ9を停止させる一方、主排気系路5の電磁弁
12および電磁弁15を開成させるとともに拡散
ポンプ14と油回転真空ポンプ16を駆動させ
る。この操作によつて、チヤンバ1内の気体は前
記拡散ポンプ14と油回転真空ポンプ16とによ
つて吸引され主排気管路11から排気されて、よ
り高真空になる。このとき、ICパツケージA内
に封入したHe等のプローブガスが該ICパツケー
ジAから漏洩していれば、かかるプローブガスも
前記主排気系路5の主排気管路11から排気され
る。そして、こうして排気されるプローブガスを
コールドトラツプ13に設けた質量分析計17が
検知するものである。
このようにしてリークテストを終えると、電磁
弁12および15を閉成させるとともに拡散ポン
プ14および油回転真空ポンプ16を停止させ
る。そして、蓋2を開いてチヤンバ1内からIC
パツケージAを取出す。その後、該チヤンバ1の
シール部3や底部1b等を清掃用系路18により
清掃する。すなわち、系路切換手段19のスイツ
チング回路25の切換え作動により初期排気系路
4の電磁弁8を閉成させるとともに清掃用系路1
8の電磁弁24を開成させ、吸込口21を前記シ
ール部3や底部1bに近接させて油回転真空ポン
プ9を駆動させる。かかる操作によつて、該油回
転真空ポンプ9が前記シール部3や底部1cにあ
る塵芥を吸引し前記吸込口21から清掃用管路2
2内に吸込んで該シール部3や底部1bを清掃す
る。こうして吸込まれた塵芥は、フイルタ23に
付着し、油回転真空ポンプ9には気体のみが流入
する。
弁12および15を閉成させるとともに拡散ポン
プ14および油回転真空ポンプ16を停止させ
る。そして、蓋2を開いてチヤンバ1内からIC
パツケージAを取出す。その後、該チヤンバ1の
シール部3や底部1b等を清掃用系路18により
清掃する。すなわち、系路切換手段19のスイツ
チング回路25の切換え作動により初期排気系路
4の電磁弁8を閉成させるとともに清掃用系路1
8の電磁弁24を開成させ、吸込口21を前記シ
ール部3や底部1bに近接させて油回転真空ポン
プ9を駆動させる。かかる操作によつて、該油回
転真空ポンプ9が前記シール部3や底部1cにあ
る塵芥を吸引し前記吸込口21から清掃用管路2
2内に吸込んで該シール部3や底部1bを清掃す
る。こうして吸込まれた塵芥は、フイルタ23に
付着し、油回転真空ポンプ9には気体のみが流入
する。
このようにしてチヤンバ1の清掃を終えると、
吸込口21をチヤンバ1から離間させ、被試験体
である他のICパツケージAを該チヤンバ1内に
収容し、蓋2を閉じて該チヤンバ1内を密封す
る。続いて、系路切換手段19により、前記電磁
弁24を閉成させるとともに電磁弁8を開成させ
る。かかる操作によつて、チヤンバ1内の気体が
初期排気系路4により排気される。以下、前述し
たのと同じ手順でICパツケージAのリークテス
トが行なわれる。
吸込口21をチヤンバ1から離間させ、被試験体
である他のICパツケージAを該チヤンバ1内に
収容し、蓋2を閉じて該チヤンバ1内を密封す
る。続いて、系路切換手段19により、前記電磁
弁24を閉成させるとともに電磁弁8を開成させ
る。かかる操作によつて、チヤンバ1内の気体が
初期排気系路4により排気される。以下、前述し
たのと同じ手順でICパツケージAのリークテス
トが行なわれる。
このようにしてリークテストを行なうものであ
るが、この実施例によれば、チヤンバ1の底部1
bやシール部3の清掃を初期排気系路4から分枝
させた清掃用系路18により行なうようにしてい
るので、排気に使用する油回転真空ポンプをその
まま利用して清掃を行なうことができ、従来の電
気掃除器により清掃を行なうものに比べて格別の
ポンプを設ける必要がなく、構成要素を少なくで
きコストも安くてすむ。しかも、チヤンバ1清掃
時には初期排気系路4を使用せず、初期排気時に
は清掃用系路18を使用しないので、両系路を同
時に使用することによる吸引力の低下といつた不
都合は生じない。したがつて、従来の油回転真空
ポンプ1台で排気、清掃の両機能を果たすことが
でき、より大容量のポンプを設ける必要がない。
るが、この実施例によれば、チヤンバ1の底部1
bやシール部3の清掃を初期排気系路4から分枝
させた清掃用系路18により行なうようにしてい
るので、排気に使用する油回転真空ポンプをその
まま利用して清掃を行なうことができ、従来の電
気掃除器により清掃を行なうものに比べて格別の
ポンプを設ける必要がなく、構成要素を少なくで
きコストも安くてすむ。しかも、チヤンバ1清掃
時には初期排気系路4を使用せず、初期排気時に
は清掃用系路18を使用しないので、両系路を同
時に使用することによる吸引力の低下といつた不
都合は生じない。したがつて、従来の油回転真空
ポンプ1台で排気、清掃の両機能を果たすことが
でき、より大容量のポンプを設ける必要がない。
なお、本考案は前記実施例に限られないのは勿
論であり、清掃用系路を分枝させる排気系路は初
期排気系路に限られず、主排気系路であつてもよ
い。また、多くの排気系路を有するリークテスト
装置にあつては、いずれの排気系路から清掃用系
路を分枝させてもよい。
論であり、清掃用系路を分枝させる排気系路は初
期排気系路に限られず、主排気系路であつてもよ
い。また、多くの排気系路を有するリークテスト
装置にあつては、いずれの排気系路から清掃用系
路を分枝させてもよい。
また、被試験体はICパツケージに限られない。
また、系路切換手段は、清掃用系路と排気系路
とを択一的に開成させることができるものであれ
ばよい。
とを択一的に開成させることができるものであれ
ばよい。
その他、本考案の趣旨を逸脱しない範囲で種々
変形が可能である。
変形が可能である。
(ヘ) 効果
本考案は、以上のような構成であるから、チヤ
ンバ内の塵芥の除去を十分に行なうことができ、
しかも、格別にポンプを設ける必要がなくそれだ
け構成要素を少なくできかつコストを安くするこ
とができるリークテスト装置を提供できるもので
ある。
ンバ内の塵芥の除去を十分に行なうことができ、
しかも、格別にポンプを設ける必要がなくそれだ
け構成要素を少なくできかつコストを安くするこ
とができるリークテスト装置を提供できるもので
ある。
図面は本考案の一実施例を示す系路説明図であ
る。 1……チヤンバ、4……初期排気系路、5……
主排気系路、18……清掃用系路、19……系路
切換手段、A……被試験体(ICパツケージ)。
る。 1……チヤンバ、4……初期排気系路、5……
主排気系路、18……清掃用系路、19……系路
切換手段、A……被試験体(ICパツケージ)。
Claims (1)
- 被試験体を収容する密閉可能なチヤンバと、こ
のチヤンバ内を排気する排気系路と、排気系路に
接続され前記被試験体からリークするプローブガ
スを検出するガス検出手段とを備え、前記被試験
体のリーク試験を行なうように構成したリークテ
スト装置において、排気系路から分岐し先端に前
記チヤンバ内の塵芥を吸込むための吸込口を有し
た清掃用系路を設けるとともに、前記排気系路と
清掃用系路とを択一的に開成させる系路切換手段
を設けたことを特徴とするリークテスト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6456884U JPS60176156U (ja) | 1984-04-30 | 1984-04-30 | リ−クテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6456884U JPS60176156U (ja) | 1984-04-30 | 1984-04-30 | リ−クテスト装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60176156U JPS60176156U (ja) | 1985-11-21 |
| JPH0226048Y2 true JPH0226048Y2 (ja) | 1990-07-17 |
Family
ID=30595776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6456884U Granted JPS60176156U (ja) | 1984-04-30 | 1984-04-30 | リ−クテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60176156U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003518256A (ja) * | 1999-12-22 | 2003-06-03 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | シート型漏洩探査器を運転する方法並びに該方法を実施するために適したシート型探査器 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147337A (ja) * | 1985-12-17 | 1987-07-01 | ウエブ、テクノロジ−、インコ−ポレ−テツド | 電子部品パッケージの密閉度試験方法 |
| JP2012242316A (ja) * | 2011-05-23 | 2012-12-10 | Fukuda:Kk | リークテスト用掃除装置 |
-
1984
- 1984-04-30 JP JP6456884U patent/JPS60176156U/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003518256A (ja) * | 1999-12-22 | 2003-06-03 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | シート型漏洩探査器を運転する方法並びに該方法を実施するために適したシート型探査器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60176156U (ja) | 1985-11-21 |
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