JPH02263175A - Ic試験装置における電流測定装置 - Google Patents

Ic試験装置における電流測定装置

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JPH02263175A
JPH02263175A JP1084011A JP8401189A JPH02263175A JP H02263175 A JPH02263175 A JP H02263175A JP 1084011 A JP1084011 A JP 1084011A JP 8401189 A JP8401189 A JP 8401189A JP H02263175 A JPH02263175 A JP H02263175A
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JP
Japan
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current
voltage
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magnetic field
load
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JP1084011A
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English (en)
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Katsu Isobe
克 礒部
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、IC(集積回路)試験装置等の試験・計測
機器に搭載される電流測定装置に関し、特に、測定回路
動作の安定化と高速化を図り、電流測定を精度よく行う
ことができるようにしたことに関する。
[従来の技術] 第3図は従来のIC試験装置における電流測定装置の一
例を示すブロック図であり、この測定装置は大別して制
御部11とディジタル/アナログ変換器12と電流測定
部30などから成っている。
負荷20としては、消費電流を測定しようとするIC等
の素子若しくは種々の回路などが接続される。制御部1
1は、負荷20に印加すべき直流電圧Viを指示するデ
ィジタルデータをD/A変換器12に与える等の各種制
御を行なうものである。
D/A変換器12は、制御部11から指示されたディジ
タルデータに基づきアナログの直流電圧Viを発生する
。ここで発生した電圧Viは、電流測定部30のオペア
ンプ(演算増幅器)OPIの十人力に与えられる。
電流測定部30は、電圧v1を入力して該電圧V i 
Lこ応じた出力電圧■0を負荷20に対して供給し、こ
のとき電流供給ラインに流れた消費電流Izを検出する
ものである。オペアンプ○P1の出力には電流検出用抵
抗16が接続され、この電流検出用抵抗16を介して電
流供給ラインの出力端子Fから負荷20に対して出力電
圧vO力1印加される。オペアンプOPIの一人力には
、フィードバックラインNFを介して電流供給ラインの
電圧が負帰還され、これにより、負荷2]二対する出力
電圧vOが電圧Viと同じ電圧になるようしこ補正され
る。ここで、オペアンプOPIの出力電圧Vpは、抵抗
16の電圧降下によって発生する電圧Vsを出力端子F
における出力電圧Vowこ加算した値になる。これらを
式で現わすと、V i、 = V o = V p −
V s      −(1)となる。
オペアンプOP3は、正(+)/負(−)の双方の入力
が抵抗16の両端に夫々接続されており、負荷20に供
給される電流Izに応じた抵抗16による電圧降下Vs
を検出し、その電圧1猫下Vsに応じた電流を出力し、
電流計15しこlj、える。こうして、負荷20に供給
される電流iz力’電流R115で測定される。
一般に、電流検出抵抗16の抵抗値tま固定でしょなく
、適宜切り換えられる。すなわち、預す定レンジの切換
えが行われる。例えば、電流IzIJ’微ノ」\値であ
る場合は、抵抗値を大にして検出電圧Vsを犬にし、検
出精度を上げるようしこする。また、電流Izが過大な
場合は、検出電圧Vshへ上置、シすぎてオペアンプO
P3の耐圧を越えるのを防く゛ために電流検出抵抗16
の抵抗値を小しこする。
このような電流Izの変動は、IC試験しこおり)では
よく起こることである。すなわち、ICの71コ費電流
は無人力信号状態と信号入力状態とでlま大きく異なる
のが普通であり、例え(工、被?l1lI定ICの無人
力信号状態(以下、便宜的にゑ(信号モードという)に
おける:s4費電流が数μAであるのしこ文才して、成
る信号が入力された状態(以下、便宜(Iyに動作モー
ドという)における消費電流レンジmAから数10mA
になる。そこで、無信号モードレこおいては電流検出抵
抗16の抵抗値を大とし、また、動作モードにおいては
小とし、測定しようとする電流レンジに合わせて抵抗値
を切り換えることが行われる。
[発明が解決しようとする課題] 上述したような従来のIC試験装置における電流測定装
置では、被測定IC等の負荷に電流を供給する電流供給
ライン上に適宜の電流検出用抵抗を挿入し、該抵抗の電
圧降下によって発生する電圧を測定することにより消費
電流の検出を行うようにしていたため、次のような種々
の問題力1つだ。
(1)電流検出抵抗16がフィートノベックループに直
列的に挿入されるため、この抵抗値を上述のように大に
切り換えた場合、フィートノベック回路の時定数が増加
し、これに伴い位相ずれが生じ、回路が不安定になる。
(2)電流検出抵抗16がオペアンプ○P1の出力側に
設けられているため、オペアンプOP1にこ大きな耐圧
が要求される。例えば、第3図において、電流検出抵抗
16と負荷20の抵抗値を同じにした場合、前述の式(
1)よりオペアンプoP1の出力電圧Vpは制御電圧V
i−出力電圧■0の2倍もの電圧になり、該オペアンプ
OPIの耐圧は最大制御電圧Viの2倍も必要である。
(3)消費電流を高精度で測定するために、及びオペア
ンプ○P3の耐圧のために、消費電流レンジの変化に応
じて上述のように電流検出用抵抗を切り換える必要があ
り、そのために回路のインピーダンス変化を招き、回路
動作が不安定になる。
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、電流供給
ライン上に電流検出用抵抗を直列に挿入することなく、
消費電流を高精度で検出できるようにすると共に回路動
作の安定化と高速化を実現したIC試験装置における電
流測定装置を提供しようとするものである。
[課題を解決するための手段] この発明に係る電流測定装置は、直流電圧を人力し、こ
れに応じた出力を生ずると共に該出力を負帰還入力させ
てなり、この出力を電流供給ラインを介して被試験IC
に供給する第1の増幅回路と、前記電流供給ラインに挿
入されたインダクタンス要素と、前記インダクタンス要
素による磁界の強度を検知し、電気信号に変換する検知
手段と、前記検知手段の出力信号を入力する第2の増幅
回路と、前記第2の増幅回路の出力信号の電流を測定す
る電流測定手段とを具えたものである。
[作用コ 出力が負帰還されてなる第1の増幅回路においては、入
力された直流電圧に応じた出力電圧を生じる。この出力
電圧が電流供給ラインを介して被試験ICに供給される
ことにより、被試験IC内における負荷抵抗に応じた電
流つまり消費電流に応じた電流が電流供給ラインを流れ
る。なお、被試験ICにおける所望のピンを流れる消費
電流を測定しようとするとき、このピンに電流供給を接
続する。この電流供給ラインにはインダクタンス要素が
挿入されているので、該消費電流に比例する鎖交磁束が
該インダクタンス要素から生ずる。
このインダクタンス要素による磁界の強度が検知手段に
より検知され、該消費電流に対応する電気信号に変換さ
れる。この検知手段の出力電気信号が第2の増幅回路で
増幅され、その出力信号の電流値が電流測定手段により
測定される。こうして、電流測定手段により測定した電
流値は、被試験ICの消費電流を示すものとなる。
消費電流の大小に応じた回路パラメータの調整は、イン
ダクタンス要素におけるインダクタンスLの切換え、あ
るいはインダクタンス要素と検知手段の離隔距離Qの調
整、あるいは第2の増幅回路のゲイン調整によって行う
ことができる。例えば、微小電流を測定する場合は、L
を大きくする、Qを小さくする、第2の増幅回路のゲイ
ンを上げる、のいずれか1つまたは複数の組合せによっ
て、行う。
第1の増幅回路に入力される電圧が直流であり、電流供
給ラインを流れる電流も直流であるため、インダクタン
ス要素はインピーダンスOであり、被試験ICに印加さ
れる電圧がそのまま第1の増幅回路に負帰還される。従
って、第1の増幅回路の負帰還ループには電流検出用抵
抗が含まれず、回路の安定動作を保証することができる
。また、インピーダンスの切換えも行わないので、この
点でも回路の安定動作を保証することができる。また、
第1の増幅回路には入力電圧以上の耐圧が要求されない
[実施例コ 以下、添付図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説
明する。
第1図は本発明に係る電流測定装置の一実施例を示すブ
ロック図であり、第3図と同じ符号を付したものは夫々
同じ機能を果たすものである。電流測定部10は、直流
電圧Viを入力し該電圧V1に応じた出力電圧■0を出
力端子Fを介して負荷20に供給すると共に、該負荷2
0の消費電流Izを検出して電流計15によって該消費
電流工2を表示する。
オペアンプOPIの一方の入力(+)には前述したよう
に、D/A変換器12から電圧Viが与えられており、
その出力はインダクタンス要素であるコイル13の一端
と該オペアンプ0PI−の他方の入力(−)に接続され
ている。つまり、オペアンプOPIはその出力を100
%負帰還させると共に、コイル13を介して電流供給ラ
インの出力端子FからV i = V oの出力電圧V
oを負荷20に印加する。このようにオペアンプOPI
には回路時定数を含まず100%の負帰還がかけられる
ため、その出力に位相ずれが発生せず且つ安定した応答
性に優れた高速のバッファ回路を構成することができる
コイル13は、オペアンプ○P1から負荷20に対して
供給される電流Izに比例して鎖交磁束数が変化する。
直流に対するコイルのインピーダンスは実質的にOであ
るから、オペアンプOPIの出力電圧VPと出力端子F
における出力電圧VOは等しい。
コイル13に近接して磁気センサ14が設けられている
。磁気センサ14は、該コイル13による磁界の強さに
対応する電気信号Soを出力する。
該磁気センサ14としては、例えば、ホール素子などを
用いることができる。磁気センサ14の一端には所定の
電源vccが接続されており、その出力電気信号Soは
オペアンプOP2の一方の入力(十)に与えられる。
オペアンプOP2の一人力には可変抵抗17を介して出
力がフィードバックされ、該抵抗17の抵抗値を調節す
ることによりゲイン(増幅率)を可変制御することが可
能である。磁気センサ14の出力電気信号Soに対応す
る出力電圧VdがオペアンプOP2から出力され、電流
計15に入力される。
こうして、負荷20における消費電流Izに応じた磁界
がコイル13で発生し、この磁界の強さに応じた電気信
号Soが磁気センサ14がら生じ、この電気信号Soに
応じた電流が電流計15で測定されることにより、負荷
20における消費電流Izが測定される。
電流Izの電流レンジに応じて、コイル13のインダク
タンスLを切換える、あるいはコイル13と磁気センサ
14の離隔距離Qを変更する、あるいはオペアンプ○P
2のゲインを調整する、等により、測定精度を適切に切
り換えることができる。
コイル13と磁気センサ14の一例として、第2図のよ
うに共通の絶縁基板18上にコイル13と複数の磁気セ
ンサ14a〜14cを組み込むとよい。コイル13に対
して異なる離隔距離Qで複数の磁気センサ14a〜14
cがそれぞれ設けられており、各磁気センサ14a〜1
4cの一端は電源Vccに共通に接続され、他端は夫々
スイッチ19の各接点に接続されている。スイッチ19
の切り換えによって、磁気センサ14a〜14. cの
1つの出力を選択することができるようになっており、
これにより、離隔距離Qを選択し、電流レンジに応じた
測定精度の切換えを行うことができるようになっている
なお、この実施例では、負荷20による消費電流を目視
確認する装置として指針型電流計15を用いているが、
指針型の電流計に限らず他の適宜の計測装置であってよ
い。
[発明の効果] 以上の通り、この発明によれば、IC等の測定すべき負
荷に対して電流を供給する電流供給ラインに挿入される
電流検出抵抗に替えて、インダクタンス要素を挿入し、
消費電流に応じた磁界を発生させ該磁界強度を測定する
ことにより消費電流を測定するようにしたため、第1の
増幅回路の負帰還ループには電流検出用抵抗が含まれず
、100%のフィードバックが掛かり、回路動作が安定
すると共に高速動作が実現できる、また、インピーダン
スの切換えも行わないので、この点でも回路の安定動作
を保証することができる、また、第1の増幅回路には入
力電圧以上の耐圧が要求されない、等の優れた効果を奏
する。
来の電流測定装置の一例を示す回路図、である。
11・・・制御部、12・・ディジタル/アナログ変換
器、13・・・コイル、14・・磁気センサ、15・・
電流計、17・・可変抵抗、20・・負荷回路、OPl
、OF2.OF2・・・オペアンプ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 直流電圧を入力し、これに応じた出力を生ずると共に該
    出力を負帰還入力させてなり、この出力を電流供給ライ
    ンを介して被試験ICに供給する第1の増幅回路と、 前記電流供給ラインに挿入されたインダクタンス要素と
    、 前記インダクタンス要素による磁界の強度を検知し、電
    気信号に変換する検知手段と、 前記検知手段の出力信号を入力する第2の増幅回路と、 前記第2の増幅回路の出力信号の電流を測定する電流測
    定手段と を具えたIC試験装置における電流測定装置。
JP1084011A 1989-04-04 1989-04-04 Ic試験装置における電流測定装置 Pending JPH02263175A (ja)

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